JP2009212930A - 入力レベル判定回路 - Google Patents

入力レベル判定回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2009212930A
JP2009212930A JP2008055074A JP2008055074A JP2009212930A JP 2009212930 A JP2009212930 A JP 2009212930A JP 2008055074 A JP2008055074 A JP 2008055074A JP 2008055074 A JP2008055074 A JP 2008055074A JP 2009212930 A JP2009212930 A JP 2009212930A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
threshold voltage
circuit
comparator
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008055074A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirobumi Isomura
博文 磯村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2008055074A priority Critical patent/JP2009212930A/ja
Publication of JP2009212930A publication Critical patent/JP2009212930A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

【課題】回路規模を小型化し、低消費電力化しつつ、ヒス機能を実現できる入力レベル判定回路を提供すること。
【解決手段】制御回路10がSEL(3:0)信号及びINIT信号(HI)を出力している場合、信号選択回路50はレジスタ60から指定された入力端子の前回値DTを基準電圧発生回路40に出力し、基準電圧発生回路40は前回値DTに応じて基準値を決定し、制御回路10が前回値DTに応じてコンパレータ70の基準値が決定された後にSEL(3:0)信号及びINIT信号(HI)を出力している場合、アナログマルチプレクサ20は指定された入力端子からの入力信号の出力を開始し、信号選択回路50は指定された入力端子のコンパレータ70の出力信号CPOUTを基準電圧発生回路40に出力し、基準電圧発生回路40は出力信号CPOUTに応じてコンパレータ70の基準値を決定する。
【選択図】図1

Description

本発明は、入力の信号レベルの判定処理を行う入力レベル判定回路に関するものである。
従来、複数の入力の夫々に閾値の異なるヒス付きコンパレータを配置し、判定する方式の入力レベル判定回路があった。しかしながら、このような入力レベル判定回路の場合、入力の端子数が多くなると回路規模が大きくなり、消費電流も増加してしまうという問題点がある。
一方、近年、より回路規模の小型化、低消費電力化が求められている。このため、特許文献1に示されるシステム制御回路は、アナログマルチプレクサとコンパレータとを用いて入力信号の時分割処理を行うものである。
特開平5−204403号公報
しかしながら、特許文献1に示されるシステム制御装置は、コンパレータにヒス機能がついていないため、比較電圧付近の電圧判定が不安定になるという問題がある。
本発明は、上記問題点に鑑みなされたものであり、回路規模を小型化し、低消費電力化しつつ、ヒス機能を実現できる入力レベル判定回路を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために請求項1に記載の入力レベル判定回路は、複数の入力端子と、複数の入力端子から一つを選択して入力信号を出力するアナログマルチプレクサと、入力端子からの入力信号と基準値とを比較し、比較結果である出力信号を出力するコンパレータと、複数の入力端子毎にコンパレータの出力信号を記憶するレジスタと、複数の入力端子から一つの入力端子を指定すると共に、イニシャル処理の指定及びイニシャル処理後のコンパレータ動作処理の指定を行う制御回路と、コンパレータの基準値である高レベル閾値電圧と低レベル閾値電圧とを発生するものであり、その高レベル閾値電圧か低レベル閾値電圧かのどちらかを選択してコンパレータの基準値を決定する閾値決定手段と、指定された入力端子に対応するレジスタに記憶された前回値もしくはコンパレータの出力信号を閾値決定手段に出力する信号選択手段とを備え、制御回路が一つの入力端子を指定すると共にイニシャル処理を指定している場合、信号選択手段はレジスタに記憶された指定された入力端子の前回値を閾値決定手段に出力し、閾値決定手段は前回値に応じて高レベル閾値電圧か低レベル閾値電圧かのどちらかを選択してコンパレータの基準値を決定し、制御回路が前回値に応じて基準値が決定された後に一つの入力端子を指定すると共にコンパレータ動作処理を指定している場合、アナログマルチプレクサは指定された入力端子からの入力信号の出力を開始し、信号選択手段は指定された入力端子のコンパレータの出力信号を閾値決定手段に出力し、閾値決定手段は出力信号に応じて高レベル閾値電圧か低レベル閾値電圧かのどちらかを選択してコンパレータの基準値を決定することを特徴とするものである。
