JP2009244210A - 超音波探傷方法および超音波探傷装置 - Google Patents

超音波探傷方法および超音波探傷装置 Download PDF

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Abstract

【課題】異常屈折等が発生する材料に対しても超音波を収束させることができ、検査性の向上を図ることができる超音波探傷方法および超音波探傷装置を提供する。
【解決手段】遅延時間パターンを用いて、検査対象の表面の一の送受波部の群から検査対象の底面に向けて第1の超音波を送信し、底面により反射された超音波のエコーを他の送受波部の群により受信する第1受信ステップS3と、超音波を送信するタイミングが異なる第1の変更遅延時間パターンを設定するパターン設定ステップS4と、第1の変更遅延時間パターンを用いて第1の変更超音波を送信し、第1の変更超音波のエコーを他の送受波部の群により受信する第2受信ステップS5と、超音波のエコー、および、第1の変更超音波のエコーのうち高い方の波形高さが所定の閾高さよりも低い場合には、パターン設定ステップS4に戻る判断ステップS9と、を有することを特徴とする。
【選択図】図3

Description

本発明は、超音波探傷方法および超音波探傷装置、特に鋳造材料など超音波の透過性が悪く異常屈折が発生する材料からなる検査対象の非破壊検査に用いて好適な超音波探傷方法および超音波探傷装置に関する。
一般に、超音波探傷装置は検査対象に対して超音波を送信し、検査対象から反射した超音波を受信することにより、検査対象における内部欠陥等の有無を検査している。
例えば、検査対象に生じた割れ目の有無を検査する場合には、検査対象の表面に対して斜めに超音波を入射させる方法や、超音波を収束させる方法などが用いられている(例えば、特許文献1参照。)。
特開2006−292697号公報
しかしながら、原子力プラントの一次冷却材管(Main Coolant Pipe(MCP))などに用いられる鋳造材は、超音波の透過性が悪く、かつ、異常屈折が発生するため、割れ目など内部欠陥の発見が困難であり、検査性が十分でないという問題があった。
具体的には、上述の鋳造材、特にステンレス鋼の鋳造材の内部には大きな結晶粒が形成され、鋳造材に入射された超音波の一部はこれら結晶粒の界面で反射されていた。さらに、上述の大きな結晶粒は、結晶方向がばらばらの状態で形成され、鋳造材に入射された超音波はこれら結晶粒の界面において結晶方向に応じて屈折されるため、超音波の屈折方向がばらばらになっていた。その結果、超音波の透過性が低下したり、超音波の異常屈折が発生したりするという問題があった。
この問題は、収束型の超音波探傷装置やフェーズドアレイ型の超音波探傷装置を用いても解消することは困難であって、十分な検査性を確保できないという問題があった。
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、超音波の透過性が悪く異常屈折が発生する材料に対しても超音波を収束させることができ、検査性の向上を図ることができる超音波探傷方法および超音波探傷装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明は、以下の手段を提供する。
本発明の超音波探傷方法は、超音波の送信および受信を行う複数の送受波部が配列されたプローブを用いて検査対象の検査を行う超音波探傷方法であって、前記複数の送受波部のそれぞれから超音波を送信するタイミングを規定する遅延時間パターンを用いて、前記検査対象の表面に配置された一の送受波部の群から前記検査対象の底面に向けて第1の超音波を送信し、前記底面により反射された前記超音波のエコーを前記表面に配置された他の送受波部の群により受信する第1受信ステップと、前記遅延時間パターンとは、前記複数の送受波部のそれぞれから超音波を送信するタイミングが異なる第1の変更遅延時間パターンを設定するパターン設定ステップと、前記第1の変更遅延時間パターンを用いて、前記一の送受波部の群から前記底面に向けて第1の変更超音波を送信し、前記底面により反射された前記第1の変更超音波のエコーを、前記他の送受波部の群により受信する第2受信ステップと、前記超音波のエコーにおける波形高さ、および、前記第1の変更超音波のエコーにおける波形高さのうち、高い方の波形高さが所定の閾高さよりも低い場合には、前記パターン設定ステップに戻る判断ステップと、を有することを特徴とする。
