JP2010219389A - ステージ装置、半導体検査装置、及び半導体露光装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】一層の小型化が可能なステージ装置を提供する。
【解決手段】ステージ装置1は、定盤2上を移動するY軸移動体4と、Y軸移動体4を駆動するY軸シャフトモータ14A,14Bと、Y軸移動体定盤2上で支持する転がりガイド11及びY軸リフトエアパッド12と、を備えている。Y軸シャフトモータ14A,14Bは、定盤2の盤面2aと間に空間A1,A2が形成されるように定盤2にそれぞれ固定されたY軸シャフト部21A,21Bと、Y軸移動体4にそれぞれ固定されたY軸コイル部22A,22Bと、を有している。このステージ装置1においては、かかる空間A1,A2に、転がりガイド11及びY軸リフトエアパッド12の少なくとも一部が入り込んでいることから、Y軸シャフトモータ14A,14Bを備えたことによる空間構成が好適なものとなり、フットプリントを小さくすることができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、ステージ装置、並びにステージ装置を備えた半導体検査装置及び半導体露光装置に関する。
従来のステージ装置としては、定盤上を移動する移動体と、移動体を駆動するシャフトモータと、移動体を定盤上で支持する支持部と、を備えたものが知られている(例えば、特許文献1参照)。このようなステージ装置は、シャフトモータが支持部の側方に配置されて構成されている。
特開2005−347310号公報
ここで、上述したようなステージ装置においては、そのフットプリント(ステージ装置の設置面積)を小さくすることが望まれており、一層の小型化が要求されている。
そこで、本発明は、一層の小型化が可能なステージ装置を提供することを課題とする。
上記課題を解決するため、本発明に係るステージ装置は、定盤上を移動する移動体と、移動体を駆動するシャフトモータと、移動体を定盤上で支持する支持手段と、を備え、シャフトモータは、定盤との間に空間が形成されるように定盤に固定されたシャフト部と、移動体に固定されシャフト部に沿って可動な可動部と、を有しており、支持部は、その少なくとも一部が空間に入り込んでいることを特徴とする。
このステージ装置では、定盤に固定されたシャフト部と定盤との間の空間に支持手段の少なくとも一部が入り込んでいる。よって、例えばシャフトモータが支持手段の側方に配置されている場合に比べ、ステージ装置のフットプリントを小さくすることができ、一層の小型化が可能となる。
また、支持手段は、移動体を定盤に対して非接触で支持するエアパッドである場合がある。さらにまた、支持手段は、移動体の移動をガイドする転がりガイドである場合がある。
また、移動体は、定盤に支持されY軸方向に移動するY軸移動体であり、Y軸移動体は、定盤に支持されX軸方向に移動するX軸移動体の移動をガイドするように構成されていることが好ましい。このように、X軸移動体及びY軸移動体の双方が定盤に支持され、且つX軸移動体の移動がY軸移動体にガイドされるステージ装置(いわゆる、サーフェス型ステージ装置)の場合、その構造上、フットプリントが大きくなり水平方向に大型化し易い。よって、この場合、ステージ装置のフットプリントを小さくして一層の小型化を実現する上記効果は、特に有効なものとなる。
また、本発明に係る半導体検査装置は、上記のステージ装置を備えたことを特徴とする。さらにまた、本発明に係る半導体露光装置は、上記のステージ装置を備えたことを特徴とする。これら半導体検査装置及び半導体露光装置においても、ステージ装置を一層の小型化するという上記作用効果が奏される。
本発明によれば、ステージ装置の一層の小型化が可能となる。
本発明の一実施形態に係るXYステージ装置を示す斜視図である。 図1のXYステージ装置を示す側面図である。 図1のIII−III線に沿っての断面図である。 図1のIV−IV線に沿っての断面図である。 図1のY軸移動体の定盤側を示す斜視図である。 図1の転がりガイドを示すための図1のIII−III線に沿っての拡大概略断面図である。 図1のY軸リフトエアパッドを示すための図1のIII−III線に沿っての拡大概略断面図である。
