JP2010175645A - 光波長多重信号監視装置および方法 - Google Patents

光波長多重信号監視装置および方法 Download PDF

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Abstract

【課題】信号光の波長や信号光の有無についても監視が可能な光波長多重信号監視装置および方法を提供する。
【解決手段】本発明の光波長多重信号監視装置は、MZI同期AWGのアーム導波路の少なくとも一方を加熱して、アーム導波路間の位相差を調整可能とするヒータを備え、このヒータに電力を印加して、AWGの透過率の波長依存性を複数の状態に変化させるよう構成されている。本発明によれば、複数の状態において測定された光強度から各チャネルの信号光の波長を算出することができる。また、AWGの透過率の波長依存性が略平坦な状態において測定された光強度から各チャネルの信号光の強度を算出することができる。また、AWGの透過率の波長依存性が略平坦な状態から光位相差が略180度シフトした状態において測定された光強度と、波長依存性が略平坦な状態において測定された光強度との差から各チャネルの信号光の有無を判定することができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、光波長多重信号監視装置および方法に関し、詳しくは、アレイ導波路回折格子と複数のフォトダイオードを用いた光波長多重信号監視装置および方法に関する。
近年の通信容量の増大に伴い、光波長多重分割(WDM)技術を用いた光伝送装置が広く導入されている。これら光伝送装置で構築されるWDMシステムにおいては、各波長チャネルの光信号を監視することにより、伝送信号の品質管理やシステム制御等を行っている。他方、シリコン基板上に形成した石英系ガラス導波路によって構成されたプレーナ光波回路(PLC)の研究開発が盛んに行われており、かかるPLC技術を利用したアレイ導波路回折格子(AWG)は、光波長合分波を実現するフィルタ回路であり、WDMシステムの構成部品として重要な役割を果たしている。
WDMシステムにおいて波長多重された光信号を監視する装置の一形態として、AWGと複数のフォトダイオード(PD)を組み合わせた構成が提案され、非特許文献1に開示されている。図30に、AWGとPDによる従来の光波長多重信号監視装置5100の構成を示す。AWGは、入力導波路5101、第1のスラブ導波路5102、アレイ導波路5103、第2のスラブ導波路5104、および複数の出力導波路5105から構成されている。これら導波路は、通常シリコン基板上に石英系ガラスにより形成されたコアおよびクラッドから構成されている。複数の出力導波路5105はそれぞれ、光ファイバ5108等を介して複数のPD5106に光学的に接続されている。また、入力導波路5101は、入力光ファイバ5107に光学的に接続されている。
AWGでは、入力導波路5101から、光波長多重信号を入力すると、出力導波路5105から各チャネルの分波された信号光を取り出すことができる。各出力導波路にPDを接続することにより、各信号光の強度を監視することができる。この構成によれば、AWGで分離された波長チャネルの信号をそれぞれのPDで同時かつ独立に検出できるため、光波長多重信号を高速に監視できるという特長がある。
また、AWGのチップ端面に、各出力導波路と結合するように直接PDを実装することで、さらに小型でかつ受光特性に優れた光波長多重信号監視装置も提案されている。この構成を図31に示す。ここで、AWGの各部分の符号は図30と同様であり、筐体とガラス窓の中で気密封止されたチップスケールパッケージ型PDアレイ(CSP−PDアレイ)5201がAWGのチップ端面に実装されている。CSP−PDアレイについて詳しくは、非特許文献2に開示されている。CSP−PDアレイ5201内に内蔵された各PDの受光面は、AWGの出力導波路5105の各々と光学的に結合している。
かかるAWGにおいては、入力導波路5101の入力側スラブ導波路5102との接続界面に励起されている光電界と、出力導波路5105の出力側スラブ導波路5104との接続界面に励起される光電界のパワーオーバーラップ積分が透過スペクトルとなる。通常、これらの光電界は基底モードのみが励起されており、透過スペクトル波形はガウス関数型となる。一方、透過スペクトル波形が平坦化され、広い透過帯域幅を有する光波長合分波回路として、マッハツェンダ型干渉回路(MZI)とAWGを組み合わせたMZI同期AWG型の光波長合分波回路が提案されている。この回路について詳しくは、特許文献4および5に開示されている。この平坦な透過スペクトルを有するMZI同期AWGにより、光信号の波長揺らぎに対して損失変動の小さい光波長合分波回路を得ることができる。
図32は、MZI同期AWGタイプの光波長合分波回路5300の一例の構成を示した平面図である。この回路は、第1の入出力導波路5305、光スプリッタ5306、第1のアーム導波路5307、第2のアーム導波路5308、および光カプラである方向性結合器5309を備えている。また、この回路は、第1のスラブ導波路5301、アレイ導波路5302、第2のスラブ導波路5303、および第2の入出力導波路5304を備えている。複数の光波長を有する光波が第1の入出力導波路5305に入射すると、光スプリッタ5306により第1および第2のアーム導波路5307、5308に分岐され、その光路長差により、波長に応じて位相差が生じる。この光波は、方向性結合器5309における近接して配置された2つの導波路間で干渉し、その位相差(すなわち波長)に応じて2つの導波路間でパワーが分配される。そのため、方向性結合器5309が第1のスラブ導波路5301に接続する終端で集光する光波の位置が、その位相差(波長)によって2つの導波路の間で周期的に変化することになる。一方、方向性結合器5309から第1のスラブ導波路5301に入射した光波は、アレイ導波路5302における隣接導波路間の光路長差により、波長に応じて位相差が与えられ、その位相差(すなわち波長)に応じて第2のスラブ導波路5303の終端で集光する光波の位置が変化し、第2の入出力導波路5304それぞれに、所望の波長の光波が分波される。
ここで、方向性結合器5309における2つの導波路間で集光する光の位置が変わると、第1のスラブ導波路5301への光波の入射位置が変化し、各アレイ導波路までの光路長が変化する。そうすると、アレイ導波路5302の隣接導波路間の光路長差が変化せずとも、MZI同期AWGでの光路長差が変化し、第2のスラブ導波路5303の終端で集光する光の位置が変化する。このことは、第2のスラブ導波路5303の終端で集光する光波の位置は、第1および第2のアーム導波路5307、5308の光路長差により調整できることを意味する。すなわち、ある波長領域において、方向性結合器5309の終端で集光する光の位置変化と、第2のスラブ導波路5303の終端で集光する光の位置変化が同期するように設定すれば、第2のスラブ導波路5303の終端で集光する光の位置は変化せず、したがって、この波長領域で平坦な透過スペクトル特性を得ることができる。このように、MZI同期AWGにおいては、AWGで合分波する波長チャネル間隔と、MZIにおける波長周期が一致するように設計される。
特許第3256418号公報 米国特許第6728446号明細書 大山 他、"AWGとCSP型PDアレイを用いた40−ch光パワーチャンネルモニタモジュール"2006年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会講演、C−3−78. 土居 他、"チップスケールパッケージ型PDアレイ(CSP−PD)の開発"、信学技報EMD2007−36、CPM2007−57、OPE2007−74、LQE2007−3、pp.39−44、2007−08.
