JP2010040810A - 半導体発光装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】出射光の回折効率を向上させることが可能な半導体発光素子を提供する。
【解決手段】このLEDチップ10(半導体発光装置)は、半導体発光素子層4と、半導体発光素子層4の光の出射方向(C2方向)側の表面上に形成された多孔質膜8とを備え、多孔質膜8は、膜の厚み方向(C1方向)に延びるように形成された複数の細孔8を含む。
【選択図】図3

Description

本発明は、半導体発光装置に関し、特に、半導体発光素子層と電極とを備えた半導体発光装置に関する。
従来、LEDチップから出射されるLED光には指向性があり、特に、半導体素子層のpn接合面に対して垂直方向に強く発光することが知られている。すなわち、LEDチップは、発光面に垂直な方向に明るく発光する一方、発光面に対して斜め方向には若干暗めに発光する傾向がある。このため、たとえば、LEDチップを液晶ディスプレイのバックライトなどに適用した場合、LED光の指向性に起因して、ディスプレイの視野角が狭くなるという不都合があった。また、紫外光を発するLEDチップに蛍光体による波長変換を行った白色LEDでは、光強度の大きい方向において波長変換作用が飽和することにより紫外光の一部がLEDチップの外部に放射されるため、LEDチップの発光観察面に色むらが発生するという不都合があった。
そこで、従来、LEDチップ上に多孔質構造を有する光透過性膜を備えた半導体発光素子が提案されている(たとえば、特許文献1参照)。
上記特許文献1には、LEDチップと、LEDチップ上に多孔質構造を有する光透過性膜とを備えた半導体発光素子が開示されている。この半導体発光素子では、光透過性膜が、半導体素子層の発光面(上面)の所定の領域上に形成されている。したがって、光透過性膜は、出射光が光透過性膜を透過する際に内部に形成された細孔の内壁部や膜の表面の凹凸部における光の回折によって出射光を散乱させることが可能に構成されている。これにより、出射光は、半導体素子層の発光面と光透過性膜との界面における全反射が抑制された状態で光透過性膜を介して素子外部に効率よく放射されるように構成されている。なお、この光透過性膜は、凍結乾燥工程を用いたゾルゲル法によって、スポンジ状または軽石状のような多数の孔が膜内に形成されている。なお、ゾルゲル法とは、金属の無機または有機化合物の溶液を出発材料とし、この溶液を化合物の加水分解反応および重合反応を経て金属酸化物または水酸化物の微粒子が溶解したゾルと、さらに反応を促進させて形成した多孔質状のゲルとを経て膜を形成する技術である。したがって、光透過性膜は、膜内を厚み方向(縦方向)に延びる孔や面方向(横方向)に延びる孔や斜め方向に延びる孔などが混在した状態に形成されている。
特開2005−191219号公報
しかしながら、上記特許文献1に開示された半導体発光素子では、多孔質構造を有する光透過性膜を用いることによって、回折された透過光にはある程度の光散乱効果が見込まれると考えられる一方、光透過性膜には、膜の厚み方向(縦方向)や面方向(横方向)や斜め方向に延びる孔などが混在した状態で形成されているため、LED光の出射方向に沿った方向に延びる孔と、LED光の出射方向以外の方向に延びる孔とでは、透過光の回折効率が互いに異なると考えられる。したがって、光透過性膜には、回折効率の良好な部分と回折効率の良好でない部分とが混在するので、出射光の回折効率が向上されない場合があるという問題点がある。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、出射光の回折効率を向上させることが可能な半導体発光素子を提供することである。
課題を解決するための手段および発明の効果
上記目的を達成するために、この発明の一の局面による半導体発光装置は、半導体発光素子層と、半導体発光素子層の光の出射方向側の表面上に形成された多孔質膜とを備え、多孔質膜は、膜の厚み方向に延びるように形成された複数の細孔を含む。
この発明の一の局面による半導体発光装置では、上記のように、半導体発光素子層の光の出射方向側の表面上に形成された多孔質膜が、膜の厚み方向に延びるように形成された複数の細孔を含むことによって、多孔質膜には、半導体発光素子層からの出射光が出射する方向に沿って複数の細孔が形成されているので、半導体発光素子層からの出射光を略一定レベルの回折効率によって回折(光散乱)させて外部に出射させることができる。また、一般的に、表面に矩形形状などからなる凹凸形状を有する回折格子では、光の出射方向に沿った凹部の深さ(凸部の高さ)の最適化が、回折効率の向上に寄与することが知られている。これにより、本発明の多孔質膜には、半導体発光素子層からの出射光が出射する方向に沿って延びる細孔が形成されているので、膜の厚み方向や面方向や斜め方向に延びる孔などが混在した多孔質膜とは異なり、良好な回折効率を有する光拡散膜として用いることができる。この結果、出射光の回折効率を向上させることができる。
また、半導体発光素子層の光の出射方向側の表面上に形成された多孔質膜が、膜の厚み方向に延びるように形成された複数の細孔を含むことによって、多孔質膜の厚みを適宜調整することによって、出射光の波長に対する細孔の深さ(長さ)を制御することができる。なお、表面に矩形形状などからなる凹凸形状を有する回折格子では、凹部の深さ(凸部の高さ)を透過光の波長よりも数倍程度長く形成することによって回折効率がより向上されることが知られている。したがって、出射光の波長に対する細孔の深さを最適化することにより、多孔質膜から外部に出射される出射光の回折効率を容易に向上させることができる。
上記一の局面による半導体発光装置において、好ましくは、複数の細孔は、平面的に見て、異なる間隔を隔てて不規則的に配置されている。このように構成すれば、出射光が多孔質膜の表面の凹凸部分において回折する際、細孔と細孔との間隔(回折格子周期)が不規則的に形成されているので、たとえば、隣接する細孔と細孔との間隔が相対的に大きい部分では小さな回折角度の回折光が生じる一方、隣接する細孔と細孔との間隔が相対的に小さい部分では大きな回折角度の回折光が生じる。したがって、細孔間の間隔が不規則性を有する多孔質膜の表面では、小さな回折角度の回折光と大きな回折角度の回折光とが重ね合わされて、多様な回折角度を有する回折光が外部に出射される。この結果、回折光をより広い角度で広範囲に散乱させることができる。