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、以下の説明においては同一又は相当要素には同一符号を付し、重複する説明は省略する。
図1は本発明の一実施形態に係るXYステージ装置を示す斜視図、図2は図1のXYステージ装置を示す側面図、図3は図1のIII−III線に沿っての断面図、図4は図1のIV−IV線に沿っての断面図、図5は図1のY軸移動体の定盤側を示す斜視図である。
図1〜3に示すように、本実施形態のXYステージ装置(ステージ装置)1は、半導体を検査するための半導体検査装置、又は半導体を露光するための半導体露光装置に使用されるものである。このステージ装置1は、定盤2、X軸移動体3及びY軸移動体(移動体)4を備え、X軸移動体3及びY軸移動体4の双方が共に定盤2に支持されて該定盤2上を移動するいわゆるサーフェス型ステージである。
定盤2は、長方体状を呈しており、例えば石材で形成されている。この定盤2の盤面2aは、平面加工が施されてその平面度が高められている。
X軸移動体3は、矩形環状断面の板状を呈しており、定盤2上において水平方向の一方向であるX軸方向に移動するものである。このX軸移動体3は、図5に示すように、その下面側に取り付けられたX軸リフトエアパッド5によって、盤面2aに鉛直方向であるZ軸方向に非接触で支持され、盤面2a上を非接触で滑走可能となっている。
このX軸移動体3は、図4に示すように、Y軸移動体4のガイドビーム9(後述)に外挿されると共に、その内面側に設けられたヨーエアパッド6によってガイドビーム9の両側面9c,9cを非接触で挟み込むように構成されている。これにより、X軸移動体3は、ガイドビーム9に沿って移動可能とされ、X軸方向に沿って移動可能となっている。
X軸リフトエアパッド5は、定盤2に向けて気体を噴出する気体静圧軸受として機能するものであり、図5に示すように、X軸移動体3の安定度を高めるべく静定状態で支持するため、3つ設けられている。このX軸リフトエアパッド5は、プリロード調整が可能とされている。具体的には、X軸リフトエアパッド5のパッド部7の下面に形成された吸入孔(不図示)によって、盤面2aに対して所望の吸着力で真空吸着が可能となっている。これにより、X軸移動体3は、Z軸方向の変位が抑制されている。
ヨーエアパッド6は、ガイドビーム9に向けて気体を噴出する気体静圧軸受として機能するものであり、X軸移動体3の内面側においてガイドビーム9を介して対向する位置に2対(計4つ)設けられている。
図1に戻り、Y軸移動体4は、定盤2上において水平方向におけるX軸方向の直交方向であるY軸方向に移動すると共に、X軸移動体3のX軸方向の移動をガイドするものである。Y軸移動体4は、X軸方向に延びる柱状のガイドビーム9と、このガイドビーム9のX軸方向両端部にそれぞれ設けられた一対のステー10と、を含んでいる。
ガイドビーム9は、断面矩形状を呈し、X軸移動体3に内挿されている。このガイドビーム9は、X軸移動体3のX軸方向に沿う移動を案内するものである。
このY軸移動体4のX軸方向一端部(図示左側端部)は、転がりガイド(支持手段)11によって、盤面2aにZ軸方向に接触支持されていると共にY軸方向の移動が案内されている。また、Y軸移動体4のX軸方向他端部(図示右側端部)は、図2,3に示すように、Y軸リフトエアパッド(エアパッド,支持手段)12によって盤面2aにZ軸方向に非接触で支持され、盤面2a上を非接触で滑走可能となっている。
また、XYステージ装置1は、図1に示すように、一対のX軸シャフトモータ13A,13B、一対のY軸シャフトモータ(シャフトモータ)14A,14B、X軸リニアスケール15、一対のY軸リニアスケール16A,16B、及びコントローラ17を備えている。
X軸シャフトモータ13A,13Bは、X軸移動体3をX軸方向に駆動するためのものであり、Y軸方向に互いに離間して配置されている。X軸シャフトモータ13A,13Bは、固定子としてのX軸シャフト部18A,18Bと、可動子としての一対のX軸コイル部19A,19Bと、をそれぞれ含んで構成されている。X軸シャフト部18A,18Bは、その内部に磁石を有しており、X軸移動体3に対しY軸方向の外側位置にてX軸方向に沿ってそれぞれ延在している。そして、これらX軸シャフト部18A,18Bは、Y軸移動体4のステー10に設けられた固定ブロック20にそれぞれ固定され、Y軸移動体4に固定されている。