しかしながら、従来のMZI同期AWGにおいては、平坦な透過スペクトル特性を有する光波長フィルタ回路であるものの、この特性を調整ないし変更することはできない。用途に応じて、MZI同期AWGの透過スペクトル特性を調整ないし変更できることが望ましい。特に、光波長多重信号監視装置では、このような透過スペクトル特性を調整ないし変更できる光波長フィルタ回路を使用することによって、信号光の強度のみならず、信号光の波長や信号光の有無を測定することができる。
例えば、AWG型の光波長多重信号監視装置は、光波長多重信号を高速に監視できるが、監視が可能な特性については、現状では各チャネル信号光の強度に限定されている。他方、伝送信号の品質管理やシステム制御等のためには、信号光の強度のみならず、信号光の波長をも同時に監視することを必要とする場合もある。また、各チャネルに到達する光強度のみを監視するAWG型の光波長多重信号監視装置においては、到達している光波が信号光か、累積したノイズ光であるのかを判別することはできない。しかし、システム制御の面では、伝送されているのが信号光であるか否かを監視することが必要な場合もある。したがって、伝送システムによっては、AWG型の光波長多重信号監視装置では監視装置として十分に対応できないという問題があった。
本発明は、かかる問題を鑑みてなされたものであり、その目的は、透過スペクトル特性を調整ないし変更できる光波長フィルタ回路を提供し、これを用いて信号光の波長や信号光の有無についても監視が可能な光波長多重信号監視装置および方法を提供することにある。
上述の課題を解消するにあたって、信号光の波長を測定する1つの手法として、透過スペクトルを変化させ、そのとき検出される信号光強度の変化から信号光の波長を算出することが考えられる。この測定手法に適した透過スペクトルの変化は、信号光波長近傍での透過率変化が単調であり、かつその変化率すなわち透過スペクトルの傾斜が変化するような場合である。この様な透過スペクトルの場合、変化前後での透過率の差分は、やはり単調な波長依存性を有するため、透過した信号光の強度の差分を検出し、換算することによって、波長の測定が可能である。
このような透過スペクトルの変化をAWGにおいて得るために、本発明においては、MZI同期AWGの透過スペクトル波形に着目した。従来技術によるMZI同期AWGにおいては、MZIとAWGの接続面における光波のピーク位置変位が同期するように設計されている。ここで、MZIにおけるアーム導波路間の光位相差を、同期状態からずらした場合には、そのずれによって損失が発生する。そして、この損失がMZI同期AWGの透過スペクトルでは波形の傾斜となって表れる。したがって、適当な機構により、MZIにおけるアーム導波路間の光位相差を変化させることができれば、MZI同期AWGにおいて、透過スペクトルの波形傾斜の変動を生じさせることが可能である。
また、信号光の有無を判別する1つの手法として、やはり透過スペクトルを変化させ、そのとき検出される信号光強度の変化から信号光の有無を判別することが考えられる。この測定手法に適した透過スペクトルの変化は、信号光波長近傍すなわちチャネル波長中央付近と、信号光が存在し得ないチャネル波長中央以外の波長域で、透過率変化が大きく異なるような場合である。この様な透過スペクトルの場合、単一波長光である信号光と、広範囲の波長光であるノイズ光において、変化前後での平均透過率の差分が異なるため、その差分値を元に信号光であるか否かの判別が可能である。
このような透過スペクトルの変化をAWGにおいて得るために、本発明においては、やはりMZI同期AWGの透過スペクトル波形に着目した。MZIにおけるアーム導波路間の光位相差を、同期状態から180度ずらした場合には、透過中心波長付近において大きな損失が発生し、中心からある程度離れた波長においては、比較的損失は小さい状態となる。したがって、適当な機構により、MZIにおけるアーム導波路間の光位相差を180度変化させることができれば、MZI同期AWGにおいて、信号光有無の判別に必要な透過スペクトルの変動を生じさせることが可能である。
以上の考察を踏まえ、請求項1に記載の発明は、第1のスラブ導波路と、前記第1のスラブ導波路に接続された複数の導波路からなるアレイ導波路と、前記アレイ導波路の複数の導波路に接続された第2のスラブ導波路とを備えたアレイ導波路回折格子と、光スプリッタと、前記光スプリッタに接続された第1および第2のアーム導波路と、前記第1および第2のアーム導波路に接続された光カプラとを備えたマッハツェンダ干渉回路であって、前記光カプラが前記第1のスラブ導波路と接続されたマッハツェンダ干渉回路とを備えた光波長フィルタ回路であって、前記第1および第2のアーム導波路の少なくとも一方を加熱して、前記第1および第2のアーム導波路間の位相差を調整可能とするヒータを備え、前記ヒータに電力を印加して、前記光波長フィルタ回路の透過率の波長依存性を複数の状態に変化させるよう構成されたことを特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の光波長フィルタ回路を備えた光波長多重信号監視装置であって、前記第2のスラブ導波路に接続された複数の出力導波路と、前記複数の出力導波路に接続された複数のフォトダイオードとを備えたことを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の光波長多重信号監視装置であって、前記複数のフォトダイオードは、チップスケールパッケージに封止されたフォトダイオードアレイであることを特徴とする。
また、請求項4に記載の発明は、請求項2または3に記載の光波長多重信号監視装置であって、前記光カプラは、方向性結合器であることを特徴とする。
また、請求項5に記載の発明は、請求項2ないし4のいずれかに記載の光波長多重信号監視装置であって、前記アレイ導波路回折格子およびマッハツェンダ干渉回路は、1つのチップで構成されたことを特徴とする。
また、請求項6に記載の発明は、請求項2ないし4のいずれかに記載の光波長多重信号監視装置であって、前記アレイ導波路回折格子およびマッハツェンダ干渉回路は、複数のチップで構成されたことを特徴とする。
また、請求項7に記載の発明は、第1のスラブ導波路と、前記第1のスラブ導波路に接続された複数の導波路からなるアレイ導波路と、前記アレイ導波路の複数の導波路に接続された第2のスラブ導波路と、前記第2のスラブ導波路に接続された複数の出力導波路とを備えたアレイ導波路回折格子と、前記複数の出力導波路に接続された複数のフォトダイオードと、光波長多重信号が入力される入力導波路と、前記入力導波路に接続された光スプリッタと、前記光スプリッタに接続された第1および第2のアーム導波路と、前記第1および第2のアーム導波路に接続された光カプラとを備えたマッハツェンダ干渉回路であって、前記光カプラが前記第1のスラブ導波路と接続されたマッハツェンダ干渉回路と、前記第1および第2のアーム導波路の少なくとも一方を加熱して、前記第1および第2のアーム導波路間の位相差を調整可能とするヒータとを備えた光波長多重信号監視装置において、前記前記複数の出力導波路から出力される光強度を前記複数のフォトダイオードで検出して前記光波長多重信号の各チャネルの信号光を監視する方法であって、前記ヒータに電力を印加して、前記入力導波路から前記複数の出力導波路に至る透過率の波長依存性を複数の状態に変化させて、前記複数のフォトダイオードでの光強度を測定することと、前記複数の状態において測定された光強度から各チャネルの信号光の波長を算出することとを特徴とする。