上記一の局面による半導体発光装置において、好ましくは、半導体発光素子層の光の出射方向側の表面上に形成された電極をさらに備え、多孔質膜は、少なくとも一部が電極の表面上に重なるように配置される。このように構成すれば、半導体発光素子層からの出射光が多孔質膜を透過する際、出射光が多孔質膜の表面の凹凸部分において回折を起こすので、回折による回折光(散乱光)が、電極の表面上に重なるように配置された多孔質膜の領域にも回り込みながら伝搬する。これにより、半導体発光素子層からの出射光を、電極が形成されていない発光面上の多孔質膜のみならず、電極が形成されている発光面上の多孔質膜の表面からも外部に出射させることができるので、発光面に出射光の輝度が相対的に高い領域と低い領域との差が顕著に生じるのが抑制される。この結果、発光面に色むらが発生するのが抑制されるので、出射光の均一性を向上させることができる。
上記一の局面による半導体発光装置において、好ましくは、電極上に形成された絶縁膜をさらに備え、多孔質膜は、絶縁膜を介して電極の表面上に形成されている。このように構成すれば、製造プロセス上、金属膜の陽極酸化によって多孔質膜を形成する際、金属膜のみならず電極が酸化したり半導体発光素子層を侵食(酸化)したりするのを絶縁膜によって容易に抑制することができる。
上記一の局面による半導体発光装置において、好ましくは、光の波長を変換する蛍光体を含む波長変換部をさらに備え、波長変換部は、多孔質膜の細孔内に充填されている。このように構成すれば、多孔質膜を透過するLED光の光密度が最も高くなる細孔内に波長変換部が充填されているので、LED光の波長の変換効率を向上させることができる。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
図1〜図4は、それぞれ、本発明によるLEDチップの概略的な構成を説明するための断面図および平面図である。まず、図1〜図4を参照して、本発明の具体的な実施形態を説明する前に、本発明による半導体発光装置の一例であるLEDチップの概略的な構成について、LEDチップ10を例として説明する。
本発明によるLEDチップ10は、図1に示すように、第1半導体1上に、発光層2および第2半導体3が積層されることにより半導体発光素子層4が形成されている。また、半導体発光素子層4の第1半導体1の下面上には、第1電極5が形成されているとともに、第2半導体3上の所定の領域には、第2電極6が形成されている。
ここで、第2半導体3上の第2電極6が形成されていない領域4a上と、第2電極6の所定の領域6a上とを覆うように、SiOなどからなる絶縁膜7が形成されるとともに、絶縁膜7上にアルミナなどからなる多孔質膜8が形成されている。なお、第2電極6は、本発明の「電極」の一例である。
また、図2に示すように、多孔質膜8には、大小様々な大きさ(内径)を有する複数の細孔9が、互いに不規則な間隔を隔てて配置されている。また、細孔9は、隣接する細孔9と細孔9との平均的な間隔L1(細孔9と細孔9との中心間距離)が数十nm以上数百nm以下の範囲に形成されるのが好ましく、特にLEDチップ10の発光波長と同程度の大きさを有するのがより好ましい。
また、各々の細孔9は、図3に示すように、多孔質膜8の表面から絶縁膜7に向かってC1方向に略直線的に延びる細孔列の状態として形成されている。また、細孔9は、平均的な内径D1の約10倍以上の深さH1を有するように形成されている。また、細孔9は、LEDチップ10が有する発光波長λの約10倍以上の深さH1を有する(H1≧10×λ)ように形成されるのが好ましい。
また、細孔9の底部9aは、細孔9同志の間隔L1と同程度の厚みを残して多孔質膜8を貫通しないように形成されている。なお、図3では、各々の細孔9が個々に独立して形成されている状態を示しているが、製造プロセス上、隣接する細孔9同志が繋がっている場合もある。また、底部9a近傍の膜の内部には、多孔質膜8を形成する際に用いるAlの金属部分8aが部分的に残されている。
したがって、図4に示すように、多孔質膜8では、絶縁膜7を透過してC2方向に出射されたLED光が多孔質膜8を透過する際に、多孔質膜8の上面(C2方向側)の凹凸形状(細孔9の部分を凹部とすると、隣接する細孔9に挟まれた多孔質膜8の部分が凸部になる)によって回折を起こすように構成されている。また、隣接する細孔9と細孔9との間隔L1(図3参照)が不規則的であるので、隣接する細孔9と細孔9との間隔L1が相対的に大きい部分では小さな回折角度(C2方向に対する回折後の光の出射角度)の回折光が生じる一方、隣接する細孔9と細孔9との間隔L1が相対的に小さい部分では大きな回折角度の回折光が生じる。したがって、多孔質膜8の上面では、小さな回折角度の回折光と大きな回折角度の回折光とが重ね合わされて、多様な回折角度を有する回折光が外部に出射されるように構成されている。
また、図1に示すように、第2電極6の領域6a以外の領域6bは、LEDチップ10の外部に露出するように形成されている。そして、領域6bに、Auなどからなる金属ワイヤ(図示せず)が接続されるように構成されている。
また、一般的に、第1半導体1および第2半導体3の間に、第1半導体1および第2半導体3のバンドギャップよりも小さいバンドギャップを有する発光層2を形成して二重ヘテロ構造を形成することによって、発光層2にキャリアを閉じ込めやすくすることができる。これにより、LEDチップ10の発光効率を向上させることが可能である。また、発光層2を単一量子井戸(SQW)構造や多重量子井戸(MQW)構造とすることにより、さらに発光効率を向上させることが可能である。この量子井戸構造の場合、井戸層の厚みが小さいので、井戸層が歪みを有する場合においても、井戸層の結晶性が悪化するのを抑制することができる。なお、井戸層は、発光層2の主表面2a(図1参照)の面内方向に圧縮歪みを有する場合であっても、面内方向に引っ張り歪みを有する場合であっても、結晶性が悪化するのが抑制される。また、発光層2は、アンドープでもよく、ドーピングされていてもよい。
