TWI460409B - 溫度量測電路及溫度量測方法 - Google Patents

Description

溫度量測電路及溫度量測方法

本發明係關於一種溫度量測方法及溫度量測電路，尤指一種利用負溫度係數特性來補償因為參考電壓的誤差造成正溫度係數特性量測上的錯誤之溫度量測方法及溫度量測電路。

溫度測量應用非常廣泛，不僅生產製程需要溫度控制，有些電子產品還需對它們自身的溫度進行測量，如電腦要監控CPU的溫度，馬達控制器要知道功率驅動IC的溫度等等。

然而，目前的溫度感測器大都採用正溫度係數電壓的量測方式，其電壓值隨著溫度上升而呈線性上升，因此，在量測某一點的溫度時，若是存在電壓誤差，則採用正溫度係數電壓的量測方式所量測出來的溫度就會不精確且溫度偏高，例如若存在+1%的電壓誤差，則所量測溫度的誤差大約是2～4℃。因此，如何讓溫度感測器可以更精確，實為此一領域的重要課題之一。

因此，本發明的目的之一在於提出一種利用負溫度係數特性來補償因為參考電壓的誤差造成正溫度係數特性量測上的錯誤之溫度量測方法及溫度量測電路，以解決上述之問題。

本發明係揭露一種溫度量測電路包含有一感測單元以及一溫度轉換單元。一感測單元，用以依據溫度來產生一正溫度係數特性以及一負溫度係數特性；該溫度轉換單元耦接於該感測單元，用來依據該正溫度係數特性以及該負溫度係數特性來產生一量測溫度。

本發明係另揭露一種該溫度轉換單元包含有一對應單元，用以將該正溫度係數特性之數位值以及該負溫度係數特性之數位值對應成相對於該正溫度係數特性之一第一溫度值以及相對於該負溫度係數特性之一第二溫度值；一決定單元，耦接於該對應單元，用來依據該第一溫度值或該第二溫度值來決定與該正溫度係數特性相關之一第一係數以及與該負溫度係數特性相關之一第二係數；以及一校正單元，耦接於該對應單元以及該決定單元，用來依據該第一溫度值、該第二溫度值、該第一係數以及該第二係數來計算該量測溫度。

本發明係另揭露一種溫度量測方法，包含有下列步驟：依據溫度來產生一正溫度係數特性以及一負溫度係數特性；以及依據該正溫度係數特性以及該負溫度係數特性來產生一量測溫度。

相較於先前技藝，本發明之優點在於只需簡單的運算就能利用該負溫度係數特性來補償因為該參考電壓的誤差造成該正溫度係數特性量測上的錯誤，使得溫度可以更精確地算出。

在說明書及後續的申請專利範圍當中使用了某些詞彙來指稱特定的元件。所屬領域中具有通常知識者應可理解，硬體製造商可能會用不同的名詞來稱呼同樣的元件。本說明書及後續的申請專利範圍並不以名稱的差異來作為區分元件的方式，而是以元件在功能上的差異來作為區分的準則。在通篇說明書及後續的請求項當中所提及的「包含」係為一開放式的用語，故應解釋成「包含但不限定於」。另外，「耦接」一詞在此係包含任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述一第一裝置耦接於一第二裝置，則代表該第一裝置可直接電氣連接於該第二裝置，或透過其他裝置或連接手段間接地電氣連接至該第二裝置。

請參考第1圖，第1圖為本發明顯示一溫度量測電路100之第一實施例的示意圖。溫度量測電路100包含有(但不侷限於)一感測單元110、一溫度轉換單元140。感測單元110用以依據溫度來產生一正溫度係數特性PC以及一負溫度係數特性NC，其中正溫度係數特性PC係為一正溫度係數電壓ΔVbe或一正溫度係數電流，而負溫度係數特性NC係為一負溫度係數電壓Vbe或一負溫度係數電流，在此實施例中，正溫度係數特性PC以及負溫度係數特性NC分別以正溫度係數電壓ΔVbe以及負溫度係數電壓Vbe來舉例說明，但此並非本發明之限制條件，其中負溫度係數電壓Vbe其電壓值隨著溫度上升而呈線性下降，而正溫度係數電壓ΔVbe其電壓值隨著溫度上升而呈線性上升，請注意，感測單元係使用一雙極性電晶體(Bipolar junction transistor，BJT)之基極-射極電壓差來產生正溫度係數電壓ΔVbe以及負溫度係數電壓Vbe，但此亦非本發明之限制條件，而使用雙極性電晶體(Bipolar junction transistor，BJT)之基極-射極電壓差來產生正溫度係數電壓ΔVbe以及負溫度係數電壓Vbe之原理係為熟知此項技藝人士所知悉，在此便不再贅述。另外，溫度轉換單元140耦接於感測單元110，用來依據正溫度係數特性PC以及負溫度係數特性NC來產生一量測溫度T，請注意，凡是依據正溫度係數特性PC以及負溫度係數特性NC來產生量測溫度T皆符合本發明之精神而落入本發明範疇。

