JP2010249817A - 温度検出のための回路及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】温度検出回路は、センサー、集積回路(IC)チップ、および抵抗器を具備している。前記センサーは、温度を検出可能である。前記ICチップは、温度状態を判定するために前記温度を示している検出電圧と温度しきい値を示しているしきい値電圧とを比較可能である。前記ICチップは、ほぼ一定であるパラメータを有している。前記抵抗器は、外部で前記ICチップと接続されている。前記ICチップは、前記センサーを通って流れている第1電流と、前記抵抗器を通って流れている第2電流との比を含む電流比を前記ほぼ一定であるパラメータと等しくなるように維持する。
【選択図】図4
Description
402 温度検出回路
404 電源
406 負荷
410 集積回路(IC)チップ
430 センサー
432 負温度係数(NTC)サーミスタ
434 検出電圧
440 外部の抵抗器
444 しきい値電圧
520 コンパレータ
550 バイアス回路
611,612 電流源
616 スイッチコントローラ
620 スイッチング回路
622,624 スイッチ
626 ロジック回路
628 発振(OSC)回路
710 電流ミラー
712 基準電圧源
714 バンドギャップ回路
716 電圧フォロワ
Claims (27)
- 温度検出回路であって、
温度検出に使用されるセンサーと、
前記センサーと接続されるとともに、温度状態を判定するために、前記温度を示している検出電圧と、温度しきい値を示しているしきい値電圧と、を比較することが可能な集積回路(IC)チップと、
前記ICチップに外部に接続されている抵抗器と、
を具備し、
前記ICチップは、ほぼ一定であるパラメータを備え、
前記ICチップは、電流比が前記ほぼ一定であるパラメータと等しくなるように維持し、
前記電流比は、前記センサーを通って流れている第1電流と、前記抵抗器を通って流れている第2電流との比で構成されていることを特徴とする温度検出回路。 - 前記ICチップは、
前記センサーに接続されるととともに、前記第1電流を提供可能な第1電流源と、
前記抵抗器に接続されるとともに、前記第2電流を提供可能な第2電流源と、
を更に具備し、
前記センサーは、前記第1電流に基づいて前記検出電圧を提供することを特徴とする請求項1に記載の温度検出回路。 - 前記ICチップは、前記第1電流源および第2電流源と接続されるとともに、前記第1電流および第2電流の電流路を使用可能および使用不能に動作可能なスイッチング回路をさらに具備することを特徴とする請求項2に記載の温度検出回路。
- 前記ICチップは、
前記抵抗器に接続されるとともに、前記第2電流を生成するために前記抵抗器に印加する基準電圧を生成可能な基準電圧源と、
前記センサーおよび前記抵抗器と接続されるとともに、前記ほぼ一定のパラメータにしたがって前記第1電流を生成するために前記第2電流をミラー可能な電流ミラーと、
をさらに具備し、
前記センサーは、前記第1電流に基づいて前記検出電圧を提供することを特徴とする請求項1に記載の温度検出回路。 - 前記ICチップは、前記電流ミラーと接続されるとともに、前記第1電流および第2電流の電流路を使用可能および使用不能に動作可能なスイッチング回路をさらに具備することを特徴とする請求項4に記載の温度検出回路。
- 前記基準電圧源は、複数の温度しきい値を示している複数のしきい値電圧を提供可能であることを特徴とする請求項4に記載の温度検出回路。
- 前記ICチップは、前記しきい値電圧と前記検出電圧とを比較することが可能な複数のコンパレータをさらに具備することを特徴とする請求項6に記載の温度検出回路。
- 前記温度状態は、前記センサーの前記抵抗と、前記基準電圧、前記しきい値電圧、前記ほぼ一定のパラメータ、および前記抵抗器の抵抗の関数と、の比較により判定されることを特徴とする請求項4に記載の温度検出回路。
- 前記抵抗器にかかる基準電圧は、前記しきい値電圧として使用され、
前記センサーの電圧は、前記検出電圧として使用されることを特徴とする請求項1に記載の温度検出回路。 - 前記温度状態は、前記センサーの抵抗と、前記ほぼ一定のパラメータおよび前記抵抗器の抵抗の関数と、の比較により判定されることを特徴とする請求項9に記載の温度検出回路。
- 前記ICチップは、
前記センサーに接続されるとともに、前記第1電流を生成するために前記センサーに印加される前記しきい値電圧を生成することが可能な基準電圧源と、
前記センサーおよび前記抵抗器と接続されるとともに、前記ほぼ一定のパラメータにしたがって前記第2電流を生成するために前記第1電流をミラー可能な電流ミラーと、
をさらに具備し、
前記抵抗器は、前記第2電流に基づいて前記検出電圧を提供することを特徴とする請求項1に記載の温度検出回路。 - 前記温度状態は、前記センサーの抵抗と、前記ほぼ一定のパラメータおよび前記抵抗器の抵抗の関数と、の比較により判定されることを特徴とする請求項11に記載の温度検出回路。
- 前記ICチップは、前記電流ミラーと接続されるとともに、前記第1電流および第2電流の電流路を使用可能および使用不能に動作可能なスイッチング回路をさらに具備することを特徴とする請求項11に記載の温度検出回路。
- 前記ICチップは、前記検出電圧をデジタル信号へ変換可能なアナログ−デジタルコンバータ(ADC)をさらに具備することを特徴とする請求項1に記載の温度検出回路。
- 方法であって、
センサーを通って流れている第1電流と、抵抗器を通って流れている第2電流と、の電流比を集積回路(IC)チップのほぼ一定であるパラメータと等しくなるように維持するステップと、