また、本発明において、第1半導体1は、基板または半導体層により構成されていてもよいし、基板と半導体層との両方により構成されていてもよい。また、第1半導体1が基板と半導体層との両方により構成される場合、基板は、第1半導体1の第2半導体3が形成される側とは反対側(第1半導体1の下面側)に形成される。また、この場合、基板は、成長用基板であってもよいし、半導体層を成長させた後に半導体層の成長面(主表面)に半導体層を支持する支持基板として用いてもよい。
また、基板として、GaN基板やα−SiC基板を用いることができる。GaN基板およびα−SiC基板上には、基板と同じ主表面を有する窒化物系半導体層が形成される。たとえば、α−SiC基板のc面、a面およびm面上には、それぞれ、c面、a面およびm面を主表面とする窒化物系半導体層が形成される。また、サファイア基板やLiAlO基板またはLiGaO基板などの絶縁性の基板を用いることも可能である。
また、pn接合型のLEDチップ10では、第1半導体1と第2半導体3とは互いに異なる導電性を有する。第1半導体1がp型であり第2半導体3がn型であってもよいし、第1半導体1がn型であり第2半導体3がp型であってもよい。
また、第1半導体1および第2半導体3は、発光層2よりもバンドギャップの大きいクラッド層(図示せず)などを含んでいてもよい。また、第1半導体1および第2半導体3は、それぞれ、発光層2側から近い順に、クラッド層とコンタクト層(図示せず)とを含んでいてもよい。この場合、コンタクト層は、クラッド層よりもバンドギャップが小さいことが好ましい。
また、量子井戸の発光層2としては、井戸層としてGaInN、障壁層として井戸層よりもバンドギャップの大きいAlGaN、GaNおよびGaInNを用いることができる。また、クラッド層およびコンタクト層としては、GaNおよびAlGaNを用いることができる。
また、第2電極6は、第2半導体3上の一部の領域に形成してもよい。また、第2電極6は、透光性を有するのがより好ましい。
本発明のLEDチップ10では、上記のように、半導体発光素子層4の光の出射方向(C2方向)側の表面上に形成された多孔質膜8が、膜の厚み方向(C1方向)に延びる複数の細孔9を含むことによって、多孔質膜8には、半導体発光素子層4からの出射光が出射する方向に沿って複数の細孔9が形成されているので、半導体発光素子層4からの出射光を略一定レベルの回折効率によって回折(光散乱)させてLEDチップ10の外部に向けて出射させることができる。また、一般的に、表面に矩形形状などからなる凹凸形状を有する回折格子では、光の出射方向に沿った凹部の深さ(凸部の高さ)の最適化が、回折効率の向上に寄与することが知られている。これにより、本発明の多孔質膜8には、半導体発光素子層4からの出射光が出射する方向に沿って延びる細孔9が形成されているので、膜の厚み方向や面方向や斜め方向に延びる孔などが混在した多孔質膜とは異なり、多孔質膜8を良好な回折効率を有する光拡散膜として用いることができる。この結果、LEDチップ10の出射光の回折効率を向上させることができる。
また、本発明では、半導体発光素子層4の光の出射方向(C2方向)側の表面上に形成された多孔質膜8が、膜の厚み方向(C1方向)に延びるように形成された複数の細孔9を含むことによって、多孔質膜8の厚みを適宜調整することによって、出射光の波長に対する細孔9の深さH1を制御することができる。なお、表面に矩形形状などからなる凹凸形状を有する回折格子では、凹部の深さ(凸部の高さ)を透過光の波長よりも数倍程度長く形成することによって回折効率がより向上されることが知られている。したがって、出射光の波長に対する細孔9の深さH1を最適化することにより、多孔質膜8から外部に出射される出射光の回折効率を容易に向上させることができる。
また、本発明では、複数の細孔9を、平面的に見て、異なる間隔L1を隔てて不規則的に配置することによって、出射光が多孔質膜8の表面の凹凸部分において回折する際、細孔9と細孔9との間隔(回折格子周期)が不規則的に形成されているので、隣接する細孔9と細孔9との間隔L1が相対的に大きい部分では小さな回折角度の回折光が生じる一方、隣接する細孔9と細孔9との間隔L1が相対的に小さい部分では大きな回折角度の回折光が生じる。したがって、細孔9間の間隔L1が不規則性を有する多孔質膜8の表面では、小さな回折角度の回折光と大きな回折角度の回折光とが重ね合わされて、多様な回折角度を有する回折光が外部に出射される。この結果、回折光をより広い角度で広範囲に散乱させることができる。
また、本発明では、半導体発光素子層4の表面上に形成した多孔質膜8を、第2電極6の一部の領域6aに重なるように配置することによって、半導体発光素子層4からの出射光が多孔質膜8を透過する際、出射光が多孔質膜8の表面の凹凸部分において回折を起こすので、回折による回折光(散乱光)が、第2電極6の領域6aに重なるように配置された多孔質膜8の領域にも回り込みながら伝搬する。これにより、半導体発光素子層4からの出射光を、第2電極6が形成されていない領域4a上の多孔質膜8のみならず、第2電極6が形成された領域6a上の多孔質膜8の表面からも外部に出射させることができるので、発光面に出射光の輝度が相対的に高い領域と低い領域との差が顕著に生じるのが抑制される。この結果、発光面に色むらが発生するのが抑制されるので、出射光の均一性を向上させることができる。
(第1実施形態)
図5および図6は、それぞれ、本発明の第1実施形態によるLEDチップの構造を示した断面図および平面図である。まず、図3、図5および図6を参照して、第1実施形態によるLEDチップ20の構造について説明する。なお、図5は、図6の100−100線における断面を部分的に示している。
本発明の第1実施形態によるLEDチップ20は、図6に示すように、A(B)方向(平面方向)に約200μm以上約1000μm以下の範囲の長さを有するとともに、C方向(図5参照)に約100μm以上約300μm以下の範囲の厚みを有するように形成されている。これにより、LEDチップ20は、上面の平面積に比べて側面の面積が小さい。したがって、LEDチップ20の出射光は、主に、LEDチップ20の上面(p側パッド電極16)側からこの面に垂直な方向(図5のC2方向)に出射する指向性を有している。また、LEDチップ20は、発光波長ピークが約420nm〜約480nmの青色光を発光するGaN系半導体層により構成されている。
