JP2010165165A - メモリ装置及びメモリアクセス方法 - Google Patents

メモリ装置及びメモリアクセス方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2010165165A
JP2010165165A JP2009006703A JP2009006703A JP2010165165A JP 2010165165 A JP2010165165 A JP 2010165165A JP 2009006703 A JP2009006703 A JP 2009006703A JP 2009006703 A JP2009006703 A JP 2009006703A JP 2010165165 A JP2010165165 A JP 2010165165A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
data
address
read
otp
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009006703A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5328020B2 (ja
Inventor
Hyo Chin
標 沈
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP2009006703A priority Critical patent/JP5328020B2/ja
Priority to TW99100815A priority patent/TWI470429B/zh
Priority to US12/687,630 priority patent/US8335098B2/en
Priority to CN201010005538.3A priority patent/CN101783181B/zh
Priority to KR1020100003790A priority patent/KR101466420B1/ko
Publication of JP2010165165A publication Critical patent/JP2010165165A/ja
Priority to US13/357,712 priority patent/US8553443B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5328020B2 publication Critical patent/JP5328020B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • G11C17/14Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
    • G11C17/18Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Information Retrieval, Db Structures And Fs Structures Therefor (AREA)
  • Programmable Controllers (AREA)

Abstract

【課題】OTPメモリで構成するメモリと、擬似MTPメモリで構成するメモリの機能を維持したまま、回路構成を簡単にすることができるメモリ装置を提供する。
【解決手段】消去したデータであることを示すマークビットを記憶するマークビット記憶領域と、記憶するべきデータを記憶するデータビット記憶領域とからなるメモリセットを複数有し、メモリセットのうち、所定数のメモリセットをOTPメモリとして動作させるOTPメモリブロックと、メモリセットのうち、OTPメモリブロックを除くメモリセットを擬似MTPメモリとして動作させる擬似MTPメモリブロックとからなるOTP(One Time Programmable)メモリで構成するメモリ装置であって、OTPメモリブロックのマークビット記憶領域には、予めマークビットが書き込まれている。
【選択図】図1

