JP2009504004A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009504004A5 JP2009504004A5 JP2008523927A JP2008523927A JP2009504004A5 JP 2009504004 A5 JP2009504004 A5 JP 2009504004A5 JP 2008523927 A JP2008523927 A JP 2008523927A JP 2008523927 A JP2008523927 A JP 2008523927A JP 2009504004 A5 JP2009504004 A5 JP 2009504004A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- digital
- charge
- pixel
- dark current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 3
- 238000002601 radiography Methods 0.000 claims 3
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 claims 2
- 230000001186 cumulative Effects 0.000 claims 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims 2
- 230000001808 coupling Effects 0.000 claims 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
Claims (3)
- 離散X線ピクセルサイトの二次元配列であって、各ピクセルサイトが、(a)当該ピクセルサイト上のX線フルエンスに比例した電荷を蓄積する電荷蓄積要素と、(b)蓄積電荷/時間変換回路を有するアナログ/デジタル変換器を含む回路手段と、を含むことで、前記蓄積要素上のX線フルエンスに比例した電荷を、対応するデジタルデータに変換する、離散X線検出ピクセルサイトの二次元配列と、
ピクセルサイトの配列上のX線フルエンスの二次元画像を表す順序付きデータマトリクスに前記デジタルデータを配列して、前記各ピクセルサイトからデータ記憶媒体に前記デジタルデータを送信する読み出しエレクトロニクスと、
を含む、デジタル放射線撮影に用いる、低雑音の電子データ取り込みと読み出しを行うシステム。 - (a)基板と、
(b)各ピクセルサイトが、第1階層と、前記基板の反対側に形成される第2階層と、を含む、離散X線検出ピクセルサイトの二次元配列と、を含み、
前記第1階層は、(i)X線感応取り込み媒体と、(ii)前記ピクセルサイトのX線フルエンスに比例した電荷を取り込み媒体に蓄積する電荷蓄積要素と、(iii)蓄積電荷/時間変換回路を有する集積回路手段と、を含み、
前記第2階層は、前記基板を介して、アナログ/デジタル変換器と、前記変換器と前記蓄積電荷/時間変換回路とを基板を介して接続する信号結合手段と、を含むと共に、前記蓄積要素上のX線フルエンスに比例した電荷を、対応するデジタルデータに変換し、
更に、
(c)前記ピクセルサイトの配列上のX線フルエンスの二次元画像を表す順序付きデータマトリクスに前記デジタルデータを配列して、前記各ピクセルサイトからデータ記憶媒体に前記デジタルデータを送信する読み出しエレクトロニクスを含む、デジタル放射線撮影に用いる、低雑音の電子データ取り込みと読み出しを行うシステム。 - それぞれが電子蓄積要素と、蓄積電荷/時間変換回路と、アナログ/デジタル変換器とを含む複数のピクセルサイトが設けられた、低雑音のデジタル放射線撮影システム用の画像形成パネルを駆動して、前記パネル上のピクセルサイト内の暗電流値を補正する方法であって、
患者へのX線の照射に先立つ暗電流キャリブレーション期間において、
(a)暗電流が生成する電荷を前記蓄積要素に蓄積するステップと、
(b)前記暗電流の電荷を第1の時間値に変換するステップと、
(c)前記ピクセルサイトにおいて、前記第1の時間値を暗電流デジタル値に変換するステップと、
(d)前記暗電流デジタル値を蓄積するステップと、を含み、
患者へのX線照射後の期間において、
(e)前記ピクセルサイトにおける、暗電流電荷と、衝突するX線によって生成される電荷との組み合わせを表す、蓄積要素の累積電荷を生成するステップと、
(f)前記累積電荷を第2の時間値に変換するステップと、
(g)前記ピクセルサイトにおいて、前記第2の時間値を累積デジタル値に変換するステップと、
(h)蓄積された前記暗電流デジタル値と、前記累積デジタル値とを組み合わせて、患者へのX線照射から生成された衝突するX線を表す残余デジタル値を生成するステップと、
を含む方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/191,537 US7456409B2 (en) | 2005-07-28 | 2005-07-28 | Low noise image data capture for digital radiography |
PCT/US2006/027377 WO2007015756A2 (en) | 2005-07-28 | 2006-07-14 | Low noise data capture for digital radiography |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009504004A JP2009504004A (ja) | 2009-01-29 |
JP2009504004A5 true JP2009504004A5 (ja) | 2009-08-20 |
Family
ID=37440806
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008523927A Pending JP2009504004A (ja) | 2005-07-28 | 2006-07-14 | デジタル放射線撮影での低雑音データ取り込み |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7456409B2 (ja) |
EP (1) | EP1907883A2 (ja) |
JP (1) | JP2009504004A (ja) |
KR (1) | KR20080031907A (ja) |
CN (1) | CN101389978A (ja) |
