JP2010096813A - 非線形光学顕微鏡及びその調整方法 - Google Patents
非線形光学顕微鏡及びその調整方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】本発明を例示する非線形光学顕微鏡の一態様は、対物レンズ(17)が形成する照明光のスポットで物体上を走査する走査手段(16)と、前記照明光との強度関係が非線形な信号光を前記物体上のスポットから検出する検出手段(200)とを備え、前記対物レンズの瞳径φoと前記対物レンズへ投光される照明光の光束径φfとの比である規格化ビーム径φ=φf/φoは、前記対物レンズへ向かう照明光のパワーが一定という条件下で前記信号光の強度にピークを与える特定値の近傍に設定されている。
【選択図】 図1
Description
通常の共焦点蛍光顕微鏡は、物体に照射する光(照明光)の強度と、物体で発生する光(信号光)の強度との関係が線形となる線形光学顕微鏡であるが、近年はその関係が非線形となる非線形光学顕微鏡の研究開発が盛んに行われている。
例えば、二光子励起蛍光顕微鏡(非特許文献1等を参照)は、長い波長の励起光(近赤外線)で蛍光物質を励起するので、被観察物の深部を観察することが可能である。また、明るさを確保するために共焦点絞りを開放しても奥行き方向の分解能が損なわれないという利点もある。
Winfried Denk et al. "Two-Photon Laser Scanning Fluorescence Microscopy", Science, New Series, Vol. 248, No. 4951(April 6, 1990), pp. 73-76
以下、本発明の第1実施形態として二光子励起蛍光顕微鏡装置を説明する。
次に、本発明の第2実施形態としてハイブリッド型の非線形光学顕微鏡装置を説明する。ここでは第1実施形態との相違点のみ説明する。
なお、上述した各実施形態では、規格化ビーム径φの値を、信号光の強度Ifをピーク強度の8割以上に維持できるような値域の上限値に設定したが、信号光の強度Ifをピーク強度の9割以上に維持できるような値域の上限値に設定してもよい。さらに言えば、空間分解能と信号光の検出効率とのうち、信号光の検出効率を優先させたい場合には、その割合を大きく想定すればよく、空間分解能を優先させたい場合には、その割合を小さく想定すればよい。但し、その割合が小さすぎると信号光の検出効率が悪化するので、その割合は8割〜10割の範囲に収まっていることが望ましい。
なお、前述した非線形光学顕微鏡の一態様において、前記対物レンズの瞳径φoと前記対物レンズへ投光される照明光の光束径φfとの比である規格化ビーム径φ=φf/φoは、前記対物レンズへ向かう照明光のパワーが一定という条件下で前記信号光の強度にピークを与える特定値の近傍、かつその特定値より大きい値に設定されてもよい。
Claims (6)
- 対物レンズが形成する照明光のスポットで物体上を走査する走査手段と、
前記照明光との強度関係が非線形な信号光を前記物体上のスポットから検出する検出手段とを備え、
前記対物レンズの瞳径φoと前記対物レンズへ投光される照明光の光束径φfとの比である規格化ビーム径φ=φf/φoは、
前記対物レンズへ向かう照明光のパワーが一定という条件下で前記信号光の強度にピークを与える特定値の近傍に設定されている
ことを特徴とする非線形光学顕微鏡。 - 請求項1に記載の非線形光学顕微鏡において、
前記対物レンズの瞳径φoと前記対物レンズへ投光される照明光の光束径φfとの比である規格化ビーム径φ=φf/φoは、
前記対物レンズへ向かう照明光のパワーが一定という条件下で前記信号光の強度にピークを与える特定値の近傍、かつその特定値より大きい値に設定されている
ことを特徴とする非線形光学顕微鏡。 - 請求項2に記載の非線形光学顕微鏡において、
前記対物レンズの瞳径φoと前記対物レンズへ投光される照明光の光束径φfとの比である規格化ビーム径φ=φf/φoは、
前記対物レンズへ向かう照明光のパワーが一定という条件下で前記信号光の強度をピーク強度の8割以上にする値に設定されている
ことを特徴とする非線形光学顕微鏡。 - 請求項3に記載の非線形光学顕微鏡において、
前記対物レンズの瞳径φoと前記対物レンズへ投光される照明光の光束径φfとの比である規格化ビーム径φ=φf/φoは、
0.8≦φ≦1.2の式を満たす。
但し、前記光束径φfは、前記照明光のうち光軸上強度のe−2倍以上の強度を有した部分の径である
ことを特徴とする非線形光学顕微鏡。 - 請求項1〜請求項4の何れか一項に記載の非線形光学顕微鏡において、
前記信号光の検出原理は、
二光子励起、第二高調波発生、コヒーレントアンチストークスラマン散乱、コヒーレントストークスラマン散乱
