JP2009504004A5 - - Google Patents

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Claims (3)

  1. 離散X線ピクセルサイトの二次元配列であって、各ピクセルサイトが、(a)当該ピクセルサイト上のX線フルエンスに比例した電荷を蓄積する電荷蓄積要素と、(b)蓄積電荷/時間変換回路を有するアナログ/デジタル変換器を含む回路手段と、を含むことで、前記蓄積要素上のX線フルエンスに比例した電荷を、対応するデジタルデータに変換する、離散X線検出ピクセルサイトの二次元配列と、
    ピクセルサイトの配列上のX線フルエンスの二次元画像を表す順序付きデータマトリクスに前記デジタルデータを配列して、前記各ピクセルサイトからデータ記憶媒体に前記デジタルデータを送信する読み出しエレクトロニクスと、
    を含む、デジタル放射線撮影に用いる、低雑音の電子データ取り込みと読み出しを行うシステム。
  2. (a)基板と、
    (b)各ピクセルサイトが、第1階層と、前記基板の反対側に形成される第2階層と、を含む、離散X線検出ピクセルサイトの二次元配列と、を含み、
    前記第1階層は、(i)X線感応取り込み媒体と、(ii)前記ピクセルサイトのX線フルエンスに比例した電荷を取り込み媒体に蓄積する電荷蓄積要素と、(iii)蓄積電荷/時間変換回路を有する集積回路手段と、を含み、
    前記第2階層は、前記基板を介して、アナログ/デジタル変換器と、前記変換器と前記蓄積電荷/時間変換回路とを基板を介して接続する信号結合手段と、を含むと共に、前記蓄積要素上のX線フルエンスに比例した電荷を、対応するデジタルデータに変換し、
    更に、
    (c)前記ピクセルサイトの配列上のX線フルエンスの二次元画像を表す順序付きデータマトリクスに前記デジタルデータを配列して、前記各ピクセルサイトからデータ記憶媒体に前記デジタルデータを送信する読み出しエレクトロニクスを含む、デジタル放射線撮影に用いる、低雑音の電子データ取り込みと読み出しを行うシステム。
  3. それぞれが電子蓄積要素と、蓄積電荷/時間変換回路と、アナログ/デジタル変換器とを含む複数のピクセルサイトが設けられた、低雑音のデジタル放射線撮影システム用の画像形成パネルを駆動して、前記パネル上のピクセルサイト内の暗電流値を補正する方法であって、
    患者へのX線の照射に先立つ暗電流キャリブレーション期間において、
    (a)暗電流が生成する電荷を前記蓄積要素に蓄積するステップと、
    (b)前記暗電流の電荷を第1の時間値に変換するステップと、
    (c)前記ピクセルサイトにおいて、前記第1の時間値を暗電流デジタル値に変換するステップと、
    (d)前記暗電流デジタル値を蓄積するステップと、を含み、
    患者へのX線照射後の期間において、
    (e)前記ピクセルサイトにおける、暗電流電荷と、衝突するX線によって生成される電荷との組み合わせを表す、蓄積要素の累積電荷を生成するステップと、
    (f)前記累積電荷を第2の時間値に変換するステップと、
    (g)前記ピクセルサイトにおいて、前記第2の時間値を累積デジタル値に変換するステップと、
    (h)蓄積された前記暗電流デジタル値と、前記累積デジタル値とを組み合わせて、患者へのX線照射から生成された衝突するX線を表す残余デジタル値を生成するステップと、
    を含む方法。
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Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4041040B2 (ja) * 2003-09-08 2008-01-30 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 放射線断層撮影装置
US7825370B2 (en) * 2005-06-23 2010-11-02 General Electric Company Method and system for calibrating a computed tomography system
PT103370B (pt) * 2005-10-20 2009-01-19 Univ Do Minho Matriz de imagem de raios-x com guias de luz e sensores de pixel inteligentes, dispositivos detectores de radiação ou de partículas de alta energia que a contém, seu processo de fabrico e sua utilização
US7477727B1 (en) * 2006-01-26 2009-01-13 Karl Adolf Malashanko Digital X-ray image detector array
WO2008134885A1 (en) * 2007-05-04 2008-11-13 Centre De Recherche Industrielle Du Quebec System and method for optimizing lignocellulosic granular matter refining
US7639073B2 (en) * 2007-11-16 2009-12-29 Omnivision Technologies, Inc. Switched-capacitor amplifier with improved reset phase
KR101006916B1 (ko) * 2008-06-13 2011-01-10 한국 천문 연구원 시간-디지털 변환기에 적용되는 x-선 영상검출기용시뮬레이터
KR100943237B1 (ko) * 2009-04-20 2010-02-18 실리콘 디스플레이 (주) 이미지 센서 및 그의 구동 방법
US9134431B2 (en) * 2010-12-09 2015-09-15 Rigaku Corporation Radiation detector
IL212289A (en) * 2011-04-13 2016-08-31 Semi-Conductor Devices - An Elbit Systems - Rafael Partnership Circuit and method for reading image signals
DE102011080656B4 (de) * 2011-08-09 2013-11-14 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur Homogenisierung der Schwellenwerte eines mehrkanaligen quantenzählenden Strahlungsdetektors
CN102495824B (zh) * 2011-11-15 2015-03-18 上海卫星工程研究所 在同一模拟输出卡上产生多路不同频率模拟信号的方法
US8643168B1 (en) * 2012-10-16 2014-02-04 Lattice Semiconductor Corporation Integrated circuit package with input capacitance compensation
KR20150053159A (ko) * 2013-11-07 2015-05-15 삼성전자주식회사 서로 다른 시점에 입력된 전하 패킷에 기초하여 전압을 획득하는 방법 및 장치
EP3059613A1 (en) * 2015-02-23 2016-08-24 Institut de Física d'Altes Energies Photon counting
WO2016161544A1 (en) 2015-04-07 2016-10-13 Shenzhen Xpectvision Technology Co.,Ltd. Semiconductor x-ray detector
KR102403444B1 (ko) 2015-04-07 2022-05-30 선전 엑스펙트비전 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 반도체 x-선 검출기를 제조하는 방법
SG11201707508PA (en) 2015-04-07 2017-10-30 Shenzhen Xpectvision Tech Co Ltd Semiconductor x-ray detector
US10539691B2 (en) 2015-06-10 2020-01-21 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. Detector for X-ray fluorescence
WO2017004824A1 (en) 2015-07-09 2017-01-12 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. Methods of making semiconductor x-ray detector
WO2017031740A1 (en) 2015-08-27 2017-03-02 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. X-ray imaging with a detector capable of resolving photon energy
EP3347741B1 (en) 2015-09-08 2020-05-20 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. Methods for making an x-ray detector
CN107224293B (zh) * 2016-03-25 2020-08-18 群创光电股份有限公司 X射线图像检测系统及其控制方法
JP2017223525A (ja) * 2016-06-15 2017-12-21 コニカミノルタ株式会社 放射線画像撮影装置
JP6987603B2 (ja) * 2017-10-26 2022-01-05 ブリルニクス シンガポール プライベート リミテッド 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法、および電子機器
EP3704514A4 (en) * 2017-10-30 2021-04-21 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. DARK NOISE COMPENSATION IN A RADIATION DETECTOR
CN112368602B (zh) * 2018-07-12 2023-03-14 深圳帧观德芯科技有限公司 具有高时间分辨率的光学雷达
CN110393549A (zh) * 2019-05-27 2019-11-01 聚融医疗科技(杭州)有限公司 一种自动调节超声图像增益的方法及装置
CN110531404B (zh) * 2019-06-03 2021-07-09 中国科学技术大学 核脉冲电荷时间转换方法与系统
US10910432B1 (en) * 2019-07-23 2021-02-02 Cyber Medical Imaging, Inc. Use of surface patterning for fabricating a single die direct capture dental X-ray imaging sensor
US11064141B2 (en) * 2019-07-24 2021-07-13 Semiconductor Components Industries, Llc Imaging systems and methods for reducing dark signal non-uniformity across pixels

