JP2010175324A - 二次元測定装置 - Google Patents

二次元測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2010175324A
JP2010175324A JP2009016697A JP2009016697A JP2010175324A JP 2010175324 A JP2010175324 A JP 2010175324A JP 2009016697 A JP2009016697 A JP 2009016697A JP 2009016697 A JP2009016697 A JP 2009016697A JP 2010175324 A JP2010175324 A JP 2010175324A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
illumination level
line width
limit value
luminance
upper limit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009016697A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5243980B2 (ja
Inventor
Yukihito Suma
幸仁 須磨
Tatsuya Aoki
達也 青木
Hiroaki Miyauchi
宏彰 宮内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sokkia Topcon Co Ltd
Original Assignee
Sokkia Topcon Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sokkia Topcon Co Ltd filed Critical Sokkia Topcon Co Ltd
Priority to JP2009016697A priority Critical patent/JP5243980B2/ja
Publication of JP2010175324A publication Critical patent/JP2010175324A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5243980B2 publication Critical patent/JP5243980B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Input (AREA)

Abstract

【課題】二次元測定機で線幅を測定する際に、照明レベルが線幅測定の安定領域に維持されるように、自動調光のパラメータ設定を作業員に負担をかけずに短時間で容易にできるようにする。
【解決手段】測定物を照明する照明装置と、測定物を撮像する撮像部と、該撮像部からの映像信号の輝度変化から線の縁を検出して線幅を測定できる二次元測定装置において、照明装置の照明レベルを段階的に変化させる照明レベル変化手段(S6、S7、S8、S15)と、照明レベルの各段階毎に線幅を測定する線幅測定手段(S9〜S13)と、線幅、該線幅を測定したときの照明レベル、最大輝度及び最小輝度を記憶する測定値記憶手段(S14)と、記憶した測定値に基づいて線幅測定の安定領域を検出して映像信号の輝度範囲を設定する輝度設定手段(S16)と、映像信号の輝度を設定された範囲内に保持する自動調光手段とを備える。
【選択図】 図2