温度を示している検出電圧と、温度しきい値を示しているしきい値電圧と、を比較するステップと、
前記比較結果に従って、温度状態を示している温度検出信号を生成するステップと、
を具備し、
前記抵抗器は、前記ICチップと外部に接続されていることを特徴とする方法。 - 前記しきい値電圧として前記抵抗器にかかる電圧を使用するステップと、
前記センサーにより、前記検出電圧を提供するステップと、
を更に具備することを特徴とする請求項15に記載の方法。 - 前記温度検出信号は、前記センサーの抵抗と、前記ほぼ一定のパラメータおよび前記抵抗器の抵抗の関数との比較により判定されることを特徴とする請求項16に記載の方法。
- 基準電圧源により基準電圧を生成するステップと、
前記抵抗器により、前記第2電流を生成するために前記基準電圧を印加するステップと、
前記ほぼ一定のパラメータにしたがって前記第1電流を生成するために前記第2電流をミラーするステップと、
前記センサーにより前記第1電流に基づいて前記検出電圧を提供するステップと、
をさらに具備することを特徴とする請求項15に記載の方法。 - 前記温度検出信号は、前記センサーの抵抗と、前記しきい値電圧、前記基準電圧、前記ほぼ一定のパラメータ、および前記抵抗器の抵抗の関数との比較により判定されることを特徴とする請求項18に記載の方法。
- 前記第1電流および第2電流の電流路を使用可能および使用不可能にするステップをさらに具備することを特徴とする請求項15に記載の方法。
- 前記検出電圧をデジタル信号に変換するステップをさらに具備することを特徴とする請求項15に記載の方法。
- 基準電圧源により前記しきい値電圧を生成するステップと、
前記センサーにより前記第1電流を生成するために前記しきい値電圧を印加するステップと、
前記ほぼ一定のパラメータにしたがって前記第2電流を生成するために前記第1電流をミラーするステップと、
前記抵抗器にかかる電圧を前記検出電圧として使用するステップと、
をさらに具備することを特徴とする請求項15に記載の方法。 - 前記温度検出信号は、前記センサーの電圧と、前記ほぼ一定のパラメータおよび前記抵抗器の抵抗の関数との比較により判定されることを特徴とする請求項22に記載の方法。
- 電子装置であって、
電源と、
前記電源と接続されるとともに、前記電源から電力を受取り可能な負荷と、
前記電源と接続されるとともに、前記電源の温度を検出可能な温度検出回路と、
を具備し、
前記温度検出回路は、
ICチップと、
センサーおよび抵抗器を含む前記ICチップの周辺要素と、
を具備し、
前記ICチップは、前記センサーを通って流れている電流と、前記抵抗器を通って流れている電流との電流比をほぼ一定であるパラメータと等しくなるように維持し、
前記電源の前記温度が温度しきい値に達する場合には、前記センサーの抵抗は、前記抵抗器の抵抗および前記ほぼ一定のパラメータにより決定される関数と等しいことを特徴とする電子装置。 - 前記ICチップは、前記抵抗器にかかる基準電圧および前記温度しきい値を示しているしきい値電圧を生成可能な基準電圧源を具備し、
前記関数は、前記基準電圧および前記しきい値電圧によりさらに決定されることを特徴とする請求項24に記載の電子装置。 - 前記温度検出回路は、通常状態、過熱状態、温度不足状態からなるグループから選択される温度状態を示している温度検出信号を提供可能であることを特徴とする請求項24に記載の電子装置。
- 前記センサーは、負温度係数(NTC)サーミスタ、正温度係数(PTC)サーミスタ、熱伝対、抵抗温度検出器(RTD)、およびIC温度センサーからなるグループから選択される構成要素を具備することを特徴とする請求項24に記載の電子装置。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US16901509P | 2009-04-14 | 2009-04-14 | |
US61/169,015 | 2009-04-14 | ||
US12/751,432 | 2010-03-31 | ||
US12/751,432 US8376611B2 (en) | 2009-04-14 | 2010-03-31 | Circuits and methods for temperature detection |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010249817A true JP2010249817A (ja) | 2010-11-04 |
JP5577141B2 JP5577141B2 (ja) | 2014-08-20 |
Family
ID=42933898
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010092237A Active JP5577141B2 (ja) | 2009-04-14 | 2010-04-13 | 温度検出のための回路及び方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8376611B2 (ja) |
JP (1) | JP5577141B2 (ja) |
CN (1) | CN101865733B (ja) |
TW (1) | TWI403704B (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013066133A (ja) * | 2011-09-20 | 2013-04-11 | Rohm Co Ltd | 電圧検出回路、それを用いた温度検出回路、電子機器 |
