JP2009237415A - 画像記録装置 - Google Patents

画像記録装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2009237415A
JP2009237415A JP2008085500A JP2008085500A JP2009237415A JP 2009237415 A JP2009237415 A JP 2009237415A JP 2008085500 A JP2008085500 A JP 2008085500A JP 2008085500 A JP2008085500 A JP 2008085500A JP 2009237415 A JP2009237415 A JP 2009237415A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel
shift amount
light
image
recording apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008085500A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5215018B2 (ja
Inventor
Yoshiki Mizuno
芳樹 水野
Takahide Hirawa
孝英 平和
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2008085500A priority Critical patent/JP5215018B2/ja
Priority to US12/372,141 priority patent/US8081204B2/en
Priority to TW098107534A priority patent/TWI389112B/zh
Priority to CN2009101279270A priority patent/CN101544130B/zh
Publication of JP2009237415A publication Critical patent/JP2009237415A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5215018B2 publication Critical patent/JP5215018B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2/00Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
    • B41J2/435Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of radiation to a printing material or impression-transfer material
    • B41J2/465Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of radiation to a printing material or impression-transfer material using masks, e.g. light-switching masks
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70383Direct write, i.e. pattern is written directly without the use of a mask by one or multiple beams
    • G03F7/70391Addressable array sources specially adapted to produce patterns, e.g. addressable LED arrays
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70791Large workpieces, e.g. glass substrates for flat panel displays or solar panels

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Printers Or Recording Devices Using Electromagnetic And Radiation Means (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

【課題】画像を記録する際に、1画素に相当する距離を超えて遷移位置をシフトさせる。
【解決手段】画像記録装置では、各光変調素子に対応する画素列の画素値が変化する各変化点に関して、描画ずれを補正するために光変調素子からの出力光量の遷移位置をシフトするシフト量が求められる。シフト量が1つの画素71に対応する基板上の領域の走査方向の幅を超える場合に、当該シフト量を当該幅にて除した値の整数部分の画素数だけ変化点が列方向に移動するように、対象画像の画素71aの画素値が変更されるとともに、当該変化点に対応するシフト量が小数部に相当する値に修正される。そして、変更後の対象画像および修正後のシフト量に基づいて空間光変調器を制御することにより、画像を記録する際に、1画素に相当する距離を超えて光変調素子からの出力光量の遷移位置をシフトさせつつ画像を精度よく記録することが実現される。
【選択図】図16