Description

本発明は、OTP(One Time Programmable)メモリを擬似的にMTP(MultiTime Programmable)メモリとして使用するメモリ装置及びメモリアクセス方法に関する。
従来から表示装置を制御するための情報を記憶するメモリ装置としては、周波数制御用のOTPメモリと、輝度制御用のOTPメモリを擬似的にMTPメモリとして使用した擬似MTPメモリと、それぞれのメモリを制御する制御回路等からなるメモリ装置が利用されている。不揮発メモリが必要な集積回路においては、プロセスコストを削減するため、EEPROM(Erasable Programmable ROM)の代わりにOTPメモリを採用するケースが多い。OTPメモリは、書き込み動作が一回のみ行えるメモリである。また、擬似MTPメモリは、複数のOTPメモリを使用して見かけ上の書き換え回数を増やす構成を有するメモリである。これらのメモリは、一般的によく使用されている。OTPメモリおよび擬似MTPメモリについては公知であり、例えば、特許文献1や特許文献2等に記載されている。
特開2006−323981号公報 米国特許第6728137号明細書
ところで、従来の表示装置を制御するための集積回路内に設けられるメモリ装置にあっては、OTPメモリで構成する周波数制御用メモリと、擬似MTPメモリで構成する輝度制御用メモリ、さらにはそれぞれのメモリを制御する制御回路が必須であった。そのため、電力(電流)消費量も多く、集積回路基盤上の占有面積が大きくなるとともに、メモリ装置以外の周辺回路との接続信号本数が多くなり、集積回路のコストアップになっていた。また、周波数制御用のOTPメモリと輝度調整用の擬似MTPメモリは、その動作および制御方法が異なり、一つのメモリの構成とすることが困難であるという問題がある。OTPメモリは、1回の書き込みのみが可能であり、書き換えが出来ない。しかし、擬似MTPメモリは複数回の書き換えが可能なメモリである。そのため、擬似MTPメモリはOTPメモリと違い全てのメモリを順次読み書きする動作があるなど、機能、動作および制御方法が全く異なり、一つのメモリとして構成することが困難である。
不揮発性メモリの必要な集積回路において、OTPメモリと擬似MTPは元々別の目的で利用されているが、OTPメモリと擬似MTPメモリは、制御方法は異なるがほとんどの周辺回路は重複しているにもかかわらず、今まで兼用されていなかった。また、OTPメモリと擬似MTPメモリを集計回路内に別々に配置すると、それぞれのメモリをそれぞれ制御させなければならず、多くの回路面積を占めることになり、集積回路の小型化が困難であるという問題もある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、OTPメモリで構成するメモリと、擬似MTPメモリで構成するメモリの機能を維持したまま、回路構成を簡単にすることができるメモリ装置及びメモリアクセス方法を提供することを目的とする。
本発明は、消去したデータであることを示すマークビットを記憶するマークビット記憶領域と、記憶するべきデータを記憶するデータビット記憶領域とからなるメモリセットを複数有している。マークビットとは、論理的なビットであり、1ビットであるとは限らない。マークビット記憶領域とは、論理的に消去であることを記録する領域である。また、データビット記憶領域とは、論理的にデータを記録する領域である。前記メモリセットのうち、所定数のメモリセットをOTPメモリとして動作させるOTPメモリブロックと、前記メモリセットのうち、前記OTPメモリブロックを除くメモリセットを擬似MTPメモリとして動作させる擬似MTPメモリブロックとからなるOTP(One Time Programmable)メモリで構成するメモリ装置であって、前記マークビットを参照して、データを読み書きするべき前記メモリセットのアドレスを求めるアドレス検索手段と、前記OTPメモリブロックと、前記擬似MTPメモリブロックのいずれかを選択するブロック選択信号を入力し、該ブロック選択信号に基づき選択されたメモリブロックのうち、前記アドレス検索手段によって求めたアドレスで示されるメモリセットのデータビット領域に記憶されているデータを読み出す読み出し手段と、前記擬似MTPメモリブロックのうち、前記アドレス検索手段によって求めたアドレスに基づいて、新たにデータを書き込むべきメモリセットを特定し、該メモリセットのデータビット領域に書き込むべきデータを書き込む書き込み手段と、前記アドレス検索手段によって求めたアドレスのメモリセットのマークビット記憶領域に前記マークビットを書き込むマークビット書き込み手段とを備え、前記OTPメモリブロックのマークビット記憶領域には、予め前記マークビットが書き込まれていることを特徴とする。
本発明は、前記複数のメモリセットは、複数系統のデータを読み書きできるように構成され、前記アドレス検索手段は、読み書きするべきデータの系統に応じて、前記データを読み書きするべき前記メモリセットのアドレスを求めることを特徴とする。
本発明は、前記読み出し手段と、前記書き込み手段は、所定数の前記メモリセットの前記データビット記憶領域に対してデータを読み書きするように構成され、前記マークビット書き込み手段は、前記アドレス検索手段によって求めたアドレスを先頭として、前記所定数の前記メモリセットのマークビット記憶領域に前記マークビットを書き込むことを特徴とする。
本発明は、消去したデータであることを示すマークビットを記憶するマークビット記憶領域と、記憶するべきデータを記憶するデータビット記憶領域とからなるメモリセットを複数有し、前記メモリセットのうち、所定数のメモリセットをOTPメモリとして動作させるOTPメモリブロックと、前記メモリセットのうち、前記OTPメモリブロックを除くメモリセットを擬似MTPメモリとして動作させる擬似MTPメモリブロックとからなるOTP(One Time Programmable)メモリで構成し、前記OTPメモリブロックのマークビット記憶領域には、予め前記マークビットが書き込まれているメモリ装置におけるメモリアクセス方法であって、前記マークビットを参照して、データを読み書きするべき前記メモリセットのアドレスを求めるアドレス検索ステップと、前記OTPメモリブロックと、前記擬似MTPメモリブロックのいずれかを選択するブロック選択信号を入力された場合に、該ブロック選択信号に基づき選択されたメモリブロックのうち、前記アドレス検索ステップによって求めたアドレスで示されるメモリセットのデータビット領域に記憶されているデータを読み出す読み出しステップと、前記擬似MTPメモリブロックのうち、前記アドレス検索ステップによって求めたアドレスに基づいて、新たにデータを書き込むべきメモリセットを特定し、該メモリセットのデータビット領域に書き込むべきデータを書き込む書き込みステップと、前記アドレス検索ステップによって求めたアドレスのメモリセットのマークビット記憶領域に前記マークビットを書き込むマークビット書き込みステップとを有することを特徴とする。
本発明は、前記複数のメモリセットは、複数系統のデータを読み書きできるように構成され、前記アドレス検索ステップは、読み書きするべきデータの系統に応じて、前記データを読み書きするべき前記メモリセットのアドレスを求めることを特徴とする。
