JP2009501505A - 電磁アクチュエータの駆動制御のための装置及び電磁アクチュエータの最初のインダクタンスの検査方法 - Google Patents

Abstract

本発明は、電磁アクチュエータの駆動制御のための装置ないしは電磁アクチュエータのインダクタンスの検査のための方法に関している。このインダクタンスは振動回路が形成されるように検査回路と接続されている。さらに評価回路が設けられており、この評価回路は振動回路の少なくとも１つの電気的パラメータを評価して、インダクタンスが所定の許容偏差内にあるか否かを検出している。

Description

本発明は独立請求項の上位概念による、電磁アクチュエータの駆動制御のための装置並びに電磁アクチュエータの最初のインダクタンスの検査方法

背景技術
Mike Schoenmehl著の公知文献"Die crashakive Kopfstuetze, ATZ5/ 2005, Jahrgang 107, P390-397"からは、電磁アクチュエータを用いたクラッシュアクティブヘッドレストが開示されており、特にそこでは衝突時のコイル、つまりインダクタンスが制御されている。

発明の利点
独立請求項の特徴部分に記載された本発明による電磁アクチュエータの駆動制御のための装置並びに電磁アクチュエータの最初のインダクタンスの検査方法によって得られる利点は、インダクタンスが振動回路を用いて監視ないしは検査され、それによってより正確なインダクタンスの算出が可能となり、ひいては電磁アクチュエータのより良好な監視が達成される点にある。振動回路の活動化とその周波数の検出によってインダクタンスの正確な特徴付けが可能となる。このインダクタンスは所定のパラメータに対応し、振動回路の周波数は所定の許容偏差内に存在する。例えばインダクタンスの低下やコイル巻線間の短絡によってインダクタンスに欠陥が生じた場合には、振動回路の周波数は許容偏差範囲から逸脱する。それに伴って欠陥機能が識別され、そのことがドライバーに通知される。ここではリモートメンテナンスへの通知も可能である。その他にもこの測定結果はメモリ、例えばエラーメモリあるいはクラッシュレコーダに永続的に記憶させることも可能である。このことは特にユーザーによるアクチュエータ機能の証明にもなる。

それ故に本発明の考察は、振動回路の残りの構成要素の別のパラメータがわかっている場合には、振動回路の構成要素としてインダクタンスを特に正確に特徴付けられることにある。

従属請求項に記載された手段ないし改善例によれば本発明による電磁アクチュエータの駆動制御のための装置並びに電磁アクチュエータの最初のインダクタンスの検査方法のさらなる有利な実施例が可能となる。

特に有利にはインダクタンスと振動回路を形成するように結合される検査回路がそれに対してコンデンサを有し、このコンデンサはインダクタンスと直列に接続されるスイッチに対して並列に接続されている。このスイッチは有利には、アクチュエータを駆動制御すべくインダクタンスに電流が流された時にスイッチオンされるローサイドスイッチやいわゆるハイサイドスイッチのようなパワーデバイススイッチであってもよい。つまりこれらのスイッチは通常は駆動する際にスイッチオンされる。これは例えばパワートランジスタ、特にＭＯＳＦＥＴパワートランジスタである。しかしながら前記スイッチはインダクタンスと給電電圧の間に設けられるハイサイドスイッチであってもよい。それに対してローサイドスイッチはインダクタンスとアースの間に設けられる。このスイッチに対するコンデンサの並列接続によって後から次のようなことが可能となる。、すなわち監視ないしは検査モードにおいてスイッチを開かせ、それによってコンデンサが回路全体の一部となり、インダクタンスと共に振動回路を形成し得る。さらに有利にはこのコンデンサに対して並列にツェナーダイオードが設けられており、このツェナーダイオードには振動回路内の電圧測定のために評価回路が結合される。このツェナーダイオードは付加的に次のような機能を満たしている。すなわち過度に高い電圧が発生した場合にスイッチ、特にパワースイッチをそのような過電圧から保護するために遮断される機能である。代替的にコンデンサを直接インダクタンスに並列に接続させることも可能である。その場合はコンデンサの充電が試みられる。

