JP2010113296A - Proximity exposure apparatus, method of conveying mask in the proximity exposure apparatus, and method of manufacturing display panel substrate - Google Patents

Proximity exposure apparatus, method of conveying mask in the proximity exposure apparatus, and method of manufacturing display panel substrate Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To position a mask smaller than a substrate with high accuracy and mount the mask on a mask holder. <P>SOLUTION: A chuck 10 includes a plurality of push-up pin units each having a push-up pin 12 rising from the inside of the chuck 10 and a motor 11 vertically moving the push-up pin 12. A mask 2 is conveyed by a mask conveying device to the chuck 10 and received by the push-up pins 12 from the mask conveying device. A first image acquisition device 52 is moved by a moving means 53, and an image of a mark for detecting a position of the mask 2 is acquired by the first image acquisition device 52. The image signal of the first image acquisition device 52 is processed to detect the position of the mask 2; the chuck 10 is moved by an X stage 5, a Y stage 7 and a θ stage 8 on the basis of the detected position of the mask 2 so as to position the mask 2; and the mask 2 is mounted on the mask holder 20 by the push-up pins 12. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、液晶ディスプレイ装置等の表示用パネル基板の製造において、プロキシミティ方式を用いて基板の露光を行うプロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のマスク搬送方法、及びそれらを用いた表示用パネル基板の製造方法に係り、特に、大型のマスクを位置決めしてマスクホルダに装着するのに好適なプロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のマスク搬送方法、及びそれらを用いた表示用パネル基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a proximity exposure apparatus that exposes a substrate using a proximity method in the manufacture of a display panel substrate such as a liquid crystal display device, a mask transport method for the proximity exposure apparatus, and a display panel using the same. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate manufacturing method, and in particular, a proximity exposure apparatus suitable for positioning a large mask and mounting it on a mask holder, a mask transport method for the proximity exposure apparatus, and a display panel substrate manufacturing using the same. Regarding the method.

表示用パネルとして用いられる液晶ディスプレイ装置のTFT(Thin Film Transistor)基板やカラーフィルタ基板、プラズマディスプレイパネル用基板、有機EL(Electroluminescence)表示パネル用基板等の製造は、露光装置を用いて、フォトリソグラフィー技術により基板上にパターンを形成して行われる。露光装置としては、レンズ又は鏡を用いてマスクのパターンを基板上に投影するプロジェクション方式と、マスクと基板との間に微小な間隙(プロキシミティギャップ)を設けてマスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ方式とがある。プロキシミティ方式は、プロジェクション方式に比べてパターン解像性能は劣るが、照射光学系の構成が簡単で、かつ処理能力が高く量産用に適している。   Manufacturing of TFT (Thin Film Transistor) substrates, color filter substrates, plasma display panel substrates, organic EL (Electroluminescence) display panel substrates, and the like of liquid crystal display devices used as display panels is performed using photolithography using an exposure apparatus. This is performed by forming a pattern on the substrate by a technique. As an exposure apparatus, a projection method in which a mask pattern is projected onto a substrate using a lens or a mirror, and a minute gap (proximity gap) is provided between the mask and the substrate to transfer the mask pattern to the substrate. There is a proximity method. The proximity method is inferior in pattern resolution performance to the projection method, but the configuration of the irradiation optical system is simple, the processing capability is high, and it is suitable for mass production.

プロキシミティ露光装置は、基板を搭載するチャックと、マスクを保持するマスクホルダとを備え、マスクホルダに保持されたマスクとチャックに搭載された基板とを極めて接近させて露光を行う。通常、チャックは、基板の移動及び位置決めを行うステージ上に搭載されており、基板を真空吸着して固定する。マスクホルダは、基板を搭載したチャックの上方に設けられ、マスクの周辺部を真空吸着して固定する。チャックへの基板の搬入、及びチャックからの基板の搬出は、通常、基板搬送ロボットのハンドリングアームにより行われるが、マスクと基板との接触を避けるために、マスクの下の露光位置から離れたロード/アンロード位置で行われる。ロード/アンロード位置で基板をチャックに搭載した後、ステージがマスクの下の露光位置へ移動し、露光位置で基板の位置決めを行う。   The proximity exposure apparatus includes a chuck on which a substrate is mounted and a mask holder that holds a mask, and performs exposure by bringing a mask held on the mask holder and a substrate mounted on the chuck very close to each other. Usually, the chuck is mounted on a stage that moves and positions the substrate, and fixes the substrate by vacuum suction. The mask holder is provided above the chuck on which the substrate is mounted, and fixes the periphery of the mask by vacuum suction. In order to avoid contact between the mask and the substrate, loading of the substrate away from the exposure position under the mask is usually performed by the handling arm of the substrate transfer robot. / Performed at the unload position. After the substrate is mounted on the chuck at the load / unload position, the stage moves to the exposure position under the mask, and the substrate is positioned at the exposure position.

マスクホルダへのマスクの搬入、及びマスクホルダからのマスクの搬出も、従来、マスク搬送ロボットのハンドリングアームにより行われていた。しかしながら、マスク搬送ロボットのハンドリングアームは片持式であるため、マスクが大型になってその重量が増大すると、ハンドリングアームがたわんで、マスクを水平に支持することができなくなり、またハンドリングアームの揺れが大きくなって、マスクホルダの下方へ移動するためのストロークを確保することが困難になってきた。これに対し、特許文献1には、チャックの外周縁部にマスクの一時支持部材を設け、マスクを一時支持部材に載置し、ステージによりマスクの搬送ずれを補正して、チャックの下面側に連結されたZ軸方向駆動機構によりマスクをマスクホルダの下端面に押圧する技術が開示されている。
特開2003−186199号公報
Conventionally, the mask is carried into the mask holder and the mask is carried out from the mask holder by a handling arm of a mask carrying robot. However, since the handling arm of the mask transfer robot is cantilevered, if the mask becomes large and its weight increases, the handling arm will bend and it will not be possible to support the mask horizontally, and the handling arm will shake. Has become larger, and it has become difficult to secure a stroke for moving the mask holder downward. On the other hand, in Patent Document 1, a mask temporary support member is provided on the outer peripheral edge of the chuck, the mask is placed on the temporary support member, and the conveyance error of the mask is corrected by the stage so A technique for pressing a mask against the lower end surface of a mask holder by a connected Z-axis direction drive mechanism is disclosed.
JP 2003-186199 A

近年、表示用パネルの各種基板の製造では、大型化及びサイズの多様化に対応するため、比較的大きな基板を用意し、表示用パネルのサイズに応じて、1枚の基板から1枚又は複数枚の表示用パネル基板を製造している。この場合、プロキシミティ方式では、基板の一面を一括して露光しようとすると、基板と同じ大きさのマスクが必要となり、高価なマスクのコストがさらに増大する。そこで、基板より比較的小さなマスクを用い、ステージにより基板をXY方向にステップ移動しながら、基板の一面を複数のショットに分けて露光する方式が主流となっている。この方式では、マスクがチャックに搭載する基板より小さいため、特許文献1に記載の技術を適用することができなかった。   In recent years, in the manufacture of various substrates for display panels, a relatively large substrate is prepared in order to cope with an increase in size and a variety of sizes, and one or a plurality of substrates can be selected from one substrate depending on the size of the display panel. Manufactures display panel substrates. In this case, in the proximity method, if one surface of the substrate is to be exposed at once, a mask having the same size as the substrate is required, and the cost of the expensive mask is further increased. In view of this, the mainstream method is to divide and expose one surface of a substrate into a plurality of shots while using a mask that is relatively smaller than the substrate and moving the substrate stepwise in the XY direction by a stage. In this method, since the mask is smaller than the substrate mounted on the chuck, the technique described in Patent Document 1 cannot be applied.

また、マスクと基板とを接近させる際、あるいはマスクと基板とを離す際には、マスクと基板との間の空気に押され又は引っ張られて、マスクホルダに保持されたマスクがたわむ。そして、たわんだマスクが元に戻るときに、マスクの位置ずれが発生する恐れがある。従来、マスク搬送ロボットのハンドリングアームを用いてマスクを搬送する場合は、マスクホルダに複数の位置決め用のピンを設け、マスクをマスクホルダに装着した後、位置決め用のピンによりマスクの側面を押して、マスクの位置を調節していた。この位置決め用のピンが、マスクと基板とを接近させる際、あるいはマスクと基板とを離す際に、マスクの位置ずれを防止する役割も果していた。しかしながら、マスクの装着前にマスクの位置決めを行う場合、従来の位置決め用のピンでマスクの位置ずれを防止しようとすると、位置決め用のピンをマスクの側面に当てる際に、位置決めしたマスクの位置がずれてしまうという問題があった。   Further, when the mask and the substrate are brought close to each other or when the mask and the substrate are separated from each other, the mask held by the mask holder is bent by being pushed or pulled by the air between the mask and the substrate. Then, when the bent mask returns to its original position, there is a risk of mask misalignment. Conventionally, when transferring a mask using a handling arm of a mask transfer robot, a plurality of positioning pins are provided on the mask holder, and after the mask is mounted on the mask holder, the side of the mask is pushed with the positioning pins, The position of the mask was adjusted. The positioning pins have also played a role in preventing displacement of the mask when the mask and the substrate are brought close to each other or when the mask and the substrate are separated. However, when positioning the mask before mounting the mask, if it is attempted to prevent the mask from being displaced with the conventional positioning pins, the position of the positioned mask is not changed when the positioning pins are applied to the side of the mask. There was a problem of shifting.

本発明の課題は、基板より小さいマスクを、精度良く位置決めして、マスクホルダに装着することである。また、本発明の課題は、位置決めしたマスクの位置をずらすことなく、マスクと基板とを接近させる際、あるいはマスクと基板とを離す際のマスクの位置ずれを防止することである。さらに、本発明の課題は、高品質な表示用パネル基板を製造することである。   An object of the present invention is to accurately position a mask smaller than the substrate and attach it to the mask holder. Another object of the present invention is to prevent misalignment of the mask when the mask and the substrate are brought close to each other or when the mask and the substrate are separated without shifting the position of the positioned mask. Furthermore, an object of the present invention is to manufacture a high-quality display panel substrate.

本発明によるプロキシミティ露光装置は、基板を搭載するチャックと、マスクを保持するマスクホルダと、チャックを移動するステージとを備え、マスクと基板との間に微小なギャップを設けて、マスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ露光装置において、ステージの移動を制御する第1の制御手段と、マスクをチャックへ搬入するマスク搬送装置と、チャックの内部から上昇する突き上げピン及び突き上げピンを上下に移動するモータを有し、チャックに取り付けられた複数の突き上げピンユニットと、マスクに設けられた位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第1の画像取得装置と、第1の画像取得装置を移動する移動手段と、第1の画像取得装置が出力した画像信号を処理して、マスクの位置を検出する画像処理装置とを備え、複数の突き上げピンユニットが、突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、第1の制御手段が、画像処理装置が第1の画像取得装置の画像信号を処理して検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクの位置決めを行い、複数の突き上げピンユニットが、突き上げピンによりマスクをマスクホルダに装着するものである。   A proximity exposure apparatus according to the present invention includes a chuck on which a substrate is mounted, a mask holder that holds the mask, and a stage that moves the chuck, and a fine gap is provided between the mask and the substrate to form a mask pattern. In the proximity exposure apparatus that transfers the substrate to the substrate, the first control means for controlling the movement of the stage, the mask transport apparatus for carrying the mask into the chuck, and the push-up pins and push-up pins that move up from the inside of the chuck are moved up and down. A plurality of push-up pin units attached to the chuck, a first image acquisition device that acquires an image of a position detection mark provided on the mask and outputs an image signal; The moving means for moving the image acquisition device and the image signal output from the first image acquisition device are processed to detect the position of the mask. A plurality of push-up pin units that receive the mask from the mask transport device by the push-up pins, and the first control unit detects and detects the image signal of the first image acquisition device by the first control means. Based on the position of the mask, the chuck is moved by the stage to position the mask, and a plurality of push-up pin units attach the mask to the mask holder using the push-up pins.

また、本発明によるプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法は、基板を搭載するチャックと、マスクを保持するマスクホルダと、チャックを移動するステージとを備え、マスクと基板との間に微小なギャップを設けて、マスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法であって、チャックの内部から上昇する突き上げピン及び突き上げピンを上下に移動するモータを有する複数の突き上げピンユニットをチャックに設け、マスクに設けられた位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第1の画像取得装置と、第1の画像取得装置を移動する移動手段とを設け、マスクをマスク搬送装置によりチャックへ搬入し、突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、移動手段により第1の画像取得装置を移動して、第1の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、第1の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクの位置決めを行い、突き上げピンによりマスクをマスクホルダに装着するものである。   The mask exposure method of the proximity exposure apparatus according to the present invention comprises a chuck for mounting a substrate, a mask holder for holding the mask, and a stage for moving the chuck, and a minute gap is formed between the mask and the substrate. A mask exposure method for a proximity exposure apparatus for transferring a mask pattern to a substrate, wherein the chuck includes a push-up pin rising from the inside of the chuck and a plurality of push-up pin units having a motor for moving the push-up pin up and down. A first image acquisition device for obtaining an image of a position detection mark provided on the mask and outputting an image signal; and a moving means for moving the first image acquisition device, and transporting the mask to the mask It is carried into the chuck by the apparatus, the mask is received from the mask conveying apparatus by the push-up pin, and the first image is received by the moving means The acquisition device is moved, the image of the mask position detection mark is acquired by the first image acquisition device, the image signal of the first image acquisition device is processed to detect the position of the mask, and the detected mask Based on this position, the chuck is moved by the stage, the mask is positioned, and the mask is mounted on the mask holder by the push-up pin.

チャックの内部から上昇する突き上げピン及び突き上げピンを上下に移動するモータを有する複数の突き上げピンユニットをチャックに設け、突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取るので、マスクがチャックに搭載する基板より小さくても、マスクをチャックへ搬入することができる。そして、ステージによりチャックを移動してマスクの位置決めを行い、突き上げピンによりマスクをマスクホルダに装着するので、チャックへ搬入したマスクが、ステージにより精度良く位置決めされて、マスクホルダに装着される。   Plural push-up pins rising from the inside of the chuck and a plurality of push-up pin units having a motor for moving the push-up pins up and down are provided in the chuck, and the mask is received by the push-up pins from the mask transfer device, so the mask is smaller than the substrate mounted on the chuck However, the mask can be carried into the chuck. Then, the chuck is moved by the stage to position the mask, and the mask is mounted on the mask holder by the push-up pin. Therefore, the mask carried into the chuck is accurately positioned by the stage and mounted on the mask holder.