また、請求項8に記載の発明は、請求項7に記載の光波長多重信号監視方法であって、前記複数の状態は、前記入力導波路から前記複数の出力導波路に至る透過率の波長依存性が略平坦な状態を含み、前記略平坦な状態において測定された光強度から各チャネルの信号光の強度を算出することを特徴とする。
また、請求項9に記載の発明は、請求項8に記載の光波長多重信号監視装置であって、前記略平坦な状態において測定された光強度と前記略平坦な状態以外の状態において測定された光強度との差から各チャネルの信号光の波長を算出することを特徴とする。
また、請求項10に記載の発明は、請求項7ないし9のいずれかに記載の光波長多重信号監視方法であって、前記複数の状態は、前記入力導波路から前記複数の出力導波路に至る透過率の波長依存性が略同程度に逆向きに傾斜した2つの状態を含み、前記信号光の波長を算出することとは、前記2つの状態において測定された光強度の差から各チャネルの信号光の波長を算出することを特徴とする。
また、請求項11に記載の発明は、請求項8または9に記載の光波長多重信号監視方法であって、前記複数の状態は、前記入力導波路から前記複数の出力導波路に至る透過率の波長依存性が略平坦な状態から光位相差が略180度シフトした状態を含み、前記波長依存性が略平坦な状態において測定された光強度と前記光位相差が略180度シフトした状態において測定された光強度との差から各チャネルの信号光の有無を判定することを特徴とする。
また、請求項12に記載の発明は、請求項8または9に記載の光波長多重信号監視方法であって、前記複数の状態は、前記入力導波路から前記複数の出力導波路に至る透過率の波長依存性が略平坦な状態から光位相差が略180度シフトした状態を含み、前記光位相差が略180度シフトした状態の近傍をスキャンして測定された光強度分布から各チャネルの信号光の波長を算出することを特徴とする。
本発明により、従来技術のAWG型光波長多重信号監視装置において、信号光の強度しか監視できなかった問題を解消し、信号光の強度に加え、信号光の波長や信号光の有無についても、全チャネル同時に監視することが可能であり、高速性を有しつつ、より高度な監視機能を備えた光波長多重信号監視装置および方法を得ることができる。
本発明の一実施形態に係る光波長多重信号監視装置の構成例を示す図である。 図1の光波長多重信号監視装置において、MZIとAWGとの位相状態に応じた透過スペクトルの一例を示す図である。 図2の透過スペクトルの先端を拡大した図である。 図1の光波長多重信号監視装置において、MZIとAWGとの位相状態に応じた透過スペクトルの別の一例を示す図である。 光波長多重信号監視装置において、MZIとAWGを別チップとした構成例を示す図である。 光波長多重信号監視装置において、MZIとAWGを別チップとした別の構成例を示す図である。 図1の波長多重信号監視装置において、CSP−PDアレイを用いた構成例を示す図である。 本発明の第1の実施例に係る光波長多重信号監視装置の構成を示す図である。 本発明の第1の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、光スプリッタから光カプラ近傍を拡大した図である。 図9の線分AA’での断面構造を示す図である。 本発明の第1の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、第1から第3の状態に応じた透過スペクトルを示す図である。 光波長多重信号監視装置の入力における、監視すべきチャネルの信号光の光強度スペクトルの一例を示す。 本発明の第1の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、第1から第3の状態に応じたPDでの受光強度について、信号波長に関する依存性を示す図である。 本発明の第1の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、第2の状態での信号強度の測定値の実際の信号強度に対する比率について、信号波長に関する依存性を示す図である。 本発明の第1の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、第1および第3の状態での信号強度の測定値の差分について、信号波長に関する依存性を示す図である。 本発明の第1の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、第1および第3の状態での信号強度の測定値の平均について、信号波長に関する依存性を示す図である。 本発明の第1の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、断熱溝を形成した場合のアーム導波路およびヒータの近傍を拡大した図である。 図17の線分BB’での断面構造を示す図である。 本発明の第2の実施例に係る光波長多重信号監視装置の構成を示す図である。 本発明の第2の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、第1および第2の状態に応じた透過スペクトルを示す図である。 本発明の第2の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、第1および第2の状態に応じたPDでの受光強度について、信号波長に関する依存性を示す図である。 本発明の第2の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、第1および第2の状態での信号強度の測定値の差分について、信号波長に関する依存性を示す図である。 本発明の第3の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、第1から第3の状態に応じた透過スペクトルを示す図である。 本発明の第3の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、ノイズ光だけを入力した場合の光強度スペクトルの一例を示す図である。 本発明の第3の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、第1から第3の状態に応じたPDでの受光強度について、信号波長に関する依存性を示す図である。 本発明の第3の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、ノイズ光だけを入力した場合に第1から第3の状態に応じたPDでの受光強度を示す図である。 本発明の第4の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、第1および第2の状態に応じた透過スペクトルを示す図である。 本発明の第4の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、第1および第2の状態に応じたPDでの受光強度について、信号波長に関する依存性を示す図である。 本発明の第4の実施例に係る光波長多重信号監視装置において、ノイズ光だけを入力した場合に第1および第2の状態に応じたPDでの受光強度を示す図である。 AWGとPDを用いた従来の光波長多重信号監視装置の構成例を示す図である。 AWGとCSP−PDアレイを用いた従来の光波長多重信号監視装置の構成例を示す図である。 MZI同期AWGタイプの光波長合分波回路の構成例を示す図である。