請參考第2圖，第2圖為本發明顯示一溫度量測電路200之第二實施例的示意圖。第2圖之溫度量測電路200的架構與第1圖之溫度量測電路100類似，兩者不同之處在於溫度量測電路200之溫度轉換單元240另包含有一對應單元242、一決定單元244以及一校正單元246，以及溫度量測電路200另包含有一參考電壓產生單元220以及一類比數位轉換單元230。參考電壓產生單元220用來產生一參考電壓Vr，其中參考電壓Vr係為一個不隨溫度變化的參考電壓，在本實施例中，參考電壓產生單元220係以一能隙參考電壓電路(Bandgap Reference Circuit)來實作，但此並非本發明之限制條件，而該能隙參考電壓電路產生一個不隨溫度變化的參考電壓之原理係為熟知此項技藝人士所知悉，在此便不再贅述，此外，類比數位轉換單元230耦接於感測單元110以及參考電壓產生單元220，用來依據參考電壓Vr來將正溫度係數特性PC以及負溫度係數特性NC轉換成一正溫度係數特性之數位值PC1以及一負溫度係數特性之數位值NC1。請注意，在本實施例中，類比數位轉換單元230可以一類比數位轉換器來實作，但此並非本發明之限制條件，而利用類比數位轉換單元230來產生正溫度係數特性之數位值PC1以及負溫度係數特性之數位值NC1可以方便後續之處理，另外，類比數位轉換單元230依據正溫度係數電壓ΔVbe、負溫度係數電壓Vbe以及參考電壓Vr來產生正溫度係數特性之數位值PC1以及負溫度係數特性之數位值NC1之操作原理係為熟知此項技藝人士所知悉，在此便不再贅述。

再者，在此實施例中，對應單元242用以將正溫度係數特性之數位值PC1以及負溫度係數特性之數位值NC1對應成相對於正溫度係數特性之數位值PC1之一第一溫度值TP以及相對於負溫度係數特性之數位值NC1之一第二溫度值TN。舉例來說，對應單元242中可以有一對照表TA，對照表TA可以儲存正溫度係數特性之數位值PC1與第一溫度值TP之對應關係，以及負溫度係數特性之數位值NC1與第二溫度值NT之對應關係，例如正溫度係數特性之數位值PC為70mv時，第一溫度值TP對應至-45℃，而正溫度係數特性之數位值PC為80mv時，第一溫度值TP對應至-15℃，因此，對應單元242便可以(例如使用內差法)利用對照表TA將正溫度係數特性之數位值PC1對應成第一溫度值TP，同理，對應單元242便可以(例如使用內差法)利用對照表TA將負溫度係數特性之數位值NC1對應成第二溫度值TN。而決定單元244耦接於對應單元242，用來依據第一溫度值TP或第二溫度值TN來決定與正溫度係數特性PC相關之一第一係數KP以及與負溫度係數特性NC相關之一第二係數KN，值得注意的是，決定單元242也可以用來依據第一溫度值TP以及第二溫度值TN之平均值來決定與正溫度係數特性PC相關之第一係數KP以及與負溫度係數特性NC相關之第二係數KN，舉例來說，如果只有一組第一係數KP以及第二係數KN時，決定單元244便直接採用該組第一係數KP以及第二係數KN。在本發明另一實施例中，第一係數KP以及第二係數KN可以有複數組，例如可以每10℃有一組第一係數KP以及第二係數KN，舉例來說，在0℃時為第一係數KP0以及第二係數KN0、在10℃時為第一係數KP10以及第二係數KN10、在20℃時為第一係數KP20以及第二係數KN20，以此類推，如果對應單元242所對應的第一溫度值TP是58℃，而所對應的第二溫度值TN是48℃，決定單元244便可依據第一溫度值TP(58℃)係接近60℃來決定採用第一係數KP60以及第二係數KN60，或者決定單元244可依據第二溫度值TN(48℃)係接近50℃來決定採用第一係數KP50以及第二係數KN50，或者決定單元244也可以依據第一溫度值TP(58℃)以及第二溫度值TN(48℃)的平均值(53℃)係接近50℃來決定採用第一係數KP50以及第二係數KN50。另外，校正單元246耦接於對應單元242以及決定單元244，用來依據第一溫度值TP、第二溫度值TN、第一係數KP以及第二係數KN來計算量測溫度T，其中校正單元246係依據算式(一)來計算量測溫度T：

