JP2000321041A - 浸炭層の検出方法及びその厚さの測定方法 - Google Patents
浸炭層の検出方法及びその厚さの測定方法Info
- Publication number
- JP2000321041A JP2000321041A JP11126820A JP12682099A JP2000321041A JP 2000321041 A JP2000321041 A JP 2000321041A JP 11126820 A JP11126820 A JP 11126820A JP 12682099 A JP12682099 A JP 12682099A JP 2000321041 A JP2000321041 A JP 2000321041A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carburized layer
- reflected
- pulse
- metal tube
- surface side
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/11—Analysing solids by measuring attenuation of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 金属管の浸炭層の発生を非破壊試験で検出す
る。 【解決手段】 金属管１の外面１″に間隔をとって超音
波斜角探傷試験用の送信側探触子５と受信側探触子６と
を設け、超音波Ｖ透過法の試験により、探触子５から出
射されて金属管１の管面等で反射し、探触子６に反射パ
ルスとして受信された超音波の受信レベル及び路程長を
測定し、金属管１の内面で反射した最も大きい内面反射
パルスＶ0 の受信レベルが最大になるように、探触子
５，６の間隔を初期間隔Ｙ0に設定した後、探触子５，
６の間隔を間隔Ｙ0から狭くし、金属管１の内面側の浸
炭層２と，この層２より金属管１の外面側の非浸炭層４
との界面Ｆ1 で反射した隣接反射パルスＶ1の受信の有
無を検出し、この反射パルスＶ1の受信により浸炭層２
の発生を検出する。
る。 【解決手段】 金属管１の外面１″に間隔をとって超音
波斜角探傷試験用の送信側探触子５と受信側探触子６と
を設け、超音波Ｖ透過法の試験により、探触子５から出
射されて金属管１の管面等で反射し、探触子６に反射パ
ルスとして受信された超音波の受信レベル及び路程長を
測定し、金属管１の内面で反射した最も大きい内面反射
パルスＶ0 の受信レベルが最大になるように、探触子
５，６の間隔を初期間隔Ｙ0に設定した後、探触子５，
６の間隔を間隔Ｙ0から狭くし、金属管１の内面側の浸
炭層２と，この層２より金属管１の外面側の非浸炭層４
との界面Ｆ1 で反射した隣接反射パルスＶ1の受信の有
無を検出し、この反射パルスＶ1の受信により浸炭層２
の発生を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、石油化学プラント
の炉内配管等の金属管の内，外面の浸炭層の検出及びそ
の厚さの測定を非破壊試験で行う方法に関する。
の炉内配管等の金属管の内，外面の浸炭層の検出及びそ
の厚さの測定を非破壊試験で行う方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、石油化学プラントの代表例である
エチレン製造装置，重油脱硫装置，ＢＴＸ装置等の加熱
炉や反応塔の配管（加熱炉管等）は、外側からの加熱や
内側の高温流体の通流等によって高温加熱されるため、
低合金鋼９Ｃｒ−１ＭＯ，２（１／２）Ｃｒ−１ＭＯ，
インコロイ８００，ＳＵＳ３２１ＨＴＦ等の金属管で形
成される。
エチレン製造装置，重油脱硫装置，ＢＴＸ装置等の加熱
炉や反応塔の配管（加熱炉管等）は、外側からの加熱や
内側の高温流体の通流等によって高温加熱されるため、
低合金鋼９Ｃｒ−１ＭＯ，２（１／２）Ｃｒ−１ＭＯ，
インコロイ８００，ＳＵＳ３２１ＨＴＦ等の金属管で形
成される。
【０００３】そして、これらの高温加熱される金属管に
あっては、使用によって管の内，外面に浸炭層が発生
し、次第にその層が厚くなって劣化するため、定期的な
検査等で浸炭層の発生（有無）及びその厚さを監視し、
その結果に応じて管の取換え等の措置をとる必要があ
る。
あっては、使用によって管の内，外面に浸炭層が発生
し、次第にその層が厚くなって劣化するため、定期的な
検査等で浸炭層の発生（有無）及びその厚さを監視し、
その結果に応じて管の取換え等の措置をとる必要があ
る。
【０００４】ところで、この種の金属管は長く、しか
も、プラント内等に多数配設されるため、それらの浸炭
状況を、１本ずつ切断，研削等して破壊検査すること
は、検査効率や費用の面から極めて不経済である。
も、プラント内等に多数配設されるため、それらの浸炭
状況を、１本ずつ切断，研削等して破壊検査すること
は、検査効率や費用の面から極めて不経済である。
【０００５】そこで、従来はこの種の金属管の浸炭状況
を、とりあえず電磁誘導式の浸炭計で計測して非破壊検
査し、その結果に基づき、疑わしい場合に切断，研削等
して浸炭層の発生の検出及びその厚さの測定を行ってい
る。
を、とりあえず電磁誘導式の浸炭計で計測して非破壊検
査し、その結果に基づき、疑わしい場合に切断，研削等
して浸炭層の発生の検出及びその厚さの測定を行ってい
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】前記従来の電磁誘導式
の浸炭計は、浸炭層が磁性層であることに着目して浸炭
状況を計測するものであり、計測可能な金属管がインコ
ロイやＳＵＳ等の非磁性体の金属管に限られ、いわゆる
鋼管等の磁性体の金属管については計測することができ
ない。
の浸炭計は、浸炭層が磁性層であることに着目して浸炭
状況を計測するものであり、計測可能な金属管がインコ
ロイやＳＵＳ等の非磁性体の金属管に限られ、いわゆる
鋼管等の磁性体の金属管については計測することができ
ない。
【０００７】しかも、浸炭計の計測では磁性層の厚さを
知ることは困難であり、内側にフィンを付けた押出管の
ような内径の不均一な金属管や溶接部分を有する金属管
の計測も困難である。
知ることは困難であり、内側にフィンを付けた押出管の
ような内径の不均一な金属管や溶接部分を有する金属管
の計測も困難である。
【０００８】すなわち、従来は磁性管や内径が不均一な
管等の浸炭層の発生を、非破壊試験で知ることができ
ず、しかも、浸炭層の厚さについては、磁性管，非磁性
管を問わず、非破壊検査で知ることができない問題点が
ある。
管等の浸炭層の発生を、非破壊試験で知ることができ
ず、しかも、浸炭層の厚さについては、磁性管，非磁性
管を問わず、非破壊検査で知ることができない問題点が
ある。
【０００９】本発明は、石油化学プラント等のこの種の
金属管につき、磁性管，非磁性管を問わず、その内，外
面の浸炭層の発生の検出及び厚さの測定が、非破壊試験
で行えるようにすることを課題とする。
金属管につき、磁性管，非磁性管を問わず、その内，外
面の浸炭層の発生の検出及び厚さの測定が、非破壊試験
で行えるようにすることを課題とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項１の本発明の浸炭層の検出方法において
は、金属管の外面に間隔をとって超音波斜角探傷試験用
の送信側探触子と受信側探触子とを設け、超音波Ｖ透過
法の試験により、送信側探触子から出射されて金属管の
管面等で反射し、受信側探触子に反射パルスとして受信
された超音波の受信レベル及び路程長を測定し、受信側
探触子が受信する反射パルスのうちの金属管の内面で反
射した最も大きい内面反射パルスの受信レベルが最大に
なるように、両探触子の間隔を初期間隔に設定した後、
両探触子の間隔を初期間隔より狭くし、金属管の内面側
の浸炭層と，この浸炭層より金属管の外面側の非浸炭層
との界面で反射した内面反射パルスの短路程側の隣接反
射パルスの受信の有無を検出し、短路程側の隣接反射パ
ルスの受信により、金属管の内面側の浸炭層の発生を検
出する。
めに、請求項１の本発明の浸炭層の検出方法において
は、金属管の外面に間隔をとって超音波斜角探傷試験用
の送信側探触子と受信側探触子とを設け、超音波Ｖ透過
法の試験により、送信側探触子から出射されて金属管の
管面等で反射し、受信側探触子に反射パルスとして受信
された超音波の受信レベル及び路程長を測定し、受信側
探触子が受信する反射パルスのうちの金属管の内面で反
射した最も大きい内面反射パルスの受信レベルが最大に
なるように、両探触子の間隔を初期間隔に設定した後、
両探触子の間隔を初期間隔より狭くし、金属管の内面側
の浸炭層と，この浸炭層より金属管の外面側の非浸炭層
との界面で反射した内面反射パルスの短路程側の隣接反
射パルスの受信の有無を検出し、短路程側の隣接反射パ
ルスの受信により、金属管の内面側の浸炭層の発生を検
出する。
【００１１】この場合、超音波Ｖ透過法の試験により、
金属管の外面の送信側探触子から内面側に斜めに出射さ
れた超音波は、金属管の内面で反射するだけでなく、内
面側に浸炭層が発生していると、この浸炭層とその外面
側の非浸炭層との界面でも反射する。
金属管の外面の送信側探触子から内面側に斜めに出射さ
れた超音波は、金属管の内面で反射するだけでなく、内
