JP4144699B2 - 探触子及びこれを用いた材料評価試験方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、超音波による材料評価試験に用いる探触子及びその材料評価試験方法に関する。さらに詳しくは、石油・石油化学プラント、火力発電プラント等で用いる機器及び装置類のように、高温又は高圧環境で使用される機器類の劣化・損傷評価に適し、例えば、精油所の加熱炉管、発電所におけるボイラの蒸気管等の劣化・損傷評価に用いることの可能な探触子およびその評価試験方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、石油化学プラントや火力発電プラント等で用いられる加熱炉管は、外表面に対して直接バーナー等で加熱するため、配管火陥側にはボイドやフィッシャ等のクリープ損傷が生じやすく、係る劣化・損傷を評価する必要がある。
【0003】
従来、このような材料の劣化・損傷を評価する手法として、後述の特許文献1にみられるように漏洩弾性波(LASW)を用いて評価する方法が知られている(漏洩弾性波法)。同方法によれば、図1(a)に示すように、超音波の浸透深さが1波長程度であるため、評価の対象となるのは試験体の極表層部に限られ、1波長より深い部分のデータを取得することができなかった。
【0004】
【特許文献1】
特開2000−131297号公報
【0005】
一方、図1(b)に示す一振動子型垂直探触子を用いて、ボイド等の劣化・損傷部で後方散乱された超音波を捉えることで材料の劣化・損傷を評価する方法が知られている。同方法によれば、試験体深部の劣化・損傷等は把握することができる。しかし、探触子を試験体に直接接触させた場合(直接接触法)には送信パルスを、探触子と試験体の間に水を介在させた場合(水浸法)には試験体表面で反射する表面反射波を受信してしまうために、これらの信号と試験体表面近傍で後方散乱された信号とが交錯し、両者を識別することが困難であった。
【0006】
このように、漏洩弾性波法と後方散乱波法を併用して材料評価試験を行った場合であっても、試験体表面近傍における深さ数mm部分が不感帯となっていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
かかる従来の実状に鑑みて、本発明の目的は、表面反射波等の影響を受けずに試験体の劣化・損傷等を評価することが可能な探触子及びこれを用いた材料評価試験方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明にかかる探触子の特徴構成は、試験体に超音波を送信すると共に試験体からの後方散乱波を受信することにより試験体の評価を行うためのものであって、各々が遅延材を有する送信子及び受信子を設け、これら遅延材の前記試験体側対向面と前記試験体表面との間に接触媒質を介在させるためのリング状の弾性部材からなる保持体を設け、前記試験体の対象深さからの後方散乱波の波形と、前記試験体表面で反射した表面反射波の波形及び前記試験体表面並びに前記遅延材の前記試験体側対向面の間で発生する多重反射波の波形とが識別可能となるように前記保持体厚みを設定したことにある。
【0009】
同特徴構成によれば、接触媒質が超音波の送受信精度を向上させる。そして、保持体により接触媒質の厚みを常時一定の微少厚さに維持することができるので、微少な後方散乱波を検出することができる。また、この接触媒質の微少厚さを維持する機構を設け、送信子及び受信子を別体としたことにより、試験体内で発生する後方散乱波と試験体表面で反射した表面反射波及び多重反射波の受信子への到達時刻を異ならせることができる。
【0010】
さらに、保持体としてリング状の弾性部材を用いることにより、試験体表面における凹凸形状等の表面粗さに対しても適度な弾性変形により、送受信子の姿勢を一定に維持することができる。また、試験体表面に傷を生じさせることもない。
【0012】
上記特徴構成において、前記接触媒質の厚みが1mm以上であることが望ましい。
【0014】
本発明にかかる材料評価試験方法の特徴は、上記いずれかの特徴構成を有する探触子を用いて試験体に超音波を送信すると共に試験体からの後方散乱波を受信することにより試験体の評価を行うことにある。
【0015】