マスクの位置決めを精度良く行うためには、マスクの位置を精度良く検出する必要がある。マスクの位置の検出は、マスクの位置検出用マークの画像を取得して行うが、分解能が高い画像取得装置を用いる程、検出精度が高くなる。しかしながら、高分解能の画像取得装置は視野が狭く、マスクの位置がずれている場合に、マスクの位置検出用マークが視野に入らない恐れがある。そこで、マスクに設けられた位置検出用マークの画像を取得する第1の画像取得装置と、第1の画像取得装置を移動する移動手段とを設け、移動手段により第1の画像取得装置を移動して、第1の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得する。そして、第1の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクの位置決めを行う。マスクの位置がずれていても、高分解能の画像取得装置を用いて、マスクの位置が精度良く検出され、マスクの位置決めが精度良く行われる。   In order to accurately position the mask, it is necessary to accurately detect the position of the mask. The detection of the mask position is performed by acquiring an image of the mask position detection mark. However, the detection accuracy increases as an image acquisition device with higher resolution is used. However, the high-resolution image acquisition apparatus has a narrow field of view, and the mask position detection mark may not enter the field of view when the mask position is shifted. Therefore, a first image acquisition device that acquires an image of the position detection mark provided on the mask and a moving unit that moves the first image acquisition device are provided, and the first image acquisition device is moved by the moving unit. Then, an image of the mask position detection mark is acquired by the first image acquisition device. Then, the image signal of the first image acquisition device is processed to detect the position of the mask, and based on the detected position of the mask, the chuck is moved by the stage to position the mask. Even if the position of the mask is shifted, the position of the mask is detected with high accuracy using a high-resolution image acquisition device, and the positioning of the mask is performed with high accuracy.

さらに、本発明によるプロキシミティ露光装置は、マスクホルダの上方に固定され、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第2の画像取得装置を備え、画像処理装置が、第2の画像取得装置が出力した画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、第1の制御手段が、画像処理装置が第2の画像取得装置の画像信号を処理して検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、位置決めしたマスクの位置を補正するものである。   The proximity exposure apparatus according to the present invention further includes a second image acquisition device that is fixed above the mask holder, acquires an image of a mask position detection mark, and outputs an image signal. The image signal output from the second image acquisition device is processed to detect the position of the mask, and the first control means detects the image signal of the second image acquisition device processed by the image processing device. Based on the position of the mask, the chuck is moved by the stage to correct the position of the positioned mask.

また、本発明によるプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法は、マスクホルダの上方に固定され、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第2の画像取得装置を設け、第2の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、第2の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、位置決めしたマスクの位置を補正するものである。   The mask exposure method of the proximity exposure apparatus according to the present invention includes a second image acquisition device that is fixed above the mask holder, acquires an image of a mask position detection mark, and outputs an image signal. An image of a mask position detection mark is acquired by the second image acquisition device, an image signal of the second image acquisition device is processed to detect the mask position, and the stage is detected based on the detected mask position. The position of the positioned mask is corrected by moving the chuck.

第1の画像取得装置を移動すると、マスクの位置の検出結果には、第1の画像取得装置の移動誤差が含まれることとなる。そこで、マスクホルダの上方に固定され、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第2の画像取得装置を設け、第2の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得する。そして、第2の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、位置決めしたマスクの位置を補正する。マスクホルダの上方に固定された第2の画像取得装置を用いて、マスクの位置がより精度良く検出され、位置決めしたマスクの位置が精度良く補正される。   When the first image acquisition device is moved, the detection result of the mask position includes a movement error of the first image acquisition device. Therefore, a second image acquisition device is provided that is fixed above the mask holder, acquires an image of a mask position detection mark, and outputs an image signal. The second image acquisition device uses the second image acquisition device to provide a mask position detection mark. Get the image. Then, the image signal of the second image acquisition device is processed to detect the position of the mask, and based on the detected position of the mask, the chuck is moved by the stage to correct the position of the positioned mask. Using the second image acquisition device fixed above the mask holder, the position of the mask is detected with higher accuracy, and the position of the positioned mask is corrected with higher accuracy.

さらに、本発明によるプロキシミティ露光装置は、突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取るマスク受け取り位置の上空に、第1の画像取得装置よりも分解能が低くて広い視野を有し、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第3の画像取得装置を備え、画像処理装置が、第3の画像取得装置が出力した画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、第1の制御手段が、画像処理装置が第3の画像取得装置の画像信号を処理して検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクをマスク受け取り位置からマスクホルダの下のマスク装着位置へ移動するものである。   Furthermore, the proximity exposure apparatus according to the present invention has a wide field of view with a resolution lower than that of the first image acquisition device above the mask receiving position for receiving the mask from the mask transport device by the push-up pin, and detects the position of the mask. A third image acquisition device that acquires an image of the mark for use and outputs an image signal, and the image processing device processes the image signal output by the third image acquisition device to detect the position of the mask. The first control means moves the chuck by the stage based on the position of the mask detected by the image processing apparatus processing the image signal of the third image acquisition apparatus, and the mask is moved from the mask receiving position to the mask holder. It moves to the lower mask mounting position.

また、本発明によるプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法は、マスクホルダの下のマスク装着位置とは別に設けたマスク受け取り位置で突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、第1の画像取得装置よりも分解能が低くて広い視野を有し、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第3の画像取得装置をマスク受け取り位置の上方に設け、第3の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、第3の画像取得装置の画像信号を処理してマスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクをマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動するものである。   Further, according to the mask exposure method of the proximity exposure apparatus according to the present invention, the mask is received from the mask transfer device by the push-up pin at the mask receiving position provided separately from the mask mounting position under the mask holder, and is received from the first image acquisition device. A third image acquisition device having a low resolution and a wide field of view, acquiring an image of a mask position detection mark, and outputting an image signal above the mask receiving position. Is used to acquire an image of a mask position detection mark, process the image signal of the third image acquisition device to detect the mask position, move the chuck on the stage based on the detected mask position, and Is moved from the mask receiving position to the mask mounting position.

マスクホルダの下のマスク装着位置とは別に設けたマスク受け取り位置で突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、マスクをマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動する場合、マスク受け取り位置でマスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクをマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動するので、マスク受け取り位置で突き上げピンによりマスク搬送装置から受け取ったマスクの位置がずれていても、マスクがマスク装着位置へ精度良く移動される。   When the mask is received from the mask transfer device by the push-up pin at the mask receiving position provided separately from the mask mounting position under the mask holder, and the mask is moved from the mask receiving position to the mask mounting position, the mask position is set at the mask receiving position. Based on the detected position of the mask, the chuck is moved by the stage, and the mask is moved from the mask receiving position to the mask mounting position. Therefore, the position of the mask received from the mask conveying device by the push-up pin at the mask receiving position is Even if it is displaced, the mask is accurately moved to the mask mounting position.

マスク受け取り位置でのマスクの位置の検出は、マスクの位置検出用マークの画像を取得して行うが、突き上げピンによりマスク搬送装置から受け取ったマスクの位置が大きくずれている場合、第1の画像取得装置と同様に分解能が高い画像取得装置を用いると、マスクの位置検出用マークを視野に入れるのに長時間を要する恐れがある。そこで、第1の画像取得装置よりも分解能が低くて広い視野を有する第3の画像取得装置をマスク受け取り位置の上方に設け、第3の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得する。突き上げピンがマスク搬送装置から受け取ったマスクの位置が大きくずれていても、マスクの位置検出用マークの画像が短時間に取得され、マスク受け取り位置でマスクの位置が短時間に検出される。   The detection of the mask position at the mask receiving position is performed by acquiring an image of the mask position detection mark. If the position of the mask received from the mask transport device by the push-up pin is greatly displaced, the first image is detected. If an image acquisition device having a high resolution is used as in the acquisition device, it may take a long time to put the mask position detection mark in the field of view. Therefore, a third image acquisition device having a lower resolution and a wider field of view than the first image acquisition device is provided above the mask receiving position, and an image of the mask position detection mark is acquired by the third image acquisition device. To do. Even if the position of the mask received by the push-up pin from the mask transport device is greatly displaced, an image of the mask position detection mark is acquired in a short time, and the position of the mask is detected in a short time at the mask receiving position.

さらに、本発明によるプロキシミティ露光装置は、チャックの表面に設置され、マスクを載せた突き上げピンが下降したときマスクのパターン面の周辺部に接触する複数のスペーサを備えたものである。また、本発明によるプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法は、マスクを載せた突き上げピンが下降したときマスクのパターン面の周辺部に接触する複数のスペーサを、チャックの表面に設置するものである。突き上げピンがマスク搬送装置から基板を受け取った後、何らかの原因で突き上げピンが下降すると、マスクのパターン面がチャックの表面に接触して、パターンが損傷する恐れがある。そこで、マスクを載せた突き上げピンが下降したときマスクのパターン面の周辺部に接触する複数のスペーサを、チャックの表面に設置して、マスクのパターン面がチャックの表面に接触するのを防止する。   Furthermore, the proximity exposure apparatus according to the present invention includes a plurality of spacers that are installed on the surface of the chuck and come into contact with the peripheral portion of the pattern surface of the mask when the push-up pin on which the mask is placed descends. In the mask exposure method of the proximity exposure apparatus according to the present invention, a plurality of spacers that contact the peripheral portion of the pattern surface of the mask when the push-up pin on which the mask is placed descends are installed on the surface of the chuck. If the push-up pin descends for some reason after the push-up pin receives the substrate from the mask conveyance device, the pattern surface of the mask may come into contact with the surface of the chuck, and the pattern may be damaged. Therefore, a plurality of spacers that contact the peripheral portion of the mask pattern surface when the push-up pin on which the mask is placed descends are installed on the chuck surface to prevent the mask pattern surface from contacting the chuck surface. .

さらに、本発明によるプロキシミティ露光装置は、マスクホルダに保持されたマスクの側面に接触してマスクの位置ずれを防止する位置ずれ防止ピン、位置ずれ防止ピンを移動してマスクの側面に接触させるモータ、及び位置ずれ防止ピンがマスクの側面に接触したことを検出するセンサーを有し、マスクホルダに取り付けられた複数の位置ずれ防止ピンユニットと、各位置ずれ防止ピンユニットのモータを制御する第2の制御手段とを備え、第2の制御手段が、各位置ずれ防止ピンユニットのモータを制御して、位置ずれ防止ピンをマスクの側面に向かって移動させ、センサーの検出結果に基づき、位置ずれ防止ピンの移動を停止するものである。   Furthermore, the proximity exposure apparatus according to the present invention moves the positional displacement prevention pin that contacts the side surface of the mask held by the mask holder to prevent the positional displacement of the mask and the positional displacement prevention pin to contact the lateral surface of the mask. A motor and a sensor for detecting that the misregistration prevention pin is in contact with the side surface of the mask, and a plurality of misregistration prevention pin units attached to the mask holder and a motor for controlling the motor of each misregistration prevention pin unit. 2, and the second control unit controls the motor of each misregistration prevention pin unit to move the misregistration prevention pin toward the side surface of the mask, and based on the detection result of the sensor, The movement of the slip prevention pin is stopped.

また、本発明によるプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法は、マスクホルダに保持されたマスクの側面に接触してマスクの位置ずれを防止する位置ずれ防止ピン、位置ずれ防止ピンを移動してマスクの側面に接触させるモータ、及び位置ずれ防止ピンがマスクの側面に接触したことを検出するセンサーを有する複数の位置ずれ防止ピンユニットをマスクホルダに設け、各位置ずれ防止ピンユニットのモータを制御して、位置ずれ防止ピンをマスクの側面に向かって移動させ、センサーの検出結果に基づき、位置ずれ防止ピンの移動を停止するものである。   Further, the mask transport method of the proximity exposure apparatus according to the present invention moves the mask of the mask by moving the misalignment prevention pin and the misalignment prevention pin that contact the side surface of the mask held by the mask holder to prevent the misalignment of the mask. The mask holder is provided with a plurality of misregistration prevention pin units each having a motor that contacts the side surface and a sensor that detects that the misregistration prevention pin has contacted the side surface of the mask, and controls the motor of each misregistration prevention pin unit. The displacement prevention pin is moved toward the side surface of the mask, and the movement of the displacement prevention pin is stopped based on the detection result of the sensor.

各位置ずれ防止ピンユニットのモータを制御して、位置ずれ防止ピンをマスクの側面に向かって移動させ、位置ずれ防止ピンがマスクの側面に接触したことを検出するセンサーの検出結果に基づき、位置ずれ防止ピンの移動を停止するので、位置決めしたマスクの位置をずらすことなく、位置ずれ防止ピンがマスクの側面に接触し、マスクと基板とを接近させる際、あるいはマスクと基板とを離す際のマスクの位置ずれが防止される。   Control the motor of each misregistration prevention pin unit to move the misregistration prevention pin toward the side of the mask and detect the position based on the detection result of the sensor that detects that the misregistration prevention pin contacts the side of the mask. Since the movement of the displacement prevention pin stops, the displacement prevention pin contacts the side surface of the mask without shifting the position of the positioned mask, and when the mask and the substrate are brought close, or when the mask and the substrate are separated. Misalignment of the mask is prevented.

本発明の表示用パネル基板の製造方法は、上記のいずれかのプロキシミティ露光装置を用いて基板の露光を行い、あるいは、上記のいずれかのプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法を用いてマスクをマスクホルダに装着し、基板の露光を行うものである。マスクの位置決めが精度良く行われるので、パターンの転写が精度良く行われ、高品質な表示用パネル基板が製造される。   The method for producing a display panel substrate according to the present invention exposes a substrate using any one of the above-described proximity exposure apparatuses, or masks using any one of the above-described proximity exposure apparatus mask transport methods. It is mounted on a mask holder and the substrate is exposed. Since the mask is positioned with high accuracy, the pattern is transferred with high accuracy, and a high-quality display panel substrate is manufactured.

本発明のプロキシミティ露光装置及びプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法によれば、マスクをマスク搬送装置によりチャックへ搬入し、突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、移動手段により第1の画像取得装置を移動して、第1の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、第1の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクの位置決めを行い、突き上げピンによりマスクをマスクホルダに装着することにより、基板より小さいマスクを、精度良く位置決めして、マスクホルダに装着することができる。   According to the proximity exposure apparatus and the mask conveyance method of the proximity exposure apparatus of the present invention, the mask is carried into the chuck by the mask conveyance apparatus, the mask is received from the mask conveyance apparatus by the push-up pin, and the first image is obtained by the moving means. The apparatus is moved, the image of the mark for detecting the position of the mask is acquired by the first image acquisition device, the image signal of the first image acquisition device is processed, the position of the mask is detected, and the detected mask Based on the position, the chuck is moved by the stage, the mask is positioned, and the mask is mounted on the mask holder by the push-up pin, so that the mask smaller than the substrate can be accurately positioned and mounted on the mask holder. it can.

