JP2011008998A - 電子放出体およびx線放射装置 - Google Patents

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Abstract


【課題】 電子線密度が高い電子放出体とこの電子放出体を組み込んだX線放射装置を提供する。
【解決手段】 炭素結晶の成長は最初は隆起部22が徐々に大きくなり、次いで隆起部22の先端から針状部23が成長する。この針状部23はグラフェンシートが斜めに多層に巻回され且つ内部は中空になっている。このようにして形成された炭素突起21の軸は凹面11の接線と略直交するため、多数の炭素突起21の軸は凹面11の焦点Fにて交わることになる。
【選択図】 図2

Description

本発明は、電子放出体(エミッタ)およびこの電子放出体を用いたX線放射装置に関する。
真空中で電界を集中させて電子を放出する電界放射を行うための電子放出体として、特許文献1に示されるカーボンナノチューブや特許文献2に示されるグラフェンシートが多層に重なった尖頭形状の炭素膜が知られている。
また、電子放出体から放出される電子の方向が拡散しないようにする構造として、特許文献3には、カソード電極が形成された基板表面にカーボンナノチューブからなる電子放出層が形成され、この電子放出層の外周側に、電子放出層と同電位の導電層を設け、更に電子放出層の上方にゲート電極を設けた構造が開示されている。
また、特許文献4には、炭化珪素単結晶からなる基板の表面に、その軸が基板の厚み方向に倣うように高密度にカーボンナノチューブを配向形成したエミッタが開示されている。
また、特許文献5には、ガラス基板の電子放出層と接する面にくぼみを設けることで、くぼみの形状に応じた電子放出層を形成し、電子放出層から放出される電子の収束性を高める内容が開示されている。
また、特許文献6には、エミッタの上方近傍にゲート電極を設け、このゲート電極から離れた箇所にレンズ電極を配置し、エミッタから放出された電子ビームをレンズ電極で収束させる構成が開示されている。
特開2006−290691号公報 特開2008−150253号公報 特開2002−093307号公報 特開2000−100317号公報 特開2002−100282号公報 特開2000−133117号公報
上記特許文献のうち、エミッタ(電子放出体)から放出された電子線が飛散しないようにしているのは特許文献3,5、6である。しかしながら、特許文献3、5にあっては電子線を1点に収束させるものではなく、電子線の広がりをゲート電極などで抑制しようというものであり、電子線密度を高める内容ではない。
一方、特許文献6にはレンズ電極を用いて電子線を収束させることが記載されているが、点状のエミッタから出射した電子線が一旦広がり、その後、レンズ電極で収束しているため、エミッタから出射した際の電子線密度に戻っただけで、電子線密度が高くなっているわけではない。
更に、面状のエミッタを想定した場合、ゲート電極やレンズ電極を用いて電子線を収束させてもある程度の広がりをもってしまう。
上記課題を解決するため本発明に係る電子放出体は、基板の表面に電圧を印加することで電子を放出する炭素膜を形成した電子放出体であって、前記基板の表面は凹面とされ、前記炭素膜は炭素からなる突起が面状に多数個展開して構成された構成とした。
尚、前記凹面の形状としては1点に焦点を結ぶものが考えられ、この場合には前記突起の軸芯は前記焦点に向かって伸びる。
前記炭素からなる突起としては、例えば基板表面に形成される隆起部とこの隆起部から伸びる針状部からなり、この針状部はグラフェンシートが斜めに巻回された中空状をなすものが好ましい。
また前記基板の周縁にはガード電極を設けることが好ましい。このガード電極は前記炭素膜よりも突出するとともに外周側の曲率半径が炭素膜側の曲率半径以上とする。
また本発明に係るX線放射装置は、前記電子放出体を陰極とし、金属ターゲットを陽極とし、この陽極を前記基板の凹面の焦点位置に配置して構成される。
本発明に係る電子放出体は、凹面状をなす放出面から放出された電子線が1点に収束するため、電子線密度が高くなる。基板周縁にガード電極を設けた場合には更に電子線を集中させることができる。
上記電子放出体を陰極(カソード)、タングステンなどのターゲットが陽極(アノード)となるように接続するとともにターゲットを電子線の焦点位置に配置することで、ターゲットから強力なX線が放出される。
本発明に係る電子放出体の全体図 同電子放出体の要部拡大図 (a)および(b)は炭素膜の形成方法の一例を説明した図 本発明に係る電子放出体を組み込んだX線放射装置の概略図
