JP2009212382A - プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板移動方法、及び表示用パネル基板の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板の受け渡し位置と露光位置との間に、平行光を投光する投光手段(31)と、受光量を計測する計測領域がチャック移動方向に沿って分割された複数の分割領域を有する二次元のCCDセンサーを有する受光手段(32)とを配置し、受光量の計測周期毎に、各分割領域を構成する画素の濃度の平均値を、分割領域毎にそれぞれ算出し、算出した平均濃度値と、第1の所定回前に算出された平均濃度値との差を、分割領域毎にそれぞれ算出し、さらに、算出した平均濃度値の差と、第1の所定回よりも少ない第2の所定回前に算出された平均濃度値の差との差を、分割領域毎にそれぞれ算出し、算出した結果に基づいて、異物又は異物による基板の盛り上がりを検出する。
【選択図】図1
Description
2 マスク
10 チャック
11 ステージベース
13 Xガイド
14 Xステージ
15 Yガイド
16 Yステージ
17 θステージ
19 チャック支持台
20 マスクホルダ
30 投受光器支持台
31 投光器
32 受光器
40 信号処理装置
41 サンプルホールド回路
42 アナログ/ディジタル変換回路
43 画像メモリ
44 判定回路
60 制御装置
71 Xステージ駆動回路
72 Yステージ駆動回路
73 θステージ駆動回路
Claims (8)
- 受け渡し位置で基板をチャックに搭載し、基板を搭載したチャックを受け渡し位置からフォトマスクの下の露光位置へ移動し、露光位置において、フォトマスクと基板とのギャップ合わせを行って、フォトマスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ露光装置において、
受け渡し位置と露光位置とに渡って設けられたステージベースと、
前記ステージベース上でチャックを受け渡し位置から露光位置へ移動するステージと、
前記ステージを駆動する駆動手段と、
前記駆動手段を制御する制御手段と、
受け渡し位置と露光位置との間に配置され、受け渡し位置から露光位置へ移動するチャックに搭載された基板上の異物、またはチャックと基板との間の異物により盛り上がった基板へ平行光を投光する投光手段及び該投光手段からの光を受光する受光手段と、
前記受光手段の受光量に基づいて、異物又は異物による基板の盛り上がりの有無を判定する判定手段とを備え、
前記ステージベースは、複数のベースから成り、
前記受光手段は、受光量を計測する計測領域がチャック移動方向に沿って分割された複数の分割領域を有する二次元のCCDセンサーを有し、
前記判定手段は、受光量の計測周期毎に、各分割領域を構成する画素の濃度の平均値を、分割領域毎にそれぞれ算出し、算出した平均濃度値と、第1の所定回前に算出された平均濃度値との差を、分割領域毎にそれぞれ算出し、さらに、算出した平均濃度値の差と、第1の所定回よりも少ない第2の所定回前に算出された平均濃度値の差との差を、分割領域毎にそれぞれ算出し、算出した結果に基づいて、異物又は異物による基板の盛り上がりを検出し、
前記制御手段は、基板を搭載したチャックを受け渡し位置から露光位置へ移動するとき、前記判定手段の検出結果に基づいて、異物がフォトマスクの下へ移動する前に、チャックの移動を停止することを特徴とするプロキシミティ露光装置。 - 前記投光手段及び前記受光手段を2組備え、
一方の組の前記投光手段及び前記受光手段を、他方の組の前記投光手段及び前記受光手段と逆に配置したことを特徴とする請求項1に記載のプロキシミティ露光装置。 - 前記投光手段及び前記受光手段を複数組備え、
各組をチャック移動方向に離して配置したことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のプロキシミティ露光装置。 - 受け渡し位置で基板をチャックに搭載し、基板を搭載したチャックを受け渡し位置からフォトマスクの下の露光位置へ移動し、露光位置において、フォトマスクと基板とのギャップ合わせを行って、フォトマスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ露光装置の基板移動方法において、
受け渡し位置と露光位置との間に、受け渡し位置から露光位置へ移動するチャックに搭載された基板上の異物、またはチャックと基板との間の異物により盛り上がった基板へ平行光を投光する投光手段と、受光量を計測する計測領域がチャック移動方向に沿って分割された複数の分割領域を有する二次元のCCDセンサーを有し、投光手段からの光を受光する受光手段とを配置し、
複数のベースから成り、受け渡し位置と露光位置とに渡って設けられたステージベース上で、基板を搭載したチャックを受け渡し位置から露光位置へ移動しながら、
受光量の計測周期毎に、各分割領域を構成する画素の濃度の平均値を、分割領域毎にそれぞれ算出し、算出した平均濃度値と、第1の所定回前に算出された平均濃度値との差を、分割領域毎にそれぞれ算出し、さらに、算出した平均濃度値の差と、第1の所定回よりも少ない第2の所定回前に算出された平均濃度値の差との差を、分割領域毎にそれぞれ算出し、算出した結果に基づいて、異物又は異物による基板の盛り上がりを検出し、
検出結果に基づいて、異物がフォトマスクの下へ移動する前に、チャックの移動を停止することを特徴とするプロキシミティ露光装置の基板移動方法。 - 投光手段及び受光手段を2組設け、
一方の組の投光手段及び受光手段を、他方の組の投光手段及び受光手段と逆に配置することを特徴とする請求項4に記載のプロキシミティ露光装置の基板移動方法。 - 投光手段及び受光手段を複数組設け、
各組をチャック移動方向に離して配置することを特徴とする請求項4又は請求項5に記載のプロキシミティ露光装置の基板移動方法。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置を用いて基板の露光を行うことを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。
- 請求項4乃至請求項6のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置の基板移動方法を用いて、基板を搭載したチャックを受け渡し位置から露光位置へ移動し、基板の露光を行うことを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008055320A JP4994273B2 (ja) | 2008-03-05 | 2008-03-05 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板移動方法、及び表示用パネル基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008055320A JP4994273B2 (ja) | 2008-03-05 | 2008-03-05 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板移動方法、及び表示用パネル基板の製造方法 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2009212382A true JP2009212382A (ja) | 2009-09-17 |
JP4994273B2 JP4994273B2 (ja) | 2012-08-08 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2008055320A Expired - Fee Related JP4994273B2 (ja) | 2008-03-05 | 2008-03-05 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板移動方法、及び表示用パネル基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4994273B2 (ja) |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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