このように、複数の入力端子毎にコンパレータの出力信号を記憶しておくことで、イニシャル処理時に、指定された入力端子の前回値を用いることができる。よって、その入力端子におけるコンパレータによる次回比較の最初の基準値となる閾値電圧を高レベル閾値電圧及び低レベル閾値電圧のいずれかに決定することができる。また、コンパレータ動作処理時には、指定された入力端子からの入力信号の出力開始し、その指定された入力端子のコンパレータの出力信号に応じてコンパレータの基準値となる閾値電圧を高レベル閾値電圧か低レベル閾値電圧のいずれかに決定する。このようにすることによって、入力端子毎にヒス付きコンパレータを配置することなく、ヒス機能を実現することができる。従って、複数の入力端子の夫々にヒス付きコンパレータを配置する場合に比べて、回路規模を小型化し、低消費電力化しつつ、ヒス機能を実現することができる。
また、請求項2に示すように、高レベル閾値電圧と低レベル閾値電圧の電圧値は複数の入力端子毎に設定されるものであり、制御回路にて指定された入力端子に対応した高レベル閾値電圧の電圧値と低レベル閾値電圧の電圧値とを選択する閾値選択手段を備えるようにしてもよい。
このようにすることによって、複数の入力端子毎に設定された高レベル閾値電圧と低レベル閾値電圧とを用いて比較処理ができるので好ましい。つまり、複数の入力端子に接続される装置(例えば、センサ)に適した高レベル閾値電圧の電圧値と低レベル閾値電圧の電圧値とを用いて比較処理ができるので好ましい。
また、請求項3に示すように、閾値選択手段は論理回路からなるものであり、閾値選択手段による高レベル閾値電圧の電圧値と低レベル閾値電圧の電圧値とを選択する論理を外部から変更する変更手段を備えるようにしてもよい。
このようにすることによって、出力信号に異常があった場合に外部(例えば、ホストマイコンなど)から閾値(電圧値)を変更することができるので好ましい。
また、請求項4に示すように、閾値決定手段の電源供給先を電源又は定電圧発生回路のいずれかに切り換える切換手段を備え、制御回路は、指定する入力端子に応じて切換手段を切り換えるようにしてもよい。
このようにすることによって、入力端子に接続されている装置の特性に応じて電源供給先を切り換えることができるので好ましい。
また、請求項5に示すように、レジスタは、コンパレータの出力信号の異常判定を行う異常判定回路を備え、異常判定回路が異常と判定した場合は異常を示す信号を出力するものであり、閾値決定手段は、高レベル閾値電圧及び低レベル閾値電圧よりも低い値である第2高レベル閾値電圧と第2低レベル閾値電圧とを発生可能であり、閾値選択手段は、異常判定回路にて異常と判定された場合は第2高レベル閾値電圧と第2低レベル閾値電圧とに基準値を変更するようにしてもよい。
このようにすることによって、外部(例えば、ホストマイコンなど)に異常を知らせることができると共に、なんらかの異常によって入力電圧が低下した場合であっても、コンパレータによる信号の出力を継続させることができる。
以下、本発明の実施の形態を図に基づいて説明する。
(第1の実施の形態)
まず、第1の実施の形態について説明する。図1は、本発明の第1の実施の形態における入力レベル判定回路の概略構成を示すブロック図である。図2は、本発明の第1の実施の形態におけるアナログマルチプレクサの概略構成を示す回路図である。図3は、本発明の第1の実施の形態における閾値選択回路の論理表である。図4は、本発明の第1の実施の形態における基準電圧発生回路の概略構成を示す回路図である。図5は、本発明の第1の実施の形態における信号選択回路の概略構成を示す回路図である。図6は、本発明の第1の実施の形態におけるレジスタの1bit分の概略構成を示す回路図である。図7は、本発明の第1の実施の形態におけるレジスタの概略構成を示す回路図である。図8は、本発明の第1の実施の形態における入力レベル判定回路の動作を示すタイミングチャートである。
本実施の形態における入力レベル判定回路は、複数の入力の信号レベルを判定する回路である。例えば、この複数の入力には各種のセンサなどが接続されるものである。