図4に示すように、X軸コイル部19A,19Bは、X軸シャフト部18A,18Bに沿ってそれぞれ可動するものであり、その内部にX軸シャフト部18A,18Bを取り囲むコイルをそれぞれ有している。X軸コイル部19A,19Bは、X軸シャフト部18A,18Bにそれぞれ外挿されると共に、X軸移動体3のX軸方向に沿う側面3b,3bにそれぞれ固定されている。これにより、X軸シャフトモータ13A,13Bでは、そのX軸コイル部19A,19Bに所定電流が印加されると、電磁相互作用によってX軸コイル部19A,19BがX軸方向に移動され、その結果、X軸移動体3がX軸方向に移動されることになる。
図1に示すように、Y軸シャフトモータ14A,14Bは、Y軸移動体4をY軸方向に駆動するためのものであり、X軸方向に互いに離間して配置されている。Y軸シャフトモータ14A,14Bは、固定子としてのY軸シャフト部(シャフト部)21A,21Bと、可動子としてのY軸コイル部(可動部)22A,22Bと、をそれぞれ含んで構成されている。Y軸シャフト部21A,21Bは、その内部に磁石を有しており、定盤2上におけるX軸方向の両端部において定盤2の盤面2aとの間に空間A1,A2がそれぞれ形成されるようにして、Y軸方向に沿ってそれぞれ延在している。そして、これらY軸シャフト部21A,21Bは、定盤2の四隅に設けられた固定ブロック23にそれぞれ固定され、定盤2に直接固定されている。
図3に示すように、Y軸コイル部22A,22Bは、Y軸シャフト部21A,21Bに沿ってそれぞれ可動するものであり、その内部にY軸シャフト部21A,21Bを取り囲むコイルをそれぞれ有している。Y軸コイル部22A,22Bは、Y軸シャフト部21A,21Bにそれぞれ外挿されると共に、Y軸移動体4のステー10,10にそれぞれ固定されている。これにより、Y軸シャフトモータ14A,14Bでは、そのY軸コイル部22A,22Bに所定電流が印加されると、電磁相互作用によってY軸コイル部22A,22BがY軸方向に移動され、その結果、Y軸移動体4がY軸方向に移動されることになる。また、Y軸シャフトモータ14A,14Bが互いに協動するようY軸コイル部22A,22Bに所定電流が印加されると、Y軸コイル部22A,22BがY軸方向の互いに異なる向きに移動され、その結果、Y軸移動体4がヨーイング方向に回転されることになる。
X軸リニアスケール15は、スケール24及びスケールヘッド25を有している。スケール24は、ガイドビーム9の一側面9c側においてX軸方向に沿って取り付けられており、光学的な目盛が刻まれている。スケールヘッド25は、X軸移動体3においてスケール24に対応する位置に取り付けられており、例えばスケール24の光学的な目盛に照射したレーザ光の反射光を受光してスケール24との位置関係に応じた信号を取得する。これにより、X軸リニアスケール15では、かかる信号に基づきX軸移動体3のX軸方向における位置が検出されることになる。
図3に示すように、Y軸リニアスケール16A,16Bは、X軸方向に互いに離間して配置されており、上記X軸リニアスケール15と同様に、スケール26A,26B及びスケールヘッド27A,27Bをそれぞれ有している。スケール26A,26Bは、定盤2のX方向両端部においてY軸方向に沿ってそれぞれ取り付けられており、光学的な目盛が刻まれている。スケールヘッド27A,27Bは、Y軸移動体4の各ステー10においてスケール26A,26Bに対応する位置にそれぞれ取り付けられており、例えばスケール26A,26Bに照射したレーザ光の反射光をそれぞれ受光してスケール26A,26Bとの位置関係に応じた信号を取得する。
これにより、Y軸リニアスケール16A,16Bでは、かかる信号に基づきX軸移動体3のX軸方向位置が検出されると共に、検出したY軸移動体4の位置の差に基づきY軸移動体4のヨーイング角度(ヨー誤差,回転誤差)が検出されることになる。