Description

本発明は、光の照射により記録媒体に画像を記録する画像記録装置に関する。
半導体装置製造技術を利用して基板上に固定リボンと可撓リボンとを交互に形成し、可撓リボンを固定リボンに対して撓ませることにより回折格子の深さを変更することができる回折格子型の光変調素子が開発されている。このような回折格子では溝の深さを変更することにより正反射光や回折光の強度が変化するため、光変調素子として各種記録媒体に画像を記録する画像記録装置への利用が提案されている。
例えば、画像記録装置に複数の回折格子型の光変調素子を設けて光を照射し、固定リボンと可撓リボンとが基準面から同じ高さに位置する状態の光変調素子からの反射光(0次光)を記録媒体へと導き、可撓リボンが撓んだ状態の光変調素子からの非0次回折光(主として1次回折光)を遮光することにより、記録媒体への画像記録が実現される。
特許文献1では、このような画像記録装置において、光変調素子がON−OFF間で遷移するタイミングを補正することにより、光変調素子がOFF状態からON状態へと遷移するときとON状態からOFF状態へと遷移するときの非対称性、感光材料毎の特性の相違、および、光変調素子毎の照射領域の走査方向の長さの相違や位置のずれに起因して生じる描画領域のずれを補正する技術が開示されている。
特開2004−4525号公報
ところが、特許文献1の画像記録装置では、順次僅かな時間だけずれたクロック群から1つのクロックを選択することにより、当該クロックに対応する画素の画素値に従った駆動電圧が光変調素子に入力されるため、1画素に相当する時間を超えて遷移タイミングをシフトさせる(または、1画素に相当する距離を超えて遷移位置をシフトさせる)ことができない。
本発明は上記課題に鑑みなされたものであり、記録媒体に画像を記録する際に、1画素に相当する距離を超えて遷移位置をシフトさせることが可能な画像記録装置を提供することを目的としている。
請求項1に記載の発明は、光の照射により記録媒体に画像を記録する画像記録装置であって、光変調素子を有する光変調器と、前記光変調器からの信号光により画像が記録される記録媒体を保持する保持部と、前記保持部を前記光変調器に対して相対的に移動して前記光変調素子からの光が照射される記録媒体上の照射位置を走査方向に連続的に移動する移動機構と、記録媒体への記録対象である対象画像において、前記走査方向に対応する列方向に複数の画素が並ぶ各画素列が、それぞれが前記列方向に連続して同一の画素値を有する複数の画素群の集合であり、前記各画素列において隣接する2つの画素群の間の位置である各変化点に関して、画素群の描画ずれを補正するために前記光変調素子からの出力光量の遷移位置をシフトするシフト量を求め、前記シフト量が、1つの画素に対応する記録媒体上の領域の前記走査方向の幅を超える場合に、前記シフト量を前記幅にて除した値の整数部分の画素数だけ前記各変化点が前記列方向に移動するように前記対象画像の画素の画素値を変更するとともに、前記各変化点に対応する前記シフト量を前記値の小数部に相当する値に修正する演算部と、前記移動機構に同期しつつ、変更後の前記対象画像および修正後の前記シフト量に基づいて前記光変調器を制御する制御部とを備える。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の画像記録装置であって、前記光変調器が複数の光変調素子を有し、前記複数の光変調素子が、前記対象画像に含まれる互いに異なる複数の画素列の描画を行う。
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の画像記録装置であって、前記演算部において、前記各変化点に対して、前記隣接する2つの画素群の画素値の組合せに基づいて修正前の前記シフト量が求められ、前記演算部が、複数通りの2つの画素値の組合せのそれぞれに対する変化点の移動量を示す画素加工テーブルを記憶する第1テーブル記憶部と、前記各画素列の各変化点における2つの画素値の組合せを用いて前記画素加工テーブルを参照することにより、前記各変化点の移動量を取得して前記各変化点を前記列方向に移動する画像変更部と、前記複数通りの2つの画素値の組合せのそれぞれに対する修正後のシフト量を示す修正シフト量テーブルを記憶する第2テーブル記憶部と、前記各画素列の前記各変化点における2つの画素値の組合せを用いて前記修正シフト量テーブルを参照することにより、前記各変化点に対する前記修正後のシフト量を取得するシフト量取得部とを備える。
請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の画像記録装置であって、前記光変調器が複数の光変調素子を有し、前記複数の光変調素子が、前記対象画像に含まれる互いに異なる複数の画素列の描画を行い、前記複数の光変調素子にそれぞれ対応する複数の画素加工テーブルおよび複数の修正シフト量テーブルが前記第1テーブル記憶部および前記第2テーブル記憶部に記憶される。
請求項5に記載の発明は、請求項4に記載の画像記録装置であって、前記複数通りの2つの画素値の組合せのそれぞれに対して移動前の変化点のシフト量を示す複数の補正テーブルが前記複数の光変調素子に対応して予め準備されており、前記演算部が、前記複数の補正テーブルから前記複数の画素加工テーブルおよび前記複数の修正シフト量テーブルを生成する。
請求項6に記載の発明は、請求項2、4または5に記載の画像記録装置であって、前記複数の光変調素子のそれぞれが、帯状の固定反射面と可撓反射面とが交互に配列された回折格子型の光変調素子である。
請求項7に記載の発明は、請求項1ないし6のいずれかに記載の画像記録装置であって、前記制御部において、記録媒体上の前記照射位置が、前記対象画像の前記各画素列における所定数の画素に相当する一定の距離だけ前記走査方向に移動する毎にベースクロックが発生し、前記光変調素子からの出力光量の遷移が、隣接する2つのベースクロック間のベースクロック期間にて1度だけ可能とされており、変更後の前記対象画像において、それぞれが前記列方向に連続して同一の画素値を有する複数の画素群のうち最も画素数が少ない最少画素群の画素数が、前記所定数の画素の画素数よりも少ない場合に、前記演算部が、前記一定の距離を前記最少画素群の前記画素数に相当する距離に短縮する。
請求項8に記載の発明は、請求項1ないし7のいずれかに記載の画像記録装置であって、修正前の前記シフト量が、1つの画素に対応する記録媒体上の領域の前記走査方向の幅の半分から画素群の描画ずれに基づく距離を増減した値である。
請求項9に記載の発明は、請求項1ないし8のいずれかに記載の画像記録装置であって、前記対象画像がランレングスデータとして前記演算部に入力され、前記演算部において、前記各変化点を移動する際に、前記ランレングスデータのランレングスの長さが変更される。
本発明によれば、記録媒体に画像を記録する際に、1画素に相当する距離を超えて遷移位置をシフトさせることができる。
また、請求項2および4の発明では、画像を高速に記録することができ、請求項3ないし5の発明では、画素加工テーブルおよび修正シフト量テーブルを利用することにより、1画素に相当する距離を超える遷移位置のシフトを容易に実現することができる。
また、請求項7の発明では、光変調素子の出力光量の遷移がベースクロック期間にて1度だけ可能とされる画像記録装置において、画像の記録を精度よく行うことができ、請求項8の発明では、光変調素子の出力光量の遷移位置を走査方向の両側に容易に移動させることができ、請求項9の発明では、変化点の移動を容易に行うことができる。
図1は本発明の第1の実施の形態に係る画像記録装置1の側面図であり、図2は画像記録装置1の平面図である。画像記録装置1は、液晶表示装置用のガラス基板(以下、単に「基板」という。)上の感光材料に光を照射して画像を記録する装置(パターン描画装置とも呼ばれる。)である。図1および図2に示すように、画像記録装置1は、(+Z)側の主面91(以下、「上面91」という。)上に感光材料の層が形成された基板9を保持する基板保持部3、基台11上に設けられて基板保持部3をZ方向に垂直なX方向およびY方向に移動する保持部移動機構2、基板保持部3および保持部移動機構2を跨ぐように基台11に固定されるフレーム12、並びに、フレーム12に取り付けられて基板9上の感光材料に変調された光を照射する光照射部4を備える。また、画像記録装置1は、図1に示すように、保持部移動機構2や光照射部4等の各構成を制御する制御部6を備える。
基板保持部3は、基板9が載置されるステージ31、ステージ31を回転可能に支持する支持プレート33、および、支持プレート33上において、基板9の上面91に垂直な回転軸321を中心としてステージ31を回転するステージ回転機構32を備える。
保持部移動機構2は、基板保持部3を図1および図2中のX方向(以下、「副走査方向」という。)に移動する副走査機構23、副走査機構23を介して支持プレート33を支持するベースプレート24、並びに、基板保持部3をベースプレート24と共にX方向に垂直なY方向(以下、「主走査方向」という。)に連続的に移動する主走査機構25を備える。画像記録装置1では、保持部移動機構2により、基板9の上面91に平行な主走査方向および副走査方向に基板保持部3が移動される。
図1および図2に示すように、副走査機構23は、支持プレート33の下側(すなわち、(−Z)側)において、ステージ31の主面に平行、かつ、主走査方向に垂直な副走査方向に伸びるリニアモータ231、並びに、リニアモータ231の(+Y)側および(−Y)側において副走査方向に伸びる一対のリニアガイド232を備える。主走査機構25は、ベースプレート24の下側において、ステージ31の主面に平行な主走査方向に伸びるリニアモータ251、リニアモータ251の(+X)側および(−X)側において主走査方向に伸びる一対のエアスライダ252、並びに、図示省略のリニアスケールを備える。
図2に示すように、光照射部4は、副走査方向に沿って等ピッチにて配列されてフレーム12に取り付けられる複数(本実施の形態では、8つ)の光学ヘッド41を備える。また、光照射部4は、図1に示すように、各光学ヘッド41に接続される光源光学系42、並びに、紫外光を出射するUV光源43および光源駆動部44を備える。UV光源43は固体レーザであり、光源駆動部44が駆動されることにより、UV光源43から例えば波長355nmの紫外光が出射され、光源光学系42を介して光学ヘッド41へと導かれる。
各光学ヘッド41は、UV光源43からの光を下方に向けて出射する出射部45、出射部45からの光を反射して空間光変調器46へと導く光学系451、光学系451を介して照射された出射部45からの光を変調しつつ反射する空間光変調器46、および、空間光変調器46からの変調された光を基板9の上面91に設けられた感光材料上へと導く光学系47を備える。
図3は、空間光変調器46を拡大して示す図である。図3に示すように、空間光変調器46は、出射部45を介して照射されたUV光源43からの光を基板9の上面91へと導く回折格子型の複数の光変調素子461を備える。光変調素子461は半導体装置製造技術を利用して製造され、格子の深さを変更することができる回折格子となっている。光変調素子461には複数の可撓リボン461aおよび固定リボン461bが交互に平行に配列形成され、複数の可撓リボン461aは背後の基準面に対して個別に昇降移動可能とされ、複数の固定リボン461bは基準面に対して固定される。回折格子型の光変調素子としては、例えば、GLV(Grating Light Valve:グレーチング・ライト・バルブ)(シリコン・ライト・マシーンズ(サニーベール、カリフォルニア)の登録商標)が知られている。
図4.Aおよび図4.Bは、可撓リボン461aおよび固定リボン461bに対して垂直な面における光変調素子461の断面を示す図である。図4.Aに示すように可撓リボン461aおよび固定リボン461bが基準面461cに対して同じ高さに位置する(すなわち、可撓リボン461aが撓まない)場合には、光変調素子461の表面は面一となり、入射光L1の反射光が0次光(正反射光)L2として導出される。一方、図4.Bに示すように可撓リボン461aが固定リボン461bよりも基準面461c側に撓んで可撓リボン461aと固定リボン461bとの高さの差が所定の値とされる場合には、可撓リボン461aが回折格子の溝の底面となり、1次回折光L3(さらには、高次回折光)が光変調素子461から導出され、0次光L2は消滅する。実際の光変調素子461では、可撓リボン461aと固定リボン461bとの高さの差を複数通りに変更することにより0次光L2の強度が複数通りに変更され、回折格子を利用した多階調の光変調が行われる。
図1に示す光照射部4では、UV光源43からの光が光源光学系42により線状光(光束断面が線状の光)とされ、出射部45を介して空間光変調器46のライン状に配列された複数の可撓リボン461aおよび固定リボン461b(図4.Aおよび図4.B参照)上に照射される。光変調素子461では、隣接する各1本の可撓リボン461aおよび固定リボン461bを1つのリボン対とすると、3つ以上のリボン対が描画されるパターンの1つの画素に対応する。もちろん、光変調素子461が1つのリボン対とされ、1つのリボン対が1つの画素に対応していてもよい。
光変調素子461では、各空間光変調器46に接続される変調器制御部60からの信号に基づいてパターンの各画素に対応するリボン対の可撓リボン461aがそれぞれ制御され、各画素に対応するリボン対が複数通りの出力光量(強度)の0次光を出射する複数の状態の間で遷移可能とされる。光変調素子461から出射される0次光は光学系47へと導かれ、非0次回折光(主として1次回折光((+1)次回折光および(−1)次回折光))は光学系47とは異なる方向へと導かれる。なお、迷光となることを防止するために1次回折光は図示を省略する遮光部により遮光される。
