JP2010066102A - 評価装置、校正方法、校正プログラム、及び、記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】
撮像装置110は、所定のパタンで配置された複数の撮像位置から特定評価対象物200を撮像する撮像動作を、撮像位置全体をシフトしながら繰り返す。制御装置120は、複数組の撮像画像群の各々から高解像度画像を生成し、生成した高解像度画像の各々に基づいて評価値を算出する。そして、算出した評価値群と基準評価値群とを比較して、校正のために評価値乗じる係数を設定する。
【選択図】図1
Description
評価対象物を撮像して得られた撮像画像に基づいて当該評価対象物の評価値を算出する評価装置であって、
所定のパタンで配置された複数の撮像位置から特定評価対象物を撮像する撮像動作を、該複数の撮像位置全体をシフトしながら繰り返すよう撮像装置を制御する制御手段と、
繰り返された撮像動作の各々において上記撮像装置により撮像された撮像画像群から該撮像装置の撮像解像度より高解像度の高解像度画像を生成する生成手段と、
上記生成手段により生成された高解像度画像の各々に基づいて評価値を算出する算出手段と、
当該評価装置の校正のために評価値に乗じる係数を、上記算出手段により算出された評価値群の分布を特徴付ける特徴量に対する、予め設定された基準評価値群の分布を特徴付ける特徴量の比に設定する設定手段と、を備えている、ことを特徴としている。
上記基準評価値群は、上記撮像装置が適正な状態に調整されているときに、上記算出手段により算出される評価値群である、ことが好ましい。
評価対象物を撮像して得られた撮像画像に基づいて当該評価対象物の評価値を算出する評価装置の校正方法であって、
複数の撮像位置から特定評価対象物を撮像する撮像動作を、該複数の撮像位置全体をシフトしながら繰り返すよう撮像装置を制御する制御工程と、
繰り返された撮像動作の各々において上記撮像装置により撮像された撮像画像群から該撮像装置の撮像解像度より解像度の高い高解像度画像を生成する生成工程と、
上記生成工程において生成された高解像度画像の各々に基づいて評価値を算出する算出工程と、
当該評価装置の校正のために評価値に乗じる係数を、上記算出工程において算出された評価値群の分布を特徴付ける特徴量に対する、予め設定された基準評価値群の分布を特徴付ける特徴量の比に設定する設定工程と、を含んでいる、ことを特徴としている。
まず、本実施形態に係る評価装置100の構成について、図1を参照して説明する。図1は、評価装置100の構成を示した図である。図1に示したように、評価装置100は、撮像装置110と、制御装置120と、表示装置130とを備えている。
次に、評価装置100が具備する撮像装置110の詳細について、再び図1を参照して説明する。上述したとおり、撮像装置110は、光学系111と、固体撮像素子112と、アクチュエータ113とにより構成されている。
制御装置120は、撮像装置110から取得した撮像画像に基づいて評価値Xを算出する。ただし、算出された評価値Yそのものに基づいて評価対象物200の良否を判定するのではなく、算出された評価値Yに係数αを乗じた評価値Y´=αYに基づいて評価対象物200の良否を判定する。この係数αは、評価装置100の校正用パラメータである。すなわち、光学系111の状態が悪化しても、制御装置120は、この係数αを設定し直すことによって、正しい評価値Y´=αYを得ることができる。つまり、制御装置120は、光学系111を物理的に再調整することなく、評価装置100の校正を行うことができる。
係数αを設定するために、まず、所定のテストパタンを評価対象物200とした撮像工程が実施される。テストパタンの一例を図3に示す。このテストパタンの中心部には、固体撮像装置111の1画素サイズよりも小さな模擬欠陥が設けられている。
撮像工程に続いて高解像度化工程が実施される。高解像度化工程においては、高解像度化処理部123が、撮像画像群G1={P11,P12,…,P1M}を画像データ保存部122から読み出すとともに、読み出した撮像画像群G1から高解像度化処理によって高解像度画像P1を生成する。また、同様の処理を他の撮像画像群G2,G3,…,GNについても繰り返し、N枚の高解像度画像P1,P2,…,PNを生成する。
高解像度化工程に続いて評価値算出工程が実施される。評価値算出工程においては、評価値算出部124が、高解像度画像P1を高解像度化処理部123から取得するとともに、取得した高解像度画像P1に基づいて評価値Y1を算出する。また、同様の処理を他の高解像度画像P2,P3,…,PNについても繰り返し、N個の評価値Y1,Y2,…,YNを算出する。具体的には、評価値Yiとして、コントラスト体積を算出する。
評価値算出工程に続いて係数決定工程が実施される。係数決定工程においては、係数設定部125が、校正のために評価値Xに乗じる係数αを、評価値算出工程にて算出された評価値群{Y1,Y2,…,YN}と、基準評価値群{X1,X2,…,XN}とに基づいて設定する。設定された係数αは、後述するように、校正情報保存部127に保存される。