面側に浸炭層が発生していると、この浸炭層とその外面
側の非浸炭層との界面でも反射する。
【００１２】そして、これらの超音波の反射パルスにお
いては、内面反射パルスが他の反射パルスより著しく大
きく、また、内面側の浸炭層と非浸炭層との界面での反
射パルスの管内の路程長（伝播距離）は内面反射パルス
の路程長より短くなる。
いては、内面反射パルスが他の反射パルスより著しく大
きく、また、内面側の浸炭層と非浸炭層との界面での反
射パルスの管内の路程長（伝播距離）は内面反射パルス
の路程長より短くなる。
【００１３】そのため、最初に受信側又は送信側の探触
子を、最も大きい内面反射パルスの受信レベルが最大に
なる位置に移動し、両探触子の間隔を初期間隔に設定す
ると、受信側探触子が内面反射パルスの受信点（到達
点）に位置する。
子を、最も大きい内面反射パルスの受信レベルが最大に
なる位置に移動し、両探触子の間隔を初期間隔に設定す
ると、受信側探触子が内面反射パルスの受信点（到達
点）に位置する。
【００１４】そして、受信側又は送信側の探触子をその
間隔が狭くなるように移動すると、内面側に浸炭層が発
生し、この層とその外面側の非浸炭層との界面での反射
パルスがあるときに、この反射パルスが内面反射パルス
の短路程側の隣接反射パルスとして受信側探触子に受信
される。
間隔が狭くなるように移動すると、内面側に浸炭層が発
生し、この層とその外面側の非浸炭層との界面での反射
パルスがあるときに、この反射パルスが内面反射パルス
の短路程側の隣接反射パルスとして受信側探触子に受信
される。
【００１５】したがって、この短路程側の隣接反射パル
スの受信により、金属管の内面側に浸炭層が発生してい
ることを、切断，研削等することなく、現場の非破壊試
験で検出することができ、この場合金属管が磁性管や内
径が不均一な管等であっても、確実に内面側の浸炭層の
発生を検出することができる。
スの受信により、金属管の内面側に浸炭層が発生してい
ることを、切断，研削等することなく、現場の非破壊試
験で検出することができ、この場合金属管が磁性管や内
径が不均一な管等であっても、確実に内面側の浸炭層の
発生を検出することができる。
【００１６】つぎに、請求項２の本発明の浸炭層の厚さ
の測定方法においては、送信側探触子と受信側探触子と
の間隔を初期間隔にして内面反射パルスの路程長を求め
た後、両探触子の間隔を初期間隔より狭くし、金属管の
内面側の浸炭層と，この浸炭層より金属管の外面側の非
浸炭層との界面で反射した内面反射パルスの短路程側の
隣接反射パルスを受信したときに、短路程側の隣接反射
パルスの受信レベルが最も大きくなる路程長を内側浸炭
層反射パルスの路程長として求め、内面反射パルスの路
程長と内側浸炭層反射パルスの路程長との差の１／２に
超音波の屈折角の余弦関数値の係数を乗算して金属管の
内面側に発生した浸炭層の厚さを測定する。
の測定方法においては、送信側探触子と受信側探触子と
の間隔を初期間隔にして内面反射パルスの路程長を求め
た後、両探触子の間隔を初期間隔より狭くし、金属管の
内面側の浸炭層と，この浸炭層より金属管の外面側の非
浸炭層との界面で反射した内面反射パルスの短路程側の
隣接反射パルスを受信したときに、短路程側の隣接反射
パルスの受信レベルが最も大きくなる路程長を内側浸炭
層反射パルスの路程長として求め、内面反射パルスの路
程長と内側浸炭層反射パルスの路程長との差の１／２に
超音波の屈折角の余弦関数値の係数を乗算して金属管の
内面側に発生した浸炭層の厚さを測定する。
【００１７】この場合、内面反射パルスの路程長及びそ
の短路程側の隣接反射パルスの路程長の１／２に超音波
の屈折角の余弦関数値の係数を乗算すると、それぞれ反
射面から金属管の外面までの距離（長さ）になる。
の短路程側の隣接反射パルスの路程長の１／２に超音波
の屈折角の余弦関数値の係数を乗算すると、それぞれ反
射面から金属管の外面までの距離（長さ）になる。
【００１８】そして、内面反射パルスの路程長の１／２
に前記の余弦関数値の係数を乗算した長さは金属管の内
面から外面までの厚さになり、短路程側の隣接反射パル
スの路程長の１／２に前記の余弦関数値の係数を乗算し
た長さは金属管の浸炭層より外面側の非浸炭層の厚さに
なる。
に前記の余弦関数値の係数を乗算した長さは金属管の内
面から外面までの厚さになり、短路程側の隣接反射パル
スの路程長の１／２に前記の余弦関数値の係数を乗算し
た長さは金属管の浸炭層より外面側の非浸炭層の厚さに
なる。
【００１９】したがって、両反射パルスの路程長の差の
１／２に前記の余弦関数値の係数を乗算した長さから、
金属管の内面側の浸炭層の厚さを求めて測定することが
でき、このとき、金属管が非磁性管等であっても正確に
内面側の浸炭層の厚さを測定することができる。
１／２に前記の余弦関数値の係数を乗算した長さから、
金属管の内面側の浸炭層の厚さを求めて測定することが
でき、このとき、金属管が非磁性管等であっても正確に
内面側の浸炭層の厚さを測定することができる。
【００２０】つぎに、請求項３の本発明の浸炭層の検出
方法においては、両探触子の間隔を初期間隔に設定した
後、両探触子の間隔を初期間隔より広くし、金属管の内
面で反射して外面で再反射し、金属管の外面側の浸炭層
と，該浸炭層より内面側の非浸炭層との界面で再々反射
した内面反射パルスの長路程側の隣接反射パルスの受信
の有無を検出し、長路程側の隣接反射パルスの受信によ
り、金属管の外面側の浸炭層の発生を検出する。
方法においては、両探触子の間隔を初期間隔に設定した
後、両探触子の間隔を初期間隔より広くし、金属管の内
面で反射して外面で再反射し、金属管の外面側の浸炭層
と，該浸炭層より内面側の非浸炭層との界面で再々反射
した内面反射パルスの長路程側の隣接反射パルスの受信
の有無を検出し、長路程側の隣接反射パルスの受信によ
り、金属管の外面側の浸炭層の発生を検出する。
【００２１】この場合、金属管の外面側に浸炭層が発生
すると、金属管の内面反射パルスは金属管の外面で再反
射し、その再反射パルスが前記界面で外面側に再々反射
し、この再々反射の反射パルスが内面反射パルスの長路
程側の隣接反射パルスとして受信側探触子で受信され
る。
すると、金属管の内面反射パルスは金属管の外面で再反
射し、その再反射パルスが前記界面で外面側に再々反射
し、この再々反射の反射パルスが内面反射パルスの長路
程側の隣接反射パルスとして受信側探触子で受信され
る。
【００２２】そのため、両探触子の間隔を初期間隔に設
定した後、受信側探触子又は送信側探触子をその間隔が
広くなるように移動すると、外面側に浸炭層が発生して
いるときに、金属管の内面で一旦反射し、外面で再反射
した後、浸炭層とその内面側の非浸炭層との界面で再々
反射した超音波の反射パルスが内面反射パルスの長路程
側の隣接反射パルスとして受信側探触子に受信される。
定した後、受信側探触子又は送信側探触子をその間隔が
広くなるように移動すると、外面側に浸炭層が発生して
いるときに、金属管の内面で一旦反射し、外面で再反射
した後、浸炭層とその内面側の非浸炭層との界面で再々
反射した超音波の反射パルスが内面反射パルスの長路程
側の隣接反射パルスとして受信側探触子に受信される。
【００２３】したがって、この長路程側の隣接反射パル
スの受信により、金属管の外面側に浸炭層が発生してい
ることを非破壊試験で検出することができ、この場合、
金属管が磁性管や内径が不均一な管であっても、確実に
外面側の浸炭層の発生を検出することができる。
スの受信により、金属管の外面側に浸炭層が発生してい
ることを非破壊試験で検出することができ、この場合、
金属管が磁性管や内径が不均一な管であっても、確実に
外面側の浸炭層の発生を検出することができる。
【００２４】つぎに、請求項４の本発明の浸炭層の厚さ
の測定方法においては、両探触子の間隔を初期間隔にし
て内面反射パルスの路程長を求めた後、両探触子の間隔
を初期間隔より広くし、金属管の内面で反射して外面で
再反射し、金属管の外面側の浸炭層と，該浸炭層より金
属管の内面側の非浸炭層との界面で再々反射した内面反
射パルスの長路程側の隣接反射パルスを受信したとき
に、長路程側の隣接反射パルスの受信レベルが最も大き
くなる路程長を外面側浸炭層反射パルスの路程長として
求め、この外面側浸炭層反射パルスの路程長と内面反射
パルスの路程長との差の１／２に超音波の屈折角の余弦
関数値の係数を乗算して金属管の外面側に発生した浸炭
層の厚さを測定する。
の測定方法においては、両探触子の間隔を初期間隔にし
て内面反射パルスの路程長を求めた後、両探触子の間隔
を初期間隔より広くし、金属管の内面で反射して外面で
再反射し、金属管の外面側の浸炭層と，該浸炭層より金
属管の内面側の非浸炭層との界面で再々反射した内面反
射パルスの長路程側の隣接反射パルスを受信したとき
に、長路程側の隣接反射パルスの受信レベルが最も大き
くなる路程長を外面側浸炭層反射パルスの路程長として
求め、この外面側浸炭層反射パルスの路程長と内面反射
パルスの路程長との差の１／２に超音波の屈折角の余弦
関数値の係数を乗算して金属管の外面側に発生した浸炭
層の厚さを測定する。
【００２５】この場合、両探触子が初期間隔のときの内
面反射パルスの路程長及びその長路程側の隣接反射パル
スの路程長の１／２に超音波の屈折角の余弦関数値の係
数を乗算すると、内面から金属管の外面までの距離（長
さ），この距離に外面側の浸炭層の厚さを加えた距離に
