JP2010165165A - メモリ装置及びメモリアクセス方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】消去したデータであることを示すマークビットを記憶するマークビット記憶領域と、記憶するべきデータを記憶するデータビット記憶領域とからなるメモリセットを複数有し、メモリセットのうち、所定数のメモリセットをOTPメモリとして動作させるOTPメモリブロックと、メモリセットのうち、OTPメモリブロックを除くメモリセットを擬似MTPメモリとして動作させる擬似MTPメモリブロックとからなるOTP(One Time Programmable)メモリで構成するメモリ装置であって、OTPメモリブロックのマークビット記憶領域には、予めマークビットが書き込まれている。
【選択図】図1
Description
以下、本発明の第1の実施形態によるメモリ装置を図面を参照して説明する。図1は同実施形態の構成を示すブロック図である。この図において、符号1は、OTP(One Time Programmable)メモリで構成するメモリブロックである。図1に示す例では、メモリブロック1は、16個のメモリセットから構成する。メモリセットは、n(nは、自然数)ビット(例えば、8ビット)のデータビットと、1ビットのマークビットからなる。各メモリセットには、アドレスが付与されており、アドレスを指定することによって、メモリセットそれぞれを一意に特定することができる。メモリブロック1は、16個のメモリセットのうち、m1個(m1は自然数)のメモリセットで構成し、OTPメモリとして動作するOTPメモリブロックと、m2個(m2は、自然数であり、m2=16−m1となる)のメモリセットで構成し、擬似MTPメモリとして動作する擬似MTPメモリブロックとからなる。ここでは、m1=2、m2=16−2=14であるものとして説明する。
次に、本発明の第2の実施形態によるメモリ装置を図面を参照して説明する。図2は同実施形態の構成を示すブロック図である。この図において、符号1は、OTP(One Time Programmable)メモリで構成するメモリブロックであり、第1の実施形態で説明したメモリブロック1と同様の構成である。符号31は、ブロック選択信号を入力し、このブロック選択信号に基づいて、読み出すべきデータがOTPメモリブロックであるか、擬似MTPメモリブロックであるかを選択し、選択したメモリブロックからデータビットを読み出して、読み出したデータを出力する読み出し部である。
次に、本発明の第3の実施形態によるメモリ装置を図面を参照して説明する。図3は同実施形態の構成を示すブロック図である。この図において、符号1は、OTP(One Time Programmable)メモリで構成するメモリブロックである。図3に示す例では、メモリブロック1は、16個のメモリセットで構成し、n(nは、自然数)ビット(例えば、8ビット)のデータビットと、1ビットのマークビットからなる。各メモリセットには、アドレスが付与されており、アドレスを指定することによって、メモリセットそれぞれを一意に特定することができる。メモリブロック1は、16個のメモリセットのうち、m1個(m1は自然数)のメモリセットで構成し、OTPメモリとして動作する第1のOTPメモリブロックと、m3個(m3は自然数)のメモリセットで構成し、OTPメモリとして動作する第2のOTPメモリブロックと、m2個(m2は、自然数であり、m2=16−m1−m3となる)のメモリセットで構成し、擬似MTPメモリとして動作する擬似MTPメモリブロックとからなる。図3に示すメモリブロック構成とすることにより、1つのメモリブロック1で2系統のデータの読み書きを実現する。ここでは、m1=2、m3=3、m2=16−2−3=11であるものとして説明する。
次に、本発明の第4の実施形態によるメモリ装置を図面を参照して説明する。図4は同実施形態の構成を示すブロック図である。この図において、符号1は、OTP(One Time Programmable)メモリで構成するメモリブロックである。図4に示す例では、メモリブロック1は、16個のメモリセットで構成し、n(nは、自然数)ビット(例えば、8ビット)のデータビットと、1ビットのマークビットからなる。各メモリセットには、アドレスが付与されており、アドレスを指定することによって、メモリセットそれぞれを一意に特定することができる。メモリブロック1は、16個のメモリセットのうち、m1個(m1は自然数)のメモリセットで構成し、OTPメモリとして動作するOTPメモリブロックと、m2個(m2は、自然数であり、m2=16−m1となる)のメモリセットで構成し、擬似MTPメモリとして動作する擬似MTPメモリブロックとからなる。ここでは、m1=2、m2=16−2=14であるものとして説明する。
Claims (6)
- 消去したデータであることを示すマークビットを記憶するマークビット記憶領域と、記憶するべきデータを記憶するデータビット記憶領域とからなるメモリセットを複数有し、前記メモリセットのうち、所定数のメモリセットをOTPメモリとして動作させるOTPメモリブロックと、前記メモリセットのうち、前記OTPメモリブロックを除くメモリセットを擬似MTPメモリとして動作させる擬似MTPメモリブロックとからなるOTP(One Time Programmable)メモリで構成するメモリ装置であって、
前記マークビットを参照して、データを読み書きするべき前記メモリセットのアドレスを求めるアドレス検索手段と、
前記アドレス検索手段によって求めたアドレスで示されるメモリセットのデータビット領域に記憶されているデータを読み出す読み出し手段と、
前記擬似MTPメモリブロックのうち、前記アドレス検索手段によって求めたアドレスに基づいて、新たにデータを書き込むべきメモリセットを特定し、該メモリセットのデータビット領域に書き込むべきデータを書き込む書き込み手段と、
前記アドレス検索手段によって求めたアドレスのメモリセットのマークビット記憶領域に前記マークビットを書き込むマークビット書き込み手段と
を備え、
前記OTPメモリブロックのマークビット記憶領域には、予め前記マークビットが書き込まれていることを特徴とするメモリ装置。 - 前記複数のメモリセットは、複数系統のデータを読み書きできるように構成され、