本発明によれば、異なる遅延時間パターンを用いて底面から反射される超音波のエコーにおける波形高さと所定の閾高さとの比較を繰り返すことにより、検査対象の内部構造に関わらず、検査対象の底面から反射される超音波エコーの波形高さを所定の閾高さよりも高くすることができる。言い換えると、内部で異常屈折等が発生する検査対象であっても、検査対象の底面に超音波を収束させることができ、より強い超音波エコーを得ることができる。
つまり、判断ステップの判断に基づいてパターン設定ステップに戻った場合、パターン設定ステップにおいて、遅延時間パターンおよび第1の変更遅延時間パターンとは異なる第2の変更遅延時間パターンが設定される。その後、第2受信ステップおよび判断ステップを、超音波エコーの波形高さが所定の閾高さよりも高くなるまで繰り返すことにより、内部で異常屈折等が発生する検査対象であっても、検査対象の底面に超音波を収束させることができる。
上記発明においては、前記パターン設定ステップにおいて、前記第1の変更遅延時間パターンは、前記第1の変更超音波のエコーにおける波形高さが高くなるように設定されていることが望ましい。
本発明によれば、底面から反射される超音波のエコーにおける波形高さが所定の閾高さよりも高くなる遅延時間パターンを早く得ることができる。
第1の変更遅延時間パターンを設定する手法としては、各送受波部における遅延時間をパラメータとして、超音波エコーの波形高さを最大とすることを目的とした最適化手法を用いることができる。最適化手法としては、最急降下法やニュートン法などを例示することができる。
上記発明においては、前記第2受信ステップの後に、前記超音波のエコーにおける波形高さと、前記第1の変更超音波のエコーにおける波形高さとを比較して、前記第1の変更超音波のエコーにおける波形高さが高い場合には、前記第1の変更超音波のエコーにおける波形高さを前記超音波のエコーにおける波形高さに置き換える置き換えステップと、前記第1の変更遅延時間パターンを記憶する記憶ステップと、を有することが望ましい。
本発明によれば、置き換えステップ後における超音波エコーの波形高さは、常に第1の変更超音波エコーの波形高さよりも高くなる、または、同じ高さになる。そのため、底面から反射される超音波のエコーにおける波形高さが所定の閾高さよりも高くなる遅延時間パターンを早く得ることができる。
さらに、超音波エコーの波形高さよりも第1の変更超音波エコーの波形高さが高い場合に、第1の変更遅延時間パターンを記憶するため、その時点で底面から反射する超音波のエコーにおける波形高さが最も高くなる遅延時間パターンが記憶される。
本発明の超音波探傷装置は、超音波の送信および受信を行う複数の送受波部が配列されたプローブと、上記本発明の超音波探傷方法を行う制御部と、が設けられていることを特徴とする。
本発明によれば、制御部により上記発明の超音波探傷方法が行われるため、内部で異常屈折等が発生する検査対象であっても、検査対象の底面に超音波を収束させることができる。
本発明の超音波探傷方法および超音波探傷装置によれば、異なる遅延時間パターンを用いて底面から反射される超音波のエコーにおける波形高さと所定の閾高さとの比較を繰り返すことにより、超音波の透過性が悪く異常屈折が発生する材料に対しても超音波を収束させることができ、検査性の向上を図ることができるという効果を奏する。
〔第1の実施形態〕
以下、本発明の第1の実施形態に係る超音波探傷装置について図1から図4を参照して説明する。
図1は、本実施形態に係る超音波探傷装置の構成を説明する模式図である。
本実施形態では、本願の発明を原子力プラントにおけるMCPを検査対象31とした非破壊検査に用いる超音波探傷装置1に適用して説明する。
超音波探傷装置1には、図1に示すように、検査対象31に超音波を送信するとともに検査対象31から反射した超音波を受信するプローブ3と、プローブ3における超音波の送信を制御する制御部5と、が設けられている。
図2は、図1のプローブが検査対象に配置された状態を説明する模式図である。
