JP2010102224A - 感光性樹脂組成物、硬化膜、保護膜、絶縁膜、半導体装置および表示体装置 - Google Patents

感光性樹脂組成物、硬化膜、保護膜、絶縁膜、半導体装置および表示体装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 本発明の目的は、金属配線上でパターニング開口部に残渣の発生を抑制でき、信頼性に優れた感光性樹脂組成物を提供することにある。
【解決手段】 本発明の感光性樹脂組成物は、金属配線上に製膜され、パターニングされる感光性樹脂組成物であって、アルカリ可溶性樹脂と、感光剤と、前記パターニングされた際の残渣を抑制する残渣抑制剤と、密着助剤と、を含むことを特徴とする。また、本発明の硬化膜は、上記に記載の感光性樹脂組成物の硬化物で構成されていることを特徴とする。また、本発明の保護膜および絶縁膜は、上記に記載の硬化膜で構成されていることを特徴とする。また、本発明の半導体装置および表示体装置は、上記に記載の硬化膜を有していることを特徴とする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、感光性樹脂組成物、硬化膜、保護膜、絶縁膜、半導体装置および表示体装置
に関する。
従来、半導体素子の表面保護膜、層間絶縁膜には、耐熱性に優れ、かつ卓越した電気特性、機械特性等を有するポリベンゾオキサゾール樹脂やポリイミド樹脂が用いられてきた。
このポリベンゾオキサゾール樹脂やポリイミド樹脂を用いた場合のプロセスを簡略化するために、感光剤のジアゾキノン化合物をこれらの樹脂と組み合わせたポジ型感光性樹脂組成物も使用されている(例えば、特許文献1参照)。
ポジ型感光性樹脂組成物のレリーフパターンの作製を現像メカニズムより説明する。ウエハ上にポジ型感光性樹脂組成物を塗布、乾燥を行い、塗膜を作成する。その塗膜にステッパー等の露光装置でマスクの上から化学線を照射(露光)することにより、露光された部分(以下、露光部)と露光されていない部分(以下、未露光部)ができる。この未露光部中に存在するジアゾキノン化合物はアルカリ水溶液に不溶であり、また樹脂と相互作用することで更にアルカリ水溶液に対し耐性を持つようになる。一方、露光部に存在していたジアゾキノン化合物は化学線の作用によって化学変化を起こし、アルカリ水溶液に可溶となり、樹脂の溶解を促進させる。この露光部と未露光部との溶解性の差を利用し、露光部を溶解除去することにより未露光部のみのレリーフパターンの作製が可能となる。
しかし、このようなポジ型感光性樹脂組成物の樹脂層は、金属配線上でパターニング加工するときに、その金属との親和性により、露光開口部にポジ型感光性樹脂組成物が残る(残渣)という問題が発生する場合があった。この残渣の発生に起因する抵抗率の変化が半導体装置、表示体装置の信頼性に影響を及ぼすことから、改善が求められていた。
特開昭56−27140号公報
本発明は、上記問題を鑑み、金属配線上でパターニング開口部に残渣の発生を抑制でき、信頼性に優れた感光性樹脂組成物およびそれを用いた硬化膜、保護膜、絶縁膜、半導体装置および表示体装置を提供することにある。
このような目的は、下記(1)〜(12)に記載の本発明により達成される。
(1)金属配線上に製膜され、パターニングされる感光性樹脂組成物であって、アルカリ可溶性樹脂と、感光剤と、前記パターニングされた際の残渣を抑制する残渣抑制剤と、密着助剤と、を含むことを特徴とする感光性樹脂組成物。
(2)前記残渣抑制剤は、前記密着助剤とは異なる組成で構成されている上記(1)に記載の感光性樹脂組成物。
(3)前記残渣抑制剤は、シラン系化合物を含むものである上記(1)または(2)に記載の感光性樹脂組成物。
(4)前記シラン系化合物は、アルコキシシラン化合物を含むものである上記(3)に記載の感光性樹脂組成物。
(5)前記アルコキシシラン化合物は、メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、メタクリロキシプロピルトリエトキシシランおよびメタクリロキシプロピルメチルジエトキシシランの中から選ばれる少なくとも1種以上である上記(4)に記載の感光性樹脂組成物。
(6)前記残渣抑制剤の含有量は、前記感光性樹脂組成物全体の0.5〜10重量%である上記(1)ないし(5)のいずれかに記載の感光性樹脂組成物。
