JP2010106344A - 透明基材への防護層の蒸着方法及び成膜装置 - Google Patents

透明基材への防護層の蒸着方法及び成膜装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 複数の透明基材に対して、連続して蒸着が行われる防護層への不純物の混入を抑え、膜質の優れた防護層を提供する。
【解決手段】 成膜室内において、無機材料により構成される密着層を備えた透明基材に対してフッ素系樹脂により構成される防護層を蒸着するための方法であって、前記透明基材と前記蒸着源との間に前記防護層の蒸着量を制御するための蒸着量制御手段を設け、前記蒸着量制御手段を閉じた状態で前記蒸着量制御手段を前記フッ素系樹脂の沸点以上の温度まで加熱した後、前記防護層を蒸着する工程を複数の前記透明基材に対して繰り返し行い、複数の前記透明基材に連続して前記防護層を蒸着することを特徴とする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、情報端末の表示部等の透明基材への防護層の蒸着方法及び成膜装置に関する。
近年、PDA、MIDや携帯電話等の携帯用情報端末が広く普及している。これら端末の液晶画面等の表示部は、タッチパネルの入力部として使用されたり、或いは、通話により、傷がついたりや汚れたりするため、これを防ぐためのフッ素系樹脂の防護層を成膜するようにしている(例えば、特許文献1参照)。
この防護層は、透明基材上に、無機材料により構成される密着層を成膜した後に成膜されるものであるが、複数の透明基材に対して連続して防護層を成膜する場合には、1つの成膜室で透明基材に対して無機材料の成膜を行った後、この透明基材を防護層を成膜するための他の室に搬送して防護層の蒸着を開始するまでに、或いは、1つの成膜室内で、透明基材に対して無機材料の成膜を行った後に同室内において防護層の蒸着を開始するまでに、時間がかかる。この間に防護層の蒸着量を制御するためのシャッターやバルブは冷えており、この状態で蒸着源を蒸発させると、蒸着源の溶媒又はシャッターやバルブに付着した物質が、防護層の材料とともに蒸発し、無機材料に付着して防護層の密着性を低下させたり、或いは、防護層中に不純物として混在することにより、所望の接触角や撥水性が得られないという問題があった。
また、この防護層は、携帯用情報端末等の表示部を構成する比較的小さな面積の透明基材の1枚1枚に対して成膜する必要があり、上記のような問題があると、効率的に膜質の優れた防護膜を成膜できないという問題があった。
特開2004−268311号公報
そこで、本発明の目的は、複数の透明基材に対して、連続して蒸着が行われる防護層への不純物の混入を抑え、膜質の優れた防護層を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明者等は、鋭意検討の結果、透明基材に無機材料により構成される密着層を形成した後、フッ素系樹脂により構成される防護層を蒸着させるまでの間、防護層の蒸着量を制御するための蒸着量制御手段をフッ素系樹脂の沸点以上の温度まで加熱させることにより、蒸着量制御手段の温度が徐々に昇温することによる不純物の蒸発を防ぐことができ、防護層が蒸着する前に不純物が無機材料に付着したり、或いは、防護層に不純物が混入することがないという知見に基づき、下記の解決手段を見出した。
即ち、本発明の透明基材への防護層の蒸着方法は、請求項1に記載の通り、成膜室内において、無機材料により構成される密着層を備えた透明基材に対してフッ素系樹脂により構成される防護層を蒸着するための方法であって、前記透明基材と前記蒸着源との間に前記防護層の蒸着量を制御するための蒸着量制御手段を設け、前記蒸着量制御手段を閉じた状態で前記蒸着量制御手段を前記フッ素系樹脂の沸点以上の温度まで加熱した後、前記防護層を蒸着する工程を複数の前記透明基材に対して繰り返し行い、複数の前記透明基材に連続して前記防護層を蒸着することを特徴とする。
また、請求項2に記載の本発明は、請求項1に記載の透明基材への防護層の蒸着方法において、前記密着層は、前記成膜室内で成膜されることを特徴とする。
また、請求項3に記載の本発明は、請求項1に記載の透明基材への防護層の蒸着方法において、前記密着層は、前記成膜室外で成膜され、前記成膜室内に搬送された後、連続して防護層が蒸着されることを特徴とする。
また、請求項4に記載の本発明は、請求項1乃至3の何れか1項に記載の透明基材への防護層の蒸着方法において、前記蒸着量制御手段は、前記蒸発源に対向する位置に設けられたシャッターであることを特徴とする。