WO (1) | WO2007015756A2 (ja) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4041040B2 (ja) * | 2003-09-08 | 2008-01-30 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 放射線断層撮影装置 |
US7825370B2 (en) * | 2005-06-23 | 2010-11-02 | General Electric Company | Method and system for calibrating a computed tomography system |
PT103370B (pt) * | 2005-10-20 | 2009-01-19 | Univ Do Minho | Matriz de imagem de raios-x com guias de luz e sensores de pixel inteligentes, dispositivos detectores de radiação ou de partículas de alta energia que a contém, seu processo de fabrico e sua utilização |
US7477727B1 (en) * | 2006-01-26 | 2009-01-13 | Karl Adolf Malashanko | Digital X-ray image detector array |
WO2008134885A1 (en) * | 2007-05-04 | 2008-11-13 | Centre De Recherche Industrielle Du Quebec | System and method for optimizing lignocellulosic granular matter refining |
US7639073B2 (en) * | 2007-11-16 | 2009-12-29 | Omnivision Technologies, Inc. | Switched-capacitor amplifier with improved reset phase |
KR101006916B1 (ko) * | 2008-06-13 | 2011-01-10 | 한국 천문 연구원 | 시간-디지털 변환기에 적용되는 x-선 영상검출기용시뮬레이터 |
KR100943237B1 (ko) * | 2009-04-20 | 2010-02-18 | 실리콘 디스플레이 (주) | 이미지 센서 및 그의 구동 방법 |
US9134431B2 (en) * | 2010-12-09 | 2015-09-15 | Rigaku Corporation | Radiation detector |
IL212289A (en) * | 2011-04-13 | 2016-08-31 | Semi-Conductor Devices - An Elbit Systems - Rafael Partnership | Circuit and method for reading image signals |
DE102011080656B4 (de) * | 2011-08-09 | 2013-11-14 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Homogenisierung der Schwellenwerte eines mehrkanaligen quantenzählenden Strahlungsdetektors |
CN102495824B (zh) * | 2011-11-15 | 2015-03-18 | 上海卫星工程研究所 | 在同一模拟输出卡上产生多路不同频率模拟信号的方法 |
US8643168B1 (en) * | 2012-10-16 | 2014-02-04 | Lattice Semiconductor Corporation | Integrated circuit package with input capacitance compensation |
KR20150053159A (ko) * | 2013-11-07 | 2015-05-15 | 삼성전자주식회사 | 서로 다른 시점에 입력된 전하 패킷에 기초하여 전압을 획득하는 방법 및 장치 |
EP3059613A1 (en) * | 2015-02-23 | 2016-08-24 | Institut de Física d'Altes Energies | Photon counting |
WO2016161544A1 (en) | 2015-04-07 | 2016-10-13 | Shenzhen Xpectvision Technology Co.,Ltd. | Semiconductor x-ray detector |
KR102403444B1 (ko) | 2015-04-07 | 2022-05-30 | 선전 엑스펙트비전 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 | 반도체 x-선 검출기를 제조하는 방법 |
SG11201707508PA (en) | 2015-04-07 | 2017-10-30 | Shenzhen Xpectvision Tech Co Ltd | Semiconductor x-ray detector |
US10539691B2 (en) | 2015-06-10 | 2020-01-21 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | Detector for X-ray fluorescence |
WO2017004824A1 (en) | 2015-07-09 | 2017-01-12 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | Methods of making semiconductor x-ray detector |
WO2017031740A1 (en) | 2015-08-27 | 2017-03-02 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | X-ray imaging with a detector capable of resolving photon energy |