本発明は、前記読み出しステップと、前記書き込みステップは、所定数の前記メモリセットの前記データビット記憶領域に対してデータを読み書きするように構成され、前記マークビット書き込みステップは、前記アドレス検索ステップによって求めたアドレスを先頭として、前記所定数の前記メモリセットのマークビット記憶領域に前記マークビットを書き込むことを特徴とする。
本発明によれば、従来はOTPメモリで構成するメモリと、擬似MTPメモリで構成するメモリと、それぞれのメモリを制御する制御回路で構成されていたものを、一つのメモリブロックと、このメモリブロックに対してデータを読み書きする回路で構成するようにしたため、OTPメモリで構成するメモリと、擬似MTPメモリで構成するメモリの機能を維持したまま、回路構成を簡単にすることができる。これにより、集積回路基板上の占有面積を小さくし、消費電力および消費電流を少なくし、またメモリと回路の部品数を低減することができるため、コストダウンを実現することができるという効果が得られる。
本発明の第1の実施形態の構成を示すブロック図である。 本発明の第2の実施形態の構成を示すブロック図である。 本発明の第3の実施形態の構成を示すブロック図である。 本発明の第4の実施形態の構成を示すブロック図である。 マークビットの検索動作を示す説明図である。 データの読み出し動作を示す説明図である。 データの書き込み動作を示す説明図である。
<第1の実施形態>
以下、本発明の第1の実施形態によるメモリ装置を図面を参照して説明する。図1は同実施形態の構成を示すブロック図である。この図において、符号1は、OTP(One Time Programmable)メモリで構成するメモリブロックである。図1に示す例では、メモリブロック1は、16個のメモリセットから構成する。メモリセットは、n(nは、自然数)ビット(例えば、8ビット)のデータビットと、1ビットのマークビットからなる。各メモリセットには、アドレスが付与されており、アドレスを指定することによって、メモリセットそれぞれを一意に特定することができる。メモリブロック1は、16個のメモリセットのうち、m1個(m1は自然数)のメモリセットで構成し、OTPメモリとして動作するOTPメモリブロックと、m2個(m2は、自然数であり、m2=16−m1となる)のメモリセットで構成し、擬似MTPメモリとして動作する擬似MTPメモリブロックとからなる。ここでは、m1=2、m2=16−2=14であるものとして説明する。
なお、初期状態において、OTPメモリブロックのデータビットは、所定のデータが予めセットされており、OTPメモリブロックのマークビットは、全て「0」がセットされている。また、初期状態において、擬似MTPメモリブロックの未記入メモリセットのnビットのデータビットは全て「1」がセットされており、擬似MTPメモリブロックの未記入メモリセットのマークビットは、全て「1」がセットされている。ここでいう初期状態とは、メモリ装置の製造直後の状態であり、メモリ装置が未だ使用されていない状態をいう。
符号2は、読み出し要求に応じて、メモリブロック1のうち、OTPメモリブロックのデータビットを読み出して、読み出したデータを出力する読み出し部である。符号3は、読み出し要求に応じて、メモリブロック1のうち、擬似MTPメモリブロックの最新データのデータビットを読み出して、読み出したデータを出力する読み出し部である。符号4は、書き込み要求に応じて、メモリブロック1の擬似MTPメモリブロックへ最新データを書き込む書き込み部である。符号5は、読み出し部3または書き込み部4からのアドレス要求に対して、メモリブロック1上のマークビットを参照して、擬似MTPメモリブロック上において最新データが書き込まれているメモリセットを検索して、見つかったメモリセットのアドレスを返す検索部である。符号6は、既に書き込まれているデータを消去した扱いにするために、検索部5から出力するアドレスに基づいて、消去したメモリセットにマークビットを書き込むマークビット書き込み部である。符号7は、図1に示すメモリ装置を利用して、OTPメモリブロックに記憶されているデータの読み出しと、擬似MTPメモリブロック対して、所望のデータを読み書きを行うアプリケーション回路である。
次に、図5を参照して、図1に示す検索部5の動作を説明する。図5は、図1に示す検索部5が、読み出し部3または書き込み部4からのアドレス要求に対して、メモリブロック1上のマークビットを参照して、擬似MTPメモリブロック上において最新データが書き込まれているメモリセットを検索して、見つかったメモリセットのアドレスを返す動作を示す図である。検索部5は、アドレス値が最も小さい値(この例では「0」)からアドレス値が大きい値(この例では、「15」)の方向へ各メモリセットのマークビットを順に参照して、マークビットが「1」であるメモリセットを探し、見つかった場合、このメモリセットのアドレス値を返す。図5に示す例では、アドレス値が「0」〜「8」まではマークビットが「0」であり、アドレス値が「9」のメモリセットのマークビットが「1」であるため、検索部5が出力するアドレス値は、「9」となる。この動作によって、最新データが書き込まれているメモリセットの検索を行うことができる。
次に、図6を参照して、図1に示す読み出し部3の動作を説明する。図6は、読み出し部3が、読み出し要求に応じて、メモリブロック1のうち、擬似MTPメモリブロックの最新データのデータビットを読み出して、読み出したデータを出力する動作を示す図である。読み出し部3は、検索部5に対して、アドレス要求を出力し、このアドレス要求に対して返されたアドレス値で示されるメモリセットのデータビットを読み出して、出力する。図6に示す例では、検索されたアドレス値が「9」である場合、アドレス値が「9」であるメモリセットのデータを読み出して出力する。この動作によって、最新データを読み出すことができる。
次に、図7を参照して、図1に示す書き込み部4の動作を説明する。図7は、書き込み部4が、書き込み要求に応じて、メモリブロック1の擬似MTPメモリブロックへ最新データを書き込む動作を示す図である。書き込み部4は、検索部5に対して、アドレス要求を出力し、このアドレス要求に対して返されたアドレス値をインクリメント(+1)し、このインクリメントしたアドレス値で示されるメモリセットに書き込むべきデータビットを書き込む。一方、マークビット書き込み部6は、検索部5から出力されるアドレス値で示されるメモリセットのマークビットを「1」から「0」にする。図7に示す例では、検索されたアドレス値が「9」である場合、アドレス値「9」に「1」を加算し、アドレス値「10」で示されるメモリセットに書き込むべきデータビットを書き込む。そして、アドレス値「9」で示されるメモリセットのマークビットを「1」から「0」にする。この動作によって、直前まで最新データが記憶されていたメモリセットのデータを消去して、新たな最新データをメモリセットに書き込むことができる。
次に、図1を参照して、アプリケーション回路7からの指示に応じて、データの読み書きを行う動作を説明する。まず、メモリ装置の製造時に予めOTPメモリブロックに書き込まれているデータを読み出す場合、アプリケーション回路7は、読み出し部2に対して、読み出し要求信号を出力する。この読み出し要求信号には、読み出すべきデータを指定するアドレス値が含まれている。このアドレス値が含まれていた場合、読み出し部2は、指定されたアドレス値のデータを読み出す。例えば、アドレス値が「0」であれば、アドレス「0」のデータを読み出す。また、読み出し要求信号にアドレス値が含まれていない場合、読み出し部2は、OTPメモリブロックに記憶されている全てのデータを読み出す。そして、読み出し部2は、読み出したデータをアプリケーション回路7へ出力する。この動作によって、メモリ装置の製造時に予めOTPメモリブロックに書き込まれているデータを読み出すことができる。