前記アドレス検索手段は、読み書きするべきデータの系統に応じて、前記データを読み書きするべき前記メモリセットのアドレスを求めることを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置。 - 前記読み出し手段と、前記書き込み手段は、所定数の前記メモリセットの前記データビット記憶領域に対してデータを読み書きするように構成され、
前記マークビット書き込み手段は、前記アドレス検索手段によって求めたアドレスを先頭として、前記所定数の前記メモリセットのマークビット記憶領域に前記マークビットを書き込むことを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置。 - 消去したデータであることを示すマークビットを記憶するマークビット記憶領域と、記憶するべきデータを記憶するデータビット記憶領域とからなるメモリセットを複数有し、前記メモリセットのうち、所定数のメモリセットをOTPメモリとして動作させるOTPメモリブロックと、前記メモリセットのうち、前記OTPメモリブロックを除くメモリセットを擬似MTPメモリとして動作させる擬似MTPメモリブロックとからなるOTP(One Time Programmable)メモリで構成し、前記OTPメモリブロックのマークビット記憶領域には、予め前記マークビットが書き込まれているメモリ装置におけるメモリアクセス方法であって、
前記マークビットを参照して、データを読み書きするべき前記メモリセットのアドレスを求めるアドレス検索ステップと、
前記アドレス検索ステップによって求めたアドレスで示されるメモリセットのデータビット領域に記憶されているデータを読み出す読み出しステップと、
前記擬似MTPメモリブロックのうち、前記アドレス検索ステップによって求めたアドレスに基づいて、新たにデータを書き込むべきメモリセットを特定し、該メモリセットのデータビット領域に書き込むべきデータを書き込む書き込みステップと、
前記アドレス検索ステップによって求めたアドレスのメモリセットのマークビット記憶領域に前記マークビットを書き込むマークビット書き込みステップと
を有することを特徴とするメモリアクセス方法。 - 前記複数のメモリセットは、複数系統のデータを読み書きできるように構成され、
前記アドレス検索ステップは、読み書きするべきデータの系統に応じて、前記データを読み書きするべき前記メモリセットのアドレスを求めることを特徴とする請求項4に記載のメモリアクセス方法。 - 前記読み出しステップと、前記書き込みステップは、所定数の前記メモリセットの前記データビット記憶領域に対してデータを読み書きするように構成され、
前記マークビット書き込みステップは、前記アドレス検索ステップによって求めたアドレスを先頭として、前記所定数の前記メモリセットのマークビット記憶領域に前記マークビットを書き込むことを特徴とする請求項4に記載のメモリアクセス方法。
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---|---|---|---|
JP2009006703A JP5328020B2 (ja) | 2009-01-15 | 2009-01-15 | メモリ装置及びメモリアクセス方法 |
TW99100815A TWI470429B (zh) | 2009-01-15 | 2010-01-13 | 記憶體裝置及記憶體存取方法 |
US12/687,630 US8335098B2 (en) | 2009-01-15 | 2010-01-14 | Memory device including OTP memory block and pseudo MTP memory block and memory access method |
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KR1020100003790A KR101466420B1 (ko) | 2009-01-15 | 2010-01-15 | 메모리 장치 및 메모리 액세스 방법 |
US13/357,712 US8553443B2 (en) | 2009-01-15 | 2012-01-25 | Memory device and memory access method |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010231872A (ja) * | 2009-03-30 | 2010-10-14 | Toppan Printing Co Ltd | 不揮発性半導体メモリ装置 |
JP2010238278A (ja) * | 2009-03-30 | 2010-10-21 | Toppan Printing Co Ltd | 不揮発性半導体メモリ装置 |
JP2013161505A (ja) * | 2012-02-07 | 2013-08-19 | Seiko Epson Corp | 半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法 |
JP2015198249A (ja) * | 2014-04-02 | 2015-11-09 | イーメモリー テクノロジー インコーポレイテッド | 単層ポリシリコン不揮発性メモリのアレイ構造体 |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5328020B2 (ja) * | 2009-01-15 | 2013-10-30 | セイコーインスツル株式会社 | メモリ装置及びメモリアクセス方法 |
US9711237B2 (en) | 2010-08-20 | 2017-07-18 | Attopsemi Technology Co., Ltd. | Method and structure for reliable electrical fuse programming |
US10916317B2 (en) | 2010-08-20 | 2021-02-09 | Attopsemi Technology Co., Ltd | Programmable resistance memory on thin film transistor technology |