なる。
面反射パルスの路程長及びその長路程側の隣接反射パル
スの路程長の１／２に超音波の屈折角の余弦関数値の係
数を乗算すると、内面から金属管の外面までの距離（長
さ），この距離に外面側の浸炭層の厚さを加えた距離に
なる。
【００２６】したがって、長路程側の隣接反射パルスと
内面反射パルスとの路程長の差の１／２に前記の余弦の
係数を乗算した長さから、金属管の外面側の浸炭層の厚
さを求めて測定することができ、このとき、金属管が非
磁性管等であっても正確に内面側の浸炭層の厚さを測定
することができる。
内面反射パルスとの路程長の差の１／２に前記の余弦の
係数を乗算した長さから、金属管の外面側の浸炭層の厚
さを求めて測定することができ、このとき、金属管が非
磁性管等であっても正確に内面側の浸炭層の厚さを測定
することができる。
【００２７】つぎに、請求項５の本発明の浸炭層の検出
方法においては、両探触子の間隔を初期間隔に設定した
後、金属管の内面側の浸炭層の発生の検出により、両探
触子の間隔を初期間隔より狭くし、金属管の内面側の浸
炭層と，該浸炭層より前記金属管の外面側の非浸炭層と
の界面で反射した内面反射パルスの短路程側の隣接反射
パルスの受信の有無を検出し、短路程側の隣接反射パル
スの受信により、金属管の内面側の浸炭層の発生を検出
し、金属管の外面側の浸炭層の発生の検出により、両探
触子の間隔を初期間隔より広くし、金属管の内面で反射
して外面で再反射し、金属管の外面側の浸炭層と，該浸
炭層より金属管の内面側の非浸炭層との界面で再々反射
した内面反射パルスの長路程側の隣接反射パルスの受信
の有無を検出し、長路程側の隣接反射パルスの受信によ
り、金属管の外面側の浸炭層の発生を検出する。
方法においては、両探触子の間隔を初期間隔に設定した
後、金属管の内面側の浸炭層の発生の検出により、両探
触子の間隔を初期間隔より狭くし、金属管の内面側の浸
炭層と，該浸炭層より前記金属管の外面側の非浸炭層と
の界面で反射した内面反射パルスの短路程側の隣接反射
パルスの受信の有無を検出し、短路程側の隣接反射パル
スの受信により、金属管の内面側の浸炭層の発生を検出
し、金属管の外面側の浸炭層の発生の検出により、両探
触子の間隔を初期間隔より広くし、金属管の内面で反射
して外面で再反射し、金属管の外面側の浸炭層と，該浸
炭層より金属管の内面側の非浸炭層との界面で再々反射
した内面反射パルスの長路程側の隣接反射パルスの受信
の有無を検出し、長路程側の隣接反射パルスの受信によ
り、金属管の外面側の浸炭層の発生を検出する。
【００２８】したがって、この場合は請求項１の検出方
法と請求項３の検出方法とを組合わせた検出方法によ
り、金属管の内面側及び外面側の浸炭層の発生を非破壊
試験で正確に検出することができる。
法と請求項３の検出方法とを組合わせた検出方法によ
り、金属管の内面側及び外面側の浸炭層の発生を非破壊
試験で正確に検出することができる。
【００２９】つぎに、請求項６の浸炭層の厚さの測定方
法においては、両探触子の間隔を初期間隔にして内面反
射パルスの路程長を求めた後、金属管の内面側に発生し
た浸炭層の厚さの測定により、両探触子の間隔を初期間
隔より狭くし、金属管の内面側の浸炭層と，該浸炭層よ
り金属管の外面側の非浸炭層との界面で反射した内面反
射パルスの短路程側の隣接反射パルスを受信したとき
に、短路程側の隣接反射パルスの受信レベルが最も大き
くなる路程長を内面側浸炭層反射パルスの路程長として
求め、内面反射パルスの路程長と内面側浸炭層反射パル
スの路程長との差の１／２に超音波の屈折角の余弦関数
値の係数を乗算して金属管の内面側に発生した浸炭層の
厚さを測定し、金属管の外面側に発生した浸炭層の厚さ
の測定により、両探触子の間隔を初期間隔より広くし、
金属管の内面で反射して外面で再反射し、金属管の外面
側の浸炭層と，該浸炭層より金属管の内面側の非浸炭層
との界面で再々反射した内面反射パルスの長路程側の隣
接反射パルスを受信したときに、長路程側の隣接反射パ
ルスの受信レベルが最も大きくなる路程長を外面側浸炭
層反射パルスの路程長として求め、外面側浸炭層反射パ
ルスの路程長と内面反射パルスの路程長との差の１／２
に超音波の屈折角の余弦関数値の係数を乗算して金属管
の外面側に発生した浸炭層の厚さを測定する。
法においては、両探触子の間隔を初期間隔にして内面反
射パルスの路程長を求めた後、金属管の内面側に発生し
た浸炭層の厚さの測定により、両探触子の間隔を初期間
隔より狭くし、金属管の内面側の浸炭層と，該浸炭層よ
り金属管の外面側の非浸炭層との界面で反射した内面反
射パルスの短路程側の隣接反射パルスを受信したとき
に、短路程側の隣接反射パルスの受信レベルが最も大き
くなる路程長を内面側浸炭層反射パルスの路程長として
求め、内面反射パルスの路程長と内面側浸炭層反射パル
スの路程長との差の１／２に超音波の屈折角の余弦関数
値の係数を乗算して金属管の内面側に発生した浸炭層の
厚さを測定し、金属管の外面側に発生した浸炭層の厚さ
の測定により、両探触子の間隔を初期間隔より広くし、
金属管の内面で反射して外面で再反射し、金属管の外面
側の浸炭層と，該浸炭層より金属管の内面側の非浸炭層
との界面で再々反射した内面反射パルスの長路程側の隣
接反射パルスを受信したときに、長路程側の隣接反射パ
ルスの受信レベルが最も大きくなる路程長を外面側浸炭
層反射パルスの路程長として求め、外面側浸炭層反射パ
ルスの路程長と内面反射パルスの路程長との差の１／２
に超音波の屈折角の余弦関数値の係数を乗算して金属管
の外面側に発生した浸炭層の厚さを測定する。
【００３０】したがって、この場合は請求項２の測定方
法と請求項４の測定方法とを組合わせた測定方法によ
り、金属管の内面側及び外面側に発生した浸炭層の厚さ
を非破壊検査で正確に測定することができる。
法と請求項４の測定方法とを組合わせた測定方法によ
り、金属管の内面側及び外面側に発生した浸炭層の厚さ
を非破壊検査で正確に測定することができる。
【００３１】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態につき、図１
ないし図１０を参照して説明する。図１は例えばＢＴＸ
装置の加熱炉の鋼管等の金属管１の管軸方向（長手方
向）の断面図であり、図中の２は金属管１の内面側に発
生した浸炭層（内面側浸炭層）、３は金属管１の外面側
に発生した浸炭層（外面側浸炭層）、４は浸炭層２，３
間の金属管１の非浸炭層である。
ないし図１０を参照して説明する。図１は例えばＢＴＸ
装置の加熱炉の鋼管等の金属管１の管軸方向（長手方
向）の断面図であり、図中の２は金属管１の内面側に発
生した浸炭層（内面側浸炭層）、３は金属管１の外面側
に発生した浸炭層（外面側浸炭層）、４は浸炭層２，３
間の金属管１の非浸炭層である。
【００３２】５，６は金属管１の外面１′に管軸方向に
間隔をとって設けられた超音波斜角探傷試験用の送信側
探触子，受信側探触子である。
間隔をとって設けられた超音波斜角探傷試験用の送信側
探触子，受信側探触子である。
【００３３】そして、金属管１の浸炭状況の検査（保守
点検）はＢＴＸ装置の運転が停止等されて金属管１に熱
が加わらないときに現地で実施される。
点検）はＢＴＸ装置の運転が停止等されて金属管１に熱
が加わらないときに現地で実施される。
【００３４】このとき、金属管１は加熱炉等に縦向き又
は横向きに配設され、探触子５，６が１組の場合、図１
に実線及び破線で示したように、探触子５，６の設置位
置を金属管１の各検査部位の外面１′に順に移動して検
査が行われる。
は横向きに配設され、探触子５，６が１組の場合、図１
に実線及び破線で示したように、探触子５，６の設置位
置を金属管１の各検査部位の外面１′に順に移動して検
査が行われる。
【００３５】つぎに、具体的な検査について説明する。
まず、探触子５，６を用いた超音波Ｖ透過法の試験によ
り、反射パルスと呼ばれる超音波の反射エコーの計測か
ら、金属管１の内面側浸炭層２の検出及び厚さの測定を
行う。
まず、探触子５，６を用いた超音波Ｖ透過法の試験によ
り、反射パルスと呼ばれる超音波の反射エコーの計測か
ら、金属管１の内面側浸炭層２の検出及び厚さの測定を
行う。
【００３６】この場合、図１の一部の拡大図である図２
に示すように、探触子５，６の間隔を、最初に、金属管
１の内面１″で反射した超音波の反射パルス（内面反射
パルスＶ0）の受信レベルが最大になる初期間隔Ｙ0に調
整して設定する。ところで、送信側探触子５は超音波を
図２の屈折角θで出射する。
に示すように、探触子５，６の間隔を、最初に、金属管
１の内面１″で反射した超音波の反射パルス（内面反射
パルスＶ0）の受信レベルが最大になる初期間隔Ｙ0に調
整して設定する。ところで、送信側探触子５は超音波を
図２の屈折角θで出射する。
【００３７】そして、この屈折角θは３０°，４５°，
６０°，７０°等に適当に設定してよいが、いわゆるＵ
字管等の場合も考慮して種々実験したところ、４５°に
することが汎用性等の面から最も好ましいことが判明し
た。
６０°，７０°等に適当に設定してよいが、いわゆるＵ
字管等の場合も考慮して種々実験したところ、４５°に
することが汎用性等の面から最も好ましいことが判明し
た。
【００３８】なお、検出及び測定を精度よく行うため、
屈折角θはいわゆる公称屈折角でなく、予め実験等で測
定した実測角である。
屈折角θはいわゆる公称屈折角でなく、予め実験等で測