Description

この発明は、液晶パネル、半導体基板等においてパターンの検査等に用いられる二次元測定機に関し、さらに詳細には、自動調光のパラメータ設定を容易にした二次元測定機に関する。
従来の二次元測定機としては、図7に示したようなものが知られている(下記特許文献1参照)。
この二次元測定機は、測定物101を載置したXYステージ118と、測定物101の拡大像を得るための顕微鏡102と、測定物を撮像する撮像部104と、顕微鏡102及び撮像部104を取り付けたZステージ119と、撮像部104からの映像信号105を処理する画像処理部115と、測定物101の拡大像等を表示する表示部116と、XYステージ118及びZステージ119の位置を制御するステージ制御部117と、この二次元測定機を操作するための操作部130を備えている。
顕微鏡102には、測定物101を照明するための照明装置114も備えられる。照明装置114から出射された照明光128は、反射鏡127、ビームスプリッタ125、対物レンズ103を経て測定物101を照射する。照明装置114は、自動調光部110により照明制御部112を介して照明レベルが制御される。自動調光部110は、映像分配器106により撮像部104からの映像信号105を分配され、映像信号105中の輝度信号(以下、単に映像信号の輝度という。)が目標レベルになるように照明装置114の照明レベルを制御している。
特開2008−64826号公報
ところで、前記二次元測定機で、測定物101上のパターンの線幅を測定する際、照明装置114の照明レベル(照明装置へ供給する電力)が変化すると、線幅の測定値が変化することがある。この測定値の変化は、図8に示したように、照明レベルが大きく変化しても変化の少ない安定領域Sと、わずかな照明レベルの変化でも大きく変化する不安定領域Tとがある。安定領域Sを見つけるには、照明レベルを少しづつ変化させながら、線幅を測定していた。しかし、この作業は作業員の負担になるという問題となっていた。
また、安定領域Sを見つけた後には、照明装置114の照明レベルを安定領域S内で一定に保つように自動調光する必要がある。従来は、撮像部104から取得した映像信号105の輝度と照明レベルの関係を示すグラフから、輝度の設定値を設定していた。しかし、撮像部104や画像処理部115や照明装置114から測定物101まで光を導く光ファイバー等が劣化等により、照明装置114の照明レベルが一定でも映像信号105の輝度が変化してしまうため、照明レベルと輝度の関係を示すグラフは、定期的に書き換える必要があった。また、撮像部104のレンズの倍率変更や、照明装置114の種類変更等によっても、照明レベルと映像信号105の輝度の関係が大きく変化してしまうため、照明レベルと輝度の関係を示す多数のグラフを必要としていた。このため、映像信号105の輝度の設定値を決定することも、作業員に大きな負担になるという問題となっていた。
さらに、従来は、画像全体の平均輝度が設定範囲内に維持されるように自動調光していたが、画像中に輝度が飽和状態となった個所があると、画像全体の正確な平均輝度が求まらず、照明装置114の照明レベルを線幅測定の安定領域S内に維持することが困難となる問題もあった。
本発明は、前記問題に鑑みてなされたもので、二次元測定機で線幅を測定する際に、照明レベルが線幅測定の安定領域に維持されるように、自動調光のパラメータ設定を作業員に負担をかけずに短時間で容易にできるようにすることを課題とする。
上記課題を解決するため、請求項1に係る発明では、測定物を照明する照明装置と、測定物を撮像する撮像部と、該撮像部からの映像信号の輝度変化から線の縁を検出して線幅を測定できる二次元測定装置において、前記照明装置の照明レベルを段階的に変化させる照明レベル変化手段と、照明レベルの各段階毎に線幅を測定する線幅測定手段と、前記線幅、前記線幅を測定したときの照明レベル、映像信号の最大輝度及び最小輝度を記憶する測定値記憶手段と、記憶した前記線幅、前記線幅を測定したときの照明レベル、映像信号の最大輝度及び最小輝度に基づいて、各段階の照明レベルにおける映像信号の最小輝度に関して、線幅測定の安定領域の下限照明レベルと上限照明レベルとの間での最小値及び最大値をそれぞれ映像信号の輝度の下側下限値及び下側上限値として設定し、各段階の照明レベルにおける映像信号の最大輝度に関して、前記安定領域の下限照明レベルと上限照明レベルとの間での最小値及び最大値をそれぞれ映像信号の輝度の上側下限値及び上側上限値として設定する輝度設定手段と、映像信号の最小輝度を前記下側上限値と前記下側下限値との間に保持し、映像信号の最大輝度を前記上側上限値と前記上側下限値との間に保持する自動調光手段とを備えたことを特徴とする。
