JP2010015625A - 磁気カード読み取り装置、磁気カード不良検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 折れたり、ひび割れたりした磁気カード、或いは、付着物がついた磁気カードを顧客が使用したとき、磁気カードが不良であることを検出できる磁気カード読み取り装置、磁気カード不良検出方法を提供する。
【解決手段】 磁気カード３０を搬送する搬送ローラ４０ａ〜４０ｄと、磁気カード３０から磁気データを読み出す磁気ヘッド１０と、磁気ヘッド１０に設け磁気ヘッド１０の挙動を検出する加速度センサ２０と、加速度センサ２０の情報から磁気ヘッド１０の挙動異常を判定する挙動監視部２１とを設ける。
【選択図】 図１

Description

本発明は、磁気カード読み取り装置、磁気カード不良検出方法に関し、特に自動預金支払機（以降、ＡＴＭと称す。ＡＴＭ：Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｔｅｌｌｅｒ Ｍａｃｈｉｎｅ）などに搭載される磁気カード読み取り装置、磁気カード不良検出方法に関する。

自動取引装置用の取引媒体のカードのひび割れなどの異常を検知し、カードのジャムや読み取りエラーを防止するものがある（例えば、特許文献１参照。）。

特許文献１の技術は、挿入したカードの長手方向、幅方向に所定の押圧力を負荷する損傷検知部を設ける。損傷検知部は、カードに発生する曲げ応力や歪から割れ、ひび、反りなどの異常を検知する。ジャムの発生や読み取りエラーの虞のあるカードは、表示部画面や音声により顧客に知らせる。

また、磁気カードに付着して挿入される異物を磁気カードの走行路内に取り込む以前に磁気カード読み取り装置外へ排除し、故障発生を防止するものもある（例えば、特許文献２参照。）。

特許文献２の技術は、磁気カード挿入口に設ける取り込みローラと、磁気カードの挿入方向と逆方向に接触回転するブラシ付きローラと、ブラシ付きローラで排除されて変形した異物を検出するセンサと、センサの出力によって取り込みローラを逆転駆動させる制御部とで構成する。

上記構成により、ブラシ付きローラは、磁気カードに付着して挿入される異物を排除し、センサは、排除されて変形した異物の存在を検出して検出信号を出力する。制御部は、検出信号を受信して、取り込みローラを逆転駆動させ、取り込みの途中状態の磁気カードを異物と共に磁気カード挿入口の外へ排除する。

特開平０８−０６３６３７号公報 特開平０３−０６７３８２号公報

金融機関などに設置したＡＴＭは、折れたり、ひび割れたりした磁気カード、或いは、磁気ストライプ部に付着物がついた磁気カードを顧客が使用したとき、磁気カードが搬送できずに装置から磁気カードを排出できない不具合の発生、或いは、磁気カードの読み取りエラーの不具合が発生する。

上記特許文献１は、磁気カードのひび割れなどの異常を検知し、不良磁気カードを検出しているが、異常を検知するため、磁気カードへ押圧力を負荷する。従って、特許文献１は、磁気カードのひび割れ、反りを一層悪化させるケースが生じるという課題がある。

また、特許文献１は、磁気カードの不良のみを検出しているため、磁気カードの読み取りエラーの発生時、エラー原因がＡＴＭと磁気カードとのどちら側にあるのか特定できないという課題がある。

上記特許文献２は、磁気カードに付着して挿入される異物をセンサで検出しているが、センサで検出可能な異物は、紙片、レシートなどの限定された異物のみである。磁気ストライプ部に付着し、読み取りエラーが発生する異物は、粘着物、塵埃の塊などが一般的である。従って、特許文献２は、一般的な異物に対しては、存在を検出できず、磁気カードを取り込みの途中に排出できないという課題がある。

本発明の目的は、上述した課題を解決する磁気カード読み取り装置、磁気カード不良検出方法を提供することにある。

本発明の磁気カード読み取り装置は、磁気カードを搬送する搬送ローラと、磁気カードから磁気データを読み出す磁気ヘッドと、磁気ヘッドに設け磁気ヘッドの挙動を検出するセンサと、センサの情報から磁気ヘッドの挙動異常を判定する挙動監視部とを有することを特徴とする。