定した実測角である。
【００３９】また、探触子５，６は図示省略された本体
装置の制御，監視により、超音波の送受信が制御，監視
される。
装置の制御，監視により、超音波の送受信が制御，監視
される。
【００４０】そして、その送受信結果に基づく本体装置
のマイクロコンピュータ等の演算処理により、斜角探傷
法のうちのタンデム法を変形した周知のＶ透過法で反射
パルスを測定し、金属管１の音速及びその超音波の出射
（送信）から受信までの時間計測等に基づき、例えば図
２の矢印線に示す送信側探触子５から受信側探触子６に
至るまでの超音波の伝播路の長さを、反射パルスの路程
長として求める。
のマイクロコンピュータ等の演算処理により、斜角探傷
法のうちのタンデム法を変形した周知のＶ透過法で反射
パルスを測定し、金属管１の音速及びその超音波の出射
（送信）から受信までの時間計測等に基づき、例えば図
２の矢印線に示す送信側探触子５から受信側探触子６に
至るまでの超音波の伝播路の長さを、反射パルスの路程
長として求める。
【００４１】さらに、この路程長と受信レベルとの関係
を示す図３のような波形のグラフを、モニタ表示器等に
画面表示する。
を示す図３のような波形のグラフを、モニタ表示器等に
画面表示する。
【００４２】図３は内面反射パルスＶ0の場合の画面表
示を示し、路程長Ｌ0の１／２の往路又は復路の路程長
をビーム路程長Ｗ0 とし、ビーム路程長を横軸，受信レ
ベルを表わす任意単位のエコー高さ（％）を縦軸にして
内面反射パルスＶ0 を画面表示したものである。
示を示し、路程長Ｌ0の１／２の往路又は復路の路程長
をビーム路程長Ｗ0 とし、ビーム路程長を横軸，受信レ
ベルを表わす任意単位のエコー高さ（％）を縦軸にして
内面反射パルスＶ0 を画面表示したものである。
【００４３】そして、送信側探触子５から出射された超
音波は、実際には、内面１″だけでなく、浸炭層２，３
と非浸炭層４との界面Ｆ1，Ｆ2でも反射するが、内面
１″で反射した内面反射パルスＶ0 のレベルが他のパル
スより著しく大きくなる。
音波は、実際には、内面１″だけでなく、浸炭層２，３
と非浸炭層４との界面Ｆ1，Ｆ2でも反射するが、内面
１″で反射した内面反射パルスＶ0 のレベルが他のパル
スより著しく大きくなる。
【００４４】そこで、初期間隔Ｙ0 に調整する場合、モ
ニタ表示器の画面表示をみながら、受信ゲインを調整し
つつ送信側探触子５，受信側探触子６のいずれか一方又
は両方を、表示された最も大きい反射パルスが最大レベ
ルになるように、すなわち図３のように内面反射パルス
Ｖ0 が最も大きく表示されるように、近づく方向又は離
れる方向に少しずつ移動して超音波の送受信をくり返
し、位置決めする。
ニタ表示器の画面表示をみながら、受信ゲインを調整し
つつ送信側探触子５，受信側探触子６のいずれか一方又
は両方を、表示された最も大きい反射パルスが最大レベ
ルになるように、すなわち図３のように内面反射パルス
Ｖ0 が最も大きく表示されるように、近づく方向又は離
れる方向に少しずつ移動して超音波の送受信をくり返
し、位置決めする。
【００４５】なお、図３においては内面反射パルスＶ0
の受信レベルが最大であることが分り易いように、最大
レベルのときに１００％でなく、８０％になるように表
示したものであり、この場合、他の反射パルスについて
はレベルが小さく、画面には現れない。
の受信レベルが最大であることが分り易いように、最大
レベルのときに１００％でなく、８０％になるように表
示したものであり、この場合、他の反射パルスについて
はレベルが小さく、画面には現れない。
【００４６】つぎに、内面側浸炭層２が発生している場
合、この浸炭層２とその外面側の非浸炭層４との界面Ｆ
1 でも超音波が反射し、その反射パルス（短路程側の隣
接反射パルスＶ1）の路程長Ｌ1は、図４からも明らかな
ように内面反射パルスＶ0 の路程長Ｌ0 より浸炭層２の
厚さに相当する数ミリメートル程度の微小な長さだけ短
くなる。
合、この浸炭層２とその外面側の非浸炭層４との界面Ｆ
1 でも超音波が反射し、その反射パルス（短路程側の隣
接反射パルスＶ1）の路程長Ｌ1は、図４からも明らかな
ように内面反射パルスＶ0 の路程長Ｌ0 より浸炭層２の
厚さに相当する数ミリメートル程度の微小な長さだけ短
くなる。
【００４７】そこで、モニタ表示器の表示画面をみなが
ら、受信ゲインを調整しつつ探触子５，６のいずれか一
方又は両方を近づく方向に移動して両探触子５，６の間
隔を初期間隔Ｙ0 から少しずつ狭くし、図５に示すよう
に、表示画面の内面反射パルスＶ0の短路程側近傍に隣
接反射パルスＶ1が明瞭に分離して出現し、反射パルス
Ｖ1 が検出されるか否かを観察する。
ら、受信ゲインを調整しつつ探触子５，６のいずれか一
方又は両方を近づく方向に移動して両探触子５，６の間
隔を初期間隔Ｙ0 から少しずつ狭くし、図５に示すよう
に、表示画面の内面反射パルスＶ0の短路程側近傍に隣
接反射パルスＶ1が明瞭に分離して出現し、反射パルス
Ｖ1 が検出されるか否かを観察する。
【００４８】なお、本発明の反射パルスＶ0，Ｖ1等は横
波のパルスであるが、実際には横波のパルスの他に、縦
波のパルス等の疑似エコーと呼ばれる反射パルスも発生
し、これらの反射パルスもモニタ表示等に画面表示され
る場合がある。
波のパルスであるが、実際には横波のパルスの他に、縦
波のパルス等の疑似エコーと呼ばれる反射パルスも発生
し、これらの反射パルスもモニタ表示等に画面表示され
る場合がある。
【００４９】しかし、横波の反射パルスＶ0，Ｖ1等と疑
似エコーの反射パルスとは探触子５，６の間隔を変えた
ときの表示変化等から区別することができ、しかも、疑
似エコーの反射パルスは反射パルスＶ1 より短路程側に
群パルス状に発生する。
似エコーの反射パルスとは探触子５，６の間隔を変えた
ときの表示変化等から区別することができ、しかも、疑
似エコーの反射パルスは反射パルスＶ1 より短路程側に
群パルス状に発生する。
【００５０】そこで、図５等にあっては、本発明を分り
易くするため、疑似エコーの反射パルスは省略して表し
ている。
易くするため、疑似エコーの反射パルスは省略して表し
ている。
【００５１】そして、隣接反射パルスＶ1 が明瞭に分離
して検出されると、この検出によって内面側浸炭層２の
発生が検出される。
して検出されると、この検出によって内面側浸炭層２の
発生が検出される。
【００５２】つぎに、本形態ではその厚さを検出するた
め、隣接反射パルスＶ1 が最大レベルになるように探触
子５，６の間隔を初期間隔Ｙ0から狭くして間隔Ｙ1にす
る。
め、隣接反射パルスＶ1 が最大レベルになるように探触
子５，６の間隔を初期間隔Ｙ0から狭くして間隔Ｙ1にす
る。
【００５３】このとき、図２からも明らかなように、内
面反射パルスＶ0の路程長Ｌ0の１／２をＷ0とすると、
その余弦関数値Ｗ0・cosθが金属管１の内面１″から外
面１′までの厚さｔ0になる。
面反射パルスＶ0の路程長Ｌ0の１／２をＷ0とすると、
その余弦関数値Ｗ0・cosθが金属管１の内面１″から外
面１′までの厚さｔ0になる。
【００５４】さらに、図４からも明らかなように、隣接
反射パルスＶ1の路程長Ｌ1の１／２をＷ1とすると、そ
の余弦関数値Ｗ1・cosθが界面Ｆ1から外面までの厚さ
（ｔ0−ｔ1）になる。
反射パルスＶ1の路程長Ｌ1の１／２をＷ1とすると、そ
の余弦関数値Ｗ1・cosθが界面Ｆ1から外面までの厚さ
（ｔ0−ｔ1）になる。
【００５５】したがって、内面側浸炭層２の厚さｔ
1 は、路程長Ｌ0，Ｌ1の差の１／２に屈折角θの余弦関
数値cosθの係数Ｋを乗算するつぎの数１の式から求め
られて測定される。
1 は、路程長Ｌ0，Ｌ1の差の１／２に屈折角θの余弦関
数値cosθの係数Ｋを乗算するつぎの数１の式から求め
られて測定される。
【００５６】
【数１】 ｔ1＝（（Ｌ0−Ｌ1）／２）・Ｋ＝（Ｗ0−Ｗ1）・cosθ
【００５７】そして、金属管１の端面を示した図６の内
面側浸炭層２の厚さｔ1 につき、数１の式から求めた測
定値の精度を確かめたところ、実際に切断して確認した
値（検証厚）と、数１の式から求めた値（測定厚）とに
つき、図７の各○印の結果が得られた。
面側浸炭層２の厚さｔ1 につき、数１の式から求めた測
定値の精度を確かめたところ、実際に切断して確認した
値（検証厚）と、数１の式から求めた値（測定厚）とに
つき、図７の各○印の結果が得られた。
【００５８】この図７によると、例えば実測の検証厚
０．５mmに対して数１の式から求めた測定厚はその＋
０．３mm〜−０．２mmの範囲になり、誤差が少なく、数
１の式から金属管１の内面側浸炭層２の厚さｔ1 を非破
壊試験で精度よく求めて測定できることが確かめられ
た。
０．５mmに対して数１の式から求めた測定厚はその＋
０．３mm〜−０．２mmの範囲になり、誤差が少なく、数
１の式から金属管１の内面側浸炭層２の厚さｔ1 を非破
壊試験で精度よく求めて測定できることが確かめられ
た。
【００５９】つぎに、探触子５，６を用いた金属管１の
外面側浸炭層３の検出及び厚さの測定について説明す
る。
外面側浸炭層３の検出及び厚さの測定について説明す
る。
【００６０】ところで、金属管１等にあっては、管内の
高温流体の通流によって浸炭層が内面側に発生し、加熱
炉管等の管外から熱が加わるものについては、内面側だ
けでなく、外面側にも浸炭層（外面側浸炭層３）が発生
する。
