JP2010085222A - 質量分析装置及び質量分析方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】導入した被検出ガスに対して、フラグメントフリーの被検出イオンを生じさせるイオン化室100と、イオン化室から輸送される被検出イオンを質量分別して検出する質量分析計160を備えた質量分析室140と、を有する質量分析装置において、液体試料あるいは固体試料を保持し、加熱手段により加熱することで液体試料あるいは固体試料から被検出ガスを生じさせるプローブ111を有し、プローブで生じた被検出ガスをイオン化室へ輸送するガスの導入手段170を有する。
【選択図】図1
Description
イオン付着質量分析装置(Ion Attachment Mass Spectrometer)は、解離を発生させずに被検出ガスを質量分析することができるという利点を有している。従来、非特許文献1や非特許文献2、非特許文献3、特許文献1によって、イオン付着質量分析装置の報告がなされている。
前記イオン化室から輸送される前記被検出イオンを質量分別して検出する質量分析計を備えた質量分析室と、
を有する質量分析装置において、
液体試料あるいは固体試料を保持し、加熱手段により加熱することで前記液体試料あるいは固体試料から前記被検出ガスを生じさせるプローブを有し、
前記プローブで生じた前記被検出ガスを前記イオン化室へ輸送するガスの導入手段を有することを特徴とする。
前記イオン化室から輸送される前記被検出イオンを質量分別して検出する質量分析計を備えた質量分析室と、
液体試料あるいは固体試料を保持し、加熱手段により加熱することで前記液体試料あるいは固体試料から前記被検出ガスを生じさせるプローブとを有する質量分析装置を用いた質量分析方法において、
前記プローブで加熱により生じた前記被検出ガスを、前記イオン化室へ前記被検出ガスを輸送するガスとともに、前記イオン化室へ導入することを特徴とする。
(第一の実施形態)
図1に本発明の第一の実施形態である質量分析装置を示す。
(第二の実施形態)
図4に本発明の第二の実施形態である質量分析装置を示す。プローブ111の先端に設置された、保持部となる試料カップ112が複数となっている以外は図1と同じである。すなわち、試料カップ112(内部に試料113を有する)を大気側から真空中の試料気化室までに導入するには、プローブ111を予備排気室やバルブ(いずれも図示せず)を経由して挿入する必要があり、これらの操作時間がネックとなっている。しかし、本実施例のように、プローブ111に複数の試料カップ112(試料113)が設置されていれば、単にプローブ111を移動するだけで速やかに次の試料の測定を行なうことが出来る。このようにプローブ111のいずれの場所に試料カップ112を設置できるのは、接続管120入口付近で狭いギャップを持ちながらプローブ111が自由に移動できるからである。
106 中性気相分子
107 エミッタ
108 金属イオン
109 イオン付着分子
110 試料気化室
111 プローブ
112 試料カップ
113 試料
120 接続管
130 第一の容器
140 第二の容易器
150 真空ポンプ
160 質量分析計
170 第三体用ガスボンベ
180 被検出イオン生成領域
Claims (8)
- 導入した被検出ガスに対して、フラグメントフリーの被検出イオンを生じさせるイオン化室と、
前記イオン化室から輸送される前記被検出イオンを質量分別して検出する質量分析計を備えた質量分析室と、
を有する質量分析装置において、
液体試料あるいは固体試料を保持し、加熱手段により加熱することで前記液体試料あるいは固体試料から前記被検出ガスを生じさせるプローブを有し、
前記プローブで生じた前記被検出ガスを前記イオン化室へ輸送するガスの導入手段を有することを特徴とする質量分析装置。 - 前記イオン化室内の被検出イオン生成領域を通る水平面より下方に前記プローブは配置されることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 前記導入手段により導入される前記ガスが、第三体ガスであることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の質量分析装置。
- 前記プローブは、前記液体試料あるいは固体試料を保持する保持部を備え、該保持部は複数設けられていることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の質量分析装置。
- 接続管を介して前記イオン化室と接続される試料気化室を有し、前記プローブは該試料気化室内に配置され、前記導入手段は前記試料気化室に接続されていることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の質量分析装置。
- 前記プローブの前記接続管周囲又は前記試料気化室の前記接続管周囲に、前記接続管と前記プローブとの間隔を規定する凸部を有することを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の質量分析装置。
- 前記凸部を流れる前記第三体ガスは、粘性流であることを特徴とする請求項6に記載の質量分析装置。
- 導入した被検出ガスに対して、フラグメントフリーの被検出イオンを生じさせるイオン化室と、
前記イオン化室から輸送される前記被検出イオンを質量分別して検出する質量分析計を備えた質量分析室と、
液体試料あるいは固体試料を保持し、加熱手段により加熱することで前記液体試料あるいは固体試料から前記被検出ガスを生じさせるプローブとを有する質量分析装置を用いた質量分析方法において、
前記プローブで加熱により生じた前記被検出ガスを、前記イオン化室へ前記被検出ガスを輸送するガスとともに、前記イオン化室へ導入することを特徴とする質量分析方法。
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