光変調素子461からの0次光は、光学系47を介して基板9の上面91へと導かれ、これにより、基板9の上面91上においてX方向(すなわち、副走査方向)に並ぶ複数の照射位置のそれぞれに変調された光が照射される。以上のように、光変調素子461の各画素に対応するリボン対は多階調(基板9上に描画用の光が照射されない階調を含む。)にて基板9上に光を照射することが可能とされる。
図1および図2に示す画像記録装置1では、保持部移動機構2の主走査機構25により主走査方向に移動される基板9に対し、光照射部4の光変調素子461から変調された光が照射される。換言すれば、主走査機構25は、光変調素子461から基板9へと導かれた光の基板9上における照射領域の位置(すなわち、照射位置)を、基板9に対して相対的にかつ連続的に主走査方向へと移動する照射位置移動機構となっている。なお、画像記録装置1では、基板9を移動することなく、光学ヘッド41が主走査方向に移動することにより基板9上の照射位置が主走査方向に移動されてもよい。画像記録装置1では、制御部6の変調器制御部60により、光変調素子461からの光の変調が制御されることにより、基板9への記録対象である画像(以下、「対象画像」という。)を示すパターンが基板9上に記録される。
図5は変調器制御部60の一部の構成を示す図であり、変調器制御部60における各光変調素子461の駆動に係る要素(以下、「素子駆動要素61」という。)の一部を示している。素子駆動要素61は、レジスタ610,611、シフト部616およびD/Aコンバータ612、並びに、D/Aコンバータ612からの出力を光変調素子461の実際の駆動電圧(以下、「実駆動電圧」という。)へと変換する回路を有し、シフト部616はレジスタ613、カウンタ614およびコンパレータ615を有する。
変調器制御部60は図示省略のクロック発生部をさらに備え、クロック発生部には主走査機構25のリニアスケールからの信号が入力される。そして、図6の上段に示すように、基板9上における各光変調素子461からの光の照射位置が一定の距離(後述の画像記録の際に設定される距離であり、以下、「設定距離」という。)だけ主走査方向(Y方向)に移動する毎にクロック発生部にてベースクロック303が発生し、図5に示すレジスタ610、並びに、シフト部616のレジスタ613およびカウンタ614に入力される。図5では、符号303を付す矢印にてレジスタ610,613およびカウンタ614に順次入力されるベースクロックを示している(後述のディレイクロック304、駆動電圧データ301、シフトディレイ数データ302およびシフト済みクロック305において同様)。
また、クロック発生部では、図6の中段に示すように、設定距離を所定数に等分割した距離(例えば、10ナノメートル(nm))だけ基板9上の照射位置が移動する毎にディレイクロック304が発生し、カウンタ614に入力される。なお、主走査機構25による基板9の主走査方向への移動速度はほぼ一定であるため、図6の上段および中段のそれぞれでは、横軸を時間と捉えることも可能である(後述の図9、図14ないし図16、図18、図19、図22、並びに、図23において同様)。
図5のレジスタ610には実駆動電圧が時間とともに漸次変化して最終的に到達する目標となる電圧(以下、「目標駆動電圧」という。)を示す駆動電圧データ301がベースクロック303に応答して順次入力されるとともに、ベースクロック303に同期してレジスタ610から駆動電圧データ301がレジスタ611に出力される。また、シフト部616のレジスタ613には光変調素子461の動作位置(動作タイミング)を調整するために利用されるシフトディレイ数データ302がベースクロック303に応答して順次入力される。
コンパレータ615には、ベースクロック303に同期してレジスタ613からシフトディレイ数データ302が入力される。そして、ディレイクロック304がカウンタ614に入力される毎に、カウンタ614におけるディレイクロック304のカウント数がコンパレータ615に出力され、シフトディレイ数データ302が示す値とカウンタ614からのカウント数とが一致すると、ベースクロック303に対して遅延したクロック(以下、「シフト済みクロック」)305がコンパレータ615からレジスタ611へと出力される。これにより、レジスタ611からD/Aコンバータ612を経由して駆動電圧データ301のアナログ信号が出力される。なお、カウンタ614におけるディレイクロック304のカウント数はベースクロック303が入力される毎にリセットされる。
シフト済みクロック305毎の駆動電圧データ301は光変調素子461を1回駆動する際の目標駆動電圧に対応しており、D/Aコンバータ612からの出力は電流源51に入力されて電流へとさらに変換される。電流源51は一端が抵抗52を介して高電位Vcc側に接続され、他端が接地される。
電流源51の両端は、接続パッド53を介して光変調素子461の可撓リボン461aおよび基準面461cに接続される。したがって、駆動電圧データ301がD/Aコンバータ612および電流源51を介して電流へと変換されると、抵抗52による電圧降下により両接続パッド53間の実駆動電圧へと変換される。以上のように、素子駆動要素61は、ディレイクロック304に対応する距離を最小分解能としつつ、シフトディレイ数データ302に基づいて光変調素子461の動作位置をベースクロック303に対応する位置からシフトさせる(調整する)ことが可能とされている。
なお、接続パッド53間は浮遊容量を有するため、接続パッド53間の実際の駆動電圧(実駆動電圧)は接続パッド53間の時定数に従った変化を行い、時間と共に目標駆動電圧へと向かう。
図7は変調器制御部60の構成を示すブロック図である。変調器制御部60は、既述の素子駆動要素61に加えて、各種演算を行うCPUおよび各種情報を記憶するメモリを有する主演算部62、および、プログラミング可能な電子回路であるFPGA(Field Programmable Gate Array)制御要素63(図7中にて破線のブロックにて示す。)を備える。実際には、変調器制御部60には、各光変調素子461に対して1つの素子駆動要素61および1つのFPGA制御要素63が設けられるが、図7では1つの光変調素子461に対応する素子駆動要素61およびFPGA制御要素63のみを図示している。
主演算部62は、画像記録の際に利用される各種テーブルを生成するテーブル生成部622、および、後述のテーブル生成時にテーブルの生成に係る条件を検出するシフト量超過検出部621を備える。FPGA制御要素63では、対象画像の変更(画素の加工)に用いられる画素加工テーブル6311を記憶するメモリ631、画素加工テーブル6311を用いて対象画像の画素の画素値を変更する画素列加工部632、および、変更後の画像を素子駆動要素61用のデータフォーマットに変換する出力データ生成部633の機能が実現される。
また、各素子駆動要素61は、シフトディレイ数データ302を取得する修正シフト量取得部618、駆動電圧データ301を取得する駆動電圧取得部619、および、メモリ617を有し、光変調素子461毎に準備される後述の修正シフト量テーブル6171、全光変調素子461にて共通の基準位置アドレステーブル6172、および、描画時の複数階調の出射光量に対応する目標駆動電圧を示す駆動電圧テーブル6173が主演算部62からメモリ617に入力されて記憶される。
ここで、画像記録装置1における記録対象である対象画像では、主走査方向に対応する列方向および副走査方向に対応する行方向に複数の画素が配列されており、後述の画像記録(パターン描画)では、列方向に並ぶ複数の画素を画素列として、各光変調素子461により1つの画素列に対する描画が行われる。また、各画素列は、それぞれが列方向に連続して同一の画素値を有する複数の画素群の集合とされ(すなわち、各画素列はそれぞれが2以上の画素の集合である複数の画素群にて構成され)、画素列において隣接する2つの画素群の間の位置が、光変調素子461から照射領域に照射される出力光量の遷移を示す変化点とされる。本実施の形態では、対象画像が1ないし4の4値の画像であるものとするが、もちろん、5以上の階調レベルを有する画像、あるいは、2または3の階調レベルを有する画像であってもよい。
各光変調素子461の素子駆動要素61に接続される画素列加工部632には、当該光変調素子461に対応する画素列のデータ(以下、「画素列データ」という。)691がランレングスデータとして入力され、後述するように画素加工テーブル6311を用いて画素列データ691が加工される。そして、出力データ生成部633では、加工後の画素列データ691が素子駆動要素61用のデータフォーマットに変換され、ベースクロック303が発生する毎に変換画素データ692(シリアルデータである。)として素子駆動要素61に順次出力される。
ここで、ベースクロック303を示す図6の上段、および、1つの画素列の画素を示す図6の下段のように、画像記録装置1では、隣接する2つのベースクロック303間の期間(以下、「ベースクロック期間」という。)において、対象画像の各画素列における2以上の画素71(図6の下段の例では4個の画素71)が描画制御の対象とされる。換言すれば、ベースクロック期間にて描画制御の対象とされる画素の個数をベースクロック間画素数として、ベースクロック期間において光変調素子461からの光の照射位置が主走査方向に移動する設定距離は、ベースクロック間画素数の画素71に相当する距離(図6の上段にて符号Wを付す矢印にて示す距離)とされる。以下の説明では、図6の上段および下段において、対象画像の各画素71の先頭に対応する主走査方向の位置(符号A1を付す矢印にて示す位置)を当該画素の「基準位置」といい、隣接する2つの基準位置間の距離(すなわち、設定距離をベースクロック間画素数で除した距離であり、描画における論理的な最小分解能と捉えることができる。)を「基準距離」という。図6の下段では、基準距離を符号Tを付す矢印にて示している。
また、画像記録装置1では、図5に示す素子駆動要素61の構成においてシフト済みクロック305がベースクロック期間にて1度だけ出力されるため、光変調素子461からの出力光量の遷移は、ベースクロック期間にて1度だけ可能とされており、ベースクロック303に応じて出力される変換画素データ692は、図8に示すように、ベースクロック期間におけるベースクロック間画素数の画素において、直前の画素から画素値が変化する画素の番号、および、当該画素の画素値(以下、それぞれ「変化画素番号」および「変化後画素値」という。)を示すものとなっている。
例えば、ベースクロック間画素数が4であり、図9の最下段に示すように、あるベースクロック期間における4個の画素71(図9の最下段において太線の矩形にて囲む画素71)において、3番目の画素71と4番目の画素71との間にて画素値が1から2に変化する場合には(図9の最下段において画素値が1の画素71を白色にて示し、画素値が2の画素71に平行斜線を付す。図9の下から2ないし5段目、並びに、図14ないし図16、図18、図19において同様。)、変化画素番号および変化後画素値はそれぞれ4および2とされ、図9の下から2段目に示すように、2番目の画素71と3番目の画素71との間にて画素値が1から2に変化する場合には、変化画素番号および変化後画素値はそれぞれ3および2とされ、図9の下から3段目に示すように、1番目の画素71と2番目の画素71との間にて画素値が1から2に変化する場合には、変化画素番号および変化後画素値は共に2とされる。
また、図9の下から4段目に示すように、1番目の画素71と直前のベースクロック期間における4番目の画素71との間にて画素値が1から2に変化する場合には、変化画素番号および変化後画素値はそれぞれ1および2とされ、図9の下から5段目(上から2段目)に示すように、画素値が変化する画素71が存在しない場合には、変化画素番号は1とされ、変化後画素値は直前のベースクロック期間における最後の画素の画素値と同じとされる。なお、変化画素番号は、基準距離Tを単位とする論理的な座標値と捉えることができる。
図10は基準位置アドレステーブル6172を示す図である。図10に示す基準位置アドレステーブル6172は、直前のベースクロック303が発生した位置から1ないし4番目の画素のそれぞれに対する基準位置までの主走査方向の距離(以下、「基準位置アドレス」という。)をディレイクロック304のカウント数として示すテーブルとなっている(図9の最上段参照)。図10では、1ないし4番目の画素の基準位置アドレスをそれぞれ「第1基準位置アドレス」、「第2基準位置アドレス」、「第3基準位置アドレス」、「第4基準位置アドレス」と記している。
図11は修正シフト量テーブル6171を示す図である。修正シフト量テーブル6171は、後述の補正テーブルを修正することにより生成されるものであり、複数通りの2つの画素値の組合せのそれぞれに対してシフト量(後述の補正テーブルから導かれる値を修正(変更)することにより得られる値であり、以下、「修正シフト量」という。)を示すものとなっており、実際には、修正シフト量はディレイクロック304のカウント数にて表されている。図11では、画素値Mと画素値Nとの組合せに対する修正シフト量を「画素値M→N変化時修正シフト量」と記している(ただし、M、Nは1ないし4)。なお、修正シフト量は、隣接する2つの基準位置間の距離(すなわち、基準距離T)に相当するカウント数よりも小さい。