T=(KP×TP+KN×TN)/(KP+KN)　..............................(一)

其中T係代表該量測溫度，TP係代表該第一溫度值，TN係代表該第二溫度值，KP係代表該第一係數，以及該KN係代表該第二係數。

請參考第3圖，第3圖為本發明顯示一溫度量測電路300之第三實施例的示意圖。第3圖之溫度量測電路300的架構與第2圖之溫度量測電路200類似，兩者不同之處第3圖之溫度量測電路300另包含有一誤差溫度計算單元350以及一係數計算單元360。誤差溫度計算單元350用來計算與正溫度係數特性PC相關之一正誤差溫度ΔTP以及與負溫度係數特性NC相關之一負誤差溫度ΔTN，係數計算單元360耦接於誤差溫度計算單元350，用來依據正誤差溫度ΔTP以及負誤差溫度ΔTN來計算第一係數KP以及第二係數KN，其中該係數計算單元係依據算式(二)來決定該第一係數以及該第二係數：

KP×ΔTP+KN×ΔTN=0；..............................(二)

其中ΔTP係代表該正誤差溫度，ΔTN係代表該負誤差溫度，KP係代表該第一係數，以及KN係代表該第二係數。

接下來，舉幾個例子來說明本發明計算第一係數KP以及第二係數KN的相關運作。請參考第4A圖以及第4B圖，其中第4A圖為正溫度係數電壓的示意圖，第4B圖為負溫度係數電壓的示意圖，假設在50℃時，該正溫度係數電壓在98mV，第4A圖中對應於該正溫度係數電壓的溫度應對應至50℃，但此時若存在1%的參考電壓(Vr)誤差，使得該正溫度係數電壓的量測值增加1%(ΔVP)，因為誤差ΔVP的原因，所以此時誤差溫度計算單元350便會計算第4A圖中對應於該正溫度係數電壓的溫度TP為53℃，而正誤差溫度ΔTP為3(53-50)，相似的，在50℃時，該負溫度係數電壓在490mV，第4B圖中對應於該負溫度係數電壓的溫度應對應至50℃，但此時因為存在1%的參考電壓(Vr)誤差，使得該負溫度係數電壓的量測值增加1%(ΔVN)，因為誤差ΔVN的原因，所以誤差溫度計算單元350便會計算第4B圖中對應於該負溫度係數電壓的溫度TN為48°C，負誤差溫度ΔTN為-2(48-50)，係數計算單元360便會依據算式(二)來計算出第一係數KP50比第二係數KN50為2比3。

請注意，在此實施例中，係數計算單元360只有一組第一係數KP50以及第二係數KN50，因此，決定單元244便直接採用該組第一係數KP50以及第二係數KN50，而校正單元246便依據第一溫度值TP、第二溫度值TN、第一係數KP50以及第二係數KN50來計算量測溫度T，例如，如果溫度為50℃時，對應單元242所對應到數位值PC1之第一溫度值TP是53℃，而所對應到數位值NC1之第二溫度值TN是48℃，校正單元246依據算式(一)來計算量測溫度T=(2×53℃+3×48℃)/(2+3)=50℃。如果溫度為120℃時，對應單元242所對應到數位值PC1之第一溫度值TP是124℃，而所對應到數位值NC1之第二溫度值TN是118.5℃，則校正單元246依據算式(一)來計算量測溫度T=(2×124+3×118.5)/(2+3)=120.7℃。也就是說，不論所量測的溫度範圍，本發明只需一組第一係數KP以及第二係數KN就可量測出相對精確的溫度。