【発明の効果】
上記本発明の特徴によれば、試験体に起因する後方散乱波と、試験体表面で反射した表面反射波及び多重反射波との交錯を防止し、試験体表面近傍における深さ数mm位置での劣化・損傷等を正確に評価することが可能となった。
【0016】
なお、本発明のその他の目的、構成、作用、効果については、以下に示す「発明の実施の形態」の項で明らかになるであろう。
【0017】
【発明の実施の形態】
次に、図1〜5を参照しながら、本発明の実施形態についてさらに詳細に説明する。本発明は、試験体100の表面101近傍における深さH=数mm程度の位置(以下、「対象深さH」という。)に発生する結晶粒界や水素侵食によるボイド等のクリープ損傷の評価に適している。本実施形態では、試験体100として厚さ数mmの平板状鋼板を用いる。
【0018】
図2は評価装置1の概略を示す論理ブロック図である。この評価装置1は、送信子3から試験体100に対して超音波パルスを発生させるパルサー31と、受信子4からの受信波を受信するレシーバー32とを有する。このレシーバー32からの音響信号は、アンプ33により増幅され、フィルター34で低周波及び高周波ノイズが除去された後、A/Dコンバーター35でA/D変換されてデジタル信号化される。そして、パーソナルコンピュータ36内のRAMやハードディスクなどのメモリーに記憶される。パーソナルコンピューター36はパルサー31に対して送信を指示する指示手段と、A/Dコンバータ35からのデータを解析する解析手段を含む。パーソナルコンピュータ36における処理結果は、図6,7,8に示す如きものであり、表示器37により表示され、プリンター38により用紙に出力することもできる。
【0019】
送受信子2は、大略、ハウジング10に送信子3及び受信子4を収納し、この送受信子2の試験体側対向面14の周縁に保持体15を設けてなる。ハウジング10内では、音響隔離面13により送信子3と受信子4は音響的に隔離してある。
【0020】
送信子3及び受信子4は、アクリル樹脂の遅延材11,12と、これらの上面にそれぞれ貼り付けた振動子11a,12aとを備えている。また、この遅延材11、12の試験体側対向面14はハウジングで覆わずに露出させてある。
【0021】
本明細書において、「表面反射波」とは、送信子3から送信され試験体表面101で反射した後、直ちに受信子4に至る反射波のことを、「多重反射波」とは、送信子3から送信され試験体表面101で反射した後、遅延材11,12の下面14及び試験体表面101での反射を繰り返した反射波のことをいう。
【0022】
これらの送信子3及び受信子4は図3に示すように、送信子中心軸Xと受信子中心軸Yの交点Pが特定深さhに位置するように振動子11a、12aをそれぞれ試験体表面101に対してそれぞれ傾斜させて上述の対象深さHの範囲内に照準を合わせてある。本実施形態では、送信子3、受信子4は互いに試験体表面101の法線面に対して面対称となるように配置してある。なお、本発明は、後方散乱波を捉える点で、底面エコーを捉える垂直探傷とは異なっている。
【0023】
送受信子2における遅延材11,12の下面14周縁に沿ってシリコンゴム等の弾性部材よりなるリング状の保持体15を設けてある。この保持体15により、送受信子2と試験体表面101との間に下向き凹部17が形成され、この凹部17に接触媒質Wを充填させる。この保持体15により送受信子2と試験体表面101との距離を一定に保つことができる。また、この保持体15を弾性部材としたことにより、試験体表面101における凹凸等の表面粗さに対しても、適当な弾性変形により保持体15と試験体表面101は密着した状態となる。なお、保持体15は弾性体であるため、保持体15の厚さと接触媒質Wの厚さとは試験体表面101接触時のものとして扱うとよい。
【0024】
接触媒質Wとしては、例えば、グリセリン、水、マシン油などを用いる。これらの接触媒質Wは超音波の伝達効率を低下させることなく、試験体100に超音波を伝播させることができると共に、微少な後方散乱波S3を受信することができる。
【0025】