請求項2に係る発明では、請求項1に係る発明において、照明レベルと線幅との関係、照明レベルと線幅の変化量との関係、前記安定領域の下限照明レベル、前記安定領域の上限照明レベル、前記下限照明レベルと前記上限照明レベルとの間に設定された安定推奨照明レベル、該安定推奨照明レベル時の映像信号の最大輝度及び最小輝度、前記下側上限値、前記下側下限値、前記上側上限値及び前記上側下限値を表示できることを特徴とする。
請求項3に係る発明では、請求項1又は2に係る発明において、前記輝度設定手段は、前記下限照明レベル、前記上限照明レベル又は安定推奨照明レベルが手動で変更可能であることを特徴とする。
請求項4に係る発明では、請求項1、2又は3に係る発明において、前記輝度設定手段は、前記下側上限値、前記下側下限値、前記上側上限値又は前記上側下限値が手動で変更可能であることを特徴とする。
請求項5に係る発明では、請求項1、2、3又は4に係る発明において、前記輝度設定手段は、前記下側上限値、前記下側下限値、前記上側上限値及び前記上側下限値を保存できることを特徴とする。
請求項1に係る発明に係る発明によれば、測定物を照明する照明装置と、測定物を撮像する撮像部と、該撮像部からの映像信号の輝度変化から線の縁を検出して線幅を測定できる二次元測定装置において、前記照明装置の照明レベルを段階的に変化させる照明レベル変化手段と、照明レベルの各段階毎に線幅を測定する線幅測定手段と、前記線幅、前記線幅を測定したときの照明レベル、映像信号の最大輝度及び最小輝度を記憶する測定値記憶手段と、記憶した前記線幅、前記線幅を測定したときの照明レベル、映像信号の最大輝度及び最小輝度に基づいて、各段階の照明レベルにおける映像信号の最小輝度に関して、線幅測定の安定領域の下限照明レベルと上限照明レベルとの間の最小値及び最大値をそれぞれ映像信号の輝度の下側下限値及び下側上限値として設定し、各段階の照明レベルにおける映像信号の最大輝度に関して、前記安定領域の下限照明レベルと上限照明レベルとの間の最小値及び最大値をそれぞれ映像信号の輝度の上側下限値及び上側上限値として設定する輝度設定手段と、映像信号の最小輝度を前記下側上限値と前記下側下限値との間に保持し、映像信号の最大輝度を前記上側上限値と前記上側下限値との間に保持する自動調光手段とを備えたから、照明レベルを線幅測定の安定領域内に維持するように自動調光するための映像信号の輝度に関する設定値を作業員に負担をかけずに自動的に短時間で容易に設定できる。また、映像信号の最小輝度を下側上限値と下側下限値の間に維持し、映像信号の最大輝度を上側上限値と上側下限値の間に維持するので、画像中に輝度が飽和状態となった個所があっても、照明レベルを常に線幅測定の安定領域内に維持して、正確な線幅測定を行うことができる。また、本発明は、ソフトウェアの追加だけで、特にハードウェアを追加する必要が無いので低コストで実現できる。
請求項2に係る発明によれば、さらに、前記輝度設定手段は、照明レベルと線幅との関係、照明レベルと線幅の変化量との関係、前記安定領域の下限照明レベル、前記安定領域の上限照明レベル、前記下限照明レベルと前記上限照明レベルとの間に設定された安定推奨照明レベル、該安定推奨照明レベル時の映像信号の最大輝度及び最小輝度、前記下側上限値、前記下側下限値、前記上側上限値及び前記上側下限値を表示できるので、自動調光のための輝度の設定状態が作業員によく分かり、作業員は安心して二次元測定機を使用することができる。
請求項3に係る発明によれば、さらに、前記輝度設定手段は、前記下限照明レベル、前記上限照明レベル又は安定推奨照明レベルが手動で変更可能であるから、さらに適切な自動調光が可能になる。
請求項4に係る発明によれば、さらに、前記下側上限値、前記下側下限値、前記上側上限値又は前記上側下限値が手動で変更可能であるから、いっそう適切な自動調光が可能になる。
請求項5に係る発明によれば、さらに、前記下側上限値、前記下側下限値、前記上側上限値及び前記上側下限値を保存できるから、同様な測定物の場合には、保存していたそれらの値を用いて、迅速に測定を開始することができる。
