JPWO2007110900A1 - 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - Google Patents
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Abstract
Description
決手段において、前記超音波探触子を、前記伝播媒質を介して被検査材料の表面に接触させる際に、被検査材料表面の面内方向に回転させることを特徴とする。
決手段において、前記超音波送受信手段は、超音波探触子を介して、被検査材料の底面で反射した超音波を底面反射信号として受信し、前記底面反射信号の強度に基づいて、超音波が前記被検査材料に正しく入射されているか否かを判定する判定手段をさらに備えることを特徴とする。
決手段において、前記伝播媒質は、密度1(g/cm3)以下、動粘度100(mm2/s)以下の油であることを特徴とする。
決手段において、被検査材料の底面で反射した超音波を底面反射信号として検出し、前記底面反射信号の強度に基づいて、超音波が前記被検査材料に正しく入射されているか否かを判定することを特徴とする。
バータ、5…周波数スペクトル算出部、6…欠陥分布検出部、7…画像処理部、8…制御部、9…記憶部、10…表示部
図1は、本発明の実施形態に係る欠陥評価装置の構成ブロック図である。なお、本欠陥評価装置は、溶接部R1及びR2を有する金属部品(被検査材料)Rの内部にクリープ損傷によって発生する欠陥の分布を定量的に評価するものである。
音波送受信部3、A/Dコンバータ4、周波数スペクトル算出部5、欠陥分布検
出部6、画像処理部7、制御部8、記憶部9及び表示部10から構成されている。
域を有する超音波を、被検査材料Rの表面に対し、所定の接触媒質を介して入射
する一方、被検査材料Rの内部に存在するボイドやクラック等の欠陥によって散
乱した超音波(散乱波)、及び被検査材料Rの底面(裏面)によって反射した超
音波(底面反射波)を受信する。また、この超音波探触子1は、探触子駆動部2
に機械的に接続されており、当該探触子駆動部2によってX軸方向、つまり被検
査材料Rの表面に沿って移動する一方、Z軸方向、つまり被検査材料Rの表面に
対して垂直方向に上下動する。
示すように、超音波探触子1は探触子ホルダ1aによって把持され、当該探触子
ホルダ1aは接続ネジ1bを介して回転自在に走査部接続治具1cに接続されて
いる。走査部接続治具1cは、探触子駆動部2のX、Z軸方向の可動部(図示せ
ず)に接続されている。被検査材料Rの表面には接触媒質Cが予め所定の厚さで
塗布されている。この接触媒質Cとしては、粘度の低いものが好ましく、例えば、
密度1(g/cm3)以下、動粘度100(mm2/s)以下の油を使用することが好ま
しい。
触子1(詳細には探触子ホルダ1a、接続ネジ1b及び走査部接続治具1cを含
む)をX軸方向に移動させると共に、Z軸方向に上下動させる。超音波送受信部
3は、制御部8の制御の下、4〜20MHzの周波数帯域を有する超音波を生成し、
所定のタイミングで超音波探触子1に出力する一方、超音波探触子1が受信した
散乱波及び底面反射波を検出し、入射した超音波を示す入射信号W1、散乱波を
示すノイズ信号WN、底面反射波を示す底面反射信号W2をA/Dコンバータ4
に出力する。
N及び底面反射信号W2をデジタル信号に変換して周波数スペクトル算出部5に出力する。また、このA/Dコンバータ4は、デジタル信号化した底面反射信号W2を制御部8に出力する。周波数スペクトル算出部5は、A/Dコンバータ4によってデジタル信号化された入射信号W1、ノイズ信号WN及び底面反射信号W2に基づいてノイズ信号WNのFFT処理を行い、当該FFT処理から得られる周波数スペクトルを示す情報を欠陥分布検出部6に出力する。なお、詳細は後述するが、この周波数スペクトル算出部5は、入射信号W1を入射してから底面反射信号W2を受信するまでの時間幅Tgを、複数の時間幅Tg1〜Tgnに分割し、当該分割した各時間幅Tg1〜Tgnに相当する時間窓で切り取ったノイズ信号WN1〜WNn毎にFFT処理を行って周波数スペクトルを算出する。
まず、カップリングチェック動作について説明する。カップリングチェックと
は、超音波を入射するために、接触媒質Cを予め塗布した被検査材料Rの表面に
超音波探触子1を接触させた際、正しく超音波が入射されているか否かを判定す
る工程である。
1(g/cm3)以下、動粘度100(mm2/s)以下の油を使用する。一般的に、超音波を用いた非破壊検査では、接触媒質としてグリセリンペースト等の粘度の比較的高いものが使用されていた。これは、密度及び粘度の高い接触媒質ほど超音波の伝達効率が良いので、被検査材料に対する超音波の入射強度を高く維持することができ、その結果、外乱によるノイズの影響を低減することが可能であるからである。
超音波送受信部3を制御して、超音波探触子1を介して超音波を被検査材料Rの
内部に入射する。入射された超音波は、被検査材料Rの内部に存在する欠陥によ
って散乱され、当該散乱によって生じる散乱波が超音波探触子1にて受信される。
また、被検査材料Rの底面(裏面)によって反射した超音波(底面反射波)も超
音波探触子1にて受信される。
し、入射した超音波を示す入射信号W1、散乱波を示すノイズ信号WN、底面反
射波を示す底面反射信号W2をA/Dコンバータ4に出力する。図4に、上記入
射信号W1、ノイズ信号WN及び底面反射信号W2を示す。ここで、超音波が正