プローブ3は、図2に示すように、検査対象31の表面32に対して配置されるものであって、検査対象31に超音波を送信するとともに検査対象31から反射した超音波を受信するものである。
本実施形態では、プローブ3から超音波を送信する際に用いられる遅延時間パターンを設定する場合には2つのプローブ3A,3Bを用い、遅延時間パターンが決定され実際に測定対象の割れ目等の有無を検査する場合には、1つのプローブ3Aを用いる例に適用して説明する。
プローブ3A,3Bには、図1および図2に示すように、超音波を送信するとともに、反射した超音波を受信する複数の送受波部11が設けられている。
送受波部11は例えば圧電素子などの振動素子から形成されたものであって、電圧等を供給されることにより振動して超音波を送信するとともに、外部から超音波により振動され変形することにより電圧を発生するものである。
本実施形態では、プローブ3A,3Bに複数の送受波部11が略直線状に並んで配置された例に適用して説明する。
制御部5は、遅延時間パターンを決定するとともに、検査対象31の検査を行うものである。
制御部5には、信号生成部21と、反射信号受信部22と、解析部23と、調整部24と、データベース部25と、が設けられている。
信号生成部21は、プローブ3Aの送受波部(一の送受波部の群)11のそれぞれに対して、所定の遅延時間パターンから送受波部11を駆動する電圧等を生成し、送受波部11に出力するものである。
反射信号受信部22は、プローブ3Bの送受波部(他の送受波部の群)11により受信された超音波のエコーに係る反射信号が入力されるものであって、解析部23に反射信号を出力するものである。
解析部23は、入力された反射信号から超音波エコーの波形高さにおける最大高さEcを算出するとともに、算出された最大高さEcと、基準の超音波エコーの波形高さにおける最大高さErとの比較を行うものである。
調整部24は、プローブ3Aから超音波を送信する際に用いられる遅延時間パターンを変更し、新たな遅延時間パターンを設定するものである。
データベース部25は、基準の超音波エコーの波形高さErよりも高い超音波エコーの波形高さに関する遅延時間パターンを記憶するものである。
なお、これら信号生成部21等が設けられた制御部5における制御方法の詳細については以下に説明する。
次に、上記の構成からなる超音波探傷装置1における検査対象31の検査方法について説明する。
超音波探傷装置1を用いた検査対象31の検査を行う場合には、まず、プローブ3Aから超音波を送信する際に用いられる遅延時間パターンの設定が行われ、その後、設定された遅延時間パターンを用いて、検査対象31の検査が行われる。
このようにすることで、超音波の透過性が悪く、異常屈折が発生する材料から形成された検査対象31に対しても、適切な超音波を検査対象31に送信することができ、検査性の向上を図ることができる。
図3は、図1の制御部による遅延時間パターンの設定を行う際の制御方法を説明するフローチャートである。
まず、図2に示すように、検査対象31の底面33に対して超音波を収束させることができる遅延時間パターンの設定が行われる。
具体的には、図2および図3に示すように、検査対象31の表面32に所定間隔をあけてプローブ3A,3Bが配置される(ステップS1)。
そして、異常屈折が発生しない材料から形成された検査対象の場合に、プローブ3A,3Bの中間地点の底面33Mに、プローブ3Aから送信された超音波を収束させる基準の遅延時間パターンBPがセットされる(ステップS2)。
ここで、図2におけるプローブ3Aの上方に表記された点線が基準の遅延時間パターンBPを表しており、横軸方向が送受波部11との対応を示し、縦軸方向が超音波を送信するタイミングの遅延時間を示している。
基準の遅延時間パターンBPがセットされると、図1に示すように、基準の遅延時間パターンBPに基づいて信号生成部21から、プローブ3Aの送受波部11を駆動する電圧等が出力される。
プローブ3Aの複数の送受波部11は、それぞれ入力された電圧等に基づいて駆動され、検査対象31に超音波を送信する。
プローブ3Aから送信された超音波は、図2に示すように、検査対象31の内部を屈折しながら伝播して底面33Mの近辺に入射する。本実施形態における検査対象31は、異常屈折する材料から構成されているため、超音波は底面33における底面33Mを含む所定広さの領域に入射する。