以上のようにして係数αの設定が完了すると後処理工程が実施される。後処理工程においては、校正後評価値判定部126が、新たに設定された係数αを用いた校正を行なうか否かを判断する。校正を行なう場合、校正後評価値判定部126は、校正情報保存部127に保存されている係数αを、新たに設定された係数αに置き換える(これにより、以後、新たに設定された係数αを用いた校正が行なわれることになる)。校正を行なわない場合、光学系調整指示部128が、光学系の物理的な再調整を促すメッセージを、ユーザに提示する(ここでは、当該メッセージを表示部140に表示させることによって提示を行なうが、音声による提示を行なうなどしてもよい)。
最後に、制御装置120に含まれる各ブロックは、ハードウェアロジックによって構成してもよいし、次のようにCPUを用いてソフトウェアによって実現してもよい。
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能である。すなわち、請求項に示した範囲で適宜変更した技術的手段を組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
110 撮像装置
111 光学系
112 固体撮像素子(撮像素子)
113 アクチュエータ(駆動機構)
120 制御装置
121 アクチュエータ制御部(制御手段)
122 画像データ保存部
123 高解像度化処理部(生成手段)
124 評価値算出部(算出手段)
125 係数設定部(設定手段)
126 校正後評価値判定部
127 校正情報保存部
128 光学系調整指示部(提示手段)
130 表示装置
Claims (10)
- 評価対象物を撮像して得られた撮像画像に基づいて当該評価対象物の評価値を算出する評価装置であって、
所定のパタンで配置された複数の撮像位置から特定評価対象物を撮像する撮像動作を、該複数の撮像位置全体をシフトしながら繰り返すよう撮像装置を制御する制御手段と、
繰り返された撮像動作の各々において上記撮像装置により撮像された撮像画像群から該撮像装置の撮像解像度より高解像度の高解像度画像を生成する生成手段と、
上記生成手段により生成された高解像度画像の各々に基づいて評価値を算出する算出手段と、
当該評価装置の校正のために評価値に乗じる係数を、上記算出手段により算出された評価値群の分布を特徴付ける特徴量に対する、予め設定された基準評価値群の分布を特徴付ける特徴量の比に設定する設定手段と、を備えている、
ことを特徴とする評価装置。 - 上記制御手段は、上記撮像装置が備えている撮像素子を駆動する駆動機構を制御するものであり、上記複数の撮像位置を巡回するように該撮像素子を駆動する駆動動作を、該複数の撮像位置全体をシフトしながら繰り返すよう該駆動機構を制御する、
ことを特徴とする請求項1に記載の評価装置。 - 上記基準評価値群は、上記撮像装置が適正な状態に調整されているときに、上記算出手段により算出される評価値群である、
ことを特徴とする請求項1に記載の評価装置。 - 上記適正な状態は、上記撮像装置が備えている対物レンズの光軸が上記評価対象物の評価対象面と直交し、かつ、該対物レンズを介して入射した入射光が該撮像装置が備えている撮像素子の受光面上に合焦した状態である、
ことを特徴とする請求項3に記載の評価装置。 - 上記特徴量は、平均値、最大値、最小値、分散、もしくは標準偏差のうちの何れか、または、これらの組み合わせである、
ことを特徴とする請求項1から4までの何れか1項に記載の評価装置。 - 上記算出手段により算出された評価値群のばらつきの大きさが所定の閾値より小さい場合に限って、上記設定手段により設定された係数を用いた評価値の校正を行なう、ことを特徴とする請求項1から5までのいずれか1項に記載の評価装置。
- 上記算出手段により算出された評価値群のばらつきの大きさが所定の閾値より大きい場合に、上記撮像装置の物理的な調整を促すメッセージを提示する提示手段を備えている、
ことを特徴とする請求項6に記載の評価装置。 - 評価対象物を撮像して得られた撮像画像に基づいて当該評価対象物の評価値を算出する評価装置の校正方法であって、
所定のパタンで配置された複数の撮像位置から特定評価対象物を撮像する撮像動作を、該複数の撮像位置全体をシフトしながら繰り返すよう撮像装置を制御する制御工程と、
繰り返された撮像動作の各々において上記撮像装置により撮像された撮像画像群から該撮像装置の撮像解像度より解像度の高い高解像度画像を生成する生成工程と、
上記生成工程において生成された高解像度画像の各々に基づいて評価値を算出する算出工程と、
当該評価装置の校正のために評価値に乗じる係数を、上記算出工程において算出された評価値群の分布を特徴付ける特徴量に対する、予め設定された基準評価値群の分布を特徴付ける特徴量の比に設定する設定工程と、を含んでいる、
ことを特徴とする校正方法。 - コンピュータに請求項8に記載の校正方法を実行させるため校正プログラムであって、該コンピュータに上記各工程を実行させる校正プログラム。
- 請求項9に記載の校正プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
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