JP2010256279A - 浸炭深さ測定方法及び浸炭深さ測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】浸炭層を有さない基準試験体に所定の周波数範囲で超音波の掃引を行って減衰曲線Aを作成し、浸炭深さが既知である複数の既知試験体に所定の周波数範囲で超音波の掃引を行って減衰曲線B′,C′,D′を作成し、各減衰曲線毎に該減衰曲線が囲む面積S1,S2,S3,S4を求め、各面積と該面積に対応する前記既知試験体の浸炭深さから面積に関係付けた浸炭深さのマスターカーブを作成し、浸炭深さが未知である未知試験体について減衰曲線を求めると共に、該減衰曲線が囲む面積を求め、該面積と前記マスターカーブを用いて前記未知試験体の浸炭深さを測定する。
【選択図】図4
Description
2 超音波探触子
3 超音波測定装置
4 演算処理装置
5 操作部
6 表示部
Claims (6)
- 浸炭層を有さない基準試験体に所定の周波数範囲で超音波の掃引を行って減衰曲線を作成し、浸炭深さが既知である複数の既知試験体に所定の周波数範囲で超音波の掃引を行って減衰曲線を作成し、各減衰曲線毎に該減衰曲線が囲む面積を求め、各面積と該面積に対応する前記既知試験体の浸炭深さから面積に関係付けた浸炭深さのマスターカーブを作成し、浸炭深さが未知である未知試験体について減衰曲線を求めると共に、該減衰曲線が囲む面積を求め、該面積と前記マスターカーブを用いて前記未知試験体の浸炭深さを測定することを特徴とする浸炭深さ測定方法。
- 前記基準試験体の減衰曲線の始点を原点とし、前記複数の試験体の減衰曲線の始点が前記基準試験体の減衰曲線の始点と等しくなる様シフトさせた請求項1の浸炭深さ測定方法。
- 前記マスターカーブは、前記基準試験体の減衰曲線で囲まれる面積を基準とした面積比と浸炭深さで作成される請求項1及び請求項2の浸炭深さ測定方法。
- 前記マスターカーブは、前記基準試験体の減衰曲線で囲まれる面積を基準とした面積差と浸炭深さで作成される請求項1及び請求項2の浸炭深さ測定方法。
- 前記マスターカーブは、前記各減衰曲線で囲まれる面積値と浸炭深さで作成される請求項1及び請求項2の浸炭深さ測定方法。
- 基準試験体、既知試験体に超音波を発振し、伝播したレイリー波を受信する超音波探触子と、前記試験体に発振する超音波の周波数を設定し、受信したレイリー波を測定する超音波測定装置と、測定されたレイリー波を記録し、処理する演算処理装置を具備し、前記超音波測定装置は所定周波数間隔で発振超音波を掃引し、前記試験体の表層を伝播したレイリー波の測定結果は前記演算処理装置に記録され、該演算処理装置は記録された結果を基に前記試験体毎の減衰曲線を作成し、該減衰曲線で囲まれる面積を求め、該面積からマスターカーブを作成し、未知試験体の減衰曲線を求めると共に、該減衰曲線で囲まれる面積を求め、該面積と前記マスターカーブを用いて浸炭深さを測定することを特徴とする浸炭深さ測定装置。
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