送信子3から送信された超音波はこの接触媒質Wを介して試験体100内に入射することとなるが、図4に示すように、一部は試験体100の表面101と遅延材11,12の下面14との間で多重反射を繰り返すこととなる。この多重反射波S2及び直達波(クロストーク)が受信子4に到達することを防ぐため、図5(b)に示すように、接触媒質Wを送信子3側と受信子4側とで二分するよう面状の音響隔離体16を設ける。本実施形態では、この音響隔離体16をハウジング10内の音響隔離面13直下に直線的に配置してある。なお、音響隔離体16は音響隔離面13の一部を下方に延長させて構成してもよい。
【0026】
図3、4に示すように、接触媒質Wとして水を用いた場合、鋼材中での縦波音速は接触媒質内の音速の約4倍であることが知られており、接触媒質中の1mmが鋼材中における4mmの移動速度に相当する。よって、鋼板表面から4mm深さ近傍を評価しようとすると、接触媒質の厚さを1mm以上、望ましくは1.5mm以上とすることで、後方散乱波S3と表面反射波S1及び多重反射波S2の受信子4到達時刻を異ならせ、これらの信号が互いに交錯することを防止できる。係る原理により、接触媒質Wの厚みD及び音響隔離体16と相まって、上述の不感帯の評価を精度良く行うことができる。
【0027】
【実施例】
本実施例では、試験体100として、肉厚10mmの炭素鋼板を用いて評価試験を行った。送受信子2として、周波数10MHzのものを使用した。また、接触媒質Wの厚さDは、表面反射波S1の立ち上がり時間が8μsとなるように調整した。受信子4で得られた受信信号は、5MHzのハイパスフィルターにてフィルタリングを行い、100MHzサンプリングのデジタル信号として記憶させて波形解析を行った。また、保持体としてゴム製のOリング15を用いると共に、凹部17に充填する接触媒質Wとしてグリセリンを用いた。
【0028】
本評価試験では、凹部17内に音響隔離体16を設けない場合と設けた場合の2通りの試験を行った。図6、図7は、各々の試験で得られた受信波形のグラフであり、縦軸は出力信号の振幅を、横軸は時間を示す。図6は、図5(a)に示す音響遮蔽体16を設けなかった場合の受信波形であって、(a)はゲインを0dBとした場合、(b)はゲインを6dBにした場合のグラフである。同グラフに示すように、表面反射波群S1と多重反射波群S2の間に後方散乱波群S3が観測され、これらの波が互いに交錯することなく識別可能であることが確かめられた。
【0029】
一方、図7は、図5(b)に示す音響遮蔽体16を設けた場合の受信波形を示すグラフであって、(a)はゲインを0dBとした場合、(b)はゲインを6dBにした場合、(c)はゲインを12dBにした場合のグラフである。同グラフでは、多重反射波S2は観測されず、表面反射波群S1と後方散乱波群S3も互いに交錯することなく識別可能であることが確かめられた。また、図6に示す音響隔離体16を設けなかった場合の振幅分布に比べ、表面反射波S1の振幅が大幅に減衰していることがわかる。
【0030】
最後に、本発明のその他の実施形態の可能性について言及する。なお、以下の各実施形態を適宜組み合わせて実施することもできる。
上述の評価試験に加え、図1(b)に示す一振動子型探触子を用いた評価試験及び図1(a)に示す漏洩弾性波法を用いた評価試験を適宜併用することで、板厚方向の劣化・損傷分布を評価することができる。発明者らの実験によれば、表面下0.8mmまでは漏洩弾性波法で、表面下1.5〜4mmまでを本発明に係る探触子2を用いた方法で、表面下4mmよりも深部は一振動子型探触子を用いた水浸法で各々評価することにより、板厚方向の劣化・損傷分布を評価することができた。
【0031】
上記実施形態では、後方散乱波振幅の時系列データから試験体100の劣化・損傷を評価したが、これに加え、図示しないタイマーと連携して各時間ゲート毎にサンプリングされた信号からFFT手段等を用いて周波数スペクトラムを求めることで試験体100を評価することもできる(スペクトロスコピー法)。散乱により高周波成分は減衰することから、試験体における劣化・損傷の度合いが強い程、後方散乱波のスペクトラム分布は低周波側にシフトすると共に、低周波側のスペクトラム強度が増加する。図8(b)は、健全な試験体と、内部にクリープ損傷を有する試験体とで、後方散乱波のスペクトラム強度の周波数分布を比較したものである。クリープ損傷を有する試験体のスペクトラム分布は、健全な試験体と比べ、低周波側にシフトし、低周波側ではスペクトラム強度が増加していることがわかる。