本発明の実施形態について以下に説明する。図1に、本発明の一実施形態に係る光波長多重信号監視装置の構成例を示す。この装置は、入力光ファイバ121、MZI同期AWG回路チップ100、接続光ファイバ122、およびフォトダイオード123から構成されている。また、MZI同期AWG回路100は、入力導波路105、光スプリッタ106、第1のアーム導波路107、第2のアーム導波路108、および光カプラである方向性結合器109を備えている。また、回路100は、第1のスラブ導波路101、アレイ導波路102、第2のスラブ導波路103、および出力導波路104をさらに備えている。入力導波路101は入力光ファイバ121と接続され、出力導波路104はそれぞれが接続光ファイバ122を介してフォトダイオード123と接続されている。また、第1のアーム導波路107および第2のアーム導波路108上にはそれぞれを加熱するヒータ110,111が設けられ、第1のアーム導波路107と第2のアーム導波路108間の光路長差、すなわち光位相差は、ヒータ110、111を加熱することによって調整が可能である。
図2は、本実施形態のMZI同期AWGの1つのチャネルにおいて、MZIとAWGが同期状態にある場合、およびこの状態から第1および第2のアーム導波路間の光位相差が正方向に30度、60度変化した場合の透過スペクトルの例を示したものである。この図において、横軸は規格化された相対波長であり、チャネル中心波長をゼロ、波長チャネル間隔を1としている。また、図3は、特に図2における透過スペクトルの先端を拡大して示したものである。図2および図3より、第1および第2のアーム導波路間の光位相差を変えることで、透過スペクトル波形が徐々に傾斜することがわかる。ここで、第1および第2のアーム導波路間の光位相差は、ヒータ110あるいはヒータ111を加熱することにより調整することができる。非加熱の場合を基準として、ヒータ110を加熱すれば光位相差は正方向シフトし、ヒータ111に加熱すれば光位相差は負方向にシフトする。従って、本発明の実施形態における光波長多重信号監視装置においては、ヒータ110あるいはヒータ111に適切な電力を与えることで、MZI同期AWGの透過スペクトル波形の傾斜を調整することが可能である。
図4は、本実施形態のMZI同期AWGの1つのチャネルにおいて、MZIとAWGの同期状態から第1および第2のアーム導波路間の光位相差を正方向に170度、180度、190度シフトさせた場合の透過スペクトルの例を示したものである。この図においても横軸は規格化された相対波長であり、チャネル中心波長をゼロ、波長チャネル間隔を1としている。図4より、第1および第2のアーム導波路間の光位相差を180度程度変えることで、透過中心波長付近の狭い波長領域にのみ比較的大きな損失を発生させることができる。また、損失が最大となる波長は、光位相差を変えることにより徐々に変化することがわかる。このような透過スペクトル波形の変形は、ヒータ110あるいはヒータ111に適切な電力を与え加熱することにより調整することが可能である。
MZI同期AWGは、図1に示すように、MZI回路とAWG回路を同一チップに一体集積し、ヒータ110、111を更に集積すると、回路の小型化の観点から好ましい。一方、図5および図6は、MZI回路とAWG回路を別チップで作製し、直接接合する構成を示したものである。ここで、各部分の符号は図1と同様であり、MZI回路のチップ501、AWG回路のチップ502が直接接合されている。図5は、第1のスラブ導波路1101の途中を境界に別チップとした例であり、図6は、第1のアーム導波路107および第2のアーム導波路108の途中を境界に別チップとした例である。図5および図6のような構成の場合、ヒータ集積を伴うMZI回路の作製と、ヒータ集積を伴わないAWG回路の作製を独立した工程で行うことができ、作製プロセスの最適化という観点で好ましい。
また、本実施形態の図1、図5、および図6におけるPD123は、CSP−PDアレイのようにアレイ型のPDを用いて、接続光ファイバ122を介さず直接AWGチップの端面に接続することも可能である。図7は、図1の波長多重信号監視装置において、PD123の代わりにCSP−PDアレイ701を用いてMZI同期AWGチップ100と直接接合した構成を示したものである。CSP−PDアレイ701は、各PDが出力導波路104のそれぞれと光学的に結合するように接合されている。この構成により、図1の構成に比較して、更に小型の光波長多重信号監視装置を実現することができる。
以下、このような光波長多重信号監視装置における光波長多重信号の監視方法を、具体的な例を用いて説明する。
本発明の第1の実施例に係る光波長多重信号監視装置について説明する。図8は、本実施例による光波長多重信号監視装置の構成を示す平面図である。この装置は、入力光ファイバ1121、MZI同期AWGチップ1100、接続光ファイバ1122、およびフォトダイオード1123から構成されている。MZI同期AWG回路1100は、入力導波路1105、光スプリッタ1106、第1のアーム導波路1107、第2のアーム導波路1108、および光カプラである方向性結合器1109を備えている。また、回路1100は、第1のスラブ導波路1101、アレイ導波路1102、第2のスラブ導波路1103、および出力導波路1104を備えている。入力導波路1105は入力光ファイバ1121と接続され、出力導波路1104はそれぞれが接続光ファイバ1122を介してフォトダイオード1123と接続されている。また、第1のアーム導波路1107および第2のアーム導波路1108上にはそれぞれを加熱するヒータ1110、1111が設けられている。
図8においてアレイ導波路1102の長さは、一定量ΔLずつ順次長くなるよう設計されている。このMZI同期AWGは石英系PLCにより構成され、導波路の比屈折率差Δが1.5%、コア厚が4.5μmである。アレイ導波路1102、出力導波路1104、入力導波路1105、第1のアーム導波路1107、および第2のアーム導波路1108のコア幅は4.5μmである。また、波長チャネル数は48、中央の波長チャネルの透過波長は1544.53μm(194.1THz)、波長チャネル間隔は0.8nm(100GHz)に設計されている。このとき、アレイ導波路の本数は250本、ΔLは31.8μmである。また、第1のスラブ導波路1101および第2のスラブ導波路1103の長さは8650μmであり、出力導波路1104は、第2のスラブ導波路1103に接続する部分において16μm間隔で波長チャネル数、すなわち48本配置されている。出力導波路1104は、第2のスラブ導波路1103との接続部において、直線テーパ導波路により幅13μmまで拡大されている。
図9は、図8の光波長多重信号監視装置における光スプリッタ1106から光カプラ1109近傍を拡大した図である。各部分の符号は図8と同様である。ここで、光スプリッタ1106としては分岐比50:50%のY分岐回路を用いている。ヒータ1110およびヒータ1111の全長は各2000μmであり、それぞれ第1のアーム導波路1107および第2のアーム導波路1108の上部に実装され、それぞれの導波路を加熱できるようになっている。光カプラである方向性結合器1109は、第1のアーム導波路1107に接続する導波路1201および第2のアーム導波路1108に接続する導波路1202の幅がそれぞれ5.0μm、導波路1201および導波路1202間のギャップは2μmとなっている。また、導波路1201、1202の長さは500μmとしており、光カプラ1109の分岐比は50:50%である。光カプラ1109の終端におけるフィールドのピーク位置変動の周期は、第2のアーム導波路1108に対する第1のアーム導波路1107の長さの差Δlによって定まっている。ここで、その周期は、AWGの分波波長チャネル間隔に等しく0.8nm(100GHz)に設計されており、このときΔlは2020μmである。また、第2のアーム導波路1108に対する第1のアーム導波路1107の光位相差は、ヒータ1110、1111を加熱し、第1のアーム導波路1107あるいは第2のアーム導波路1108の実効屈折率を増加することによって調整が可能である。この光位相差の変化に対してフィールドのピーク位置および変動周期がともに変化するが、ピーク位置の変化に比べて変動周期の変化は非常に小さい。よって、ヒータ1110、1111の加熱により光位相差を調整した場合に、実際的には、フィールドのピーク位置変動の周期は変化せずに、ピーク位置のみが調整される。これにより、MZI同期AWGの全てのチャネルにおいて、MZIとAWGを同期状態、および同期状態から一定位相だけシフトした状態を作り出すことが可能である。また、本実施例においては、ヒータ1110、1111をともに加熱しない条件でMZIとAWGが同期状態であり、MZI同期AWGの透過スペクトル波形が傾斜なく平坦であるように設計されている。