本発明の磁気カード不良検出方法は、磁気カードを挿入するステップと、磁気カードを搬送ローラで搬送するステップと、磁気ヘッドで磁気カードから磁気データを読み出すステップと、磁気ヘッドに設けたセンサにより磁気ヘッドの挙動を検出するステップと、センサの情報から磁気ヘッドの挙動異常を挙動監視部で判定するステップとを有することを特徴とする。

本発明の磁気カード読み取り装置、磁気カード不良検出方法は、折れたり、ひび割れたりした磁気カード、或いは、付着物がついた磁気カードを顧客が使用したとき、磁気カードが不良であることを検出できるという効果がある。

次に、本発明の第１の実施の形態について図面を参照して説明する。

図１は、本発明の磁気カード読み取り装置８１の第１の実施の形態を示す概略構成図である。

図１を参照すると、磁気カード読み取り装置８１は、磁気カード３０を搬送する搬送ローラ４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄと、磁気カード３０から磁気データを読み出す磁気ヘッド１０と、挙動監視部２１とで構成する。磁気ヘッド１０には、磁気ヘッド１０の挙動を検出する加速度センサ２０を設ける。なお、加速度センサ２０に換え、変位センサを設けてもよい。この場合、静電容量型の変位センサを用いるとき、変位センサに対向する位置に金属平板を配置する。

挙動監視部２１は、加速度センサ２０の情報から磁気ヘッド１０の挙動異常を判定する異常判定部２２を備える。

搬送ローラ４０ｃ、４０ｄは、磁気カード３０を最初に取り込み挿入方向６１へ搬送し、搬送ローラ４０ａ、４０ｂは、磁気カード３０の先端部３０ａが磁気ヘッド１０を通過後、磁気カード３０を更に搬送する。

次に、上述の構成の磁気カード読み取り装置８１の動作について、図１を参照して説明する。

磁気カード３０を挿入方向６１へ挿入すると、搬送ローラ４０ｃ、４０ｄは、磁気カード３０を磁気ヘッド１０の存在する方向へ搬送する。磁気カード３０は、先端部３０ａが磁気ヘッド１０と接触し、磁気ヘッド１０上を通過し、接触した状態で搬送される。磁気カード３０は、その後、搬送ローラ４０ａ、４０ｂに取り込まれ更に搬送される。

磁気ヘッド１０は、磁気カード３０と接触（密着）した状態で磁気カード３０から磁気データを読み出す。

一方、磁気ヘッド１０に設けた加速度センサ２０は、磁気ヘッド１０の挙動（加速度）を常時検出している。挙動監視部２１の異常判定部２２は、加速度センサ２０の情報から磁気ヘッド１０の挙動異常を判定する。

磁気カード３０の先端部３０ａが磁気ヘッド１０と接触したときの加速度センサ２０の出力をα１とすると、α１は、磁気カード３０の正常（良）／異常（不良）に拘わらず、検出される故、挙動異常の判定に用いない。

異常判定部２２は、加速度センサ２０の出力が閾値を超えるとき、磁気ヘッド１０の挙動異常と判定し、磁気カード３０が不良であることを検出する。異常判定部２２は、加速度センサ２０の出力が閾値以下のとき、磁気ヘッド１０の挙動が正常と判定し、磁気カード３０が正常であることを検出する。

なお、閾値は、磁気カード３０の寸法のバラツキ、精度、および、磁気カード読み取り装置８１の各種構成部品、組み立て後寸法のバラツキ、精度などを考慮して、実験的、統計的手法を用いて決定する。或いは、強制的にひび割れ、折れ目、異物付着などを施した磁気カード３０を複数種作成し、作成した磁気カード３０を用いて実験を行う。閾値は、加速度センサ２０の出力と読み出しエラー発生との関係を実験結果から決定する。

上述の磁気カード読み取り装置８１は、磁気ヘッド１０に加速度センサ２０を取り付け、異常判定部２２は、加速度センサ２０の出力から磁気ヘッド１０の挙動の正常／異常を判定し、磁気カード３０の良／不良を検出する。

従って、磁気カード読み取り装置８１は、折れたり、ひび割れたりした磁気カード３０、或いは、付着物がついた磁気カード３０を顧客が使用したとき、磁気カード３０が不良であることを検出できるという効果がある。

また、磁気カード読み取り装置８１は、磁気カード３０の良／不良の検出を磁気カード３０が磁気ヘッド１０と接触している状態の間に行う。即ち、装置（例えば、ＡＴＭ）内部の奥まで磁気カード３０を挿入することなく、磁気カード１０の不良を検出する。従って、不良の磁気カード３０は、装置外部へ排出でき、装置内部での磁気カード３０の詰まり現象を防止できるという効果がある。