EP3347741B1 (en) | 2015-09-08 | 2020-05-20 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | Methods for making an x-ray detector |
CN107224293B (zh) * | 2016-03-25 | 2020-08-18 | 群创光电股份有限公司 | X射线图像检测系统及其控制方法 |
JP2017223525A (ja) * | 2016-06-15 | 2017-12-21 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
JP6987603B2 (ja) * | 2017-10-26 | 2022-01-05 | ブリルニクス シンガポール プライベート リミテッド | 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法、および電子機器 |
EP3704514A4 (en) * | 2017-10-30 | 2021-04-21 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | DARK NOISE COMPENSATION IN A RADIATION DETECTOR |
CN112368602B (zh) * | 2018-07-12 | 2023-03-14 | 深圳帧观德芯科技有限公司 | 具有高时间分辨率的光学雷达 |
CN110393549A (zh) * | 2019-05-27 | 2019-11-01 | 聚融医疗科技(杭州)有限公司 | 一种自动调节超声图像增益的方法及装置 |
CN110531404B (zh) * | 2019-06-03 | 2021-07-09 | 中国科学技术大学 | 核脉冲电荷时间转换方法与系统 |
US10910432B1 (en) * | 2019-07-23 | 2021-02-02 | Cyber Medical Imaging, Inc. | Use of surface patterning for fabricating a single die direct capture dental X-ray imaging sensor |
US11064141B2 (en) * | 2019-07-24 | 2021-07-13 | Semiconductor Components Industries, Llc | Imaging systems and methods for reducing dark signal non-uniformity across pixels |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3679826A (en) * | 1970-07-06 | 1972-07-25 | Philips Corp | Solid state image sensing device |
DE3635687A1 (de) * | 1986-10-21 | 1988-05-05 | Messerschmitt Boelkow Blohm | Bildaufnahmesensor |
JPS63127622A (ja) * | 1986-11-18 | 1988-05-31 | Jeol Ltd | A/d変換器 |
JP2566006B2 (ja) * | 1989-03-10 | 1996-12-25 | 日本電子株式会社 | 放射線検出器用波高検出回路 |
US5084639A (en) * | 1990-09-17 | 1992-01-28 | General Electric Company | Low frequency noise canceling photodetector preamplifier useful for computerized tomography |
JPH0548460A (ja) * | 1991-06-05 | 1993-02-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | A/d変換器とこれを用いたセンサ及び3次元集積回路 |
US5466892A (en) * | 1993-02-03 | 1995-11-14 | Zycon Corporation | Circuit boards including capacitive coupling for signal transmission and methods of use and manufacture |
JPH07221260A (ja) * | 1994-02-02 | 1995-08-18 | Fujitsu Ltd | 集積回路装置とその製造方法 |
US5461425A (en) * | 1994-02-15 | 1995-10-24 | Stanford University | CMOS image sensor with pixel level A/D conversion |
US5962856A (en) * | 1995-04-28 | 1999-10-05 | Sunnybrook Hospital | Active matrix X-ray imaging array |
JP3893181B2 (ja) * | 1996-02-26 | 2007-03-14 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び該装置の駆動方法 |
JPH1168033A (ja) * | 1997-08-15 | 1999-03-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マルチチップモジュール |
EP0936660A1 (en) | 1998-02-10 | 1999-08-18 | Interuniversitair Microelektronica Centrum Vzw | An imager or particle or radiation detector and method of manufacturing the same |
US6271785B1 (en) * | 1998-04-29 | 2001-08-07 | Texas Instruments Incorporated | CMOS imager with an A/D per pixel convertor |