図10は、図9の線分AA’での断面構造を示す図である。シリコン基板1304上に、コア1301、1302およびクラッド1303を形成している。コア1301は、第1のアーム導波路1107のコアであり、コア1302は第2のアーム導波路1108のコアである。ヒータ1110、1111は、各導波路のコア1301、1302の位置でクラッドの上面に実装されており、ヒータを加熱することで対応するコアとその近傍のクラッドの温度が上昇し、導波路の実効屈折率を増加することによって、第1のアーム導波路1107および第2のアーム導波路1108の間で生成される光位相差を調整することが可能である。
本実施例における光波長多重信号の監視方法について説明する。本実施例では、48チャネル、波長間隔0.8nmの光波長多重信号の監視が可能である。いま特に、所定の1つのチャネルの信号に注目する。信号の監視は、ヒータ1110あるいはヒータ1111へ所定の電力を順次印加しながら、PD1123で当該チャネルの波長の受光強度を読み取ることで行う。具体的には、
(1) ヒータ1110に電力を印加
(2) ヒータ1110、1111ともに電力無印加
(3) ヒータ1111に電力を印加
の組合せで受光強度の読み取りを行う。本実施例においては、(1)および(3)においてヒータ1110、1111にそれぞれ印加する電力は、その印加によって、第1のアーム導波路1107あるいは第2のアーム導波路1108の光路長が信号波長(1545nm付近)の1/6増加する値、すなわち光位相が60度変化する値とする。いま、ヒータ1110、1111それぞれの抵抗を300Ωとすると、このような電力は200mW程度である。
図11は、(1)、(2)および(3)の状態におけるMZI同期AWGの当該チャネルの透過スペクトル波形T(λ)を示したものである。この図において、縦軸はdB単位の透過率、すなわち10・Log10{T(λ)}を示しており、横軸はnm単位の波長であり、(2)の状態における透過中心波長をλとした。(1)の状態では波長λ近傍において透過率は増加傾向となり、(2)の状態では波長λ近傍において透過率は増減なく平坦な波形となり、(3)の状態では波長λ近傍において透過率は減少傾向となる。
図12に、監視すべき当該チャネルの信号光の光強度スペクトルの例を示す。これは、監視装置に入力する時点での光強度スペクトルである。信号光強度は、一般に信号波長の付近で鋭く幅の狭い線ピークを有し、波長に依存しないノイズ光を伴っている。この図において、dBm単位の信号光強度を10・Log10(P)=−5dBm、その波長をλとし、波長に依存しないノイズ光強度を10・Log10(P)=−22dBm/nmとした。この信号を本実施例による光波長多重信号監視装置で検出した場合、PDでの受光強度Iは、I=P・T(λ)+∫P・T(λ)dλ=P・T(λ)+P・T(λ)・wで表される。ここで、wはMZI同期AWGの透過スペクトルT(λ)における3dB帯域幅である。
図13に、PDでのdBm単位の受光強度10・Log10(I)、10・Log10(I)、および10・Log10(I)の信号波長依存性を示す。横軸は信号波長λであり、I、IおよびIはそれぞれ状態(1)、(2)および(3)における受光強度を意味している。
〜Iの検出値から信号光の特性を得る手法として、信号光の強度については、I/T(λ)を信号光の強度の測定値とする。図14は、測定値I/T(λ)の実際の信号強度Pに対する比率について信号波長λに関する依存性を示したものである。信号光波長λ±0.1nmの変動に対して、この比率は1.00〜1.02の間でしか変動せず、よってこの測定方法において信号光強度は高々2%の測定誤差で得られることがわかる。
このように、変化させるMZI同期AWGの透過スペクトル波形において、1状態は波形が平坦であるように設定し、その状態における受光強度により信号光強度を測定する手法は、ある波長での透過率(本例では透過中心波長での透過率T(λ))の情報のみを予め取得しておけば、信号波長に依存せず精度の良い測定ができるという点で手法が単純であり、好ましい。また、ヒータ1110、1111に電力を印加しない状態で、本例の(2)の状態のように平坦な透過スペクトル波形が実現されるよう設計されているならば、何かの不具合によりヒータへの電力供給が断たれたとしても、信号光強度のみは精度良く測定ができるという点で更に好ましい。
次に、信号光の波長については、I、Iの2点の検出値を用いた手法が考えられる。図15に、信号波長λに対して検出されたIおよびIのdB単位での差分、すなわち10・Log10(I/I)を示す。図からわかるように、信号光波長λ±0.1nmの領域では、10・Log10(I/I)はλに対してほぼ直線的に変化し、λ=λにおいて0となっている。そのため、前以てその直線の傾きの情報を入手しておけば、測定の際にはMZI同期AWGの透過スペクトル波形を考慮することなく、I、Iの検出値から信号光波長を算出し、測定することができる。
また、信号光の強度測定ついては、I/T(λ)とI/T(λ)の平均値を測定値とする方法も考えられる。図16は、この測定値の実際の信号強度Pに対する比率について、信号波長λに関する依存性を示したものである。信号光波長λ±0.1nmの変動に対して、この比率は1.00〜1.02の間でしか変動せず、よってこの測定方法において信号光強度は高々2%の測定誤差で得られることがわかる。この測定の場合には、信号光強度と波長の測定をI、Iの検出値のみで行うことができ、1回の監視時間をより短くできるという点で好ましい。
また、ヒータ1110、1111においては、ヒータを実装したアーム導波路1107、1108に近接するクラッド部分を除去して断熱溝を形成することにより、導波路の加熱効率を高め、所定の実効屈折率増加を与えるための印加電力を低減することが可能である。図17は、本実施例において断熱溝を形成した場合のアーム導波路1107、1108およびヒータ1110、1111の近傍の構成を拡大した図である。図に示すように、ヒータが設けられた2つのアーム導波路の近傍にクラッドを除去して断熱溝1901、1902、1903が形成されている。また、図18は、図17の線分BB’での断面構造を示した図である。同様に、断熱溝1901、1902、1903がクラッドを除去して形成されており、各部分の符号は図10と同様である。ここで、導波路1107、1108のコアと、各断熱溝1901、1902、1903の間に残されたクラッドの幅は15μmに設定している。このとき、状態(1)を生成するためにヒータ1110に印加すべき電力、あるいは状態(3)を生成するためにヒータ1111に印加すべき電力は、70mWにまで低減される。これにより、より消費電力の小さい光波長多重信号監視装置を実現することが可能である。
