JP2010160712A - 半導体データ処理デバイス及びデータ処理システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】データ処理ブロック(100a,100b)による処置結果を符号化するのにハードウェア回路を用いる。例えば、夫々のデータ処理ブロック毎に、固有の鍵(誤り訂正符号の生成論理104a,104b)を用いる符号化用のハードウェア回路(103あ、103b)を採用する。これによって、複数のデータ処理ブロックのプログラム動作を同じにすることを保証しつつ、夫々のデータ処理ブロックによる処理結果を外部で検証可能にする。したがって、データ処理ブロックのプログラム動作の結果に不一致を生じさせずに、データ処理ブロック固有の鍵を用いて外部検証用のデータを符号化することが可能となる。
【選択図】図1
Description
先ず、本願において開示される発明の代表的な実施の形態について概要を説明する。代表的な実施の形態についての概要説明で括弧を付して参照する図面中の参照符号はそれが付された構成要素の概念に含まれるものを例示するに過ぎない。
実施の形態について更に詳述する。
100a 第1プロセッサ(PRCSRA)
100b 第2プロセッサ(PRCSRB)
109 本来の制御用途のための外部制御信号
101 比較器(COMP)
32 比較結果信号
102a,102b メッセージ
103a 論理回路
104a 第1鍵(ENCDKA)
103b 論理回路
104b 第2鍵(ENCDKB)
105a,105b 符号化データ(シグナチャー)
106 出力インタフェース(I/F)
1060 出力端子
107 シグナチャー出力
CLK クロック信号
21、22 遅延回路(DLY)
108 出力インタフェース
37 故障検出信号
50 マイクロコンピュータ10の本来の制御対象(CTRGT)
40 駆動回路(IFDRV)
41 パワースイッチ
42 トランスファスイッチ
33 制御信号
30 照合回路(CHCK)
35 アンドゲート
1080a,1080b レジスタ(REG)
1081a,1081b インタフェースバッファ(IFBUF)
1082 比較器
110a,111a バッファレジスタ
110b,111b バッファレジスタ
112a、112b バッファレジスタ
Claims (18)
- 相互に同一のデータ処理機能を有する複数のデータ処理ブロックと、
夫々の前記データ処理ブロックから出力される情報を同期的に比較する比較器と、
前記比較器の比較結果を外部に出力する出力回路と、
前記夫々のデータ処理ブロックから定期的に出力される第1情報に基づいてデータ処理ブロック毎に異なる生成論理による誤り検出符号を付加して第2情報を出力する符号化回路と、
夫々の前記データ処理ブロックの第2情報を外部に出力する第1外部インタフェース回路と、を有する半導体データ処理デバイス。 - 前記符号化回路は、夫々のデータ処理ブロック毎に、誤り検出符号を生成するための生成条件を保持する符号化鍵と、前記符号化鍵を用いて前記情報の誤り検出符号を生成して付加する論理回路とを有する、請求項1記載の半導体データ処理デバイス。
- 前記夫々のデータ処理ブロックは同一のクロック信号によって同期動作される、請求項2記載の半導体データ処理デバイス。
- 夫々の前記データ処理ブロックは相互に位相差のあるクロック信号を入力して同期動作され、
前記比較器は、夫々の前記データ処理ブロックの出力に対して前記位相さを相殺する遅延回路を通した信号を比較対象とする、請求項2記載の半導体データ処理デバイス。 - 前記データ処理ブロックは、プログラムを実行するマイクロプロセッサである、請求項1記載の半導体データ処理デバイス。
- 前記第1外部インタフェース回路はシリアル出力回路である、請求項1記載の半導体データ処理デバイス。
- 相互に同一のデータ処理機能を有する複数のデータ処理ブロックの内の一つは本来の制御用途のための主データ処理ブロックであり、残りは冗長データ処理ブロックであり、
主データ処理ブロックが本来の制御用途のための外部インタフェースに用いる第2外部インタフェースは出力動作用の回路に対する故障検出機能を有し、故障検出信号を外部に出力する、請求項1記載の半導体データ処理デバイス。 - 相互に同一のデータ処理機能を有する第1データ処理ブロック及び第2データ処理ブロックと、
前記第1データ処理ブロック及び前記第2データ処理ブロックから出力される情報を同期的に比較する比較器と、
前記比較器の比較結果を外部に出力する出力回路と、
前記第2データ処理ブロックから出力される第1情報に第1生成論理による誤り検出符号を付加して第2情報を出力する符号化回路と、
前記第1データ処理ブロックが、第3情報を生成し、生成した第3情報に第2生成論理による誤り検出符号を付加して出力した第4情報と、前記符号化回路が出力する第2情報とを外部に出力する第1外部インタフェース回路と、を有し、
前記第2データ処理ブロックは、前記第1データ処理ブロックが第3情報を生成して第2生成論理による誤り検出符号を付加して第4情報を出力する動作に並行して、第3情報を生成し、生成した第3情報に第2生成論理による誤り検出符号を付加して第4情報をダミー出力するための第1ダミー動作を行い、
前記第1データ処理ブロックは、前記第2データ処理ブロックが第1情報を生成して出力する動作に並行して、第1情報を生成してダミー出力するための第2ダミー動作を行う、半導体データ処理デバイス。 - 相互に同一のデータ処理機能を有する第1データ処理ブロック及び第2データ処理ブロックと、