振動回路を用いたインダクタンスの測定に対しては多数の構成が可能である。第１の構成例においては有利にはインダクタンスとスイッチに対して並列に検査スイッチが設けられる。このスイッチは検査の際に閉じられる。それによりこのインダクタンスはスイッチオンされるコンデンサと線路（これは検査スイッチをスイッチオンさせる）と共に振動回路を形成し得る。検査スイッチは２つのパワースイッチ、すなわちハイサイドスイッチとローサイドスイッチの使用のもとで当該構成全体に対して並列に接続される。しかしながら１つのスイッチのみが使用されるならば、検査スイッチは当該スイッチとインダクタンスに対して並列に接続される。また複数のアクチュエータが接続される場合に、これらの２つのパワースイッチの他に、１つのメインスイッチを設けることも可能である。これにより安全性をさらに高めることができる。この場合は２つのパワースイッチは１つの共通の基板上に設けてもよいし、それらを別個の基板上に設けてもよい。この組合わせの可能性は、使用され得るメインスイッチと共に考えてもよい。さらにまた第２の検査スイッチを設けることも可能である。この第２の検査スイッチは、開かれたハイサイドスイッチのもとでこのスイッチに並列に接続され、振動回路をエネルギ供給部、例えばバッテリ電圧源またはエネルギー蓄積部に接続させ、コンデンサの充電を可能にさせる。それにより振動回路にエネルギーが供給可能となる。コンデンサの充電が完了した後は前記第２のスイッチが再び閉じられる。但しこの充電に用いられる電圧はアクチュエータのトリガが可能になるくらいに高いものであってはならない。それ故にこの第２の検査スイッチに印加される電圧はエネルギー蓄積部から直接出力される電圧よりも低いもの、すなわち４０Ｖではなくて５Ｖ程度である。エネルギーが振動回路の充電のためにエネルギー蓄積部から有利にはコンデンサに出力されると、この電圧は低減のために変換されなければならない。これは最も簡単な方法では分圧器によって行われる。

さらに別の有利な構成によれば、２つのアクチュエータに対して２つのインダクタンスが設けられ、これらが共に１つの簡単な回路において監視される。それに対しては検査スイッチはもはや何も必要とされず、これらの２つのインダクタンスは対応するコンデンサと共に共通の１つの振動回路を形成する。そのためここではいずれにせよ評価は困難である。なぜならエラー発生のケースにおいては２つのインダクタンスのうちのどちらが、ではなくて、少なくとも一方が支障を来していることしか検出されないからである。それが故に簡単な回路構成で済み、また多くのケースにおいてもそれだけで十分であることがわかっている。なぜならたとえ一方のインダクタンスのみの故障であっても修理工場への持ち込みは必要になるからである。

電気的なパラメータとしては有利には極大値の時点が用いられ、所定の値との比較が行われるか、あるいは周波数が評価される。この周波数も極大値に関する確定が可能であり、あるいは零点交差若しくは所定の信号上昇ないし下降エッジに関する確定が可能である。

コンデンサの許容偏差を有利な形式で把握するために有利には、検査方法の第１段階において、すなわち例えば最初の１０ｍｓの経過においてコンデンサの放電特性が監視される。ここではまたコンデンサの充電特性を監視して、その特性に基づいてコンデンサのキャパシタンスを求めるようにしてもよい。そうすればこの測定されたキャパシタンス値を用いて振動回路の周波数が正確に検出でき、またその際にはトムソンの振動公式を介してインダクタンスが求められてもよい。

最後に有利には、補助電圧源として作用する基準電位が設けられ、振動回路にエネルギーが供給される。その際この検査回路は、振動回路がこの基準電位を中心に自身の振動作用で振動するように構成される。