さらに、本発明のプロキシミティ露光装置及びプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法によれば、マスクホルダの上方に固定された第2の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、第2の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、位置決めしたマスクの位置を補正することにより、マスクホルダの上方に固定された第2の画像取得装置を用いて、マスクの位置をより精度良く検出し、位置決めしたマスクの位置を精度良く補正することができる。   Further, according to the proximity exposure apparatus and the mask conveyance method of the proximity exposure apparatus of the present invention, the image of the mask position detection mark is acquired by the second image acquisition device fixed above the mask holder, The image signal of the image acquisition device 2 is processed to detect the position of the mask, and based on the detected position of the mask, the chuck is moved by the stage to correct the position of the positioned mask. Using the second image acquisition device fixed upward, the position of the mask can be detected with higher accuracy, and the position of the positioned mask can be corrected with high accuracy.

さらに、本発明のプロキシミティ露光装置及びプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法によれば、マスクホルダの下のマスク装着位置とは別に設けたマスク受け取り位置で突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、第1の画像取得装置よりも分解能が低くて広い視野を有する第3の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、第3の画像取得装置の画像信号を処理してマスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクをマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動することにより、突き上げピンがマスク搬送装置から受け取ったマスクの位置が大きくずれていても、マスク受け取り位置でマスクの位置を短時間に検出して、マスクをマスク装着位置へ精度良く移動することができる。   Furthermore, according to the proximity exposure apparatus of the present invention and the mask conveyance method of the proximity exposure apparatus, the mask is received from the mask conveyance apparatus by the push-up pin at the mask reception position provided separately from the mask mounting position under the mask holder, The image of the mask for detecting the position of the mask is acquired by a third image acquisition device having a lower resolution and a wider field of view than the first image acquisition device, and the image signal of the third image acquisition device is processed to process the mask. The position of the mask is detected, the chuck is moved by the stage based on the detected mask position, and the mask is moved from the mask receiving position to the mask mounting position. Even if it is displaced, the mask position is detected in a short time at the mask receiving position, and the mask is placed in the mask mounting position. It can be accurately moved.

さらに、本発明のプロキシミティ露光装置及びプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法によれば、突き上げピンが下降したときマスクのパターン面の周辺部に接触する複数のスペーサを、チャックの表面に設置することにより、何らかの原因で突き上げピンが下降しても、マスクのパターン面がチャックの表面に接触してパターンが損傷するのを防止することができる。   Furthermore, according to the proximity exposure apparatus and the mask conveyance method of the proximity exposure apparatus of the present invention, the plurality of spacers that contact the peripheral portion of the pattern surface of the mask when the push-up pin is lowered are installed on the surface of the chuck. Thus, even if the push-up pin is lowered for some reason, it is possible to prevent the pattern surface of the mask from coming into contact with the surface of the chuck and damaging the pattern.

さらに、本発明のプロキシミティ露光装置及びプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法によれば、マスクホルダに保持されたマスクの側面に接触してマスクの位置ずれを防止する位置ずれ防止ピン、位置ずれ防止ピンを移動してマスクの側面に接触させるモータ、及び位置ずれ防止ピンがマスクの側面に接触したことを検出するセンサーを有する複数の位置ずれ防止ピンユニットをマスクホルダに設け、各位置ずれ防止ピンユニットのモータを制御して、位置ずれ防止ピンをマスクの側面に向かって移動させ、センサーの検出結果に基づき、位置ずれ防止ピンの移動を停止することにより、位置決めしたマスクの位置をずらすことなく、マスクと基板とを接近させる際、あるいはマスクと基板とを離す際のマスクの位置ずれを防止することができる。   Furthermore, according to the proximity exposure apparatus and the mask transport method of the proximity exposure apparatus of the present invention, the misalignment prevention pin that prevents the misalignment of the mask by contacting the side surface of the mask held by the mask holder, the misalignment prevention A plurality of misregistration prevention pin units having a motor for moving the pin to contact the side surface of the mask and a sensor for detecting that the misregistration prevention pin contacts the side surface of the mask are provided on the mask holder. Control the unit motor to move the misalignment prevention pin toward the side of the mask and stop moving the misalignment prevention pin based on the detection result of the sensor without shifting the position of the positioned mask.・ Prevent mask misalignment when bringing the mask and substrate close together or when separating the mask and substrate It can be.

本発明の表示用パネル基板の製造方法によれば、マスクの位置決めを精度良く行うことができるので、パターンの転写を精度良く行って、高品質な表示用パネル基板を製造することができる。   According to the method for manufacturing a display panel substrate of the present invention, the mask can be positioned with high accuracy, so that the pattern can be transferred with high accuracy and a high-quality display panel substrate can be manufactured.

図1は、本発明の一実施の形態によるプロキシミティ露光装置の概略構成を示す図である。また、図2は、本発明の一実施の形態によるプロキシミティ露光装置の平面図である。プロキシミティ露光装置は、ベース3、Xガイド4、Xステージ5、Yガイド6、Yステージ7、θステージ8、チャック支持台9、チャック10、突き上げピンユニット、突き上げピンユニットの制御系、マスクホルダ20、マスク保護スペーサ30、スペーサ設置装置31、マスク搬送ロボット40、マスクストッカー42、広視野カメラ51、高分解能可動カメラ52、カメラ移動機構53、高分解能固定カメラ54、画像処理装置55、Xステージ駆動回路71、Yステージ駆動回路72、θステージ駆動回路73、及び主制御装置80を含んで構成されている。   FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a proximity exposure apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a plan view of a proximity exposure apparatus according to an embodiment of the present invention. The proximity exposure apparatus includes a base 3, an X guide 4, an X stage 5, a Y guide 6, a Y stage 7, a θ stage 8, a chuck support base 9, a chuck 10, a push pin unit, a push pin unit control system, and a mask holder. 20, mask protection spacer 30, spacer installation device 31, mask transport robot 40, mask stocker 42, wide field of view camera 51, high resolution movable camera 52, camera moving mechanism 53, high resolution fixed camera 54, image processing device 55, X stage The drive circuit 71, the Y stage drive circuit 72, the θ stage drive circuit 73, and the main controller 80 are configured.

なお、図1では、突き上げピンユニットの制御系、マスク保護スペーサ30、スペーサ設置装置31、マスク搬送ロボット40、マスクストッカー42、及びカメラ移動機構53が省略されている。また、図2では、突き上げピンユニットの制御系、画像処理装置55、Xステージ駆動回路71、Yステージ駆動回路72、θステージ駆動回路73、及び主制御装置80が省略されている。プロキシミティ露光装置は、これらの他に、露光光を照射する照射光学系、ギャップセンサー、アライメント用センサー、装置内の温度管理を行う温度制御ユニット等を備えている。   In FIG. 1, the control system of the push-up pin unit, the mask protection spacer 30, the spacer installation device 31, the mask transport robot 40, the mask stocker 42, and the camera moving mechanism 53 are omitted. In FIG. 2, the control system of the push-up pin unit, the image processing device 55, the X stage drive circuit 71, the Y stage drive circuit 72, the θ stage drive circuit 73, and the main control device 80 are omitted. In addition to these, the proximity exposure apparatus includes an irradiation optical system that irradiates exposure light, a gap sensor, an alignment sensor, a temperature control unit that manages temperature in the apparatus, and the like.

なお、以下に説明する実施の形態におけるXY方向は例示であって、X方向とY方向とを入れ替えてもよい。   Note that the XY directions in the embodiments described below are examples, and the X direction and the Y direction may be interchanged.

図2において、チャック10は、マスク2の受け取りを行うマスク受け取り位置にある。マスク搬送ロボット40は、マスク2を、マスクストッカー42から取り出して、マスク受け取り位置にあるチャック10へ搬入し、またマスク2を、マスク受け取り位置にあるチャック10から搬出して、マスクストッカー42に収納する。マスク搬送ロボット40のハンドリングアーム41には、マスク2のパターン面(下面)のパターンが形成されていない周辺部に接触するマスク支持部41aが設けられており、ハンドリングアーム41は、マスク支持部41aによりマスク2のパターン面(下面)の周辺部を支持する。後述する突き上げピンユニットの突き上げピンは、マスク2をチャック10へ搬入する際、マスク搬送ロボット40のハンドリングアーム41からマスク2を受け取り、マスク2をチャック10から搬出する際、マスク搬送ロボット40のハンドリングアーム41へマスク2を受け渡す。チャック10へ搬入されたマスク2は、後述する様に、マスクホルダ20の下のマスク装着位置へ移動され、マスク装着位置においてマスクホルダ20へ装着される。   In FIG. 2, the chuck 10 is in a mask receiving position where the mask 2 is received. The mask transport robot 40 takes out the mask 2 from the mask stocker 42 and carries it into the chuck 10 at the mask receiving position, and carries the mask 2 out of the chuck 10 at the mask receiving position and stores it in the mask stocker 42. To do. The handling arm 41 of the mask transfer robot 40 is provided with a mask support portion 41a that comes into contact with the peripheral portion on which the pattern surface (lower surface) of the mask 2 is not formed. The handling arm 41 includes the mask support portion 41a. Thus, the peripheral portion of the pattern surface (lower surface) of the mask 2 is supported. A push-up pin of a push-up pin unit, which will be described later, receives the mask 2 from the handling arm 41 of the mask transfer robot 40 when carrying the mask 2 into the chuck 10 and handles the mask transfer robot 40 when carrying the mask 2 out of the chuck 10. Transfer the mask 2 to the arm 41. As will be described later, the mask 2 carried into the chuck 10 is moved to a mask mounting position below the mask holder 20 and mounted on the mask holder 20 at the mask mounting position.

基板の露光を行う際、チャック10は、まず、基板のロード/アンロードを行うロード/アンロード位置へ移動される。ロード/アンロード位置において、基板がチャック10にロードされ、また基板がチャック10からアンロードされる。基板がロードされたチャック10は、ロード/アンロード位置から基板の露光を行う露光位置へ移動される。   When the substrate is exposed, the chuck 10 is first moved to a load / unload position where the substrate is loaded / unloaded. In the load / unload position, the substrate is loaded onto the chuck 10 and the substrate is unloaded from the chuck 10. The chuck 10 loaded with the substrate is moved from the load / unload position to the exposure position where the substrate is exposed.

露光位置の上空には、マスク2を保持するマスクホルダ20が設置されている。マスクホルダ20は、マスク2の周辺部を真空吸着して保持する。マスクホルダ20に保持されたマスク2の上空には、図示しない照射光学系が配置されている。露光時、照射光学系からの露光光がマスク2を透過して基板へ照射されることにより、マスク2のパターンが基板1の表面に転写され、基板1上にパターンが形成される。   A mask holder 20 for holding the mask 2 is installed above the exposure position. The mask holder 20 holds the periphery of the mask 2 by vacuum suction. An irradiation optical system (not shown) is disposed above the mask 2 held by the mask holder 20. During exposure, exposure light from the irradiation optical system passes through the mask 2 and is irradiated onto the substrate, whereby the pattern of the mask 2 is transferred to the surface of the substrate 1 and a pattern is formed on the substrate 1.

図1において、チャック10は、チャック支持台9を介してθステージ8に搭載されており、θステージ8の下にはYステージ7及びXステージ5が設けられている。Xステージ5は、ベース3に設けられたXガイド4に搭載され、Xガイド4に沿ってX方向(図1の図面横方向)へ移動する。Yステージ7は、Xステージ5に設けられたYガイド6に搭載され、Yガイド6に沿ってY方向(図1の図面奥行き方向)へ移動する。θステージ8は、Yステージ7に搭載され、θ方向へ回転する。チャック支持台9は、θステージ8に搭載され、チャック10の裏面を複数の点で支持する。Xステージ駆動回路71、Yステージ駆動回路72、θステージ駆動回路73は、主制御装置80の制御により、Xステージ5、Yステージ7、θステージ8をそれぞれ駆動する。   In FIG. 1, a chuck 10 is mounted on a θ stage 8 via a chuck support 9, and a Y stage 7 and an X stage 5 are provided below the θ stage 8. The X stage 5 is mounted on an X guide 4 provided on the base 3 and moves along the X guide 4 in the X direction (the horizontal direction in FIG. 1). The Y stage 7 is mounted on a Y guide 6 provided on the X stage 5 and moves along the Y guide 6 in the Y direction (the depth direction in FIG. 1). The θ stage 8 is mounted on the Y stage 7 and rotates in the θ direction. The chuck support 9 is mounted on the θ stage 8 and supports the back surface of the chuck 10 at a plurality of points. The X stage drive circuit 71, the Y stage drive circuit 72, and the θ stage drive circuit 73 drive the X stage 5, the Y stage 7, and the θ stage 8 under the control of the main controller 80, respectively.

Xステージ5のX方向への移動及びYステージ7のY方向への移動により、チャック10は、ロード/アンロード位置と露光位置との間を移動される。ロード/アンロード位置において、Xステージ5のX方向への移動、Yステージ7のY方向への移動、及びθステージ8のθ方向への回転により、チャック10に搭載された基板のプリアライメントが行われる。露光位置において、Xステージ5のX方向への移動及びYステージ7のY方向への移動により、チャック10に搭載された基板のXY方向へのステップ移動が行われる。そして、Xステージ5のX方向への移動、Yステージ7のY方向への移動、及びθステージ8のθ方向への回転により、基板のアライメントが行われる。また、図示しないZ−チルト機構によりマスクホルダ20をZ方向(図1の図面上下方向)へ移動及びチルトすることにより、マスク2と基板とのギャップ合わせが行われる。   The chuck 10 is moved between the load / unload position and the exposure position by the movement of the X stage 5 in the X direction and the movement of the Y stage 7 in the Y direction. At the load / unload position, the pre-alignment of the substrate mounted on the chuck 10 is performed by moving the X stage 5 in the X direction, moving the Y stage 7 in the Y direction, and rotating the θ stage 8 in the θ direction. Done. At the exposure position, the movement of the X stage 5 in the X direction and the movement of the Y stage 7 in the Y direction cause a step movement of the substrate mounted on the chuck 10 in the XY direction. Then, the substrate is aligned by moving the X stage 5 in the X direction, moving the Y stage 7 in the Y direction, and rotating the θ stage 8 in the θ direction. Further, the gap between the mask 2 and the substrate is adjusted by moving and tilting the mask holder 20 in the Z direction (the vertical direction in FIG. 1) by a Z-tilt mechanism (not shown).