本発明の一実施例に係る二次元測定機の構成を説明する図である。 前記二次元測定機で自動調光に用いられる各パラメータを設定する手順を説明するフローチャートである。 測定物上の線付近の拡大図である。 測定物上の線の縁を検出する方法を説明する図である。 前記二次元測定機で自動調光に用いられる各パラメータを表示した画像である。 前記二次元測定機で自動調光及び線幅測定の手順を説明するフローチャートである。 従来の二次元測定機の構成を説明する図である。 線幅測定の安定領域を説明する図である。
以下、本発明の二次元測定機の一実施例について、図1〜図6を参照して詳細に説明する。図1に示したように、この二次元測定機100は、XYステージ18と、測定物1の拡大像を得るための顕微鏡2と、測定物1を撮像するCCDカメラ等の撮像部4と、顕微鏡2及び撮像部4を取り付けたZステージ19と、撮像部4からの映像信号を処理する画像処理ボード15aと、XYステージ18及びZステージ19の位置を制御するステージ制御部17aと、測定物1を照明するための落射照明装置14a及び透過照明装置14bと、両照明装置14a、14bを制御する照明制御部12と、この二次元測定機100を操作するための操作部30と、この二次元測定機100を制御して測定値を算出する演算制御部(パーソナルコンピュータ)15bと、測定物1の拡大像や測定値等を表示する表示部16とを備えている。なお、XYステージ18及びZステージ19を演算制御部15bを介さずに作業者が直接制御するためのステージ操作部17bも備えている。
ところで、この二次元測定機100は、線幅測定の際に落射照明装置14a又は透過照明装置14bの照明レベル(以下、単に照度と記載するが、実際の照度(ルクス)ではなく、落射照明装置14a又は透過照明装置14bに供給する電圧である。もちろん、電圧の代わりに電力を使用してもよい。)の安定領域を自動的に求め、自動調光のための輝度の設定値を自動設定可能な自動調光設定プログラムを内蔵している。
では、図2に基づいて、演算制御部15bが行う自動調光設定プログラムの手順について説明する。この自動調光設定プログラムがスタートすると、まず、ステップS1に進んで、必要な初期化を行うとともに、N=0とする。ここで、Nは線幅測定の試行回数である。次に、ステップS2に進んで、撮像部4で撮像した画像において、図3に示したように、線50の縁を検出するために、線50の縁をそれぞれが含むような一対の長方形のボックス52を指定する。この際、異物56等を外す。
次に、ステップS3に進んで、演算制御部15bが線50の縁を検出したか否か判断する。線50の縁を検出するには、撮像部4で撮像した画像54において、ボックス52内を線50と直交方向に複数箇所走査58して、図4に示すように、これら複数箇所の平均を取った映像信号の輝度の変化を調べ、所定以上の輝度変化を検出したとき線50の縁と判断する。線50の縁を検出できない場合は、両照明装置14a、14bを片方点灯、片方消灯又は両方同時点灯等を行い、照度を変化させる等して、線50の縁を検出できるまでステップS2、S3を繰り返す。線50の縁を検出できた場合は、ステップS4に進む。
ステップS4に進むと、照度に関して線幅測定の安定領域を求めるために必要なパラメータを入力する。すなわち、測定開始照度、測定終了照度、線幅測定の試行毎の照度増分、安定領域における線幅の安定精度(標準偏差σの3倍、単位はμm)、落射照明装置14a及び透過照明装置14bが安定して設定した照度になるまでの待機時間(0〜10ms程度)を入力する。測定開始照度、測定終了照度、照度増分、安定精度、待機時間のデフォルト値は、それぞれ20、50、1、0、0である。ただし、照度は、落射照明装置14a又は透過照明装置14bに供給する電圧を、その最大電圧を100とした百分率で指定する。
次に、ステップS5に進んで、両照明装置14a、14bから、どちらを使用するか決定する。
次に、ステップS6に進んで、設定照度=測定開始照度+照度増分*Nで定まる設定照度を算出する。そして、ステップS7に進んで、ステップS6で算出した設定照度が測定終了照度を越えたか否か調べる。設定照度が測定終了照度以下の場合は、ステップS8に進んで、照明装置を設定照度に設定して、照度が安定するまで所定の待機時間待つ。それから、ステップS9に進んで、画像処理装置15aは撮像部4からの映像信号を画像54として取り込む。
次に、ステップS10に進んで、画像処理された画像54において、最大輝度Bmax及び最小輝度Bminを決定する(図3及び図4参照)。これには、2つの各ボックス52内において、それぞれの最大輝度Bmax及び最小輝度Bminを求める。そして、2つの最大輝度Bmaxのうち大きいほうを最大輝度Bmaxに決定し、2つの最小輝度Bminのうち小さいほうを最小輝度Bminに決定する。なお、前記輝度は、測定物表面の実際の輝度(カンデラ)ではなく、映像信号中の輝度信号のレベル(電圧)であり、8ビットで表せるように、最小値の0から最大値の255までの数値で表している。
