JP2010190603A - プローブ、プローブユニットおよび測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】導体パターン101に電気的に接続される電極膜44(電極板42)を介して導体パターン101に対する測定用信号の供給および測定対象体からの電気信号の入力の少なくとも一方が実行可能であって、その光路の周囲の気体を電離可能なレーザーLを出力するレーザー出力部41を備え、電極膜44は、レーザー出力部41から出力されるレーザーLの光路に交差するように配設されて電離された気体によって形成される導電路Cを介して導体パターン101に非接触で電気的に接続される。
【選択図】図3
Description
2 電源部
3,403 プローブユニット
4 電圧検出部
8 制御部
31,231,331,431 プローブ
41,241,341,441 レーザー出力部
42,242,342,442 電極板
44,244 電極膜
100 回路基板
101 導体パターン
C 導電路
L レーザー
Si 測定用信号
Sv 電圧信号
Claims (6)
- 測定対象体に電気的に接続される接続部を介して当該測定対象体に対する測定用信号の供給および当該測定対象体からの電気信号の入力の少なくとも一方を行うプローブであって、
その光路の周囲の気体を電離可能な高エネルギー光を出力する光源を備え、
前記接続部は、前記光源から出力される前記高エネルギー光の光路に交差または近接するように配設されて前記電離された気体を介して前記測定対象体に非接触で電気的に接続されるプローブ。 - 前記接続部は、前記高エネルギー光が透過可能でかつ導電性を有する材料で形成されると共に当該高エネルギー光の前記光路に交差するように配設されている請求項1記載のプローブ。
- 前記光源は、前記高エネルギー光としての紫外線レーザーを出力する請求項1または2記載のプローブ。
- 請求項1から3のいずれかに記載のプローブを一対備えて構成されているプローブユニット。
- 請求項1から3のいずれかに記載のプローブと、当該プローブを介して入力した電気信号に基づいて測定対象体についての所定の物理量を測定する測定部とを備えている測定装置。
- 請求項4記載のプローブユニットと、当該プローブユニットを介して入力した電気信号に基づいて測定対象体についての所定の物理量を測定する測定部とを備えている測定装置。
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JP2009032638A JP2010190603A (ja) | 2009-02-16 | 2009-02-16 | プローブ、プローブユニットおよび測定装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US9523714B2 (en) | 2011-07-15 | 2016-12-20 | Photon Dynamics, Inc. | Electrical inspection of electronic devices using electron-beam induced plasma probes |
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-
2009
- 2009-02-16 JP JP2009032638A patent/JP2010190603A/ja active Pending
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