また、図5に示すように、LEDチップ20は、GaNからなるn型GaN基板21上に、約1μmの厚みを有するn型AlGaNからなるn型クラッド層11と、約0.1μmの厚みを有するInGaNからなる発光層12とが形成されるとともに、発光層12上には、約0.4μmの厚みを有するp型AlGaNからなるp型クラッド層13が形成されている。これにより、半導体発光素子層14が形成されている。また、半導体発光素子層14のn型クラッド層11の下面上には、n型クラッド層11から近い順に、Al層、Pt層およびAu層からなり約1μmの厚みを有するn側オーミック電極15が形成されているとともに、p型クラッド層13上の所定の領域には、p型クラッド層13から近い順に、Ti層、Pd層およびAu層からなり約2μmの厚みを有するp側パッド電極16が形成されている。
ここで、第1実施形態では、p型クラッド層13上のp側パッド電極16が形成されていない開口部22(図6における破線300の内側の領域)上と、p側パッド電極16の所定の領域(開口部22に対応するp側パッド電極16の領域)上とを覆うように、約3μmの厚みを有するSiOなどからなる絶縁膜17が形成されるとともに、絶縁膜17上に約1μmの厚みを有するアルミナからなる多孔質膜30aが形成されている。なお、p側パッド電極16は、本発明の「電極」の一例である。
また、第1実施形態では、図6に示すように、多孔質膜30aには、大小様々な大きさ(内径)を有する複数の細孔31が、互いに不規則な間隔を隔てて配置されている。また、細孔31は、隣接する細孔31と細孔31との平均的な間隔L2(細孔31と細孔31との中心間距離)が、LEDチップ20の発光波長程度(約450nm)の大きさを有するように形成されている。
また、各々の細孔31は、図3に示した細孔9と同様に、多孔質膜30aの表面から絶縁膜17に向かってC1方向に略直線的に延びる細孔列の状態を形成している。また、細孔31は、平均的な内径D2の約10倍以上の深さH2を有するように形成されている。そして、細孔31の底部31aは、細孔31同志の間隔L2と同程度の厚みを残して多孔質膜30aを貫通しないように形成されている。なお、底部31a近傍の膜の内部には、多孔質膜30aを形成する際に用いるAlの部分(図3の金属部分8a)が残されている。
また、図5に示すように、p側パッド電極16は、LEDチップ20から外部に露出するワイヤボンド部16aを有している。このワイヤボンド部16aにAuなどからなる金属ワイヤ(図示せず)が接続されるように構成されている。
図7〜図11は、図5に示した第1実施形態によるLEDチップの製造プロセスを説明するための図である。次に、図6〜図11を参照して、第1実施形態によるLEDチップ20の製造プロセスについて説明する。
まず、有機金属気相成長(MOCVD)法により、n型GaN基板21の上面上に、n型クラッド層11、発光層12およびp型クラッド層13をこの順に形成する。そして、真空蒸着法を用いて、p型クラッド層13上の全面にp側パッド電極16を形成した後に、p側パッド電極16上にフォトリソグラフィによりレジストパターンを形成した後、そのレジストパターンをマスクとしてドライエッチングなどを行うことにより、p側パッド電極16に略円形状の開口部22が形成されるようなパターニングを行う。そして、リン酸系エッチング液によるウェットエッチングにより、p側パッド電極16上に残されたレジストを除去する。この結果、図7に示すようなウェハが形成される。
その後、図8に示すように、p側パッド電極16上および開口部22上を覆うように、SiOからなる絶縁膜17を形成する。さらに、真空蒸着法を用いて、絶縁膜17上に、メッキ法または蒸着法などを用いて、約0.7μmの厚みを有するAlからなる金属膜30を形成する。
ここで、第1実施形態の製造プロセスでは、図9に示すように、上記プロセスで形成されたウェハを、電解液40中で陽極酸化する。具体的には、ウェハ状態のLEDチップ20の金属膜30の部分とPtなどからなる陰極板41とを硫酸などの水溶液からなる電解液40中で通電させる。なお、ウェハの表面(LEDチップ20の表面)および側面(LEDチップ20の側面)が電解液40に直接的に接触しないように、ウェハの表面および側面を保護膜42により保護するのが好ましい。この保護膜42によって、p側パッド電極16が酸化されるのが抑制されるとともに、金属膜30のみを陽極酸化させることが可能である。なお、ウェハ表面および側面の保護膜42は、加熱によって剥離が可能な材質からなる補強シートであってもよい。これにより、素子分離工程に至るまでのウェハの機械的強度を維持することができる。
また、陽極酸化の際、図10に示すように、金属膜30には、電解液40に接する表面から内部方向(C1方向)に向かって酸化が進行する。これにより、金属膜30には、表面から内部方向(C1方向)に延びるとともに、互いに隣接するような多数の細孔31が形成される。なお、隣接する細孔31同志の平均的な間隔L2は、陽極酸化における電圧Va(V)によって決まり、L2=0.0025Va(μm)の関係を有している。なお、第1実施形態における電圧Vaは、約180Vであるのが好ましい。これにより、細孔31同志の間隔L2が、LEDチップ20の発光波長程度の長さ(約450nm)に形成される。なお、金属膜30の材料であるAlは、バルブ金属と呼ばれる。これは、陽極酸化により金属表面がその金属の酸化被膜で覆われる特性を有する金属として知られている。また、上記Al以外に、Ta(タンタル)、Nb(ニオブ)およびTi(チタン)などがバルブ金属に含まれる。この金属膜30の陽極酸化によって、図10に示すような多孔質膜30aが形成される。