次に、本発明の第２の実施の形態について図面を参照して説明する。

図２は、本発明の磁気カード読み取り装置８２の第２の実施の形態を示す概略構成図、図３は、概略構成ブロック図である。なお、既述の第１の実施の形態の磁気カード読み取り装置８１と同一構成要素は、同一符号で表記する。

図２、３を参照すると、磁気カード読み取り装置８２は、磁気カード３０を搬送する搬送ローラ４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄと、搬送モータ制御部１１と、磁気カード３０から磁気データを読み出す磁気ヘッド１０と、加速度センサ２０と、位置センサ７０と、ロータリエンコーダ５０と、カード制御部１６と、メモリ１７と、挙動監視部１２と、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）１３と、上位制御部１４と、モニター１５とで構成する。また、搬送ローラ４０ａ、４０ｂと搬送ローラ４０ｃ、４０ｄとの間には、磁気カード３０の搬送をガイドするガイド部９１、９２を設ける。

搬送ローラ４０ｃ、４０ｄは、磁気カード３０を最初に取り込み挿入方向６１へ搬送し、搬送ローラ４０ａ、４０ｂは、磁気カード３０の先端部３０ａが磁気ヘッド１０を通過後、磁気カード３０を更に搬送する。

搬送モータ制御部１１は、搬送ローラ４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄを駆動するモータ（図示せず）を制御する。

加速度センサ２０は、磁気ヘッド１０に設け、磁気ヘッド１０の挙動を検出する。

位置センサ７０は、光学的検出手段、例えば、発光ダイオード７１とフォトトランジスタ７２とを備え、磁気カード３０を搬送時に先端部３０ａの通過を検出する。

ロータリエンコーダ５０は、搬送ローラ４０ｄの取り付けと同一のシャフト４１に固定する回転円板５１と、回転円板５１を挟んで対向して設ける発光ダイオード５２とフォトトランジスタ５３とで構成する（図４参照）。回転円板５１は、円周上に等間隔に複数の抜き穴５１１を設ける。ロータリエンコーダ５０は、搬送ローラ４０ｄによる磁気カード３０の搬送量を検出する。回転円板５１は、搬送ローラ４０ｃ側へ取り付けてもよい。

ここに、搬送量の検出について、図２、図４を参照して説明する。

図４（ａ）は、搬送ローラ４０ｄとロータリエンコーダ５０との関係を示す正面図、図４（ｂ）は、側面図である。

搬送ローラ４０ｄの半径：Ｒ、回転速度：Ｎ回転／分（ＲＰＭ）、抜き穴数：Ｋとすると、１パルス発生に対する磁気カード３０の搬送量は、２πＲ／Ｋとなる。従って発生パルス数をカウントして、搬送量を検出できる。なお、フォトトランジスタ５３の検出出力をパルスと表現している。

カード制御部１６は、磁気カード３０の読み出し制御と、搬送モータ制御部１１の制御とを行う。また、カード制御部１６は、磁気ヘッド１０で読み出した磁気データを二値化して、ＣＰＵ１３へ転送する。

メモリ１７は、磁気データに対する磁気カード３０の先端部３０ａからの距離を予め記憶する。メモリ１７は、磁気カード３０の挿入方向６１に対するデータ部３１に記録する磁気データに対応する先端部３０ａからの距離を格納するデータ／距離対応テーブル１７１を備える（図６参照）。

ここに、図５、６を参照してデータ／距離対応テーブル１７１について説明する。

図５に示すように磁気カード３０のデータ部３１には、Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３・・・Ｄｎの磁気データが記録される。先端部３０ａからの各磁気データの距離は、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３・・・Ｌｎとする。図６に示すように、データ／距離対応テーブル１７１は、Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３・・・Ｄｎに対応する先端部３０ａからの距離Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３・・・Ｌｎを記憶しておく。なお、先端部３０ａからの各磁気データの距離は、Ｌ１（図５では、先端部３０ａからデータ部３１の始点までの距離）を求めておけば、記録ビット間隔は既知である故、磁気データ記録時における記録ビット数から容易に算出できる。この算出結果を図６に示すようにメモリ１７に予め格納しておく。磁気データＤ１、Ｄ２、Ｄ３・・・Ｄｎは、先頭ビットから１ビット毎の最終のｍビットとしてもよい（データ部３１は、ｍビットの構成とする）。この場合、各ビット位置に対する距離をメモリ１７に予め格納しておく。磁気データＤ１、Ｄ２、Ｄ３・・・Ｄｎは、磁気データを読み出し時に、読み出した磁気データが書き込み時のどのデータであるか識別できる情報であればよい。