KR200470912Y1 (ko) | 2012-08-03 | 2014-01-16 | 엑셀리언스 엠오에스 코포레이션 | 전력변환장치 |
KR101867871B1 (ko) * | 2016-11-18 | 2018-06-18 | (주)알앤에스랩 | 히터 상태 검출 장치 |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8182139B2 (en) * | 2008-05-30 | 2012-05-22 | Apple Inc. | Calibration of temperature sensing circuitry in an electronic device |
CN102906387B (zh) * | 2009-12-24 | 2016-01-20 | 英瑞杰汽车系统研究公司 | 配备自调节加热元件的储液池和罐 |
TWI460409B (zh) | 2011-03-31 | 2014-11-11 | Global Unichip Corp | 溫度量測電路及溫度量測方法 |
CN103460159B (zh) * | 2011-04-11 | 2016-06-08 | 索尼电脑娱乐公司 | 半导体集成电路 |
TWI440835B (zh) * | 2011-08-08 | 2014-06-11 | Holtek Semiconductor Inc | 數位溫度訊號產生裝置及其產生方法 |
US9007033B2 (en) * | 2011-08-23 | 2015-04-14 | O2Micro, Inc. | Battery temperature detection and parasitic resistance compensation system |
ITMI20111591A1 (it) * | 2011-09-05 | 2013-03-06 | St Microelectronics Srl | Dispositivo di sensing di temperatura e metodo per generare un segnale rappresentativo della temperatura di un ambiente |
KR20130059003A (ko) * | 2011-11-28 | 2013-06-05 | 삼성전자주식회사 | 반도체 테스트 보드 및 반도체 보드 |
CN102984326A (zh) * | 2012-11-08 | 2013-03-20 | 深圳桑菲消费通信有限公司 | 一种移动终端及其电池检测方法 |
CN104283189A (zh) * | 2013-07-10 | 2015-01-14 | 鸿富锦精密电子(天津)有限公司 | 过流保护电路 |
KR101504429B1 (ko) * | 2013-09-02 | 2015-03-19 | 엘에스산전 주식회사 | 네거티브 온도 계수 서미스터를 이용한 온도 측정 장치 |
CN104571196B (zh) * | 2014-03-04 | 2018-01-12 | 湖南新韶光电器有限公司 | 一种时间和温度可控的电加热管 |
US10269417B2 (en) * | 2014-03-05 | 2019-04-23 | Intel Corporation | Apparatus for adaptive write assist for memory |
CN105320015A (zh) * | 2014-06-03 | 2016-02-10 | 中国科学院微电子研究所 | 一种基于微控制器的过温预警和过温保护方法和装置 |
CN104821552B (zh) * | 2014-10-20 | 2018-04-27 | 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司 | 过温保护方法、电路以及带该电路的线性驱动电路 |
CN107076620B (zh) * | 2014-11-11 | 2019-08-13 | 住友电气工业株式会社 | 温度检测装置 |
CN104714184B (zh) * | 2015-03-12 | 2017-11-10 | 惠州Tcl移动通信有限公司 | 通过单引脚检测电池id和电池温度的检测装置及方法 |
CN104748877B (zh) * | 2015-04-08 | 2017-06-23 | 深圳市航盛电子股份有限公司 | 一种温度传感器的线性信号采集电路及其系统 |
US10337932B2 (en) * | 2015-09-25 | 2019-07-02 | Oracle International Corporation | Adaptive method for calibrating multiple temperature sensors on a single semiconductor die |
US20180321092A1 (en) * | 2015-11-18 | 2018-11-08 | Pst Sensors (Proprietary) Limited | Digital sensor |
CN105784179B (zh) * | 2016-03-17 | 2017-06-16 | 深圳慧能泰半导体科技有限公司 | 一种温度检测电路 |
US10582854B2 (en) * | 2016-08-05 | 2020-03-10 | Vital Connect, Inc. | Temperature sensor for measuring thermistor resistance |