また、請求項5に記載の本発明は、請求項1乃至3の何れか1項に記載の透明基材への防護層の蒸着方法において、前記蒸着量制御手段は、前記蒸着源から蒸発された材料を前記成膜室内に導入する量を制御するためのバルブであることを特徴とする。
また、本発明の成膜装置は、請求項6に記載の通り、成膜室内において、無機材料により構成される密着層を備えた透明基材に対してフッ素系樹脂により構成される防護層を蒸着するための成膜装置であって、前記透明基材が配置される位置と前記蒸着源が配置される位置との間に前記防護層の蒸着量を制御するための蒸着量制御手段を設け、前記蒸着量制御手段を閉じた状態で前記蒸着量制御手段を前記フッ素系樹脂の沸点以上の温度まで加熱するための加熱手段と、前記防護層を蒸着するための蒸着手段とを設けたことを特徴とする。
また、請求項7に記載の本発明は、請求項6に記載の成膜装置において、前記成膜室内に、前記密着層を成膜するための成膜手段を設けたことを特徴とする。
また、請求項8に記載の本発明は、請求項6に記載の成膜装置において、前記密着層を成膜するための成膜手段を、前記成膜室外に設け、前記成膜室内に搬送するための搬送手段を設けたことを特徴とする。
また、請求項9に記載の本発明は、請求項6乃至8の何れか1項に記載の成膜装置において、前記蒸着量制御手段は、前記蒸発源に対向する位置に設けられたシャッターであることを特徴とする。
また、請求項10に記載の本発明は、請求項6乃至8の何れか1項に記載の成膜装置において、前記蒸着量制御手段は、前記蒸着源から蒸発された材料を前記成膜室内に導入する量を制御するためのバルブであることを特徴とする。
本発明によれば、連続して透明基材上に蒸着される防護層への不純物の混入を抑え、優れた特性の防護層を得ることができる。
次に、本発明の一実施の形態について図面を用いて説明する。
図1は、本発明の一実施の形態を説明するための装置の概略図を示すものであり、成膜室1内の上方には、図示しないが基材保持部により、透明基材2が保持されている。前記透明基材2と対向する位置には、密着層を成膜するための成膜手段の蒸着源3と防護層を成膜するための成膜手段の蒸着源4が配置されている。そして、透明基材2と、蒸着源3,4との間には、蒸着源3,4からの蒸着量を制御するための蒸着量制御手段であるシャッターが設けられている。図示されるようにシャッターは、円盤状のシャッター板5aを、成膜室1の内壁に固定された回転軸5bを中心として回転自在の支持棒5cに支持することにより構成され、シャッター板5aは、透明基板2と蒸着源3,4とにほぼ平行な面において回転自在となる。尚、シャッター板5aは、図示しないが加熱手段として、抵抗加熱装置により、フッ素系樹脂の沸点以上の温度に加熱できるようになっている。
上記装置構成において、成膜室1内に透明基板2を配置し、シャッター板5aを開いた状態で、密着層用の蒸着源3により、透明基板1上に無機材料を蒸着する。次に、シャッター板5aを閉じた状態で、防護層用の蒸着源4から蒸発を開始し、シャッター板5aを加熱する。その後、シャッター板5aを開き、透明基材1に積層された密着層上に、防護層を成膜する。
上記の方法により防護層を成膜すれば、防護層の蒸着前に、シャッター板5aは加熱されているので、防護層用の蒸着源に含まれる溶媒等の不純物が、防護層に混入することがなく、該膜質を向上させることができる。
次に、図2を参照して他の実施の形態について説明する。
図示されたものでは、バルブ8を介して蒸着源(図示せず)からの蒸着材料が成膜室1内に導入され、成膜室1内のバルブ8と透明基材1との間の空間を囲繞する防着板6が設けられ、この防着板6で囲まれた空間を遮るようにして移動自在に構成されたシャッター板7が設けられている。また、図示しないが、本例の場合、防着板6及びシャッター板7は、加熱手段として、抵抗加熱装置により、フッ素系樹脂の沸点以上の温度に加熱できるようになっている。
図示した装置の場合には、成膜室1外で無機材料を透明基材1上に積層しておき、その後、成膜室1上方に設けられた基板保持部に保持し、シャッター板7を閉じた状態で、シャッター板及び防着板6を加熱し、その後、シャッター板7を開いて、防護層を蒸着する。
このように、本発明においては、図1で説明した場合のように防護層と密着層を同じ成膜室1内で成膜する場合以外にも、別の場所で密着層を成膜する場合にも、密着層の成膜からの時間がかかるため有効に機能する。尚、別の場所で密着層を成膜する方法としては、成膜室1に隣接して、密着層の成膜手段を備えた他の成膜室を配置し、これらを公知の基板搬送手段により搬送することにより行うことができる。