高温流体の通流によって浸炭層が内面側に発生し、加熱
炉管等の管外から熱が加わるものについては、内面側だ
けでなく、外面側にも浸炭層（外面側浸炭層３）が発生
する。
【００６１】そして、この外面側浸炭層３の有無を検出
する場合も、最初に内面反射パルスＶ0の受信に基づ
き、探触子５，６の設置間隔を初期間隔Ｙ0に設定す
る。
する場合も、最初に内面反射パルスＶ0の受信に基づ
き、探触子５，６の設置間隔を初期間隔Ｙ0に設定す
る。
【００６２】つぎに、外面側浸炭層３が発生している場
合、探触子５から出射された超音波は、図８に示すよう
に一部は外面側浸炭層３と非浸炭層４との界面Ｆ2 ，非
浸炭層４と内面側浸炭層２との界面Ｆ1 で反射するが、
大部分は金属管１の内面１″で反射する。
合、探触子５から出射された超音波は、図８に示すよう
に一部は外面側浸炭層３と非浸炭層４との界面Ｆ2 ，非
浸炭層４と内面側浸炭層２との界面Ｆ1 で反射するが、
大部分は金属管１の内面１″で反射する。
【００６３】そして、界面Ｆ2 で反射した超音波は金属
管１の外面１″で再反射し、その後、界面Ｆ2 での反射
と外面１″での反射とをくり返し、探触子６に到達する
までに著しく減衰する。
管１の外面１″で再反射し、その後、界面Ｆ2 での反射
と外面１″での反射とをくり返し、探触子６に到達する
までに著しく減衰する。
【００６４】また、界面Ｆ1で反射した超音波（内面側
浸炭層反射パルスＶ1）は外面１′の内面反射パルスＶ0
の到達点より探触子５に近い地点で受信される。
浸炭層反射パルスＶ1）は外面１′の内面反射パルスＶ0
の到達点より探触子５に近い地点で受信される。
【００６５】一方、内面１″で反射した超音波は内面反
射パルスＶ0 であることから他の反射パルスより著しく
大きく、この内面反射パルスＶ0 が外面１′で再反射し
て界面Ｆ2で再々反射すると、外面１″の内面反射パル
スＶ0の到達点より外面側浸炭層３の厚さに応じた路程
（距離）離れた地点で十分な大きさの反射パルスとして
受信することができる。
射パルスＶ0 であることから他の反射パルスより著しく
大きく、この内面反射パルスＶ0 が外面１′で再反射し
て界面Ｆ2で再々反射すると、外面１″の内面反射パル
スＶ0の到達点より外面側浸炭層３の厚さに応じた路程
（距離）離れた地点で十分な大きさの反射パルスとして
受信することができる。
【００６６】そして、この反射パルスが内面反射パルス
Ｖ0 の長路程側の隣接反射パルスＶ 2であり、探触子
５，６を初期間隔Ｙ0 に設置した後、モニタ表示器の表
示画面をみながら、受信ゲインを調整しつつ探触子５，
６のいずれか一方又は両方を離れる方向に移動して両探
触子５，６の間隔を初期間隔から少しずつ広くし、図９
に示すように、モニタ表示器の表示画面の内面反射パル
スＶ0 の長路程側近傍に隣接反射パルスＶ2が明瞭に分
離して出現し、反射パルスＶ2が検出されるか否かを観
察する。
Ｖ0 の長路程側の隣接反射パルスＶ 2であり、探触子
５，６を初期間隔Ｙ0 に設置した後、モニタ表示器の表
示画面をみながら、受信ゲインを調整しつつ探触子５，
６のいずれか一方又は両方を離れる方向に移動して両探
触子５，６の間隔を初期間隔から少しずつ広くし、図９
に示すように、モニタ表示器の表示画面の内面反射パル
スＶ0 の長路程側近傍に隣接反射パルスＶ2が明瞭に分
離して出現し、反射パルスＶ2が検出されるか否かを観
察する。
【００６７】そして、隣接反射パルスＶ2 が明瞭に分離
して検出されることにより、外面側浸炭層３の発生が検
出される。
して検出されることにより、外面側浸炭層３の発生が検
出される。
【００６８】つぎに、外面側浸炭層３の厚さを検出する
ため、隣接反射パルスＶ2 が最も大きく受信されるよう
に、探触子５，６の間隔を初期間隔Ｙ0から広くして間
隔Ｙ2にする。
ため、隣接反射パルスＶ2 が最も大きく受信されるよう
に、探触子５，６の間隔を初期間隔Ｙ0から広くして間
隔Ｙ2にする。
【００６９】このとき、隣接反射パルスＶ2の出射から
受信までの全路程長Ｌ2は、図８からも明らかなよう
に、内面反射パルスＶ0の路程長Ｌ0（＝２・Ｗ0＝２・
Ｗ2a）に、外面１″で再反射して界面Ｆ2で再々反射す
る路程長２・Ｗ2bを加算した長さＬ0＋２・Ｗ2b（＝２
（Ｗ2a＋Ｗ2b））になる。
受信までの全路程長Ｌ2は、図８からも明らかなよう
に、内面反射パルスＶ0の路程長Ｌ0（＝２・Ｗ0＝２・
Ｗ2a）に、外面１″で再反射して界面Ｆ2で再々反射す
る路程長２・Ｗ2bを加算した長さＬ0＋２・Ｗ2b（＝２
（Ｗ2a＋Ｗ2b））になる。
【００７０】そして、金属管１の厚さｔ0は（Ｌ0／２）
・cosθ（＝Ｗ0・cosθ＝Ｗ2a・cosθ）であり、外面側
浸炭層３の厚さｔ2は（２・Ｗ2b／２）・cosθ（＝Ｗ2b
・cosθ）である。，
・cosθ（＝Ｗ0・cosθ＝Ｗ2a・cosθ）であり、外面側
浸炭層３の厚さｔ2は（２・Ｗ2b／２）・cosθ（＝Ｗ2b
・cosθ）である。，
【００７１】そのため、外面側浸炭層３の厚さｔ2 は、
路程長Ｌ2，Ｌ1の差の１／２に係数Ｋ（＝cosθ）を乗
算するつぎの数２の式から求められて測定される。
路程長Ｌ2，Ｌ1の差の１／２に係数Ｋ（＝cosθ）を乗
算するつぎの数２の式から求められて測定される。
【００７２】
【数２】ｔ2＝（（Ｌ2−Ｌ0）／２）・Ｋ＝（Ｗ2−
Ｗ0）・cosθ＝Ｗ2b・cosθ
Ｗ0）・cosθ＝Ｗ2b・cosθ
【００７３】そして、図６の外面側浸炭層３の厚さｔ2
につき、数２の式から求めた測定値の精度を確かめたと
ころ、図７と同様の図１０の結果が得られ、この図１０
から明らかなように、数２の式から外面側浸炭層３の厚
さｔ2 を精度よく求めて測定できる。
につき、数２の式から求めた測定値の精度を確かめたと
ころ、図７と同様の図１０の結果が得られ、この図１０
から明らかなように、数２の式から外面側浸炭層３の厚
さｔ2 を精度よく求めて測定できる。
【００７４】したがって、探触子５，６を用いた超音波
Ｖ透過法の試験により、金属管１の内面側浸炭層２，外
面側浸炭層３の発生の検出及びその厚さの測定が、金属
管１を切断，研削等することなく確実に精度よく行え
る。
Ｖ透過法の試験により、金属管１の内面側浸炭層２，外
面側浸炭層３の発生の検出及びその厚さの測定が、金属
管１を切断，研削等することなく確実に精度よく行え
る。
【００７５】そして、従来の電磁誘導式の浸炭計を用い
た場合のような金属管１の材質や内面形状等による制限
がなく、磁性管，非磁性管を問わず、どのような金属管
であっても、現場での非破壊試験で精度よく、しかも、
経済的に効率よく浸炭層２，４の発生を検出し、その厚
さを測定することができる。
た場合のような金属管１の材質や内面形状等による制限
がなく、磁性管，非磁性管を問わず、どのような金属管
であっても、現場での非破壊試験で精度よく、しかも、
経済的に効率よく浸炭層２，４の発生を検出し、その厚
さを測定することができる。
【００７６】なお、浸炭層の有無が表示画面から容易に
分かり、しかも、その厚さが数１，数２の式から簡単に
求められるため、浸炭層２，３の検出や厚さの測定に超
音波の反射エコーについての高度の熟練等を要しない利
点もある。
分かり、しかも、その厚さが数１，数２の式から簡単に
求められるため、浸炭層２，３の検出や厚さの測定に超
音波の反射エコーについての高度の熟練等を要しない利
点もある。
【００７７】ところで、金属管によっては内面側浸炭層
２又は外面側浸炭層３についてのみ、浸炭層の発生の検
出又はこの検出とその厚さの測定を行うようにしてもよ
い。また、探触子５，６を複数組用いて複数の金属管の
検出，測定又は１本の金属管の複数個所の検出，測定を
一度に行うようにしてもよい。
２又は外面側浸炭層３についてのみ、浸炭層の発生の検
出又はこの検出とその厚さの測定を行うようにしてもよ
い。また、探触子５，６を複数組用いて複数の金属管の
検出，測定又は１本の金属管の複数個所の検出，測定を
一度に行うようにしてもよい。
【００７８】さらに、探触子５，６が送受する超音波の
屈折角θは４５°に限られるものでなく、３０°，４５
°，６０°，７０°等の種々の角度であっても、同様に
適用できるのは勿論である。
屈折角θは４５°に限られるものでなく、３０°，４５
°，６０°，７０°等の種々の角度であっても、同様に
適用できるのは勿論である。
【００７９】そして、本発明は熱が加わる種々の金属管
の浸炭層の発生の検出及びその厚さの測定に適用でき
る。
の浸炭層の発生の検出及びその厚さの測定に適用でき
る。
【００８０】
【発明の効果】本発明は、以下に記載する効果を奏す
る。まず、請求項１の検出方法の場合は、最初に受信側
又は送信側の探触子６，５を、金属管１の外面１″の内
面反射パルスＶ0 の受信レベルが最大になる位置に移動
し、両探触子５，６の間隔を初期間隔Ｙ0 に設定する
と、受信側探触子６が内面反射パルスＶ0 の受信点（到
達点）に位置し、つぎに受信側又は送信側の探触子６，
５をその間隔が狭くなるように移動すると、内面側に浸
炭層２が発生し、この層２とその外面側の非浸炭層４と
の界面Ｆ1 での反射パルスがあるときに、この反射パル
スを内面反射パルスＶ0の短路程側の隣接反射パルスＶ1
として受信側探触子６で受信することができる。
る。まず、請求項１の検出方法の場合は、最初に受信側
又は送信側の探触子６，５を、金属管１の外面１″の内