US10908029B2 (en) * | 2018-01-02 | 2021-02-02 | Nxp B.V. | Voltage and temperature monitoring in power supplies |
US20190317868A1 (en) * | 2018-04-17 | 2019-10-17 | Maxim Integrated Products, Inc. | Systems and methods for real-time fault detection |
JP6958499B2 (ja) * | 2018-07-09 | 2021-11-02 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置および電力変換装置 |
CN109028517B (zh) * | 2018-07-31 | 2020-10-20 | 广东美的制冷设备有限公司 | 过滤网洁净度的检测方法、空调器及计算机可读存储介质 |
TWI698130B (zh) * | 2018-12-20 | 2020-07-01 | 瑞昱半導體股份有限公司 | 溫度計算參數提供電路、溫度計算參數提供方法以及溫度監控方法 |
EP3742139B1 (en) * | 2019-05-21 | 2022-12-21 | ABB Schweiz AG | Testing method for non-invasive temperature measuring instruments |
CN110553747A (zh) * | 2019-08-30 | 2019-12-10 | 华为技术有限公司 | 检测电气设备热失控的装置、方法及系统 |
CN113625541B (zh) * | 2020-05-06 | 2024-05-10 | 圣邦微电子(北京)股份有限公司 | 一种用于片上检测的控制系统及控制方法 |
CN116304956B (zh) * | 2023-05-15 | 2023-08-15 | 济宁市质量计量检验检测研究院(济宁半导体及显示产品质量监督检验中心、济宁市纤维质量监测中心) | 一种芯片温度异常在线检测方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06258145A (ja) * | 1993-03-09 | 1994-09-16 | Hitachi Ltd | 温度モニタ回路 |
JP2001304979A (ja) * | 2000-04-20 | 2001-10-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 温度検出回路 |
JP2006349417A (ja) * | 2005-06-14 | 2006-12-28 | Hitachi Ltd | ソレノイド駆動用トランジスタの温度異常検出装置 |
JP2007225477A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Elpida Memory Inc | 温度検出回路、及び、半導体装置 |
JP2008039451A (ja) * | 2006-08-02 | 2008-02-21 | Sony Corp | 温度検出回路およびその試験方法、並びに半導体装置 |
JP2008216234A (ja) * | 2007-02-07 | 2008-09-18 | Denso Corp | 温度検出回路 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5574222A (en) * | 1978-11-30 | 1980-06-04 | Nec Corp | Temperature compensation circuit for crystal oscillator |
US4316080A (en) * | 1980-02-29 | 1982-02-16 | Theodore Wroblewski | Temperature control devices |
US4454483A (en) * | 1982-03-25 | 1984-06-12 | Cubic Corporation | Temperature compensation of an oscillator by fractional cycle synthesis |
US5546041A (en) * | 1993-08-05 | 1996-08-13 | Massachusetts Institute Of Technology | Feedback sensor circuit |
JPH08329992A (ja) * | 1995-05-29 | 1996-12-13 | Saitama Nippon Denki Kk | 電池パックと充電器 |
JP4322024B2 (ja) * | 2002-03-11 | 2009-08-26 | ローム株式会社 | 温度センサ |
US6870357B1 (en) * | 2002-11-21 | 2005-03-22 | National Semiconductor Corporation | Method and apparatus for determining the temperature of a junction using voltage responses of the junction and a correction factor |
US7309157B1 (en) * | 2004-09-28 | 2007-12-18 | National Semiconductor Corporation | Apparatus and method for calibration of a temperature sensor |
