JP2010506341A - 連想磁気抵抗ランダムアクセスメモリセルを提供するためのシステム及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 磁気トンネル接合が第1及び第2の磁気層を有するとともにデータ記憶部及びデータ検知部として機能することができる。個々のセル内において、磁気トンネル接合における第1の磁気層の磁気方向を1又はそれ以上の電流線における電流パルスを介して設定することにより登録データが書き込まれる。登録データと比較するための入力データを電流線を介した第2の磁気層の磁気方向により同様に設定することができる。磁気層の相対的磁気方向に依存するセル抵抗を測定することによりデータ検知が行われる。データ記憶、データ入力、及びデータ検知が1つのセルに統合されるため、メモリは、さらなる高密度と不揮発性を兼ね備える。メモリは、高速、消費電力の削減及びデータマスキングをサポートすることができる。
Description
Claims (19)
- 第1の線と連通するとともに所定の磁化方向の磁化を有する第1の磁気層と、第2の線と連通するとともに前記第1の磁気層の前記一定の磁化方向に対して調整可能な磁化方向の磁化を有する第2の磁気層との間に配置された絶縁層から形成された多層磁気トンネル接合に結合されたスイッチングトランジスタを含む連想メモリ(CAM)のメモリセルに記憶されたデータを検知する方法において、
書込み動作中、
前記第1の線を介して前記第1の磁気層に書込みデータを提供するステップと、
前記第1の線内の少なくとも一部の電流を、前記スイッチングトランジスタを介して前記磁気トンネル接合に印加することにより、前記磁気トンネル接合を加熱するステップと、
前記書込みデータに基づいて前記第1の磁気層の前記所定の磁化方向を確立するステップと、
検知動作中、
前記第2の線を介して前記第2の磁気層に入力データを提供するステップと、
前記入力データに基づいて前記第2の磁気層の前記磁化方向を確立するステップと、
前記磁気トンネル接合の抵抗値を測定することにより、前記入力データを前記書込みデータと比較するステップとを含むことを特徴とする方法。 - 前記書込み動作中に前記第1の磁気層に前記書込みデータを提供する前記ステップは、前記書込みデータを電流パルスに含めるステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記磁気トンネル接合を加熱する前記ステップは、前記スイッチングトランジスタを起動させるとともに前記電流パルスの少なくとも一部を、前記スイッチングトランジスタを介して前記磁気トンネル接合に印加するステップを含むことを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記磁気トンネル接合を加熱する前記ステップは、前記磁気トンネル接合の温度が所定の高い温度しきい値に達するまで前記磁気トンネル接合を加熱するステップを含むことを特徴とする請求項3に記載の方法。
- 前記磁気トンネル接合の前記温度が前記所定の高い温度しきい値に達した後、前記スイッチングトランジスタを選択解除して前記電流パルスの一部が前記磁気トンネル接合に印加されるのを防ぐステップをさらに含むことを特徴とする請求項4に記載の方法。
- 前記磁気トンネル接合の温度が所定の低い温度しきい値に冷却されるまで前記電流パルスを保持するステップをさらに含むことを特徴とする請求項4に記載の方法。
- 前記第1の磁気層の前記所定の磁化方向を確立する前記ステップは、前記電流パルスにより前記第1の線内に誘起された磁場を前記第1の磁気層に印加するとともに、前記書込みデータが前記メモリセルに書き込まれるように、前記誘起された磁場に基づいて前記第1の磁気層の前記所定の磁化方向を揃えるステップを含むことを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記入力データを前記書込みデータと比較する前記ステップは、前記第2の磁気層の前記磁化方向を前記第1の磁気層の前記所定の磁化方向と比較するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 第1の線と連通するとともに所定の磁化方向の磁化を有する第1の磁気層と、第2の線と連通するとともに前記第1の磁気層の前記一定の磁化方向に対して調整可能な磁化方向の磁化を有する第2の磁気層との間に配置された絶縁層から形成された多層磁気トンネル接合に結合されたスイッチングトランジスタを含む連想メモリ(CAM)のメモリセルにデータを書き込む方法において、
前記第1の線を介して前記第1の磁気層に前記第1の線内に磁場を誘起する電流パルスの形で書込みデータを提供するステップと、
前記スイッチングトランジスタを起動させるとともに該スイッチングトランジスタを介して前記磁気トンネル接合に前記電流パルスの少なくとも一部を印加するステップと、
前記スイッチングトランジスタを介して前記磁気トンネル接合に前記電流パルスの少なくとも一部を印加することにより、前記磁気トンネル接合を所定の高い温度しきい値まで加熱するステップと、
前記磁気トンネル接合が前記所定の高い温度しきい値に達した場合、前記スイッチングトランジスタを選択解除するステップと、
前記磁気トンネル接合が所定の低い温度しきい値に達するまで前記誘起された磁場を保持するステップと、