超音波は底面33において反射し、エコーとして検査対象31内を表面32に向かって伝播する。
検査対象31の表面32まで伝播した超音波はプローブ3Bの送受波部11に検出され、図2に示すように、反射信号として制御部5の反射信号受信部22に出力される。反射信号は、反射信号受信部22から解析部23に入力され、エコーの波形高さにおける基準最大エコー高さErが算出される(ステップS3(第1受信ステップ))。
その後、調整部24において基準の遅延時間パターンBPとは異なる遅延時間パターン(第1の変更遅延時間パターン)Pc1がセットされる(ステップS4(パターン設定ステップ))。
遅延時間パターンPc1を設定する手法としては、各送受波部11における遅延時間をパラメータとして、超音波エコーの波形高さを最大とすることを目的とした最適化手法、例えば、最急降下法やニュートン法などが用いられる。
遅延時間パターンPc1が設定されると、図1に示すように、遅延時間パターンPc1に基づいて信号生成部21からプローブ3Aの送受波部11を駆動する電圧等が出力され、図2に示すように、プローブ3Aの複数の送受波部11から検査対象31に超音波が送信される。
検査対象31に送信された超音波は底面33において反射され、反射されたエコーはプローブ3Bの送受波部11に検出される。送受波部11から出力された反射信号は、反射信号受信部22を介して解析部23に入力される。
解析部23は、入力された反射信号からエコーの波形高さにおける最大エコー高さEcが算出される(ステップS5(第2受信ステップ))。
その後解析部23は、図3に示すように、算出された最大エコー高さEcと、基準最大エコー高さErとを比較する(ステップS6)。
比較の結果、算出された最大エコー高さEcが、基準最大エコー高さErよりも高い場合には、後述するステップS9における判断がなされる。
一方、算出された最大エコー高さEcが、基準最大エコー高さErよりも高くない場合には、基準最大エコー高さErの値が、算出された最大エコー高さEcの値に変更される(ステップS7(置き換えステップ))。
言い換えると、算出された最大エコー高さEcの値および基準最大エコー高さErの値のうち、高い値が新たに、基準最大エコー高さErの値として設定される。
そして、算出された最大エコー高さEcに係る遅延時間パターンPc1が、データベース部25に記憶される(ステップS8(記憶ステップ))。
遅延時間パターンPc1がデータベース部25に記憶された後、または、算出された最大エコー高さEcが、基準最大エコー高さErよりも高いと判断された後、解析部23において、基準の最大エコー高さErが所定の閾値よりも高いか否かが判断される(ステップS9(判断ステップ))。
ここで、所定の閾値は、遅延時間パターンPc1を変更する余地があるか否かを判断するために用いられる値である。そのため、所定の閾値の上限としては、異常屈折のない理想的な材料から形成された検査対象31における最大エコー高さを例示できる。一方、所定の閾値の下限は、超音波探傷装置1に求められる検査精度に基づいて定めることができる。
解析部23において、基準の最大エコー高さErが所定の閾値よりも高いと判断された場合には、遅延時間パターンの設定が終了される。
一方、基準の最大エコー高さErが所定の閾値よりも高くないと判断された場合には、上述のステップS4に戻り、調整部24において基準の遅延時間パターンBPおよび遅延時間パターンPc1とは異なる遅延時間パターンPc2がセットされ、上述の制御が繰り返される。
図4は、図1の超音波探傷装置を用いた検査対象の検査を説明する図である。
遅延時間パターンの設定が完了すると、図4に示すように、プローブ3Aを検査対象31の表面32に配置し、検査対象31に発生した割れ目34等の有無の検査が行われる。
なお、検査の詳細については、公知の超音波探傷方法と同様であるので、その説明を省略する。
上記の構成によれば、異なる遅延時間パターンBP,Pc1,Pc2を用いて底面33から反射される超音波のエコーにおける波形高さと所定の閾高さとの比較を繰り返すことにより、検査対象31の内部構造等に関わらず、検査対象31の底面33から反射される超音波エコーの波形高さを所定の閾高さよりも高くすることができる。言い換えると、内部で異常屈折等が発生する検査対象31であっても、検査対象31の底面33に超音波を収束させることができ、より強い超音波エコーを得ることができる。そのため、超音波の透過性が悪く異常屈折が発生する材料からなる検査対象31に対しても超音波を収束させることができ、割れ目34等の欠陥の検査性向上を図ることができる。