(7)前記金属配線が、銅配線である上記(1)ないし(6)のいずれかに記載の感光性樹脂組成物。
(8)上記(1)ないし(7)のいずれかに記載の感光性樹脂組成物の硬化物で構成されていることを特徴とする硬化膜。
(9)上記(8)に記載の硬化膜で構成されていることを特徴とする保護膜。
(10)上記(8)に記載の硬化膜で構成されていることを特徴とする絶縁膜。
(11)上記(8)に記載の硬化膜を有していることを特徴とする半導体装置。
(12)上記(8)に記載の硬化膜を有していることを特徴とする表示体装置。
本発明によれば、金属配線上でパターニング開口部に残渣の発生を抑制でき、信頼性に優れた感光性樹脂組成物およびそれを用いた硬化膜、保護膜、絶縁膜を得ることができる。
また、本発明によれば金属配線上にパターニングされてなる硬化膜を有する半導体装置等の信頼性に優れる。
以下、本発明の感光性樹脂組成物(特に好ましくは、ポジ型感光性樹脂組成物)、硬化膜、保護膜、絶縁膜、半導体装置および表示体装置について説明する。
本発明の感光性樹脂組成物は、金属配線上に製膜され、パターニングされる感光性樹脂組成物であって、アルカリ可溶性樹脂と、感光剤と、前記パターニングされた際の残渣を抑制する残渣抑制剤と、密着助剤と、を含むことを特徴とする
また、本発明の硬化膜は、上記に記載の感光性樹脂組成物の硬化物で構成されていることを特徴とする。
また、本発明の保護膜および絶縁膜は、上記に記載の硬化膜で構成されていることを特徴とする。
また、本発明の半導体装置および表示体装置は、上記に記載の硬化膜を有していることを特徴とする。
まず、感光性樹脂組成物について、好適な実施形態に基づいて説明する。
図1は、半導体装置の一例を模式的に示す断面図である。
半導体装置10は、シリコンウエハ1と、シリコンウエハ1の上に設けられた金属配線5と、金属配線5を覆うように設けられた絶縁膜6と、で構成されている。
シリコンウエハ1の上側面(図1中の上側)の一部には、アルミパッド2が配置されている。
このアルミパッド2の上側面を除く部分のシリコンウエハ1の上側面を保護するように保護層3が設けられている。保護層3は、アルミパッド2の上側面では凹部31となっている。
保護層3の上側(図1中の上側)および凹部31の内周面311に沿って、金属層4が設けられている。
凹部31の内部および金属層4の一部の上側(図1中の上側)に、金属配線5が配置されている。
そして、金属配線5および金属配線5が配置されていない金属層4を覆うように、絶縁膜6が設けられている。
そして、絶縁膜6は、電気的な接続を行うためのパターニング処理が行われ、それによってビア61を有している。
本発明の感光性樹脂組成物は、上述したような半導体装置10の絶縁膜として用いられるものであり、金属配線5上でのパターニング性に優れるものである。
前記感光性樹脂組成物は、アルカリ可溶性樹脂を含む。
前記アルカリ可溶性樹脂としては、例えばクレゾール型ノボラック樹脂、ヒドロキシスチレン樹脂、メタクリル酸樹脂、メタクリル酸エステル樹脂等のアクリル系樹脂、水酸基、カルボキシル基等を含む環状オレフィン系樹脂、ポリアミド系樹脂等が挙げられる。これらの中でも耐熱性に優れ、機械特性が良いという点からポリアミド系樹脂が好ましく、具体的にはポリベンゾオキサゾール構造およびポリイミド構造の少なくとも一方を有し、かつ主鎖または側鎖に水酸基、カルボキシル基、エーテル基またはエステル基を有する樹脂、ポリベンゾオキサゾール前駆体構造を有する樹脂、ポリイミド前駆体構造を有する樹脂、ポリアミド酸エステル構造を有する樹脂等が挙げられる。このようなポリアミド系樹脂としては、例えば下記一般式(1)で示されるポリアミド系樹脂を挙げることができる。
Figure 2010102224
一般式(1)で示されるポリアミド系樹脂において、Xの置換基としてのO−R21、Yの置換基としてのO−R21、COO−R21は、水酸基、カルボキシル基のアルカリ水溶液に対する溶解性を調節する目的で、炭素数1〜15の有機基であるR21で保護された基であり、必要により水酸基、カルボキシル基を保護しても良い。R21の例としては、ホルミル基、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ターシャリーブチル基、ターシャリーブトキシカルボニル基、フェニル基、ベンジル基、テトラヒドロフラニル基、テトラヒドロピラニル基等が挙げられる。