図1に示すように、コントローラ17は、例えばCPU、ROM、及びRAM等から構成されている。このコントローラ17は、XYステージ装置1の動作を制御するためのものであり、X軸リニアスケール15で検出したX軸移動体3のX軸方向位置に基づきX軸シャフトモータ13A,13Bの駆動を制御する。これと共に、Y軸リニアスケール16A,16Bで検出したY軸移動体4のY軸方向位置及びヨーイング角度に基づき、Y軸シャフトモータ14A,14Bの駆動を制御する(詳しくは後述)。
ここで、上述した転がりガイド11及びY軸リフトエアパッド12に関して、以下に詳細に説明する。
図6は図1の転がりガイドを示すための図1のIII−III線に沿っての拡大概略断面図であり、図7は図1のY軸リフトエアパッドを示すための図1のIII−III線に沿っての拡大概略断面図である。
図6に示すように、転がりガイド11は、Y軸移動体4のX軸方向一端部を定盤2に接触するよう支持し且つガイドする接触式のものであり、ガイドレール28と、ランナブロック29と、を備えている。
ガイドレール28は、定盤2の盤面2aのX軸方向一端部において、Y軸方向に沿って延在している。具体的には、ガイドレール28は、Y軸シャフトモータ14AのY軸シャフト部21Aよりも定盤2側に位置するように、つまり、Y軸シャフト部21Aと定盤2との間の空間A1に入り込むように、定盤2上の固定部ブロック23,23間に延設されている(図1参照)。換言すると、Y軸シャフト部21Aは、ガイドレール28上に配置されている。
ランナブロック29は、下向きに開口する断面コの字状を呈し、Y軸シャフトモータ14AのY軸シャフト部21Aよりも定盤2側に位置するように、つまり、Y軸シャフト部21Aと定盤2との間の空間A1に入り込むように、ステー10の下面10bにY軸方向に沿って2つ並設されている(図5参照)。換言すると、Y軸シャフト部21Aは、ランナブロック29上に配置されている。
このランナブロック29は、その内部に、ガイドレール28に摺動するためのローラ又はボール(不図示)が設けられ、ガイドレール28に摺動可能に係合されている。これにより、転がりガイド11は、Y軸移動体4のX軸方向一端部を、X軸及びZ軸方向に拘束しつつY軸方向に案内することになる。
また、転がりガイド11では、ガイドレール28及びランナブロック29の断面積、長さ、材質等の構成が適宜選択され、そのヨーイング方向の剛性が適宜設定されている。これにより、Y軸移動体4のヨーイング角度の制御を好適に行うべく、ヨーイング方向におけるY軸移動体4の所定弾性力が得られようになっている。
図7に示すように、Y軸リフトエアパッド12は、定盤2に向けて気体を噴出する気体静圧軸受として機能するものであり、Y軸移動体4のX軸方向他端部に1つ設けられている。このY軸リフトエアパッド12は、パッド部30と支持部31とを有している。
パッド部30は、その一部がY軸シャフトモータ14BのY軸シャフト部21Bよりも定盤2側に位置するように設けられている。つまり、Y軸リフトエアパッド12は、その少なくとも一部がY軸シャフト部21Bと定盤2との間の空間A2に入り込むように設けられている。換言すると、Y軸シャフト部21Bは、パッド部30上に配置されている。
支持部31は、Z軸方向を軸線方向とする軸体であり、Y軸移動体4及びパッド部30を互いに連結している。この支持部31においてY軸移動体4側の先端部31aは、例えばネジ結合によってY軸移動体4と連結されている。これにより、Y軸リフトエアパッド12では、そのリフト量(支持高さ)が調整可能とされている。
一方、支持部31においてパッド部30側の先端部31bは、例えば球面支持結合によってパッド部30と連結されている。具体的には、先端部31bが回動球体を有し、この回動球体が円錐状に窪む球面座32に摺動可能に嵌着されている。これにより、Y軸移動体4は、Y軸リフトエアパッド12で球面支持されることになる。
また、Y軸リフトエアパッド12は、上記X軸リフトエアパッド5と同様に、プリロード調整が可能とされている。具体的には、図5に示すように、パッド部30の下面に形成された吸入孔(不図示)によって、盤面2aに対して所望の吸着力で真空吸着が可能となっており、Y軸移動体4では、Z軸方向の変位が抑制されている。