つまり、ステップS9における解析部23の判断に基づいて、ステップS4に戻った場合、遅延時間パターンBP,Pc1とは異なる遅延時間パターンPc2が設定される。その後、ステップS5およびステップS9を、超音波エコーの波形高さが所定の閾高さよりも高くなるまで繰り返すことにより、内部で異常屈折等が発生する検査対象であっても、検査対象31の底面33に超音波を収束させることができる。
ステップS4において、超音波エコーの波形高さを最大とすることを目的とした最適化手法を用いることにより、底面33から反射される超音波のエコーにおける波形高さが所定の閾高さよりも高くなる遅延時間パターンを早く得ることができる。
ステップS7により、基準の超音波エコーの波形高さErは、常に超音波エコーの波形高さEcより高くなる、または、同じ高さになる。そのため、底面33から反射される超音波のエコーにおける波形高さが所定の閾高さよりも高くなる遅延時間パターンを早く得ることができる。
さらに、基準の超音波エコーの波形高さErよりも超音波エコーの波形高さEcが高い場合に、遅延時間パターンPc1を記憶するため、その時点で底面33から反射する超音波のエコーにおける波形高さが最も高くなる遅延時間パターンを記憶することができる。そのため、例えば、変更後の遅延時間パターンPc2に関する超音波のエコーの波形高さが、前回の超音波のエコーの波形高さよりも低くなった場合でも、その時点で、最も超音波のエコーの波形高さが高くなる遅延時間パターンPc1が失われることを防止することができる。
〔第2の実施形態〕
次に、本発明の第2の実施形態について図5を参照して説明する。
本実施形態の超音波探傷装置の基本構成は、第1の実施形態と同様であるが、第1の実施形態とは、検査対象に対する超音波の送信および受信に係る構成が異なっている。よって、本実施形態においては、図5を用いてプローブ周辺の構成のみを説明し、その他の構成要素等の説明を省略する。
図5は、本実施形態の超音波探傷装置の構成を説明する模式図である。
なお、第1の実施形態と同様の構成要素については同一の符号を付して、その説明を省略する。
超音波探傷装置101には、図5に示すように、検査対象31に超音波を送信するとともに検査対象31から反射した超音波を受信するプローブ3と、プローブ3における超音波の送信を制御する制御部5と、プローブ3と検査対象31との間に配置されたシュー107と、が設けられている。
シュー107は、図5に示すように、検査対象31と接触する面に対して、プローブ3と接触する面が傾斜した、例えば、三角柱状に形成されたものであって、超音波を透過させる材料から形成されたものである。
このようなシュー107をプローブ3と検査対象31との間に配置することにより、プローブ3から送信された超音波は、検査対象31に対して斜めに入射される。
上記の構成からなる超音波探傷装置101における検査対象31の検査方法は、プローブ3と検査対象31との間にシュー107を配置する点が異なり、その他の部分については第1の実施形態と同様であるので、その説明を省略する。
上記の構成によれば、プローブ3から送信された超音波は、検査対象31に対して斜めに入射され、検査対象31の割れ目等の欠陥に対する超音波のエネルギが高くなるため、欠陥の検出感度を向上させることができる。
〔第3の実施形態〕
次に、本発明の第3の実施形態について図6を参照して説明する。
本実施形態の超音波探傷装置の基本構成は、第1の実施形態と同様であるが、第1の実施形態とは、プローブの構成が異なっている。よって、本実施形態においては、図6を用いてプローブの構成のみを説明し、その他の構成要素等の説明を省略する。
図6は、本実施形態の超音波探傷装置の構成を説明する模式図である。
なお、第1の実施形態と同様の構成要素については同一の符号を付して、その説明を省略する。
超音波探傷装置201には、図6に示すように、検査対象31に超音波を送信するとともに検査対象31から反射した超音波を受信するプローブ203と、プローブ203における超音波の送信を制御する制御部5と、が設けられている。