一般式(1)で示される構造を含むポリアミド系樹脂は、例えば、Xを含むジアミンまたはビス(アミノフェノール)、2,4−ジアミノフェノール等から選ばれる化合物と、Yを含むテトラカルボン酸二無水物、トリメリット酸無水物、ジカルボン酸またはジカルボン酸ジクロライド、ジカルボン酸誘導体等から選ばれる化合物とを反応して得られるものである。なお、ジカルボン酸の場合には反応収率等を高めるため、1−ヒドロキシ−1,2,3−ベンゾトリアゾール等を予め反応させた活性エステル型のジカルボン酸誘導体
を用いてもよい。
一般式(1)で示されるポリアミド系樹脂のXとしては、例えばベンゼン環、ナフタレン環等の芳香族化合物、ビスフェノール類、ピロール類、フラン類等の複素環式化合物、シロキサン化合物等が挙げられ、より具体的には下記式(2)で示されるものを好ましく挙げることができる。これらは、必要により1種類又は2種類以上組み合わせて用いてもよい。
Figure 2010102224
Figure 2010102224
一般式(1)で示すように、XにはRが0〜8個結合される(式(2;2−1〜2−8)において、Rは省略)。
式(2)中で好ましいものとしては、耐熱性、機械特性が特に優れる下記式(3;3−1〜3−18)で表されるものが挙げられる。
Figure 2010102224
Figure 2010102224
さらに、式(3)の中でも、下記式(4)で示されるものが特に好ましい。
Figure 2010102224
また、一般式(1)で示されるポリアミド系樹脂のYは有機基であり、前記Xと同様のものが挙げられ、例えば、ベンゼン環、ナフタレン環等の芳香族化合物、ビスフェノール類、ピロール類、ピリジン類、フラン類等の複素環式化合物、シロキサン化合物等が挙げられ、より具体的には下記式(5;5−1〜5−8)で示されるものを好ましく挙げることができる。これらは1種類又は2種類以上組み合わせて用いてもよい。
Figure 2010102224
Figure 2010102224
一般式(1)で示すように、Yには、Rが0〜8個結合される(式(5)において、Rは省略)。
式(5)の中で好ましいものとしては、耐熱性、機械特性が特に優れる下記式(6;6−1〜6−21)、式(7;7−1〜7−4)で示されるものが挙げられる。
下記式(6)中のテトラカルボン酸二無水物由来の構造については、C=O基に結合する位置が両方メタ位であるもの、両方パラ位であるものを挙げているが、メタ位とパラ位をそれぞれ含む構造でもよい。
Figure 2010102224
Figure 2010102224
Figure 2010102224
また、上述の一般式(1)で示されるポリアミド系樹脂は、該ポリアミド系樹脂の末端をアミノ基とし、該アミノ基を炭素−炭素二重結合、炭素−炭素三重結合を少なくとも1個有する脂肪族基、または環式化合物基を含む酸無水物を用いてアミドとしてキャップすることが好ましい。これにより、保存性を向上することができる。
このような、アミノ基と反応した後の炭素−炭素二重結合、炭素−炭素三重結合を少なくとも1個有する脂肪族基または環式化合物基を含む酸無水物に起因する基としては、例えば式(8)、式(9)で示される基等を挙げることができる。これらは単独で用いてもよいし、2種類以上組み合わせて用いても良い。
Figure 2010102224
Figure 2010102224
これらの中で特に好ましいものとしては、式(10)で選ばれる基が好ましい。これにより、特に保存性を向上することができる。
Figure 2010102224
またこの方法に限定される事はなく、該ポリアミド系樹脂中に含まれる末端の酸を炭素−炭素二重結合、炭素−炭素三重結合を少なくとも1個有する脂肪族基又は環式化合物基を含むアミン誘導体を用いてアミドとしてキャップすることもできる。
前記アルカリ可溶性樹脂の重量平均分子量は、特に限定されないが、8,000〜40,000が好ましく、特に10,000〜33,000が好ましい。重量平均分子量が前記範囲内であると、特にパターニング性に優れる。
また、前記アルカリ可溶性樹脂は、重量分子量80,000以上の成分の含有量がアルカリ可溶性樹脂全体の0.5重量%以下であることが好ましく、特に0.1重量%以下であることが好ましい。重量分子量80,000以上の成分の含有量が前記範囲内であると、特にパターニング時の開口部の溶け残りが低減できる。