次に、ステップS11に進んで、ステップS3と同様に線50の縁の検出できたか否か判断する。線50の縁を検出できた場合は、ステップS12に進んで線幅wを算出して、ステップS14に進む。線50の縁の検出できなかった場合は、ステップS13に進んで線幅wを零として、ステップS14に進む。ステップS14では、このときの照度、線幅w、最大輝度Bmax、最小輝度Bminを演算制御部15bが記憶する。そして、ステップS15に進んで、N=N+1として、ステップS6に戻る。以下、設定照度が測定終了照度を越えるまで、ステップS6〜S15を繰り返して、試行毎に設定照度を照度増分づつ上げながら、各照度毎の線幅w、最大輝度Bmax及び最小輝度Bminを記憶していく。
ステップS7で、設定照度が測定終了照度を越えたときは、ステップS16に進んで、図5に示したような自動調光に必要なパラメータを表示するダイアグログボックスを表示部16に表示させる。これには、A部分に照度変化に応じて線幅wが変化していく様子が、B部分に照度変化に応じて線幅wの変化量(前回の設定照度での線幅wと照度増分した今回の線幅wとの差)の絶対値が変化していく様子が、それぞれ表示されている。B部分で線幅wの変化量が、線幅の安定精度から算出されるしきい値P以下であれば、線幅測定の安定領域Sである。しきい値Pは、線幅の標準偏差をσとすると、σ√2である。
もし、線幅wの変化量がしきい値P以下となる領域が複数個所に分断された場合は、しきい値P以下となる領域が最も広い個所を安定領域Sとする。どうしても2回連続して線幅wの変化量がしきい値P以下となることがない場合は、安定領域Sが存在しないとみなして、測定開始照度を安定開始照度Laに設定し、測定終了照度を安定終了照度Lbに設定する。
A部分、B部分、C部分には、自動的に安定開始照度(安定領域の下限照度)Laと、安定終了照度(安定領域の上限照度)Lbが表示される。安定開始照度Laと安定終了照度Lbの平均が、安定推奨照度Lcとして表示される。安定開始照度La、安定終了照度Lb及び安定推奨照度Lcが表示されると、それぞれの照度、各照度に対応する映像信号の最大輝度及び最小輝度がC部分に表示される。A部分又はB部分において、各照度La,Lb,Lcをドラッグするか、C部分において、各照度の右側の矢印をクリックすることにより、各照度La,Lb,Lcと、各照度に対応する最大輝度及び最小輝度を変更することも可能である。
安定推奨照度Lcにおける最大輝度Bmaxと最小輝度Bminは、D部分に折れ線Gでグラフ化しても表示される。そして、各設定照度における映像信号の最小輝度に関して、安定開始照度Laと安定終了照度Lbとの間での最小値及び最大値は、それぞれ映像信号の輝度の下側下限値BL及び下側上限値BUとして表示され、各設定照度における映像信号の最大輝度に関して、安定開始照度Laと安定終了照度Lbとの間での最小値及び最大値は、それぞれ映像信号の輝度の上側下限値TL及び上側上限値TUとして表示される。
下側下限値BL、下側上限値BU、上側下限値TL及び上側上限値TUは、E部分にも数値で表示される。これらの数値は、パラメータ名を付けて、「パラメータを保存する」をクリックすることにより、記憶装置に保存させることができる。
既に保存してあるパラメータ、すなわち、映像信号の輝度に関する上側下限値TL’、上側上限値TU’、下側下限値BL’及び下側上限値BU’は、F部分に表示される。パラメータ名の右側の矢印をクリックすることにより、保存しているパラメータを順次表示することができる。「パラメータをグラフ上に表示する」をクリックすることにより、D部分に表示させることもできる。D部分の表示を参考にして、E部分における各輝度の右側の矢印をクリックすることにより、これら輝度を変更することもできる。
このE部分に表示されたパラメータ、すなわち上側下限値TL、上側上限値TU、下側下限値BL及び下側上限値BUは、後述する自動調光及び線幅測定プログラムに引き継がれて、自動調光のための輝度の設定値として用いられる。また、各照度や各輝度は、「初期値に戻す」をクリックすることにより、ステップS16に進んで、ダイアグログボックスを開いた直後の状態に戻すこともできる。次に、ステップS17に進んで、この自動調光設定プログラムを終了するか否かの指示を待つ。終了する場合は、作業員が「閉じる」をクリックすると、指示があればパラメータを保存して、このプログラムを終了する。作業員が「閉じる」をクリックしない場合は、ステップS17に戻って、「閉じる」をクリックされるまで待つ。