図1に示すように、入力レベル判定回路は、入力端子IN0〜IN3、制御回路10、アナログマルチプレクサ20、閾値選択回路30、基準電圧発生回路40、信号選択回路50、データ選択・保持機能付きレジスタ60(以下、単にレジスタとの称する)、コンパレータ70、シリアル通信部80などを備える。また、入力レベル判定回路は、シリアル通信部80を介して、入力レベル判定回路が適用されるシステムの全体を制御するホストマイコン(図示省略)と接続されるものである。そして、ホストマイコンは、レジスタ60の内容を読み取り制御に反映するものである。なお、本実施の形態における入力レベル判定回路は、4つの入力端子IN0〜IN3を備える例を採用して説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
制御回路10は、クロック信号Clkで駆動し、入力レベル判定回路を制御するものである。具体的には、制御回路10は、後ほど説明するアナログマルチプレクサ20、閾値選択回路30、レジスタ60に複数の入力端子IN0〜IN3から一つ入力端子を指定するSEL(3:0)信号(指令)を出力すると共に、アナログマルチプレクサ20にどの入力端子をオンさせるかを示すECH信号(イネーブル信号)、信号選択回路50にイニシャル処理及びコンパレータ動作処理を指示するINIT信号(イニシャル処理時Hi,コンパレータ動作処理時Lo)、レジスタ60にクロック信号などを出力する。
アナログマルチプレクサ20は、複数の入力端子IN0〜IN3からの入力信号が入力されるものであり、制御回路10からのSEL(3:0)信号とECH信号によって複数の入力端子IN0〜IN3から一つの入力端子を選択して入力信号CPIN(コンパレータ70への入力信号)をコンパレータ70に出力するものである。このアナログマルチプレクサ20は、図2に示すように、入力端子IN0〜IN3毎にMOSトランジスタ、インバータ、2入力NAND回路などから構成することができる。具体的には、入力端子IN0には、PchMOSトランジスタP20、NchMOSトランジスタN20、インバータI20、2入力NAND回路NA20が設けられる。入力端子IN1には、PchMOSトランジスタP20、NchMOSトランジスタN20、インバータI20、2入力NAND回路NA20が設けられる。入力端子IN2には、PchMOSトランジスタP20、NchMOSトランジスタN20、インバータI20、2入力NAND回路NA20が設けられる。入力端子IN3には、PchMOSトランジスタP20、NchMOSトランジスタN20、インバータI20、2入力NAND回路NA20が設けられる。そして、NAND回路NA20〜NAND回路NA20の一方の入力端子にはSEL(3:0)信号が入力され、他方の入力端子にはECH信号が入力される。
閾値選択回路(閾値選択手段)30は、制御回路10にて指定された入力端子に対応した高レベル閾値電圧と低レベル閾値電圧とを選択する論理回路である。つまり、複数の入力端子IN0〜IN3毎にコンパレータ70における基準値となる高レベル閾値電圧と低レベル閾値電圧の電圧値を設定する際に、制御回路10にて指定された入力端子IN0〜IN3に対応する高レベル閾値電圧の電圧値と低レベル閾値電圧の電圧値を選択するものである。この閾値選択回路30は、図3の論理表に示すような入力(SEL(3:0))と出力(VP1〜VP3、VN1〜VN3)の関係をもつものである。なお、入力端子IN0〜IN3に接続される全ての装置の閾値を固定する場合は、この閾値選択回路30は必要ないものである。
つまり、このように制御回路10にて指定された入力端子IN0〜IN3に対応する高レベル閾値電圧の電圧値と低レベル閾値電圧の電圧値を選択することによって、複数の入力端子IN0〜IN3に接続された装置(センサ)に適した高レベル閾値電圧の電圧値と低レベル閾値電圧の電圧値とを用いて比較処理ができるので好ましい。
基準電圧発生回路(閾値決定手段)40は、コンパレータ70の基準値REF(電圧値)を発生するものであり、高レベル閾値電圧と低レベル閾値電圧とを出力可能である。その高レベル閾値電圧の電圧値と低レベル閾値電圧の電圧値は閾値選択回路30の出力によって決定される。そして、基準電圧発生回路40は、信号選択回路50からの高レベル閾値電圧か低レベル閾値電圧かを示すSELPN信号に応じて高レベル閾値電圧か低レベル閾値電圧かのどちらかを選択してコンパレータ70の基準値REFを決定するものである。
この基準電圧発生回路40は、図4に示すように、電源とグランドとの間に設けられた抵抗R1〜R7の各抵抗間にMOSトランジスタ、インバータ、2入力NAND回路を設けることによって構成することができる。具体的には、抵抗R1とR2との間には、PchMOSトランジスタP40、NchMOSトランジスタN40、インバータI40、2入力NAND回路NA40が設けられる。抵抗R2とR3との間には、PchMOSトランジスタP40、NchMOSトランジスタN40、インバータI40、2入力NAND回路NA40が設けられる。抵抗R3とR4との間には、PchMOSトランジスタP40、NchMOSトランジスタN40、インバータI40、2入力NAND回路NA40が設けられる。