図面
本発明の実施例は図面に示されており、以下の明細書でもこれらの図面に基づき詳細に説明する。この場合、
図１は本発明による装置の第１のブロック回路図であり、
図２は第１の回路図であり、
図３は第２の回路図であり、
図４は第３の回路図であり、
図５は第１のフローチャートであり、
図６は第１の電圧時間ダイヤグラムであり、
図７は第２の電圧時間ダイヤグラムであり、
図８は第３の回路図である。

実施例
クラッシュアクティブヘッドレスト（衝突時作動型頭部支持装置）は自動車分野において益々需要が高まってきているものの１つである。このクラッシュアクティブヘッドレストは例えば衝突時に起こり得る頸椎捻挫等の負傷から首を効果的に保護し、それによって人体に被る負傷を最小限に食い止めることを目的としている。

このクラッシュアクティブヘッドレストはインダクタンスによって、つまりコイルでもって駆動制御されており、その寿命に亘って適正に用いられることを可能にするためにも、このインダクタンスの監視は重要である。これに対して本発明によればこのインダクタンスと共に振動回路が形成されており、この振動回路の電気的なパラメータに基づいて当該インダクタンスが所定の許容範囲内にあるかどうかが検出されている。この振動回路の測定ないしは特徴付けは、本発明によれば著しく正確にかつ簡単に行える。またこのクラッシュアクティブヘッドレストの他にも本発明によれば例えば歩行者保護システムのアクチュエータが電磁的に駆動制御できる。さらに一般的にみて本発明は、例えばロールオーバーバーのような乗員保護手段のためロック／アンロックシステムにも当てはまる。

図１には本発明による装置のブロック回路図が示されている。ここではアクチュエータがブロック１１で表されている。このアクチュエータは駆動制御の際にブロック１０を介してエネルギーを供給される。本発明によれば前記アクチュエータは監視の際には検査回路１２と接続され、それによって評価回路１３を介して当該アクチュエータ１１が所定のパラメータの範囲内にあるのかどうかが求められている。この監視は周期的に行われ、例えば毎秒毎に、あるいはもっと短い間隔で実施され得る。

アクチュエータ１１のインダクタンスと共に本発明による振動回路を形成するための検査回路１２とアクチュエータ１１の接続形成は、マイクロコントローラμＣによってスイッチ２お介して達成される。このスイッチは評価回路１３並びにアクチュエータ１１にも接続されており、それによってパラメータがその所定の許容偏差内にあるかどうかに関する検査が行われている。ここでは少なくとも１つのスイッチング素子が設けられており、このスイッチング素子は振動回路へのエネルギー供給の配慮に用いられている。このエネルギーは制御機器のエネルギー蓄積部若しくはバッテリー電圧から取り入れられている。このエネルギーは次のように選定されなければならない。すなわちアクチュエータ１１のトリガが避けられるように選定されなければならない。これは例えば低電圧への変換やカレントミラーによって達成し得る電流制限などで実施され得る。

評価回路１３は最も簡単なケースにおいては直列抵抗（Vorwiderstand）であってもよい。この抵抗はマイクロコントローラμＣのアナログデジタル入力側に直接接続される。しかしながら前記評価回路はこれとは別に複雑に構成することも可能である。例えば評価回路自身でアナログデジタル変換器と場合によってはさらなる評価構成要素を含んでいるように構成してもよい。マイクロコントローラμＣはさらにセンサ１４と接続されており、これによってアクチュエータ１１の駆動制御を当該センサ信号に依存して実施することができる。センサ１４は加速度センサ若しくは周辺センサであってもよいし、あるいは加速度センサと周辺センサの組合わせであってもよい。さらにコンタクトセンサが付加的に若しくは代替的に用いられてもよい。わかりやすくするために図１による回路は簡素化して示されており、そのためアクチュエータ１１の駆動制御装置の作動全部に必要とされる全てのコンポーネントが示されているわけではない。ここではアクチュエータ１１の監視に絞って説明を続ける。