前記アルカリ可溶性樹脂の含有量は、特に限定されないが、前記感光性樹脂組成物全体の10〜50重量%が好ましく、特に20〜40重量%が好ましい。含有量が前記範囲内であると、特に塗布性、感度等のパターニング性に優れる。
前記感光性樹脂組成物は、感光剤を含む。
前記感光剤としては、例えば、フェノール化合物と1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−5−スルホン酸または1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−4−スルホン酸とのエステルが挙げられる。具体的には、式(11)〜式(14)に示すエステル化合物を挙げることができる。これらは単独で用いてもよいし、2種以上組み合わせて用いても良い。
Figure 2010102224
Figure 2010102224
Figure 2010102224
Figure 2010102224
式中Qは、水素原子、式(15)、式(16)のいずれかから選ばれるものである。ここで各化合物のQのうち、少なくとも1つは式(15)、式(16)である。
Figure 2010102224
前記感光剤の含有量は、特に限定されないが、前記感光性樹脂組成物全体の1〜20重量%が好ましく、特に3〜10重量%が好ましい。含有量が前記範囲内であると、特に感度に優れる。
前記感光性樹脂組成物は、前記パターニングされた際の残渣を抑制する残渣抑制剤を含む。これにより、金属配線5(特に銅配線の場合が好ましい)上に、前記感光性樹脂組成物を塗布してパターニングする際のパターニング性に優れる。
前記残渣抑制剤としては、例えばリン酸塩、ポリアクリル酸、ケイ酸塩、ハロゲンシラン化合物、アルコキシシラン化合物等のシラン系化合物、チオール系カップリング剤が挙げられる。
これらの中でもシラン系化合物が好ましく、特にアルコキシシラン化合物が好ましい。これにより、パターニング時の残渣除去効果をより向上することができる。
前記アルコキシシラン化合物の中でも信頼性、保存性の点からメタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、メタクリロキシプロピルトリエトキシシランおよびメタクリロキシプロピルメチルジエトキシシランの中から選ばれる少なくとも1種以上が好ましい。
このような残渣抑制剤を用いると、前記感光性樹脂組成物の金属配線5上でのパターニング性を向上できる理由は、次のように考えられる。
残渣の発生原因は、アルカリ可溶性樹脂と金属配線5の金属との間に働く相互作用によって、アルカリ溶解性が低下することによるものと考えられる。本発明では、残渣抑制剤を用いることにより、残渣抑制剤が金属表面と親和性を向上させ、それによって表面改質を行うものである。これによりアルカリ可溶性樹脂と金属の相互作用を阻害し、残渣の発生を抑制するものである。
前記残渣抑制剤は、後述する密着助剤とは異なる組成で構成されているものであることが好ましい。これにより、パターニング時の残渣除去効果をより向上することができる。
前記残渣抑制剤の含有量は、特に限定されないが、前記感光性樹脂組成物全体の0.5〜10重量%が好ましく、特に1〜5重量%が好ましい。含有量が前記範囲内であると、特にパターニング性、保存性に優れる。
前記感光性樹脂組成物は、金属配線との密着性を向上する密着助剤を含む。これにより、周辺部材との密着性を向上することができる。
前記密着助剤は、例えばクロロシラン化合物、アルコキシシラン化合物、シラザン、アルコキシシリルアミンと無水カルボン酸の反応物、含窒素化合物、含硫黄化合物等が挙げられる。
前記密着助剤の含有量は、特に限定されないが、前記感光性樹脂組成物全体の0.5〜10重量%が好ましく、特に1〜5重量%が好ましい。含有量が前記範囲内であると、特に密着性、保存性に優れる。
前記残渣抑制剤と前記密着助剤との併用割合は、特に限定されないが、重量比(残渣抑制剤/密着助剤)で0.1〜10が好ましく、特に0.1〜4が好ましい。併用割合が前記範囲内であると、特に金属配線上でのパターニング性と、密着性、保存性とのバランスに優れる。
前記感光性樹脂組成物は、上述したアルカリ可溶性樹脂、感光剤、残渣抑制剤等以外に、溶解調整剤、界面活性剤等の添加剤を含んでも良い。