抵抗R4とR5との間には、PchMOSトランジスタP40、NchMOSトランジスタN40、インバータI40、2入力NAND回路NA40が設けられる。抵抗R5とR6との間には、PchMOSトランジスタP40、NchMOSトランジスタN40、インバータI40、2入力NAND回路NA40が設けられる。抵抗R6とR7との間には、PchMOSトランジスタP40、NchMOSトランジスタN40、インバータI40、2入力NAND回路NA40が設けられる。そして、NAND回路NA40〜NAND回路NA40の一方の入力端子にはインバータを介してSELPN信号が入力され、他方の入力端子にはVP1〜VP3が入力される。また、NAND回路NA40〜NAND回路NA40の一方の入力端子には、2つのインバータを介してSELPN信号が入力され、他方の入力端子にはVN1〜VN3が入力される。
信号選択回路(信号選択手段)50は、制御回路10にて指定された入力端子IN0〜IN3に対応するレジスタ60に記憶された前回値DTもしくはコンパレータ70の出力信号CPOUTをSELPN信号として基準電圧発生回路40に出力する。具体的には、信号選択回路50は、制御回路10からのINIT信号がHiの時は前回値DTをSELPN信号として出力し、Loの時はコンパレータ70の出力信号CPOUTをSELPN信号として出力する。
この信号選択回路50は、図5に示すように、OR回路O50、AND回路A50、AND回路A50、インバータI50、インバータI50を設けることによって構成することができる。AND回路A50の一方の入力端子にはCPOUT信号が入力され、他方の入力端子にはインバータI50を介してINIT信号が入力される。一方、AND回路A50の一方の入力端子にはDT信号が入力され、他方の入力端子にはインバータI50とインバータI50を介してINIT信号が入力される。そして、このAND回路A50とAND回路A50の出力がOR回路O50の2つの入力端子に入力される。
レジスタ60は、データ選択機能とデータ保持機能を有するものである。つまり、レジスタ60は、制御回路10にて指定された入力端子IN0〜IN3に対応するコンパレータ70の出力信号(データ)を選択すると共に、複数の入力端子IN0〜IN3毎にコンパレータ70の出力信号(データ)を記憶(保持)し、出力信号DOUT(3:0)及び入力端子IN0〜IN3毎の前回値DTを出力するものである。なお、レジスタ60は、端子Cに入力される制御回路10からのクロック信号によって動作するものであり、端子RBに制御回路10からのLo信号が入力されるとリセットするものである。
レジスタ60は、図7に示すように、1bit分の回路601〜604を設けることによって構成されるものである。レジスタ60は、各回路601〜604の端子SDに制御回路10からのSEL(3:0)が入力され、端子Cに制御回路10からのクロック信号が入力され、端子Dinにコンパレータ70の出力信号(データ)が入力される。そして、各回路601〜604の端子DTから前回値DTを出力し、端子DOUTから出力信号DOUT(3:0)を出力する。
1bit分の回路601は、図6に示すように、PchMOSトランジスタP60、NchMOSトランジスタN60、PchMOSトランジスタP60、NchMOSトランジスタN60、PchMOSトランジスタP60、NchMOSトランジスタN60、インバータI60、インバータI60、フリップフロップF60を設けることによって構成することができる。なお、1bit分の回路602〜604は、回路601と同様であるため説明を省略する。
このように、入力端子IN0〜IN3毎の前回値DTを出力することによって、コンパレータ70の次回比較の最初の基準値を設定することができるので、ヒステリシス機能を実現することが可能となる。
コンパレータ70は、入力端子IN0〜IN3からの入力信号CPINと基準値REFとを比較し、比較結果である出力信号CPOUTを出力するものである。シリアル通信部80は、ホストマイコンなどの外部とシリアル通信を行うものである。ホストマイコンなどは、このシリアル通信部80を介してレジスタ60の内容を読み取り、制御に反映する。
ここで、このように構成された入力レベル判定回路のシーケンスに関して説明する。図8に、入力レベル判定回路の動作を示すタイミングチャートである。
まず、制御回路10がSEL(3:0)信号を出力すると、そのSEL(3:0)信号によって指定された入力端子(入力端子IN0〜IN3のいずれか一つ)に対応した予め決められた基準値REF(電圧値)を、閾値選択回路30を通して、基準電圧発生回路40へ送る。これにより高レベル閾値電圧の電圧値と低レベル閾値電圧の電圧値が決定される。
また、制御回路10から出力されるSEL(3:0)は、同時にレジスタ60へ送られる。レジスタ60は、このSEL(3:0)に応じて指定された入力端子の前回値DTを出力する。このとき制御回路10は、イニシャル処理としてINIT信号(Hi)を出力する。換言すると、コンパレータ動作処理ではなく、イニシャル処理を指定する。