次に、擬似MTPメモリブロックに記憶されているデータを読み出す場合、アプリケーション回路7は、読み出し部3に対して、読み出し要求信号を出力する。読み出し部3は、読み出し要求信号を受けると、検索部5に対してアドレス要求信号を出力する。これを受けて、検索部5は、最新データが書き込まれているメモリセットを検索し、そのメモリセットのアドレス値をアドレスデータとして読み出し部3へ出力する。読み出し部3は、検索部5から出力されたアドレス値で示されるメモリセットのデータを読み出して、この読み出したデータをアプリケーション回路7へ出力する。この動作によって、擬似MTPメモリブロックに記憶されている最新データを読み出すことができる。
次に、擬似MTPメモリブロックに記憶されているデータを更新する場合(新たにデータを書き込む場合)、アプリケーション回路7は、書き込み部4に対して、書き込み要求信号を出力する。この書き込み要求信号には、書き込むべきデータが含まれる。書き込み部4は、検索部5に対して、アドレス要求信号を出力する。これを受けて、検索部5は、最新データが書き込まれているメモリセットを検索し、そのメモリセットのアドレス値をアドレスデータとして書き込み部4へ出力する。書き込み部4は、検索部5から出力されたアドレス値をインクリメント(+1)して、インクリメントされたアドレス値で示されるメモリセットに書き込むべきデータを書き込み、アプリケーション回路7に対して処理結果信号を出力する。この動作と並行して、マークビット書き込み部6は、検索部5が出力したアドレス値で示されるメモリセットのマークビットを「0」にする。この動作によって、擬似MTPメモリブロックに記憶されている最新データを更新することができる。
<第2の実施形態>
次に、本発明の第2の実施形態によるメモリ装置を図面を参照して説明する。図2は同実施形態の構成を示すブロック図である。この図において、符号1は、OTP(One Time Programmable)メモリで構成するメモリブロックであり、第1の実施形態で説明したメモリブロック1と同様の構成である。符号31は、ブロック選択信号を入力し、このブロック選択信号に基づいて、読み出すべきデータがOTPメモリブロックであるか、擬似MTPメモリブロックであるかを選択し、選択したメモリブロックからデータビットを読み出して、読み出したデータを出力する読み出し部である。
図2に示す書き込み部4、検索部5及びマークビット書き込み部6は、図1に示す第1の実施形態の書き込み部4、検索部5及びマークビット書き込み部6と同様の構成であるため、詳細な説明を省略する。
次に、図2を参照して、アプリケーション回路71からの指示に応じて、データの読み書きを行う動作を説明する。まず、メモリ装置の製造時に予めOTPメモリブロックに書き込まれているデータを読み出す場合、アプリケーション回路71は、読み出し部31に対して、OTPメモリブロックを選択することを示すブロック選択信号を出力する。そして、アプリケーション回路71は、読み出し部31に対して、読み出し要求信号を出力する。この読み出し要求信号には、読み出すべきデータを指定するアドレス値が含まれている。このアドレス値が含まれていた場合、読み出し部31は、指定されたアドレス値のデータを読み出す。例えば、アドレス値が「0」であれば、アドレス「0」のデータを読み出す。また、読み出し要求信号にアドレス値が含まれていない場合、読み出し部31は、OTPメモリブロックに記憶されている全てのデータを読み出す。そして、読み出し部31は、読み出したデータをアプリケーション回路71へ出力する。この動作によって、メモリ装置の製造時に予めOTPメモリブロックに書き込まれているデータを読み出すことができる。
次に、擬似MTPメモリブロックに記憶されているデータを読み出す場合、アプリケーション回路71は、読み出し部31に対して、擬似MTPメモリブロックを選択することを示すブロック選択信号を出力する。そして、アプリケーション回路71は、読み出し部31に対して、読み出し要求信号を出力する。読み出し部31は、読み出し要求信号を受けると、検索部5に対してアドレス要求信号を出力する。これを受けて、検索部5は、最新データが書き込まれているメモリセットを検索し、そのメモリセットのアドレス値をアドレスデータとして読み出し部31へ出力する。読み出し部31は、検索部5から出力されたアドレス値で示されるメモリセットのデータを読み出して、この読み出したデータをアプリケーション回路71へ出力する。この動作によって、擬似MTPメモリブロックに記憶されている最新データを読み出すことができる。
次に、擬似MTPメモリブロックに記憶されているデータを更新する場合(新たにデータを書き込む場合)、アプリケーション回路71は、書き込み部4に対して、書き込み要求信号を出力する。この書き込み要求信号には、書き込むべきデータが含まれる。書き込み部4は、検索部5に対して、アドレス要求信号を出力する。これを受けて、検索部5は、最新データが書き込まれているメモリセットを検索し、そのメモリセットのアドレス値をアドレスデータとして書き込み部4へ出力する。書き込み部4は、検索部5から出力されたアドレス値をインクリメント(+1)して、インクリメントされたアドレス値で示されるメモリセットに書き込むべきデータを書き込み、アプリケーション回路71に対して処理結果信号を出力する。この動作と並行して、マークビット書き込み部6は、検索部5が出力したアドレス値で示されるメモリセットのマークビットを「0」にする。この動作によって、擬似MTPメモリブロックに記憶されている最新データを更新することができる。
<第3の実施形態>
次に、本発明の第3の実施形態によるメモリ装置を図面を参照して説明する。図3は同実施形態の構成を示すブロック図である。この図において、符号1は、OTP(One Time Programmable)メモリで構成するメモリブロックである。図3に示す例では、メモリブロック1は、16個のメモリセットで構成し、n(nは、自然数)ビット(例えば、8ビット)のデータビットと、1ビットのマークビットからなる。各メモリセットには、アドレスが付与されており、アドレスを指定することによって、メモリセットそれぞれを一意に特定することができる。メモリブロック1は、16個のメモリセットのうち、m1個(m1は自然数)のメモリセットで構成し、OTPメモリとして動作する第1のOTPメモリブロックと、m3個(m3は自然数)のメモリセットで構成し、OTPメモリとして動作する第2のOTPメモリブロックと、m2個(m2は、自然数であり、m2=16−m1−m3となる)のメモリセットで構成し、擬似MTPメモリとして動作する擬似MTPメモリブロックとからなる。図3に示すメモリブロック構成とすることにより、1つのメモリブロック1で2系統のデータの読み書きを実現する。ここでは、m1=2、m3=3、m2=16−2−3=11であるものとして説明する。
なお、初期状態において、OTPメモリブロックのデータビットは、所定のデータが予めセットされており、OTPメモリブロックのマークビットは、全て「0」がセットされている。また、初期状態において、擬似MTPメモリブロックのnビットのデータビットは全て「1」がセットされており、擬似MTPメモリブロックのマークビットは、全て「1」がセットされている。
