JP2010054217A - 電圧低下検出回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】電圧低下検出回路21を、ピークホールド回路22と、コンパレータ23とで構成したので、リセット信号を出力するか否かの比較基準が常に電源電圧VDDのピークレベルとなるから、電源を供給する側の個体差が問題とならず、個体差のばらつきを吸収するためのマージンが不要となる。
【選択図】図1
Description
そこで、マイクロコンピュータでは、電源電圧VDDが下限閾値(リセット電圧)を下回ったことを検出すると、リセット信号を出力してCPUを含むシステムをリセットし、初期状態から処理を再開させるため、リセット回路が設けられている。
リセット回路12は、電源VDDとグランドとの間に接続される抵抗素子13及び14の直列回路と、非反転入力端子が抵抗素子13及び14の共通接続点に接続されるコンパレータ15と、そのコンパレータ15の反転入力端子に基準電圧Vref2を出力する基準電圧回路16とを備えている。そして、コンパレータ15の出力端子より、ロジック回路部11に対してリセット信号が出力される。
γ=(R1+R2)/R2である。
以下、本発明の第1実施例について図1乃至図3を参照して説明する。尚、図9と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分について説明する。電圧低下検出回路21は、ピークホールド回路22と、コンパレータ23(検出信号出力手段)とで構成されている。
これに対して、図3(a)に示す電圧低下検出回路21の場合は、個体(1)〜(3)の電源電圧VDDが許容範囲内でどのようにばらついたとしても、リセット信号は、それぞれの各個体の正常安定レベルを基準とし、ばらつきに応じて出力されるので、個体間のばらつきが全く問題なくなる。
図4及び図5は本発明の第2実施例を示すものであり、第1実施例と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分について説明する。図4(a)に示すように、第2実施例の電圧低下検出回路31は、第1実施例の電圧低下検出回路21におけるコンパレータ23を、ピークレベルに対して所定のオフセットを持たせた閾値に基づき電圧低下を検出する比較器32(検出信号出力手段)に置き換えたものであり、図4(b)は、その具体構成例を示す。
図6は本発明の第3実施例を示すものであり、第2実施例と異なる部分について説明する。第3実施例は、第2実施例の比較器32に替わって、同様にオフセット特性を持たせた比較器37(検出信号出力手段)の他の構成例を示す。比較器37は、電源側でミラー対を構成するPチャネルMOSFET38,39と、FET38のドレインとグランドとの間に接続される抵抗素子40とで構成されている。信号入力側の差動部は、ソースがFET39のドレインに共通に接続されて、差動対を構成するPチャネルMOSFET41,42と、これらのFET41,42のドレインとグランドとの間に接続されるNチャネルMOSFET43,44とで構成され、FET41,42のゲートが、オペアンプ34の入力端子IN+,IN−となっている。
図7及び図8本発明の第4実施例を示すものであり、第2実施例と異なる部分について説明する。第4実施例の電圧低下検出回路51は、第2実施例の構成に、比較器52(初期信号出力手段)及びORゲート53を追加したものである。比較器52は、比較器32と並列に接続されており、電源回路1が動作を開始して電圧Voutがゼロレベルから立ち上がる場合に、パワーオンリセット信号を出力するように構成されている。
すなわち、図8に示すように、電圧Voutが立ち上がってピークレベル、すなわち、正常安定レベルに達するまでの低電圧期間に、比較器32に替わりパワーオンリセット信号を、ORゲート53を介して出力する。斯様に構成すれば、パワーオンリセット信号が必要なシステムにも本発明を適用することができる。
第4実施例の構成を、第1,第3実施例に適用しても良い。
電源電圧等の設定は、個別の設計に応じて適宜変更すれば良い。
Claims (3)
- 電源電圧の低下を検出すると検出信号を出力する電圧低下検出回路であって、
前記電源電圧のピークレベルを保持するピークホールド回路と、
このピークホールド回路により保持されたピークレベルに対し、前記電源電圧が低下したことを検出すると、前記検出信号を出力する検出信号出力手段とを備えたことを特徴とする電圧低下検出回路。 - 前記検出信号出力手段を、前記ピークレベルに対し所定のオフセットを持たせた判定閾値に基づいて、前記検出を行う比較器で構成したことを特徴とする請求項1記載の電圧低下検出回路。
- 前記電源の立ち上がり時において、前記電源電圧が正常安定状態に達するまでの期間に、前記検出信号出力手段に替わって前記検出信号を出力する初期信号出力手段を備えたことを特徴とする請求項1又は2記載の電圧低下検出回路。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20170131456A (ko) * | 2015-03-27 | 2017-11-29 | 퀄컴 인코포레이티드 | 다중-입력 스케일러블 정류기 드루프 검출기 |
CN112234966A (zh) * | 2020-11-03 | 2021-01-15 | 深圳佑驾创新科技有限公司 | 复位电路 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6223349U (ja) * | 1985-07-23 | 1987-02-12 | ||
JPS6329268A (ja) * | 1986-07-23 | 1988-02-06 | Toshiba Corp | 直流出力電源の出力特性測定装置 |
JPS63109538U (ja) * | 1986-12-28 | 1988-07-14 | ||
JPH03158768A (ja) * | 1989-11-16 | 1991-07-08 | Ricoh Co Ltd | 電圧変動検出回路 |
JPH07114401A (ja) * | 1993-10-20 | 1995-05-02 | Hitachi Ltd | Ramバックアップ回路 |
JPH10253669A (ja) * | 1997-03-10 | 1998-09-25 | Seiko Epson Corp | 電圧検出回路及び電子機器 |
JP2007306351A (ja) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Denso Corp | パワーオンリセット回路 |
-
2008
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6223349U (ja) * | 1985-07-23 | 1987-02-12 | ||
JPS6329268A (ja) * | 1986-07-23 | 1988-02-06 | Toshiba Corp | 直流出力電源の出力特性測定装置 |
JPS63109538U (ja) * | 1986-12-28 | 1988-07-14 | ||
JPH03158768A (ja) * | 1989-11-16 | 1991-07-08 | Ricoh Co Ltd | 電圧変動検出回路 |
JPH07114401A (ja) * | 1993-10-20 | 1995-05-02 | Hitachi Ltd | Ramバックアップ回路 |
JPH10253669A (ja) * | 1997-03-10 | 1998-09-25 | Seiko Epson Corp | 電圧検出回路及び電子機器 |
JP2007306351A (ja) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Denso Corp | パワーオンリセット回路 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20170131456A (ko) * | 2015-03-27 | 2017-11-29 | 퀄컴 인코포레이티드 | 다중-입력 스케일러블 정류기 드루프 검출기 |
KR102479541B1 (ko) * | 2015-03-27 | 2022-12-19 | 퀄컴 인코포레이티드 | 다중-입력 스케일러블 정류기 드루프 검출기 |
CN112234966A (zh) * | 2020-11-03 | 2021-01-15 | 深圳佑驾创新科技有限公司 | 复位电路 |
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