信号選択回路50は、INIT信号(Hi)によりDT信号をSELPN信号として基準電圧発生回路40へ出力する。そして、基準電圧発生回路40は、このSELPN信号によって、上記決定した高レベル閾値電圧と低レベル閾値電圧のどちらかを選択し、コンパレータ70の基準値REFを決定する。
つまり、コンパレータ70にヒステリシス機能を持たせるためには、コンパレータ70の基準値として高レベル閾値電圧か低レベル閾値電圧かのどちらかを適切に選択する必要がある。そのためには、指定された入力端子に対応する出力値の前回値に基づいて基準値を設定する必要がある。そこで、本実施の形態における入力レベル判定回路は、上述のようにレジスタ60からSEL(3:0)に応じて指定された入力端子の前回値DTを出力するものである。このようにすることによって、基準値として高レベル閾値電圧か低レベル閾値電圧かのどちらを適切に選択することができる。
次に、基準値REF決定後は、制御回路10がEHC信号を出力する。アナログマルチプレクサ20は、ECH信号を受けて、入力端子IN0〜IN3のいずれか一つの入力端子をオンさせる。
その後、制御回路10は、INIT信号をLoレベルにして、信号選択回路50でコンパレータ70の出力信号CPOUTをSELPN信号として出力させヒス付きコンパレータ動作処理へ移行させる。そして、コンパレータ70の比較結果である出力信号CPOUTをレジスタ60へ反映させて比較を終了し、次の入力端子からの入力信号の比較動作へ移行させる。さらに、制御回路10は、このような動作をスキャン動作させる。
このように、複数の入力端子IN0〜IN3毎にコンパレータ70の出力信号CPOUT(データ)をレジスタ60に記憶(保持)しておくことで、イニシャル処理時に、指定された入力端子の前回値DTを用いることができる。よって、その入力端子におけるコンパレータ70による次回比較の最初の基準値REFとなる閾値電圧を高レベル閾値電圧及び低レベル閾値電圧のいずれかに決定することができる。また、コンパレータ動作処理時には、指定された入力端子からの入力信号CPINの出力を開始し、その指定された入力端子のコンパレータ70の出力信号CPOUTに応じてコンパレータ70の基準値となる閾値電圧を高レベル閾値電圧か低レベル閾値電圧のいずれかに決定する。このようにすることによって、入力端子IN0〜IN3毎にヒス付きコンパレータを配置することなく、ヒス機能を実現することができる。従って、複数の入力端子IN0〜IN4に対して一つのコンパレータ70でヒス機能を実現できるので、複数の入力端子IN0〜IN3の夫々にヒス付きコンパレータを配置する場合に比べて、回路規模を小型化し、低消費電力化しつつ、ヒス機能を実現することができる。また、ヒス機能を実現することによって、チャタリングを抑制することができる。
特に、車両に搭載されるシステムの場合、入力端子に入力される信号はノイズが多く、回路規模を小型化、低消費電力化が要望される。従って、本発明の入力レベル判定回路は、車両に搭載されるシステムに適用して好適である。
(第2の実施の形態)
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。
第2の実施の形態における入力レベル判定回路は、上述の第1の実施の形態によるものと共通するところが多いので、以下、共通部分については同じ符号を付与して説明を省略し、異なる部分を重点的に説明する。第2の実施の形態において、上述の第1の実施の形態と異なる点は基準電圧発生回路410における電源供給先を切り換える切換回路401を設けた点である。
図9は、本発明の第2の実施の形態における入力レベル判定回路の概略構成を示すブロック図である。図10は、本発明の第2の実施の形態における基準電圧発生回路の概略構成を示す回路図である。
図10に示すように、基準電圧発生回路410は、電源91と定電圧発生回路92のいずれか一方から電源が供給されるものである。基準電圧発生回路410の電源供給先は、切換回路401によって切り換えられる。また、制御回路10は、図9に示すように、切換回路401に対して電源91と定電圧発生回路92のいずれに接続するかを示すSELV信号を出力する。
このように、入力端子IN0〜IN3に接続されている装置(センサ)の特性に応じて電源供給先を切り換えることができるので好ましい。
(第3の実施の形態)
次に、本発明の第3の実施の形態について説明する。
第3の実施の形態における入力レベル判定回路は、上述の第1の実施の形態によるものと共通するところが多いので、以下、共通部分については同じ符号を付与して説明を省略し、異なる部分を重点的に説明する。第3の実施の形態において、上述の第1の実施の形態と異なる点はシリアル通信部80を介して閾値選択回路310の論理を変更できるようにした点である。
図11は、本発明の第3の実施の形態における入力レベル判定回路の概略構成を示すブロック図である。図12は、本発明の第3の実施の形態における閾値選択回路の概略構成を示す回路図である。