以下に本発明の好適な実施例を添付図面に基づいて説明する。図1に示すように、電子放出体はステンレスなどを材料とする基板1、炭素膜2およびリング状をなすガード電極3から構成される。
前記リング状をなすガード電極3は基板1の周縁で前記炭素膜2よりも突出している。またガード電極3の外周側の曲率半径R1は炭素膜2側の曲率半径R2以上に設定されている。このようにガード電極3の形状をR1≧R2とすることで、炭素膜2面での局部的な電界集中を抑制し、熱劣化に伴う電流劣化や放電現象が起こらないようにすることができる。
前記基板1には凹面(凹球面)11が形成されている。この凹面11は一定の曲率半径を有し、平行な光線が入射したと仮定すると収束する焦点Fが存在する。
前記凹面11上には数μm〜数十μmの厚さで炭素膜2が形成されている。この炭素膜2は図2に示すように、多数の突起21が面状に展開して構成され、更に突起21は凹面11の表面に形成される隆起部22とこの隆起部22から伸びる針状部23からなる。
前記炭素膜2を形成する方法を図3に基づいて説明する。先ず図3(a)に示すように、予め基板1の表面を凹面11を形成しておき、この凹面11を研磨棒4を用いて研磨する。研磨剤にはダイヤモンド粉とシリカ粉を水に混合したものを用いる。
上記の研磨によって凹面11の表面には微細な炭素粒子またはシリカ粒子が付着し、この微細粒子が炭素突起21の成長の起点になると思われる。
次いで、図3(b)に示す平行平板型のプラズマCVD装置5を用いて炭素膜を成膜する。具体的には、接地した下側の電極51上に基板1を凹面11が上になるようにセットし、上側電極52には直流電源53の負極側を接続し、正極側を接地する。
そして、プラズマCVD装置5内を真空排気系54で排気しガス導入系55から水素ガスを導入し、内圧を30torr程度まで徐々に減圧する。この状態で電極51、52間にプラズマを発生させ、電流を2.5A程度まで増加する。この処理により基板表面の酸化膜が除去される。
次いで、ガス導入系55からプラズマCVD装置5内に水素ガスとメタンガスとの混合ガスを導入し内部の圧力を75torr程度まで徐々に上昇させる。この内圧を維持しつつ電流を2.5Aから6.0Aに徐々に増加する。
プラズマCVD装置5内で発生したプラズマ中の電子がメタンガスと衝突して炭素原子を遊離し、この炭素原子が凹面11の表面の結晶の起点となる微粒子(炭素やシリカ)に吸着され、炭素の結晶が徐々に成長する。
反応ガスとしてはメタンガス以外に、アセチレン、エチレン、プロパン、プロピレン等のガス、あるいは一酸化炭素、二酸化炭素、エタノールやアセトンの有機溶剤の蒸気を用いることができる。
炭素結晶の成長は最初は隆起部22が徐々に大きくなり、次いで隆起部22の先端から針状部23が成長する。この針状部23はグラフェンシートが斜めに多層に巻回され且つ内部は中空になっている。このようにして形成された炭素突起21の軸は凹面11の接線と略直交するため、多数の炭素突起21の軸は凹面11の焦点Fにて交わることになる。
以上の如くして製造された電子放出体は、例えば図4に示すX線放射装置に組み込むことができる。
即ち、X線放射装置は減圧状態(1〜1000torr)に維持されたケース6内に上記電子放出体を陰極(エミッタ)として挿入し、焦点Fの位置にタングステンなどの金属ターゲット61を配置している。この金属ターゲット61はケース6に形成した窓部を機密に封止している。
以上において、陰極としての基板1と陽極としての金属ターゲット61の間に直流電圧を印加する。電流密度は瞬間的に100mA/cmが確認された。
すると、前記炭素膜2を構成する炭素突起21の先端部に強い電界が形成される。この強い電界により、Fowler−Nordheimの式で示されるトンネル電子が炭素膜2から金属ターゲット61に向かって放出される。この放出される電子(電子線)は炭素突起21の軸に沿って放出されるため、焦点Fにおいて極めて高密度の電子が金属ターゲット61に衝突することになり、強X線が金属ターゲット61を透過して発生する。
図示例では、電子線がターゲットを透過する透過型のX線放射装置を示したが、ターゲットで反射してX線を発生する反射型のX線放射装置とすることもできる。
本発明に係る電子放出体およびこの電子放出体を組み込んだX線放射装置は、例えば非破壊検査機器などに応用することができる。
1…基板、11…基板の凹面
2…炭素膜、21…炭素膜を構成する突起、22…突起を構成する隆起部、23…突起を構成する針状部
3…ガード電極
4…研磨棒
5…プラズマCVD装置、51、52…平行平板電極、53…直流電源、54…真空排気系、55…ガス導入系、61…金属ターゲット
R1…ガード電極の外周側の曲率半径、R2…ガード電極の炭素膜側の曲率半径、F…焦点