図８には本発明による装置の第１実施形態が示されている。電圧源としてのエネルギー供給部ＶＴは直列抵抗Ｒ＿Ｔｅｓｔに接続され、他の側はアースに接続される。直列抵抗Ｒ＿Ｔｅｓｔは他の側において検査スイッチＴ、ハイサイドスイッチＨＩ、コイルＬに接続されている。前記ハイサイドスイッチＨＩはパワースイッチであり、これはエネルギー蓄積部か又は他のエネルギー源に接続されている。ハイサイドスイッチＨＩが通電すると、このエネルギーでもってコイルが通電され、アクチュエータ１１がトリガされる。しかしながらエネルギー供給部ＶＴは直列抵抗Ｒ＿Ｔｅｓｔを介して次のように選定される。すなわちそれがアクチュエータ１１のトリガを引き起こすのではなく、単に振動回路の充電のために選定される。コイルＬはここでは実コイルであり、接触抵抗ないし順抵抗によるエネルギー損失を伴う。

コイルの他の側はコンデンサＣとローサイドスイッチに接続されている。このローサイドスイッチの他の側はアースに接続されている。検査スイッチＴの他の側もアースに接続されている。

検査ケースにおいてはローサイドスイッチＬＯが開かれ、コンデンサＣがコイルＬに対して直接に接続する。所定の期間の経過後かまたは測定によって定められる期間の経過後検査スイッチＴは閉じられる。というのもコンデンサＣが充電されそれと共に振動回路も充電されるからである。ここにおいて相応の振動に基づいてコイルは振動回路の周波数検出によって検査され、例えばトムソンの振動の公式を介して周波数とコンデンサＣの既知のキャパシタンスからコイルＬのインダクタンスが求められる。

図２には本発明による装置の第２の実施形態が示されている。ハイサイドスイッチＨＩの一方の側は電圧供給部に接続され、他方の側はコイルＬと検査スイッチＴ１と検査スイッチＴ２に接続されている。検査スイッチＴ１の他方の側は電圧供給部か補助電圧源に接続されている。しかしながら検査スイッチＴ２の他方の側は、アースないしはダイオードＤ、コンデンサＣ及びローサイドスイッチＬＯに接続されている。コイルＬの他方の側は抵抗Ｒに接続されており、この抵抗ＲはコイルＬのオーム抵抗を表すものであり、つまりコイルＬは理想的なインダクタンスを表している。コイルの抵抗Ｒの別の側はダイオードＤの他の側とコンデンサＣの他の側と接続され、さらにローサイドスイッチＬＯの他の側に接続されている。これらのポイントからは検査時に評価すべき信号が取出される。

検査ケースでは、ハイサイドスイッチＨＩがまず開かれ、検査スイッチＴ１は閉じられ、検査スイッチＴ２は開かれる。ローサイドスイッチＬＯも開かれる。給電電圧の検査スイッチＴ１とコイルＬと抵抗Ｒを介したコンデンサＣまでの給電電圧の接続形成によりコンデンサＣが充電される。所定の期間の経過後は検査スイッチＴ１が開か、れ検査スイッチＴ２は閉じられる。また代替的に、充電電圧が十分である場合にのみ検査スイッチＴ１を開くようにすることも可能である。それに従って閉ループ制御が行われてもよい。

ここにおいて振動回路をコイルＬとコンデンサＣと抵抗Ｒから形成するために、振動が生じる。この振動は振動回路のあらゆる構成素子を介してタップ可能であり、主にツェナーダイオードとして構成されているダイオードＤを介して測定され評価回路１３に供給される。振動を介して振動回路の周波数が測定され得る。コンデンサＣのキャパシタンスの既知の値を介した周波数からはコイルのインダクタンスＬが求められる。抵抗Ｒは振動の減衰のためにのみ寄与し、振動回路の周波数に対しては僅かな影響しか有さない。これは公知のトムソンの振動式を介して求められ得る。インダクタンスＬの値は、評価回路１３とマイクロコントローラμＣを介して所定の値と比較される。これはインダクタンスＬがまだ所定の許容偏差範囲にあるのかどうかを確定するためである。インダクタンスＬが所定の許容偏差外にある場合には、修理工場の検索開始のためにこのことがドライバに表示される。