符号32は、ブロック選択信号と系統選択信号とを入力し、ブロック選択信号に基づいて、読み出すべきデータがOTPメモリブロックであるか、擬似MTPメモリブロックであるかを選択するとともに、系統選択信号に基づいて、2つある系統のうちいずれかを選択し、選択されたメモリブロックから、データビットを読み出して、読み出したデータを出力する読み出し部である。符号42は、系統選択信号に基づいて、2つある系統のうちいずれかを選択するとともに、書き込み要求に応じて、メモリブロック1の擬似MTPメモリブロックのうち、選択した系統のメモリセットへ最新データを書き込む書き込み部である。
符号52は、読み出し部32または書き込み部42からのアドレス要求に対して、メモリブロック1上のマークビットを参照して、擬似MTPメモリブロック上において最新データが書き込まれているメモリセットを検索して、見つかったメモリセットのアドレスを返す検索部である。検索部52へ入力するアドレス要求には、2つの系統のうち、選択された系統を識別する情報が含まれ、検索部5は、この系統識別情報に基づいて、系統を選択して、最新データが書き込まれているメモリセットのアドレス値を返す。
図3に示すマークビット書き込み部6は、図1に示す第1の実施形態のマークビット書き込み部6と同様の構成であるため、詳細な説明を省略する。
次に、図3を参照して、アプリケーション回路72からの指示に応じて、データの読み書きを行う動作を説明する。まず、メモリ装置の製造時に予めOTPメモリブロックに書き込まれているデータを読み出す場合、アプリケーション回路72は、読み出し部32に対して、OTPメモリブロックを選択することを示すブロック選択信号を出力するとともに、2つの系統のうち、いずれかの系統を選択する系統選択信号を出力する。そして、アプリケーション回路72は、読み出し部32に対して、読み出し要求信号を出力する。この読み出し要求信号には、読み出すべきデータを指定するアドレス値が含まれている。このアドレス値が含まれていた場合、読み出し部32は、指定されたアドレス値のデータを読み出す。
例えば、アドレス値が「0」であれば、アドレス「0」のデータを読み出す。また、読み出し要求信号にアドレス値が含まれていない場合、読み出し部31は、OTPメモリブロックに記憶されている全てのデータを読み出す。このとき、読み出し部32は、系統選択信号によって選択された系統のOTPメモリブロックに記憶されているデータを読み出す。例えば、第1の系統が選択された場合は、アドレス「0」、「1」のデータを読み出し、第2の系統が選択された場合は、アドレス「13」、「14」、「15」のデータを読み出す。そして、読み出し部31は、読み出したデータをアプリケーション回路72へ出力する。この動作によって、メモリ装置の製造時に予めOTPメモリブロックに書き込まれている2系統のテータのうち、選択された系統のデータを読み出すことができる。
次に、擬似MTPメモリブロックに記憶されているデータを読み出す場合、アプリケーション回路72は、読み出し部31に対して、擬似MTPメモリブロックを選択することを示すブロック選択信号を出力するとともに、2つの系統のうち、いずれかの系統を選択する系統選択信号を出力する。そして、アプリケーション回路72は、読み出し部32に対して、読み出し要求信号を出力する。読み出し部32は、読み出し要求信号を受けると、検索部52に対してアドレス要求信号を出力する。このアドレス要求信号には、選択された系統を識別する情報が含まれる。
これを受けて、検索部52は、最新データが書き込まれているメモリセットを検索し、そのメモリセットのアドレス値をアドレスデータとして読み出し部32へ出力する。このとき、検索部52は、第1の系統が選択された場合は、アドレス値が小さい方から大きい方へ(図3において、上から下へ)検索を行い、第2の系統が選択された場合は、アドレス値が大きい方から小さい方へ(図3において、下から上へ)検索を行って、各系統の最新データが記憶されているメモリセットのアドレス値を求める。読み出し部32は、検索部52から出力されたアドレス値で示されるメモリセットのデータを読み出して、この読み出したデータをアプリケーション回路72へ出力する。この動作によって、擬似MTPメモリブロックに記憶されている2系統のテータのうち、選択された系統の最新データを読み出すことができる。
次に、擬似MTPメモリブロックに記憶されているデータを更新する場合(新たにデータを書き込む場合)、アプリケーション回路72は、書き込み部42に対して、系統選択信号を出力する。そして、アプリケーション回路72は、書き込み要求信号を出力する。この書き込み要求信号には、書き込むべきデータが含まれる。書き込み部42は、検索部52に対して、アドレス要求信号を出力する。このアドレス要求信号には、選択された系統を識別する情報が含まれる。これを受けて、検索部52は、最新データが書き込まれているメモリセットを検索し、そのメモリセットのアドレス値をアドレスデータとして書き込み部42へ出力する。このとき、検索部52は、第1の系統が選択された場合は、アドレス値が小さい方から大きい方へ検索を行い、第2の系統が選択された場合は、アドレス値が大きい方から小さい方へ検索を行って、各系統の最新データが記憶されているメモリセットのアドレス値を求める。
書き込み部42は、第1の系統が選択されている場合は、検索部52から出力されたアドレス値をインクリメント(+1)して、インクリメントされたアドレス値で示されるメモリセットに書き込むべきデータを書き込む。一方、第2の系統が選択されている場合、書き込み部42は、検索部52から出力されたアドレス値をデクリメント(−1)して、デクリメントされたアドレス値で示されるメモリセットに書き込むべきデータを書き込む。そして、書き込み部42は、アプリケーション回路72に対して処理結果信号を出力する。この動作と並行して、マークビット書き込み部6は、検索部5が出力したアドレス値で示されるメモリセットのマークビットを「0」にする。この動作によって、擬似MTPメモリブロックに記憶されている最新データを更新することができる。
<第4の実施形態>
次に、本発明の第4の実施形態によるメモリ装置を図面を参照して説明する。図4は同実施形態の構成を示すブロック図である。この図において、符号1は、OTP(One Time Programmable)メモリで構成するメモリブロックである。図4に示す例では、メモリブロック1は、16個のメモリセットで構成し、n(nは、自然数)ビット(例えば、8ビット)のデータビットと、1ビットのマークビットからなる。各メモリセットには、アドレスが付与されており、アドレスを指定することによって、メモリセットそれぞれを一意に特定することができる。メモリブロック1は、16個のメモリセットのうち、m1個(m1は自然数)のメモリセットで構成し、OTPメモリとして動作するOTPメモリブロックと、m2個(m2は、自然数であり、m2=16−m1となる)のメモリセットで構成し、擬似MTPメモリとして動作する擬似MTPメモリブロックとからなる。ここでは、m1=2、m2=16−2=14であるものとして説明する。
なお、初期状態において、OTPメモリブロックのデータビットは、所定のデータが予めセットされており、OTPメモリブロックのマークビットは、全て「0」がセットされている。また、初期状態において、擬似MTPメモリブロックのnビットのデータビットは全て「1」がセットされており、擬似MTPメモリブロックのマークビットは、全て「1」がセットされている。