面反射パルスＶ0 の受信レベルが最大になる位置に移動
し、両探触子５，６の間隔を初期間隔Ｙ0 に設定する
と、受信側探触子６が内面反射パルスＶ0 の受信点（到
達点）に位置し、つぎに受信側又は送信側の探触子６，
５をその間隔が狭くなるように移動すると、内面側に浸
炭層２が発生し、この層２とその外面側の非浸炭層４と
の界面Ｆ1 での反射パルスがあるときに、この反射パル
スを内面反射パルスＶ0の短路程側の隣接反射パルスＶ1
として受信側探触子６で受信することができる。
【００８１】そして、この短路程側の隣接反射パルスＶ
1 の受信により、金属管１の内面側に浸炭層２が発生し
ていることを、切断，研削等することなく、現場の非破
壊試験で検出することができ、この場合、金属管１が磁
性管や内径が不均一な管等であっても、確実に内面側の
浸炭層２の発生を検出して浸炭状況を把握することがで
きる。
1 の受信により、金属管１の内面側に浸炭層２が発生し
ていることを、切断，研削等することなく、現場の非破
壊試験で検出することができ、この場合、金属管１が磁
性管や内径が不均一な管等であっても、確実に内面側の
浸炭層２の発生を検出して浸炭状況を把握することがで
きる。
【００８２】また、請求項２の測定方法の場合は、内面
側の浸炭層２の検出時、反射パルスＶ0，Ｖ1の路程長Ｌ
0，Ｌ1の差の１／２（Ｗ0−Ｗ1）に屈折角θの余弦関数
値の係数を乗算した長さ（Ｗ0−Ｗ1）cosθから金属管
１の浸炭層２の厚さｔ1 を求めて測定することができ、
このとき、金属管１が非磁性管等であっても正確に内面
側の浸炭層２の厚さを測定して浸炭状況を一層正確に把
握することができ、その結果に基づいて管の取換え等の
必要な補修等を適切に行うことができる。
側の浸炭層２の検出時、反射パルスＶ0，Ｖ1の路程長Ｌ
0，Ｌ1の差の１／２（Ｗ0−Ｗ1）に屈折角θの余弦関数
値の係数を乗算した長さ（Ｗ0−Ｗ1）cosθから金属管
１の浸炭層２の厚さｔ1 を求めて測定することができ、
このとき、金属管１が非磁性管等であっても正確に内面
側の浸炭層２の厚さを測定して浸炭状況を一層正確に把
握することができ、その結果に基づいて管の取換え等の
必要な補修等を適切に行うことができる。
【００８３】さらに、請求項３の検出方法の場合は、探
触子５，６の間隔を初期間隔Ｙ0 に設定した後、受信側
又は送信側の探触子６，５をその間隔が広くなるように
移動すると、外面側に浸炭層３が発生しているときに、
金属管１の内面１′で一旦反射し、外面１″で再反射し
た後、浸炭層３とその内面側の非浸炭層４との界面Ｆ 2
で再々反射した超音波の反射パルスが内面反射パルスＶ
0 の長路程側の隣接反射パルスＶ2 として受信側探触子
６で受信することができる。
触子５，６の間隔を初期間隔Ｙ0 に設定した後、受信側
又は送信側の探触子６，５をその間隔が広くなるように
移動すると、外面側に浸炭層３が発生しているときに、
金属管１の内面１′で一旦反射し、外面１″で再反射し
た後、浸炭層３とその内面側の非浸炭層４との界面Ｆ 2
で再々反射した超音波の反射パルスが内面反射パルスＶ
0 の長路程側の隣接反射パルスＶ2 として受信側探触子
６で受信することができる。
【００８４】したがって、この長路程側の隣接反射パル
スＶ2 の受信により、金属管１の外面側に浸炭層３が発
生していることを切断，研削等することなく、現場の非
破壊試験で検出することができ、この場合、金属管１が
磁性管や内径が不均一な管であっても、確実に外面側の
浸炭層３の発生を検出して浸炭状況を把握することがで
きる。
スＶ2 の受信により、金属管１の外面側に浸炭層３が発
生していることを切断，研削等することなく、現場の非
破壊試験で検出することができ、この場合、金属管１が
磁性管や内径が不均一な管であっても、確実に外面側の
浸炭層３の発生を検出して浸炭状況を把握することがで
きる。
【００８５】また、請求項４の測定方法の場合は、外面
側の浸炭層３の検出時、長路程側の隣接反射パルスＶ2
と内面反射パルスＶ0との路程長Ｌ2，Ｌ0 の差の１／
２（（Ｗ2−Ｗ0）に屈折角θの余弦関数値の係数を乗算
した長さ（Ｗ2−Ｗ0）cosθから金属管１の外面側の浸
炭層３の厚さｔ2 を求めて測定することができ、このと
き、金属管１が非磁性管等であっても正確に外面側の浸
炭層３の厚さを測定して浸炭状況を一層正確に把握する
ことができる。
側の浸炭層３の検出時、長路程側の隣接反射パルスＶ2
と内面反射パルスＶ0との路程長Ｌ2，Ｌ0 の差の１／
２（（Ｗ2−Ｗ0）に屈折角θの余弦関数値の係数を乗算
した長さ（Ｗ2−Ｗ0）cosθから金属管１の外面側の浸
炭層３の厚さｔ2 を求めて測定することができ、このと
き、金属管１が非磁性管等であっても正確に外面側の浸
炭層３の厚さを測定して浸炭状況を一層正確に把握する
ことができる。
【００８６】つぎに、請求項５の検出方法の場合は、請
求項１の検出方法と請求項３の検出方法とを組合わせた
検出方法により、金属管１の内面側及び外面側の浸炭層
２，３の発生を現場の非破壊試験で確実に検出して浸炭
状況を把握することができる。
求項１の検出方法と請求項３の検出方法とを組合わせた
検出方法により、金属管１の内面側及び外面側の浸炭層
２，３の発生を現場の非破壊試験で確実に検出して浸炭
状況を把握することができる。
【００８７】また、請求項６の測定方法の場合は、請求
項２の測定方法と請求項４の測定方法とを組合わせた測
定方法により、金属管１の内面側及び外面側に発生した
浸炭層２，３の厚さｔ1，ｔ2を非破壊試験で正確に測定
して内面側及び外面側の浸炭状況を一層正確に把握する
ことができる。
項２の測定方法と請求項４の測定方法とを組合わせた測
定方法により、金属管１の内面側及び外面側に発生した
浸炭層２，３の厚さｔ1，ｔ2を非破壊試験で正確に測定
して内面側及び外面側の浸炭状況を一層正確に把握する
ことができる。
【図１】本発明の実施の１形態の金属管の管軸方向の切
断面図である。
断面図である。
【図２】図１の金属管の内面反射パルスの反射の説明図
である。
である。
【図３】図２の内面反射パルスの受信波形の説明図であ
る。
る。
【図４】図１の金属管の内面側浸炭層反射パルスの反射
の説明図である。
の説明図である。
【図５】図４の内面側浸炭層反射パルスの受信波形図で
ある。
ある。
【図６】図１の金属管の端面図である。
【図７】図１の金属管の内面側浸炭層の厚さの測定結果
の１例の説明図である。
の１例の説明図である。
【図８】図１の金属管の外面側浸炭層反射パルスの反射
の説明図である。
の説明図である。
【図９】図８の外面側浸炭層反射パルスの受信波形図で
ある。
ある。
【図１０】図１の金属管の外面側浸炭層の厚さの測定結
果の１例の説明図である。
果の１例の説明図である。
１ 金属管 １′ 外面 １″ 内面 ２ 内面側浸炭層 ３ 外面側浸炭層 ５ 送信側探触子 ６ 受信側探触子 Ｆ1，Ｆ2 界面 Ｌ0，Ｌ1，Ｌ2 路程長 Ｖ0 内面反射パルス Ｖ1 内面側浸炭層反射パルス Ｖ2 外面側浸炭層反射パルス Ｙ0 初期間隔 ｔ0，ｔ1，ｔ2 厚さ θ 屈折角
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中林 政廣 大阪府大阪市大正区鶴町２丁目15番26号 株式会社ニチゾウテック内 (72)発明者 林 正 千葉県市原市姉崎海岸１番１号 出光石油 化学株式会社内 (72)発明者 四辻 美年 千葉県千葉市中央区新田町37番24号 出光 エンジニアリング株式会社内 Ｆターム(参考） 2F068 AA28 BB09 BB14 CC16 FF03 FF12 FF15 FF16 FF25 HH02 JJ11 KK14 2G047 AA07 AB01 BA03 BB02 BC02 BC03 DB03 EA08 GB03
Claims (6)
- 【請求項１】 加熱炉，反応塔の配管等の熱が加わる金
属管の内面側の浸炭層の発生を検出する浸炭層の検出方
法において、 前記金属管の外面に間隔をとって超音波斜角探傷試験用
の送信側探触子と受信側探触子とを設け、 超音波Ｖ透過法の試験により、前記送信側探触子から出
射されて前記金属管の管面等で反射し、前記受信側探触
子に反射パルスとして受信された超音波の受信レベル及
び路程長を測定し、 前記受信側探触子が受信した反射パルスのうちの前記金
属管の内面で反射した最も大きい内面反射パルスの受信
レベルが最大になるように、前記両探触子の間隔を初期
間隔に設定した後、 前記両探触子の間隔を前記初期間隔から狭くし、 前記金属管の内面側の浸炭層と，該浸炭層より前記金属
管の外面側の非浸炭層との界面で反射した前記内面反射
パルスの短路程側の隣接反射パルスの受信の有無を検出
し、 前記短路程側の隣接反射パルスの受信により、前記金属
管の内面側の浸炭層の発生を検出することを特徴とする
浸炭層の検出方法。 - 【請求項２】 加熱炉，反応塔の配管等の熱が加わる金
属管の内面側に発生した浸炭層の厚さを測定する浸炭層
の厚さの測定方法において、 前記金属管の外側面に間隔をとって超音波斜角探傷試験
用の送信側探触子と受信側探触子とを設け、 超音波Ｖ透過法の試験により、前記送信側探触子から出
射されて前記金属管の管面等で反射し、前記受信側探触
子に反射パルスとして受信された超音波の受信レベル及
び路程長を測定し、 前記受信側探触子が受信した反射パルスのうちの前記金
属管の内面で反射した最も大きい内面反射パルスの受信