検査スイッチＴ１は本願においては、ハイサイドスイッチＨ１がエネルギー蓄積部の高電圧によって次のような負担（負荷）を被らないようにするために重要である。すなわち最大限許容可能な非トリガ電流を上回って、コイルＬのエネルギー内容が過度に高いレベルの影響を受け、振動の負の振幅はマイクロコントローラμＣの機能を損ない兼ねないようなアース電位をかなり下回った領域に達し、正の振幅は評価回路のアナログ／デジタル変換器の入力側における許容され得る正の電圧を超えるような状況である。

図３は、図２による回路のさらなる拡張例を示したものである。ここでは同じ構成要素には同じ符号が用いられている。付加的にここでは検査スイッチＴ２に対して直列にアース側で基準電位Ｖが設けられており、これは基準点を容易に評価できる電位まで引き上げている。ここでは１.９３Ｖの値がとられているが、しかしながらその他の適応する特定の値でも可能である。この基準電位は制御機器内で通常はＡＳＩＣ又はＡＳＩＣの一部として存在している電圧レギュレータを介して提供される。

この引き上げによって、周波数をデジタルゲート、カウンタ又はＨＥＴ（High End Timer）を用いて評価することが可能となる。このＨＥＴは所定の期間内で零点通過ないし零交差を測定するカウンタである。

図４には本発明による装置のさらなる変化実施例が示されている。ここでは２つのアクチュエータコイルＬ１及びＬ２が相互に並列に接続されている。２つのハイサイドスイッチＨ１及びＨ２はそれぞれ一方の側で相互に接続され、さらに図には示されていない逆極性保護ダイオードを介して供給電圧源に接続されている。別の側ではハイサイドスイッチＨ１がコイルＬ１に接続されており、このコイルＬ１の他方の側はコンデンサＣ５とローサイドスイッチＬＯ１に接続されている。ローサイドスイッチＬＯ１の別の側はコンデンサＣ５のようにアースに接続されている。ハイサイドスイッチＨ２の別の側はコイルＬ２に接続され、このコイルＬ２の他方の側はコンデンサＣ６とローサイドスイッチＬＯ２に接続されている。このローサイドスイッチＬＯ２の別の側はコンデンサＣ６のようにアースに接続されている。さらに検査スイッチＴ１が設けられており、この検査スイッチＴ１はエネルギー供給を切換えている。それによりコンデンサＣ５とＣ６は充電され得る。検査スイッチＴ１はダイオードＤ１３を介してコイルＬ１とＬ２並びにハイサイドスイッチＨ１及びＨ２に接続されている。

検査の際にはハイサイドスイッチＨ１とＨ２は開かれ、検査スイッチＴ１はコンデンサＣ５とＣ６にエネルギーを供給するために閉じられる。

ローサイドスイッチＬＯ１とＬＯ２は充電過程においても開かれたままであり、それによってコンデンサＣ５とＣ６はそれぞれコイルＬ１とＬ２に直列に接続されて充電される。これらのアクチュエータコイルＬ１及びＬ２並びにコンデンサＣ５及びＣ６は１つの振動回路を形成している。この振動周波数は、コイルＬ１とＬ２がインダクタンスにおいて異なっている場合には予め定めた値に相応しない。

例えば電圧が図には示されていないツェナーダイオードを介して測定されるならば、振動特性に減衰を伴った電圧経過が得られる。このことは振動回路の別のあらゆる構成素子を介しても得ることが可能である。インダクタンスの評価のためには最初の極大値の時点が求められる。この極大値が所定の許容偏差限界から外れている場合には２つのコイルのうちの一方の欠陥を疑わなければならない。さらに２つの極大値の間の時間間隔を定めるべく周波数を定めることも可能である。その結果として上述したようにトムソンの振動式を介してインダクタンスが算出され得る。