挙動監視部１２は、加速度センサ２０の情報から磁気ヘッド１０の挙動異常を判定する異常判定部１２３と、位置センサ７０の情報とロータリエンコーダ５０の情報とから磁気カード３０と磁気ヘッド１０との相対位置関係を算出する相対距離算出部１２１と、加速度センサ２０の情報と算出した相対位置関係とから磁気カード３０の異常発生位置を特定する異常発生位置特定部１２２とを備える。

ここに、相対位置関係の算出について、図２、図４を参照して説明する。

相対距離算出部１２１は、位置センサ７０で先端部３０ａを検出した後のロータリエンコーダ５０の発生パルス数から磁気カード３０の先端部３０ａの位置センサ７０からの距離を算出する。一方、位置センサ７０と磁気ヘッド１０との距離Ｓは、設計で決定する既知の値である。従って、磁気ヘッド１０に対する磁気カード３０の相対位置は、容易に算出できる。例えば、発生パルス数：Ｐ、磁気ヘッド１０に対する磁気カード３０の先端部３０ａからの距離：Ｌｐとすると、Ｌｐ＝（２πＲＰ／Ｋ−Ｓ）となる。

異常判定部１２３による挙動異常を判定する方法については、既述の第１の実施の形態の磁気カード読み取り装置８１の異常判定部２２と同一故、説明を省略する。

ＣＰＵ１３は、カード制御部１６から受信した磁気データの読み出しエラー箇所を検証する読み出しエラー検証部１３１と、磁気カード３０の不良有無を判定するエラー発生位置特定手段１３２とを備える。エラー発生位置特定手段１３２は、メモリ１７を読み出し磁気データの読み出しエラー発生位置を求め、磁気カード３０の異常発生位置と読み出しエラー発生位置とを比較し、磁気カード３０の不良有無を判定する。

上位制御部１４は、ＣＰＵ１３から磁気カード３０の不良判定情報を受信し、磁気カード３０の交換が必要であることを示す情報を表示させる指示をモニター１５へ送信する。

モニター１５は、交換必要情報を表示する。

次に、上述の構成の磁気カード読み取り装置８２の動作について、図７を参照して説明する。

図７を参照すると、磁気カード３０を挿入方向６１へ挿入する（Ｓ１０１）と、搬送モータ制御部１１は、搬送ローラ４０ｃ、４０ｄを駆動し、搬送ローラ４０ｃ、４０ｄにより、磁気カード３０を磁気ヘッド１０の方向へ一定速度で搬送する（Ｓ１０２）。

位置センサ７０は、磁気カード３０の先端部３０ａを検出する（Ｓ１０３）。対向して配置した発光ダイオード７１とフォトトランジスタ７２との間を磁気カード３０の先端部３０ａが通過すると、フォトトランジスタ７２の出力は、ＨＩＧＨからＬＯＷ（０）へと変化する。この出力変化信号により、位置センサ７０は、磁気カード３０の先端部３０ａの通過を検出する。

位置センサ７０を通過後、磁気カード３０は、先ず、先端部３０ａが磁気ヘッド１０と接触し、接触後、密着した状態で磁気ヘッド１０上を搬送される（Ｓ１０４）。磁気カード３０は、その後、搬送ローラ４０ａ、４０ｂに取り込まれ更に搬送される。

磁気ヘッド１０は、磁気カード３０と接触（密着）した状態で磁気カード３０から磁気データを読み出す。一方、磁気ヘッド１０に設けた加速度センサ２０は、磁気ヘッド１０の挙動（加速度）を常時検出している。挙動監視部１２は、加速度センサ２０の情報から磁気ヘッド１０の挙動を監視する（Ｓ１０５）。