図7の修正シフト量取得部618では、出力データ生成部633からベースクロック303毎に入力される変換画素データ692の変化画素番号を用いて図10の基準位置アドレステーブル6172を参照することにより、1つの基準位置アドレスが特定される。また、修正シフト量取得部618では、直前のベースクロック303にて入力された変換画素データ692の変化後画素値が記憶されており、直前の変化後画素値および今回の変化後画素値を用いて図11の修正シフト量テーブル6171を参照することにより、1つの修正シフト量が特定される。そして、特定された基準位置アドレスおよび修正シフト量(既述のように、両者はディレイクロック304のカウント数として表されている。)を加算した値がシフトディレイ数として求められ、図5のシフト部616のレジスタ613に、シフトディレイ数データ302として入力される。
図12は駆動電圧テーブル6173を示す図である。駆動電圧テーブル6173は複数通りの画素値にそれぞれ対応する目標駆動電圧を示すテーブルとなっており、図7の駆動電圧取得部619では、変換画素データ692の変化後画素値を用いて駆動電圧テーブル6173を参照することにより、変化後画素値に対応する駆動電圧が特定される。図12では、変化後画素値1ないし4に対応する駆動電圧をそれぞれ「第1階調駆動電圧」、「第2階調駆動電圧」、「第3階調駆動電圧」、「第4階調駆動電圧」と記している。特定された駆動電圧は駆動電圧データ301として図5のレジスタ610に入力される。
以上のようにして、図7の素子駆動要素61において変換画素データ692から駆動電圧データ301およびシフトディレイ数データ302が生成されることにより、光変調素子461からの出力光量を変化後画素値に対応する階調に遷移させるとともに、その遷移位置をシフト(調整)することが可能となる。なお、画素加工テーブル6311および修正シフト量テーブル6171の詳細については後述する。
次に、画像記録装置1が基板9上に画像を記録する動作について図13を参照しつつ説明する。画像記録装置1では、まず、各光変調素子461に対して補正テーブルが操作者により準備され、図7の主演算部62に入力される(ステップS11)。なお、図7では符号681を付す矢印にて補正テーブルを示している。
ここで、補正テーブルとは、各光変調素子461に対応する画素列における各変化点に関して、当該変化点を挟む2つの画素群に対応する基板9上の2つの領域(2つの画素群に対応するパターンが形成される2つの領域)間の境界の主走査方向の位置ずれ(すなわち、描画ずれ)を補正するために、当該光変調素子461からの出力光量の遷移位置をシフトするシフト量を示すものである。描画ずれの原因としては、撓み量が変化する際に可撓リボン461aの状態が安定するまでの時間が、当該変化点を挟む2つの画素群の画素値の組合せによって相違すること、あるいは、当該光変調素子461の照射領域の主走査方向の長さや位置(照射位置)が他の光変調素子461と相違すること等が挙げられる。なお、補正テーブルは、例えば、ダミー基板に副走査方向に伸びるパターンを実際に描画する、あるいは、ステージ31上に光検出部を設け、全ての光変調素子461からの光の照射領域の主走査方向の長さや位置を測定することにより取得される。
表1に示す補正テーブルでは、注目している注目画素の直前の画素の画素値と、注目画素の画素値(表1において、それぞれ「直前の画素値」および「現在の画素値」と記す。)との全ての組合せのそれぞれに対して、「標準シフト量」、「線幅補正シフト量」および「位置補正シフト量」が設定されている。なお、表1では、「直前の画素値」および「現在の画素値」が1と1の組合せ、1と2の組合せ、2と1の組合せ、2と2の組合せとされる場合のみを示しているが、実際には、「直前の画素値」および「現在の画素値」のそれぞれが3および4とされる組合せについても「標準シフト量」、「線幅補正シフト量」および「位置補正シフト量」が設定されている。
Figure 2009237415
図14は、補正テーブルにおける標準シフト量を説明するための図である。図14の上段はベースクロック303を示し、中段は目標駆動電圧を示し、下段は画素列を示している。ここでは、図14の上段および下段に示すようにベースクロック間画素数が4であるものとし、図14の上段では、図6の上段と同様に、設定距離Wをベースクロック間画素数にて除した基準距離を符号Tを付す矢印にて示している。
標準シフト量は、上述の描画ずれを補正する必要が無い場合でも、出力光量の遷移位置を変化点に対応する位置から照射位置の基板9に対する相対移動方向の前側(主走査方向への移動時の前側であり、図14の右側)に移動させるためのものである。例えば、図14の中段および下段に示す例では、光変調素子461に対する目標駆動電圧を画素値1に対応する第1階調駆動電圧V1から画素値2に対応する第2階調駆動電圧V2へと変更する遷移位置が、画素値1の白い画素71から平行斜線を付す画素値2の画素71への変化点の位置(すなわち、画素値2の画素群の最初の画素71の基準位置A1a)に対して、標準シフト量である基準距離Tの1/2倍だけ移動する。既述のように、全ての光変調素子461のそれぞれに対して補正テーブルが個別に準備されるが、全ての補正テーブルの全ての画素値の組合せにおいて標準シフト量は等しくされる。
図15は、補正テーブルにおける線幅補正シフト量を説明するための図である。線幅補正シフト量は、隣接する2つの画素群の画素値の組合せに依存する描画ずれを補正するためのものであり、例えば、変化点において画素値が1から2に変化する際には、表1を参照することにより光変調素子461からの出力光量の遷移位置(例えば、出力光量の立ち上がり時間に依存する位置)を基準距離Tの1/3倍だけ照射位置の相対移動方向の前側に移動させることを示す(+(1/3)T)が特定され、これにより、基板9上において画素値1の画素群に対応する領域と画素値2の画素群に対応する領域との境界位置のずれが補正される(すなわち、画素群の描画ずれが補正される。)。また、変化点において画素値が2から1に変化する際には、表1を参照することにより光変調素子461からの出力光量の遷移位置(例えば、出力光量の立ち下がり時間に依存する位置)を基準距離Tの1/3倍だけ照射位置の相対移動方向の後側に移動させることを示す(−(1/3)T)が特定され、これにより、基板9上において画素値2の画素群に対応する領域と画素値1の画素群に対応する領域との境界位置のずれが補正される。
図15の上から2段目には、図14の中段における目標駆動電圧の変化(図15の上から3段目にも同じものを破線にて示している。後述の図16の上から4段目において同様。)に対して表1の線幅補正シフト量によるシフトをさらに追加したものを示している。ここでは、図15の最下段に示すように、隣接する3つの画素群の画素値が1、2、1の順番にて変化し、中央の画素値2の画素群の画素数が5とされているため、図15の上から2段目にて光変調素子461の目標駆動電圧が第2階調駆動電圧V2とされる距離は、5個の画素に相当する距離(基準距離Tの5倍)よりも基準距離Tの2/3倍だけ短くなり、これにより、画素値2の画素群に対応する基板9上の領域の主走査方向の幅が補正されることとなる。このように、補正テーブルにおける線幅補正シフト量は、実質的には、各画素値の画素群に対応する基板9上の領域の主走査方向の幅(線幅)を補正するためのものとなっている。
図16は、補正テーブルにおける位置補正シフト量を説明するための図である。位置補正シフト量は、光変調素子461の照射位置の他の光変調素子461とのずれ(主走査方向のずれ)を補正するためのものである。位置補正シフト量は、各光変調素子461に対して個別に設定されるものであり、2つの画素の画素値の全ての組合せに対して同じ値が設定されている。例えば、図15の上から2段目に示す例において(図16の上から3段目にも同じものを一点鎖線にて示している。)、さらに、表1の位置補正シフト量(+(1/3)T)によるシフトを追加すると、変化点において画素値が1から2に変化する場合、および、変化点において画素値が2から1に変化する場合のいずれにおいても、図16の上から2段目に示すように、光変調素子461からの出力光量の遷移位置が基準距離Tの1/3倍だけ照射位置の相対移動方向の前側((+Y)側)にさらに移動することとなる。
この場合、光変調素子461の目標駆動電圧を第1階調駆動電圧V1から第2階調駆動電圧V2へと変更する位置(すなわち、出力光量の遷移位置)が、図16の最下段に示す画素列における画素値1の画素71から画素値2の画素71への変化点の位置(画素71aの基準位置A1a)に対して、基準距離Tよりも大きくかつ基準距離Tの2倍以下の距離だけ移動し、光変調素子461からの出力光量の遷移位置のシフト量が1画素に相当する距離を超える。これにより、画素値1の画素71から画素値2の画素71への変化点(基準位置A1a)に対する出力光量の遷移タイミングが、当該変化点が属するベースクロック期間の次のベースクロック期間に含まれてしまう。既述のように、図5のカウンタ614におけるディレイクロック304のカウント数はベースクロック303が入力される毎にリセットされるため、図1の画像記録装置1では、図16の最下段に示す画素列に基づいて図16の上から2段目に示すような目標駆動電圧の変更を行うことはできない。
そこで、以下の説明にて詳述するように、画像記録装置1では、図16の最下段において太線の矩形にて囲む画素71aの画素値を0に変更することにより、画素値1から画素値2への変化点を1画素分だけ移動(遅延)させる処理が行われるとともに、移動後の変化点に対して修正されたシフト量を求める処理が行われる。
画像記録装置1において補正テーブルが準備されると、図7の主演算部62により画像記録動作にて採用するベースクロック間画素数(または、設定距離)が決定され(ステップS12)、当該ベースクロック間画素数が出力データ生成部633に入力されるとともに、当該ベースクロック間画素数に応じた基準位置アドレステーブル6172が素子駆動要素61に入力される。実際には、ステップS12の処理は、画像記録装置1に対して予め設定されているベースクロック間画素数(以下、「初期ベースクロック間画素数」という。)を変更するか否かが確認され、変更することが確認された場合に、実際に使用するベースクロック間画素数を決定する処理となっており、ここでは、初期ベースクロック間画素数が5として設定されており、所定の処理により4に変更されるものとする。ステップS12の処理の詳細については後述する。
続いて、主演算部62では、画素加工テーブル6311および修正シフト量テーブル6171の生成に係る処理が行われる。まず、図7のシフト量超過検出部621では、表1における2つの画素値の各組合せにおいて標準シフト量、線幅補正シフト量および位置補正シフト量を加算することにより、表2に示すように合計シフト量が求められる(ステップS13)。
Figure 2009237415
続いて、異なる2つの画素値の全ての組合せ(表2では、画素値1と画素値2の組合せおよび画素値2と画素値1の組合せ)において合計シフト量が1画素に相当する基準距離Tを超えるものが存在するか否かが確認される。ここでは、直前の画素値および現在の画素値がそれぞれ1および2とされる組合せのみにおいて、合計シフト量が基準距離Tの(+7/6)倍となって基準距離Tの1倍よりも大きくかつ2倍以下となることが確認される。そして、テーブル生成部622では、直前の画素値および現在の画素値がそれぞれ1および2とされる組合せにおいて「画素加工数」を(+1)とし、他の組合せにおいて「画素加工数」を0として、表3に示す画素加工テーブル6311が生成される。
Figure 2009237415
画素加工数は、隣接する2つの画素群の間の変化点の移動量を示すものであり、表3の画素加工テーブル6311では、画素値1から画素値2に変化する変化点に対して画素加工数が(+1)となることにより、当該変化点を1画素分だけ遅延させる画素列の加工が指示され、他の画素値の組合せに対しては画素加工数が0となることにより画素の加工を行わないことが指示されることとなる。画素加工テーブル6311は、図7のFPGA制御要素63のメモリ631に入力されて記憶される(ステップS14)。なお、合計シフト量が基準距離Tのα倍(ただし、αは1以上の整数)よりも大きくかつ(α+1)倍以下となる場合には、画素加工数はαとされる。
テーブル生成部622では、合計シフト量が基準距離Tよりも大きくなって画素加工数が0以外とされた画素値の組合せにおいて、対応する画素加工数に基準距離Tを乗じた値が求められ、合計シフト量から当該値を引いた値(すなわち、基準距離Tのβ倍として表される合計シフト量におけるβの小数部に基準距離Tを乗じた値)が修正シフト量として求められる。また、合計シフト量が基準距離Tよりも小さい画素値の組合せについては合計シフト量がそのまま修正シフト量とされる。したがって、表2の例では、直前の画素値および現在の画素値がそれぞれ1および2とされる組合せにおいて修正シフト量が基準距離Tの(+1/6)倍とされ、他の画素値の組合せについては合計シフト量がそのまま修正シフト量とされ、表4に示す修正シフト量テーブル6171が生成される。修正シフト量テーブル6171は図7の素子駆動要素61のメモリ617に入力されて記憶される(ステップS15)。なお、同一の2つの画素値の組合せにおいて合計シフト量が基準距離Tを超えるものが存在する場合には、基準距離Tのβ倍として表される合計シフト量におけるβの小数部に基準距離Tを乗じた値が修正シフト量とされる。また、実際には、修正シフト量は、ディレイクロック304の分解能に相当するシフト量の整数倍に近い値に変更され、既述のように、ディレイクロック304のカウント数であるシフトディレイ数を素子駆動要素61にて与えることが可能となっている。
Figure 2009237415