図11に示すように、本実施の形態における入力レベル判定回路は、シリアル通信部80からの書き込み信号WR0〜WR3と、書き込みデータD0〜D2によって、閾値選択回路310による高レベル閾値電圧の電圧値と低レベル閾値電圧の電圧値とを選択する論理を変更できるものである(変更手段)。つまり、ホストマイコンなどの外部から閾値選択回路310による高レベル閾値電圧の電圧値と低レベル閾値電圧の電圧値とを選択する論理を変更できるものである。
具体的には、閾値選択回路310は、図12に示すように、複数のレジスタとスイッチを備え、書き込み信号WR0〜WR3と、書き込みデータD0〜D2、SEL(3:0)信号によってVP1〜VP3を変更するものである。
このようにすることによって、出力信号に異常があった場合に外部(例えば、ホストマイコンなど)から閾値(電圧値)を変更することができるので好ましい。
(第4の実施の形態)
次に、本発明の第4の実施の形態について説明する。
第4の実施の形態における入力レベル判定回路は、上述の第1の実施の形態によるものと共通するところが多いので、以下、共通部分については同じ符号を付与して説明を省略し、異なる部分を重点的に説明する。第4の実施の形態において、上述の第1の実施の形態と異なる点は異常判定回路を設けるようにした点である。
図13は、本発明の第4の実施の形態における入力レベル判定回路の概略構成を示すブロック図である。図14は、本発明の第4の実施の形態における閾値選択回路の概略構成を示す回路図である。図15は、本発明の第4の実施の形態におけるレジスタの1bit分の概略構成を示す回路図である。図16は、本発明の第4の実施の形態におけるレジスタの概略構成を示す回路図である。図17は、本発明の第4の実施の形態における入力レベル判定回路の出力例を示す図面である。
本実施の形態における入力レベル判定回路は、図13に示すように、異常判定機能付きレジスタ610などを備え、異常が判定された場合、外部(ホストマイコン)に異常を知らせると共に、通常時の高レベル閾値電圧(第1の閾値)及び低レベル閾値電圧(第1の閾値)よりも低い値である第2高レベル閾値電圧(第2の閾値)と第2低レベル閾値電圧(第2の閾値)に基準値を変更する。
具体的には、閾値選択回路320は、図14に示すように、複数のレジスタとスイッチを備え、第1の閾値レジスタへの書き込み信号WR0A〜WR3A、第2の閾値レジスタへの書き込み信号WR0B〜WR3B、閾値切換信号F(0)〜F(3)によって基準値を変更するものである。F(x)=1なら第1の閾値であり、F(x)=0なら第2の閾値である。なお、SEL(0)〜SEL(3)は同様の回路構成を有するものであるので、図14においては、SEL(0)に対応する部分のみ回路構成を記載し、残りのSEL(0)〜SEL(3)に対応する部分の回路構成は省略してある。
また、レジスタ610は、上述の実施の形態におけるレジスタ60と同様に4つの1bit分の回路611〜614からなるものである。ただし、本実施の形態におけるレジスタ610は、エラー信号ERR(3:0)を出力するものである。
そして、回路611は、図15に示すように、上述の実施の形態で説明した回路601の構成に加えて、ExNOR(Excusive NOR)回路X61、異常検出を行なう側(Hi側とLo側)を決定する第1配線オプション610、異常検出を実施するかを決定する第2配線オプション610を備えるものである。なお、回路612〜614も回路611と同様の構成を有するので説明は省略する。また、図15は、Lo側を検知した場合異常判定(ERR=1)を出力する場合である。また、異常判定を行なわない場合は、配線オプション2をグランド側へ切り替える。
この入力レベル判定回路においては、例えば、入力端子IN0で電圧をモニターし、電圧が低下した場合、入力端子IN1の閾値を変更する。可能な限り低電圧まで、制御を継続したい場合などに用いる。また、図17は、低電圧により波形が減衰し、周波数が測定できなくなるのを防止している例である。この場合、図14においてERR(0)をF(1)に接続する。また、閾値変更しない入力に対してはF(x)を配線オプションで電源に接続しておく。
このようにすることによって、外部(例えば、ホストマイコンなど)に異常を知らせることができると共に、なんらかの異常によって入力電圧が低下した場合であっても、コンパレータ70による信号の出力を継続させることができる。