こうして、自動調光に必要なパラメータが設定された後には、この二次元測定機に内蔵される自動調光及び線幅測定プログラムが実行される。次に、図6に基づいて、自動調光及び線幅測定プログラムの手順について説明する。
自動調光及び線幅測定プログラムがスタートすると、ステップS21に進んで、図3に示したように、線幅測定を行う部分の画像54を取り込む。そして、作業者は、線50の縁を検出するるためのボックス52を2箇所指定する。もちろん、精度を上げるため、さらに多数のボックスを指定して平均を取ってもよいし、特に指定せずに画面全体について指定してもよい。
次に、ステップS22に進んで、自動調光するか否かの指示を調べる。自動調光しない場合は、直ちにステップS28に進んで、線幅測定を行う。自動調光する場合は、ステップS23に進んで、ボックス52内の最小輝度Bmin及び最大輝度Bmax(図4参照)を取得し、それぞれが設定された下側上限値BUと下側下限値BLとの間、上側上限値TUと上側下限値TLとの間の範囲内にあるか否か調べる。それぞれが設定された範囲内であれば、ステップS28に進んで、線幅測定を行う。それぞれが設定された範囲内になければ、ステップS24に進んで、ノイズ除去を行った後に、再度、ボックス52内の最小輝度Bmin及び最大輝度Bmaxを取得する。そして、ステップS23と同様に、それぞれが設定された範囲内にあるか否か調べ、それぞれが設定された範囲内であれば、ステップS28に進んで、線幅測定を行う。それぞれが設定された範囲内になければ、ステップS25に進んで、自動調光の実行中か否か調べる。
ステップS25において、自動調光の実行中でなければ、ステップS28に進んで、線幅測定を行う。自動調光の実行中であれば、ステップS26に進んで、調光可能か否か調べる。調光可能であれば、ステップS27に進んで、調光を行う。調光後は、ステップS21に戻る。調光可能でなければ、ステップS28に進んで、線幅測定を行う。こうして、可能な限り、線幅測定の安定領域S(図5参照)内の照度で線幅測定が行われる。
なお、自動調光設定プログラムにおいて、ステップS6、S7、S8、S15は、請求項1に記載の照明レベル変化手段に相当し、ステップS9〜S13は、請求項1に記載の線幅測定手段に相当し、ステップS14は、請求項1に記載の測定値記憶手段に相当し、ステップS16は、請求項1に記載の輝度設定手段に相当する。また、自動調光及び線幅測定プログラムにおけるステップS21〜S27は、請求項1に記載の自動調光手段に相当する。
本実施例によれば、内蔵するソフトウェアだけで線幅測定の安定領域Sの照度を自動的に求め、自動調光用の輝度の設定値を自動設定して、短時間で簡単に線幅測定が開始できるようになる。また、安定推奨照度Lcにおける最大輝度Bmax及び最小輝度Bminや、図5のB部分に示された線幅の変化量や、保存している設定値等を参酌して、さらに適切な輝度の設定値を手動でも設定できる。しかも、特にハードウェアを追加する必要が無いので、低コストで済む。
ところで、本発明は、前記実施例に限るものではなく、種々の変形が可能である。たとえば、前記実施例では、線50の縁を検出するのに一対のボックス52を指定したが、線50の両側の縁をそれぞれが含むような1つ又は複数の直線、四角形又は円等の適宜図形を選択することも可能である。また、前記実施例では、安定開始照度Laと安定終了照度Lbの平均を安定推奨照度Lcとしたが、照度変化に応じて線幅wの変化量が最も小さくなる照度を安定推奨照度Lcとしてもよい。さらに、前記実施例では、線幅測定の安定領域Sを実験から求めて映像信号の輝度の設定値を決めていたが、測定物1が以前に測定したものと同じもので、保存しているパラメータが利用できると思われる場合は、図2のフローチャートにおいて、スタート後直ちにステップS16に進んで、保存しているパラメータを利用して自動調光のパラメータ設定を行ってもよい。
1 測定物
2 顕微鏡
4 撮像部
14a 落射照明装置
14b 透過照明装置
25 ビームスプリッタ
27 反射鏡
100 二次元測定機
w 線幅
S 安定領域
La 安定開始照度(安定領域の下限照明レベル)
Lb 安定終了照度(安定領域の上限照明レベル)
Lc 安定推奨照度(安定推奨照明レベル)
TU 上側上限値
TL 上側下限値
BU 下側上限値
BL 下側下限値