請注意，上述利用正溫度係數電壓以及負溫度係數電壓來計算第一係數KP以及第二係數KN僅是本發明之一實施例，並不是本發明之限制條件，在本發明其他實施例中，也可使用正溫度係數電流以及負溫度係數電流來計算第一係數KP以及第二係數KN。另外，第一係數KP50以及第二係數KN50係在50℃時所計算出來的，但僅是用來舉例說明本發明的實施例，並非本發明之限制條件，依據上述計算第一係數KP50以及第二係數KN50的方法，本發明另可在0℃時計算第一係數KP0以及第二係數KN0、在10℃時為第一係數KP10以及第二係數KN10、在20℃時為第一係數KP20以及第二係數KN20，以此類推，以讓決定單元242依據第一溫度值TP或第二溫度值TN來決定更適當的第一係數KP以及第二係數KN。因此，凡是依據第一溫度值TP、第二溫度值TN、第一係數KP以及第二係數KN來計算量測溫度T皆符合本發明之精神而落入本發明範疇。此外，算式(一)以及算式(二)係為簡單的運算，因此，本發明只需簡單的運算就能利用負溫度係數電壓Vbe來補償因為參考電壓的誤差造成正溫度係數電壓ΔVbe量測上的錯誤，而精確地算出量測溫度T。

請參考第5圖，第5圖為本發明一種溫度量測方法之一第一操作範例的流程圖，其包含(但不侷限於)以下的步驟(請注意，假若可獲得實質上相同的結果，則這些步驟並不一定要遵照第5圖所示的執行次序來執行)：

步驟S500：開始。

步驟S510：依據溫度來產生一正溫度係數特性以及一負溫度係數特性。

步驟S520：依據該正溫度係數特性以及該負溫度係數特性來產生一量測溫度。

請搭配第5圖所示之各步驟以及第1圖所示之各元件即可了解各元件如何運作，為簡潔起見，故於此不再贅述。

請參考第6圖，第6圖為本發明一種溫度量測方法之一第二操作範例的流程圖，其包含(但不侷限於)以下的步驟(請注意，假若可獲得實質上相同的結果，則這些步驟並不一定要遵照第6圖所示的執行次序來執行)：

步驟S600：開始。

步驟S610：依據溫度來產生一正溫度係數特性以及一負溫度係數特性。

步驟S620：產生一參考電壓。

步驟S630：依據該參考電壓來將該正溫度係數特性以及該負溫度係數特性轉換成一正溫度係數特性之數位值以及一負溫度係數特性之數位值。

步驟S640：將該正溫度係數特性之數位值以及該負溫度係數特性之數位值對應成相對於該正溫度係數特性之一第一溫度值以及相對於該負溫度係數特性之一第二溫度值。

步驟S650：依據該第一溫度值或該第二溫度值來決定與該正溫度係數特性相關之一第一係數以及與該負溫度係數特性相關之一第二係數。

步驟S660：依據該第一溫度值、該第二溫度值、該第一係數以及該第二係數來計算該量測溫度。

請搭配第6圖所示之各步驟以及第2圖所示之各元件即可了解各元件如何運作，為簡潔起見，故於此不再贅述。

請參考第7圖，第7圖為本發明一種溫度量測方法之一第三操作範例的流程圖，其包含(但不侷限於)以下的步驟(請注意，假若可獲得實質上相同的結果，則這些步驟並不一定要遵照第7圖所示的執行次序來執行)：

步驟S600：開始。

步驟S610：依據溫度來產生一正溫度係數特性以及一負溫度係數特性。

步驟S712：計算與該正溫度係數特性相關之一正誤差溫度以及與該負溫度係數特性相關之一負誤差溫度。

步驟S714：依據該正誤差溫度以及該負誤差溫度來計算一第一係數以及一第二係數。

步驟S620：產生一參考電壓。

步驟S630：依據該參考電壓來將該正溫度係數特性以及該負溫度係數特性轉換成一正溫度係數特性之數位值以及一負溫度係數特性之數位值。

步驟S640：將該正溫度係數特性之數位值以及該負溫度係數特性之數位值對應成相對於該正溫度係數特性之一第一溫度值以及相對於該負溫度係數特性之一第二溫度值。

步驟S650：依據該第一溫度值或該第二溫度值來決定與該正溫度係數特性相關之第一係數以及與該負溫度係數特性相關之第二係數。

步驟S660：依據該第一溫度值、該第二溫度值、該第一係數以及該第二係數來計算該量測溫度。

請搭配第7圖所示之各步驟以及第3圖所示之各元件即可了解各元件如何運作，為簡潔起見，故於此不再贅述。

上述各流程之步驟僅為本發明所舉可行的實施例，並非限制本發明的限制條件，且在不違背本發明之精神的情況下，該些方法可另包含其他的中間步驟或者可將幾個步驟合併成單一步驟，以做適當之變化。