本発明の第1の実施の形態における入力レベル判定回路の概略構成を示すブロック図である。 本発明の第1の実施の形態におけるアナログマルチプレクサの概略構成を示す回路図である。 本発明の第1の実施の形態における閾値選択回路の論理表である。 本発明の第1の実施の形態における基準電圧発生回路の概略構成を示す回路図である。 本発明の第1の実施の形態における信号選択回路の概略構成を示す回路図である。 本発明の第1の実施の形態におけるレジスタの1bit分の概略構成を示す回路図である。 本発明の第1の実施の形態におけるレジスタの概略構成を示す回路図である。 本発明の第1の実施の形態における入力レベル判定回路の動作を示すタイミングチャートである。 本発明の第2の実施の形態における入力レベル判定回路の概略構成を示すブロック図である。 本発明の第2の実施の形態における基準電圧発生回路の概略構成を示す回路図である。 本発明の第3の実施の形態における入力レベル判定回路の概略構成を示すブロック図である。 本発明の第3の実施の形態における閾値選択回路の概略構成を示す回路図である。 本発明の第4の実施の形態における入力レベル判定回路の概略構成を示すブロック図である。 本発明の第4の実施の形態における閾値選択回路の概略構成を示す回路図である。 本発明の第4の実施の形態におけるレジスタの1bit分の概略構成を示す回路図である。 本発明の第4の実施の形態におけるレジスタの概略構成を示す回路図である。 本発明の第4の実施の形態における入力レベル判定回路の出力例を示す図面である。
符号の説明
10 制御回路、20 アナログマルチプレクサ、30 閾値選択回路、40 基準電圧発生回路、50 信号選択回路、60 データ選択・保持機能付きレジスタ、70 コンパレータ、80 シリアル通信部

Claims (5)

  1. 複数の入力端子と、
    前記複数の入力端子から一つを選択して入力信号を出力するアナログマルチプレクサと、
    前記入力端子からの入力信号と基準値とを比較し、比較結果である出力信号を出力するコンパレータと、
    前記複数の入力端子毎に前記コンパレータの出力信号を記憶するレジスタと、
    前記複数の入力端子から一つの入力端子を指定すると共に、イニシャル処理の指定及び当該イニシャル処理後のコンパレータ動作処理の指定を行う制御回路と、
    前記コンパレータの前記基準値である高レベル閾値電圧と低レベル閾値電圧とを発生するものであり、当該高レベル閾値電圧か当該低レベル閾値電圧かのどちらかを選択して前記コンパレータの前記基準値を決定する閾値決定手段と、
    前記指定された入力端子に対応する前記レジスタに記憶された前回値もしくは前記コンパレータの出力信号を前記閾値決定手段に出力する信号選択手段とを備え、
    前記制御回路が一つの入力端子を指定すると共に前記イニシャル処理を指定している場合、前記信号選択手段は前記レジスタに記憶された前記指定された入力端子の前回値を前記閾値決定手段に出力し、前記閾値決定手段は当該前回値に応じて前記高レベル閾値電圧か前記低レベル閾値電圧かのどちらかを選択して前記コンパレータの前記基準値を決定して、
    前記制御回路が前記前回値に応じて前記基準値が決定された後に一つの入力端子を指定すると共に前記コンパレータ動作処理を指定している場合、前記アナログマルチプレクサは前記指定された入力端子からの入力信号の出力を開始し、前記信号選択手段は前記指定された入力端子の前記コンパレータの出力信号を前記閾値決定手段に出力し、前記閾値決定手段は当該出力信号に応じて前記高レベル閾値電圧か前記低レベル閾値電圧かのどちらかを選択して前記コンパレータの前記基準値を決定することを特徴とする入力レベル判定回路。
  2. 前記高レベル閾値電圧と前記低レベル閾値電圧の電圧値は前記複数の入力端子毎に設定されるものであり、前記制御回路にて指定された入力端子に対応した前記高レベル閾値電圧の電圧値と前記低レベル閾値電圧の電圧値とを選択する閾値選択手段を備えることを特徴とする請求項1に記載の入力レベル判定回路。
  3. 前記閾値選択手段は論理回路からなるものであり、当該閾値選択手段による前記高レベル閾値電圧の電圧値と前記低レベル閾値電圧の電圧値とを選択する論理を外部から変更する変更手段を備えることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の入力レベル判定回路。
  4. 前記閾値決定手段の電源供給先を電源又は定電圧発生回路のいずれかに切り換える切換手段を備え、前記制御回路は、指定する前記入力端子に応じて前記切換手段を切り換えることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の入力レベル判定回路。
  5. 前記レジスタは、前記コンパレータの出力信号の異常判定を行う異常判定回路を備え、当該異常判定回路が異常と判定した場合は当該異常を示す信号を出力するものであり、
    前記閾値決定手段は、前記高レベル閾値電圧及び前記低レベル閾値電圧よりも低い値である第2高レベル閾値電圧と第2低レベル閾値電圧とを発生可能であり、
    前記閾値選択手段は、前記異常判定回路にて異常と判定された場合は前記第2高レベル閾値電圧と前記第2低レベル閾値電圧とに前記基準値を変更することを特徴とする請求項2乃至請求項4のいずれか一項に記載の入力レベル判定回路。