前記第1データ処理ブロック及び前記第2データ処理ブロックから出力される情報を同期的に比較する比較器と、
前記比較器の比較結果を外部に出力する出力回路と、
前記第2データ処理ブロックから出力される第1情報に第1生成論理による誤り検出符号を付加して第2情報を前記第1データ処理ブロック及び第2データ処理ブロックに供給する符号化回路と、
前記第1データ処理ブロックが第3情報を生成すると共に前記第3情報に第2生成論理による誤り検出符号を付加して生成した第4情報と、前記第1データ処理ブロックに供給された第2情報とを外部に出力する第1外部インタフェース回路と、を有し、
前記第2データ処理ブロックは、前記第1データ処理ブロックが第3情報を生成して第2生成論理による誤り検出符号を付加して第4情報を生成して出力する動作に並行して、第3情報を生成し、生成した第3情報に第2生成論理による誤り検出符号を付加して第4情報をダミー出力するための第1ダミー動作を行い、
前記第1データ処理ブロックは、前記第2データ処理ブロックが第1情報を生成して出力する動作に並行して、第1情報を生成してダミー出力するための第2ダミー動作を行う、半導体データ処理デバイス。 - 相互に同一のデータ処理機能を有する第1データ処理ブロック及び第2データ処理ブロックと、
前記第1データ処理ブロック及び前記第2データ処理ブロックから出力される情報を同期的に比較する比較器と、
前記比較器の比較結果を外部に出力する出力回路と、
前記第2データ処理ブロックから出力される第1情報に第1生成論理による誤り検出符号を付加して第2情報を前記第1データ処理ブロック及び第2データ処理ブロックに供給する第1符号化回路と、
前記第1データ処理ブロックから出力される第3情報に第2生成論理による誤り検出符号を付加して第4情報を前記第2データ処理ブロック及び第1データ処理ブロックに供給する第2符号化回路と、
前記第1データ処理ブロックが、前記第2データ処理ブロックから供給された第2情報と前記第1データ処理ブロックから供給された第4情報とを外部に出力する第1外部インタフェース回路と、を有し、
前記第1データ処理ブロックは、前記第2データ処理ブロックが第1情報を生成して出力する動作に並行して、第1情報を生成してダミー出力するための第1ダミー動作を行い、
前記第2データ処理ブロックは、前記第1データ処理ブロックが第3情報を生成して出力する動作に並行して、第3情報を生成してダミー出力するための第2ダミー動作を行い、
前記第2データ処理ブロックは、前記第1データ処理ブロックが第1情報及び第3情報を出力する動作に並行して、第1情報及び第3情報をダミー出力するための第3ダミー動作を行う、半導体データ処理デバイス。 - 前記符号化回路は、夫々のデータ処理ブロック毎に、誤り検出符号を生成するための生成条件を保持する符号化鍵と、前記符号化鍵を用いて前記情報の誤り検出符号を生成して付加する論理回路とを有する、請求項8乃至10のいずれか1項に記載の半導体データ処理デバイス。
- 前記第1データ処理ブロック及び前記第2データ処理ブロックは同一のクロック信号によって同期動作される、請求項11記載の半導体データ処理デバイス。
- 前記第1データ処理ブロック及び前記第2データ処理ブロックは相互に位相差のあるクロック信号を入力して同期動作され、
前記比較器は、夫々の前記データ処理ブロックの出力に対して前記位相さを相殺する遅延回路を通した信号を比較対象とする、請求項12記載の半導体データ処理デバイス。 - 前記第1データ処理ブロック及び前記第2データ処理ブロックはプログラムを実行するマイクロプロセッサである、請求項8乃至10の何れか1項に記載の半導体データ処理デバイス。
- 前記第1外部インタフェース回路はシリアル出力回路である、請求項8乃至10の何れか1項に記載の半導体データ処理デバイス。
- 前記第1データ処理ブロックは本来の制御用途のための主データ処理ブロックであり、前記第2データ処理ブロックは冗長データ処理ブロックであり、
主データ処理ブロックが本来の制御用途のための外部インタフェースに用いる第2外部インタフェースは出力動作用の回路に対する故障検出機能を有し、故障検出信号を外部に出力する、請求項8乃至10の何れか1項に記載の半導体データ処理デバイス。 - 請求項1に記載の半導体データ処理デバイスと、
前記半導体データ処理デバイスが制御対象とする制御対象回路と、
前記制御対象回路の動作または動作停止を制御する制御信号を生成するロジック回路と、を有するデータ処理システムにおいて、
前記ロジック回路は、第1インタフェース回路から出力される第2情報と比較回路から出力される比較結果信号を入力し、前記第2情報の非正当性又は比較結果信号による比較不一致状態を判別したとき、前記制御対象回路を動作停止させる、データ処理システム。 - 請求項8乃至10のいずれか1項に記載の半導体データ処理デバイスと、
前記半導体データ処理デバイスが制御対象とする制御対象回路と、
前記制御対象回路の動作または動作停止を制御する制御信号を生成するロジック回路と、を有するデータ処理システムにおいて、
前記ロジック回路は、第1インタフェース回路から出力される第2情報、第4情報及び比較回路から出力される比較結果信号を入力し、前記第2情報若しくは第4情報の非正当性又は比較結果信号による比較不一致状態を判別したとき、前記制御対象回路を動作停止させる、データ処理システム。
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