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3679826A (en) * 1970-07-06 1972-07-25 Philips Corp Solid state image sensing device
DE3635687A1 (de) * 1986-10-21 1988-05-05 Messerschmitt Boelkow Blohm Bildaufnahmesensor
JPS63127622A (ja) * 1986-11-18 1988-05-31 Jeol Ltd A/d変換器
JP2566006B2 (ja) * 1989-03-10 1996-12-25 日本電子株式会社 放射線検出器用波高検出回路
US5084639A (en) * 1990-09-17 1992-01-28 General Electric Company Low frequency noise canceling photodetector preamplifier useful for computerized tomography
JPH0548460A (ja) * 1991-06-05 1993-02-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd A/d変換器とこれを用いたセンサ及び3次元集積回路
US5466892A (en) * 1993-02-03 1995-11-14 Zycon Corporation Circuit boards including capacitive coupling for signal transmission and methods of use and manufacture
JPH07221260A (ja) * 1994-02-02 1995-08-18 Fujitsu Ltd 集積回路装置とその製造方法
US5461425A (en) * 1994-02-15 1995-10-24 Stanford University CMOS image sensor with pixel level A/D conversion
US5962856A (en) * 1995-04-28 1999-10-05 Sunnybrook Hospital Active matrix X-ray imaging array
JP3893181B2 (ja) * 1996-02-26 2007-03-14 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び該装置の駆動方法
JPH1168033A (ja) * 1997-08-15 1999-03-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd マルチチップモジュール
EP0936660A1 (en) 1998-02-10 1999-08-18 Interuniversitair Microelektronica Centrum Vzw An imager or particle or radiation detector and method of manufacturing the same
US6271785B1 (en) * 1998-04-29 2001-08-07 Texas Instruments Incorporated CMOS imager with an A/D per pixel convertor
US6292529B1 (en) * 1999-12-15 2001-09-18 Analogic Corporation Two-dimensional X-ray detector array for CT applications
FI111759B (fi) 2000-03-14 2003-09-15 Planmed Oy Anturijärjestelmä ja menetelmä digitaalisessa röntgenkuvantamisessa
JP3549841B2 (ja) * 2001-01-30 2004-08-04 日本電信電話株式会社 データ変換・出力装置
WO2003001567A2 (en) * 2001-06-20 2003-01-03 R3 Logic, Inc. High resolution, low power, wide dynamic range imager with embedded pixel processor and dram storage
DE10140863A1 (de) 2001-08-21 2003-03-13 Siemens Ag CT-Datenaufnehmer
JP2004239708A (ja) * 2003-02-05 2004-08-26 Mitsubishi Electric Corp 赤外線検出装置およびその製造方法
DE10307752B4 (de) 2003-02-14 2007-10-11 Siemens Ag Röntgendetektor
US20060011853A1 (en) * 2004-07-06 2006-01-19 Konstantinos Spartiotis High energy, real time capable, direct radiation conversion X-ray imaging system for Cd-Te and Cd-Zn-Te based cameras

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