なお、本実施の形態では、マスクホルダ20をZ方向へ移動及びチルトすることにより、マスク2と基板とのギャップ合わせを行っているが、チャック支持台9にZ−チルト機構を設けて、チャック10をZ方向へ移動及びチルトすることにより、マスク2と基板とのギャップ合わせを行ってもよい。   In the present embodiment, the gap between the mask 2 and the substrate is adjusted by moving and tilting the mask holder 20 in the Z direction. However, the chuck support 9 is provided with a Z-tilt mechanism to The gap between the mask 2 and the substrate may be adjusted by moving and tilting 10 in the Z direction.

図3は、チャックの上面図である。チャック10の表面には、図示しない凸部と土手と吸着孔とが設けられている。凸部は、直径数mmのピン形状であり、チャック10の表面に所定の間隔で複数設けられている。チャック10に基板が搭載されたとき、凸部は、基板を複数の点で支持する。このとき、チャック10の表面の凸部以外の部分と基板との間には、空間が形成される。土手は、所定の幅の連続した壁であり、チャック10の表面の凸部以外の部分と基板との間に形成された空間を、複数の真空区画に分ける。土手は、チャック10の表面形状が基板の表面に焼き付けられる裏面転写が発生したときに人間の目で認識され難い様に、直線ではなく不規則な線で構成されている。吸着孔は、チャック10の表面の凸部及び土手以外の部分に所定の間隔で複数設けられ、土手により分けられた各真空区画の真空引きを行う。   FIG. 3 is a top view of the chuck. On the surface of the chuck 10, a not-shown convex portion, a bank, and a suction hole are provided. The convex portion has a pin shape with a diameter of several mm, and a plurality of convex portions are provided on the surface of the chuck 10 at a predetermined interval. When the substrate is mounted on the chuck 10, the convex portion supports the substrate at a plurality of points. At this time, a space is formed between the portion other than the convex portion on the surface of the chuck 10 and the substrate. The bank is a continuous wall having a predetermined width, and divides a space formed between a portion other than the convex portion on the surface of the chuck 10 and the substrate into a plurality of vacuum compartments. The bank is not a straight line but an irregular line so that the surface shape of the chuck 10 is difficult to be recognized by the human eye when a back surface transfer in which the surface shape of the chuck 10 is baked onto the surface of the substrate occurs. A plurality of suction holes are provided at predetermined intervals in portions other than the convex portions and the bank of the surface of the chuck 10, and evacuation of each vacuum section divided by the bank is performed.

また、チャック10には、図示しない複数の基板受け取り/受け渡し用の突き上げピンが設けられている。基板受け取り/受け渡し用の突き上げピンは、チャック10の表面より上昇して、基板をチャック10にロードする際、図示しない基板搬送ロボットから基板を受け取り、また基板をチャックからアンロードする際、図示しない基板搬送ロボットへ基板を受け渡す。   Further, the chuck 10 is provided with a plurality of push-up pins for receiving / delivering a substrate (not shown). The push-up pins for receiving / delivering the substrate are lifted from the surface of the chuck 10 to load the substrate onto the chuck 10, receive the substrate from a substrate transfer robot (not shown), and unload the substrate from the chuck (not shown). Deliver the substrate to the substrate transfer robot.

図3において、チャック10の中央部付近には、後述する突き上げピンユニットが挿入される複数の開口が設けられており、開口には蓋13がはめられている。蓋13には貫通孔が設けられており、貫通孔には蓋13の下方から突き上げピン12が挿入されている。なお、本実施の形態では、チャック10の中央部付近に16個の開口が設けられているが、開口の位置及び数はこれに限定されるものではない。   In FIG. 3, a plurality of openings into which a push-up pin unit, which will be described later, is inserted are provided near the center of the chuck 10, and a lid 13 is fitted in the openings. The lid 13 is provided with a through hole, and a push-up pin 12 is inserted into the through hole from below the lid 13. In the present embodiment, 16 openings are provided near the center of the chuck 10, but the position and number of openings are not limited to this.

図4(a)はチャックに設けられた開口の上面図、図4(b)は図4(a)のA−A部の断面図である。また、図5(a)はチャックに設けられた開口の上面図、図5(b)は図5(a)のB−B部の断面図である。突き上げピンユニットは、モータ11、突き上げピン12、蓋13、フランジ14、ボルト15,17、及び止めねじ16を含んで構成されている。   4A is a top view of an opening provided in the chuck, and FIG. 4B is a cross-sectional view taken along a line AA in FIG. 4A. FIG. 5A is a top view of the opening provided in the chuck, and FIG. 5B is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG. 5A. The push pin unit includes a motor 11, a push pin 12, a lid 13, a flange 14, bolts 15 and 17, and a set screw 16.

モータ11は、パルスモータと、パルスモータに接続されたボールねじと、ロッドとを含んで構成され、パルスモータでボールねじを駆動することにより、ロッド収納部11a内に収納されたロッドが、上昇及び下降する。モータ11のロッドの先端には、突き上げピン12が取り付けられている。   The motor 11 includes a pulse motor, a ball screw connected to the pulse motor, and a rod. By driving the ball screw with the pulse motor, the rod stored in the rod storage portion 11a is raised. And descend. A push-up pin 12 is attached to the tip of the rod of the motor 11.

図4(b)において、モータ11のロッド収納部11aの上面には、フランジ14が取り付けられ、フランジ14は、ボルト15により蓋13の裏面に固定されている。一方、チャック10の裏面の開口周辺には、蓋13を支持するリング状の支持プレート18が取り付けられている。支持プレート18は、ボルト19によりチャック10の裏面に固定されている。   In FIG. 4B, a flange 14 is attached to the upper surface of the rod storage portion 11 a of the motor 11, and the flange 14 is fixed to the back surface of the lid 13 with a bolt 15. On the other hand, a ring-shaped support plate 18 that supports the lid 13 is attached to the periphery of the opening on the back surface of the chuck 10. The support plate 18 is fixed to the back surface of the chuck 10 by bolts 19.

図4(a)及び図5(a)において、蓋13の周辺部には、止めねじ16をねじ込むねじ穴と、ボルト17を通す段差付き穴とが、複数箇所に設けられている。図4(b)において、蓋13は、蓋13の周辺部の段差付き穴に通したボルト17により、支持プレート18に固定されている。図5(b)において、止めねじ16は、蓋13の周辺部のねじ穴にねじ込まれ、蓋13の底面から突き出て、支持プレート18の上面に接触している。   4 (a) and 5 (a), a screw hole into which the set screw 16 is screwed and a stepped hole through which the bolt 17 is passed are provided at a plurality of locations around the lid 13. As shown in FIG. In FIG. 4B, the lid 13 is fixed to the support plate 18 by bolts 17 that pass through stepped holes in the periphery of the lid 13. In FIG. 5B, the set screw 16 is screwed into the screw hole in the peripheral portion of the lid 13, protrudes from the bottom surface of the lid 13, and contacts the upper surface of the support plate 18.

本実施の形態では、突き上げピンユニットをチャック10に取り付ける際、まず、チャック10の上方から、突き上げピンユニットを開口に挿入し、止めねじ16のねじ込み量を調整して、突き上げピンユニットの取り付け高さを調整する。そして、ボルト17により蓋13を支持プレート18に固定して、突き上げピンユニットをチャック10に取り付ける。突き上げピンユニットを、チャック10の上方から、開口に挿入し、止めねじ16により取り付け高さを調整して、チャック10に取り付けるので、チャック10の外側から手又は治具が届きにくいチャックの中央部付近であっても、突き上げピンユニットの取り付け高さの調整がチャック10の上方から容易に行われる。従って、基板の大型化に伴いチャック10が大型化しても、突き上げピン12の高さが容易に調整される。   In the present embodiment, when the push-up pin unit is attached to the chuck 10, first, the push-up pin unit is inserted into the opening from above the chuck 10 and the screwing amount of the set screw 16 is adjusted to adjust the height of the push-up pin unit. Adjust the height. Then, the lid 13 is fixed to the support plate 18 with the bolts 17 and the push-up pin unit is attached to the chuck 10. The push-up pin unit is inserted into the opening from above the chuck 10, the mounting height is adjusted by the set screw 16, and the chuck unit is attached to the chuck 10. Even in the vicinity, adjustment of the mounting height of the push-up pin unit is easily performed from above the chuck 10. Therefore, the height of the push-up pin 12 can be easily adjusted even if the chuck 10 is enlarged as the substrate is enlarged.

図6は、突き上げピンユニットの制御系を示す図である。突き上げピン駆動制御回路50は、主制御装置80の制御により、各突き上げピンユニットのモータ11に対して、突き上げピン12の移動先を指定して、突き上げピン12の移動先への移動を指示する。モータ11は、内部にエンコーダを有し、エンコーダは、突き上げピン12が指示された移動先から所定の範囲内に達すると、移動が終了した旨の終了信号を、突き上げピン駆動制御回路50へ出力する。   FIG. 6 is a diagram showing a control system of the push-up pin unit. Under the control of the main controller 80, the push-up pin drive control circuit 50 designates the movement destination of the push-up pin 12 and instructs the motor 11 of each push-up pin unit to move to the movement destination. . The motor 11 has an encoder inside, and the encoder outputs an end signal indicating that the movement is finished to the push-up pin drive control circuit 50 when the push-up pin 12 reaches a predetermined range from the designated movement destination. To do.

以下、本発明の一実施の形態によるプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法について説明する。図2において、マスク受け取り位置にあるチャック10の上空には、スペーサ設置装置31及び広視野カメラ51が配置されている。図7は、スペーサ設置装置及び広視野カメラの配置を示す図である。図7において、マスク搬送ロボット40により搬入されるマスク2は、破線で示されている。スペーサ設置装置31は、マスク2の周辺部の上方に配置され、後述する様に、マスク保護スペーサ30を、チャック10の上方から、チャック10の表面に設置する。広視野カメラ51は、マスク2に設けられた位置検出用マークの上方に配置され、マスク2の位置検出用マークの画像を取得する。   Hereinafter, a mask carrying method of a proximity exposure apparatus according to an embodiment of the present invention will be described. In FIG. 2, a spacer installation device 31 and a wide-field camera 51 are arranged above the chuck 10 at the mask receiving position. FIG. 7 is a diagram showing the arrangement of the spacer installation device and the wide-field camera. In FIG. 7, the mask 2 carried in by the mask carrying robot 40 is indicated by a broken line. The spacer installation device 31 is disposed above the peripheral portion of the mask 2 and installs the mask protection spacer 30 on the surface of the chuck 10 from above the chuck 10 as described later. The wide-field camera 51 is arranged above the position detection mark provided on the mask 2 and acquires an image of the position detection mark on the mask 2.

図8(a)はマスク保護スペーサの上面図、図8(b)は図8(a)の矢印Cの方向から見たマスク保護スペーサの側面図、図8(c)は図8(a)の矢印Dの方向から見たマスク保護スペーサの側面図である。マスク保護スペーサ30は、平坦面30aと、平坦面30aよりも高い段差面30bと、平坦面30aと段差面30bとの間に設けられた傾斜面30cとを有する。マスク保護スペーサ30の側面には、図8(b)及び図8(c)に示す様に、水平方向に伸びる溝30dが設けられている。マスク2を載せた突き上げピン12が下降したとき、マスク2のパターン面(下面)の縁が傾斜面30cにより案内され、平坦面30aがマスクのパターン面(下面)のパターンが形成されていない周辺部に接触してマスク2を支持する。   8A is a top view of the mask protection spacer, FIG. 8B is a side view of the mask protection spacer viewed from the direction of arrow C in FIG. 8A, and FIG. 8C is FIG. 8A. It is a side view of the mask protection spacer seen from the direction of arrow D. The mask protection spacer 30 has a flat surface 30a, a step surface 30b higher than the flat surface 30a, and an inclined surface 30c provided between the flat surface 30a and the step surface 30b. As shown in FIGS. 8B and 8C, a groove 30 d extending in the horizontal direction is provided on the side surface of the mask protection spacer 30. When the push-up pin 12 on which the mask 2 is placed is lowered, the edge of the pattern surface (lower surface) of the mask 2 is guided by the inclined surface 30c, and the flat surface 30a is the periphery where the pattern of the mask pattern surface (lower surface) is not formed. The mask 2 is supported in contact with the portion.

図9(a)はスペーサ設置装置の側面図、図9(b)はスペーサ設置装置の正面図である。スペーサ設置装置31は、エアシリンダテーブル32、チャックベース33、エアチャック34、ブラケット35、クランプ36、及び爪37を含んで構成されている。エアシリンダテーブル32は、図示しない空気圧回路から供給されるエアの圧力によりエアシリンダを駆動して、テーブル32aを図面下方向へ移動する。エアシリンダテーブル32のテーブル32aには、断面がL字形のチャックベース33が取り付けられており、チャックベース33の下端には、エアチャック34が取り付けられている。図9(b)に示す様に、エアチャック34に接続された2つのブラケット35には、クランプ36がそれぞれ取り付けられており、2つのクランプ36は、エアチャック34の駆動により、図9(b)の図面横方向へ移動して開閉する。各クランプ36には、マスク保護スペーサ30の側面に設けられた溝30dに引っ掛かる爪37が設けられており、2つのクランプ36は、図9(b)に示す閉じた状態で、爪37をマスク保護スペーサ30の溝30dに引っ掛けて、マスク保護スペーサ30を保持する。   Fig.9 (a) is a side view of a spacer installation apparatus, FIG.9 (b) is a front view of a spacer installation apparatus. The spacer installation device 31 includes an air cylinder table 32, a chuck base 33, an air chuck 34, a bracket 35, a clamp 36, and a claw 37. The air cylinder table 32 drives the air cylinder by the pressure of air supplied from a pneumatic circuit (not shown), and moves the table 32a downward in the drawing. A chuck base 33 having an L-shaped cross section is attached to the table 32 a of the air cylinder table 32, and an air chuck 34 is attached to the lower end of the chuck base 33. As shown in FIG. 9B, the clamps 36 are respectively attached to the two brackets 35 connected to the air chuck 34, and the two clamps 36 are driven by the air chuck 34 as shown in FIG. ) Move in the horizontal direction of the drawing and open and close. Each clamp 36 is provided with a claw 37 that is hooked in a groove 30d provided on the side surface of the mask protection spacer 30. The two clamps 36 are configured to mask the claw 37 in the closed state shown in FIG. The mask protective spacer 30 is held by being hooked in the groove 30 d of the protective spacer 30.