図５には本発明による方法のフローチャートが示されている。この方法ステップ５００では検査回路が振動回路を形成すべくスイッチオンされる。

しかしながら振動回路が振動を開始し得る前にはエネルギーが供給されなければならない。このことは方法ステップ５０１において実施される。それに対してはコンデンサが充電される。この充電過程はコンデンサのキャパシタンスを求めるためにも監視されなければならない。以下ではこのインダクタンスの検出を詳細にする。この方法ではまず例えば０〜１０ｍｓの期間の間、コンデンサのキャパシタンスをその充電特性曲線を用いて検出する。但しそれに対しては放電特性曲線も利用され得る。このキャパシタンスの検出に基づいて得られた値はコイルのインダクタンスのための計算に対して考慮される。これは例えば２０ｍｓの時点から振動周波数に基づいて求められる。コンデンサのキャパシタンスは、既知の数式τ＝Ｒ＊Ｃを用いて２つの時点における放電又は充電電圧の測定に基づいて求められる。

方法ステップ５０２ではエネルギーの供給が切り離され、方法ステップ５０２ｂにおいて場合によってはインダクタンスのハイサイドスイッチとの接続側が基準電位またはアースに接続される。振動回路の振動期間中は方法ステップ５０３において、振動回路を特徴付けている相応の電気的パラメータがピックアップされる。振動回路に対する特徴とは周波数である。この周波数は振動回路のキャパシタンスとインダクタンスから計算される。その他にも僅かながら減衰の影響も受ける。例えば周波数の算出に対しては、２つの極大値の間の周期期間を用いるか、ないしはタイマーを零点交差の際にスタートさせ次の零点交差の際にストップさせ、この間の持続時間を測定し、そして零点交差の数に応じて周期期間に対応する周波数を求めることができる。また単に２つの零点交差の間の持続時間のみを周波数の算出に用いてもよい。測定すべき電圧の生じ得る同相成分の排除のために、コンデンサは測定すべき特性量と評価回路の間に挿入することもできる。

インダクタンスが振動回路のパラメータによって求めることができるのであるならば、方法ステップ５０４において、インダクタンスが所定の許容偏差に適合しているか否かが検査される。適合しているならば、方法ステップ５０５において次の検査サイクルが実施可能になるまで待機される。適合していないのならば方法ステップ５０６においてこのエラーがドライバにシグナリングされる。このシグナリングは例えばオンボードコンピュータ、インストルメントパネルの警報ランプ、音声出力、又はヘッドアップディスプレイ等を介して行われる。また遠隔メンテナンスのための自動転送も可能である。その上さらにこの結果を後からの評価に使用するためにメモリに記憶させてもよい。

図６又は図７によれば、時点Ｔ₁までの第１の期間においてコンデンサは充電されている。それに対して図６によれば電圧は８Ｖから４Ｖまで低下している。時点Ｔ₁からは振動が発生し、これは周期的に経過しており、コイル抵抗Ｒに基づいて減衰しているため振幅において指数関数で次第に弱まっている。図６によればこの振動はアース電位を中心に経過し、図７では基準電圧の電位Ｕ_refを中心に経過している。

本発明による装置の第１のブロック回路図 第１の回路図 第２の回路図 第３の回路図 第１のフローチャート 第１の電圧時間ダイヤグラム 第２の電圧時間ダイヤグラム 第３の回路図

Claims (17)