以上のようにして、画素加工テーブル6311および修正シフト量テーブル6171が準備されると、基板9の主走査方向への一定速度での移動が開始されるとともに(ステップS16)、制御部6が有する図示省略の画像メモリに記憶された対象画像のデータが変調器制御部60に入力される。既述のように、図7の変調器制御部60では、各画素列加工部632に対応する画素列データ691が入力される。
画素列加工部632では、図16の最下段に示すように、隣接する3つの画素群の画素値がそれぞれ1、2、1である場合、最初の(図16の左側の)画素値1の白い画素群と画素値2の平行斜線を付す画素群との間の変化点に対する画素加工数は表3の画素加工テーブル6311を参照することにより(+1)として求められ、画素値2の画素群の最初の画素71aの画素値が1に変更されて変化点が移動(遅延)する。また、画素値2の画素群と次の(図16の右側の)画素値1の画素群との間の変化点に対する画素加工数は0として求められ、変化点の移動は行われない。なお、表3に示すように同一の画素値を有する画素71の間では画素加工数は0となり、画素の加工は行われないため、画素加工数は変化点に対してのみ影響を与えるものとなる。
実際には、画素列加工部632では、図17に示すようにランレングスデータとして入力される画素列のデータにおいてランレングスの長さを変更することにより、変化点の移動が行われる。図17では、1つのランレングスを矩形(符号690a,690b,690cを付す。)にて図示している。
図17中にて「DATA(n)」と記すランレングス690bと直後の「DATA(n+1)」と記すランレングス690cとの間の位置である変化点(以下、「注目変化点」という。)に注目した場合、まず、ランレングス690bの画素値および直後のランレングス690cの画素値を用いて画素加工テーブル6311を参照することにより注目変化点に対する画素加工数が求められる。画素列加工部632には、表5に示す画素列データ691の修正条件が予め記憶されており、例えばランレングス690bの直前の「DATA(n−1)」と記すランレングス690aとランレングス690bとの間の変化点に対して求められた画素加工数(表5中にて「DATA(n−1)に対する画素加工数」と記す。)が0であり、注目変化点に対して求められる画素加工数(表5中にて「DATA(n)に対する画素加工数」と記す。)も0である場合には、ランレングス690bの長さの変更量(表5中にて「DATA(n)に対する実際の加工」と記す。)は0とされる。
Figure 2009237415
表5に示すように、ランレングス690aとランレングス690bとの間の変化点に対して求められた画素加工数が0であり、注目変化点に対して求められる画素加工数が(+1)である場合には、ランレングス690bの長さの変更量が(+1)とされる(すなわち、ランレングス690bが1画素だけ長くされる。)。また、ランレングス690aとランレングス690bとの間の変化点に対して求められた画素加工数が(+1)であり、注目変化点に対して求められる画素加工数が0である場合には、ランレングス690aが(+1)だけ伸長されていることにより、注目変化点が1画素だけ遅延しているため、ランレングス690bの長さの変更量が(−1)とされる(すなわち、ランレングス690bが1画素だけ短くされる。)。さらに、ランレングス690aとランレングス690bとの間の変化点に対して求められた画素加工数が(+1)であり、注目変化点に対して求められる画素加工数が(+1)である場合には、ランレングス690aが(+1)だけ伸長されていることにより、注目変化点が1画素だけ既に遅延しているため、ランレングス690bの長さの変更量が0とされる。
図16の最下段に示す例において、隣接する3つの画素群のうち中央の画素群の画素数(ランレングスの長さ)が5である場合には、最初の(図16の左側の)画素値1の白い画素群と画素値2の平行斜線を付す画素群との間の変化点に対する画素加工数が(+1)であり、画素値2の画素群と次の(図16の右側の)画素値1の画素群との間の変化点に対する画素加工数が0であることにより、画素値2の画素群の画素数(ランレングスの長さ)の変更量は(−1)となり、画素値2の画素群の画素数が4に変更される。
以上のように、画像記録装置1では、対象画像データがランレングスデータとして画素列加工部632に入力され、各変化点を移動する際に、ランレングスデータのランレングスの長さを変更することにより、変化点の移動が容易に行われ、画素列データ691が加工される(ステップS17)。画素列加工部632の設計によっては、対象画像のデータはランレングスデータ以外の形式にて表されていてもよい。
画素列加工部632における画素列データの加工に並行して、加工後の画素列データ(の部分)は、出力データ生成部633にて復号化されてベースクロック間画素数毎に区切られ、既述のように、ベースクロック間画素数の画素において直前の画素から画素値が変化する画素の番号、および、当該画素の画素値(すなわち、変化画素番号および変化後画素値)を示す変換画素データ692が生成される。
例えば、図16の最下段において、画素71aの画素値が画素列加工部632の処理により1に変更されている(白い画素となっている)ものとして、ベースクロック303aに対応する描画の際に参照される変換画素データ692の変化画素番号および変化後画素値は、ベースクロック303a,303b間の4個の画素71における変化点の不存在により共に1とされる(既述のように、変化点が存在しない場合も変化画素番号は1とされ、変化後画素値は直前のベースクロック期間における最後の画素の画素値と同じとされる。)。また、ベースクロック303bに対応する描画の際に参照される変換画素データ692の変化画素番号および変化後画素値は、ベースクロック303b,303c間の4個の画素71のうち最初の画素(最初の基準位置)における画素値1から画素値2への変化点の存在により、それぞれ1および2とされ、ベースクロック303cに対応する描画の際に参照される変換画素データ692の変化画素番号および変化後画素値は、ベースクロック303c,303d間の4個の画素71のうち最初の画素(最初の基準位置)における画素値2から画素値1への変化点の存在により、共に1とされる。
そして、基板9がベースクロック間画素数に相当する設定距離だけ移動する毎に発生するベースクロック303に応じて、変換画素データ692が素子駆動要素61に出力される(ステップS18)。素子駆動要素61では、変換画素データ692から駆動電圧データ301およびシフトディレイ数データ302を生成して光変調素子461を制御することにより、光変調素子461からの出力光量の遷移位置をシフトしつつ基板9上にパターンが描画される(ステップS19)。
このとき、図16の最上段におけるベースクロック303bに対応する描画の際には、変化画素番号および変化後画素値がそれぞれ1および2とされる変換画素データ692に基づいて1番目の画素に対応する基準位置アドレス(ここでは0となる。)が特定されるとともに、修正シフト量が直前の変化後画素値および今回の変化後画素値を用いて(+(1/6)T)として特定される。これにより、シフトディレイ数データ302が距離(+(1/6)T)に相当するカウント数として求められ、図16の上から2段目に示すような目標駆動電圧の変更が実現される。なお、変更後の目標駆動電圧は、変換画素データ692の変化後画素値に基づいて第2階調駆動電圧V2とされる。
実際には、ステップS18における変換画素データ692の生成および素子駆動要素61への入力、並びに、ステップS19における変換画素データ692に基づくパターンの描画は基板9上に対象画像を示す画像の全体が記録されるまで繰り返される(ステップS20)。対象画像の全体が記録されると、基板9の主走査方向への移動が停止され、基板9上に画像を記録する動作が完了する(ステップS21)。
次に、ステップS12におけるベースクロック間画素数を決定する処理について説明する。図18はベースクロック303および画素列を示す図である。図18の上段はベースクロック303を示し、中段は変化点の移動前の画素列を示し、下段は変化点の移動後の画素列を示している(後述の図19において同様。)。なお、図18の中段および下段では、変化点の位置を符号A2を付す矢印にて示している。
図18の上段および中段に示すように、初期ベースクロック間画素数が5として設定されている場合には、対象画像のデータは、各画素列において連続して同一の画素値を有する各画素群における画素数が5以上として生成されており(論理的な最小線幅が5画素に相当する幅であると捉えることができる。)、これにより、光変調素子461からの出力光量の遷移がベースクロック期間にて1度だけ可能とされる画像記録装置1において、画像を適切に記録することが可能とされている。この場合に、仮に、図13のステップS17の画素列データの加工において、変化点を1画素だけ遅延させる処理が行われると、図18の下段に示すように、画素数が4となる画素群(平行斜線を付す画素71の集合)が生成されてベースクロック期間にて2つの変化点が存在してしまう。
したがって、主演算部62では、まず、表1の補正テーブルにおいて、各画素値が直前の画素値とされる複数の2つの画素値の組合せにおける線幅補正シフト量の最大値から、当該画素値が現在の画素値とされる複数の組合せにおける線幅補正シフト量の最小値を引いた値が最大細らせ量として求められる。そして、初期ベースクロック間画素数に相当する距離(すなわち、初期ベースクロック間画素数に対応する設定距離)から全ての画素値に対する最大細らせ量の最大値を引いた値(物理的な最小線幅と捉えることができる。)を、さらに基準距離Tにて割った値の整数部が画素群最小幅として求められる。
表1の例では、画素値1が直前の画素値とされる場合における線幅補正シフト量の最大値が基準距離Tの(+1/3)倍とされ、画素値1が現在の画素値とされる場合における線幅補正シフト量の最小値が基準距離Tの(−1/3)倍とされ、基準距離Tの(+1/3)倍から基準距離Tの(−1/3)倍を引いた値(基準距離Tの(2/3)倍)が最大細らせ量の全ての画素値に対する最大値とされる。そして、初期ベースクロック間画素数に相当する基準距離Tの5倍から最大細らせ量の最大値を引いた値(基準距離Tの(13/3)倍)を、さらに基準距離Tにて割った値の整数部4が画素群最小幅として求められる。そして、図19の上段に示すように、ベースクロック間画素数が初期ベースクロック間画素数よりも少ない4として決定される。これにより、画素列データの加工において、変化点を1画素だけ遅延させる処理が行われ、図19の下段に示すように、画素数が4となる画素群(平行斜線を付す画素71の集合)が生成される場合でも、ベースクロック期間にて2つの変化点が存在することが防止される。
このように、主演算部62では、加工後の画素列において、それぞれが列方向に連続して同一の画素値を有する複数の画素群のうち最も画素数が少ない最少画素群の画素数が、初期ベースクロック間画素数よりも少ない場合に、設定距離を最少画素群の画素数に相当する距離に短縮する処理が行われる。そして、上述のように、出力データ生成部633においてベースクロック間画素数を4として変換画素データ692が生成されることにより、ベースクロック期間にて2つの変化点を存在させることなく、光変調素子461の変調によるパターン描画が行われる。
以上に説明したように、図1の画像記録装置1では、補正テーブルにおいて2つの画素値の各組合せに対して合計シフト量を求めることにより、実質的に、各光変調素子461に対応する画素列の各変化点に関して、画素群の描画ずれを補正するために光変調素子461からの出力光量の遷移位置をシフトするシフト量(修正前のシフト量)が求められる。続いて、合計シフト量が基準距離Tの1倍よりも大きくなる組合せに対して、基準距離Tのβ倍として表される合計シフト量におけるβの整数部を画素加工数とし、小数部に基準距離Tを乗じた値を修正シフト量として画素加工テーブル6311および修正シフト量テーブル6171が作成される。これにより、実際の画像記録の際に、各変化点に対する上記シフト量が1つの画素に対応する基板9上の領域の主走査方向の幅を超える場合に、当該シフト量を当該幅にて除した値の整数部分の画素数だけ変化点が列方向に移動するように、対象画像の画素の画素値が変更されるとともに、当該変化点に対応するシフト量が小数部に相当する値に修正されることとなる。そして、主走査機構25に同期しつつ変更後の対象画像および修正後のシフト量に基づいて空間光変調器46を制御することにより、基板9に画像を記録する際に、1画素に相当する距離を超えて光変調素子461からの出力光量の遷移位置をシフトさせつつ画像を精度よく記録することが実現される。
また、画像記録装置1では、複数通りの2つの画素値の組合せのそれぞれに対して移動前の変化点のシフト量を示す複数の補正テーブルが全ての光変調素子461に対応して予め準備され、主演算部62により2つの画素値の各組合せに対する変化点の移動量を示す複数の画素加工テーブル6311、および、2つの画素値の各組合せに対して補正テーブルの値を修正したシフト量(修正シフト量)を示す複数の修正シフト量テーブル6171が複数の補正テーブルから生成される。そして、画素列加工部632において画素列の各変化点における2つの画素値の組合せを用いて対応する画素加工テーブル6311を参照することにより、当該変化点の移動量を取得して変化点を列方向に移動する処理が行われ、修正シフト量取得部618において画素列の各変化点における2つの画素値の組合せを用いて対応する修正シフト量テーブル6171を参照することにより、当該変化点の修正シフト量を取得する処理が行われる。これにより、画像記録装置1では、基板9に画像を記録する際に、1画素に相当する距離を超える遷移位置のシフトを容易に実現することができる。