図10は、スペーサ設置装置の動作を説明する図である。スペーサ設置装置31は、マスク2がチャック10へ搬入される前に、マスク保護スペーサ30をチャック10の表面に設置する。マスク保護スペーサ30を設置する前は、図10(a)に示す様に、エアシリンダテーブル32のテーブル32aが上昇した状態にあり、クランプ36がマスク保護スペーサ30をチャック10の上空で保持している。マスク保護スペーサ30を設置するとき、スペーサ設置装置31は、図10(b)に示す様に、エアシリンダテーブル32のテーブル32aを下降させ、クランプ36に保持されたマスク保護スペーサ30をチャック10の表面へ移動する。そして、クランプ36を開いて、マスク保護スペーサ30をチャック10の表面に置く。その後、スペーサ設置装置31は、図10(c)に示す様に、エアシリンダテーブル32のテーブル32aを再び上昇させて、待機する。マスク保護スペーサ30をチャック10から回収するときは、上記と逆の動作を行う。   FIG. 10 is a diagram for explaining the operation of the spacer installation device. The spacer installation device 31 installs the mask protection spacer 30 on the surface of the chuck 10 before the mask 2 is carried into the chuck 10. Before the mask protection spacer 30 is installed, as shown in FIG. 10A, the table 32a of the air cylinder table 32 is in a raised state, and the clamp 36 holds the mask protection spacer 30 above the chuck 10. Yes. When installing the mask protection spacer 30, the spacer installation device 31 lowers the table 32 a of the air cylinder table 32 as shown in FIG. 10B and moves the mask protection spacer 30 held by the clamp 36 to the chuck 10. Move to the surface. Then, the clamp 36 is opened and the mask protection spacer 30 is placed on the surface of the chuck 10. Thereafter, as shown in FIG. 10C, the spacer installation device 31 raises the table 32a of the air cylinder table 32 again and stands by. When the mask protection spacer 30 is recovered from the chuck 10, the reverse operation is performed.

なお、本実施の形態では、スペーサ設置装置31をチャック10の上空に配置し、マスク保護スペーサ30をチャック10の上方からチャック10の表面に設置しているが、マスク保護スペーサをチャック10に内蔵し、マスク保護スペーサをチャック10の表面から上昇させる様にしてもよい。   In this embodiment, the spacer installation device 31 is disposed above the chuck 10 and the mask protection spacer 30 is installed on the surface of the chuck 10 from above the chuck 10. However, the mask protection spacer is built in the chuck 10. Then, the mask protection spacer may be raised from the surface of the chuck 10.

図11は、マスク保護スペーサが設置されたチャックの上面図である。チャック10の表面に設置されたマスク保護スペーサ30は、破線で示すマスク2を載せた突き上げピン12が下降したとき、マスク2のパターン面(下面)のパターンが形成されていない周辺部に接触してマスク2を支持する。これにより、マスク2のパターン面(下面)がチャック10の表面に接触してパターンが損傷するのが防止される。   FIG. 11 is a top view of the chuck provided with the mask protection spacer. The mask protection spacer 30 installed on the surface of the chuck 10 comes into contact with the peripheral portion where the pattern of the pattern surface (lower surface) of the mask 2 is not formed when the push-up pin 12 on which the mask 2 indicated by the broken line is lowered. The mask 2 is supported. This prevents the pattern surface (lower surface) of the mask 2 from coming into contact with the surface of the chuck 10 and damaging the pattern.

図12は、突き上げピンユニット及びマスク搬送ロボットの動作を説明する図である。マスク2をチャック10へ搬入する際、まず、各突き上げピンユニットのモータ11は、突き上げピン12を上昇させる(図12(a))。マスク搬送ロボット40は、マスク2を載せたハンドリングアーム41を、チャック10の上空へ移動する(図12(a))。次に、マスク搬送ロボット40は、ハンドリングアーム41を下降させて、マスク2を突き上げピン12に載せ(図12(b))、ハンドリングアーム41をさらに下降させて、ハンドリングアーム41のマスク支持部41aをマスク2から離す(図12(c))。これにより、各突き上げピン12は、マスク搬送ロボット40からマスク2を受け取る。次に、マスク搬送ロボット40は、ハンドリングアーム41をチャック10の上空から退避させる(図8(d))。   FIG. 12 is a diagram for explaining the operations of the push-up pin unit and the mask transfer robot. When the mask 2 is carried into the chuck 10, first, the motor 11 of each push-up pin unit raises the push-up pin 12 (FIG. 12A). The mask transfer robot 40 moves the handling arm 41 on which the mask 2 is placed above the chuck 10 (FIG. 12A). Next, the mask transfer robot 40 lowers the handling arm 41 and places the mask 2 on the push-up pin 12 (FIG. 12B), further lowers the handling arm 41, and the mask support portion 41a of the handling arm 41. Is separated from the mask 2 (FIG. 12C). Thereby, each push-up pin 12 receives the mask 2 from the mask transport robot 40. Next, the mask transfer robot 40 retracts the handling arm 41 from above the chuck 10 (FIG. 8D).

チャック10の内部から上昇する突き上げピン12及び突き上げピンを上下に移動するパルスモータ11を有する複数の突き上げピンユニットをチャック10に設け、突き上げピン12によりマスク搬送ロボット40からマスク1を受け取るので、マスク2がチャック10に搭載する基板より小さくても、マスク2をチャック10へ搬入することができる。   A plurality of push-up pin units having a push-up pin 12 rising from the inside of the chuck 10 and a pulse motor 11 for moving the push-up pin up and down are provided in the chuck 10, and the mask 1 is received from the mask transport robot 40 by the push-up pin 12. Even if 2 is smaller than the substrate mounted on the chuck 10, the mask 2 can be carried into the chuck 10.

チャック10をマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動する際、各突き上げピンユニットのモータ11は、突き上げピン12を下降させて、マスク2をマスク保護スペーサ30に載せる。マスク2をチャック10から搬出する際は、上記と逆の動作を行う。   When the chuck 10 is moved from the mask receiving position to the mask mounting position, the motor 11 of each push-up pin unit lowers the push-up pin 12 and places the mask 2 on the mask protection spacer 30. When the mask 2 is unloaded from the chuck 10, the reverse operation is performed.

図13は、マスク受け取り位置でマスクがチャックへ搬入された状態を示す図である。マスク受け取り位置にあるチャック10の上空に配置された広視野カメラ51は、後述する高分解能可動カメラ52及び高分解能固定カメラ54よりも分解能が低くて広い視野を有し、突き上げピン12に載せられたマスク2の位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を図1の画像処理装置55へ出力する。画像処理装置55は、広視野カメラ51が出力した画像信号を処理して、マスク2の位置を検出する。突き上げピン12がマスク搬送ロボット40から受け取ったマスク2の位置が大きくずれていても、広視野カメラ51を用いてマスク2の位置検出用マークの画像が短時間に取得され、マスク受け取り位置でマスク2の位置が短時間に検出される。   FIG. 13 is a diagram illustrating a state where the mask is carried into the chuck at the mask receiving position. The wide-field camera 51 disposed above the chuck 10 at the mask receiving position has a wider field of view than the high-resolution movable camera 52 and the high-resolution fixed camera 54 described later, and is placed on the push-up pin 12. An image of the position detection mark on the mask 2 is acquired, and an image signal is output to the image processing device 55 in FIG. The image processing device 55 processes the image signal output from the wide-field camera 51 and detects the position of the mask 2. Even if the position of the mask 2 received by the push-up pin 12 from the mask transport robot 40 is greatly deviated, the image of the position detection mark of the mask 2 is acquired in a short time using the wide-field camera 51, and the mask is received at the mask receiving position. The position of 2 is detected in a short time.

図1において、主制御装置80は、画像処理装置55が広視野カメラ51の画像信号を処理して検出したマスク2の位置の検出結果を入力し、予め記憶したマスク受け取り位置でのマスク2の基準位置と比較して、マスク2の位置のずれ量を検出する。続いて、主制御装置80は、Xステージ駆動回路71、Yステージ駆動回路72、及びθステージ駆動回路73を制御して、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動し、マスク2をマスク受け取り位置からマスクホルダ20の下のマスク装着位置へ移動する。その際、主制御装置80は、予め記憶したマスク2の基準位置の座標とマスク装着位置の座標とから、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8の移動量を決定し、検出したマスク2の位置のずれ量に基づいて、決定した移動量を補正する。   In FIG. 1, the main control device 80 inputs the detection result of the position of the mask 2 detected by the image processing device 55 processing the image signal of the wide-field camera 51, and stores the mask 2 at the mask receiving position stored in advance. Compared with the reference position, the displacement amount of the position of the mask 2 is detected. Subsequently, the main controller 80 controls the X stage drive circuit 71, the Y stage drive circuit 72, and the θ stage drive circuit 73, and moves the chuck 10 by the X stage 5, the Y stage 7, and the θ stage 8. The mask 2 is moved from the mask receiving position to the mask mounting position under the mask holder 20. At that time, main controller 80 determines the movement amounts of X stage 5, Y stage 7, and θ stage 8 from the coordinates of the reference position of mask 2 and the coordinates of the mask mounting position stored in advance, and detects the detected mask. The determined amount of movement is corrected based on the amount of displacement of position No. 2.

マスク受け取り位置でマスク2の位置を検出し、検出したマスク2の位置に基づき、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動して、マスク2をマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動するので、マスク受け取り位置で突き上げピン12によりマスク搬送ロボット40から受け取ったマスク2の位置がずれていても、マスク2がマスク装着位置へ精度良く移動される。   The position of the mask 2 is detected at the mask receiving position, and the chuck 10 is moved by the X stage 5, the Y stage 7 and the θ stage 8 based on the detected position of the mask 2, and the mask 2 is attached to the mask from the mask receiving position. Therefore, even if the position of the mask 2 received from the mask transport robot 40 by the push-up pin 12 is shifted at the mask receiving position, the mask 2 is accurately moved to the mask mounting position.

図14は、マスクホルダの上面図である。マスクホルダ20には、露光光が通る開口20aよりも一回り大きな開口が設けられており、この開口の内側に、ホルダ部21a,21bによって露光光が通る開口20aが形成されている。ホルダ部21a,21bは、マスクホルダ20の下面に取り付けられており、ホルダ部21a,21bのマスクホルダ20より下の部分は破線で示されている。ホルダ部21a,21bは、破線で示すマスク2の周辺部を真空吸着して保持している。ホルダ部21aには、マスク2の位置検出用マークの位置に、後述するマスク位置検出窓が設けられており、マスク位置検出窓の上空には、高分解能可動カメラ52及び高分解能固定カメラ54が配置されている。高分解能可動カメラ52は、カメラ移動機構53に取り付けられており、カメラ移動機構53により、マスクホルダ20の上方でX方向及びY方向へ移動され、θ方向へ回転される。高分解能固定カメラ54は、マスクホルダ20の上方に固定されている。   FIG. 14 is a top view of the mask holder. The mask holder 20 is provided with an opening that is slightly larger than the opening 20a through which the exposure light passes. Inside the opening, an opening 20a through which the exposure light passes is formed by the holder portions 21a and 21b. The holder portions 21a and 21b are attached to the lower surface of the mask holder 20, and portions below the mask holder 20 of the holder portions 21a and 21b are indicated by broken lines. The holder parts 21a and 21b hold the peripheral part of the mask 2 indicated by broken lines by vacuum suction. The holder portion 21a is provided with a mask position detection window, which will be described later, at the position of the position detection mark on the mask 2. A high resolution movable camera 52 and a high resolution fixed camera 54 are provided above the mask position detection window. Has been placed. The high-resolution movable camera 52 is attached to a camera moving mechanism 53, and is moved in the X and Y directions above the mask holder 20 by the camera moving mechanism 53 and rotated in the θ direction. The high resolution fixed camera 54 is fixed above the mask holder 20.

図15は、マスクホルダにマスクを装着する動作を説明する図である。マスク装着位置において、マスクホルダにマスクを装着する際、まず、各突き上げピンユニットのモータ11は、マスク2の位置検出用マークが高分解能可動カメラ52の焦点に合う高さまで、突き上げピン12を上昇させる(図15(a))。高分解能可動カメラ52は、ホルダ部21aに設けられたマスク位置検出窓22を通して、マスク2の位置検出用マークの画像を取得する。このとき、マスク装着位置へ移動したマスク2の位置がわずかにずれて、マスク2の位置検出用マークが高分解能可動カメラ52の視野から外れている場合、カメラ移動機構53により高分解能可動カメラ52を移動して、マスク2の位置検出用マークを高分解能可動カメラ52の視野に入れる。高分解能可動カメラ52は、取得した画像の画像信号を、図1の画像処理装置55へ出力する。画像処理装置55は、高分解能可動カメラ52が出力した画像信号を処理して、マスク2の位置を検出する。   FIG. 15 is a diagram for explaining the operation of mounting the mask on the mask holder. When the mask is mounted on the mask holder at the mask mounting position, first, the motor 11 of each push-up pin unit raises the push-up pin 12 to a height at which the position detection mark of the mask 2 matches the focus of the high-resolution movable camera 52. (FIG. 15A). The high-resolution movable camera 52 acquires an image of the position detection mark on the mask 2 through the mask position detection window 22 provided on the holder portion 21a. At this time, if the position of the mask 2 moved to the mask mounting position is slightly shifted and the position detection mark of the mask 2 is out of the field of view of the high resolution movable camera 52, the camera moving mechanism 53 causes the high resolution movable camera 52 to move. To move the position detection mark of the mask 2 into the field of view of the high-resolution movable camera 52. The high-resolution movable camera 52 outputs an image signal of the acquired image to the image processing device 55 in FIG. The image processing device 55 processes the image signal output from the high-resolution movable camera 52 and detects the position of the mask 2.