読み出しエラー検証部１３１は、カード制御部１６から受信した磁気データのエラーの有無を検証する（Ｓ１０６）。

一方、挙動監視部１２の異常判定部１２３は、磁気ヘッド１０の挙動異常の有無を判定する（Ｓ１０７）。

上記（Ｓ１０６）において、磁気データの読み出しエラー有り、上記（Ｓ１０７）において、挙動異常が有りのとき、エラー発生位置特定手段１３２は、メモリ１７を読み出し、磁気データの読み出しエラー発生箇所のデータに対する先端部３０ａからの距離をデータ／距離対応テーブル１７１から求める。また、相対距離算出部１２１は、位置センサ７０の情報とロータリエンコーダ５０の情報（発生パルス数）とから、磁気カード３０と磁気ヘッド１０との相対位置関係を算出する（Ｓ１０８）。

エラー発生位置特定手段１３２は、相対距離算出部１２１で求めた磁気カード３０の異常発生位置と、データ／距離対応テーブル１７１から求めたエラー発生位置とを比較する（Ｓ１０９）。

エラー発生位置特定手段１３２は、上記（Ｓ１０９）における磁気カード３０の異常発生位置とエラー発生位置とが一致するか否かを判定する（Ｓ１１０）。なお、一致するか否かの判定基準は、例えば、両位置の差が３ｍｍ以内のとき、一致すると判定するようにする。具体的には、既述のＬｐ＝（２πＲＰ／Ｋ−Ｓ）と、Ｌｉ（ｉ＝１〜ｎ）との差の絶対値｜Ｌｐ−Ｌｉ｜＜３ｍｍのとき、エラー発生位置特定手段１３２は、一致すると判定する。

一致するとき、エラー発生位置特定手段１３２は、磁気カード３０の不良と判定する（Ｓ１１１）。

ＣＰＵ１３は、磁気カード３０の不良情報を上位制御部１４へ送信する（Ｓ１１２）。上位制御部１４は、ＣＰＵ１３から磁気カード３０の不良判定情報を受信し、磁気カード３０の交換が必要であることを示す情報を表示させる指示をモニター１５へ送信する。

モニター１５は、磁気カード３０の交換必要情報を表示する（Ｓ１１３）。

カード制御部１６は、搬送モータ制御部１１のモータ（図示せず）制御により搬送ローラ４０ａ〜４０ｄを挿入時と逆回転させ、磁気カード３０を排出する制御を行う（Ｓ１１４）。

上記（Ｓ１１０）で一致しないと判定したとき、エラー発生位置特定手段１３２は、磁気カード３０のみの不良ではないと判定し（Ｓ１１５）、上記（Ｓ１１４）へ進む。なお、一致しないとの判定時は、磁気ヘッド１０、装置回路（図示せず）などの磁気カード読み取り装置８２の構成要素の不良、或いは、磁気カード３０自体の不良のケースが想定できる。磁気カード３０自体の不良のケースは、稀であるが、例えば、磁気カード３０の表面に挙動異常が有りと判定される異物が付着し、異物の付着位置とは挿入方向６１に離れた箇所のデータ部３１の磁気データが一部消去されているケースである。

以上説明したように、磁気カード読み取り装置８２は、エラー発生位置特定手段１３２により、磁気カード３０の異常発生位置とエラー発生位置とが一致するか否かを判定し、一致するとき、磁気カード３０の不良と判定する。従って、磁気カード読み取り装置８１は、折れたり、ひび割れたりした磁気カード３０、或いは、付着物がついた磁気カード３０を顧客が使用したとき、磁気カード３０が不良であることを高い確度で検出できるという効果がある。

また、磁気カード読み取り装置８２は、磁気カード３０の良／不良の検出を磁気カード３０が磁気ヘッド１０と接触している状態の間に行う。従って、不良の磁気カード３０を検出時点で装置外部へ排出でき、装置内部での磁気カード３０の詰まり現象を防止できるという効果がある。

さらに、磁気カード読み取り装置８２は、磁気カード３０の交換必要情報をモニター１５へ表示するため、磁気カード３０の交換をユーザへ通知できるという効果がある。

本発明の磁気カード読み取り装置の第１の実施の形態を示す概略構成図である。 本発明の磁気カード読み取り装置の第２の実施の形態を示す概略構成図である。 本発明の磁気カード読み取り装置の第２の実施の形態を示す概略構成ブロック図である。 図４（ａ）は、搬送ローラとロータリエンコーダとの詳細を示す正面図、図４（ｂ）は、側面図である。 データ／距離対応テーブルを説明するための図である。 データ／距離対応テーブルを説明するための図である。 本発明の磁気カード読み取り装置の第２の実施の形態の動作を説明するためのフローチャートである。

符号の説明

１０ 磁気ヘッド
１１ 搬送モータ制御部
１２ 挙動監視部
１２１ 相対距離算出部
１２２ 異常発生位置特定部
１２３ 異常判定部
１３ ＣＰＵ
１３１ 読み出しエラー検証部
１３２ エラー発生位置特定手段
１４ 上位制御部
１５ モニター
１６ カード制御部
１７ メモリ
１７１ データ／距離対応テーブル
２０ 加速度センサ
２１ 挙動監視部
２２ 異常判定部
３０ 磁気カード
３０ａ 先端部
３１ データ部
４０ａ、４０ｂ 搬送ローラ
４０ｃ、４０ｄ 搬送ローラ
４１ シャフト
５０ ロータリエンコーダ
５１ 回転円板
５１１ 抜き穴
５２ 発光ダイオード
５３ フォトトランジスタ
６１ 挿入方向
７０ 位置センサ
７１ 発光ダイオード
７２ フォトトランジスタ
８１、８２ 磁気カード読み取り装置
９１、９２ ガイド部

Claims (19)

1. 磁気カードを搬送する搬送ローラと、前記磁気カードから磁気データを読み出す磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドに設け前記磁気ヘッドの挙動を検出するセンサと、前記センサの情報から前記磁気ヘッドの挙動異常を判定する挙動監視部とを有することを特徴とする磁気カード読み取り装置。
2. 前記センサは、加速度センサを有することを特徴とする請求項１記載の磁気カード読み取り装置。
3. 磁気カードを搬送する搬送ローラと、前記磁気カードから磁気データを読み出す磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドに設け前記磁気ヘッドの挙動を検出する挙動センサと、前記磁気カードを搬送時に先端位置を検出する位置センサと、前記磁気カードの搬送量を検出する搬送量検出手段と、前記磁気データに対する前記磁気カードの前記先端位置からの距離を予め記憶するメモリと、前記磁気カードと前記磁気ヘッドとの相対位置関係を算出し、前記挙動センサの情報と算出した前記相対位置関係とから前記磁気カードの異常発生位置を特定する挙動監視部と、前記メモリを読み出し前記磁気データのエラー発生位置を求めるＣＰＵとを有し、前記ＣＰＵは、前記磁気カードの異常発生位置と前記エラー発生位置とを比較し前記磁気カードの不良有無を判定する手段を有することを特徴とする磁気カード読み取り装置。
4. 磁気カードを搬送する搬送ローラと、前記搬送ローラを駆動するモータを制御する搬送モータ制御部と、前記磁気カードから磁気データを読み出す磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドに設け前記磁気ヘッドの挙動を検出する挙動センサと、前記磁気カードを搬送時に先端位置を検出する位置センサと、前記搬送ローラによる前記磁気カードの搬送量を検出する搬送量検出手段と、前記磁気カードの読み出し制御と搬送制御とを行うカード制御部と、前記磁気データに対する前記磁気カードの前記先端位置からの距離を予め記憶するメモリと、前記位置センサの情報と前記搬送量検出手段の情報とから前記磁気カードと前記磁気ヘッドとの相対位置関係を算出し、前記挙動センサの情報と算出した前記相対位置関係とから前記磁気カードの異常発生位置を特定する挙動監視部と、前記磁気データの読み出しエラーを検証し、前記メモリを読み出し前記磁気データの読み出しエラー発生位置を求め、前記磁気カードの異常発生位置と前記エラー発生位置とを比較し前記磁気カードの不良有無を判定するＣＰＵと、前記ＣＰＵから前記磁気カードの不良判定情報を受信し、前記磁気カードの交換必要情報を表示させる上位制御部と、交換必要情報を表示するモニターとを有することを特徴とする磁気カード読み取り装置。
5. 前記挙動センサは、加速度センサを有することを特徴とする請求項３または４記載の磁気カード読み取り装置。
6. 前記位置センサは、光学的検出手段を有することを特徴とする請求項３または４記載の磁気カード読み取り装置。
7. 前記搬送量検出手段は、ロータリエンコーダを有し、前記ロータリエンコーダは、前記搬送ローラと同一のシャフトに固定する回転円板と、前記回転円板を挟んで対向して設ける発光ダイオードとフォトトランジスタとを有し、前記回転円板は、円周上に等間隔に複数の抜き穴を設けることを特徴とする請求項３または４記載の磁気カード読み取り装置。