US9824768B2 (en) * | 2015-03-22 | 2017-11-21 | Attopsemi Technology Co., Ltd | Integrated OTP memory for providing MTP memory |
US9070437B2 (en) | 2010-08-20 | 2015-06-30 | Shine C. Chung | Circuit and system of using junction diode as program selector for one-time programmable devices with heat sink |
US10923204B2 (en) | 2010-08-20 | 2021-02-16 | Attopsemi Technology Co., Ltd | Fully testible OTP memory |
US10249379B2 (en) | 2010-08-20 | 2019-04-02 | Attopsemi Technology Co., Ltd | One-time programmable devices having program selector for electrical fuses with extended area |
US9818478B2 (en) | 2012-12-07 | 2017-11-14 | Attopsemi Technology Co., Ltd | Programmable resistive device and memory using diode as selector |
US10229746B2 (en) | 2010-08-20 | 2019-03-12 | Attopsemi Technology Co., Ltd | OTP memory with high data security |
US10192615B2 (en) | 2011-02-14 | 2019-01-29 | Attopsemi Technology Co., Ltd | One-time programmable devices having a semiconductor fin structure with a divided active region |
US10586832B2 (en) | 2011-02-14 | 2020-03-10 | Attopsemi Technology Co., Ltd | One-time programmable devices using gate-all-around structures |
US8848423B2 (en) | 2011-02-14 | 2014-09-30 | Shine C. Chung | Circuit and system of using FinFET for building programmable resistive devices |
TWI435217B (zh) * | 2011-02-16 | 2014-04-21 | Pixart Imaging Inc | 可程式化記憶體及其寫入和讀取方法 |
CN102646452B (zh) * | 2011-02-22 | 2016-01-20 | 原相科技股份有限公司 | 可编程存储器及其写入和读取方法 |
KR102009655B1 (ko) * | 2012-08-29 | 2019-08-13 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 표시 장치에서의 에러 검출 방법 |
KR20150123378A (ko) * | 2014-04-24 | 2015-11-04 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 그의 동작 방법 |
US10181357B2 (en) * | 2015-08-18 | 2019-01-15 | Ememory Technology Inc. | Code generating apparatus and one time programming block |
CN106295414B (zh) * | 2016-08-09 | 2020-05-12 | 复旦大学 | 带分区写保护和保护位置乱处理的非挥发存储器及其写操作方法 |
CN106782660A (zh) * | 2016-11-28 | 2017-05-31 | 湖南国科微电子股份有限公司 | 片上系统芯片过烧写保护方法及片上系统芯片 |
US11615859B2 (en) | 2017-04-14 | 2023-03-28 | Attopsemi Technology Co., Ltd | One-time programmable memories with ultra-low power read operation and novel sensing scheme |
US10535413B2 (en) | 2017-04-14 | 2020-01-14 | Attopsemi Technology Co., Ltd | Low power read operation for programmable resistive memories |
US11062786B2 (en) | 2017-04-14 | 2021-07-13 | Attopsemi Technology Co., Ltd | One-time programmable memories with low power read operation and novel sensing scheme |
US10726914B2 (en) | 2017-04-14 | 2020-07-28 | Attopsemi Technology Co. Ltd | Programmable resistive memories with low power read operation and novel sensing scheme |
