JP2009236601A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5550855B2 (ja) * 2009-06-12 2014-07-16 株式会社トプコン 回転レーザ出射装置
JP5568363B2 (ja) * 2010-04-22 2014-08-06 株式会社トプコン レーザスキャナ
JP5738005B2 (ja) * 2011-03-01 2015-06-17 株式会社トプコン 光波距離測定装置
JP5725922B2 (ja) * 2011-03-25 2015-05-27 株式会社トプコン 測量システム及びこの測量システムに用いる測量用ポール及びこの測量システムに用いる携帯型無線送受信装置
EP2607847B1 (en) * 2011-12-19 2017-02-01 Kabushiki Kaisha TOPCON Rotation angle detecting apparatus and surveying instrument
JP2013242413A (ja) * 2012-05-21 2013-12-05 Suwa Optronics:Kk 撮像光学系、および撮像装置
US9404792B2 (en) * 2013-07-01 2016-08-02 Raytheon Company Auto-alignment system for high precision masted head mirror
JP6253973B2 (ja) * 2013-12-27 2017-12-27 株式会社トプコン 測量装置
JP6401542B2 (ja) * 2014-08-07 2018-10-10 株式会社トプコン アブソリュートエンコーダ、測量装置
CN104155657B (zh) * 2014-08-07 2016-08-24 国网安徽省电力公司淮南供电公司 用于电缆铺设测距的测距系统
EP3035076B1 (de) * 2014-12-17 2020-08-19 Leica Geosystems AG Vermessungsgerät mit Positioniereinrichtung
US20160356889A1 (en) * 2015-06-05 2016-12-08 Magenium Solutions LLC Laser Measuring System and Method
JP6670127B2 (ja) * 2016-02-24 2020-03-18 株式会社トプコン 建設機械の制御システム
JP6713847B2 (ja) * 2016-06-14 2020-06-24 株式会社トプコン 測量システム
DE102016213996B4 (de) * 2016-07-29 2021-08-05 Robert Bosch Gmbh Nivelliervorrichtung
CN106527502A (zh) * 2016-12-09 2017-03-22 中国电子科技集团公司第三十四研究所 一种无线光天线自动跟踪系统
US10976413B2 (en) * 2017-02-14 2021-04-13 Baidu Usa Llc LIDAR system with synchronized MEMS mirrors
US11536845B2 (en) * 2018-10-31 2022-12-27 Waymo Llc LIDAR systems with multi-faceted mirrors
JP7178311B2 (ja) * 2019-03-29 2022-11-25 株式会社トプコン ガイド光照射装置
CN111398513B (zh) * 2020-04-02 2021-11-05 中国矿业大学 一种高图像分辨率的检测单颗粒燃烧过程的装置及方法
JP7536666B2 (ja) * 2021-01-19 2024-08-20 株式会社トプコン 測量装置
CN113093149B (zh) * 2021-03-15 2024-02-20 昂纳科技(深圳)集团股份有限公司 一种转镜装置以及激光雷达
EP4074492B1 (de) * 2021-04-13 2023-09-20 Leister Technologies AG System zum fügen von werkstücken aus thermoplastischem kunststoff mittels laserdurchstrahlschweissen
JP2024011167A (ja) * 2022-07-14 2024-01-25 株式会社トプコン レーザースキャンの制御装置、レーザースキャン装置、レーザースキャンの制御方法およびプログラム

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5988862A (en) 1996-04-24 1999-11-23 Cyra Technologies, Inc. Integrated system for quickly and accurately imaging and modeling three dimensional objects
JP4416925B2 (ja) 2000-07-19 2010-02-17 株式会社トプコン 位置測定設定システム及びそれに使用する受光センサ装置
JP2004212058A (ja) * 2002-12-26 2004-07-29 Topcon Corp 作業位置測定装置
JP4263549B2 (ja) 2003-07-23 2009-05-13 株式会社トプコン 測量誘導装置
US7079228B2 (en) * 2004-04-15 2006-07-18 Rosemount Aerospace Inc. Combined laser altimeter and ground velocity measurement apparatus
JP4761751B2 (ja) * 2004-10-06 2011-08-31 株式会社トプコン 距離測定装置
JP4383308B2 (ja) * 2004-10-06 2009-12-16 有限会社コンチェルト 自動測量装置
JP4639812B2 (ja) * 2005-01-19 2011-02-23 株式会社デンソー スキャニング装置
CA2595324C (en) * 2005-01-21 2015-08-11 Massachusetts Institute Of Technology Methods and apparatus for optical coherence tomography scanning
US7306339B2 (en) * 2005-02-01 2007-12-11 Laser Projection Technologies, Inc. Laser projection with object feature detection
JP4819403B2 (ja) * 2005-06-06 2011-11-24 株式会社トプコン 距離測定装置
JP2007248225A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 Omron Corp レーザビーム照射装置及び測距装置
JP2007279017A (ja) * 2006-03-15 2007-10-25 Omron Corp レーダ装置
JP5020585B2 (ja) * 2006-09-27 2012-09-05 株式会社トプコン 測定システム

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