US6292529B1 (en) * | 1999-12-15 | 2001-09-18 | Analogic Corporation | Two-dimensional X-ray detector array for CT applications |
FI111759B (fi) | 2000-03-14 | 2003-09-15 | Planmed Oy | Anturijärjestelmä ja menetelmä digitaalisessa röntgenkuvantamisessa |
JP3549841B2 (ja) * | 2001-01-30 | 2004-08-04 | 日本電信電話株式会社 | データ変換・出力装置 |
WO2003001567A2 (en) * | 2001-06-20 | 2003-01-03 | R3 Logic, Inc. | High resolution, low power, wide dynamic range imager with embedded pixel processor and dram storage |
DE10140863A1 (de) | 2001-08-21 | 2003-03-13 | Siemens Ag | CT-Datenaufnehmer |
JP2004239708A (ja) * | 2003-02-05 | 2004-08-26 | Mitsubishi Electric Corp | 赤外線検出装置およびその製造方法 |
DE10307752B4 (de) | 2003-02-14 | 2007-10-11 | Siemens Ag | Röntgendetektor |
US20060011853A1 (en) * | 2004-07-06 | 2006-01-19 | Konstantinos Spartiotis | High energy, real time capable, direct radiation conversion X-ray imaging system for Cd-Te and Cd-Zn-Te based cameras |
-
2005
- 2005-07-28 US US11/191,537 patent/US7456409B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-07-14 CN CNA2006800266687A patent/CN101389978A/zh active Pending
- 2006-07-14 EP EP06787305A patent/EP1907883A2/en not_active Withdrawn
- 2006-07-14 JP JP2008523927A patent/JP2009504004A/ja active Pending
- 2006-07-14 WO PCT/US2006/027377 patent/WO2007015756A2/en active Application Filing
- 2006-07-14 KR KR1020087002078A patent/KR20080031907A/ko not_active Application Discontinuation
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2009504004A5 (ja) | ||
JP5840588B2 (ja) | 放射線画像撮影装置、補正用データ取得方法およびプログラム | |
JP4746741B2 (ja) | 放射線撮像装置及びシステム | |
CN105556949B (zh) | 数字放射摄影探测器图像读出过程 | |
JP3950665B2 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像装置の撮像方法 | |
US9898806B2 (en) | Correction image creation device, radiographic imaging device, imaging device, computer readable medium and correction image creation method | |
JP4808557B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
JP5714770B2 (ja) | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御方法、及び放射線画像撮影装置の制御プログラム | |
JP2007151761A (ja) | 放射線撮像装置、システム及び方法、並びにプログラム | |
JP2005312805A5 (ja) | ||
JP2012100807A (ja) | 放射線画像検出装置およびその駆動制御方法 | |
JP2011139903A (ja) | 放射線撮影装置及びその方法並びにプログラム | |
JP2012119956A (ja) | 放射線画像検出装置 | |
JP2012125409A (ja) | 放射線撮影装置 | |
JP2008029393A5 (ja) | ||
JP4739060B2 (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及びその制御方法 | |
JP2013098765A5 (ja) | ||
JP2005312949A (ja) | 放射線撮像装置及びその制御方法 | |
WO2013136597A1 (ja) | 放射線画像撮影制御装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御方法、及び放射線画像撮影制御プログラム | |
JP5595940B2 (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
JP5705534B2 (ja) | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影方法、及び放射線画像撮影制御処理プログラム | |
JP2012152235A (ja) | 放射線画像撮影装置およびプログラム | |
JP2006158608A (ja) | X線撮影装置 | |
JP7098288B2 (ja) | 放射線撮像システム | |
JP2012039656A (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像システム及び放射線撮像装置の制御方法、並びにプログラム |