図1において、主制御装置80は、画像処理装置55が高分解能可動カメラ52の画像信号を処理して検出したマスク2の位置の検出結果を入力し、予め記憶したマスク装着位置でのマスク2の基準位置と比較して、マスク2の位置のずれ量を検出する。そして、主制御装置80は、検出したマスク2の位置のずれ量に基づいて、Xステージ駆動回路71、Yステージ駆動回路72、及びθステージ駆動回路73を制御して、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動し、マスク2の位置決めを行う。マスク装着位置においてマスク2の位置がずれていても、高分解能可動カメラ52を用いて、マスク2の位置が精度良く検出され、マスク2の位置決めが精度良く行われる。   In FIG. 1, the main controller 80 inputs the detection result of the position of the mask 2 detected by the image processing device 55 processing the image signal of the high-resolution movable camera 52, and stores the mask 2 at the mask mounting position stored in advance. Compared with the reference position, a displacement amount of the position of the mask 2 is detected. Then, the main controller 80 controls the X stage drive circuit 71, the Y stage drive circuit 72, and the θ stage drive circuit 73 based on the detected displacement amount of the mask 2, and the X stage 5 and the Y stage. 7 and the θ stage 8 move the chuck 10 to position the mask 2. Even if the position of the mask 2 is shifted at the mask mounting position, the position of the mask 2 is detected with high accuracy using the high-resolution movable camera 52, and the positioning of the mask 2 is performed with high accuracy.

図15において、マスク2の位置決め終了後、各突き上げピンユニットのモータ11は、突き上げピン12をさらに上昇させて、マスク2をホルダ部21a,21bへ押し付ける(図15(b))。ホルダ部21a,21bへ押し付けられたマスク2の上空には、負圧ガラス23が設けられており、負圧ガラス23とマスク2との間に負圧室が形成される。ホルダ部21a,21bには図示しない吸着溝が設けられており、負圧室内の圧力が制御された後、ホルダ部21a,21bは、図示しない吸着溝によりマスク2の周辺部を真空吸着する。   In FIG. 15, after the positioning of the mask 2 is completed, the motor 11 of each push-up pin unit further raises the push-up pin 12 and presses the mask 2 against the holder portions 21a and 21b (FIG. 15 (b)). A negative pressure glass 23 is provided above the mask 2 pressed against the holder portions 21 a and 21 b, and a negative pressure chamber is formed between the negative pressure glass 23 and the mask 2. The holder portions 21a and 21b are provided with suction grooves (not shown). After the pressure in the negative pressure chamber is controlled, the holder portions 21a and 21b vacuum-suck the peripheral portion of the mask 2 with the suction grooves (not shown).

Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動してマスク2の位置決めを行い、突き上げピン12によりマスク2をマスクホルダ20に装着するので、チャック10へ搬入したマスク2が、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8により精度良く位置決めされて、マスクホルダ20に装着される。   The chuck 10 is moved by the X stage 5, the Y stage 7, and the θ stage 8 to position the mask 2, and the mask 2 is mounted on the mask holder 20 by the push-up pins 12, so that the mask 2 carried into the chuck 10 is The X stage 5, the Y stage 7, and the θ stage 8 are positioned with high accuracy and mounted on the mask holder 20.

ホルダ部21a,21bがマスク2を真空吸着した後、高分解能固定カメラ54は、ホルダ部21aに設けられたマスク位置検出窓22を通して、マスク2の位置検出用マークの画像を取得し、画像信号を図1の画像処理装置55へ出力する。画像処理装置55は、高分解能固定カメラ54が出力した画像信号を処理して、マスク2の位置を検出する。   After the holder portions 21a and 21b vacuum-suck the mask 2, the high-resolution fixed camera 54 acquires an image of the position detection mark of the mask 2 through the mask position detection window 22 provided in the holder portion 21a, and outputs an image signal. Is output to the image processing apparatus 55 of FIG. The image processing device 55 processes the image signal output from the high resolution fixed camera 54 and detects the position of the mask 2.

図1において、主制御装置80は、画像処理装置55が高分解能固定カメラ54の画像信号を処理して検出したマスク2の位置の検出結果を入力し、予め記憶したマスク装着位置でのマスク2の基準位置と比較して、マスク2の位置のずれ量を検出し、マスク2の位置の補正が必要か否かを判断する。本実施の形態では、高分解能可動カメラ52を移動してマスク2の位置を検出した場合、マスク2の位置の検出結果には、高分解能可動カメラ52の移動誤差が含まれることとなる。そのため、画像処理装置55が高分解能可動カメラ52の画像信号を処理して検出したマスク2の位置に基づいて位置決めされたマスク2の位置が、マスク2の基準位置からずれる恐れがある。   In FIG. 1, the main controller 80 inputs the detection result of the position of the mask 2 detected by the image processing device 55 processing the image signal of the high-resolution fixed camera 54, and the mask 2 at the mask mounting position stored in advance. Compared with the reference position, the amount of displacement of the position of the mask 2 is detected, and it is determined whether correction of the position of the mask 2 is necessary. In the present embodiment, when the position of the mask 2 is detected by moving the high-resolution movable camera 52, the detection result of the position of the mask 2 includes a movement error of the high-resolution movable camera 52. Therefore, the position of the mask 2 positioned based on the position of the mask 2 detected by the image processing device 55 processing the image signal of the high resolution movable camera 52 may be shifted from the reference position of the mask 2.

マスク2の位置の補正が必要な場合、マスク2の真空吸着を解除し、負圧室内の圧力を大気圧に戻した後、突き上げピン12を下降させて、マスク2をホルダ部21a,21bから離す。そして、主制御装置80は、検出したマスク2の位置のずれ量に基づいて、Xステージ駆動回路71、Yステージ駆動回路72、及びθステージ駆動回路73を制御して、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動し、マスク2の位置を補正する。マスクホルダ20の上方に固定された高分解能固定カメラ54を用いて、マスク2の位置がより精度良く検出され、位置決めしたマスク2の位置が精度良く補正される。   When correction of the position of the mask 2 is necessary, after the vacuum suction of the mask 2 is released and the pressure in the negative pressure chamber is returned to the atmospheric pressure, the push-up pin 12 is lowered to remove the mask 2 from the holder portions 21a and 21b. Release. Then, the main controller 80 controls the X stage drive circuit 71, the Y stage drive circuit 72, and the θ stage drive circuit 73 based on the detected displacement amount of the mask 2, and the X stage 5 and the Y stage. 7 and the θ stage 8 move the chuck 10 to correct the position of the mask 2. Using the high resolution fixed camera 54 fixed above the mask holder 20, the position of the mask 2 is detected with higher accuracy, and the position of the positioned mask 2 is corrected with higher accuracy.

マスク2の位置の補正を行った後、各突き上げピンユニットのモータ11は、突き上げピン12を再び上昇させて、マスク2をホルダ部21a,21bへ押し付ける。負圧室内の圧力を制御した後、ホルダ部21a,21bは、図示しない吸着溝によりマスク2を真空吸着する。マスク2の装着が終了した後、各突き上げピンユニットのモータ11は、突き上げピン12を下降させる(図15(c))。そして、チャック10をマスク受け取り位置へ戻し、スペーサ設置装置31により、マスク保護スペーサ30をチャック10から回収する。   After correcting the position of the mask 2, the motor 11 of each push-up pin unit raises the push-up pin 12 again and presses the mask 2 against the holder portions 21a and 21b. After controlling the pressure in the negative pressure chamber, the holder portions 21a and 21b vacuum-suck the mask 2 through suction grooves (not shown). After the mounting of the mask 2 is completed, the motor 11 of each push-up pin unit lowers the push-up pin 12 (FIG. 15 (c)). Then, the chuck 10 is returned to the mask receiving position, and the mask protection spacer 30 is recovered from the chuck 10 by the spacer installation device 31.

基板の露光において、マスク2と基板とのギャップ合わせの際、あるいはマスク2と基板とを離す際には、マスク2と基板との間の空気に押され又は引っ張られて、マスクホルダ20に保持されたマスク2がたわむ。そして、たわんだマスク2が元に戻るときに、マスク2の位置ずれが発生する恐れがある。本実施の形態では、マスクホルダの下面に位置ずれ防止ピンユニットを設け、マスク2と基板とを接近させる際、あるいはマスク2と基板とを離す際のマスク2の位置ずれを防止する。   In the exposure of the substrate, when the gap between the mask 2 and the substrate is aligned, or when the mask 2 and the substrate are separated from each other, the air is pressed or pulled by the air between the mask 2 and the substrate and held in the mask holder 20. The mask 2 is bent. When the bent mask 2 returns to its original position, there is a risk that the mask 2 will be displaced. In the present embodiment, a misalignment prevention pin unit is provided on the lower surface of the mask holder to prevent misalignment of the mask 2 when the mask 2 and the substrate are brought close to each other or when the mask 2 and the substrate are separated.

図16は、マスクホルダの下面に設けられた位置ずれ防止ピンユニットを示す図である。本実施の形態では、位置ずれ防止ピンとして、基準ピン及び押圧ピンの二種類のピンを使用する。基準ピンの位置ずれ防止ピンユニットは、基準ピン61、パルスモータ62、ボールねじ63、及び接触センサー64を含んで構成され、マスク2の向かい合う二辺の一方の側に設けられている。押圧ピンの位置ずれ防止ピンユニットは、押圧ピン66及びエアシリンダ67を含んで構成され、マスク2の向かい合う二辺の他方の側に設けられている。   FIG. 16 is a view showing a misalignment prevention pin unit provided on the lower surface of the mask holder. In this embodiment, two types of pins, a reference pin and a pressing pin, are used as the misalignment prevention pins. The reference pin misalignment prevention pin unit includes a reference pin 61, a pulse motor 62, a ball screw 63, and a contact sensor 64, and is provided on one side of two opposite sides of the mask 2. The pressing pin misalignment prevention pin unit includes a pressing pin 66 and an air cylinder 67, and is provided on the other side of the two opposite sides of the mask 2.

なお、本実施の形態では、基準ピンの位置ずれ防止ピンユニットと押圧ピンの位置ずれ防止ピンユニットとを設けているが、押圧ピンの位置ずれ防止ピンユニットの代わりに基準ピンの位置ずれ防止ピンユニットを設け、全てを基準ピンの位置ずれ防止ピンユニットとしてもよい。また、本実施の形態では、位置ずれ防止ピンユニットを、マスク2の長辺側に2つ、短辺側に1つ設けているが、位置ずれ防止ピンユニットの数及び位置は、マスク2の寸法に応じて適宜決定される。   In this embodiment, the reference pin misalignment prevention pin unit and the press pin misalignment prevention pin unit are provided, but the reference pin misalignment prevention pin is used instead of the press pin misalignment prevention pin unit. A unit may be provided, and all of them may be used as a pin misalignment prevention pin unit. In this embodiment, two misalignment prevention pin units are provided on the long side of the mask 2 and one on the short side. However, the number and positions of the misalignment prevention pin units are the same as those of the mask 2. It is determined appropriately according to the dimensions.

図17は、基準ピンの位置ずれ防止ピンユニットの動作を説明する図である。パルスモータ62にはボールねじ63が接続されており、ボールねじ63のナットには基準ピン61及び接触センサー64が取り付けられている。パルスモータ62がボールねじ63を駆動することにより、基準ピン61及び接触センサー64が、マスク2の側面に向かって移動される。図17(a)に示す様に、接触センサー64の先端部は、基準ピン61の先端よりも、距離Dだけ突き出ている。   FIG. 17 is a diagram for explaining the operation of the reference pin misalignment prevention pin unit. A ball screw 63 is connected to the pulse motor 62, and a reference pin 61 and a contact sensor 64 are attached to the nut of the ball screw 63. When the pulse motor 62 drives the ball screw 63, the reference pin 61 and the contact sensor 64 are moved toward the side surface of the mask 2. As shown in FIG. 17A, the tip of the contact sensor 64 protrudes by a distance D from the tip of the reference pin 61.

図16の基準ピン駆動制御回路65は、パルスモータ62を制御して、基準ピン61及び接触センサー64を、マスク2の側面に向かって移動させる。接触センサー64の先端部は、マスク2の側面に突き当たると変位し、接触センサー64は、その変位量を検出して、検出信号を基準ピン駆動制御回路65へ出力する。図17(a)に示す様に、接触センサー64の先端部がマスク2の側面に接触しない状態では、接触センサー64の先端部の変位量は零となる。図17(b)に示す様に、接触センサー64の先端部がマスク2の側面に接触すると、それ以降、接触センサー64の先端部の変位量は、基準ピン61及び接触センサー64の移動量と同じになる。   The reference pin drive control circuit 65 shown in FIG. 16 controls the pulse motor 62 to move the reference pin 61 and the contact sensor 64 toward the side surface of the mask 2. The tip of the contact sensor 64 is displaced when it hits the side surface of the mask 2, and the contact sensor 64 detects the amount of displacement and outputs a detection signal to the reference pin drive control circuit 65. As shown in FIG. 17A, when the tip of the contact sensor 64 is not in contact with the side surface of the mask 2, the displacement of the tip of the contact sensor 64 is zero. As shown in FIG. 17B, when the tip of the contact sensor 64 comes into contact with the side surface of the mask 2, the displacement of the tip of the contact sensor 64 thereafter is the amount of movement of the reference pin 61 and the contact sensor 64. Be the same.

基準ピン駆動制御回路65は、接触センサー64の先端部の変位量が、基準ピン61及び接触センサー64の移動量と同じになると、基準ピン61及び接触センサー64の移動速度を遅くする。基準ピン61及び接触センサー64を低速でさらに移動して、図17(c)に示す様に、基準ピン61の先端がマスク2の側面に接触すると、それ以降、基準ピン61及び接触センサー64を移動しても、接触センサー64の先端部の変位量は変化しない。基準ピン駆動制御回路65は、基準ピン61の先端がマスク2の側面に接触して接触センサー64の先端部の変位量が変化しなくなると、基準ピン61及び接触センサー64の移動を停止する。基準ピン61がマスク2の側面に接触すると、基準ピン61の移動を停止するので、マスク2が基準ピン61に押されて位置決めしたマスク2の位置がずれることがない。   The reference pin drive control circuit 65 slows down the moving speed of the reference pin 61 and the contact sensor 64 when the displacement amount of the tip of the contact sensor 64 becomes the same as the movement amount of the reference pin 61 and the contact sensor 64. When the reference pin 61 and the contact sensor 64 are further moved at a low speed and the tip of the reference pin 61 contacts the side surface of the mask 2 as shown in FIG. 17C, thereafter, the reference pin 61 and the contact sensor 64 are moved. Even if it moves, the amount of displacement of the tip of the contact sensor 64 does not change. The reference pin drive control circuit 65 stops the movement of the reference pin 61 and the contact sensor 64 when the tip of the reference pin 61 contacts the side surface of the mask 2 and the displacement amount of the tip of the contact sensor 64 does not change. When the reference pin 61 comes into contact with the side surface of the mask 2, the movement of the reference pin 61 is stopped, so that the position of the mask 2 positioned by the mask 2 being pushed by the reference pin 61 is not shifted.