このような感光性樹脂組成物の使用方法は、まず該組成物を適当な支持体(基板)、例えば、シリコンウエハ、セラミック基板、アルミ基板等に塗布する。塗布量は、半導体素子上に塗布する場合、硬化後の最終膜厚が0.1〜30μmになるよう塗布する。膜厚が下限値を下回ると、半導体素子の保護表面膜としての機能を十分に発揮することが困難となり、上限値を超えると、微細な加工パターンを得ることが困難となるばかりでなく、加工に時間がかかりスループットが低下する。塗布方法としては、スピンナーを用いた回転塗布、スプレーコーターを用いた噴霧塗布、浸漬、印刷、ロールコーティング等がある。次に、60〜130℃でプリベークして塗膜を乾燥後、所望のパターン形状に化学線を照射する。化学線としては、X線、電子線、紫外線、可視光線等が使用できるが、200〜500nmの波長のものが好ましい。
次に、照射部を現像液で溶解除去することによりレリーフパターンを得る。現像液としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア水等の無機アルカリ類、エチルアミン、n−プロピルアミン等の第1アミン類、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン等の第2アミン類、トリエチルアミン、メチルジエチルアミン等の第3アミン類、ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン等のアルコールアミン類、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド等の第4級アンモニウム塩等のアルカリ類の水溶液およびこれにメタノール、エタノールのごときアルコール類等の水溶性有機溶媒や界面活性剤を適当量添加した水溶液を好適に使用することができる。現像方法としては、スプレー、パドル、浸漬、超音波等の方式が可能である。
次に、現像によって形成したレリーフパターンをリンスする。リンス液としては、蒸留水を使用する。次に加熱処理を行い、オキサゾール環、イミド環、又はオキサゾール環及びイミド環を形成し、耐熱性に富む最終パターンを得る。
加熱処理温度は、180℃〜380℃が好ましく、より好ましくは200℃〜350℃である。ここで行う加熱処理が前述した熱処理工程のことである。
次に、本発明の硬化膜等について説明する。感光性樹脂組成物の硬化物である硬化膜は、半導体素子等の半導体装置用途のみならず、TFT型液晶や有機EL等の表示体装置用途、多層回路の層間絶縁膜やフレキシブル銅張板のカバーコート、ソルダーレジスト膜としても有用なものである。
半導体装置用途の例としては、半導体素子上に上述の感光性樹脂組成物の硬化膜を形成してなるパッシベーション膜、パッシベーション膜上に上述の感光性樹脂組成物の硬化膜を形成してなるバッファーコート膜等の保護膜、また、半導体素子上に形成された回路上に上述のポジ型感光性樹脂組成物の硬化膜を形成してなる層間絶縁膜等の絶縁膜、また、α線遮断膜、平坦化膜、隔壁等を挙げることができる。
また、これらの硬化膜を有しているウエハはウエハ周囲の塗布性に優れているので半導体装置の歩留まりを向上することができる。
表示体装置用途の例としては、表示体素子上に上述の感光性樹脂組成物の硬化膜を形成してなる保護膜、TFT素子やカラーフィルター用等の絶縁膜または平坦化膜、MVA型液晶表示装置用等の突起、有機EL素子陰極用等の隔壁等を挙げることができる。その使用方法は、半導体装置用途に準じ、表示体素子やカラーフィルターを形成した基板上にパターン化された感光性樹脂組成物層を、上記の方法で形成することによるものである。表示体装置用途の、特に絶縁膜や平坦化膜用途では、高い透明性が要求されるが、この感光性樹脂組成物層の硬化前に、後露光工程を導入することにより、透明性に優れた樹脂層が得られることもでき、実用上更に好ましい。
また、これらの硬化膜を有している表示用基板は基板周囲の塗布性に優れているので表示体装置の歩留まりを向上することができる。
以下、実施例および比較例に基づき、本発明を具体的に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
(実施例1)
[アルカリ可溶性樹脂(A−1)の合成]
ジフェニルエーテル−4,4’−ジカルボン酸0.900モルと1−ヒドロキシ−1,2,3−ベンゾトリアゾール1.800モルとを反応させて得られたジカルボン酸誘導体(活性エステル)443.21g(0.900モル)とヘキサフルオロ−2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン366.26g(1.000モル)とを温度計、攪拌機、原料投入口、乾燥窒素ガス導入管を備えた4つ口のセパラブルフラスコに入れ、N−メチル−2−ピロリドン3,200gを加えて溶解させた。その後オイルバスを用いて75℃にて12時間反応させた。