本発明の第2の実施例に係る光波長多重信号監視装置について説明する。本実施例は、第1の実施例と同様のMZI同期AWG回路を用いるが、フォトダイオードとしてCSP−PDアレイを用いたより小型な装置の例であり、更に実施例1とは異なる光波長多重信号の監視方法の例である。図19は、本実施例による光波長多重信号監視装置の構成を示す平面図である。この装置は、入力光ファイバ2121、MZI同期AWGチップ2100、およびCSP−PDアレイ2122から構成されている。MZI同期AWG回路2100は、入力導波路2105、光スプリッタ2106、第1のアーム導波路2107、第2のアーム導波路2108、および光カプラである方向性結合器2109を備えている。また、回路2100は、第1のスラブ導波路2101、アレイ導波路2102、第2のスラブ導波路2103、および出力導波路2104を備えている。入力導波路2105は入力光ファイバ2121と接続され、CSP−PDアレイ2122はMZI同期AWG2100のチップ端面に直接実装されている。CSP−PDアレイ2122の各PDは、出力導波路2104のそれぞれと光学的に結合している。また、第1のアーム導波路2107および第2のアーム導波路2108上にはそれぞれを加熱するヒータ2110、2111が設けられ、その近傍にはクラッドを除去した断熱溝2112、2113、2114が形成されている。
本実施例において、MZI同期AWGの構成および設計は第1の実施例の場合と同様であり、波長チャネル数48、波長チャネル間隔0.8nm(100GHz)の波長分波機能を有する。また、本実施例においても、ヒータ2110、2111をともに加熱しない状態でMZIとAWGが同期状態であり、MZI同期AWGの透過スペクトル波形が傾斜なく平坦であるよう設計されている。
本実施例における光波長多重信号の監視方法について説明する。本実施例では、48チャネル、波長間隔0.8nmの光波長多重信号の監視が可能である。いま特に、所定の1つのチャネルの信号に注目する。信号の監視は、ヒータ2110へ所定の電力を順次印加しながら、CSP−PDアレイ2122で当該チャネルの波長の受光強度を読み取ることで行う。具体的には、
(1) ヒータ2110、2111ともに電力無印加
(2) ヒータ2110に70mW電力を印加
の組合せで受光強度の読み取りを行う。本実施例においては、(2)においてヒータ2110に電力印加することによって、第1のアーム導波路2107の光路長が信号波長(1545nm付近)の1/6増加する。すなわち光位相が60度変化する。ここで、ヒータ2110、2111の抵抗は300Ωとしている。
図20は、(1)および(2)の状態におけるMZI同期AWGの当該チャネルの透過スペクトル波形T(λ)を示したものである。この図において、縦軸はdB単位の透過率すなわち10・Log10{T(λ)}を示しており、横軸はnm単位の波長であり、(1)の状態における透過中心波長をλとした。(1)の状態では波長λ近傍において透過率は増減なく平坦な波形となり、(2)の状態では透過率は減少傾向となる。
ここで、監視すべき当該チャネルの信号光の光強度スペクトルは、第1の実施例と同様に図12のようであるとする。dBm単位の信号光強度を10・Log10(P)=−5dBm、その波長をλとし、また、波長に依存しないノイズ光強度を10・Log10(P)=−22dBm/nmとする。図21に、PDでのdBm単位の受光強度10・Log10(I)、10・Log10(I)の信号波長依存性を示す。横軸は信号波長λであり、IおよびIはそれぞれ状態(1)および(2)における受光強度を意味している。
〜Iの検出値から信号光の特性を得る手法として、信号光の強度については、I/T(λ)を信号光の強度の測定値とする。この手法は第1の実施例の場合と同じであり、図14を参照すれば、信号光強度は高々2%の測定誤差で得られることがわかる。
次に、信号光の波長については、I、Iの2点の検出値を用いた手法が考えられる。図22に、信号波長λに対して検出されたIおよびIのdB単位での差分、すなわち10・Log10(I/I)を示す。図からわかるように、信号光波長λ±0.1nmの領域では、10・Log10(I/I)はλに対してほぼ直線的に変化している。そのため、前以てその直線の傾きと切片の情報を入手しておけば、測定の際にはMZI同期AWGの透過スペクトル波形を考慮することなく、I、Iの検出値から信号光波長を算出し、測定することができる。
ここまで説明した本実施例の監視手法では、ヒータ2111は必要としない。よって、ヒータ2111は構成から省略することも可能である。この場合、第1の実施例に比較して実装するヒータの数が少ないため、構造が単純で、かつ動作時にヒータを駆動する回路も少なくて済むため、より経済的に光波長多重信号監視装置を構成可能である。他方、ヒータ2111を敢えて備えた場合、ヒータ2110、2111に電力を印加しない状態において、MZIとAWGが同期状態からずれていたとしても、ヒータ2111に適当な電力を印加することでこれを同期状態に補正し、かつヒータ2110に印加する電力量を変えることで、(1)および(2)の状態を得られるので、より作製誤差に対するトレランスの高い、光波長多重信号監視装置を実現可能である。
本発明の第3の実施例の光波長多重信号監視装置について説明する。本実施例では、第2の実施例と同様の構成の装置ではあるが、更に信号光の有無を監視する手法を示す。本実施例による光波長多重信号監視装置の構成は、第2の実施例と同様であり、図19に示すとおりである。本実施例において、MZI同期AWGは、波長チャネル数48、波長チャネル間隔0.8nm(100GHz)の波長分波機能を有する。また、本実施例においても、ヒータ2110、2111をともに加熱しない状態でMZIとAWGが同期状態であり、MZI同期AWGの透過スペクトル波形が傾斜なく平坦であるよう設計されている。
本実施例における光波長多重信号の監視方法について説明する。本実施例では、48チャネル、波長間隔0.8nmの光波長多重信号の監視が可能である。いま特に、所定の1つのチャネルの信号に注目する。信号の監視は、ヒータ2110へ所定の電力を順次印加しながら、CSP−PDアレイ2122で当該チャネルの波長の受光強度を読み取ることで行う。具体的には、
(1) ヒータ2110、2111ともに電力無印加
(2) ヒータ2110に70mW電力を印加
(3) ヒータ2110に210mW電力を印加
の組合せで受光強度の読み取りを行う。本実施例においては、(2)および(3)においてヒータ2110に電力印加することによって、第1のアーム導波路2107の光路長が信号波長(1545nm付近)の1/6および1/2それぞれ増加する。すなわち光位相が60度および180度それぞれ変化する。ここで、ヒータ2110、2111の抵抗は300Ωとしている。
図23は、(1)、(2)および(3)の状態におけるMZI同期AWGの当該チャネルの透過スペクトル波形T(λ)を示したものである。この図において、縦軸はdB単位の透過率すなわち10・Log10{T(λ)}を示しており、横軸はnm単位の波長であり、(1)の状態における透過中心波長をλとした。(1)の状態では波長λ近傍において透過率は増減なく平坦な波形となり、(2)の状態では透過率は減少傾向となり、(3)の状態では波長λ近傍において大きな損失が発生する。