US10770160B2 (en) | 2017-11-30 | 2020-09-08 | Attopsemi Technology Co., Ltd | Programmable resistive memory formed by bit slices from a standard cell library |
US11164642B1 (en) | 2018-02-09 | 2021-11-02 | Board Of Trustees Of The University Of Alabama, For And On Behalf Of The University Of Alabama In Huntsville | Systems and methods for hardening flash memory to radiation |
US11620108B1 (en) | 2018-05-17 | 2023-04-04 | Board Of Trustees Of The University Of Alabama For And On Behalf Of The University Of Alabama In Huntsville | Random number generation systems and methods |
KR102559380B1 (ko) * | 2018-08-08 | 2023-07-26 | 삼성디스플레이 주식회사 | 검사 시스템, 이의 멀티 타임 프로그래밍 방법 및 표시 장치 |
US11101009B1 (en) * | 2019-03-04 | 2021-08-24 | Board Of Trustees Of The University Of Alabama, For And On Behalf Of The University Of Alabama In Huntsville | Systems and methods to convert memory to one-time programmable memory |
TWI715371B (zh) * | 2019-12-25 | 2021-01-01 | 新唐科技股份有限公司 | 一次性可編程記憶體裝置及其容錯方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6045994A (ja) * | 1983-08-22 | 1985-03-12 | Tokyo Electric Co Ltd | Promによる情報記憶方法 |
JPH11259359A (ja) * | 1998-03-11 | 1999-09-24 | Kokusai Electric Co Ltd | ワンタイムromアクセス方法 |
JP2001035176A (ja) * | 1999-07-19 | 2001-02-09 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体メモリの制御方法 |
JP2005149617A (ja) * | 2003-11-14 | 2005-06-09 | Sony Corp | 不揮発性半導体メモリ装置およびその動作方法 |
JP2006323981A (ja) * | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Ememory Technology Inc | メモリーをアクセスする方法 |
JP2008123643A (ja) * | 2006-11-15 | 2008-05-29 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置および半導体記憶装置の制御方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3918434B2 (ja) * | 2001-01-05 | 2007-05-23 | セイコーエプソン株式会社 | 情報処理装置 |
US7003619B1 (en) * | 2001-04-09 | 2006-02-21 | Matrix Semiconductor, Inc. | Memory device and method for storing and reading a file system structure in a write-once memory array |
US6728137B1 (en) | 2003-04-29 | 2004-04-27 | Ememory Technology Inc. | Method for programming and reading a plurality of one-time programmable memory blocks |
JP4129453B2 (ja) * | 2004-12-01 | 2008-08-06 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置、半導体記憶装置の動作方法および半導体記憶装置のテスト方法 |
KR100732628B1 (ko) * | 2005-07-28 | 2007-06-27 | 삼성전자주식회사 | 멀티-비트 데이터 및 싱글-비트 데이터를 저장하는 플래시메모리 장치 |
US8242908B2 (en) * | 2005-12-09 | 2012-08-14 | Tego Inc. | Methods and systems of a multiple radio frequency network node RFID tag |
TW200727303A (en) * | 2006-01-08 | 2007-07-16 | Ememory Technology Inc | A method and memory capable of improving the endurance of memory |
CN100589240C (zh) * | 2007-05-31 | 2010-02-10 | 和舰科技(苏州)有限公司 | 一次可编程存储器的结构及其制造方法 |
US8275927B2 (en) * | 2007-12-31 | 2012-09-25 | Sandisk 3D Llc | Storage sub-system for a computer comprising write-once memory devices and write-many memory devices and related method |