次に、N−メチル−2−ピロリドン100gに溶解させた5−ノルボルネン−2、3−ジカルボン酸無水物32.8g(0.200モル)を加え、更に12時間攪拌して反応を終了した。反応混合物を濾過した後、反応混合物を水/イソプロパノール=3/1(体積比)の溶液に投入、沈殿物を濾集し水で充分洗浄した後、真空下で乾燥し、目的の式(A−1)で示されるアルカリ可溶性樹脂を得た。
Figure 2010102224
[密着助剤(D−1)の合成]
無水マレイン酸10gとトリエトキシシリルアミン21gをフラスコに入れ、γ−ブチルラクトン278g中で15時間反応させ、(D−1)で示される密着助剤を得た。
Figure 2010102224
[ポジ型感光性樹脂組成物の作製]
合成した式(A−1)で示されるアルカリ可溶性樹脂100g、式(B−1)の構造を有する感光性ジアゾキノン化合物20g、下記式(C−1)の構造を有する残渣抑制剤8g、合成した式(D−1)の構造を有する密着助剤5gを、γ−ブチロラクトン150gに溶解した後、孔径0.2μmのテフロン(登録商標)製フィルターで濾過しポジ型感光性樹脂組成物を得た。
Figure 2010102224
Figure 2010102224
(実施例2)
残渣抑制剤として、以下のものを用いた以外は実施例1と同様にした。
残渣抑制剤として、下記式(C−2)で示されるものを用いた以外は、実施例1と同様にした。
Figure 2010102224
(実施例3)
残渣抑制剤として、以下のものを用いた以外は実施例1と同様にした。
残渣抑制剤として、下記式(C−3)で示されるものを用いた以外は、実施例1と同様にした。
Figure 2010102224
(実施例4)
残渣抑制剤の含有量を、減らして感光性樹脂組成物の配合を以下のようにした以外は、実施例1と同様にした。
(A−1)で示されるアルカリ可溶性樹脂100g、式(B−1)の構造を有する感光性ジアゾキノン化合物20g、下記式(C−1)の構造を有する残渣抑制剤2g、下記式(D−1)の構造を有する密着助剤5gを、γ−ブチロラクトン150gに溶解した後、孔径0.2μmのテフロン(登録商標)製フィルターで濾過しポジ型感光性樹脂組成物を得た。
(実施例5)
残渣抑制剤の含有量を、増やして感光性樹脂組成物の配合を以下のようにした以外は、実施例1と同様にした。
(A−1)で示されるアルカリ可溶性樹脂100g、式(B−1)の構造を有する感光性ジアゾキノン化合物20g、下記式(C−1)の構造を有する残渣抑制剤15g、下記式(D−1)の構造を有する密着助剤5gを、γ−ブチロラクトン150gに溶解した後、孔径0.2μmのテフロン(登録商標)製フィルターで濾過しポジ型感光性樹脂組成物を得た。
(実施例6)
密着助剤として、以下のものを用いた以外は実施例1と同様にした。
エポキシシラン系密着助剤であるKBM−403E(信越化学工業(株))を用いた。
(比較例1)
残渣抑制剤を用いずに、感光性樹脂組成物の配合を以下のようにした以外は実施例1と同様にした。
(A−1)で示されるアルカリ可溶性樹脂100g、式(B−1)の構造を有する感光性ジアゾキノン化合物20g、下記式(D−1)の構造を有する密着助剤15gを、γ−ブチロラクトン150gに溶解した後、孔径0.2μmのテフロン(登録商標)製フィルターで濾過しポジ型感光性樹脂組成物を得た。
(比較例2)
密着助剤を用いずに、感光性樹脂組成物の配合を以下のようにした以外は実施例1と同様にした。
(A−1)で示されるアルカリ可溶性樹脂100g、式(B−1)の構造を有する感光性ジアゾキノン化合物20g、下記式(C−1)の構造を有する残渣抑制剤8gを、γ−ブチロラクトン150gに溶解した後、孔径0.2μmのテフロン(登録商標)製フィルターで濾過しポジ型感光性樹脂組成物を得た。
得られた感光性樹脂組成物について、以下の評価を行った。評価項目を内容と共に示す。得られた結果を表1に示す。
1.感度