プローブ203は、図6に示すように、検査対象31の表面32に対して配置されるものであって、検査対象31に超音波を送信するとともに検査対象31から反射した超音波を受信するものである。
プローブ203には、超音波を送信するとともに反射した超音波を受信する複数の送受波部11が2次元的に配置されている。
本実施形態では、プローブ203から超音波を送信する際に用いられる遅延時間パターンを設定する場合には2つのプローブ203A,プローブ203B(図示せず)を用い、遅延時間パターンが決定され実際に測定対象の割れ目等の有無を検査する場合には、1つのプローブ203Aを用いる例に適用して説明する。
上記の構成からなる超音波探傷装置201における検査対象31の検査方法は、基準の遅延時間パターンBPおよび遅延時間パターンPc1が2次元的に表される第1の実施形態と比較して3次元的である点が異なり、その他の部分については第1の実施形態と同様であるので、その説明を省略する。
上記の構成によれば、プローブ203から送信された超音波を3次元的に収束させ、検査対象31の割れ目等の欠陥に対する超音波のエネルギが高くなるため、欠陥の検出性を向上させることができる。
〔第4の実施形態〕
次に、本発明の第4の実施形態について図7および図8を参照して説明する。
本実施形態の超音波探傷装置の基本構成は、第1の実施形態と同様であるが、第1の実施形態とは、プローブの構成が異なっている。よって、本実施形態においては、図7および図8を用いてプローブの構成のみを説明し、その他の構成要素等の説明を省略する。
図7は、本実施形態の超音波探傷装置の構成を説明する模式図である。
なお、第1の実施形態と同様の構成要素については同一の符号を付して、その説明を省略する。
超音波探傷装置301には、図7に示すように、検査対象31に超音波を送信するとともに検査対象31から反射した超音波を受信するプローブ3A,3B,3C,3Dと、プローブ3における超音波の送信を制御する制御部5と、が設けられている。
プローブ3A,3B,3C,3Dには、図7に示すように、超音波を送信するとともに、反射した超音波を受信する複数の送受波部11が設けられ、複数の送受波部11が略直線状に並んで配置されている。
図8は、図7の超音波探傷装置における検査対象の検査を説明する模式図である。
本実施形態では、プローブ3から超音波を送信する際に用いられる遅延時間パターンを設定する場合には、図7に示すように、プローブ3A,3Bの組と、プローブ3C,3Dの組とが用いられ、遅延時間パターンが決定され実際に検査対象31の割れ目等の有無を検査する場合には、図8に示すように、プローブ3A,3Dの組を用いる例に適用して説明する。
上記の構成からなる超音波探傷装置301における検査対象31の検査方法は、遅延時間パターンPc1を設定する際には、超音波を送信するプローブ3Aおよびエコーを受信するプローブ3Bの組と、超音波を送信するプローブ3Cおよびエコーを受信するプローブ3Dの組とが用いられ、遅延時間パターンが決定され実際に検査対象31の割れ目等の有無を検査する場合には、図8に示すように、超音波を送信するプローブ3Aおよびエコーを受信するプローブ3Dの組を用いる点が第1の実施形態と異なり、その他の部分については第1の実施形態と同様であるので、その説明を省略する。
上記の構成によれば、プローブが送受信分離型のフェーズドアレイプローブにおいても超音波を収束させることができるため、ノイズの多い検査対象31であっても、欠陥の検出性を向上させることができる。
〔第5の実施形態〕
次に、本発明の第5の実施形態について図9を参照して説明する。
本実施形態の超音波探傷装置の基本構成は、第1の実施形態と同様であるが、第1の実施形態とは、検査対象の検査方法が異なっている。よって、本実施形態においては、図9を用いて検査方法のみを説明し、その他の構成要素等の説明を省略する。
図9は、本実施形態の超音波探傷装置における検査対象の検査方法を説明する模式図である。
なお、第1の実施形態と同様の構成要素については同一の符号を付して、その説明を省略する。
超音波探傷装置401には、図9に示すように、検査対象31に超音波を送信するプローブ3Aと、検査対象31から反射した超音波を受信するプローブ3Bと、プローブ3A,3Bにおける超音波の送受信を制御する制御部5と、が設けられている。