レベルが最大になるように、前記両探触子の間隔を初期
間隔にして前記内面反射パルスの路程長を求めた後、 前記両探触子の間隔を前記初期間隔から狭くし、 前記金属管の内面側の浸炭層と，該浸炭層より前記金属
管の外面側の非浸炭層との界面で反射した前記内面反射
パルスの短路程側の隣接反射パルスを受信したときに、
前記短路程側の隣接反射パルスの受信レベルが最も大き
くなる路程長を内面側浸炭層反射パルスの路程長として
求め、 前記内面反射パルスの路程長と前記内面側浸炭層反射パ
ルスの路程長との差の１／２に超音波の屈折角の余弦関
数値の係数を乗算して前記金属管の内面側に発生した浸
炭層の厚さを測定することを特徴とする浸炭層の厚さの
測定方法。 - 【請求項３】 加熱炉，反応塔の配管等の熱が加わる金
属管の外面側の浸炭層の発生を検出する浸炭層の検出方
法において、 前記金属管の外面に間隔をとって超音波斜角探傷試験用
の送信側探触子と受信側探触子とを設け、 超音波Ｖ透過法の試験により、前記送信側探触子から出
射されて前記金属管の管面等で反射し、前記受信側探触
子に反射パルスとして受信された超音波の受信レベル及
び路程長を測定し、 前記受信側探触子が受信した反射パルスのうちの前記金
属管の内面で反射した最も大きい内面反射パルスの受信
レベルが最大になるように、前記両探触子の間隔を初期
間隔に設定した後、 前記両探触子の間隔を前記初期間隔から広くし、 前記金属管の内面で反射して外面で再反射し、前記金属
管の外面側の浸炭層と，該浸炭層より前記金属管の内面
側の非浸炭層との界面で再々反射した前記内面反射パル
スの長路程側の隣接反射パルスの受信の有無を検出し、 前記長路程側の隣接反射パルスの受信により、前記金属
管の外面側の浸炭層の発生を検出することを特徴とする
浸炭層の検出方法。 - 【請求項４】 加熱炉，反応塔の配管等の熱が加わる金
属管の外面側に発生した浸炭層の厚さを測定する浸炭層
の厚さの測定方法において、 前記金属管の外側面に間隔をとって超音波斜角探傷試験
用の送信側探触子と受信側探触子とを設け、 超音波Ｖ透過法の試験により、前記送信側探触子から出
射されて前記金属管の管面等で反射し、前記受信側探触
子に反射パルスとして受信された超音波の受信レベル及
び路程長を測定し、 前記受信側探触子が受信した反射パルスのうちの前記金
属管の内面で反射した最も大きい内面反射パルスの受信
レベルが最大になるように、前記両探触子の間隔を初期
間隔にして内面反射パルスの路程長を求めた後、 前記両探触子の間隔を前記初期間隔から広くし、 前記金属管の内面で反射して外面で再反射し、前記金属
管の外面側の浸炭層と，該浸炭層より前記金属管の内面
側の非浸炭層との界面で再々反射した前記内面反射パル
スの長路程側の隣接反射パルスを受信したときに、前記
長路程側の隣接反射パルスの受信レベルが最も大きくな
る路程長を外面側浸炭層反射パルスの路程長として求
め、 前記外面側浸炭層反射パルスの路程長と前記内面反射パ
ルスの路程長との差の１／２に超音波の屈折角の余弦関
数値の係数を乗算して前記金属管の外面側に発生した浸
炭層の厚さを測定することを特徴とする浸炭層の厚さの
測定方法。 - 【請求項５】 加熱炉，反応塔の配管等の熱が加わる金
属管の内面側及び外面側の浸炭層の発生を検出する浸炭
層の検出方法において、 前記金属管の外面に間隔をとって超音波斜角探傷試験用
の送信側探触子と受信側探触子とを設け、 超音波Ｖ透過法の試験により、前記送信側探触子から出
射されて前記金属管の管面等で反射し、前記受信側探触
子に反射パルスとして受信された超音波の受信レベル及
び路程長を測定し、 前記受信側探触子が受信した反射パルスのうちの前記金
属管の内面で反射した最も大きい内面反射パルスの受信
レベルが最大になるように、前記両探触子の間隔を初期
間隔に設定した後、 前記金属管の内面側の浸炭層の発生の検出により、前記
両探触子の間隔を前記初期間隔から狭くし、 前記金属管の内面側の浸炭層と，該浸炭層より前記金属
管の外面側の非浸炭層との界面で反射した前記内面反射
パルスの短路程側の隣接反射パルスの受信の有無を検出
し、 前記短路程側の隣接反射パルスの受信により、前記金属
管の内面側の浸炭層の発生を検出し、 前記金属管の外面側の浸炭層の発生の検出により、前記
両探触子の間隔を前記初期間隔から広くし、 前記金属管の内面で反射して外面で再反射し、前記金属
管の外面側の浸炭層と，該浸炭層より前記金属管の内面
側の非浸炭層との界面で再々反射した前記内面反射パル
スの長路程側の隣接反射パルスの受信の有無を検出し、 前記長路程側の隣接反射パルスの受信により、前記金属
管の外面側の浸炭層の発生を検出することを特徴とする
浸炭層の検出方法。 - 【請求項６】 加熱炉，反応塔の配管等の熱が加わる金
属管の内面側及び外面側に発生した浸炭層の厚さを測定
する浸炭層の厚さの測定方法において、 前記金属管の外面に間隔をとって超音波斜角探傷試験用
の送信側探触子と受信側探触子とを設け、 超音波Ｖ透過法の試験により、前記送信側探触子から出
射されて前記金属管の管面等で反射し、前記受信側探触
子に反射パルスとして受信された超音波の受信レベル及
び路程長を測定し、 前記受信側探触子が受信した反射パルスのうちの前記金
属管の内面で反射した最も大きい内面反射パルスの受信
レベルが最大になるように、前記両探触子の間隔を初期
間隔にして内面反射パルスの路程長を求めた後、 前記金属管の内面側に発生した浸炭層の厚さの測定によ
り、前記両探触子の間隔を前記初期間隔より狭くし、 前記金属管の内面側の浸炭層と，該浸炭層より前記金属
管の外面側の非浸炭層との界面で反射した前記内面反射
パルスの短路程側の隣接反射パルスを受信したときに、
前記短路程側の隣接反射パルスの受信レベルが最も大き
くなる路程長を内面側浸炭層反射パルスの路程長として
求め、 前記内面反射パルスの路程長と前記内面側浸炭層反射パ
ルスの路程長との差の１／２に超音波の屈折角の余弦関
数値の係数を乗算して前記金属管の内面側に発生した浸
炭層の厚さを測定し、 前記金属管の外面側に発生した浸炭層の厚さの測定によ
り、前記両探触子の間隔を前記初期間隔より広くし、 前記金属管の内面で反射して外面で再反射し、前記金属
管の外面側の浸炭層と，該浸炭層より前記金属管の内面
側の非浸炭層との界面で再々反射した前記内面反射パル
スの長路程側の隣接反射パルスを受信したときに、前記
長路程側の隣接反射パルスの受信レベルが最も大きくな
る路程長を外面側浸炭層反射パルスの路程長として求
め、 前記外面側浸炭層反射パルスの路程長と前記内面反射パ
ルスの路程長との差の１／２に超音波の屈折角の余弦関
数値の係数を乗算して前記金属管の外面側に発生した浸
炭層の厚さを測定することを特徴とする浸炭層の厚さの
測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12682099A JP4363699B2 (ja) | 1999-05-07 | 1999-05-07 | 浸炭層の検出方法及びその厚さの測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12682099A JP4363699B2 (ja) | 1999-05-07 | 1999-05-07 | 浸炭層の検出方法及びその厚さの測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000321041A true JP2000321041A (ja) | 2000-11-24 |
| JP4363699B2 JP4363699B2 (ja) | 2009-11-11 |
Family
ID=14944764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12682099A Expired - Lifetime JP4363699B2 (ja) | 1999-05-07 | 1999-05-07 | 浸炭層の検出方法及びその厚さの測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4363699B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007187631A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Non-Destructive Inspection Co Ltd | 境界面位置検出方法及び境界面位置検出装置 |
| JP2009139220A (ja) * | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Sumitomo Kinzoku Technol Kk | 鋼材の浸炭深さ測定方法および測定装置 |
| JP2010256279A (ja) * | 2009-04-28 | 2010-11-11 | Ihi Corp | 浸炭深さ測定方法及び浸炭深さ測定装置 |
| JP6124191B1 (ja) * | 2016-08-19 | 2017-05-10 | 有限会社Ｎｓ検査 | 腐食部評価方法 |
| CN108507504A (zh) * | 2018-04-13 | 2018-09-07 | 徐州工程学院 | 用于超声法测量摩擦焊焊件外圆尺寸的装置及其使用方法 |