Claims (5)

  1. 基板の表面に電圧を印加することで電子を放出する炭素膜を形成した電子放出体であって、前記基板の表面は凹面とされ、前記炭素膜は炭素からなる突起が面状に多数個展開して構成されていることを特徴とする電子放出体。
  2. 請求項1に記載の電子放出体において、前記基板の表面は1点に焦点を結ぶ凹面とされ、前記突起の軸芯は前記焦点に向かっていることを特徴とする電子放出体。
  3. 請求項1に記載の電子放出体において、前記炭素からなる突起は基板表面に形成される隆起部とこの隆起部から伸びる針状部からなり、この針状部はグラフェンシートが斜めに巻回された中空状をなすことを特徴とする電子放出体。
  4. 請求項1に記載の電子放出体において、前記基板の周縁にガード電極が設けられ、このガード電極は前記炭素膜よりも突出するとともに外周側の曲率半径が炭素膜側の曲率半径以上であることを特徴とする電子放出体。
  5. 請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の電子放出体を陰極とし、金属ターゲットを陽極とし、この陽極を前記基板の凹面の焦点位置に配置することを特徴とするX線放射装置。
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CN201080037145.9A CN102576634A (zh) 2009-06-24 2010-02-23 电子发射体以及x射线放射装置
EP10791766.8A EP2469575A4 (en) 2009-06-24 2010-02-23 ELECTRON EMISSION BODY AND X-RAY EQUIPMENT
US13/380,741 US20120194057A1 (en) 2009-06-24 2010-02-23 Electron emitting body and x-ray emitting device
AU2010264005A AU2010264005A1 (en) 2009-06-24 2010-02-23 Electron emitting body and X-ray emitting device
KR1020127002362A KR20120060198A (ko) 2009-06-24 2010-02-23 전자 방출체 및 x선 방사장치
PCT/JP2010/001204 WO2010150438A1 (ja) 2009-06-24 2010-02-23 電子放出体およびx線放射装置

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016517151A (ja) * 2013-05-08 2016-06-09 重慶啓越涌陽微電子科技発展有限公司Chongqing Qiyueyongyang Microelectronic Science&Technology Development Co.,Ltd X線管の陰極として用いるグラフェン及びx線管
JP2017004666A (ja) * 2015-06-08 2017-01-05 国立研究開発法人理化学研究所 電子源、その作製方法、x線発生装置、断面像取得装置、およびx線通信装置
JP6206546B1 (ja) * 2016-06-23 2017-10-04 株式会社明電舎 電界放射装置および改質処理方法
JP6226033B1 (ja) * 2016-06-24 2017-11-08 株式会社明電舎 電界放射装置および電界放射方法
KR20190008979A (ko) 2016-06-13 2019-01-25 메이덴샤 코포레이션 전계 방사 장치 및 재생 처리 방법