前記書込みデータが前記メモリセルに書き込まれるように、前記誘起された磁場に基づいて前記第1の磁気層の前記所定の磁化方向を揃えるステップとを含むことを特徴とする方法。 - 前記第2の線を介して前記第2の磁気層に前記第2の線内に磁場を誘起する第2の電流パルスの形で入力データを提供するステップと、
前記第2の線内に誘起された前記磁場に基づいて前記第2の磁気層の前記磁化方向を揃えるステップと、
前記磁気トンネル接合の抵抗値を測定することにより前記入力データを前記書込みデータと比較するステップと、
によって、前記メモリセルに書き込まれた前記データを検知するステップをさらに含むことを特徴とする請求項9に記載の方法。 - 前記入力データを前記書込みデータと比較する前記ステップは、前記第2の磁気層の前記磁化方向を前記第1の磁気層の前記所定の磁化方向と比較するステップを含むことを特徴とする請求項10に記載の方法。
- 第1の線と連通するとともに所定の磁化方向の磁化を有する第1の磁気層と、第2の線と連通するとともに前記第1の磁気層の前記一定の磁化方向に対して調整可能な磁化方向の磁化を有する第2の磁気層との間に配置された絶縁層から形成された多層磁気トンネル接合に結合されたスイッチングトランジスタを含む連想メモリ(CAM)のメモリセルにデータを書き込む方法において、
前記第1の線を介して前記第1の磁気層に所定の振幅を有するとともにスピン偏極した電流パルスの形で書込みデータを提供するステップと、
前記スイッチングトランジスタを起動させるとともに該スイッチングトランジスタを介して前記磁気トンネル接合に前記電流パルスの少なくとも一部を印加するステップと、
前記スイッチングトランジスタを介して前記磁気トンネル接合に前記電流パルスの少なくとも一部を印加することにより、前記磁気トンネル接合を所定の高い温度しきい値まで加熱するステップと、
前記スピン偏極した電流パルスを前記第1の磁気層に印加して前記第1の磁気層上に局所的スピントルクを誘起するステップと、
前記磁気トンネル接合が前記所定の高い温度しきい値に達した場合、前記スイッチングトランジスタを選択解除するステップと、
前記磁気トンネル接合が所定の低い温度しきい値に冷却するにつれて前記電流パルスの振幅を徐々に低減させるステップと、
を含み、
書込みデータが前記メモリセルに書き込まれるように、前記誘起された局所的スピントルクに基づいて前記第1の磁気層の前記所定の磁化方向が揃えられることを特徴とする方法。 - 前記第2の線を介して前記第2の磁気層にスピン偏極した第2の電流パルスとして入力データを提供するステップと、
前記第2のスピン偏極した電流パルスを前記第2の磁気層に印加して前記第2の磁気層上に局所的スピントルクを誘起するステップと、
前記第2の電流パルスにより誘起された局所的スピントルクに基づいて前記第2の磁気層の前記磁化方向を揃えるステップと、
前記磁気トンネル接合の抵抗値を測定することにより前記入力データを前記書込みデータと比較するステップと、
によって、前記メモリセルに書き込まれた前記データを検知するステップをさらに含むことを特徴とする請求項12に記載の方法。 - 前記入力データを前記書込みデータと比較する前記ステップは、前記第2の磁気層の前記磁化方向を前記第1の磁気層の前記所定の磁化方向と比較するステップを含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 第1の線と連通するとともに所定の磁化方向の磁化を有する第1との磁気層と、第2の線と連通するとともに前記第1の磁気層の前記一定の磁化方向に対して調整可能な磁化方向の磁化を有する第2の磁気層との間に配置された絶縁層から形成される多層磁気トンネル接合と、
前記多層磁気トンネル接合に結合されるとともに、書込み動作中に前記第1の線内の電流の少なくとも一部を前記磁気トンネル接合に印加することにより前記磁気トンネル接合を加熱するように選択可能なスイッチングトランジスタと、
を備え、
前記書込み動作中、前記第1の線を介して前記第1の磁気層に書込みデータが書き込まれて前記第1の磁気層の前記所定の磁化方向が確立され、
検知動作中、前記第2の線を介して前記第2の磁気層に入力データが書き込まれて前記第2の磁気層の前記磁化方向が調整され、前記磁気トンネル接合の抵抗値を測定することにより前記入力データが前記書込みデータと比較されることを特徴とする連想メモリ(CAM)のメモリセル。 - 書込み動作中、前記スイッチングトランジスタは、前記磁気トンネル接合の温度が所定の高い温度しきい値に達するまで前記磁気トンネル接合を加熱することを特徴とする請求項15に記載のメモリセル。
- 前記スイッチングトランジスタは、前記磁気トンネル接合の前記温度が前記所定の高い温度しきい値に達した後に選択解除されて、前記電流の一部が前記磁気トンネル接合を通って流れるのを防ぐことを特徴とする請求項16に記載のメモリセル。
- 前記磁気トンネル接合の前記温度は、所定の低い温度しきい値まで冷却されることを特徴とする請求項16に記載のメモリセル。
- 前記磁気トンネル接合の前記温度が前記所定の低い温度しきい値に冷却されるまで前記書込みデータが前記第1の磁気層に提供されることを特徴とする請求項18に記載のメモリセル。
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