ここで、監視すべき当該チャネルの信号光の光強度スペクトルは、第1の実施例と同様に図12のようであるとする。dBm単位の信号光強度を10・Log10(P)=−5dBm、その波長をλとし、また、波長に依存しないノイズ光強度を10・Log10(P)=−22dBm/nmとする。また、信号光が存在せず、ノイズ光だけが入力している場合の光強度スペクトルの例を図24に示す。この図においても波長に依存しないノイズ光強度を10・Log10(P)=−22dBm/nmとする。図25に、図12のような信号光を本実施例の光波長多重信号監視装置に入力した場合におけるPDでのdBm単位の受光強度10・Log10(I)、10・Log10(I)、10・Log10(I)の信号波長依存性を示す。横軸は信号波長λであり、I、IおよびIはそれぞれ状態(1)、(2)および(3)における受光強度を意味している。また図26は、同様に図24のようなノイズ光が入力した場合におけるPDでのdBm単位の受光強度10・Log10(I’)、10・Log10(I’)、10・Log10(I’)を示している。I’、I’およびI’はそれぞれ状態(1)、(2)および(3)における受光強度を意味している。
〜I、I’〜I’の検出値から信号光の特性を得る手法として、信号光の強度については、I/T(λ)を信号光の強度の測定値とする。この手法は第1および第2の実施例の場合と同じである。信号光の波長については、信号波長λに対して検出されたIおよびIのdB単位での差分から算出する。この手法は第2の実施例の場合と同じである。
次に、信号光の有無の判別については、I、I(I’、I’)も2点の検出値を用いた手法が考えられる。図25における10・Log10(I)と10・Log10(I)の差分と、図26における10・Log10(I’)と10・Log10(I’)の差分を比較すると、信号光波長λ±0.1nmの領域では、10・Log10(I)と10・Log10(I)は少なくとも15dB以上の差があるのに対し、10・Log10(I’)と10・Log10(I’)の差分は高々8dBしかない。よって、受光強度I、I(I’、I’)の差に対して適当なしきい値を設ければ、信号光の有無を判別することが可能である。
本発明の第4の実施例の光波長多重信号監視装置について説明する。本実施例では、第2および第3の実施例と同様の構成の装置ではあるが、更に別の手法により信号光の波長を監視する手法を示す。本実施例による光波長多重信号監視装置の構成は、第2および第3の実施例と同様であり、図19に示すとおりである。本実施例において、MZI同期AWGは、波長チャネル数48、波長チャネル間隔0.8nm(100GHz)の波長分波機能を有する。また、本実施例においても、ヒータ2110、2111をともに加熱しない状態でMZIとAWGが同期状態であり、MZI同期AWGの透過スペクトル波形が傾斜なく平坦であるよう設計されている。
本実施例における光波長多重信号の監視方法について説明する。本実施例では、48チャネル、波長間隔0.8nmの光波長多重信号の監視が可能である。いま特に、所定の1つのチャネルの信号に注目する。信号の監視は、ヒータ2110へ所定の電力を順次印加しながら、CSP−PDアレイ2122で当該チャネルの波長の受光強度を読み取ることで行う。具体的には、
(1) ヒータ2110、2111ともに電力無印加
(2) ヒータ2110に198〜222mWの電力を連続的に印加
の組合せで受光強度の読み取りを行う。本実施例においては、(2)においてヒータ2110に電力印加することによって、第1のアーム導波路2107の光路長の増加分が信号波長(1545nm付近)の47〜53%まで連続的に変化する。すなわち光位相が170〜190度まで連続的に変化する。ここで、ヒータ2110、2111の抵抗は300Ωとしている。
図27は、(1)および(2)の状態におけるMZI同期AWGの当該チャネルの透過スペクトル波形T(λ)を示したものである。この図において、縦軸はdB単位の透過率すなわち10・Log10{T(λ)}を示しており、横軸はnm単位の波長であり、(1)の状態における透過中心波長をλとした。また、(2)の状態の代表値として、印加電力198mW、210mW、222mWのときの透過スペクトル波形を示した。(1)の状態では波長λ近傍において透過率は増減なく平坦な波形となり、(2)の状態では波長λ近傍において大きな損失が発生するが、その損失がピークとなる波長が徐々に変化する。
ここで、監視すべき当該チャネルの信号光の光強度スペクトルは、第1から第3の実施例と同様に図12のようであるとする。dBm単位の信号光強度を10・Log10(P)=−5dBm、その波長をλとし、また、波長に依存しないノイズ光強度を10・Log10(P)=−22dBm/nmとする。また、信号光が存在せず、ノイズ光だけが入力している場合の光強度スペクトルは、第3の実施例と同様に図24のようであるとする。ここで、ノイズ光強度は10・Log10(P)=−22dBm/nmとする。図28には、図12のような信号光を本実施例の光波長多重信号監視装置に入力した場合におけるPDでのdBm単位の受光強度10・Log10(I)、10・Log10(I)の信号波長依存性を示す。横軸は信号波長λであり、IおよびIはそれぞれ状態(1)および(2)における受光強度を意味している。ただし、(2)について代表値として、印加電力198mW、210mW、222mWのときの受光強度分布を示した。また、図29は、同様に図24のようなノイズ光が入力した場合におけるPDでのdBm単位の受光強度10・Log10(I’)、10・Log10(I’)を示している。I’およびI’はそれぞれ状態(1)および(2)における受光強度を意味している。ただし、(2)について代表値として、印加電力198mW、210mW、222mWのときの受光強度を示した。
、I、I’、I’の検出値から信号光の特性を得る手法として、信号光の強度については、I/T(λ)を信号光の強度の測定値とする。この手法は第1から第3の実施例の場合と同じである。
次に、信号光の波長については、Iについて印加電力を連続的に変化させたときの受光強度の変動から算出する。図28からわかるように、(2)の状態において、ある印加電力のときの受光強度は、特定の信号波長において最小値をとる。これは、その印加電力を与えたときのMZI同期AWGの透過スペクトル波形において、損失が最小値となる波長と一致する。図27において説明したように、この透過スペクトルにおける損失ピーク波長は、印加電力により徐々にシフトし、また損失ピークにおける透過率は殆ど変化しない。したがって、ある波長の光信号が入力した場合に、(2)の状態において印加電力を連続的に変化させると、信号波長に対応する印加電力(その信号波長において透過スペクトル波形が損失ピークを有するような印加電力)において、PDでの受光強度Iも最小値をとる。この信号波長とIが最小値をとる印加電力の関係は1対1の対応があるので、測定されたIが最小値をとる印加電力から、信号光波長を算出することができる。
また、信号光の有無の判別については、図29からもわかるように、信号光が無い場合の受光強度I’は、印加電力を変化させても殆ど変化しない。よって、(2)の状態において印加電力を変化させたときの受光強度の変化量に対して適当なしきい値を設ければ、信号光の有無を判別することが可能である。
以上、本発明の実施形態と4つの実施例の説明から、本発明による光波長多重信号監視装置では、従来技術のAWG型光波長多重信号監視装置において、信号光の強度しか監視できなかった問題を解消し、信号光の強度に加え、信号光波長や信号光の有無についても、全チャネル同時に監視することが可能である。また、これにより、高速性を有しつつ、より高度な監視機能を備えた光波長多重信号監視装置およびその方法を得ることができることが示された。
全ての実施例では、光波長多重信号のチャネル数、チャネル間隔、各チャネルの信号波長を特定の数値に限定したが、本発明の適用範囲はこの数値に限定されるものではない。
全ての実施例では、MZI同期AWGにおける導波路の比屈折率差、コア幅及びコア厚を特定の値に限定したが、本発明の適用範囲は、この値に限定されるものではない。
全ての実施例では、MZI同期AWG回路における設計パラメーターを特定の値に限定したが、本発明の適用範囲は、このパラメーターに限定されるものではない。