符号33は、ブロック選択信号とワード長設定信号とを入力し、ブロック選択信号に基づいて、読み出すべきデータがOTPメモリブロックであるか、擬似MTPメモリブロックであるかを選択するとともに、ワード長設定信号に基づいて、設定されたワード長のデータビットを読み出して、読み出したデータを出力する読み出し部である。ワード長とは、データビットのビット数nの整数倍のビット数で表される値または、nビットで構成するデータビットのメモリセット数で表される値である。符号43は、ワード長設定信号に基づいて、設定されたワード長を設定するとともに、書き込み要求に応じて、メモリブロック1の擬似MTPメモリブロックのうち、設定されたワード長分のメモリセットへ最新データを書き込む書き込み部である。
符号53は、読み出し部33または書き込み部43からのアドレス要求に対して、メモリブロック1上のマークビットを参照して、擬似MTPメモリブロック上において最新データが書き込まれているメモリセットを検索して、見つかったメモリセットのアドレスを返す検索部である。符号63は、ワード長設定信号を入力し、既に書き込まれているデータを消去した扱いにするために、検索部53から出力するアドレスに基づいて、消去したワード長分のメモリセットにマークビットを書き込むマークビット書き込み部である。
次に、図4を参照して、アプリケーション回路73からの指示に応じて、データの読み書きを行う動作を説明する。まず、メモリ装置の製造時に予めOTPメモリブロックに書き込まれているデータを読み出す場合、アプリケーション回路73は、読み出し部33に対して、OTPメモリブロックを選択することを示すブロック選択信号を出力する。そして、アプリケーション回路73は、読み出し部33に対して、読み出し要求信号を出力する。この読み出し要求信号には、読み出すべきデータを指定するアドレス値が含まれている。このアドレス値が含まれていた場合、読み出し部32は、指定されたアドレス値のデータを読み出す。
例えば、アドレス値が「0」であれば、アドレス「0」のデータを読み出す。また、読み出し要求信号にアドレス値が含まれていない場合、読み出し部31は、OTPメモリブロックに記憶されている全てのデータを読み出す。そして、読み出し部33は、読み出したデータをアプリケーション回路73へ出力する。この動作によって、メモリ装置の製造時に予めOTPメモリブロックに書き込まれているデータを読み出すことができる。
次に、擬似MTPメモリブロックに記憶されているデータを読み出す場合、アプリケーション回路73は、読み出し部33に対して、擬似MTPメモリブロックを選択することを示すブロック選択信号を出力するとともに、ワード長設定信号を出力する。そして、アプリケーション回路73は、読み出し部33に対して、読み出し要求信号を出力する。読み出し部33は、読み出し要求信号を受けると、検索部53に対してアドレス要求信号を出力する。これを受けて、検索部52は、最新データが書き込まれているメモリセットを検索し、そのメモリセットのアドレス値をアドレスデータとして読み出し部33へ出力する。
読み出し部33は、検索部53から出力されたアドレス値で示されるメモリセットからワード長分のデータを読み出して、この読み出したデータをアプリケーション回路73へ出力する。この動作によって、擬似MTPメモリブロックに記憶されているデータから、設定されたワード長分の最新データを読み出すことができる。
次に、擬似MTPメモリブロックに記憶されているデータを更新する場合(新たにデータを書き込む場合)、アプリケーション回路73は、書き込み部43に対して、ワード長設定信号を出力する。そして、アプリケーション回路73は、書き込み要求信号を出力する。この書き込み要求信号には、書き込むべきデータが含まれる。書き込み部43は、検索部53に対して、アドレス要求信号を出力する。これを受けて、検索部53は、最新データが書き込まれているメモリセットを検索し、そのメモリセットのアドレス値をアドレスデータとして書き込み部43へ出力する。
書き込み部43は、検索部53から出力されたアドレス値を先頭として、設定されたワード長分のメモリセットを飛ばして、設定されたワード長分のデータをメモリセットに書き込む。この動作と並行して、マークビット書き込み部63は、ワード長設定信号を入力し、検索部53が出力したアドレス値を先頭とするワード長分のメモリセットのマークビットを「0」にする。例えば、ワード長が2個分のメモリセット(n×2ビット)の長さである場合は、2個のメモリセット分のマークビットを「0」にする。この動作によって、擬似MTPメモリブロックに記憶されている最新データを更新することができる。
メモリブロックのマークビット記憶領域とデータビット記憶領域は、論理的な領域であるため、前述した第1〜第4の実施形態の他に、特許文献1に示すようにマークビット記憶領域とデータビット記憶領域が明確に分かれていない構造や、特許文献2に示すようにマークビット記憶領域とデータビット記憶領域とを物理的に分けた構造であっても本発明を実施することはできることは言うまでもない。
また、第3の実施形態において、OTPメモリブロックや擬似MTPメモリブロックの検索位置は必ずしもメモリブロックのアドレス値が小さいほうから大きいほうへ及び大きいほうから小さいほうへ検索し、書き込みを行う必要はない。例えば図3においてアドレス値が7に相当するメモリセットをOTPとして利用し、アドレス値が6であるメモリセットからアドレス値が小さくなるように第1の系統の擬似MTPメモリブロックを検索し書き込みを行ったり、またアドレス値が8であるメモリセットからアドレス値が大きくなるように第2系統の擬似MTPブロックを検索して書き込みを行ったりするようにしてもよい。
このように、従来は、OTPメモリで構成する周波数制御用メモリと、擬似MTPメモリで構成する輝度制御用メモリと、それぞれのメモリを制御する制御回路で構成されていたものを、一つのメモリブロック1とこのメモリブロック1に対してデータを読み書きする回路で構成するようにしたため、OTPメモリで構成する周波数制御用メモリと、擬似MTPメモリで構成する輝度制御用メモリの機能を維持したまま、回路構成を簡単にすることができる。これにより、集積回路基板上の占有面積を小さくし、消費電力および消費電流を少なくし、またメモリと回路の部品数を低減することにより、コストダウンを実現することができる。
なお、図2〜図4において、アプリケーション回路71、72、73から出力するブロック選択信号は、省略してもよい。この場合、アプリケーション回路71、72、73から出力する読み出し要求(アドレス)信号内に読み出すべきブロックを選択可能な情報を含む読み出し要求(アドレス)信号とすればよい。また、読み出し要求(アドレス)信号内に、読み出すべきデータのアドレス情報を含むようにして、読み出すブロック内のアドレスを直接指定することにより、読み出すべきブロックの選択を行うようにしてもよい。
また、図1〜図4に示す検索部5、52、53の検索動作は、順次検索に加え、バイナリサーチを用いるようにしてもよい。バイナリサーチによって、検索部5、52、53の検索動作を高速に行うことが可能となる。
1・・・メモリブロック、2、3、31、32、33・・・読み出し部、4、42、43・・・書き込み部、5、52、53・・・検索部、6、63・・・マークビット書き込み部、7、71、72、73・・・アプリケーション回路