以上所述的實施例僅用來說明本發明之技術特徵，並非用來侷限本發明之範疇。由上可知，本發明提供一種利用負溫度係數電壓來補償因為參考電壓的誤差造成正溫度係數電壓量測上的錯誤之溫度量測方法及溫度量測電路，只需使用在某一溫度下的該第一係數以及該第二係數，就能夠更精確的量測該溫度，另外，本發明之另一優點係只需簡單的運算就能算出相對精確的溫度。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

100、200、300．．．溫度量測電路

110．．．感測單元

220．．．參考電壓產生單元

230．．．類比數位轉換單元

140、240．．．溫度轉換單元

242．．．對應單元

244．．．決定單元

246．．．校正單元

350．．．誤差溫度計算單元

360．．．係數計算單元

第1圖為本發明顯示一溫度量測電路之第一實施例的示意圖。

第2圖為本發明顯示一溫度量測電路之第二實施例的示意圖。

第3圖為本發明顯示一溫度量測電路之第三實施例的示意圖。

第4A圖為正溫度係數電壓的示意圖。

第4B圖為負溫度係數電壓的示意圖。

第5圖為本發明一種溫度量測方法之一第一操作範例的流程圖。

第6圖為本發明一種溫度量測方法之一第二操作範例的流程圖。

第7圖為本發明一種溫度量測方法之一第三操作範例的流程圖。

100‧‧‧溫度量測電路

110‧‧‧感測單元

140‧‧‧溫度轉換單元

Claims (19)