ここで、RIP(Raster Image Processor)において対象画像のデータを生成する際に、補正テーブルに基づいて予め変化点を移動した画像データを作成することも考えられるが、この場合、補正テーブルの内容が変更されると、画像データを再度作り直す必要が生じ、画像記録に係る処理に要する時間が長くなってしまう。
これに対し、画像記録装置1では、補正テーブルの内容が変更された場合であっても、上記のように、画素加工テーブル6311および修正シフト量テーブル6171を更新(修正)するのみでよいため、画像記録に係る処理に要する時間を短縮することが可能となる。
既述のように、画像記録装置1では、複数(全て)の光変調素子461のそれぞれに対して1つの素子駆動要素61および1つのFPGA制御要素63が設けられるため、本実施の形態では、複数のFPGA制御要素63におけるメモリ631の集合が複数の光変調素子461にそれぞれ対応する複数の画素加工テーブル6311を記憶する第1のテーブル記憶部と捉えられ、複数の素子駆動要素61におけるメモリ617の集合が複数の光変調素子461にそれぞれ対応する複数の修正シフト量テーブル6171を記憶する第2のテーブル記憶部と捉えられる。また、複数のFPGA制御要素63における画素列加工部632の集合が、各変化点の移動量を取得して当該変化点を列方向に移動する画像変更部と捉えられ、複数の素子駆動要素61における修正シフト量取得部618の集合が、各変化点に対する修正後のシフト量を取得するシフト量取得部と捉えられる。
図20は、本発明の第2の実施の形態に係る画像記録装置1aの構成を示す図である。画像記録装置1aは画像記録用の光を出射する1つの光学ヘッド41aおよび画像が記録される記録媒体9aを外側面に保持する保持部である保持ドラム70を有する。記録媒体9aには光学ヘッド41aによる光の照射(露光)による描画により画像が記録される。記録媒体9aとしては、例えば、刷版、刷版形成用のフィルム等が用いられる。なお、保持ドラム70として無版印刷用の感光ドラムが用いられてもよく、この場合、記録媒体9aは感光ドラムの表面に相当し、保持ドラム70が記録媒体9aを一体的に保持していると捉えることができる。
保持ドラム70は円筒面の中心軸を中心にモータ81により回転し、これにより、光学ヘッド41aが記録媒体9aに対して主走査方向に(後述する複数の光変調素子からの光が照射される位置の配列方向に対して垂直な方向に)相対的に一定の速度で移動する。また、光学ヘッド41aはモータ82およびボールねじ83により保持ドラム70の回転軸に平行な(主走査方向に垂直な)副走査方向に移動可能とされ、光学ヘッド41aの位置はエンコーダ(図示省略)により検出される。このように、モータ81,82、ボールねじ83を含む移動機構により、保持ドラム70の外側面および記録媒体9aが、空間光変調器を有する光学ヘッド41aに対して一定の速度で主走査方向に相対的に移動するとともに主走査方向に交差する副走査方向にも相対的に移動する。モータ81,82およびエンコーダは制御部6aに接続され、制御部6aがモータ81,82および光学ヘッド41a内の空間光変調器からの信号光の出射を制御することにより、保持ドラム70上の記録媒体9aに光による画像記録が行われる。
図21は光学ヘッド41aの内部構成の概略を示す図である。光学ヘッド41a内には、複数の発光点を一列に有するバータイプの半導体レーザである光源43a、および、回折格子型の複数の光変調素子を一列に配列して有する空間光変調器46が配置され、光源43aからの光は、レンズ471(実際には、集光レンズ、シリンドリカルレンズ等により構成される。)およびプリズム472を介して空間光変調器46へと導かれる。このとき、光源43aからの光は線状光(光束断面が線状の光)とされ、ライン状に配列される複数の光変調素子上に照射される。
空間光変調器46の各光変調素子は、上記第1の実施の形態と同様の構成である制御部6aの変調器制御部60(図20参照)により制御される。なお、図21では、変調器制御部60の素子駆動要素61をブロックにて示している。光変調素子から出射される0次光はプリズム472へと戻され、1次回折光はプリズム472とは異なる方向へと導かれる。なお、迷光となることを防止するために1次回折光は図示を省略する遮光部により遮光される。
各光変調素子からの0次光はプリズム472にて反射され、ズームレンズ473を介して光学ヘッド41a外の記録媒体9aへと導かれ、複数の光変調素子の像が副走査方向に並ぶように記録媒体9a上に形成される。ズームレンズ473はズームレンズ駆動モータ474にて倍率が可変とされており、これにより、記録される画像の解像度が変更される。
図20の画像記録装置1aにおいても、図1の画像記録装置1と同様の動作にて記録媒体9aに画像が記録される。このとき、各光変調素子に対応する画素列の各変化点に関して、画素群の描画ずれを補正するために光変調素子からの出力光量の遷移位置をシフトするシフト量が求められ、当該シフト量が1つの画素に対応する記録媒体9a上の領域の主走査方向の幅を超える場合に、当該シフト量を当該幅にて除した値の整数部分の画素数だけ当該変化点が移動するように、対象画像の画素の画素値が変更されるとともに、当該変化点に対応するシフト量が小数部に相当する値に修正される。そして、記録媒体9a上の照射位置を移動しつつ、変更後の対象画像および修正後のシフト量に基づいて空間光変調器46を制御することにより、記録媒体9aに画像を記録する際に、1画素に相当する距離を超えて光変調素子からの出力光量の遷移位置をシフトさせることが実現され、画像を精度よく記録することが可能となる。
以上、本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、様々な変形が可能である。
図15の例では、光変調素子461において目標駆動電圧が画素値2に対応する第2階調駆動電圧V2とされる距離が短くされる例(図22の上から4段目参照)について述べたが、図22の上から3段目に示すように、目標駆動電圧が第2階調駆動電圧V2とされる距離が長くなるように補正テーブルにおける線幅補正シフト量が決定されていてもよい。また、画像記録装置1,1aでは、光変調素子461の遷移位置を照射位置の進行方向の前側にシフトさせる以外に(図22の上から5段目参照)、図22の最下段に示すように、照射位置の進行方向の後側にシフトさせてもよい。
このような場合であっても、描画ずれの補正を行わない場合のシフト量である標準シフト量を基準距離Tの1/2倍に設定し、1つの画素に対応する基板9または記録媒体9a上の領域の主走査方向の幅の半分から画素群の描画ずれに基づく距離(上記実施の形態では、線幅補正シフト量および位置補正シフト量)を増減した値を、(画素の加工に伴う)修正を行う前のシフト量とすることにより、光変調素子461の出力光量の遷移位置を主走査方向の両側に容易に移動させることができ、その結果、画像を精度よく記録することが可能となる。
画像記録装置1,1aでは、仮に初期ベースクロック間画素数が1とされると、図13のステップS12の処理にてベースクロック間画素数を初期ベースクロック間画素数よりも少ない数に決定することができず、ベースクロック期間における複数の変化点の存在を防止することができなくなる。したがって、画像記録装置1,1aでは、図23の中段および下段に示すように初期ベースクロック間画素数が4や2とされる、すなわち、2以上とされることが必要となる。
上記第1および第2の実施の形態では、画素加工テーブル6311および修正シフト量テーブル6171を用いることにより、1画素に相当する距離を超える遷移位置のシフトを容易に行うことが実現されるが、各変化点のシフト量が1画素に相当する距離を超える場合に、当該シフト量を当該距離にて除した値の整数部分の画素数だけ当該変化点が移動するように、対象画像の画素の画素値が変更されるとともに、当該変化点に対応するシフト量が小数部に相当する値に修正されるのであるならば、画素加工テーブル6311および修正シフト量テーブル6171を用いることなく画像記録が行われてもよい。
図1および図20の画像記録装置1,1aでは、複数の光変調素子461を有する空間光変調器46が設けられ、複数の光変調素子461により対象画像に含まれる互いに異なる複数の画素列の描画が行われることにより、画像を高速に記録することが実現されるが、画像記録装置の設計によっては、1つの光変調素子を有する光変調器が用いられてもよい。この場合、1つの画素列加工部632および1つの修正シフト量取得部618がそれぞれ各変化点の移動量を取得して当該変化点を列方向に移動する画像変更部、および、各変化点に対する修正後のシフト量を取得するシフト量取得部と捉えられ、同一の画素加工テーブル6311および修正シフト量テーブル6171を用いて複数の画素列に対応する描画が行われる。
画像記録装置1,1aにおいて、描画における信号光は必ずしも0次光である必要はなく、1次回折光が信号光とされてもよい。また、撓んでいない状態の可撓リボン461aと固定リボン461bとの相対的位置関係が上記実施の形態とは異なり、可撓リボン461aが撓んだ状態で0次光が出射される光変調素子461が用いられてもよい。これらの場合においても、光変調素子461の動作タイミングをシフトすることにより、適切な画像記録が実現される。
可撓リボン461aおよび固定リボン461bは帯状の反射面として捉えることができるのであるならば、厳密な意味でのリボン形状である必要はない。例えば、ブロック形状の上面が固定リボンの反射面としての役割を果たしてもよい。
光変調素子461は回折格子型に限定されず、例えば液晶シャッタ等であってもよい。さらに、光変調素子461は光を反射するものにも限定されず、例えば、レーザアレイが光変調素子461としての役割を果たしてもよい。これらの場合においても各素子における描画ずれを補正することにより、適切な画像記録が実現される。
また、2次元の空間光変調器が採用されてもよく、この場合、光変調素子461の各1次元の配列に対して、上記実施の形態における複数の光変調素子461に対する補正が適用される。
図1および図20の画像記録装置1,1aでは、合計シフト量が1画素に相当する距離を超える変化点を検出して、当該変化点を移動しつつシフト量を修正する演算部が、主演算部62、複数のFPGA制御要素63および複数の素子駆動要素61により実現されるが、画像を高速に記録する必要がない場合には、演算部の機能が主演算部62における演算のみにより(ソフトウェア的に)実現されてもよい。
また、画像記録装置1,1aでは、基板9および記録媒体9aの主走査方向への移動速度はほぼ一定とされるため、以上の説明における距離(または位置)の概念は時間(または時刻)として捉えることも可能である。この場合、演算部における処理では、各光変調素子に対応する画素列の各変化点に関して、画素群の描画ずれを補正するために光変調素子からの出力光量の遷移タイミングをシフトするシフト時間が求められ、当該シフト時間が1つの画素の列方向の幅分だけ照射位置が移動する時間を超える場合に、当該シフト時間を画素の列方向の幅に対応する時間にて除した値の整数部および小数部が求められ、整数部分の画素数だけ当該変化点が移動するように、対象画像の画素の画素値が変更されるとともに、当該変化点に対応するシフト時間が小数部に相当する時間に修正されることとなる。そして、変更後の対象画像および修正後のシフト時間に基づいて空間光変調器を制御することにより、画像を記録する際に、1画素に相当する時間を超えて光変調素子からの出力光量の遷移タイミングをシフトさせることが実現され、画像を精度よく記録することが可能となる。
基板9および記録媒体9aは光学ヘッド41,41aに対して相対的に移動可能であるならば他の手法により移動されてもよい。また、画像の情報を保持する記録媒体は、プリント配線基板や半導体基板等の感光性材料が塗布された、あるいは、感光性を有する他の材料であってもよく、光の照射による熱に反応する材料であってもよい。
第1の実施の形態に係る画像記録装置の側面図である。 画像記録装置の平面図である。 空間光変調器を示す図である。 光変調素子の断面を示す図である。 光変調素子の断面を示す図である。 素子駆動要素の一部の構成を示す図である。 ベースクロックおよびディレイクロックを示す図である。 変調器制御部の構成を示すブロック図である。 変換画素データの構造を示す図である。 変換画素データを説明するための図である。 基準位置アドレステーブルを示す図である。 修正シフト量テーブルを示す図である。 駆動電圧テーブルを示す図である。 基板上に画像を記録する動作の流れを示す図である。 標準シフト量を説明するための図である。 線幅補正シフト量を説明するための図である。 位置補正シフト量を説明するための図である。 画素列のデータ構造を示す図である。 ベースクロックおよび画素列を示す図である。 ベースクロックおよび画素列を示す図である。 第2の実施の形態に係る画像記録装置の構成を示す図である。 光学ヘッドの内部構成を示す図である。 線幅補正シフト量および位置補正シフト量の他の例を示す図である。 ベースクロック間画素数の他の例を示す図である。
符号の説明
1,1a 画像記録装置
3 基板保持部
6,6a 制御部
9 基板
9a 記録媒体
25 主走査機構
46 空間光変調器
61 素子駆動要素
62 主演算部
63 FPGA制御要素
70 保持ドラム
71,71a 画素
81 モータ
303,303a〜303d ベースクロック
461 光変調素子
617,631 メモリ
618 修正シフト量取得部
632 画素列加工部
690a〜690c ランレングス
6171 修正シフト量テーブル
6311 画素加工テーブル