の少なくとも1つであることを特徴とする非線形光学顕微鏡。 - 対物レンズが形成する照明光のスポットで物体上を走査する走査手段と、
前記照明光との強度関係が非線形な信号光を前記物体上のスポットから検出する検出手段とを備えた非線形光学顕微鏡の調整方法であって、
前記照明光のパワーが一定という条件下で、前記対物レンズの瞳径φoと前記対物レンズへ投光される照明光の光束径φfとの比である規格化ビーム径φ=φf/φoと、前記信号光の強度との関係を、前記対物レンズへ向かう照明光のパワーが一定という条件下で調べる計算手順と、
前記計算手順で調べた関係に基づき、前記規格化ビーム径φの設定を行う設定手順と、
を含むことを特徴とする非線形光学顕微鏡の調整方法。
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Cited By (8)
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---|---|---|---|---|
CN102540447A (zh) * | 2012-02-17 | 2012-07-04 | 中国科学技术大学 | 一种俘获及探测复用的扫描光镊系统 |
CN102706846A (zh) * | 2012-06-14 | 2012-10-03 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 近红外激光扫描共聚焦成像系统 |
JP2012198276A (ja) * | 2011-03-18 | 2012-10-18 | Yokogawa Electric Corp | 顕微鏡装置、観察方法および試料搭載機構 |
JP2013054146A (ja) * | 2011-09-02 | 2013-03-21 | Nikon Corp | 対物レンズユニット及びこの対物レンズユニットを有する走査型顕微鏡 |
JP2014235407A (ja) * | 2013-06-05 | 2014-12-15 | オリンパス株式会社 | 非線形光学顕微鏡装置 |
CN104406528A (zh) * | 2014-11-25 | 2015-03-11 | 中国科学技术大学 | 一种基于光学俘获的原位校准压电平台位移的方法 |
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---|---|---|---|---|
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006275917A (ja) * | 2005-03-30 | 2006-10-12 | Olympus Corp | 多光子励起型観察装置および多光子励起型観察用光源装置 |
JP2010008989A (ja) * | 2007-07-17 | 2010-01-14 | Olympus Corp | 顕微鏡対物レンズおよびレーザー走査型顕微鏡システム |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006275917A (ja) * | 2005-03-30 | 2006-10-12 | Olympus Corp | 多光子励起型観察装置および多光子励起型観察用光源装置 |
JP2010008989A (ja) * | 2007-07-17 | 2010-01-14 | Olympus Corp | 顕微鏡対物レンズおよびレーザー走査型顕微鏡システム |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012198276A (ja) * | 2011-03-18 | 2012-10-18 | Yokogawa Electric Corp | 顕微鏡装置、観察方法および試料搭載機構 |
JP2013054146A (ja) * | 2011-09-02 | 2013-03-21 | Nikon Corp | 対物レンズユニット及びこの対物レンズユニットを有する走査型顕微鏡 |
CN102540447A (zh) * | 2012-02-17 | 2012-07-04 | 中国科学技术大学 | 一种俘获及探测复用的扫描光镊系统 |
CN102706846A (zh) * | 2012-06-14 | 2012-10-03 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 近红外激光扫描共聚焦成像系统 |
JP2014235407A (ja) * | 2013-06-05 | 2014-12-15 | オリンパス株式会社 | 非線形光学顕微鏡装置 |
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