また、第1実施形態の製造プロセスでは、陽極酸化の時間を制御することにより、図10に示すように、細孔31の底部31aにおける金属膜30に若干の厚み(間隔L2と同程度)を残すのが好ましい。これにより、p側パッド電極16およびp型クラッド層13が電解液40(図8参照)に直接浸されるのが回避されるとともに、素子分離工程に至るまでのウェハの機械的強度を維持することができる。なお、底部31a近傍の膜の内部には、多孔質膜30aを形成する際に用いるAlの金属部分30bが部分的に残される。
その後、図11に示すように、エッチング技術を用いて、多孔質膜30aおよび絶縁膜17に覆われたp側パッド電極16の一部を外部に露出させてワイヤボンド部16aを形成する。その後、真空蒸着法を用いて、n型クラッド層11の下面上にn側オーミック電極15を形成する。これにより、ウェハ状態のLEDチップ20が形成される。
最後に、図11に示したウェハに対して素子分割を行うことにより、図6に示すようなチップ化されたLEDチップ20が形成される。なお、図11では、1つのウェハから6つのチップ化されたLEDチップ20を得る場合を示している。
第1実施形態では、上記のように、半導体発光素子層14の光の出射方向(C2方向)側の表面上に形成された多孔質膜30aが、膜の厚み方向(C1方向)に延びる複数の細孔9を含むことによって、多孔質膜30aには、半導体発光素子層14からの出射光が出射する方向に沿って複数の細孔31が形成されているので、半導体発光素子層14からの出射光を略一定レベルの回折効率によって回折(光散乱)させてLEDチップ20の外部に向けて出射させることができる。また、多孔質膜30aには、回折効率の向上に寄与する方向と略同一の方向に延びる細孔31が多数形成されているので、膜の厚み方向や面方向や斜め方向に延びる孔などが混在した多孔質膜とは異なり、多孔質膜30aを良好な回折効率を有する光拡散膜として用いることができる。この結果、LEDチップ10の出射光の回折効率を向上させることができる。
また、第1実施形態では、半導体発光素子層14の光の出射方向(C2方向)側の表面上に形成された多孔質膜30aが、膜の厚み方向(C1方向)に延びる複数の細孔9を含むことによって、多孔質膜30aの厚みを適宜調整することによって、出射光の波長に対する細孔31の深さH2を制御することができる。したがって、出射光の波長に対する細孔31の深さH2を最適化することにより、多孔質膜30aから外部に出射される出射光の回折効率を容易に向上させることができる。
また、第1実施形態では、複数の細孔31を、平面的に見て、異なる間隔L2を隔てて不規則的に配置することによって、出射光が多孔質膜30aの表面の凹凸部分において回折する際、細孔31と細孔31との間隔(回折格子周期)が不規則的に形成されているので、隣接する細孔31と細孔31との間隔L2が相対的に大きい部分では小さな回折角度の回折光が生じる一方、隣接する細孔31と細孔31との間隔L2が相対的に小さい部分では大きな回折角度の回折光が生じる。したがって、細孔31間の間隔L2が不規則性を有する多孔質膜30aの表面では、小さな回折角度の回折光と大きな回折角度の回折光とが重ね合わされて、多様な回折角度を有する回折光が外部に出射される。この結果、回折光をより広い角度で広範囲に散乱させることができる。
また、第1実施形態では、半導体発光素子層14の表面上に形成した多孔質膜30aを、p側パッド電極16の表面上の一部の領域に重なるように配置することによって、半導体発光素子層14からの出射光が多孔質膜30aを透過する際、出射光が多孔質膜30aの表面の凹凸部分(細孔31が形成されている部分と形成されていない部分)において回折を起こすので、回折により散乱した光が、p側パッド電極16の表面上に重なるように配置された多孔質膜30aの領域にも回り込みながら伝搬する。これにより、半導体発光素子層14からの出射光を、p側パッド電極16が形成されていない領域上の多孔質膜30aのみならず、p側パッド電極16が形成された領域上の多孔質膜30aの部分からも外部に出射させることができるので、発光面に出射光の輝度が相対的に高い領域と低い領域との差が顕著に生じるのが抑制される。すなわち、LEDチップ20の発光面に色むらが発生するのが抑制されるので、出射光の均一性を向上させることができる。
また、第1実施形態では、多孔質膜30aをアルミナからなるように構成することによって、製造プロセス上、半導体発光素子層14上に形成されたAlからなる金属膜30を陽極酸化することによって、容易に、多孔質構造を有する金属酸化膜(多孔質膜30a)を形成することができる。
また、第1実施形態では、多孔質膜30aを、絶縁膜17を介してp側パッド電極16の表面上に形成することによって、製造プロセス上、金属膜30の陽極酸化によって多孔質膜30aを形成する際、絶縁膜17によって、金属膜30のみならずp側パッド電極16が酸化したり、半導体発光素子層14を侵食(酸化)したりするのを抑制することができる。
(第1実施形態の変形例)
図12および図13は、本発明の第1実施形態の変形例によるLEDチップの構造を示した平面図である。図12および図13を参照して、第1実施形態の変形例によるLEDチップ45では、p型クラッド層13上に、平面的な形状が上記第1実施形態と異なるp側パッド電極46を形成する場合について説明する。なお、p側パッド電極46は、本発明の「電極」の一例である。
ここで、第1実施形態の変形例によるLEDチップ45では、図13に示すように、平面的に見て、櫛歯形状を有するp側パッド電極46がp型クラッド層13上に形成されている。なお、p側パッド電極46の櫛歯部46bと櫛歯部46bとの間にp型クラッド層13が露出する複数の開口部47(図12では破線400の内側の領域)が設けられている。また、図12に示すように、櫛歯形状を有するp側パッド電極46上には、上記第1実施形態と同様の多孔質膜30aが形成されている。
また、図12に示すように、p側パッド電極46は、LEDチップ45から外部に露出するワイヤボンド部46aを有している。このワイヤボンド部46aにAuなどからなる金属ワイヤ(図示せず)が接続されるように構成されている。なお、第1実施形態の変形例によるLEDチップ45のその他の構造および製造プロセスは、上記第1実施形態と同様である。
第1実施形態の変形例では、上記のように、半導体発光素子層14上に平面形状が櫛歯形状を有するp側パッド電極46を形成することによって、ワイヤボンド部46aから注入された電流を、複数の櫛歯部46bを介して半導体発光素子層14に平面的に均等に供給することができる。