Claims (9)

  1. 光の照射により記録媒体に画像を記録する画像記録装置であって、
    光変調素子を有する光変調器と、
    前記光変調器からの信号光により画像が記録される記録媒体を保持する保持部と、
    前記保持部を前記光変調器に対して相対的に移動して前記光変調素子からの光が照射される記録媒体上の照射位置を走査方向に連続的に移動する移動機構と、
    記録媒体への記録対象である対象画像において、前記走査方向に対応する列方向に複数の画素が並ぶ各画素列が、それぞれが前記列方向に連続して同一の画素値を有する複数の画素群の集合であり、前記各画素列において隣接する2つの画素群の間の位置である各変化点に関して、画素群の描画ずれを補正するために前記光変調素子からの出力光量の遷移位置をシフトするシフト量を求め、前記シフト量が、1つの画素に対応する記録媒体上の領域の前記走査方向の幅を超える場合に、前記シフト量を前記幅にて除した値の整数部分の画素数だけ前記各変化点が前記列方向に移動するように前記対象画像の画素の画素値を変更するとともに、前記各変化点に対応する前記シフト量を前記値の小数部に相当する値に修正する演算部と、
    前記移動機構に同期しつつ、変更後の前記対象画像および修正後の前記シフト量に基づいて前記光変調器を制御する制御部と、
    を備えることを特徴とする画像記録装置。
  2. 請求項1に記載の画像記録装置であって、
    前記光変調器が複数の光変調素子を有し、
    前記複数の光変調素子が、前記対象画像に含まれる互いに異なる複数の画素列の描画を行うことを特徴とする画像記録装置。
  3. 請求項1に記載の画像記録装置であって、
    前記演算部において、前記各変化点に対して、前記隣接する2つの画素群の画素値の組合せに基づいて修正前の前記シフト量が求められ、
    前記演算部が、
    複数通りの2つの画素値の組合せのそれぞれに対する変化点の移動量を示す画素加工テーブルを記憶する第1テーブル記憶部と、
    前記各画素列の各変化点における2つの画素値の組合せを用いて前記画素加工テーブルを参照することにより、前記各変化点の移動量を取得して前記各変化点を前記列方向に移動する画像変更部と、
    前記複数通りの2つの画素値の組合せのそれぞれに対する修正後のシフト量を示す修正シフト量テーブルを記憶する第2テーブル記憶部と、
    前記各画素列の前記各変化点における2つの画素値の組合せを用いて前記修正シフト量テーブルを参照することにより、前記各変化点に対する前記修正後のシフト量を取得するシフト量取得部と、
    を備えることを特徴とする画像記録装置。
  4. 請求項3に記載の画像記録装置であって、
    前記光変調器が複数の光変調素子を有し、
    前記複数の光変調素子が、前記対象画像に含まれる互いに異なる複数の画素列の描画を行い、
    前記複数の光変調素子にそれぞれ対応する複数の画素加工テーブルおよび複数の修正シフト量テーブルが前記第1テーブル記憶部および前記第2テーブル記憶部に記憶されることを特徴とする画像記録装置。
  5. 請求項4に記載の画像記録装置であって、
    前記複数通りの2つの画素値の組合せのそれぞれに対して移動前の変化点のシフト量を示す複数の補正テーブルが前記複数の光変調素子に対応して予め準備されており、
    前記演算部が、前記複数の補正テーブルから前記複数の画素加工テーブルおよび前記複数の修正シフト量テーブルを生成することを特徴とする画像記録装置。
  6. 請求項2、4または5に記載の画像記録装置であって、
    前記複数の光変調素子のそれぞれが、帯状の固定反射面と可撓反射面とが交互に配列された回折格子型の光変調素子であることを特徴とする画像記録装置。
  7. 請求項1ないし6のいずれかに記載の画像記録装置であって、
    前記制御部において、記録媒体上の前記照射位置が、前記対象画像の前記各画素列における所定数の画素に相当する一定の距離だけ前記走査方向に移動する毎にベースクロックが発生し、前記光変調素子からの出力光量の遷移が、隣接する2つのベースクロック間のベースクロック期間にて1度だけ可能とされており、
    変更後の前記対象画像において、それぞれが前記列方向に連続して同一の画素値を有する複数の画素群のうち最も画素数が少ない最少画素群の画素数が、前記所定数の画素の画素数よりも少ない場合に、前記演算部が、前記一定の距離を前記最少画素群の前記画素数に相当する距離に短縮することを特徴とする画像記録装置。
  8. 請求項1ないし7のいずれかに記載の画像記録装置であって、
    修正前の前記シフト量が、1つの画素に対応する記録媒体上の領域の前記走査方向の幅の半分から画素群の描画ずれに基づく距離を増減した値であることを特徴とする画像記録装置。
  9. 請求項1ないし8のいずれかに記載の画像記録装置であって、
    前記対象画像がランレングスデータとして前記演算部に入力され、
    前記演算部において、前記各変化点を移動する際に、前記ランレングスデータのランレングスの長さが変更されることを特徴とする画像記録装置。
JP2008085500A 2008-03-28 2008-03-28 画像記録装置 Active JP5215018B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008085500A JP5215018B2 (ja) 2008-03-28 2008-03-28 画像記録装置
US12/372,141 US8081204B2 (en) 2008-03-28 2009-02-17 Image recording apparatus and image recording method
TW098107534A TWI389112B (zh) 2008-03-28 2009-03-09 影像記錄裝置及影像記錄方法
CN2009101279270A CN101544130B (zh) 2008-03-28 2009-03-27 图像记录装置和图像记录方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008085500A JP5215018B2 (ja) 2008-03-28 2008-03-28 画像記録装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009237415A true JP2009237415A (ja) 2009-10-15
JP5215018B2 JP5215018B2 (ja) 2013-06-19