JP2008055074A 2008-03-05 2008-03-05 入力レベル判定回路 Pending JP2009212930A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008055074A JP2009212930A (ja) 2008-03-05 2008-03-05 入力レベル判定回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008055074A JP2009212930A (ja) 2008-03-05 2008-03-05 入力レベル判定回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009212930A true JP2009212930A (ja) 2009-09-17

Family

ID=41185634

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008055074A Pending JP2009212930A (ja) 2008-03-05 2008-03-05 入力レベル判定回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009212930A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013066133A (ja) * 2011-09-20 2013-04-11 Rohm Co Ltd 電圧検出回路、それを用いた温度検出回路、電子機器
US9106459B2 (en) 2013-08-02 2015-08-11 Denso Corporation Communication circuit apparatus and transceiver having the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013066133A (ja) * 2011-09-20 2013-04-11 Rohm Co Ltd 電圧検出回路、それを用いた温度検出回路、電子機器
US9106459B2 (en) 2013-08-02 2015-08-11 Denso Corporation Communication circuit apparatus and transceiver having the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003218687A5 (ja)
JP4699927B2 (ja) 入出力共用端子制御回路
US11631454B2 (en) Methods and apparatus for reduced area control register circuit
JP2006332456A (ja) 半導体装置及び試験モード設定方法
JP2009212930A (ja) 入力レベル判定回路
US20070124630A1 (en) Semiconductor device having adaptive power function
US20070140021A1 (en) Semiconductor integrated circuit and data output method
US8294487B2 (en) Configuration setting device of integrated circuit and the configuration setting method thereof
JP4254683B2 (ja) コンパレータ切替え回路
JP2007193431A (ja) バス制御装置
JP4908056B2 (ja) 半導体装置および半導体装置のテスト実行方法
US7208977B2 (en) Tristate startup operating mode setting device
JP2007171060A (ja) 動作モード設定回路、動作モード設定回路を有するlsi、及び動作モード設定方法
JP2004242339A (ja) パルス生成回路
JP4510498B2 (ja) 半導体集積回路
JP2020022130A (ja) スレーブ通信装置およびマスタ通信装置
JP2007155659A (ja) モード設定回路
JP2010160563A (ja) 半導体装置
JP2007122250A (ja) メモリインターフェース回路
KR100614819B1 (ko) 반도체 장치
JP2008032448A (ja) 半導体集積回路装置
JP6040868B2 (ja) マイクロコンピュータ
JP2021141354A (ja) 監視電圧閾値切替回路、リセット監視システム、制御信号生成回路が行う処理方法及びプログラム
JP2014044073A (ja) 半導体装置及び半導体装置の制御方法
JP2010112883A (ja) 半導体集積回路