1. 電磁アクチュエータ（１１）の駆動制御のための装置において、
   第１のインダクタンス（Ｌ）と、
   検査回路（１２）と、
   評価回路（１３）を有しており、
   前記インダクタンス（Ｌ）は駆動制御の際に装置によって通電されており、
   前記検査回路（１２）は、第１のインダクタンスの監視のために第１のインダクタンスと接続され該第１のインダクタンス（Ｌ）と共に振動回路を形成しており、
   前記評価回路（１３）は、振動回路の少なくとも１つの電気的パラメータをピックアップし、少なくとも１つのパラメータに依存して、第１のインダクタンス（Ｌ）が通電の際にアクチュエータ（１１）を駆動制御できるか否かを検出するようにしたことを特徴とする装置。
2. 前記検査回路（１２）は、振動回路の形成のために少なくとも１つの第１のコンデンサ（Ｃ）を有し、該コンデンサは第１のスイッチ（ＬＯ）に対して並列に接続されており、該第１のスイッチ（ＬＯ）は第１のインダクタンス（Ｌ）に直列に接続されている、請求項１記載の装置。
3. 少なくとも１つの第１のコンデンサに対して並列に第１のツェナーダイオードが設けられており、該第１のツェナーダイオードには評価回路（１３）が接続されている、請求項２記載の装置。
4. 前記第１のスイッチ（ＬＯ）はローサイドスイッチとして構成されている、請求項２または３記載の装置。
5. 前記装置は第１の検査スイッチ（Ｔ２）を有しており、該第１の検査スイッチ（Ｔ２）はインダクタンス（Ｌ）と第１のスイッチ（ＬＯ）とコンデンサ（Ｃ）に対して並列に接続され、さらに振動回路形成のために閉成される、請求項２から４いずれか１項記載の装置。
6. 第２の検査スイッチ（Ｔ１）が設けられており、該第２の検査スイッチ（Ｔ１）はエネルギー供給部とインダクタンス（Ｌ）の間に接続されている、請求項５記載の装置。
7. 第１のインダクタンス（Ｌ）と第１のスイッチ（ＬＯ）に対して並列に第２のインダクタンス（Ｌ２）と第２のスイッチ（ＬＯ２）が直列に接続されており、この場合第２のスイッチに対して並列に第２のコンデンサ（Ｃ６）が接続されている、請求項１から４いずれか１項記載の装置。
8. 基準電位が設けられており、該基準電位は振動回路の充電に用いられている、請求項１から７いずれか１項記載の装置。
9. 前記検査回路は振動回路が基準電位を中心に振動を生じさせるように構成されている、請求項８記載の装置。
10. 第２のコンデンサ（Ｃ６）に対して並列に第２のツェナーダイオードが接続されている、請求項７記載の装置。
11. 電磁アクチュエータ（１１）の第１のインダクタンス（Ｌ）を検査するための方法において、
    第１のインダクタンスを振動回路形成のために検査回路に接続するステップと、
    振動回路にエネルギーを供給するステップと、
    評価回路（１３）に振動回路の少なくとも１つの電気的パラメータをピックアップさせ、それに基づいて第１のインダクタンス（Ｌ）がアクチュエータの駆動制御を可能か否かを検出するステップとを有していることを特徴とする方法。
12. 少なくとも１つの電気的パラメータとして振動回路の振動の第１の極大値が用いられ、この場合第１の極大値の時点が許容偏差領域と比較される、請求項１１記載の装置。
13. 少なくとも１つのパラメータとして振動回路の周波数が用いられる、請求項１１記載の方法。
14. 順次連続する極大値または零点公差または所定の電圧値における上昇又は下降エッジの検出によって周波数が求められる、請求項１３記載の方法。
15. 第１の期間において振動回路の第１のコンデンサの充電又は放電特性が求められ、前記充電又は放電特性に基づいて第１のコンデンサのキャパシタンスが求められ、該キャパシタンスが周波数と共にインダクタンスの算出のために用いられる、請求項１１から１４いずれか１項記載の方法。
16. 第１の検査スイッチ（Ｔ２）がインダクタンス（Ｌ）に並列に接続され、エネルギー供給の後で振動回路形成のために閉成される、請求項１１から１５いずれか１項記載の方法。
17. 第１のインダクタンスに対して並列に第２のインダクタンスが設けられ、該第２のインダクタンスが振動回路形成のために検査回路と接続され、それに伴って第１と第２のインダクタンスが一緒に検査される、請求項１１から１６いずれか１項記載の方法。

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