Claims (6)

  1. 消去したデータであることを示すマークビットを記憶するマークビット記憶領域と、記憶するべきデータを記憶するデータビット記憶領域とからなるメモリセットを複数有し、前記メモリセットのうち、所定数のメモリセットをOTPメモリとして動作させるOTPメモリブロックと、前記メモリセットのうち、前記OTPメモリブロックを除くメモリセットを擬似MTPメモリとして動作させる擬似MTPメモリブロックとからなるOTP(One Time Programmable)メモリで構成するメモリ装置であって、
    前記マークビットを参照して、データを読み書きするべき前記メモリセットのアドレスを求めるアドレス検索手段と、
    前記アドレス検索手段によって求めたアドレスで示されるメモリセットのデータビット領域に記憶されているデータを読み出す読み出し手段と、
    前記擬似MTPメモリブロックのうち、前記アドレス検索手段によって求めたアドレスに基づいて、新たにデータを書き込むべきメモリセットを特定し、該メモリセットのデータビット領域に書き込むべきデータを書き込む書き込み手段と、
    前記アドレス検索手段によって求めたアドレスのメモリセットのマークビット記憶領域に前記マークビットを書き込むマークビット書き込み手段と
    を備え、
    前記OTPメモリブロックのマークビット記憶領域には、予め前記マークビットが書き込まれていることを特徴とするメモリ装置。
  2. 前記複数のメモリセットは、複数系統のデータを読み書きできるように構成され、
    前記アドレス検索手段は、読み書きするべきデータの系統に応じて、前記データを読み書きするべき前記メモリセットのアドレスを求めることを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置。
  3. 前記読み出し手段と、前記書き込み手段は、所定数の前記メモリセットの前記データビット記憶領域に対してデータを読み書きするように構成され、
    前記マークビット書き込み手段は、前記アドレス検索手段によって求めたアドレスを先頭として、前記所定数の前記メモリセットのマークビット記憶領域に前記マークビットを書き込むことを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置。
  4. 消去したデータであることを示すマークビットを記憶するマークビット記憶領域と、記憶するべきデータを記憶するデータビット記憶領域とからなるメモリセットを複数有し、前記メモリセットのうち、所定数のメモリセットをOTPメモリとして動作させるOTPメモリブロックと、前記メモリセットのうち、前記OTPメモリブロックを除くメモリセットを擬似MTPメモリとして動作させる擬似MTPメモリブロックとからなるOTP(One Time Programmable)メモリで構成し、前記OTPメモリブロックのマークビット記憶領域には、予め前記マークビットが書き込まれているメモリ装置におけるメモリアクセス方法であって、
    前記マークビットを参照して、データを読み書きするべき前記メモリセットのアドレスを求めるアドレス検索ステップと、
    前記アドレス検索ステップによって求めたアドレスで示されるメモリセットのデータビット領域に記憶されているデータを読み出す読み出しステップと、
    前記擬似MTPメモリブロックのうち、前記アドレス検索ステップによって求めたアドレスに基づいて、新たにデータを書き込むべきメモリセットを特定し、該メモリセットのデータビット領域に書き込むべきデータを書き込む書き込みステップと、
    前記アドレス検索ステップによって求めたアドレスのメモリセットのマークビット記憶領域に前記マークビットを書き込むマークビット書き込みステップと
    を有することを特徴とするメモリアクセス方法。
  5. 前記複数のメモリセットは、複数系統のデータを読み書きできるように構成され、
    前記アドレス検索ステップは、読み書きするべきデータの系統に応じて、前記データを読み書きするべき前記メモリセットのアドレスを求めることを特徴とする請求項4に記載のメモリアクセス方法。
  6. 前記読み出しステップと、前記書き込みステップは、所定数の前記メモリセットの前記データビット記憶領域に対してデータを読み書きするように構成され、
    前記マークビット書き込みステップは、前記アドレス検索ステップによって求めたアドレスを先頭として、前記所定数の前記メモリセットのマークビット記憶領域に前記マークビットを書き込むことを特徴とする請求項4に記載のメモリアクセス方法。
JP2009006703A 2009-01-15 2009-01-15 メモリ装置及びメモリアクセス方法 Active JP5328020B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009006703A JP5328020B2 (ja) 2009-01-15 2009-01-15 メモリ装置及びメモリアクセス方法
TW99100815A TWI470429B (zh) 2009-01-15 2010-01-13 記憶體裝置及記憶體存取方法
US12/687,630 US8335098B2 (en) 2009-01-15 2010-01-14 Memory device including OTP memory block and pseudo MTP memory block and memory access method
CN201010005538.3A CN101783181B (zh) 2009-01-15 2010-01-15 存储器装置及存储器存取方法
KR1020100003790A KR101466420B1 (ko) 2009-01-15 2010-01-15 메모리 장치 및 메모리 액세스 방법
US13/357,712 US8553443B2 (en) 2009-01-15 2012-01-25 Memory device and memory access method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009006703A JP5328020B2 (ja) 2009-01-15 2009-01-15 メモリ装置及びメモリアクセス方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010165165A true JP2010165165A (ja) 2010-07-29
JP5328020B2 JP5328020B2 (ja) 2013-10-30