各実施例および比較例で得られたポジ型感光性樹脂組成物を、8インチの銅メッキ付シリコンウエハにスピンコーターを用いて塗布した後、ホットプレートにて120℃で4分乾燥し、膜厚約10μmの塗膜を得た。この塗膜に、凸版印刷(株)製マスク(テストチャートNo.1:幅0.88〜50μmの残しパターン及び抜きパターンが描かれている)を通して、(株)ニコン製i線ステッパーNSR−4425iを用いて、露光量を200mJ/cmから10mJ/cmステップで増やして露光を行った。次に2.38%のテトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液に現像時の未露光部の膜減りが1.0μmになるように現像時間を調整した。パターンを観察し、開口する露光量を感度とした。
2.金属配線上の残渣
感度評価を行ったパターンの銅メッキ上開口部の観察を行った。光学顕微鏡の倍率200倍で観察し、残渣発生の有無を確認した。
3.温湿度処理後の密着性
各実施例および比較例で得られたポジ型感光性樹脂組成物をシリコンウエハ上にスピンコーターを用いて塗布した後、ホットプレートにて120℃で4分プリベークし、膜厚約8.0μmの塗膜を得た。次に、クリーンオーブンを用いて酸素濃度1,000ppm以下で、150℃/30分+320℃/30分で加熱硬化を行い、硬化膜を得た。この硬化膜に、JIS K5400に準拠してカッターナイフにて1×1(mm)サイズの正方形が縦横10列づつ計100個の碁盤目を作製した。このサンプルをプレッシャークッカー(温湿度処理)試験;125℃、100%、0.2MPaの条件下500時間連続処理した後、JIS D0202に準拠して評価した。表1には碁盤目100個のうちの剥がれた個数を示す。
4.常温保管後の粘度変化
各実施例および比較例で得られたポジ型感光性樹脂組成物を23℃の室温下で1週間保管した。保管前後のポジ型感光性樹脂組成物の粘度をE型粘度計で測定し、(保管後粘度−保管前粘度)/保管前粘度×100で保管後の粘度の変化率を求めた。
Figure 2010102224
表1から明らかなように、実施例1〜6のポジ型感光性樹脂組成物は、金属配線上のパターニング開口部への残渣が無かった。
また、実施例1〜6のポジ型感光性樹脂組成物は、耐湿処理後の密着性にも優れていた。これより、半導体装置等の信頼性に優れることが示唆された。
また、実施例1、2および4は、特に常温保管後の粘度変化が小さく保存性に優れていることが確認された。
本発明の半導体装置の一例を示す断面図である。
符号の説明
1 シリコンウエハ
2 アルミパッド
3 保護層
31 凹部
311 内周面
4 金属層
5 金属配線
6 絶縁膜
61 ビア
10 半導体装置

Claims (12)

  1. 金属配線上に製膜され、パターニングされる感光性樹脂組成物であって、
    アルカリ可溶性樹脂と、
    感光剤と、
    前記パターニングされた際の残渣を抑制する残渣抑制剤と、
    金属配線に対する密着性を向上する密着助剤と、を含むことを特徴とする感光性樹脂組成物。
  2. 前記残渣抑制剤は、前記密着助剤とは異なる組成で構成されている請求項1に記載の感光性樹脂組成物。
  3. 前記残渣抑制剤は、シラン系化合物を含むものである請求項1または2に記載の感光性樹脂組成物。
  4. 前記シラン系化合物は、アルコキシシラン化合物を含むものである請求項3に記載の感光性樹脂組成物。
  5. 前記アルコキシシラン化合物は、メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、メタクリロキシプロピルトリエトキシシランおよびメタクリロキシプロピルメチルジエトキシシランの中から選ばれる少なくとも1種以上である請求項4に記載の感光性樹脂組成物。
  6. 前記残渣抑制剤の含有量は、前記感光性樹脂組成物全体の0.5〜10重量%である請求項1ないし5のいずれかに記載の感光性樹脂組成物。
  7. 前記金属配線が、銅配線である請求項1ないし6のいずれかに記載の感光性樹脂組成物。
  8. 請求項1ないし7のいずれかに記載の感光性樹脂組成物の硬化物で構成されていることを特徴とする硬化膜。
  9. 請求項8に記載の硬化膜で構成されていることを特徴とする保護膜。
  10. 請求項8に記載の硬化膜で構成されていることを特徴とする絶縁膜。
  11. 請求項8に記載の硬化膜を有していることを特徴とする半導体装置。
  12. 請求項8に記載の硬化膜を有していることを特徴とする表示体装置。
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