また、第1実施形態の変形例では、p側パッド電極46の櫛歯部46bと櫛歯部46bとの間にp型クラッド層13が露出する複数の開口部47を設けることによって、LEDチップ45の発光面の全領域にわたって略均等に開口領域を形成することができるので、開口部47上の多孔質膜30aにより、出射光の拡散効果を向上させることができる。なお、第1実施形態の変形例のその他の効果は、上記第1実施形態と同様である。
(第2実施形態)
図14および図15は、それぞれ、本発明の第2実施形態によるLEDチップの構造を示した断面図および平面図である。図14および図15を参照して、第2実施形態によるLEDチップ50では、上記第1実施形態と異なり、p型クラッド層13と絶縁膜17との間に、p側パッド電極51に接続される透明電極層52を形成する場合について説明する。なお、図15は、図14の200−200線における断面を示す。なお、p側パッド電極51は、本発明の「電極」の一例である。
ここで、第2実施形態によるLEDチップ50では、図15に示すように、p型クラッド層13と絶縁膜17との間に、p型クラッド層13の上面の全面を覆う約0.3μmの厚みを有するITOなどからなる透明電極層52が形成されている。また、透明電極層52の上面の所定領域上にのみp側パッド電極51が電気的に接続されている。また、図15に示すように、p側パッド電極51が形成されていない透明電極層52の上面上に絶縁膜17を介して多孔質膜30aが形成されている。したがって、LEDチップ50は、図14に示すように、発光面のp側パッド電極51を除くほとんどの領域が開口部53(図15参照)になるように形成されている。
また、図14に示すように、p側パッド電極51は、LEDチップ50から外部に露出するワイヤボンド部51aを有している。なお、第2実施形態によるLEDチップ50のその他の構造は、上記第1実施形態と同様である。
図16および図17は、図14に示した第2実施形態によるLEDチップの製造プロセスを説明するための図である。次に、図15〜図17を参照して、第2実施形態によるLEDチップ50の製造プロセスについて説明する。
まず、図16に示すように、上記第1実施形態と同様の製造プロセスにより、n型クラッド層11、発光層12およびp型クラッド層13を形成する。その後、p型クラッド層13上に、透明電極層52を形成する。
その後、真空蒸着法を用いて、透明電極層52上の全面にp側パッド電極51を形成した後に、p側パッド電極51上にフォトリソグラフィによりレジストパターンを形成した後、そのレジストパターンをマスクとしてドライエッチングなどを行うことにより、一辺が約100μmの長さを有する略正方形状のp側パッド電極51が形成されるようなパターニングを行う。そして、リン酸系エッチング液によるウェットエッチングにより、p側パッド電極51上に残されたレジストを除去する。この結果、図16に示すように、ワイヤボンド部51aが形成されたウェハが形成される。
その後、透明電極層52上およびワイヤボンド部51a(p側パッド電極51)上を覆うように、SiOなどからなる絶縁膜17(図15参照)を形成する。また、真空蒸着法を用いて、絶縁膜17上に、メッキ法または蒸着法などを用いて、約0.7μmの厚みを有するAlからなる金属膜30(図15参照)を形成する。
その後、上記第1実施形態と同様の製造プロセスにより、金属膜30の陽極酸化を行う。その後、図17に示すように、エッチング技術を用いて、多孔質膜30aおよび絶縁膜17に覆われたp側パッド電極51の一部を外部に露出させてワイヤボンド部51aを形成する。その後、真空蒸着法を用いて、n型クラッド層11の下面上にn側オーミック電極15を形成する。これにより、ウェハ状態のLEDチップ50が形成される。その後、チップ化することにより、第2実施形態によるLEDチップ50が形成される。
第2実施形態では、上記のように、p型クラッド層13と絶縁膜17との間に、p型クラッド層13の上面の全面を覆う透明電極層52を形成することによって、LEDチップ50は、発光面の全ての領域から多孔質膜30aを介して出射光を出射させることができる。この結果、LEDチップ50の光の取り出し効率をより向上させることができる。なお、第2実施形態のその他の効果は、上記第1実施形態と同様である。
(第3実施形態)
図18および図19は、それぞれ、本発明の第3実施形態によるLEDランプの構造を示した断面図である。まず、図5、図18および図19を参照して、第3実施形態によるLEDランプ70の構造について説明する。なお、この第3実施形態では、半導体発光装置の一例であるLEDランプに本発明を適用した場合について説明する。
本発明の第3実施形態による砲弾型のLEDランプ70では、図18に示すように、発光波長ピークが約420nm〜約480nmの青色光を発光するLEDチップ20が、半田など(図示せず)によって金属製のリードフレーム71の凹部底面に固定されている。これにより、LEDチップ20のn側オーミック電極15(図5参照)は、リードフレーム71と電気的に接続されている。また、リードフレーム71の凹部内側面71aは、LEDチップ20からの出射光が反射しやすいように鏡面状態に仕上げられており、光反射部として機能するように構成されている。また、リードフレーム71には、リード72の一方の端部が取り付けられている。また、LEDチップ20のp側パッド電極16(ワイヤボンド部16a)は、金属製のワイヤ74を介してリード73の一方の端部と電気的に接続されている。
また、図18に示すように、LEDチップ20を含むリードフレーム71、金属製のワイヤ74およびワイヤ74とリード73との接続部を密封するように、シリコン樹脂からなる砲弾状の封止部75が形成されている。また、封止部75には、黄色に発色する蛍光体76が混入されている。また、リード72および73の他方の端部は、封止部75からC1方向に露出している。なお、封止部75は、本発明の「波長変換部」の一例である。
ここで、第3実施形態では、図19に示すように、封止部75は、LEDチップ20の上面に形成された多孔質膜30aの細孔31の内部に充填されている。これにより、LED光は、光密度が最も高くなる細孔31内においても蛍光体76によって波長が変換されるように構成されている。