以上のように構成されたXYステージ装置1では、X軸移動体3をX軸方向の所定位置に移動させる場合、X軸リニアスケール15でX軸移動体3のX軸方向位置が検出される。この検出値に基づいてX軸シャフトモータ13A,13BのX軸コイル部19A,19Bに印加する駆動電流がコントローラ17で制御される。これにより、X軸リフトエアパッド5によって盤面2aに非接触支持されたX軸移動体3にあっては、ヨーエアパッド6によってガイドビーム9に対し非接触にガイドされ、盤面2aを滑走するようX軸方向に可動される。
また、Y軸移動体4をY軸方向の所定位置に移動させる場合、Y軸リニアスケール16A,16BでY軸移動体4のY軸方向位置が検出される。この検出値に基づいてY軸シャフトモータ14A,14BのY軸コイル部22A,22Bに印加する駆動電流がコントローラ17で制御される。これにより、X軸方向一端部が転がりガイド11によって接触支持され且つX軸方向他端部がY軸リフトエアパッド12によって非接触支持されたY軸移動体4にあっては、そのX軸方向一端部が転がりガイド11によって接触ガイドされ、盤面2aを滑走するようY軸方向に可動される。
ここで、XYステージ装置1においては、Y軸リニアスケール16A,16Bで検出されたヨーイング角度に基づいてY軸シャフトモータ14A,14Bが協動され、Y軸移動体4がZ軸回り回転方向(以下、「ヨーイング方向」という)に可動される。具体的には、検出されたヨーイング角度が0となるように(ヨーイング誤差を打ち消すように)Y軸コイル部22A,22Bそれぞれに駆動電流が印加され、Y軸コイル部22A,22Bの推力に差が付加され、Y軸移動体4がヨーイング方向に回転される。その結果、Y軸移動体4は、X軸移動体3をX軸方向に移動させる場合やY軸移動体4をY軸方向に移動させる場合でも、ヨーイング角度が0の状態で変動しないように保持されることになる。
以上、本実施形態では、Y軸シャフトモータ14A,14BにおけるY軸シャフト部21A,21Bと定盤2との間の空間A1,A2に、転がりガイド11とY軸リフトエアパッド12の一部とがそれぞれ入り込んでいる。そのため、Y軸シャフトモータ14A,14Bを備えたことによる空間構成が好適になり、例えばY軸シャフトモータ14A,14Bが定盤2の側面に配置せざるを得ない従来のステージ装置に比べ、フットプリントを小さくすることができる。その結果、一層の小型化が可能となる。
また、本実施形態のXYステージ装置1は、上述したように、X軸移動体3及びY軸移動体4の双方が定盤2に支持され、且つX軸移動体3の移動がY軸移動体4にガイドされるサーフェス型ステージ装置である。よって、XYステージ装置1は、Y軸移動体4上にてX軸移動体3が支持され移動されるステージ装置(いわゆるスタック型ステージ装置)に対し、その構造が明らかに異なるものであって、かかる構造上フットプリントが大きく水平方向に大型化し易い。よって、フットプリントを小さくして一層の小型化を実現する上記効果は、XYステージ装置1のようなサーフェス型ステージ装置にとって特に有効なものである。
また、本実施形態においては、以下の作用効果も奏される。すなわち、上述したように、Y軸移動体4をY軸方向に駆動するY軸シャフトモータ14A,14Bが、検出されたヨーイング角度に基づきコントローラ17によって協調制御される。よって、検出されたヨーイング角度に応じてY軸シャフトモータ14A,14Bを協動させ、Y軸移動体4のヨーイング角度を所望に制御することが可能となる。つまり、ヨーイング制御を可能にしてヨーイング精度を改善することができる。
加えて、上述したように、Y軸移動体4のX軸方向一端部が転がりガイド11で支持され、他端部がY軸リフトエアパッド12で支持されている。よって、Y軸移動体4において片側は、X軸方向に完全拘束されない(フリーな状態になる)ことから、例えば熱応力によって生じるひずみや反り等の変形を逃がして抑制する(許容する)ことが可能となる。よって、本実施形態では、熱膨張による逃げのための構造を実現でき、熱膨張によるY軸移動体4の変形を低減することが可能となる。その結果、Y軸移動体3のガイドビーム9の変形が抑制され、このガイドビーム9にガイドされるX軸移動体3の走り精度、すなわち、X軸移動体3の移動中における真直度、角度等の性能を高めることができる。