Claims (5)

  1. 測定物を照明する照明装置と、測定物を撮像する撮像部と、該撮像部からの映像信号の輝度変化から線の縁を検出して線幅を測定できる二次元測定装置において、
    前記照明装置の照明レベルを段階的に変化させる照明レベル変化手段と、
    照明レベルの各段階毎に線幅を測定する線幅測定手段と、
    前記線幅、前記線幅を測定したときの照明レベル、映像信号の最大輝度及び最小輝度を記憶する測定値記憶手段と、
    記憶した前記線幅、前記線幅を測定したときの照明レベル、映像信号の最大輝度及び最小輝度に基づいて、各段階の照明レベルにおける映像信号の最小輝度に関して、線幅測定の安定領域の下限照明レベルと上限照明レベルとの間での最小値及び最大値をそれぞれ映像信号の輝度の下側下限値及び下側上限値として設定し、各段階の照明レベルにおける映像信号の最大輝度に関して、前記安定領域の下限照明レベルと上限照明レベルとの間での最小値及び最大値をそれぞれ映像信号の輝度の上側下限値及び上側上限値として設定する輝度設定手段と、
    映像信号の最小輝度を前記下側上限値と前記下側下限値との間に保持し、映像信号の最大輝度を前記上側上限値と前記上側下限値との間に保持する自動調光手段とを備えたことを特徴とする二次元測定装置。
  2. 前記輝度設定手段は、照明レベルと線幅との関係、照明レベルと線幅の変化量との関係、前記安定領域の下限照明レベル、前記安定領域の上限照明レベル、前記下限照明レベルと前記上限照明レベルとの間に設定された安定推奨照明レベル、該安定推奨照明レベル時の映像信号の最大輝度及び最小輝度、前記下側上限値、前記下側下限値、前記上側上限値及び前記上側下限値を表示できることを特徴とする請求項1に記載の二次元測定装置。
  3. 前記輝度設定手段は、前記下限照明レベル、前記上限照明レベル又は安定推奨照明レベルが手動で変更可能であることを特徴とする請求項1又は2に記載の二次元測定装置。
  4. 前記輝度設定手段は、前記下側上限値、前記下側下限値、前記上側上限値又は前記上側下限値が手動で変更可能であることを特徴とする請求項1、2又は3に記載の二次元測定装置。
  5. 前記輝度設定手段は、前記下側上限値、前記下側下限値、前記上側上限値及び前記上側下限値を保存できることを特徴とする請求項1、2、3又は4に記載の二次元測定装置。
JP2009016697A 2009-01-28 2009-01-28 二次元測定装置 Active JP5243980B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009016697A JP5243980B2 (ja) 2009-01-28 2009-01-28 二次元測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009016697A JP5243980B2 (ja) 2009-01-28 2009-01-28 二次元測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010175324A true JP2010175324A (ja) 2010-08-12
JP5243980B2 JP5243980B2 (ja) 2013-07-24