US7252432B1 (en) * | 2004-10-27 | 2007-08-07 | National Semiconductor Corporation | Efficient method of sharing diode pins on multi-channel remote diode temperature sensors |
KR100582742B1 (ko) * | 2004-12-21 | 2006-05-22 | 인티그런트 테크놀로지즈(주) | 기준 전류 발생 회로 |
JP4768339B2 (ja) * | 2005-07-15 | 2011-09-07 | 株式会社リコー | 温度検出回路およびそれを用いた発振周波数補正装置 |
US7331708B2 (en) * | 2006-02-23 | 2008-02-19 | National Semiconductor Corporation | Frequency ratio digitizing temperature sensor with linearity correction |
US7798707B2 (en) * | 2006-12-15 | 2010-09-21 | Schnaitter William N | Systems and methods for determining device temperature |
CN101349598A (zh) * | 2007-07-16 | 2009-01-21 | 旭达电脑(昆山)有限公司 | 温度检测报警电路及温度检测报警器 |
WO2009010920A2 (en) * | 2007-07-19 | 2009-01-22 | Nxp B.V. | Semi-adaptive voltage scaling for low-energy digital vlsi-design |
US7724068B1 (en) * | 2008-12-03 | 2010-05-25 | Micrel, Incorporated | Bandgap-referenced thermal sensor |
-
2010
- 2010-03-31 US US12/751,432 patent/US8376611B2/en active Active
- 2010-04-09 TW TW099111011A patent/TWI403704B/zh not_active IP Right Cessation
- 2010-04-13 JP JP2010092237A patent/JP5577141B2/ja active Active
- 2010-04-14 CN CN2010101518471A patent/CN101865733B/zh active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06258145A (ja) * | 1993-03-09 | 1994-09-16 | Hitachi Ltd | 温度モニタ回路 |
JP2001304979A (ja) * | 2000-04-20 | 2001-10-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 温度検出回路 |
JP2006349417A (ja) * | 2005-06-14 | 2006-12-28 | Hitachi Ltd | ソレノイド駆動用トランジスタの温度異常検出装置 |
JP2007225477A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Elpida Memory Inc | 温度検出回路、及び、半導体装置 |
JP2008039451A (ja) * | 2006-08-02 | 2008-02-21 | Sony Corp | 温度検出回路およびその試験方法、並びに半導体装置 |
JP2008216234A (ja) * | 2007-02-07 | 2008-09-18 | Denso Corp | 温度検出回路 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013066133A (ja) * | 2011-09-20 | 2013-04-11 | Rohm Co Ltd | 電圧検出回路、それを用いた温度検出回路、電子機器 |
KR200470912Y1 (ko) | 2012-08-03 | 2014-01-16 | 엑셀리언스 엠오에스 코포레이션 | 전력변환장치 |
KR101867871B1 (ko) * | 2016-11-18 | 2018-06-18 | (주)알앤에스랩 | 히터 상태 검출 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101865733A (zh) | 2010-10-20 |
US20100259313A1 (en) | 2010-10-14 |
TWI403704B (zh) | 2013-08-01 |
JP5577141B2 (ja) | 2014-08-20 |
TW201042245A (en) | 2010-12-01 |
US8376611B2 (en) | 2013-02-19 |
CN101865733B (zh) | 2012-07-04 |
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