また、本実施形態では、上述したように、X軸方向に互いに離間して設けられた一対のY軸リニアスケール16A,16Bを用いてY軸移動体4のヨーイング角度を検出している。よって、Y軸移動体4のY軸方向位置を検出でき、且つ、各検出値の差に基づきヨーイング角度を検出することができる。さらに、別途にヨーイング角度を検出する機器を設ける必要なく、Y軸移動体4の位置及びヨーイング角度を簡便に検出することが可能となる。
特に、一対のY軸リニアスケール16A,16Bを用いると、これらの間の中間のY軸移動体4位置(つまり、Y軸移動体4の中央位置)をも精度よく検出することができる。本実施形態のようにXYステージ装置1が半導体検査装置又は半導体露光装置に使用されるものであると、かかる効果は顕著となる。これは、半導体検査装置又は半導体露光装置においては、通常、検査又は露光のための光学系がY軸移動体4の中央位置上に配置されるためである。
また、本実施形態のY軸リフトエアパッド12では、上述したように、支持高さが調整可能とされている。そのため、Y軸移動体4の転がりガイド11側(一端部)に対し、Y軸移動体4のY軸リフトエアパッド12側(他端部)の高さが等しくなるよう容易に調整することができる。その結果、Y軸移動体4の水平状態を容易に調整して保持することが可能となる。
また、本実施形態では、上述したように、Y軸リフトエアパッド12がY軸移動体4を球面支持するように構成されており、Y軸リフトエアパッド12とY軸移動体4とが互いに回転可能となっている。そのため、Y軸移動体4にて生じるひずみや反り等を一層逃がすことができ、X軸移動体3の走り精度を一層高めることが可能となると共に、Y軸リフトエアパッド12をY軸移動体4に容易に組付け・調整することができる。
また、本実施形態の転がりガイド11では、上述したように、ヨーイング方向におけるY軸移動体4の所定弾性力が得られようヨーイング方向の剛性が適宜設定されているため、Y軸移動体4のヨーイング角度を好適に制御することが可能となる。よって、適当な剛性を有する転がりガイド11が選択され、ヨーイング精度を向上することが可能となる。なお、転がりガイド11のヨーイング方向の剛性が高くなり過ぎると、かかる剛性にY軸シャフトモータ14A,14Bの推力が打ち勝てずにヨーイング角度の制御が困難になるため、転がりガイド11のヨーイング方向の剛性はヨーイング制御に関して重要要素であるといえる。
また、本実施形態では、Y軸移動体4の定盤2に対する支持が、2つのランナブロック29と1つのY軸リフトエアパッド12との3点支持であって静定状態とされているため、Y軸移動体4の安定度が高められている。
以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。
例えば、上記実施形態は、X軸移動体3及びY軸移動体4を備えたXYステージ装置1であるが、水平方向の一方向に移動する移動体を備えたステージ装置であればよい。さらに、X軸移動体3上に設けられZ軸方向に移動するZ軸移動体をさらに備えたXYZステージ装置としてもよく、X軸移動体3上に設けられZ軸回り回転方向(θz)に回転するθ軸移動体をさらに備えたXYθステージ装置としてもよく、これらZ軸移動体及びθ軸移動体をさらに備えたXYZθステージ装置としてもよい。
また、上記実施形態では、検出手段として一対のY軸リニアスケール16A,16Bを用いたが、Y軸移動体4のヨーイング角度を検出できるものであれば、その他の検出手段であってもよい。また、駆動手段として一対のY軸シャフトモータ14A,14Bを用いたが、これに限定されず、X軸方向に互いに離間して設けられY軸移動体4をY軸方向に駆動する一対の駆動手段であればよい。
また、上記実施形態では、転がりガイド11とY軸リフトエアパッド12の一部とが空間A1,A2にそれぞれ入り込んでいるが、転がりガイド11とY軸リフトエアパッド12の何れかの少なくとも一部が空間A1,A2にそれぞれ入り込んでいればよい。また、Y軸シャフト部21Aと定盤2との間の空間A1に転がりガイド11が完全に入り込んでいるが、少なくとも一部が入り込んでいればよい。
また、上記実施形態では、Y軸移動体4のX軸方向一端部が転がりガイド11で支持され、他端部がY軸リフトエアパッド12で支持されているが、Y軸移動体4のX軸方向両端部が共に転がりガイド11で支持されていてもよく、共にY軸リフトエアパッド12で支持されていてもよい。