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5044005B2 (ja) * 2010-11-08 2012-10-10 マイクロXジャパン株式会社 電界放射装置
JP6039314B2 (ja) * 2012-08-30 2016-12-07 キヤノン株式会社 撮像装置および撮像方法
CN104465280B (zh) * 2014-12-05 2017-01-25 中国科学院深圳先进技术研究院 一种用于ct成像的碳纳米射线管
CN111613496B (zh) * 2020-06-08 2022-12-09 东南大学 一种石墨烯覆膜钡钨阴极及其制备方法
CN114709283B (zh) * 2022-03-15 2024-10-01 太一光伏科技(常州)有限公司 一种双面prec电池的覆膜装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002093307A (ja) * 2000-09-14 2002-03-29 Canon Inc 電子放出素子及び電子放出素子の製造方法及び電子源及び画像形成装置
JP2003016913A (ja) * 2001-07-02 2003-01-17 Canon Inc 電子放出素子,電子源及び画像形成装置並びに電子放出素子の製造方法
JP2005174715A (ja) * 2003-12-10 2005-06-30 Quantum 14:Kk 電子線源およびx線源
JP2008150253A (ja) * 2006-12-19 2008-07-03 Dialight Japan Co Ltd 炭素膜および炭素膜構造
JP4390847B1 (ja) * 2008-07-31 2009-12-24 株式会社ライフ技術研究所 電子放出体および電子放出体を備えた電界放射装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000133117A (ja) 1998-08-18 2000-05-12 Nec Corp 電界放出型冷陰極装置およびその製造方法
JP2000100317A (ja) 1998-09-18 2000-04-07 Noritake Co Ltd 電界電子放出装置
US6972513B2 (en) 2000-07-19 2005-12-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electron emission device, method of manufacturing the same, and image display apparatus using the same
KR100438835B1 (ko) * 2001-12-18 2004-07-05 삼성에스디아이 주식회사 기판에서 들뜬 구조물의 형성 방법 및 이를 적용한 들뜬구조의 게이트 전극 및 fed 제조방법
KR20050111705A (ko) * 2004-05-22 2005-11-28 삼성에스디아이 주식회사 전계방출소자와, 이를 적용한 전계방출 표시소자
JP4917758B2 (ja) 2005-04-13 2012-04-18 株式会社ピュアロンジャパン カーボン金属ナノツリーおよびその製造方法
TWI435358B (zh) * 2005-08-10 2014-04-21 Pureron Japan Co Ltd A carbon film having a shape suitable for the emission of electric field, a carbon film structure, and an electron emitter
US8518542B2 (en) * 2009-05-26 2013-08-27 Life Technology Research Institute, Inc. Carbon film and carbon film structure

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002093307A (ja) * 2000-09-14 2002-03-29 Canon Inc 電子放出素子及び電子放出素子の製造方法及び電子源及び画像形成装置
JP2003016913A (ja) * 2001-07-02 2003-01-17 Canon Inc 電子放出素子,電子源及び画像形成装置並びに電子放出素子の製造方法
JP2005174715A (ja) * 2003-12-10 2005-06-30 Quantum 14:Kk 電子線源およびx線源
JP2008150253A (ja) * 2006-12-19 2008-07-03 Dialight Japan Co Ltd 炭素膜および炭素膜構造
JP4390847B1 (ja) * 2008-07-31 2009-12-24 株式会社ライフ技術研究所 電子放出体および電子放出体を備えた電界放射装置
JP2010056062A (ja) * 2008-07-31 2010-03-11 Life Technology Research Institute Inc 電子放出体および電子放出体を備えた電界放射装置

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016517151A (ja) * 2013-05-08 2016-06-09 重慶啓越涌陽微電子科技発展有限公司Chongqing Qiyueyongyang Microelectronic Science&Technology Development Co.,Ltd X線管の陰極として用いるグラフェン及びx線管
JP2017004666A (ja) * 2015-06-08 2017-01-05 国立研究開発法人理化学研究所 電子源、その作製方法、x線発生装置、断面像取得装置、およびx線通信装置
KR20190008979A (ko) 2016-06-13 2019-01-25 메이덴샤 코포레이션 전계 방사 장치 및 재생 처리 방법
US10607801B2 (en) 2016-06-13 2020-03-31 Meidensha Corporation Electric field radiation device and regeneration processing method
JP6206546B1 (ja) * 2016-06-23 2017-10-04 株式会社明電舎 電界放射装置および改質処理方法
JP2017228444A (ja) * 2016-06-23 2017-12-28 株式会社明電舎 電界放射装置および改質処理方法
US10424457B2 (en) 2016-06-23 2019-09-24 Meidensha Corporation Field emission device and reforming treatment method
WO2017221478A1 (ja) * 2016-06-23 2017-12-28 株式会社明電舎 電界放射装置および改質処理方法
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JP6226033B1 (ja) * 2016-06-24 2017-11-08 株式会社明電舎 電界放射装置および電界放射方法
KR20190016117A (ko) 2016-06-24 2019-02-15 메이덴샤 코포레이션 전계 방사 장치 및 전계 방사 방법
WO2017221479A1 (ja) * 2016-06-24 2017-12-28 株式会社明電舎 電界放射装置および電界放射方法
JP2017228471A (ja) * 2016-06-24 2017-12-28 株式会社明電舎 電界放射装置および電界放射方法
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