図示した例では、蒸着量制御手段であるシャッター板7以外にも、蒸発源からの蒸発材料の成膜室1の内壁への付着を防ぐために設けられた防着板6も加熱することにより、防着板6に付着した材料が蒸発することなく防護層への不純物の混入を防ぐことができる。
加熱手段については、上記した抵抗加熱に限定されず、例えば、EB(電子ビーム)加熱、ランプ加熱等により加熱を行ってもよい。
本発明において防護層を構成するフッ素系樹脂とは、高分子主鎖末端にケイ素原子を有するものであり、高分子主鎖末端に位置するケイ素原子には、アルコキシ基が酸素−ケイ素結合により付加されていることが好ましい。高分子主鎖が、例えば、CF=,−CF−,−CFH−等の繰り返し単位を有するものであってもよい。また、防護層の膜厚としては、特に制限するものではないが、0.0005〜5μmの範囲で適宜設定することができる。0.0005μm未満であると、充分な汚れ付着防止機能を発現することが困難となり、また、5μmを超えると、光透過率の低下等が生じるからである。
この防護層の蒸着の条件については、特に制限はないが、雰囲気圧力を1×10−2Pa程度として、蒸着源に合わせて加熱すればよい。
また、密着層は、無機材料により構成されるものであるが、材質としては、酸化ケイ素、窒化ケイ素、窒化酸化ケイ素、炭化ケイ素、炭化酸化ケイ素、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、窒化酸化アルミニウム、酸化チタン、酸化マグネシウム、酸化インジウム、酸化スズ、酸化亜鉛等を挙げることができ、これらの1種を単独で、或いは、これらを任意に混合して使用することができる。この中でも、酸化ケイ素、窒化ケイ素、窒化酸化ケイ素、炭化ケイ素、炭化酸化ケイ素を使用することが好ましい。尚、後述するように、透明基材を無機材料により構成すれば、特に密着層を設ける必要がない。また、成膜により密着層を形成する場合のその方法については特に制限するものではないが、図1の変形例を示す図3のように、酸化ケイ素をスパッタ源9とするスパッタリング法、CVD(化学気相蒸着)法、プラズマCVD法、物理蒸着法、イオンプレーティング法等により形成することができる。密着層の厚みは1〜1000nm、好ましくは5〜150nmの範囲で適宜設定することができる。無機材料層の厚みが上記の範囲未満であると、撥水性樹脂層との高い密着性を発現することができず、また、無機材料層の厚みが上記の範囲を超えると、逆に応力等によるクラックが生じ易くなるとともに、成膜に要する時間が長くなり好ましくない。
また、本発明において使用される透明基材は、半透明のものも含まれ、密着層を備え、その上に防護層を形成することができるものであれば特に制限はなく、例えば、ガラス等を使用することができる。また、使用される透明基材の材質によっては、表面が密着層となる無機材料で構成される場合もあり、この場合は、密着層を成膜しなくとも高い密着性を発現できる場合がある。
本発明の一実施の形態を説明するための装置の概略図 本発明の他の実施の形態を説明するための装置の概略図 図1の装置の変形例の装置の概略図
符号の説明
1 成膜室
2 透明基材
3 蒸着源
4 蒸着源
5 シャッター(蒸着量制御手段)
6 防着板
7 シャッター板
8 バルブ

Claims (10)

  1. 成膜室内において、無機材料により構成される密着層を備えた透明基材に対してフッ素系樹脂により構成される防護層を蒸着するための方法であって、前記透明基材と前記蒸着源との間に前記防護層の蒸着量を制御するための蒸着量制御手段を設け、前記蒸着量制御手段を閉じた状態で前記蒸着量制御手段を前記フッ素系樹脂の沸点以上の温度まで加熱した後、前記防護層を蒸着する工程を複数の前記透明基材に対して繰り返し行い、複数の前記透明基材に連続して前記防護層を蒸着することを特徴とする透明基材への防護層の蒸着方法。
  2. 前記密着層は、前記成膜室内で成膜されることを特徴とする請求項1に記載の透明基材への防護層の蒸着方法。
  3. 前記密着層は、前記成膜室外で成膜され、前記成膜室内に搬送された後、連続して防護層が蒸着されることを特徴とする請求項1に記載の透明基材への防護層の蒸着方法。
