JP2010028487A5 - - Google Patents
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- 複数の画素が配列された画素配列と、前記画素配列から信号を読み出す読み出し部とを有する撮像素子と、
前記画素配列が遮光された状態で前記画素配列から前記読み出し部により読み出された信号を用いて、前記画素配列における欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により欠陥画素を検出する場合に、１フレーム期間中に欠陥が発生しやすい条件で前記画素配列から信号を読み出すように前記読み出し部を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。 - 前記検出手段により検出された欠陥画素の信号を、前記欠陥画素に隣接する画素の信号を用いて補間する補間手段をさらに有することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
- 前記欠陥が発生しやすい条件は、前記画素配列からの複数回の信号の読み出し、及び前記読み出し部が有する前記画素配列から信号を読み出すためのゲート電極に対する、通常の撮影における供給電圧よりも高い電圧の供給、の少なくともいずれかであることを特徴とする請求項１または２に記載の撮像装置。
- 複数の画素が配列された画素配列と、前記画素配列から信号を読み出す読み出し部とを有する撮像素子を備えた撮像装置の制御方法であって、
前記撮像装置の検出手段が、前記画素配列が遮光された状態で前記画素配列から前記読み出し部により読み出された信号を用いて、前記画素配列における欠陥画素を検出する検出工程と、
前記撮像装置の制御手段が、前記検出工程において欠陥画素を検出する場合に、１フレーム期間中に欠陥が発生しやすい条件で前記画素配列から信号を読み出すように前記読み出し部を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする撮像装置の制御方法。 - 前記撮像装置の補間手段が、前記検出工程において検出された欠陥画素の信号を、前記欠陥画素に隣接する画素の信号を用いて補間する補間工程をさらに有することを特徴とする請求項４に記載の撮像装置の制御方法。
- 前記欠陥が発生しやすい条件は、前記画素配列からの複数回の信号の読み出し、及び前記読み出し部が有する前記画素配列から信号を読み出すためのゲート電極に対する、通常の撮影における供給電圧よりも高い電圧の供給、の少なくともいずれかであることを特徴とする請求項４または５に記載の撮像装置の制御方法。
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