しく入射されていない場合、底面反射信号W2の振幅は小さくなる。よって、底
面反射信号W2の振幅が、所定の閾値より小さい場合に、正しく超音波が入射さ
れていないと判定することができる。
制御部8に出力する。制御部8は、底面反射信号W2の振幅と所定の閾値との比
較を行い、当該振幅が閾値より小さい場合に、正しく超音波が入射されていない
と判定し、その判定結果を表示部10に表示させ、ユーザにカップリングエラー
が発生したことを報知する。そして、制御部8は、探触子駆動部2を制御して、
超音波探触子1をX軸方向に移動させ、再び底面反射信号W2を検出する。なお、
超音波探触子1をX軸方向に移動させる場合、一旦超音波探触子1を被検査材料
Rの表面からZ軸方向に上昇させた後に移動させることが望ましい。
行い、当該振幅が閾値以上であれば、正しく超音波が入射されていると判定し、
以下に説明する欠陥検査を開始する。
カップリングチェックが終了すると(この時、超音波探触子1は接触媒質Cを
介して被検査材料Rの表面に接触している)、制御部8は、超音波送受信部3を
制御して、超音波探触子1から超音波を被検査材料Rの内部に入射する。超音波
送受信部3は、超音波探触子1が受信した散乱波及び底面反射波を検出し、図4
に示すような入射した超音波を示す入射信号W1、散乱波を示すノイズ信号WN、
底面反射波を示す底面反射信号W2をA/Dコンバータ4に出力する。A/Dコ
ンバータ4は、アナログ信号である上記入射信号W1、ノイズ信号WN及び底面
反射信号W2をデジタル信号に変換して周波数スペクトル算出部5に出力する。
1(mm)/5.95(mm/μs)×2=0.34(μs)・・・・(1)
に示すような周波数特性を有する超音波を使用している。図6(b)に示すように、当該超音波は、中心周波数が12(MHz)で、ピーク強度に対して20(dB)低下する周波数が4、20(MHz)、つまり4〜20(MHz)の周波数帯域を有している。このような超音波を使用した理由について以下説明する。
Claims (12)
- 超音波探触子と、
当該超音波探触子を介して、所定の伝播媒質が設けられた被検査材料の表面に超音波を入射する一方、前記被検査材料の内部に存在する欠陥によって散乱した超音波をノイズ信号として受信する超音波送受信手段と、
前記ノイズ信号を、前記被検査材料の深さ方向の位置に対応する時間幅で時分割し、当該時分割したノイズ信号毎に周波数スペクトルを算出する周波数スペクトル算出手段と、
前記周波数スペクトルに基づいて前記被検査材料の深さ方向の位置に対応する欠陥の進行度を示す値を算出する欠陥分布検出手段と
を具備することを特徴とする欠陥検査装置。 - 前記超音波探触子を前記被検査材料の表面に沿って移動させると共に、前記被検査材料の表面における検査位置毎に、前記超音波探触子を表面に向かって下降させて当該表面に接触させる超音波探触子駆動手段をさらに備え、
前記欠陥分布検出手段は、前記検査位置毎に、被検査材料の深さ方向の位置に対応する欠陥の進行度を示す値を算出し、当該欠陥の進行度を示す値の2次元分布データを生成することを特徴とする請求項1記載の欠陥検査装置。 - 前記超音波探触子を、前記伝播媒質を介して被検査材料の表面に接触させる際
に、被検査材料表面の面内方向に回転させることを特徴とする請求項2記載の欠
陥検査装置。 - 前記超音波送受信手段は、超音波探触子を介して、被検査材料の底面で反射し
た超音波を底面反射信号として受信し、
前記底面反射信号の強度に基づいて、超音波が前記被検査材料に正しく入射さ
れているか否かを判定する判定手段をさらに備える
ことを特徴とする請求項1記載の欠陥検査装置。 - 前記ノイズ信号を時分割する時間幅に応じて前記超音波の周波数を設定することを特徴とする請求項1記載の欠陥検査装置。
- 前記欠陥の進行度を示す値に基づいて前記被検査材料の破壊寿命を判定する破壊寿命判定手段をさらに備えることを特徴とする請求項1記載の欠陥検査装置。
- 被検査材料の表面に所定の伝播媒質を介して超音波を入射して、前記被検査材料の内部に存在する欠陥によって散乱した超音波をノイズ信号として検出し、
当該検出した前記ノイズ信号を、前記被検査材料の深さ方向の位置に対応する時間幅で時分割し、
当該時分割したノイズ信号毎に周波数スペクトルを算出し、
当該周波数スペクトルに基づいて前記被検査材料の深さ方向の位置に対応する欠陥の進行度を示す値を算出する
ことを特徴とする欠陥検査方法。 - 前記被検査材料の表面における検査位置毎に超音波を入射し、
前記検査位置毎に、前記被検査材料の深さ方向の位置に対応する欠陥の進行度を示す値を算出し、
前記欠陥の進行度を示す値の2次元分布データを生成する
ことを特徴とする請求項7記載の欠陥検査方法。 - 前記伝播媒質は、密度1(g/cm3)以下、動粘度100(mm2/s)以下の油で
あることを特徴とする請求項7記載の欠陥検査方法。 - 被検査材料の底面で反射した超音波を底面反射信号として検出し、
前記底面反射信号の強度に基づいて、超音波が前記被検査材料に正しく入射さ
れているか否かを判定することを特徴とする請求項7記載の欠陥検査方法。 - 前記ノイズ信号を時分割する時間幅に応じて前記超音波の周波数を設定することを特徴とする請求項7記載の欠陥検査方法。
- 前記欠陥の進行度を示す値に基づいて前記被検査材料の破壊寿命を判定することを特徴とする請求項7記載の欠陥検査方法。
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