JP5328020B2 (ja) * | 2009-01-15 | 2013-10-30 | セイコーインスツル株式会社 | メモリ装置及びメモリアクセス方法 |
-
2009
- 2009-01-15 JP JP2009006703A patent/JP5328020B2/ja active Active
-
2010
- 2010-01-13 TW TW99100815A patent/TWI470429B/zh active
- 2010-01-14 US US12/687,630 patent/US8335098B2/en active Active
- 2010-01-15 KR KR1020100003790A patent/KR101466420B1/ko active IP Right Grant
- 2010-01-15 CN CN201010005538.3A patent/CN101783181B/zh active Active
-
2012
- 2012-01-25 US US13/357,712 patent/US8553443B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6045994A (ja) * | 1983-08-22 | 1985-03-12 | Tokyo Electric Co Ltd | Promによる情報記憶方法 |
JPH11259359A (ja) * | 1998-03-11 | 1999-09-24 | Kokusai Electric Co Ltd | ワンタイムromアクセス方法 |
JP2001035176A (ja) * | 1999-07-19 | 2001-02-09 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体メモリの制御方法 |
JP2005149617A (ja) * | 2003-11-14 | 2005-06-09 | Sony Corp | 不揮発性半導体メモリ装置およびその動作方法 |
JP2006323981A (ja) * | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Ememory Technology Inc | メモリーをアクセスする方法 |
JP2008123643A (ja) * | 2006-11-15 | 2008-05-29 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置および半導体記憶装置の制御方法 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010231872A (ja) * | 2009-03-30 | 2010-10-14 | Toppan Printing Co Ltd | 不揮発性半導体メモリ装置 |
JP2010238278A (ja) * | 2009-03-30 | 2010-10-21 | Toppan Printing Co Ltd | 不揮発性半導体メモリ装置 |
JP2013161505A (ja) * | 2012-02-07 | 2013-08-19 | Seiko Epson Corp | 半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法 |
JP2015198249A (ja) * | 2014-04-02 | 2015-11-09 | イーメモリー テクノロジー インコーポレイテッド | 単層ポリシリコン不揮発性メモリのアレイ構造体 |
US9508396B2 (en) | 2014-04-02 | 2016-11-29 | Ememory Technology Inc. | Array structure of single-ploy nonvolatile memory |
US9530460B2 (en) | 2014-04-02 | 2016-12-27 | Ememory Technology Inc. | Array structure of single-ploy nonvolatile memory |
US9601164B2 (en) | 2014-04-02 | 2017-03-21 | Ememory Technology Inc. | Array structure of single-ploy nonvolatile memory |
US9613663B2 (en) | 2014-04-02 | 2017-04-04 | Ememory Technology Inc. | Array structure of single-ploy nonvolatile memory |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20100177547A1 (en) | 2010-07-15 |
CN101783181B (zh) | 2014-12-17 |
US20120163062A1 (en) | 2012-06-28 |
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US8335098B2 (en) | 2012-12-18 |
TWI470429B (zh) | 2015-01-21 |
KR20100084132A (ko) | 2010-07-23 |
JP5328020B2 (ja) | 2013-10-30 |
CN101783181A (zh) | 2010-07-21 |
KR101466420B1 (ko) | 2014-11-28 |
US8553443B2 (en) | 2013-10-08 |
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Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
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