LEDランプ70は、上記の構成によって、LEDチップ20からC2方向に出射された青色光が、多孔質膜30aを透過して出射する際に回折されるとともに、回折された青色光が、シリコン樹脂からなる封止部75に入射して蛍光体76を黄色に発光させる。これにより、LEDチップ20の青色光と蛍光体76の励起による黄色光とが混合されて白色光となり封止部75をC2方向に透過して外部に出射されるように構成されている。なお、「白色」とは「人間の目に白色に見える」という意味である。
次に、図5、図18および図19を参照して、第3実施形態によるLEDランプ70の製造プロセスについて説明する。
まず、上記第1実施形態の製造プロセスにより、チップ化されたLEDチップ20(図5参照)を形成する。
次に、図18に示すように、LEDチップ20の下面(図5に示すn側オーミック電極15)をAuSnなどからなる半田によりリードフレーム71の凹部底面に固定する。その後、p側パッド電極16とリード73とをワイヤ74にてボンディング接続する。
その後、シリコン樹脂からなる封止部75を充填した砲弾型のモールドにLEDチップ20を含むリードフレーム71の部分を差し込むとともに、シリコン樹脂を加熱により硬化させて砲弾状の封止部75(図18参照)を形成する。この際、封止部75により、LEDチップ20を含むリードフレーム71(リード72)、金属製のワイヤ74およびワイヤとリード73との接続部が密封される。また、図19に示すように、封止部75は、LEDチップ20の上面に形成された多孔質膜30aの細孔31の内部にも充填される。最後に、封止部75をモールドから取り出すことによって、図18に示した第3実施形態によるLEDランプ70が形成される。
第3実施形態では、上記のように、青色光が有する波長を黄色光に変換する蛍光体76を含む封止部75を備えるとともに、封止部75が、多孔質膜30aの細孔31内に充填されるように構成することによって、多孔質膜30aを透過する光の光密度が最も高くなる細孔31の内部に封止部75が充填されているので、LED光(青色光)の波長の変換効率を向上させることができる。
また、第3実施形態では、LEDチップ20から多孔質膜30aを介して出射される光を、封止部75を透過して外部に出射されるように構成することによって、均一性が向上された出射光の波長を変換して、所望の発光色を有するLEDランプ70を容易に得ることができる。
また、第3実施形態では、多孔質膜30aを介して封止部75を透過する光を、白色光の状態で外部に出射させることによって、均一性が向上された白色光を容易に出射させることができる。なお、第3実施形態のその他の効果は、上記第1実施形態と同様である。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
たとえば、上記第1および第2実施形態では、p型クラッド層13およびp側パッド電極16の表面上に絶縁膜17を介して多孔質膜30aを形成した例について示したが、本発明はこれに限らず、絶縁膜17を形成することなくp型クラッド層13およびp側パッド電極16の表面上に直接接触するように多孔質膜30aを形成してもよい。この場合、製造プロセスにおいて、多孔質膜30aを形成する陽極酸化の時間を適切に制御することによって、多孔質膜30aに形成される細孔31がp型クラッド層13およびp側パッド電極16の表面に到達する前に陽極酸化を停止させるようにすればよい。
また、上記第3実施形態では、発光部に上記第1実施形態で示したLEDチップ20を用いた例について示したが、本発明はこれに限らず、上記第1実施形態の変形例および上記第2実施形態で示したLEDチップ45および50などを用いてLEDランプを形成してもよい。
また、上記第3実施形態では、青色光を発光するLEDチップ20と黄色に発色する蛍光体76を含有する封止部75とを組み合わせることにより白色光を発するLEDランプ70を形成した例について示したが、本発明はこれに限らず、発光波長ピークが約350nm〜約410nmの紫外光を発光するLEDチップと、青色、赤色および黄色に発色する蛍光体が所定の割合で混入された封止部(シリコン樹脂モールド)とを組み合わせることにより白色光を発するLEDランプを形成してもよい。
また、上記第1〜第3実施形態では、バルブ金属としてAlからなる金属膜30を用いて多孔質膜30aを形成した例について示したが、本発明はこれに限らず、Al以外の、たとえばTa、NbおよびTiなどのバルブ金属を用いて多孔質膜を形成してもよい。
また、上記第1〜第3実施形態では、細孔31が多孔質膜30aを貫通せずに底部31aを有するように形成した例について示したが、本発明はこれに限らず、細孔31が多孔質膜30aを完全に貫通するように構成してもよい。この場合、多孔質膜の厚みを調整することによって、細孔(貫通孔)の長さを最適化することができるので、本発明および上記実施形態と同様の効果が得られる。
また、上記第1〜第3実施形態では、窒化物系化合物半導体からなる半導体発光素子層により半導体発光装置(LEDチップ20など)を形成した例について示したが、本発明はこれに限らず、ZnO系化合物半導体を用いた半導体発光素子層により半導体発光装置(LEDチップ)を形成してもよい。
また、上記第1〜第3実施形態におけるLEDチップでは、n型GaN基板21をn型クラッド層11から除去せずにn型GaN基板21の下面上にn側オーミック電極15を設けた例について示したが、本発明はこれに限らず、n型GaN基板21をn型クラッド層11から完全に除去した後にn型クラッド層11の下面上にn側電極(n側オーミック電極15)を形成してもよい。
また、上記変形例においてn型GaN基板21に相当する成長用基板にサファイア基板81などの導電性を有しない成長用基板を使用する場合、図20に示すような素子構造を有するLEDチップ80を形成してもよい。具体的には、図20に示すように、導電性を有しないサファイア基板81上に半導体発光素子層14などを形成した後に、p型クラッド層13からn型クラッド層11に向かって所定の深さだけエッチングを行うことにより、底部がn型クラッド層11の部分まで達する段差部11aを形成して露出させる。そして、露出した段差部11a上に、真空蒸着法を用いてn側オーミック電極82を形成するようにしてもよい。また、他の変形例として図21に示すLEDチップ90のように、サファイア基板81の下面側(C1方向側)を光の出射面とするとともに、サファイア基板81の下面上に、多孔質膜30aを形成してもよい。