Family

ID=42318978

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009006703A Active JP5328020B2 (ja) 2009-01-15 2009-01-15 メモリ装置及びメモリアクセス方法

Country Status (5)

Country Link
US (2) US8335098B2 (ja)
JP (1) JP5328020B2 (ja)
KR (1) KR101466420B1 (ja)
CN (1) CN101783181B (ja)
TW (1) TWI470429B (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010231872A (ja) * 2009-03-30 2010-10-14 Toppan Printing Co Ltd 不揮発性半導体メモリ装置
JP2010238278A (ja) * 2009-03-30 2010-10-21 Toppan Printing Co Ltd 不揮発性半導体メモリ装置
JP2013161505A (ja) * 2012-02-07 2013-08-19 Seiko Epson Corp 半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法
JP2015198249A (ja) * 2014-04-02 2015-11-09 イーメモリー テクノロジー インコーポレイテッド 単層ポリシリコン不揮発性メモリのアレイ構造体

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5328020B2 (ja) * 2009-01-15 2013-10-30 セイコーインスツル株式会社 メモリ装置及びメモリアクセス方法
US9711237B2 (en) 2010-08-20 2017-07-18 Attopsemi Technology Co., Ltd. Method and structure for reliable electrical fuse programming
US10916317B2 (en) 2010-08-20 2021-02-09 Attopsemi Technology Co., Ltd Programmable resistance memory on thin film transistor technology
US9824768B2 (en) * 2015-03-22 2017-11-21 Attopsemi Technology Co., Ltd Integrated OTP memory for providing MTP memory
US9070437B2 (en) 2010-08-20 2015-06-30 Shine C. Chung Circuit and system of using junction diode as program selector for one-time programmable devices with heat sink
US10923204B2 (en) 2010-08-20 2021-02-16 Attopsemi Technology Co., Ltd Fully testible OTP memory
US10249379B2 (en) 2010-08-20 2019-04-02 Attopsemi Technology Co., Ltd One-time programmable devices having program selector for electrical fuses with extended area
US9818478B2 (en) 2012-12-07 2017-11-14 Attopsemi Technology Co., Ltd Programmable resistive device and memory using diode as selector
US10229746B2 (en) 2010-08-20 2019-03-12 Attopsemi Technology Co., Ltd OTP memory with high data security
US10192615B2 (en) 2011-02-14 2019-01-29 Attopsemi Technology Co., Ltd One-time programmable devices having a semiconductor fin structure with a divided active region
US10586832B2 (en) 2011-02-14 2020-03-10 Attopsemi Technology Co., Ltd One-time programmable devices using gate-all-around structures
US8848423B2 (en) 2011-02-14 2014-09-30 Shine C. Chung Circuit and system of using FinFET for building programmable resistive devices
TWI435217B (zh) * 2011-02-16 2014-04-21 Pixart Imaging Inc 可程式化記憶體及其寫入和讀取方法
CN102646452B (zh) * 2011-02-22 2016-01-20 原相科技股份有限公司 可编程存储器及其写入和读取方法
KR102009655B1 (ko) * 2012-08-29 2019-08-13 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치에서의 에러 검출 방법
KR20150123378A (ko) * 2014-04-24 2015-11-04 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 그의 동작 방법
US10181357B2 (en) * 2015-08-18 2019-01-15 Ememory Technology Inc. Code generating apparatus and one time programming block
CN106295414B (zh) * 2016-08-09 2020-05-12 复旦大学 带分区写保护和保护位置乱处理的非挥发存储器及其写操作方法
CN106782660A (zh) * 2016-11-28 2017-05-31 湖南国科微电子股份有限公司 片上系统芯片过烧写保护方法及片上系统芯片
US11615859B2 (en) 2017-04-14 2023-03-28 Attopsemi Technology Co., Ltd One-time programmable memories with ultra-low power read operation and novel sensing scheme
US10535413B2 (en) 2017-04-14 2020-01-14 Attopsemi Technology Co., Ltd Low power read operation for programmable resistive memories
US11062786B2 (en) 2017-04-14 2021-07-13 Attopsemi Technology Co., Ltd One-time programmable memories with low power read operation and novel sensing scheme
US10726914B2 (en) 2017-04-14 2020-07-28 Attopsemi Technology Co. Ltd Programmable resistive memories with low power read operation and novel sensing scheme
US10770160B2 (en) 2017-11-30 2020-09-08 Attopsemi Technology Co., Ltd Programmable resistive memory formed by bit slices from a standard cell library
US11164642B1 (en) 2018-02-09 2021-11-02 Board Of Trustees Of The University Of Alabama, For And On Behalf Of The University Of Alabama In Huntsville Systems and methods for hardening flash memory to radiation
US11620108B1 (en) 2018-05-17 2023-04-04 Board Of Trustees Of The University Of Alabama For And On Behalf Of The University Of Alabama In Huntsville Random number generation systems and methods
KR102559380B1 (ko) * 2018-08-08 2023-07-26 삼성디스플레이 주식회사 검사 시스템, 이의 멀티 타임 프로그래밍 방법 및 표시 장치
US11101009B1 (en) * 2019-03-04 2021-08-24 Board Of Trustees Of The University Of Alabama, For And On Behalf Of The University Of Alabama In Huntsville Systems and methods to convert memory to one-time programmable memory
TWI715371B (zh) * 2019-12-25 2021-01-01 新唐科技股份有限公司 一次性可編程記憶體裝置及其容錯方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6045994A (ja) * 1983-08-22 1985-03-12 Tokyo Electric Co Ltd Promによる情報記憶方法
JPH11259359A (ja) * 1998-03-11 1999-09-24 Kokusai Electric Co Ltd ワンタイムromアクセス方法
JP2001035176A (ja) * 1999-07-19 2001-02-09 Toshiba Corp 不揮発性半導体メモリの制御方法
JP2005149617A (ja) * 2003-11-14 2005-06-09 Sony Corp 不揮発性半導体メモリ装置およびその動作方法
JP2006323981A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Ememory Technology Inc メモリーをアクセスする方法
JP2008123643A (ja) * 2006-11-15 2008-05-29 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置および半導体記憶装置の制御方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3918434B2 (ja) * 2001-01-05 2007-05-23 セイコーエプソン株式会社 情報処理装置
US7003619B1 (en) * 2001-04-09 2006-02-21 Matrix Semiconductor, Inc. Memory device and method for storing and reading a file system structure in a write-once memory array
US6728137B1 (en) 2003-04-29 2004-04-27 Ememory Technology Inc. Method for programming and reading a plurality of one-time programmable memory blocks
JP4129453B2 (ja) * 2004-12-01 2008-08-06 株式会社東芝 半導体記憶装置、半導体記憶装置の動作方法および半導体記憶装置のテスト方法
KR100732628B1 (ko) * 2005-07-28 2007-06-27 삼성전자주식회사 멀티-비트 데이터 및 싱글-비트 데이터를 저장하는 플래시메모리 장치
US8242908B2 (en) * 2005-12-09 2012-08-14 Tego Inc. Methods and systems of a multiple radio frequency network node RFID tag
TW200727303A (en) * 2006-01-08 2007-07-16 Ememory Technology Inc A method and memory capable of improving the endurance of memory
CN100589240C (zh) * 2007-05-31 2010-02-10 和舰科技(苏州)有限公司 一次可编程存储器的结构及其制造方法
US8275927B2 (en) * 2007-12-31 2012-09-25 Sandisk 3D Llc Storage sub-system for a computer comprising write-once memory devices and write-many memory devices and related method
JP5328020B2 (ja) * 2009-01-15 2013-10-30 セイコーインスツル株式会社 メモリ装置及びメモリアクセス方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6045994A (ja) * 1983-08-22 1985-03-12 Tokyo Electric Co Ltd Promによる情報記憶方法
JPH11259359A (ja) * 1998-03-11 1999-09-24 Kokusai Electric Co Ltd ワンタイムromアクセス方法
JP2001035176A (ja) * 1999-07-19 2001-02-09 Toshiba Corp 不揮発性半導体メモリの制御方法
JP2005149617A (ja) * 2003-11-14 2005-06-09 Sony Corp 不揮発性半導体メモリ装置およびその動作方法
JP2006323981A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Ememory Technology Inc メモリーをアクセスする方法
JP2008123643A (ja) * 2006-11-15 2008-05-29 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置および半導体記憶装置の制御方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010231872A (ja) * 2009-03-30 2010-10-14 Toppan Printing Co Ltd 不揮発性半導体メモリ装置
JP2010238278A (ja) * 2009-03-30 2010-10-21 Toppan Printing Co Ltd 不揮発性半導体メモリ装置
JP2013161505A (ja) * 2012-02-07 2013-08-19 Seiko Epson Corp 半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法
JP2015198249A (ja) * 2014-04-02 2015-11-09 イーメモリー テクノロジー インコーポレイテッド 単層ポリシリコン不揮発性メモリのアレイ構造体
US9508396B2 (en) 2014-04-02 2016-11-29 Ememory Technology Inc. Array structure of single-ploy nonvolatile memory
US9530460B2 (en) 2014-04-02 2016-12-27 Ememory Technology Inc. Array structure of single-ploy nonvolatile memory
US9601164B2 (en) 2014-04-02 2017-03-21 Ememory Technology Inc. Array structure of single-ploy nonvolatile memory
US9613663B2 (en) 2014-04-02 2017-04-04 Ememory Technology Inc. Array structure of single-ploy nonvolatile memory

Also Published As

Publication number Publication date
US20100177547A1 (en) 2010-07-15
CN101783181B (zh) 2014-12-17
US20120163062A1 (en) 2012-06-28
TW201102814A (en) 2011-01-16
US8335098B2 (en) 2012-12-18
TWI470429B (zh) 2015-01-21
KR20100084132A (ko) 2010-07-23
JP5328020B2 (ja) 2013-10-30
CN101783181A (zh) 2010-07-21
KR101466420B1 (ko) 2014-11-28
US8553443B2 (en) 2013-10-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5328020B2 (ja) メモリ装置及びメモリアクセス方法
US7254086B2 (en) Method for accessing memory
US10140026B2 (en) Data storage device and data maintenance method thereof
JP4999325B2 (ja) フラッシュメモリ
JP2007241576A (ja) 不揮発性記憶装置およびそのデータ書込み方法
US20080114949A1 (en) Method for controlling semiconductor memory device
US20170083372A1 (en) Memory device and data read method thereof
US9396769B1 (en) Memory device and operating method of same
JP2007179479A (ja) メモリコントローラおよびフラッシュメモリシステム
JP6618941B2 (ja) 管理装置、情報処理装置および管理方法
US20170270047A1 (en) Data storage device and data maintenance method thereof
JP2007199828A (ja) 不揮発性記憶装置およびそのアドレス管理方法
JP2004234473A (ja) 不揮発性記憶装置
JP4455409B2 (ja) 走査回路及びその制御方法
JP3646679B2 (ja) 不揮発性メモリのデータ書き換え方法
JP4468342B2 (ja) データ管理方法
JP2004206615A (ja) 記憶装置
JP2009260464A (ja) プログラマブルデバイス、電子機器およびプログラマブルデバイス制御方法
JP2007317078A (ja) 不揮発性メモリ、メモリコントローラ、不揮発性記憶装置、及び不揮発性記憶システム
JP2003297088A (ja) 半導体記憶装置
JP2007334915A (ja) メモリカード
JP4105179B2 (ja) データ管理方法
JP2005250831A (ja) 半導体メモリ装置
JP2005234738A (ja) 半導体メモリ装置
JP2000339212A (ja) 不揮発性メモリのデータ変更方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111108

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130418

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130423

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130619

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130709

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20130722

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130722

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5328020

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250