Family

ID=41116525

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008085500A Active JP5215018B2 (ja) 2008-03-28 2008-03-28 画像記録装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8081204B2 (ja)
JP (1) JP5215018B2 (ja)
CN (1) CN101544130B (ja)
TW (1) TWI389112B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010224474A (ja) * 2009-03-25 2010-10-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 画像記録装置
JP2014071280A (ja) * 2012-09-28 2014-04-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 画像記録装置および画像記録方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105415894B (zh) * 2010-04-30 2017-11-28 马克姆-伊玛杰公司 通过激光束在材料上标记的方法及系统
CN101823372A (zh) * 2010-04-30 2010-09-08 东莞市创普光电技术有限公司 一种无关断式激光矢量图文连续打码方式
JP6139197B2 (ja) * 2013-03-18 2017-05-31 株式会社Screenホールディングス Rip装置、画像記録装置、rip方法およびプログラム
JP6117593B2 (ja) * 2013-03-29 2017-04-19 株式会社Screenホールディングス 描画装置および描画方法
EP3633462B1 (en) * 2014-10-31 2021-07-28 Canon Kabushiki Kaisha Image forming apparatus and image processing apparatus that specify pixels to be subjected to correction, and correct exposure amount
JP6421564B2 (ja) * 2014-11-26 2018-11-14 セイコーエプソン株式会社 液体吐出装置及び画像形成方法
US10488762B1 (en) * 2018-06-29 2019-11-26 Applied Materials, Inc. Method to reduce data stream for spatial light modulator
CN114253490B (zh) * 2021-12-08 2022-07-05 北京博示电子科技有限责任公司 喷墨打印方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001255476A (ja) * 2000-03-13 2001-09-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd レーザ描画装置
JP2004004525A (ja) * 2002-03-25 2004-01-08 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 画像記録装置
JP2006066877A (ja) * 2004-07-29 2006-03-09 Shinko Electric Ind Co Ltd 描画装置および描画方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5668588A (en) * 1993-04-01 1997-09-16 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Spiral scanning image recording apparatus and image recording method
IL119099A (en) * 1996-08-20 1999-05-09 Scitex Corp Ltd Apparatus and method for recording an image
EP1293348B1 (en) * 2001-09-17 2006-12-27 Fuji Photo Film Co., Ltd. Image recording method and image recording apparatus
JP5025157B2 (ja) 2005-09-29 2012-09-12 大日本スクリーン製造株式会社 画像記録装置および画像記録方法
JP4553313B2 (ja) * 2005-10-31 2010-09-29 大日本スクリーン製造株式会社 画像記録装置
JP4868841B2 (ja) 2005-12-07 2012-02-01 株式会社リコー 光走査装置及び画像形成装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001255476A (ja) * 2000-03-13 2001-09-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd レーザ描画装置
JP2004004525A (ja) * 2002-03-25 2004-01-08 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 画像記録装置
JP2006066877A (ja) * 2004-07-29 2006-03-09 Shinko Electric Ind Co Ltd 描画装置および描画方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010224474A (ja) * 2009-03-25 2010-10-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 画像記録装置
JP2014071280A (ja) * 2012-09-28 2014-04-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 画像記録装置および画像記録方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN101544130B (zh) 2011-02-09
TWI389112B (zh) 2013-03-11
JP5215018B2 (ja) 2013-06-19
CN101544130A (zh) 2009-09-30
TW200945334A (en) 2009-11-01
US20090244254A1 (en) 2009-10-01
US8081204B2 (en) 2011-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5215018B2 (ja) 画像記録装置
JP2008090264A (ja) 空間光変調器における出力光量の補正方法、補正装置、画像記録装置および画像記録方法
JP4553313B2 (ja) 画像記録装置
JP5025157B2 (ja) 画像記録装置および画像記録方法
KR100844262B1 (ko) 패턴 묘화 장치 및 패턴 묘화 방법
JP5697188B2 (ja) 露光装置および露光方法
JP4324645B2 (ja) 多重露光描画装置および多重露光描画方法
JP4390189B2 (ja) パターン描画装置
KR20070104363A (ko) 프레임 데이터 작성 방법 및 장치, 프레임 데이터 작성프로그램, 그리고 묘화 방법 및 장치
US6822670B2 (en) Image recording apparatus and image recording method
KR101391215B1 (ko) 묘화 장치 및 화상 데이터의 작성 방법
JP5226571B2 (ja) 画像記録装置
JP5722136B2 (ja) パターン描画装置およびパターン描画方法
JP5225762B2 (ja) 画像記録装置
KR101005420B1 (ko) 화상 기록 장치 및 화상 기록 방법
JP3690598B2 (ja) 画像記録装置
TWI645255B (zh) 描繪方法
JP6139197B2 (ja) Rip装置、画像記録装置、rip方法およびプログラム
JP5113583B2 (ja) 空間光変調器のキャリブレーション方法
JP6037752B2 (ja) 画像記録装置および画像記録方法
JP2007058207A (ja) 描画方法および装置
JP3276296B2 (ja) 画素配列の真直度補正機能を持つレーザ描画装置
JP2016133726A (ja) 光変調器のキャリブレーション方法、描画方法および描画装置
JP2007286528A (ja) 描画データ取得方法および装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101216

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110818

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120622

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120710

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120904

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130221

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130228

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5215018

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160308

Year of fee payment: 3

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250