本発明によるLEDチップの概略的な構成を説明するための断面図である。 本発明によるLEDチップの概略的な構成を説明するための平面図である。 本発明によるLEDチップの概略的な構成を説明するための断面図である。 本発明によるLEDチップの概略的な構成を説明するための断面図である。 本発明の第1実施形態によるLEDチップの構造を示した断面図である。 図5に示した第1実施形態によるLEDチップの構造を示した平面図である。 図5に示した第1実施形態によるLEDチップの製造プロセスを説明するための図である。 図5に示した第1実施形態によるLEDチップの製造プロセスを説明するための図である。 図5に示した第1実施形態によるLEDチップの製造プロセスを説明するための図である。 図5に示した第1実施形態によるLEDチップの製造プロセスを説明するための図である。 図5に示した第1実施形態によるLEDチップの製造プロセスを説明するための図である。 本発明の第1実施形態の変形例によるLEDチップの構造を示した平面図である。 図12に示した第1実施形態の変形例によるLEDチップの構造を示した平面図である。 本発明の第2実施形態によるLEDチップの構造を示した平面図である。 図14に示した第2実施形態によるLEDチップの構造を示した断面図である。 図14に示した第2実施形態によるLEDチップの製造プロセスを説明するための図である。 図14に示した第2実施形態によるLEDチップの製造プロセスを説明するための図である。 本発明の第3実施形態によるLEDランプの構造を示した断面図である。 本発明の第3実施形態によるLEDランプの構造を示した拡大断面図である。 本発明の変形例によるLEDチップの構造を示した断面図である。 本発明の他の変形例によるLEDチップの構造を示した断面図である。
符号の説明
4、14 半導体発光素子層
6 第2電極(電極)
7、17 絶縁膜
8、30a 多孔質膜
9、31 細孔
16、46、51 p側パッド電極(電極)
75 封止部(波長変換部)
76 蛍光体

Claims (5)

  1. 半導体発光素子層と、
    前記半導体発光素子層の光の出射方向側の表面上に形成された多孔質膜とを備え、
    前記多孔質膜は、膜の厚み方向に延びるように形成された複数の細孔を含む、半導体発光装置。
  2. 前記複数の細孔は、平面的に見て、異なる間隔を隔てて不規則的に配置されている、請求項1に記載の半導体発光装置。
  3. 前記半導体発光素子層の光の出射方向側の前記表面上に形成された電極をさらに備え、
    前記多孔質膜は、少なくとも一部が前記電極の表面上に重なるように配置される、請求項1または2に記載の半導体発光装置。
  4. 前記電極上に形成された絶縁膜をさらに備え、
    前記多孔質膜は、前記絶縁膜を介して前記電極の表面上に形成されている、請求項1〜3のいずれか1項に記載の半導体発光装置。
  5. 光の波長を変換する蛍光体を含む波長変換部をさらに備え、
    前記波長変換部は、前記多孔質膜の前記細孔内に充填されている、請求項1〜4のいずれか1項に記載の半導体発光装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021524669A (ja) * 2018-05-24 2021-09-13 マテリオン コーポレイション 白色光蛍光装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003243726A (ja) * 2001-12-14 2003-08-29 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置およびその製造方法
JP2005191514A (ja) * 2003-10-31 2005-07-14 Toyoda Gosei Co Ltd 発光素子および発光装置
JP2005220436A (ja) * 2004-01-05 2005-08-18 Hiroshima Univ 陽極酸化アルミナ膜を具備する構造体およびその製造方法並びにその利用
JP2007251130A (ja) * 2006-03-17 2007-09-27 Epitech Technology Corp 発光ダイオード及びその製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003243726A (ja) * 2001-12-14 2003-08-29 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置およびその製造方法
JP2005191514A (ja) * 2003-10-31 2005-07-14 Toyoda Gosei Co Ltd 発光素子および発光装置
JP2005220436A (ja) * 2004-01-05 2005-08-18 Hiroshima Univ 陽極酸化アルミナ膜を具備する構造体およびその製造方法並びにその利用
JP2007251130A (ja) * 2006-03-17 2007-09-27 Epitech Technology Corp 発光ダイオード及びその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021524669A (ja) * 2018-05-24 2021-09-13 マテリオン コーポレイション 白色光蛍光装置
US11624494B2 (en) 2018-05-24 2023-04-11 Materion Corporation White light phosphor device
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