図16において、基準ピン61の先端をマスク2の側面に接触させた後、押圧ピン駆動制御回路68は、エアシリンダ67へエアを供給し、エアシリンダ67は、押圧ピン66をマスク2の側面へ押し付ける。マスク2と基板とを接近させる際、あるいはマスク2と基板とを離す際に、マスクホルダ20に保持されたマスク2がたわむと、マスク2の側面は、マスクの中心方向へ移動する。基準ピン61は、マスク2の側面の移動に追従せず、マスク2の側面は、基準ピン61の先端から離れる。押圧ピン66は、マスク2の側面の移動に追従して移動する。たわんだマスク2が元に戻るとき、マスク2の基準ピン61側の側面は、基準ピン61に接触して位置決めされ、マスク2の押圧ピン66側の側面は、押圧ピン66の押す力に打ち勝って元の位置へ戻る。従って、マスク2と基板とを接近させる際、あるいはマスク2と基板とを離す際のマスクの位置ずれが防止される。   In FIG. 16, after the tip of the reference pin 61 is brought into contact with the side surface of the mask 2, the pressing pin drive control circuit 68 supplies air to the air cylinder 67, and the air cylinder 67 moves the pressing pin 66 to the side surface of the mask 2. Press to. When the mask 2 and the substrate are brought close to each other or when the mask 2 and the substrate are separated from each other, when the mask 2 held by the mask holder 20 is bent, the side surface of the mask 2 moves toward the center of the mask. The reference pin 61 does not follow the movement of the side surface of the mask 2, and the side surface of the mask 2 is separated from the tip of the reference pin 61. The pressing pin 66 moves following the movement of the side surface of the mask 2. When the bent mask 2 returns to its original position, the side surface of the mask 2 on the reference pin 61 side is positioned in contact with the reference pin 61, and the side surface of the mask 2 on the pressing pin 66 side overcomes the pressing force of the pressing pin 66. To return to the original position. Accordingly, the displacement of the mask when the mask 2 and the substrate are brought close to each other or when the mask 2 and the substrate are separated is prevented.

以上説明した実施の形態によれば、マスク2をマスク搬送ロボット40によりチャック10へ搬入し、突き上げピン12によりマスク搬送ロボット40からマスク2を受け取り、カメラ移動機構53により高分解能可動カメラ52を移動して、高分解能可動カメラ52によりマスク2の位置検出用マークの画像を取得し、高分解能可動カメラ52の画像信号を処理して、マスク2の位置を検出し、検出したマスク2の位置に基づき、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動して、マスク2の位置決めを行い、突き上げピン12によりマスク2をマスクホルダ20に装着することにより、基板より小さいマスク2を、精度良く位置決めして、マスクホルダ20に装着することができる。   According to the embodiment described above, the mask 2 is carried into the chuck 10 by the mask transfer robot 40, the mask 2 is received from the mask transfer robot 40 by the push-up pin 12, and the high-resolution movable camera 52 is moved by the camera moving mechanism 53. Then, the image of the position detection mark of the mask 2 is acquired by the high resolution movable camera 52, the image signal of the high resolution movable camera 52 is processed, the position of the mask 2 is detected, and the detected position of the mask 2 is set. Based on this, the chuck 10 is moved by the X stage 5, the Y stage 7, and the θ stage 8, the mask 2 is positioned, and the mask 2 is mounted on the mask holder 20 by the push-up pins 12. Can be positioned with high accuracy and mounted on the mask holder 20.

さらに、マスクホルダ20の上方に固定された高分解能固定カメラ54によりマスク2の位置検出用マークの画像を取得し、高分解能固定カメラ54の画像信号を処理して、マスク2の位置を検出し、検出したマスク2の位置に基づき、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動して、位置決めしたマスク2の位置を補正することにより、マスクホルダ20の上方に固定された高分解能固定カメラ54を用いて、マスク2の位置をより精度良く検出し、位置決めしたマスク2の位置を精度良く補正することができる。   Further, the image of the position detection mark of the mask 2 is acquired by the high resolution fixed camera 54 fixed above the mask holder 20, and the image signal of the high resolution fixed camera 54 is processed to detect the position of the mask 2. Based on the detected position of the mask 2, the chuck 10 is moved by the X stage 5, the Y stage 7, and the θ stage 8 to correct the position of the positioned mask 2, thereby fixing the mask 2 above the mask holder 20. The position of the mask 2 can be detected with higher accuracy using the high-resolution fixed camera 54, and the position of the positioned mask 2 can be corrected with higher accuracy.

さらに、マスクホルダ20の下のマスク装着位置とは別に設けたマスク受け取り位置で突き上げピン12によりマスク搬送ロボット40からマスク2を受け取り、高分解能可動カメラ52よりも分解能が低くて広い視野を有する広視野カメラ51によりマスク2の位置検出用マークの画像を取得し、広視野カメラ2の画像信号を処理してマスク2の位置を検出し、検出したマスク2の位置に基づき、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャックを移動して、マスク2をマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動することにより、突き上げピン12がマスク搬送ロボット40から受け取ったマスク2の位置が大きくずれていても、マスク受け取り位置でマスク2の位置を短時間に検出して、マスク2をマスク装着位置へ精度良く移動することができる。   Further, the mask 2 is received from the mask transport robot 40 by the push-up pin 12 at a mask receiving position provided separately from the mask mounting position under the mask holder 20, and the resolution is lower than that of the high-resolution movable camera 52 and has a wide field of view. The image of the position detection mark of the mask 2 is acquired by the field camera 51, the image signal of the wide field camera 2 is processed to detect the position of the mask 2, and the X stage 5, Y based on the detected position of the mask 2 When the chuck is moved by the stage 7 and the θ stage 8 and the mask 2 is moved from the mask receiving position to the mask mounting position, the position of the mask 2 received by the push-up pin 12 from the mask transfer robot 40 is greatly shifted. Also, the position of the mask 2 is detected in a short time at the mask receiving position, and the mask 2 is moved to the mask mounting position. You can move well every time.

さらに、突き上げピン12が下降したときマスク2のパターン面の周辺部に接触する複数のマスク保護スペーサ30を、チャック10の表面に設置することにより、何らかの原因で突き上げピン12が下降しても、マスク2のパターン面がチャック10の表面に接触してパターンが損傷するのを防止することができる。   Further, by installing a plurality of mask protection spacers 30 that contact the peripheral portion of the pattern surface of the mask 2 when the push-up pin 12 is lowered on the surface of the chuck 10, even if the push-up pin 12 is lowered for some reason, It is possible to prevent the pattern surface of the mask 2 from coming into contact with the surface of the chuck 10 and damaging the pattern.

さらに、マスクホルダ20に保持されたマスク2の側面に接触してマスク2の位置ずれを防止する基準ピン61、基準ピン61を移動してマスク2の側面に接触させるパルスモータ62、及び基準ピン61がマスク2の側面に接触したことを検出する接触センサー64を有する複数の位置ずれ防止ピンユニットをマスクホルダ20に設け、各位置ずれ防止ピンユニットのパルスモータ62を制御して、基準ピン61をマスク2の側面に向かって移動させ、接触センサー40の検出結果に基づき、基準ピン61の移動を停止することにより、位置決めしたマスク2の位置をずらすことなく、マスク2と基板とを接近させる際、あるいはマスク2と基板とを離す際のマスク2の位置ずれを防止することができる。   Further, a reference pin 61 that contacts the side surface of the mask 2 held by the mask holder 20 to prevent displacement of the mask 2, a pulse motor 62 that moves the reference pin 61 to contact the side surface of the mask 2, and a reference pin A plurality of misregistration prevention pin units having contact sensors 64 for detecting that 61 has contacted the side surface of the mask 2 are provided in the mask holder 20, and the reference motor 61 is controlled by controlling the pulse motor 62 of each misregistration prevention pin unit. Is moved toward the side surface of the mask 2, and the movement of the reference pin 61 is stopped based on the detection result of the contact sensor 40, thereby bringing the mask 2 and the substrate closer to each other without shifting the position of the positioned mask 2. In this case, it is possible to prevent displacement of the mask 2 when the mask 2 is separated from the substrate.

本発明のプロキシミティ露光装置を用いて基板の露光を行い、あるいは、本発明のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法を用いてマスクをマスクホルダに装着し、基板の露光を行うことにより、マスクの位置決めを精度良く行うことができるので、パターンの転写を精度良く行って、高品質な表示用パネル基板を製造することができる。   The substrate is exposed using the proximity exposure apparatus of the present invention, or the mask is mounted on the mask holder using the mask transport method of the proximity exposure apparatus of the present invention, and the substrate is exposed to expose the mask. Since the positioning can be performed with high accuracy, the pattern can be transferred with high accuracy, and a high-quality display panel substrate can be manufactured.

例えば、図18は、液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。薄膜形成工程(ステップ101)では、スパッタ法やプラズマ化学気相成長(CVD)法等により、基板上に液晶駆動用の透明電極となる導電体膜や絶縁体膜等の薄膜を形成する。レジスト塗布工程(ステップ102)では、ロール塗布法等により感光樹脂材料(フォトレジスト)を塗布して、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜上にフォトレジスト膜を形成する。露光工程(ステップ103)では、プロキシミティ露光装置や投影露光装置等を用いて、マスクのパターンをフォトレジスト膜に転写する。現像工程(ステップ104)では、シャワー現像法等により現像液をフォトレジスト膜上に供給して、フォトレジスト膜の不要部分を除去する。エッチング工程(ステップ105)では、ウエットエッチングにより、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜の内、フォトレジスト膜でマスクされていない部分を除去する。剥離工程(ステップ106)では、エッチング工程(ステップ105)でのマスクの役目を終えたフォトレジスト膜を、剥離液によって剥離する。これらの各工程の前又は後には、必要に応じて、基板の洗浄/乾燥工程が実施される。これらの工程を数回繰り返して、基板上にTFTアレイが形成される。   For example, FIG. 18 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the TFT substrate of the liquid crystal display device. In the thin film formation step (step 101), a thin film such as a conductor film or an insulator film, which becomes a transparent electrode for driving liquid crystal, is formed on the substrate by sputtering, plasma chemical vapor deposition (CVD), or the like. In the resist coating process (step 102), a photosensitive resin material (photoresist) is applied by a roll coating method or the like to form a photoresist film on the thin film formed in the thin film forming process (step 101). In the exposure step (step 103), the mask pattern is transferred to the photoresist film using a proximity exposure apparatus, a projection exposure apparatus, or the like. In the development step (step 104), a developer is supplied onto the photoresist film by a shower development method or the like to remove unnecessary portions of the photoresist film. In the etching process (step 105), a portion of the thin film formed in the thin film formation process (step 101) that is not masked by the photoresist film is removed by wet etching. In the stripping step (step 106), the photoresist film that has finished the role of the mask in the etching step (step 105) is stripped with a stripping solution. Before or after each of these steps, a substrate cleaning / drying step is performed as necessary. These steps are repeated several times to form a TFT array on the substrate.

また、図19は、液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)では、レジスト塗布、露光、現像、エッチング、剥離等の処理により、基板上にブラックマトリクスを形成する。着色パターン形成工程(ステップ202)では、染色法、顔料分散法、印刷法、電着法等により、基板上に着色パターンを形成する。この工程を、R、G、Bの着色パターンについて繰り返す。保護膜形成工程(ステップ203)では、着色パターンの上に保護膜を形成し、透明電極膜形成工程(ステップ204)では、保護膜の上に透明電極膜を形成する。これらの各工程の前、途中又は後には、必要に応じて、基板の洗浄/乾燥工程が実施される。   FIG. 19 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the color filter substrate of the liquid crystal display device. In the black matrix forming step (step 201), a black matrix is formed on the substrate by processing such as resist coating, exposure, development, etching, and peeling. In the colored pattern forming step (step 202), a colored pattern is formed on the substrate by a dyeing method, a pigment dispersion method, a printing method, an electrodeposition method, or the like. This process is repeated for the R, G, and B coloring patterns. In the protective film forming step (step 203), a protective film is formed on the colored pattern, and in the transparent electrode film forming step (step 204), a transparent electrode film is formed on the protective film. Before, during or after each of these steps, a substrate cleaning / drying step is performed as necessary.

図18に示したTFT基板の製造工程では、露光工程(ステップ103)において、図19に示したカラーフィルタ基板の製造工程では、ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)及び着色パターン形成工程(ステップ202)の露光処理において、本発明のプロキシミティ露光装置又は本発明のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法を適用することができる。   In the TFT substrate manufacturing process shown in FIG. 18, in the exposure process (step 103), in the color filter substrate manufacturing process shown in FIG. 19, in the black matrix forming process (step 201) and the colored pattern forming process (step 202). In this exposure process, the proximity exposure apparatus of the present invention or the mask transport method of the proximity exposure apparatus of the present invention can be applied.

本発明の一実施の形態によるプロキシミティ露光装置の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the proximity exposure apparatus by one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態によるプロキシミティ露光装置の平面図である。1 is a plan view of a proximity exposure apparatus according to an embodiment of the present invention. チャックの上面図である。It is a top view of a chuck. 図4(a)はチャックに設けられた開口の上面図、図4(b)は図4(a)のA−A部の断面図である。4A is a top view of an opening provided in the chuck, and FIG. 4B is a cross-sectional view taken along a line AA in FIG. 4A. 図5(a)はチャックに設けられた開口の上面図、図5(b)は図5(a)のB−B部の断面図である。FIG. 5A is a top view of an opening provided in the chuck, and FIG. 5B is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG. 5A. 突き上げピンユニットの制御系を示す図である。It is a figure which shows the control system of a push-up pin unit. スペーサ設置装置及び広視野カメラの配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of a spacer installation apparatus and a wide-field camera. 図8(a)はマスク保護スペーサの上面図、図8(b)は図8(a)の矢印Cの方向から見たマスク保護スペーサの側面図、図8(c)は図8(a)の矢印Dの方向から見たマスク保護スペーサの側面図である。8A is a top view of the mask protection spacer, FIG. 8B is a side view of the mask protection spacer viewed from the direction of arrow C in FIG. 8A, and FIG. 8C is FIG. 8A. It is a side view of the mask protection spacer seen from the direction of arrow D. 図9(a)はスペーサ設置装置の側面図、図9(b)はスペーサ設置装置の正面図である。Fig.9 (a) is a side view of a spacer installation apparatus, FIG.9 (b) is a front view of a spacer installation apparatus. スペーサ設置装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of a spacer installation apparatus. マスク保護スペーサが設置されたチャックの上面図である。It is a top view of the chuck | zipper in which the mask protection spacer was installed. 突き上げピンユニット及びマスク搬送ロボットの動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of a push-up pin unit and a mask conveyance robot. マスク受け取り位置でマスクがチャックへ搬入された状態を示す図である。It is a figure which shows the state in which the mask was carried in to the chuck | zipper in a mask receiving position. マスクホルダの上面図である。It is a top view of a mask holder. マスクホルダにマスクを装着する動作を説明する図である。It is a figure explaining the operation | movement which mounts | wears a mask holder with a mask. マスクホルダの下面に設けられた位置ずれ防止ピンユニットを示す図である。It is a figure which shows the position shift prevention pin unit provided in the lower surface of the mask holder. 基準ピンの位置ずれ防止ピンユニットの動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the position shift prevention pin unit of a reference | standard pin. 液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the manufacturing process of the TFT substrate of a liquid crystal display device. 液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the manufacturing process of the color filter board | substrate of a liquid crystal display device.