| CN111183332A (zh) * | 2017-10-11 | 2020-05-19 | 弗莱克森柔性工业计量有限公司 | 用于在没有相应其它变量的先验认知的情况下，借助于超声波，测量单层或多层样品的层厚和声速的方法和测量装置 |
| JP2020106277A (ja) * | 2018-12-26 | 2020-07-09 | 株式会社ディスコ | 厚み計測装置、及び厚み計測装置を備えた加工装置 |
-
1999
- 1999-05-07 JP JP12682099A patent/JP4363699B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007187631A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Non-Destructive Inspection Co Ltd | 境界面位置検出方法及び境界面位置検出装置 |
| JP2009139220A (ja) * | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Sumitomo Kinzoku Technol Kk | 鋼材の浸炭深さ測定方法および測定装置 |
| JP2010256279A (ja) * | 2009-04-28 | 2010-11-11 | Ihi Corp | 浸炭深さ測定方法及び浸炭深さ測定装置 |
| JP6124191B1 (ja) * | 2016-08-19 | 2017-05-10 | 有限会社Ｎｓ検査 | 腐食部評価方法 |
| JP2018028509A (ja) * | 2016-08-19 | 2018-02-22 | 有限会社Ｎｓ検査 | 腐食部評価方法 |
| CN111183332A (zh) * | 2017-10-11 | 2020-05-19 | 弗莱克森柔性工业计量有限公司 | 用于在没有相应其它变量的先验认知的情况下，借助于超声波，测量单层或多层样品的层厚和声速的方法和测量装置 |
| CN111183332B (zh) * | 2017-10-11 | 2022-02-25 | 弗莱克森柔性工业计量有限公司 | 测量单层或多层样品的层的层厚和声速的方法和测量装置 |
| CN108507504A (zh) * | 2018-04-13 | 2018-09-07 | 徐州工程学院 | 用于超声法测量摩擦焊焊件外圆尺寸的装置及其使用方法 |
| JP2020106277A (ja) * | 2018-12-26 | 2020-07-09 | 株式会社ディスコ | 厚み計測装置、及び厚み計測装置を備えた加工装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4363699B2 (ja) | 2009-11-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR890000607B1 (ko) | 금속의 결점 검출 측정방법 및 장치 | |
| Lowe et al. | Long range guided wave inspection usage–current commercial capabilities and research directions | |
| CA2127727C (en) | Detection of corrosion fatigue cracks in membrane boiler tubes | |
| Alleyne et al. | The long range detection of corrosion in pipes using Lamb waves | |
| Alleyne et al. | The choice of torsional or longitudinal excitation in guided wave pipe inspection | |
| JPS6193952A (ja) | 厚肉管の超音波斜角探傷法 | |
| CN102183229B (zh) | 一种管道内垢层厚度的超声波检测方法 | |
| US9672187B2 (en) | System and method for directing guided waves through structures | |
| US4890496A (en) | Method and means for detection of hydrogen attack by ultrasonic wave velocity measurements | |
| JP2009036516A (ja) | ガイド波を用いた非破壊検査装置及び非破壊検査方法 | |
| US10585069B2 (en) | Detection, monitoring, and determination of location of changes in metallic structures using multimode acoustic signals | |
| US10527590B2 (en) | Apparatus and method for inspecting a pipeline | |
| JP2004301540A (ja) | 非破壊検査方法および非破壊検査装置 | |
| Cawley | Guided waves in long range nondestructive testing and structural health monitoring: Principles, history of applications and prospects | |
| EP3785027B1 (en) | Detection, monitoring, and determination of location of changes in metallic structures using multimode acoustic signals | |
| Alleyne et al. | The Lamb wave inspection of chemical plant pipework | |
| JP2000321041A (ja) | 浸炭層の検出方法及びその厚さの測定方法 | |
| JP5297791B2 (ja) | 非破壊検査装置及び非破壊検査方法 | |
| JP4144703B2 (ja) | Ｓｈ波による管検査方法 | |
| JP4241529B2 (ja) | 超音波検査方法及び超音波検査装置 | |
| JP5143111B2 (ja) | ガイド波を用いた非破壊検査装置及び非破壊検査方法 | |
| JP2005083907A (ja) | 欠陥検査方法 | |
| US3186216A (en) | Method and apparatus for generating and receiving ultrasonic helical waves | |
| JP6953953B2 (ja) | 斜角超音波探傷の健全性評価方法、及びこれを用いた斜角超音波探傷方法 | |
| RU2117941C1 (ru) | Способ ультразвукового контроля труб и трубопроводов |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20050113 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20050113 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20050113 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060310 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090402 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090519 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090710 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090811 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090818 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120828 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120828 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120828 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130828 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140828 Year of fee payment: 5 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |