JP2010013135A - カバーテープ - Google Patents

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【課題】本発明は、カバーテープの巻回体の輸送、保管、使用時における巻き崩れを防止できる、カバーテープを目的とする。
【解決手段】本発明のカバーテープは、表層として、基材層20と、シーラント材36を含むシーラント層30とが位置した積層体であり、基材層20の表面とシーラント層30の表面との静摩擦係数が、0.70以下であることよりなる。シーラント層30は、平均粒子径が0.01〜20μmの球状粒子34を有することが好ましく、球状粒子34は、CV値が45%以下であることが好ましく、シーラント層30には、球状粒子34が、100質量部のシーラント材36に対して0.5〜10質量部添加されていることが好ましい。
【選択図】図1

Description

本発明はカバーテープに関する。
近年、電子部品を保管、輸送、装着する際に、電子部品を凹状の電子部品収納部に一定ピッチで収納するキャリアテープが広く使用されている。このキャリアテープの電子部品収納部に電子部品を収納した後には、電子部品の汚染および脱落を防止するために、電子部品収納部の蓋材となるカバーテープがシールされる。カバーテープは、キャリアテープにシールするために、ヒートシール可能な熱可塑性樹脂成分や粘着剤を含有するシーラント層と、基材層とを有している。カバーテープには、透明性、帯電防止機能が要求され、このような要求に対し、従来、多くの発明が報告されている(例えば、特許文献1)。
カバーテープは、巻き芯に同心状に巻き取られた、いわゆるレコード巻きの巻回体として、流通されているのが一般的である。このカバーテープの巻き芯には、カバーテープの幅に合わせたABS樹脂やポリスチレン樹脂等のプラスチック製のコアが使用されていることが多い。
特開2005−126081号公報
しかしながら、カバーテープの巻回体は、温度等の外的要因により、カバーテープおよび巻き芯が伸縮等を起こす。このような伸縮では、カバーテープと巻き芯との伸縮の程度や方向性が異なるため、保管や輸送の間に伸縮が繰り返されると、レコード巻の形状のカバーテープ同士の間に空隙、いわゆる「す」の部分が生じて、保管、輸送中に巻き崩れを起こす場合があった。特に、昨今は、キャリアテープの長尺化に伴い、カバーテープも長尺化される傾向にあり、輸送時、保管時の外的要因により影響されやすくなり、カバーテープの間に生じた「す」の部分により、巻き崩れしやすくなり、取り扱い難い場合があった。加えて、カバーテープの繰り出し時に、装置のカバーテープ装着軸上で回転させた時に崩れてしまうという不具合があった。
そこで本発明は、巻回体として輸送、保管、使用する際における巻き崩れを防止できる、カバーテープを目的とする。
本発明のカバーテープは、表層として、基材層と、シーラント材を含むシーラント層とが位置した積層体であり、基材層の表面とシーラント層の表面との静摩擦係数が、0.70以下であることを特徴とする。
前記シーラント層は、平均粒子径が0.01〜20μmの略球状の粒子(以下、球状粒子ということがある)を有することが好ましく、前記粒子は、下記(1)式で表されるCV値が45%以下であることが好ましく、前記シーラント層には、前記粒子が、シーラント材100質量部に対して0.5〜10質量部添加されていることが好ましい。前記粒子は、アクリル系樹脂、スチレン系樹脂、メラミン系樹脂、ポリアミド系樹脂からなる群から選択される1種以上からなることが好ましく、酸化インジウムスズ(ITO:Indium Tin Oxide)、アンチモンドープ酸化スズ(ATO:Antimony Tin Oxide)、酸化亜鉛からなる群より選択される1種以上からなることが好ましく、シリカであることが好ましい。
CV値(%)=(粒子径分布の標準偏差÷平均粒子径)×100 ・・・(1)
本発明のカバーテープによれば、巻回体として輸送、保管、使用する際における巻き崩れが起きにくい。
本発明のカバーテープは、表層として、基材層とシーラント層とが位置した積層体であり、基材層の表面とシーラント層の表面との静摩擦係数が、0.70以下のものである。本発明のカバーテープの実施形態の一例について、図1を用いて説明する。図1は、カバーテープ10の断面図である。
図1に示すとおり、カバーテープ10は、基材層20の一方の面に、中間層40を介してシーラント層30が設けられている。シーラント層30は、球状粒子34とシーラント材とで構成されている。シーラント層側面32には、シーラント層30の表面に露出した球状粒子34、あるいは、球状粒子34の表面を覆うシーラント材36により、凸部が形成されている。
(基材層)
基材層20は特に限定されないが、透明性が高く、キャリアテープから剥離する際に切断されない程度の充分な強度を備え、環境や熱に対する寸法安定性に優れた絶縁性高分子フィルム等が好適に用いられる。
絶縁性高分子フィルムとしては、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリイミド、ポリエーテルイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルスルホン、ポリスルホン、ポリフェニレンサルファイド、ポリアリレート等のフィルム、または、これらが積層された積層フィルム等が挙げられる。中でも、強度、耐熱性、透明性の観点から、ポリエチレンテレフタレート等が好ましい。なお、フィルムを積層する場合には、あらかじめ貼り合わせ面に、粗面化処理、コロナ放電処理、プラズマ放電処理、プライマー処理、アンカーコート処理等の公知の処理が施されていてもよい。
基材層20の厚さは特に限定されないが、12〜50μmが好ましい。基材層20の厚さが12μm以上であれば、カバーテープが破断しにくくなり、50μm以下であれば、充分な可撓性を確保できる上、シール時に迅速に熱伝導させることができ、高速にシールすることができる。
(シーラント層)
シーラント層30は、キャリアテープとシールできるシーラント材36と、球状粒子34とを含む層である。
シーラント層30の厚さは1〜50μmであることが好ましく、5〜30μmであることがより好ましい。シーラント層30の厚さが1μm以上であれば、キャリアテープとのシール強度を充分に確保でき、50μm以下であれば、キャリアテープから剥離する際のシール強度が高くなりすぎることを防止でき、キャリアテープからカバーテープ10を容易に剥離できる。
<球状粒子>
シーラント層30は、球状粒子34を含むことにより、シーラント層側面32と基材層側面22との静摩擦係数を0.70以下とすることができる。
球状粒子34は、その平均粒子径が0.01〜20μmであり、好ましくは1〜10μmである。0.01μm未満であると、シーラント層側面32に形成される凸部が小さすぎて、シーラント層側面32と基材層側面22とが密着する範囲が広くなり、静摩擦係数を0.70以下に調整できないおそれがある。20μmを超えると、シーラント層30から隆起した凸部が大きくなりすぎ、該凸部が基材層20に深く食い込み、静摩擦係数を0.70以下に調整できないおそれがあるためである。
球状粒子34の平均粒子径とは、質量平均粒子径であり、コールターカウンター法により求められる値である。例えば、Multisizer3(ベックマン・コールター株式会社製)により、測定することができる。
球状粒子34は、略球状の粒子であり、真球のみならず、扁平な球状の粒子をも含むものである。例えば、球状粒子34の扁平の程度は、最大直径/最小直径で表される比において、1/1〜3/1の範囲の球状であることが好ましい。
球状粒子34は、下記(1)式で表されるCV値が45%以下であることが好ましく、20%以下であることがより好ましい。CV値が45%を超えると、球状粒子34の大きさのばらつきが大きくなりすぎて、シーラント層側面32の凸部の大きさが不均一となる。このため、シーラント層側面32と基材層側面22とが密着する箇所と、前記凸部が基材層側面22と接触している箇所とが混在し、シーラント層側面32全体の静摩擦係数を0.70以下に制御することが困難となるためである。
CV値(%)=(粒子径分布の標準偏差÷平均粒子径)×100 ・・・(1)
上記(1)式中、粒子径分布の標準偏差は、コールターカウンター法により求められる値である。例えば、Multisizer3(ベックマン・コールター株式会社製)により、測定することができる。
球状粒子34のシーラント層30への添加量は特に限定されないが、100質量部のシーラント材36に対して、0.5〜10質量部であることが好ましく、1〜5質量部であることがより好ましい。0.5質量部未満であると、シーラント層側面32に形成される凸部が少なすぎて、シーラント層側面32と基材層側面22とが密着する範囲が広くなり、静摩擦係数を0.70以下に調整できないおそれがある。10質量部を超えると、シーラント層30から隆起した凸部が多くなりすぎて、該凸部が基材層20に食い込む箇所が多くなり、静摩擦係数を0.70以下に調整できないおそれがあるためである。
球状粒子34の材質としては、例えば、有機系粒子、金属酸化物の粒子、無機系粒子等が挙げられる。この内、有機系粒子は、より真球に近い形状にでき、個々の形状のばらつきを小さくすることができるため、静摩擦係数を0.70以下に調整しやすい。
有機系粒子としては、アクリル系樹脂、スチレン系樹脂、メラミン系樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリエチレンワックス、フッ素樹脂、ウレタン樹脂等を挙げることができる。中でもアクリル系樹脂、スチレン系樹脂、メラミン系樹脂、ポリアミド系樹脂を好適に用いることができる。
金属酸化物の粒子としては、例えば、ITO、ATO、酸化亜鉛、酸化マグネシウムが挙げられる。中でも、ITO、ATO、酸化亜鉛は導電性を有し、帯電防止機能を付与することができるため、好適に用いることができる。
無機系粒子としては、シリカ、長石、珪酸塩等を挙げることができる。中でも、シリカを好適に用いることができる。
これらは、一種単独で用いてもよいし、複数種を併用してもよい。
<シーラント材>
シーラント材36は、キャリアテープの材質を考慮して決定することが好ましい。例えば、シーラント材36として、ポリアミド、ポリウレタン、ポリエステル、ポリスチレン、スチレン−ブタジエン−スチレンブロック共重合体等のスチレン系熱可塑性エラストマー、アクリル系共重合体、ポリエチレンやポリプロピレン等のポリオレフィン、エチレン・酢酸ビニル共重合体、エチレン・ビニルアルコール共重合体、エチレン・酢酸ビニル・アクリレート共重合体、エチレン・メチル(メタ)アクリレート共重合体、エチレン・エチルアクリレート共重合体、塩化ビニル、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、およびこれらの混合物等が挙げられる。これらは、単独でまたは2種類以上を組み合わせて用いることができる。
(中間層)
中間層40は、例えば、基材層20より小さい剪断弾性率を有する弾性体(具体的には、ポリエチレン、エチレン・ビニルアルコール共重合体、スチレン系、アミド系、あるいはエステル系の熱可塑性エラストマー等)が挙げられる。このような弾性体から構成された中間層40を有すれば、シール時の熱圧着コテの当たりが良くなるため、安定的にヒートシールできる。
中間層40の厚さは10〜70μmが好ましい。10μm未満であると引き裂き強度が低くなる傾向にあり、70μmを超えると、シール時の熱伝導が低下し、キャリアテープに対するカバーテープ10のシール性が低下する傾向があるためである。
(製造方法)
カバーテープ10の製造方法としては、例えば、基材層20上に中間層40を形成し、さらに中間層40上にシーラント層30を形成し、所定の幅にスリットする。その後、例えば、図2に示すように、スリットしたカバーテープ10を巻き芯60に同心状に巻き取り、レコード巻の巻回体50とする方法等が挙げられる。
基材層20上に中間層40を形成する方法としては、例えば、ドライラミネーション法、押出ラミネーション法などが挙げられるが、柔軟性が高くなることから、押出ラミネーション法が好ましい。中間層40上にシーラント層30を形成する方法としては、例えば、球状粒子34とシーラント材36とを含有する塗工液を調製し、その塗工液を中間層40に塗工し、乾燥させる方法が挙げられる。塗工液の塗工方法としては、例えば、グラビアコート、コンマコート、ロールコート等が挙げられる。
また、あるいは、基材層20に共押し出しにより、中間層40とシーラント層30とを形成させてもよい。
カバーテープ10を巻き芯に巻き取って巻回体50(図2)とした場合に、巻回体50では、シーラント層側面32と基材層側面22とが層状に重ねられた状態となる。高温環境下に、レコード巻のカバーテープ10の巻回体50が長時間置かれると、その環境から熱を吸収し、カバーテープ10や巻き芯60が膨張する。シーラント層30は、加熱によりシールする層であるから、高温環境下ではシーラント層30と基材層20とが密着し易く、その後冷却しても互いに滑らない状態になりやすい。このため、冷却した際に、隣接するカバーテープ10の収縮に追従できないカバーテープ10の一部が、歪んで「す」となったり、巻き芯60の収縮にカバーテープ10の収縮が追従できずに巻き芯60が抜ける場合がある。
本発明によれば、シーラント層側面32と基材層側面22との静摩擦係数を0.70以下とすることで、シーラント層側面32と基材層側面22とを滑りやすくし、高温時の膨張、冷却時の収縮において、隣接するカバーテープ10や巻き芯60の膨張・収縮に追従することができる。このため、カバーテープ10同士の層形成が乱れ、巻回体50に「す」が入ったり、巻き芯60に対するカバーテープ10の巻き付けの程度が緩んだりし難い。この結果、保管・輸送時、および、カバーテープ10の使用時の巻き崩れを防止できる。
さらに、シーラント層30に、平均粒子径が0.01〜20μmの球状粒子34を添加することで、シーラント層30から球状粒子34が露出して凸部が形成され、あるいは、シーラント材36が球状粒子34の表面を覆って凸部が形成される。こうして形成された凸部の表面は、略球面で、かつ、大きさや数が適切なため、シーラント層側面32と基材層側面22との密着を防止するとともに、凸部が基材層20に強固に食い込むことがない。この結果、シーラント層側面32と基材層側面22との静摩擦係数を0.70とすることができ、巻回体50の保管・輸送時、および、使用時の巻き崩れを防止できる。
上述の実施形態では、カバーテープは中間層を有しているが、本発明はこれに限られず、中間層を設けなくてもよい。
以下、本発明について実施例を挙げて具体的に説明するが、実施例に限定されるものではない。
(球状粒子)
カバーテープの製造に使用した球状粒子は、次の通りである。
(1)アクリル系樹脂粒子(平均粒子径=10μm、CV値=25%)・・・表中、アクリル1と記載
(2)アクリル系樹脂粒子(平均粒子径=10μm、CV値=45%)・・・表中、アクリル2と記載
(3)アクリル系樹脂粒子(平均粒子径=1μm、CV値=25%)・・・表中、アクリル3と記載
(4)アクリル系樹脂粒子(平均粒子径=20μm、CV値=45%)・・・表中、アクリル4と記載
(5)アクリル系樹脂粒子(平均粒子径=21μm、CV値=25%)・・・表中、アクリル5と記載
(6)ATO(平均粒子径=0.01μm、CV値=25%)・・・表中、ATO1と記載
(7)ATO(平均粒子径=0.02μm、CV値=45%)・・・表中、ATO2と記載
(8)ATO(平均粒子径=0.02μm、CV値=46%)・・・表中、ATO3と記載
(9)シリカ(平均粒子径=10μm、CV値=25%)・・・表中、シリカ1と記載(10)シリカ(平均粒子径=20μm、CV値=45%)・・・表中、シリカ2と記載
(実施例1〜9、比較例1、3)
基材層として、二軸延伸ポリエステルフィルム(厚さ16μm、幅900mm、Sタイプ、ユニチカ株式会社製)に、アンカーコート剤(AC剤)として、EL−510(東洋モートン株式会社製)を塗布乾燥し、基材層フィルムを得た。表1の配合に従い、球状粒子をシーラント材(CMPS(登録商標)V−201、三井・デュポンケミカル株式会社製)100質量部に添加したものを調製した。そして、前記基材層フィルムに、中間層としてポリエチレン樹脂(L−705、住友化学株式会社製)で30μm、シーラント層として球状粒子を含むシーラント材を20μmの厚さとなるように、共押し出しにて積層し、カバーテープを得た(製造方法1)。得られたカバーテープについて、静摩擦係数試験および巻き崩れ評価を行い、その結果を表1に示す。
(実施例10、比較例2)
基材層として、二軸延伸ポリエステルフィルム(厚さ16μm、幅900mm、Sタイプ、ユニチカ株式会社製)に、AC剤として、EL−510(東洋モートン株式会社製)を塗布乾燥し、基材層フィルムを得た。表1の配合に従い、球状粒子をシーラント材(アクリル樹脂、LR−1065、三菱レイヨン株式会社製)100質量部に添加した塗工液を調製した。そして、前記基材層フィルムのAC剤を塗布した面に、中間層としてポリエチレン樹脂(L−705、住友化学株式会社製)を厚さ30μmで押し出し、積層体を得た。得られた積層体の中間層の面をコロナ処理した後、シーラント層として該処理面に前記塗工液を10μm塗工し、乾燥し、4μmのシーラント層を有するカバーテープを得た(製造方法2)。得られたカバーテープについて、静摩擦係数試験および巻き崩れ評価を行い、その結果を表1に示す。
(静摩擦係数試験)
静摩擦係数試験は、JIS−K7125「プラスチックフィルム及びシート摩擦係数試験方法」に準じて行った。試験片には、カバーテープを80mm×20mmに裁断したものを2つ用意し、23±2℃、50±6%RHの条件下で、16時間保管したものを用いた。また、測定にはトライボギア(HEIDON−14D、新東科学株式会社製)を用い、荷重100g、試験速度100mm/minで測定した。
(巻き崩れ評価)
カバーテープを5.3mm幅×480mにスリットして巻回し、巻回体を得た。得られた巻回体を40℃で24時間放置した後、25℃で12時間冷却し、巻回体の状態を目視にて確認し、巻き崩れ評価試験を行った。巻回体におけるカバーテープ同士の間の空隙である「す」が全く見られないものを「○」、「す」が1つでも認められたものを「×」として巻き崩れの評価を行った。
Figure 2010013135
表1に示すように、カバーテープの基材層側表面とシーラント層側表面との静摩擦係数を0.70以下とした実施例1〜10では、巻き崩れ評価において、巻回体のカバーテープ同士の層間に、「す」の発生が見られず良好であった。一方、カバーテープの基材層側表面とシーラント層側表面との静摩擦係数を0.70を超えるものとした比較例1〜3では、巻き崩れ評価において、「す」の発生が見られた。このことから、カバーテープの基材層側表面とシーラント層側表面との静摩擦係数を0.70とすることで、「す」の発生を防止し、保管中、輸送中、および、使用中の巻き崩れを防止できることが判った。
本発明のカバーテープの一例を示す断面図である。 本発明のカバーテープの巻回体の一例を示す斜視図である。
符号の説明
10 カバーテープ
20 基材層
22 基材層側面
30 シーラント層
32 シーラント層側面
34 球状粒子
36 シーラント材
40 中間層
50 巻回体
60 巻き芯

Claims (7)

  1. 表層として、基材層と、シーラント材を含むシーラント層とが位置した積層体であり、基材層の表面とシーラント層の表面との静摩擦係数が、0.70以下であるカバーテープ。
  2. 前記シーラント層は、平均粒子径が0.01〜20μmの略球状の粒子を有する、請求項1に記載のカバーテープ。
  3. 前記粒子は、下記(1)式で表されるCV値が45%以下である、請求項2に記載のカバーテープ。
    CV値(%)=(粒子径分布の標準偏差÷平均粒子径)×100 ・・・(1)
  4. 前記シーラント層には、前記粒子が、シーラント材100質量部に対して0.5〜10質量部添加されている、請求項2または3に記載のカバーテープ。
  5. 前記粒子は、アクリル系樹脂、スチレン系樹脂、メラミン系樹脂、ポリアミド系樹脂からなる群から選択される1種以上からなる、請求項2〜4のいずれか1項に記載のカバーテープ。
  6. 前記粒子は、酸化インジウムスズ、アンチモンドープ酸化スズ、酸化亜鉛からなる群より選択される1種以上からなる、請求項2〜4のいずれか1項に記載のカバーテープ。
  7. 前記粒子は、シリカである、請求項2〜4のいずれか1項に記載のカバーテープ。
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