符号の説明Explanation of symbols

1 基板
2 マスク
3 ベース
4 Xガイド
5 Xステージ
6 Yガイド
7 Yステージ
8 θステージ
9 チャック支持台
10 チャック
11 モータ
12 突き上げピン
13 蓋
14 フランジ
15,17,19 ボルト
16 止めねじ
18 支持プレート
20 マスクホルダ
21a、21b ホルダ部
22 マスク位置検出窓
23 負圧ガラス
30 マスク保護スペーサ
31 スペーサ設置装置
32 エアシリンダテーブル
33 チャックベース
34 エアチャック
35 ブラケット
36 クランプ
37 爪
40 マスク搬送ロボット
41 ハンドリングアーム
41a マスク支持部
42 マスクストッカー
50 突き上げピン駆動制御回路
51 広視野カメラ
52 高分解能可動カメラ
53 カメラ移動機構
54 高分解能固定カメラ
55 画像処理装置
61 基準ピン(位置ずれ防止ピン)
62 パルスモータ
63 ボールねじ
64 接触センサー
65 基準ピン駆動制御回路
66 押圧ピン(位置ずれ防止ピン)
67 エアシリンダ
68 押圧ピン駆動制御回路
71 Xステージ駆動回路
72 Yステージ駆動回路
73 θステージ駆動回路
80 主制御装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Mask 3 Base 4 X guide 5 X stage 6 Y guide 7 Y stage 8 θ stage 9 Chuck support base 10 Chuck 11 Motor 12 Push-up pin 13 Lid 14 Flange 15, 17, 19 Bolt 16 Set screw 18 Support plate 20 Mask Holder 21a, 21b Holder 22 Mask position detection window 23 Negative pressure glass 30 Mask protection spacer 31 Spacer installation device 32 Air cylinder table 33 Chuck base 34 Air chuck 35 Bracket 36 Clamp 37 Claw 40 Mask transfer robot 41 Handling arm 41a Mask support 42 mask stocker 50 push-up pin drive control circuit 51 wide-field camera 52 high-resolution movable camera 53 camera moving mechanism 54 high-resolution fixed camera 55 image processing device 61 reference pin (position misalignment prevention pin)
62 Pulse Motor 63 Ball Screw 64 Contact Sensor 65 Reference Pin Drive Control Circuit 66 Press Pin (Position Deviation Prevention Pin)
67 Air cylinder 68 Press pin drive control circuit 71 X stage drive circuit 72 Y stage drive circuit 73 θ stage drive circuit 80 Main controller

Claims (12)

基板を搭載するチャックと、マスクを保持するマスクホルダと、前記チャックを移動するステージとを備え、マスクと基板との間に微小なギャップを設けて、マスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ露光装置において、
前記ステージの移動を制御する第1の制御手段と、
マスクを前記チャックへ搬入するマスク搬送装置と、
前記チャックの内部から上昇する突き上げピン及び該突き上げピンを上下に移動するモータを有し、前記チャックに取り付けられた複数の突き上げピンユニットと、
マスクに設けられた位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第1の画像取得装置と、
前記第1の画像取得装置を移動する移動手段と、
前記第1の画像取得装置が出力した画像信号を処理して、マスクの位置を検出する画像処理装置とを備え、
前記複数の突き上げピンユニットは、前記突き上げピンにより前記マスク搬送装置からマスクを受け取り、
前記第1の制御手段は、前記画像処理装置が前記第1の画像取得装置の画像信号を処理して検出したマスクの位置に基づき、前記ステージにより前記チャックを移動して、マスクの位置決めを行い、
前記複数の突き上げピンユニットは、前記突き上げピンによりマスクを前記マスクホルダに装着することを特徴とするプロキシミティ露光装置。
Proximity exposure that includes a chuck for mounting a substrate, a mask holder for holding the mask, and a stage for moving the chuck, and provides a minute gap between the mask and the substrate to transfer the mask pattern to the substrate. In the device
First control means for controlling movement of the stage;
A mask carrying device for carrying the mask into the chuck;
A plurality of push-up pin units attached to the chuck, the push-up pins rising from the inside of the chuck and a motor for moving the push-up pins up and down;
A first image acquisition device that acquires an image of a position detection mark provided on a mask and outputs an image signal;
Moving means for moving the first image acquisition device;
An image processing device that processes an image signal output from the first image acquisition device and detects a position of a mask;
The plurality of push-up pin units receive a mask from the mask transfer device by the push-up pins,
The first control means positions the mask by moving the chuck by the stage based on the position of the mask detected by the image processing apparatus by processing the image signal of the first image acquisition apparatus. ,
The proximity exposure apparatus, wherein the plurality of push-up pin units attach a mask to the mask holder by the push-up pins.
前記マスクホルダの上方に固定され、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第2の画像取得装置を備え、
前記画像処理装置は、前記第2の画像取得装置が出力した画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、
前記第1の制御手段は、前記画像処理装置が前記第2の画像取得装置の画像信号を処理して検出したマスクの位置に基づき、前記ステージにより前記チャックを移動して、位置決めしたマスクの位置を補正することを特徴とする請求項1に記載のプロキシミティ露光装置。
A second image acquisition device that is fixed above the mask holder, acquires an image of a mask position detection mark, and outputs an image signal;
The image processing device processes the image signal output by the second image acquisition device to detect the position of the mask,
The first control means moves the chuck by the stage based on the position of the mask detected by the image processing apparatus by processing the image signal of the second image acquisition apparatus. The proximity exposure apparatus according to claim 1, wherein:
前記突き上げピンにより前記マスク搬送装置からマスクを受け取るマスク受け取り位置の上空に、前記第1の画像取得装置よりも分解能が低くて広い視野を有し、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第3の画像取得装置を備え、
前記画像処理装置は、前記第3の画像取得装置が出力した画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、
前記第1の制御手段は、前記画像処理装置が前記第3の画像取得装置の画像信号を処理して検出したマスクの位置に基づき、前記ステージにより前記チャックを移動して、マスクをマスク受け取り位置から前記マスクホルダの下のマスク装着位置へ移動することを特徴とする請求項2に記載のプロキシミティ露光装置。
The image of the mask position detection mark is acquired above the mask receiving position for receiving the mask from the mask transport device by the push-up pin, having a lower field of view and lower resolution than the first image acquisition device. A third image acquisition device for outputting an image signal,
The image processing device processes the image signal output by the third image acquisition device to detect the position of the mask,
The first control means moves the chuck by the stage based on the position of the mask detected by the image processing apparatus by processing the image signal of the third image acquisition apparatus, so that the mask is received by the mask. The proximity exposure apparatus according to claim 2, wherein the proximity exposure apparatus moves to a mask mounting position below the mask holder.
前記チャックの表面に設置され、マスクを載せた前記突き上げピンが下降したときマスクのパターン面の周辺部に接触する複数のスペーサを備えたことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置。   4. The apparatus according to claim 1, further comprising a plurality of spacers that are disposed on the surface of the chuck and come into contact with a peripheral portion of a pattern surface of the mask when the push-up pin on which the mask is placed is lowered. The proximity exposure apparatus according to one item. 前記マスクホルダに保持されたマスクの側面に接触してマスクの位置ずれを防止する位置ずれ防止ピン、該位置ずれ防止ピンを移動してマスクの側面に接触させるモータ、及び該位置ずれ防止ピンがマスクの側面に接触したことを検出するセンサーを有し、前記マスクホルダに取り付けられた複数の位置ずれ防止ピンユニットと、
各位置ずれ防止ピンユニットのモータを制御する第2の制御手段とを備え、
前記第2の制御手段は、各位置ずれ防止ピンユニットのモータを制御して、前記位置ずれ防止ピンをマスクの側面に向かって移動させ、前記センサーの検出結果に基づき、前記位置ずれ防止ピンの移動を停止することを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置。
A displacement prevention pin that contacts a side surface of the mask held by the mask holder to prevent displacement of the mask, a motor that moves the displacement prevention pin to contact the side surface of the mask, and the displacement prevention pin; A sensor for detecting contact with the side surface of the mask, and a plurality of misalignment prevention pin units attached to the mask holder;
Second control means for controlling the motor of each misalignment prevention pin unit,
The second control means controls the motor of each misregistration prevention pin unit to move the misregistration prevention pin toward the side surface of the mask, and based on the detection result of the sensor, The proximity exposure apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the movement is stopped.
基板を搭載するチャックと、マスクを保持するマスクホルダと、チャックを移動するステージとを備え、マスクと基板との間に微小なギャップを設けて、マスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法であって、
チャックの内部から上昇する突き上げピン及び突き上げピンを上下に移動するモータを有する複数の突き上げピンユニットをチャックに設け、
マスクに設けられた位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第1の画像取得装置と、第1の画像取得装置を移動する移動手段とを設け、
マスクをマスク搬送装置によりチャックへ搬入し、
突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、
移動手段により第1の画像取得装置を移動して、第1の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、
第1の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、
検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクの位置決めを行い、
突き上げピンによりマスクをマスクホルダに装着することを特徴とするプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法。
Proximity exposure apparatus comprising a chuck for mounting a substrate, a mask holder for holding the mask, and a stage for moving the chuck, and providing a minute gap between the mask and the substrate to transfer the mask pattern to the substrate The mask transport method of
The chuck is provided with a plurality of push-up pin units each having a push-up pin rising from the inside of the chuck and a motor for moving the push-up pin up and down.
A first image acquisition device for acquiring an image of a position detection mark provided on the mask and outputting an image signal; and a moving means for moving the first image acquisition device;
The mask is carried into the chuck by the mask transfer device,
Receive the mask from the mask transfer device with the push-up pin,
The first image acquisition device is moved by the moving means, the image of the mask position detection mark is acquired by the first image acquisition device,
Processing the image signal of the first image acquisition device to detect the position of the mask;
Based on the detected mask position, move the chuck with the stage to position the mask,
A mask conveying method of a proximity exposure apparatus, wherein a mask is attached to a mask holder by a push-up pin.
マスクホルダの上方に固定され、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第2の画像取得装置を設け、
第2の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、
第2の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、
検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、位置決めしたマスクの位置を補正することを特徴とする請求項6に記載のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法。
A second image acquisition device is provided that is fixed above the mask holder, acquires an image of a mask position detection mark, and outputs an image signal;
The image of the mark for detecting the position of the mask is acquired by the second image acquisition device,
Processing the image signal of the second image acquisition device to detect the position of the mask;
8. The proximity exposure apparatus mask transport method according to claim 6, wherein the position of the positioned mask is corrected by moving the chuck based on the detected mask position.
マスクホルダの下のマスク装着位置とは別に設けたマスク受け取り位置で突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、
第1の画像取得装置よりも分解能が低くて広い視野を有し、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第3の画像取得装置をマスク受け取り位置の上方に設け、
第3の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、
第3の画像取得装置の画像信号を処理してマスクの位置を検出し、
検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクをマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動することを特徴とする請求項7に記載のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法。
Receiving the mask from the mask transport device by the push-up pin at the mask receiving position provided separately from the mask mounting position under the mask holder,
A third image acquisition device is provided above the mask receiving position, which has a lower resolution and a wider field of view than the first image acquisition device, acquires an image of a mask position detection mark, and outputs an image signal. ,
The image of the mark for detecting the position of the mask is acquired by the third image acquisition device,
Processing the image signal of the third image acquisition device to detect the position of the mask;
8. The proximity exposure apparatus mask transport method according to claim 7, wherein the chuck is moved by the stage based on the detected mask position, and the mask is moved from the mask receiving position to the mask mounting position.
マスクを載せた突き上げピンが下降したときマスクのパターン面の周辺部に接触する複数のスペーサを、チャックの表面に設置することを特徴とする請求項6乃至請求項8のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法。   9. The plurality of spacers that contact the periphery of the pattern surface of the mask when the push-up pin on which the mask is placed descends are provided on the surface of the chuck. 10. Mask Propagation Method for Proximity Exposure Apparatus マスクホルダに保持されたマスクの側面に接触してマスクの位置ずれを防止する位置ずれ防止ピン、位置ずれ防止ピンを移動してマスクの側面に接触させるモータ、及び位置ずれ防止ピンがマスクの側面に接触したことを検出するセンサーを有する複数の位置ずれ防止ピンユニットをマスクホルダに設け、
各位置ずれ防止ピンユニットのモータを制御して、位置ずれ防止ピンをマスクの側面に向かって移動させ、センサーの検出結果に基づき、位置ずれ防止ピンの移動を停止することを特徴とする請求項6乃至請求項9のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法。
A misalignment prevention pin that contacts the side surface of the mask held by the mask holder to prevent misalignment of the mask, a motor that moves the misalignment prevention pin to contact the side surface of the mask, and the misalignment prevention pin is on the side surface of the mask The mask holder is provided with a plurality of misalignment prevention pin units having sensors for detecting contact with the mask holder,
The motor of each misregistration prevention pin unit is controlled to move the misregistration prevention pin toward the side surface of the mask, and the movement of the misregistration prevention pin is stopped based on the detection result of the sensor. The method for transporting a mask of a proximity exposure apparatus according to any one of claims 6 to 9.
請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置を用いて基板の露光を行うことを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。   A method for manufacturing a display panel substrate, wherein the substrate is exposed using the proximity exposure apparatus according to any one of claims 1 to 5. 請求項6乃至請求項10のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法を用いてマスクをマスクホルダに装着し、基板の露光を行うことを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。   A manufacturing method of a display panel substrate, wherein the mask is mounted on a mask holder using the mask transport method of the proximity exposure apparatus according to any one of claims 6 to 10, and the substrate is exposed. Method.
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