  4. 前記蒸着量制御手段は、前記蒸発源に対向する位置に設けられたシャッターであることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の透明基材への防護層の蒸着方法。
  5. 前記蒸着量制御手段は、前記蒸着源から蒸発された材料を前記成膜室内に導入する量を制御するためのバルブであることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の透明基材への防護層の蒸着方法。
  6. 成膜室内において、無機材料により構成される密着層を備えた透明基材に対してフッ素系樹脂により構成される防護層を蒸着するための成膜装置であって、前記透明基材が配置される位置と前記蒸着源が配置される位置との間に前記防護層の蒸着量を制御するための蒸着量制御手段を設け、前記蒸着量制御手段を閉じた状態で前記蒸着量制御手段を前記フッ素系樹脂の沸点以上の温度まで加熱するための加熱手段と、前記防護層を蒸着するための蒸着手段とを設けたことを特徴とする成膜装置。
  7. 前記成膜室内に、前記密着層を成膜するための成膜手段を設けたことを特徴とする請求項6に記載の成膜装置。
  8. 前記密着層を成膜するための成膜手段を、前記成膜室外に設け、前記成膜室内に搬送するための搬送手段を設けたことを特徴とする請求項6に成膜装置。
  9. 前記蒸着量制御手段は、前記蒸発源に対向する位置に設けられたシャッターであることを特徴とする請求項6乃至8の何れか1項に記載の成膜装置。
  10. 前記蒸着量制御手段は、前記蒸着源から蒸発された材料を前記成膜室内に導入する量を制御するためのバルブであることを特徴とする請求項6乃至8の何れか1項に記載の成膜装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014045904A1 (ja) * 2012-09-21 2014-03-27 コニカミノルタ株式会社 ガラス製品の製造方法
JP2015030874A (ja) * 2013-08-01 2015-02-16 株式会社エツミ光学 抗菌製品の防汚処理方法
US9903012B2 (en) 2012-12-18 2018-02-27 Ulvac, Inc. Film formation method and film formation apparatus

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7252704B2 (ja) 2017-08-25 2023-04-05 ジャパンコンポジット株式会社 不飽和ポリエステル樹脂組成物、成形材料、成形品、および、人造大理石

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05132760A (ja) * 1991-11-08 1993-05-28 Ulvac Japan Ltd 蒸着重合装置
JP2002030418A (ja) * 2000-07-13 2002-01-31 Denso Corp 蒸着装置
JP2006348376A (ja) * 2005-06-20 2006-12-28 Seiko Epson Corp 真空蒸着方法および真空蒸着装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05132760A (ja) * 1991-11-08 1993-05-28 Ulvac Japan Ltd 蒸着重合装置
JP2002030418A (ja) * 2000-07-13 2002-01-31 Denso Corp 蒸着装置
JP2006348376A (ja) * 2005-06-20 2006-12-28 Seiko Epson Corp 真空蒸着方法および真空蒸着装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014045904A1 (ja) * 2012-09-21 2014-03-27 コニカミノルタ株式会社 ガラス製品の製造方法
US9903012B2 (en) 2012-12-18 2018-02-27 Ulvac, Inc. Film formation method and film formation apparatus
JP2015030874A (ja) * 2013-08-01 2015-02-16 株式会社エツミ光学 抗菌製品の防汚処理方法

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