なお、本発明のXYステージ装置は、上述した半導体検査装置又は半導体露光装置だけでなく種々の装置に適用可能なものである。
1…XYステージ装置(ステージ装置)、2…定盤、3…X軸移動体、4…Y軸移動体(移動体)、11…転がりガイド(支持手段)、12…Y軸リフトエアパッド(エアパッド,支持手段)、14A,14B…Y軸シャフトモータ(シャフトモータ)、21A,21B…Y軸シャフト部(シャフト部)、22A,22B…Y軸コイル部(可動部)、A1,A2…空間。

Claims (6)

  1. 定盤上を移動する移動体と、
    前記移動体を駆動するシャフトモータと、
    前記移動体を前記定盤上で支持する支持手段と、を備え、
    前記シャフトモータは、前記定盤との間に空間が形成されるように前記定盤に固定されたシャフト部と、前記移動体に固定され前記シャフト部に沿って可動な可動部と、を有しており、
    前記支持手段は、その少なくとも一部が前記空間に入り込んでいることを特徴とするステージ装置。
  2. 前記支持手段は、前記移動体を前記定盤に対して非接触で支持するエアパッドであることを特徴とする請求項1記載のステージ装置。
  3. 前記支持手段は、前記移動体の移動をガイドする転がりガイドであることを特徴とする請求項1又は2記載のステージ装置。
  4. 前記移動体は、前記定盤に支持されY軸方向に移動するY軸移動体であり、
    前記Y軸移動体は、前記定盤に支持されX軸方向に移動するX軸移動体の移動をガイドするように構成されていることを特徴とする請求項1〜3の何れか一項記載のステージ装置。
  5. 請求項1〜4の何れか一項記載のステージ装置を備えたことを特徴とする半導体検査装置。
  6. 請求項1〜4の何れか一項記載のステージ装置を備えたことを特徴とする半導体露光装置。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09253969A (ja) * 1996-03-25 1997-09-30 Nippon Thompson Co Ltd ボールスプラインを備えたテーブル装置
JPH10217053A (ja) * 1997-01-30 1998-08-18 Canon Inc 静圧軸受を用いた位置決め装置
JP2003121573A (ja) * 2001-10-09 2003-04-23 Sumitomo Heavy Ind Ltd ステージユニット及びx−yステージ装置
JP2005203483A (ja) * 2004-01-14 2005-07-28 Nikon Corp ステージ装置及び露光装置
JP2006083964A (ja) * 2004-09-16 2006-03-30 Sumitomo Heavy Ind Ltd ステージスライダ機構
JP2009053210A (ja) * 2008-12-02 2009-03-12 Sumitomo Heavy Ind Ltd ステージ装置及び半導体検査装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09253969A (ja) * 1996-03-25 1997-09-30 Nippon Thompson Co Ltd ボールスプラインを備えたテーブル装置
JPH10217053A (ja) * 1997-01-30 1998-08-18 Canon Inc 静圧軸受を用いた位置決め装置
JP2003121573A (ja) * 2001-10-09 2003-04-23 Sumitomo Heavy Ind Ltd ステージユニット及びx−yステージ装置
JP2005203483A (ja) * 2004-01-14 2005-07-28 Nikon Corp ステージ装置及び露光装置
JP2006083964A (ja) * 2004-09-16 2006-03-30 Sumitomo Heavy Ind Ltd ステージスライダ機構
JP2009053210A (ja) * 2008-12-02 2009-03-12 Sumitomo Heavy Ind Ltd ステージ装置及び半導体検査装置

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