【0032】
上記実施形態では、試験体表面101に送受信子2を配置して評価試験を行ったが、図示しないモーターコントローラーにより送受信体2を試験体表面に沿ってスキャンさせるようにしてもよい。また、試験体100として平板状鋼板に限らず、例えば、配管のように曲面である試験体表面に本発明に係る探触子を配置し、材料評価試験を行うこともできる。その際、モーターコントローラにより探触子を移動させることで、管周方向及び管軸方向に渡って試験体表面近傍の劣化・損傷分布を評価することができる。そして、各点で得られたデータを図8(c)に示すように上述の表示器37等を用いて色調表示させる。同図は、管軸方向及び管周方向にそれぞれ50mmの範囲を1mmピッチで走査したものであり、各走査位置における後方散乱波振幅及び周波数スペクトラムの低周波成分(5〜8MHz)の部分積分値B1を色調表示したものである。
【0033】
上述の実施例等では、試験体100として鋼材を用いた。しかし、試験体100は鋼材に限られず、保持体15の厚みDも試験体100及び保持体15の音響インピーダンスとの相対的関係で求められる。
【0034】
なお、特許請求の範囲の項に記入した符号は、あくまでも図面との対照を便利にするためのものにすぎず、この記入により本発明は添付図面の構成に限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明と従来技術を比較した図であって、(a)は漏洩弾性波(LSAW)法による場合、(b)は一振動子型探触子を用いて後方散乱波を捉える場合、(c)は本発明に係る探触子を用いて後方散乱波を捉える場合を示す。
【図2】本発明に係る探触子を用いた評価装置の論理ブロック図である。
【図3】送信側中心軸及び受信側中心軸を含む断面での送受信子と試験体との関係を示す断面図である。
【図4】表面反射波及び多重反射波の軌跡を及びその受信波形を模式的に示す図である。
【図5】送信子、受信子、保持体及び音響隔離体の関係を示す図であって、(a)は保持体を備える場合の送受信子の断面図及びそのA−A断面図を、(b)は保持体と音響隔離体を備える場合の送受信子の断面図及びそのA−A断面図を示す。
【図6】音響隔離体が介在しない場合の受信波形であり、(a)はゲインを0dB、(b)は6dBとした場合に相当する。
【図7】音響隔離体を介在させた場合の図6相当図であり、(a)はゲインを0dB、(b)は6dB、(c)は12dBにした場合に相当する。
【図8】本発明に係る探触子を用いて得られたデータであって、(a)は振幅の時系列分布を、(b)はスペクトラム強度の周波数分布を、(c)スキャンの色調表示を示す。
【符号の説明】
1:評価装置、2:送受信子、3:送信子、4:受信子、10:ハウジング、11,12:音響遅延材、11a:送信側振動子、12a:受信側振動子、13:音響隔離面、14:下面(試験体側対向面)、15:保持体、16:音響隔離体、17:凹部、31:パルサー、32:レシーバー、33:アンプ、34:フィルター、35:A/Dコンバーター、36:パーソナルコンピュータ、37:表示器、38:プリンター、100:試験体、101:試験体表面、P:交点、S1:表面反射波、S2:多重反射波、S3:後方散乱波、W:接触媒質、X:送信子中心軸、Y:受信子中心軸
Claims (3)
- 試験体に超音波を送信すると共に試験体からの後方散乱波を受信することにより試験体の評価を行うための探触子であって、
各々が遅延材を有する送信子及び受信子を設け、これら遅延材の前記試験体側対向面と前記試験体表面との間に接触媒質を介在させるためのリング状の弾性部材からなる保持体を設け、前記試験体の対象深さからの後方散乱波の波形と、前記試験体表面で反射した表面反射波の波形及び前記試験体表面並びに前記遅延材の前記試験体側対向面の間で発生する多重反射波の波形とが識別可能となるように前記保持体厚みを設定した探触子。 - 前記接触媒質の厚みが1mm以上である請求項1に記載の探触子。
- 請求項1又は2に記載の探触子を用いて試験体に超音波を送信すると共に試験体からの後方散乱波を受信することにより試験体の評価を行う材料評価試験方法。
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