上記の構成からなる超音波探傷装置401では、TOFD(Time Of Flight Diffraction)法を用いて検査対象31の検査が行われる点が第1の実施形態と異なり、その他の部分については第1の実施形態と同様であるので、その説明を省略する。
上記の構成によれば、収束した超音波を用いたTOFD法による検査が行えるため、検査対象31の割れ目34に超音波が収束され、精度の高いサイジングが可能となる。
本発明の第1の実施形態に係る超音波探傷装置の構成を説明する模式図である。 図1のプローブが検査対象に配置された状態を説明する模式図である。 図1の制御部による遅延時間パターンの設定を行う際の制御方法を説明するフローチャートである。 図1の超音波探傷装置を用いた検査対象の検査を説明する図である。 本発明の第2の実施形態の超音波探傷装置の構成を説明する模式図である。 本発明の第3の実施形態の超音波探傷装置の構成を説明する模式図である。 本発明の第4の実施形態の超音波探傷装置の構成を説明する模式図である。 図7の超音波探傷装置における検査対象の検査を説明する模式図である。 本発明の第5の実施形態の超音波探傷装置における検査対象の検査方法を説明する模式図である。
符号の説明
1,101,201,301,401 超音波探傷装置
3,3A,3B,203 プローブ
5 制御部
11 送受波部
S3 ステップS3(第1受信ステップ)
S4 ステップS4(パターン設定ステップ)
S5 ステップS5(第2受信ステップ)
S7 ステップS7(置き換えステップ)
S8 ステップS8(記憶ステップ)
S9 ステップS9(判断ステップ)

Claims (4)

  1. 超音波の送信および受信を行う複数の送受波部が配列されたプローブを用いて検査対象の検査を行う超音波探傷方法であって、
    前記複数の送受波部のそれぞれから超音波を送信するタイミングを規定する遅延時間パターンを用いて、前記検査対象の表面に配置された一の送受波部の群から前記検査対象の底面に向けて第1の超音波を送信し、前記底面により反射された前記超音波のエコーを前記表面に配置された他の送受波部の群により受信する第1受信ステップと、
    前記遅延時間パターンとは、前記複数の送受波部のそれぞれから超音波を送信するタイミングが異なる第1の変更遅延時間パターンを設定するパターン設定ステップと、
    前記第1の変更遅延時間パターンを用いて、前記一の送受波部の群から前記底面に向けて第1の変更超音波を送信し、前記底面により反射された前記第1の変更超音波のエコーを、前記他の送受波部の群により受信する第2受信ステップと、
    前記超音波のエコーにおける波形高さ、および、前記第1の変更超音波のエコーにおける波形高さのうち、高い方の波形高さが所定の閾高さよりも低い場合には、前記パターン設定ステップに戻る判断ステップと、
    を有することを特徴とする超音波探傷方法。
  2. 前記パターン設定ステップにおいて、前記第1の変更遅延時間パターンは、前記第1の変更超音波のエコーにおける波形高さが高くなるように設定されていることを特徴とする請求項1記載の超音波探傷方法。
  3. 前記第2受信ステップの後に、
    前記超音波のエコーにおける波形高さと、前記第1の変更超音波のエコーにおける波形高さとを比較して、前記第1の変更超音波のエコーにおける波形高さが高い場合には、前記第1の変更超音波のエコーにおける波形高さを前記超音波のエコーにおける波形高さに置き換える置き換えステップと、
    前記第1の変更遅延時間パターンを記憶する記憶ステップと、
    を有することを特徴とする請求項1記載の超音波探傷方法。
  4. 超音波の送信および受信を行う複数の送受波部が配列されたプローブと、
    請求項1から請求項3に記載の超音波探傷方法を行う制御部と、
    が設けられていることを特徴とする超音波探傷装置。
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JP7023406B1 (ja) * 2021-09-02 2022-02-21 三菱重工パワー検査株式会社 超音波探触子及び超音波探傷方法

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