8. 前記カード制御部は、前記磁気ヘッドが読み出した前記磁気データを２値化する手段と、２値化したデータを前記ＣＰＵへ転送する手段とを有することを特徴とする請求項４記載の磁気カード読み取り装置。
9. 前記メモリは、前記磁気カードの搬送方向に対するデータ部に記録する前記磁気データに対応する前記先端位置からの距離を格納するデータ／距離対応テーブルを有することを特徴とする請求項３または４記載の磁気カード読み取り装置。
10. 前記挙動監視部は、前記挙動センサの情報から前記磁気ヘッドの挙動異常を判定する手段を有することを特徴とする請求項３、４、５の何れか１項記載の磁気カード読み取り装置。
11. 磁気カードを挿入するステップと、前記磁気カードを搬送ローラで搬送するステップと、磁気ヘッドで前記磁気カードから磁気データを読み出すステップと、前記磁気ヘッドに設けたセンサにより前記磁気ヘッドの挙動を検出するステップと、前記センサの情報から前記磁気ヘッドの挙動異常を挙動監視部で判定するステップとを有することを特徴とする磁気カード不良検出方法。
12. 前記センサは、加速度センサを有することを特徴とする請求項１１記載の磁気カード不良検出方法。
13. 磁気カードを挿入するステップと、搬送ローラで前記磁気カードを搬送するステップと、前記搬送ローラを駆動するモータを制御するステップと、前記磁気カードから磁気データを磁気ヘッドで読み出すステップと、前記磁気カードの読み出し制御と搬送制御とをカード制御部で行うステップと、前記磁気ヘッドに設けた挙動センサで前記磁気ヘッドの挙動を検出するステップと、前記磁気カードを搬送時に先端位置を位置センサで検出するステップと、前記搬送ローラによる前記磁気カードの搬送量を搬送量検出手段で検出するステップと、前記磁気データに対する前記磁気カードの前記先端位置からの距離を予めメモリへ記憶するステップと、挙動監視部が、前記位置センサの情報と前記搬送量検出手段の情報とから前記磁気カードと前記磁気ヘッドとの相対位置関係を算出し、前記挙動センサの情報と算出した前記相対位置関係とから前記磁気カードの異常発生位置を特定するステップと、ＣＰＵが、前記磁気データの読み出しエラーを検証し、前記メモリを読み出し前記磁気データの読み出しエラー発生位置を求め、前記磁気カードの異常発生箇所と前記エラー発生位置とを比較し前記磁気カードの不良有無を判定するステップと、上位制御部が、前記ＣＰＵから前記磁気カードの不良判定情報を受信し、前記磁気カードの交換必要情報をモニターへ表示させる指示をするステップと、モニターが交換必要情報を表示するステップとを有することを特徴とする磁気カード不良検出方法。
14. 前記挙動センサは、加速度センサを有することを特徴とする請求項１３記載の磁気カード不良検出方法。
15. 前記位置センサは、光学的検出手段を有することを特徴とする請求項１３記載の磁気カード不良検出方法。
16. 前記搬送量検出手段が、ロータリエンコーダにより、前記搬送ローラと同一のシャフトに回転円板を固定するステップと、前記回転円板を挟んで対向して発光ダイオードとフォトトランジスタとを設けるステップと、前記回転円板の円周上に等間隔に設けた複数の抜き穴を前記発光ダイオードと前記フォトトランジスタとで検出するステップとを有することを特徴とする請求項１３記載の磁気カード不良検出方法。
17. 前記カード制御部が、前記磁気ヘッドが読み出した前記磁気データを２値化するステップと、２値化したデータを前記ＣＰＵへ転送するステップとを有することを特徴とする請求項１３記載の磁気カード不良検出方法。
18. 前記メモリが、前記磁気カードの搬送方向に対するデータ部に記録する前記磁気データに対応する前記先端位置からの距離をデータ／距離対応テーブルへ格納するステップを有することを特徴とする請求項１３記載の磁気カード不良検出方法。
19. 前記挙動監視部が、前記挙動センサの情報から前記磁気ヘッドの挙動異常を判定するステップを有することを特徴とする請求項１３または１４記載の磁気カード不良検出方法。

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