1. 一種溫度量測電路，包含有：一感測單元，用以依據溫度來產生一正溫度係數特性以及一負溫度係數特性；一類比數位轉換單元，耦接於該感測單元，將該正溫度係數特性以及該負溫度係數特性轉換成一正溫度係數特性之數位值以及一負溫度係數特性之數位值；以及一溫度校正單元，耦接於該類比數位轉換單元，用來對該正溫度係數特性之數位值以及該負溫度係數特性之數位值進行運算，來計算出一量測溫度。
2. 如申請專利範圍第1項所述之溫度量測電路，另包含有：一參考電壓產生單元，用來產生一參考電壓；其中該類比數位轉換單元係耦接於該感測單元以及該參考電壓產生單元之間。
3. 如申請專利範圍第1項所述之溫度量測電路，其中該溫度校正單元包含有：一對應單元，用以將該正溫度係數特性之數位值以及該負溫度係數特性之數位值對應成相對於該正溫度係數特性之一第一溫度值以及相對於該負溫度係數特性之一第二溫度值；一決定單元，耦接於該對應單元，用來依據該第一溫度值或該第二溫度值來決定與該正溫度係數特性相關之一第一係數以及 與該負溫度係數特性相關之一第二係數；以及一運算單元，耦接於該對應單元以及該決定單元，用來依據該第一溫度值、該第二溫度值、該第一係數以及該第二係數來計算該量測溫度。
4. 如申請專利範圍第3項所述之溫度量測電路，其中該決定單元另用來依據該第一溫度值以及該第二溫度值之平均值來決定與該正溫度係數特性相關之該第一係數以及與該負溫度係數特性相關之該第二係數。
5. 如申請專利範圍第3項所述之溫度量測電路，其中該溫度量測電路另包含有：一誤差溫度計算單元，用來計算與該正溫度係數特性相關之一正誤差溫度以及與該負溫度係數特性相關之一負誤差溫度；以及一係數計算單元，耦接於誤差溫度計算單元，用來依據該正誤差溫度以及該負誤差溫度來計算該第一係數以及該第二係數。
6. 如申請專利範圍第5項所述之溫度量測電路，其中該係數計算單元係依據以下算式來決定該第一係數以及該第二係數：KP×△TP+KN×△TN=0；其中△TP係代表該正誤差溫度，△TN係代表該負誤差溫度，KP係代表該第一係數，以及KN係代表該第二係數。
7. 如申請專利範圍第6項所述之溫度量測電路，其中該運算單元係依據以下算式來決定該量測溫度：T=(KP×TP+KN×TN)/(KP+KN)；其中T係代表該量測溫度，TP係代表該第一溫度值，TN係代表該第二溫度值，KP係代表該第一係數，以及該KN係代表該第二係數。
8. 如申請專利範圍第1項所述之溫度量測電路，其中該感測單元係使用雙極性電晶體(Bipolar junction transistor，BJT)來產生該正溫度係數特性以及該負溫度係數特性。
9. 如申請專利範圍第2項所述之溫度量測電路，其中該參考電壓產生單元係為一能隙參考電壓電路(Bandgap Reference Circuit)，用來產生一不隨溫度變化的參考電壓。
10. 如申請專利範圍第1項所述之溫度量測電路，其中該正溫度係數特性係為一正溫度係數電壓或一正溫度係數電流以及該負溫度係數特性係為一負溫度係數電壓或一負溫度係數電流。
11. 一種溫度量測方法，包含有：產生一參考電壓；依據溫度來產生一正溫度係數特性以及一負溫度係數特性； 依據該參考電壓來將該正溫度係數特性以及該負溫度係數特性轉換成一正溫度係數特性之數位值以及一負溫度係數特性之數位值；以及對該正溫度係數特性之數位值以及該負溫度係數特性之數位值進行運算，來計算出一量測溫度。
12. 如申請專利範圍第11項所述之溫度量測方法，其中對該正溫度係數特性之數位值以及該負溫度係數特性之數位值進行運算來計算出該量測溫度之步驟包含有：將該正溫度係數特性之數位值以及該負溫度係數特性之數位值對應成相對於該正溫度係數特性之一第一溫度值以及相對於該負溫度係數特性之一第二溫度值；依據該第一溫度值或該第二溫度值來決定與該正溫度係數特性相關之一第一係數以及與該負溫度係數特性相關之一第二係數；以及依據該第一溫度值、該第二溫度值、該第一係數以及該第二係數來計算該量測溫度。
13. 如申請專利範圍第12項所述之溫度量測方法，其中依據該第一溫度值或該第二溫度值來決定與該正溫度係數特性相關之該第一係數以及與該負溫度係數特性相關之該第二係數之步驟另包含有：依據該第一溫度值以及該第二溫度值之平均值來決定與該正溫 度係數特性相關之該第一係數以及與該負溫度係數特性相關之該第二係數。
14. 如申請專利範圍第11項所述之溫度量測方法，其中依據該正溫度係數特性之數位值以及該負溫度係數特性之數位值進行運算來計算出該量測溫度之步驟另包含有：計算與該正溫度係數特性相關之一正誤差溫度以及與該負溫度係數特性相關之一負誤差溫度；以及依據該正誤差溫度以及該負誤差溫度來計算該第一係數以及該第二係數。
15. 如申請專利範圍第14項所述之溫度量測方法，其中依據該正溫度係數特性以及該負溫度係數特性來計算該第一係數以及該第二係數之步驟係依據以下算式來決定該第一係數以及該第二係數：KP×△TP+KN×△TN=0；其中△TP係代表該正誤差溫度，△TN係代表該負誤差溫度，KP係代表該第一係數，以及KN係代表該第二係數。
16. 如申請專利範圍第15項所述之溫度量測方法，其中依據該第一溫度值、該第二溫度值、該第一係數以及該第二係數來計算該量測溫度之步驟係依據以下算式來決定該量測溫度：T=(KP×TP+KN×TN)/(KP+KN)； 其中T係代表該量測溫度，TP係代表該正溫度，TN係代表該負溫度，KP係代表該第一係數，以及該KN係代表該第二係數。
17. 如申請專利範圍第11項所述之溫度量測方法，其中該正溫度係數特性以及該負溫度係數特性係使用雙極性電晶體(Bipolar junction transistor，BJT)來產生。
18. 如申請專利範圍第11項所述之溫度量測方法，其中該參考電壓係為一不隨溫度變化的參考電壓。
19. 如申請專利範圍第11項所述之溫度量測方法，其中該正溫度係數特性係為一正溫度係數電壓或一正溫度係數電流以及該負溫度係數特性係為一負溫度係數電壓或一負溫度係數電流。