Family

ID=42706453

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009016697A Active JP5243980B2 (ja) 2009-01-28 2009-01-28 二次元測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5243980B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010037746A1 (de) * 2010-09-23 2012-03-29 Carl Mahr Holding Gmbh Verfahren zum optischen Antasten einer Kante in oder an einem Oberflächenbereich
JP2013195134A (ja) * 2012-03-16 2013-09-30 Denso Corp 微小変位量計測方法及び微小変位量計測装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH067006U (ja) * 1992-06-29 1994-01-28 三菱マテリアル株式会社 非接触測定機
JPH10154014A (ja) * 1996-07-29 1998-06-09 Elpatronic Ag へりの追従方法、検査方法及び装置
JPH10288507A (ja) * 1997-02-17 1998-10-27 Fuji Xerox Co Ltd 線幅およびエッジ凹凸度測定方法と測定装置
JP2006177737A (ja) * 2004-12-21 2006-07-06 Olympus Corp 画像処理装置、顕微鏡装置、検査装置および画像処理プログラム
JP2007256562A (ja) * 2006-03-23 2007-10-04 Hitachi Kokusai Electric Inc 顕微鏡カメラ
JP2008146251A (ja) * 2006-12-07 2008-06-26 Sharp Corp 調光装置、調光方法、検査システム、調光装置制御プログラム、および該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP2008209295A (ja) * 2007-02-27 2008-09-11 Hitachi Kokusai Electric Inc 寸法測定装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH067006U (ja) * 1992-06-29 1994-01-28 三菱マテリアル株式会社 非接触測定機
JPH10154014A (ja) * 1996-07-29 1998-06-09 Elpatronic Ag へりの追従方法、検査方法及び装置
JPH10288507A (ja) * 1997-02-17 1998-10-27 Fuji Xerox Co Ltd 線幅およびエッジ凹凸度測定方法と測定装置
JP2006177737A (ja) * 2004-12-21 2006-07-06 Olympus Corp 画像処理装置、顕微鏡装置、検査装置および画像処理プログラム
JP2007256562A (ja) * 2006-03-23 2007-10-04 Hitachi Kokusai Electric Inc 顕微鏡カメラ
JP2008146251A (ja) * 2006-12-07 2008-06-26 Sharp Corp 調光装置、調光方法、検査システム、調光装置制御プログラム、および該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP2008209295A (ja) * 2007-02-27 2008-09-11 Hitachi Kokusai Electric Inc 寸法測定装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010037746A1 (de) * 2010-09-23 2012-03-29 Carl Mahr Holding Gmbh Verfahren zum optischen Antasten einer Kante in oder an einem Oberflächenbereich
DE102010037746B4 (de) * 2010-09-23 2013-01-24 Carl Mahr Holding Gmbh Verfahren zum optischen Antasten einer Kante in oder an einem Oberflächenbereich
JP2013195134A (ja) * 2012-03-16 2013-09-30 Denso Corp 微小変位量計測方法及び微小変位量計測装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5243980B2 (ja) 2013-07-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9007452B2 (en) Magnification observation device, magnification observation method, and magnification observation program
CN110300255B (zh) 信息处理装置、信息处理方法、程序和视觉测量装置
WO2011145319A1 (ja) 形状測定装置及び形状測定方法
JP5865666B2 (ja) 画像処理装置および画像処理プログラム
US20140340475A1 (en) Microscope system and stitched area decision method
JP2010243438A (ja) 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法
JPWO2009104719A1 (ja) レーザ走査顕微鏡
JP2015096912A (ja) 観察装置
JP5243980B2 (ja) 二次元測定装置
JP2009198709A (ja) 観察装置と、観察方法
US10481378B2 (en) Interactive graphical representation of image quality and control thereof
JP2009058377A (ja) 検査装置
US20130033620A1 (en) Method for automatically adjusting the levels of illumination sources in an optical measurement machine
JP2009068986A (ja) 形状測定装置
JP3296513B2 (ja) 微小径測定装置
JP2007171455A (ja) 撮像装置
JP2005214787A (ja) 3次元形状測定装置
JP2007174355A (ja) ディスプレイの評価装置、評価方法及びプログラム
JP2009258187A (ja) 光学顕微鏡装置及び光学顕微鏡用データ処理装置
JP2008046509A (ja) 走査型共焦点レーザ顕微鏡による計測方法及びその制御システム
JP2010256724A (ja) 観察装置
JP2008082955A (ja) 分光測光システム及び該システムの照明光源位置の補正方法
JP2015210396A (ja) アライメント装置、顕微鏡システム、アライメント方法、及びアライメントプログラム
JP2009092795A (ja) 撮像型顕微鏡装置における画像の明度の調整方法
US20180210186A1 (en) Image processing apparatus, image processing system, microscope system, image processing method and computer-readable recording medium

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20101022

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111011

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130122

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130123

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130311

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130402

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130405

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160412

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5243980

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250