全ての実施例では、光スプリッタとしてY分岐回路を適用したが、光スプリッタの実現はこの構成に限定されない。例えば、単一の方向性結合器、マルチモード干渉回路、複数の方向性結合器と遅延回路を組合せた波長無依存カプラ(Wavelength Independent Coupler:WINC)など、使用波長領域において動作するいかなる光スプリッタも適用可能である。
全ての実施例では、光カプラとして方向性結合器を適用したが、光カプラの実現はこの構成に限定されない。例えば、マルチモード干渉回路など、使用波長領域において動作するいかなる光カプラも適用可能である。
100,1100,2100 MZI同期AWG回路(光波長フィルタ回路)
101,1101,2101,5102,5301 第1のスラブ導波路
102,1102,2102,5103,5302 アレイ導波路
103,1103,2103,5104,5303 第2のスラブ導波路
104,1104,2104,5105 出力導波路
105,1105,2105,5101 入力導波路
106,1106,2106,5306 光スプリッタ
107,1107,2107,5307 第1のアーム導波路
108,1108,2108,5308 第2のアーム導波路
109,1109,2109,5309 光カプラ
110,111,1110,1111,2110,2111 ヒータ
121,1121,2121,5107 入力光ファイバ
122,1122,5108 接続光ファイバ
123,1123,5106 フォトダイオード
501 MZI回路
502 AWG回路
5100,5300
701,2122,5201 CSP−PDアレイ
1201,1202 導波路 1301,1302 コア
1303 クラッド
1304 シリコン基板
1901,1902,1903,2112,2113,2114 断熱溝
5100 光波長多重信号監視装置
5300 光波長合分波回路
5304,5305 入出力導波路

Claims (12)

  1. 第1のスラブ導波路と、前記第1のスラブ導波路に接続された複数の導波路からなるアレイ導波路と、前記アレイ導波路の複数の導波路に接続された第2のスラブ導波路とを備えたアレイ導波路回折格子と、
    光スプリッタと、前記光スプリッタに接続された第1および第2のアーム導波路と、前記第1および第2のアーム導波路に接続された光カプラとを備えたマッハツェンダ干渉回路であって、前記光カプラが前記第1のスラブ導波路と接続されたマッハツェンダ干渉回路と
    を備えた光波長フィルタ回路であって、
    前記第1および第2のアーム導波路の少なくとも一方を加熱して、前記第1および第2のアーム導波路間の位相差を調整可能とするヒータを備え、前記ヒータに電力を印加して、前記光波長フィルタ回路の透過率の波長依存性を複数の状態に変化させるよう構成されたことを特徴とする光波長フィルタ回路。
  2. 請求項1に記載の光波長フィルタ回路を備えた光波長多重信号監視装置であって、
    前記第2のスラブ導波路に接続された複数の出力導波路と、
    前記複数の出力導波路に接続された複数のフォトダイオードと
    を備えたことを特徴とする光波長多重信号監視装置。
  3. 請求項2に記載の光波長多重信号監視装置であって、
    前記複数のフォトダイオードは、チップスケールパッケージに封止されたフォトダイオードアレイであることを特徴とする光波長多重信号監視装置。
  4. 請求項2または3に記載の光波長多重信号監視装置であって、
    前記光カプラは、方向性結合器であることを特徴とする光波長多重信号監視装置。
  5. 請求項2ないし4のいずれかに記載の光波長多重信号監視装置であって、
    前記アレイ導波路回折格子およびマッハツェンダ干渉回路は、1つのチップで構成されたことを特徴とする光波長多重信号監視装置。
  6. 請求項2ないし4のいずれかに記載の光波長多重信号監視装置であって、
    前記アレイ導波路回折格子およびマッハツェンダ干渉回路は、複数のチップで構成されたことを特徴とする光波長多重信号監視装置。
  7. 第1のスラブ導波路と、前記第1のスラブ導波路に接続された複数の導波路からなるアレイ導波路と、前記アレイ導波路の複数の導波路に接続された第2のスラブ導波路と、前記第2のスラブ導波路に接続された複数の出力導波路とを備えたアレイ導波路回折格子と、
    前記複数の出力導波路に接続された複数のフォトダイオードと、
    光波長多重信号が入力される入力導波路と、前記入力導波路に接続された光スプリッタと、前記光スプリッタに接続された第1および第2のアーム導波路と、前記第1および第2のアーム導波路に接続された光カプラとを備えたマッハツェンダ干渉回路であって、前記光カプラが前記第1のスラブ導波路と接続されたマッハツェンダ干渉回路と、
    前記第1および第2のアーム導波路の少なくとも一方を加熱して、前記第1および第2のアーム導波路間の位相差を調整可能とするヒータと
    を備えた光波長多重信号監視装置において、前記複数の出力導波路から出力される光強度を前記複数のフォトダイオードで検出して前記光波長多重信号の各チャネルの信号光を監視する方法であって、
    前記ヒータに電力を印加して、前記入力導波路から前記複数の出力導波路に至る透過率の波長依存性を複数の状態に変化させて、前記複数のフォトダイオードでの光強度を測定することと、
    前記複数の状態において測定された光強度から各チャネルの信号光の波長を算出することと
    を特徴とする光波長多重信号監視方法。
  8. 請求項7に記載の光波長多重信号監視方法であって、
    前記複数の状態は、前記入力導波路から前記複数の出力導波路に至る透過率の波長依存性が略平坦な状態を含み、前記略平坦な状態において測定された光強度から各チャネルの信号光の強度を算出することを特徴とする光波長多重信号監視方法。
  9. 請求項8に記載の光波長多重信号監視装置であって、
    前記略平坦な状態において測定された光強度と前記略平坦な状態以外の状態において測定された光強度との差から各チャネルの信号光の波長を算出することを特徴とする光波長多重信号監視方法。
  10. 請求項7ないし9のいずれかに記載の光波長多重信号監視方法であって、
    前記複数の状態は、前記入力導波路から前記複数の出力導波路に至る透過率の波長依存性が略同程度に逆向きに傾斜した2つの状態を含み、前記信号光の波長を算出することとは、前記2つの状態において測定された光強度の差から各チャネルの信号光の波長を算出することを特徴とする光波長多重信号監視方法。
  11. 請求項8または9に記載の光波長多重信号監視方法であって、
    前記複数の状態は、前記入力導波路から前記複数の出力導波路に至る透過率の波長依存性が略平坦な状態から光位相差が略180度シフトした状態を含み、前記波長依存性が略平坦な状態において測定された光強度と前記光位相差が略180度シフトした状態において測定された光強度との差から各チャネルの信号光の有無を判定することを特徴とする光波長多重信号監視方法。
  12. 請求項8または9に記載の光波長多重信号監視方法であって、
    前記複数の状態は、前記入力導波路から前記複数の出力導波路に至る透過率の波長依存性が略平坦な状態から光位相差が略180度シフトした状態を含み、前記光位相差が略180度シフトした状態の近傍をスキャンして測定された光強度分布から各チャネルの信号光の波長を算出することを特徴とする光波長多重信号監視方法。
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