JP2009145550A - レーザ走査顕微鏡 - Google Patents

レーザ走査顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP2009145550A
JP2009145550A JP2007321901A JP2007321901A JP2009145550A JP 2009145550 A JP2009145550 A JP 2009145550A JP 2007321901 A JP2007321901 A JP 2007321901A JP 2007321901 A JP2007321901 A JP 2007321901A JP 2009145550 A JP2009145550 A JP 2009145550A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical path
laser scanning
scanning microscope
light
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007321901A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5176521B2 (ja
JP2009145550A5 (ja
Inventor
Naoshi Aikawa
直志 相川
Tadashi Uchida
忠 打田
Hisashi Okugawa
久 奥川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2007321901A priority Critical patent/JP5176521B2/ja
Publication of JP2009145550A publication Critical patent/JP2009145550A/ja
Publication of JP2009145550A5 publication Critical patent/JP2009145550A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5176521B2 publication Critical patent/JP5176521B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

【課題】本発明は、構成をシンプルに抑えながら観察の自由度を高めることのできるレーザ走査顕微鏡を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明のレーザ走査顕微鏡(100)は、光源部(1)と、前記光源部(1)からの光を被観察面(16)へ導き、該被観察面(16)からの光を検出器へ導く分光手段(9)と、前記分光手段(9)と前記被観察面(16)との間の光路を、経路の異なる複数の光路(R1,R2)の間で切り替える光路切替手段(10,13)と、前記複数の光路の各々へ個別に配置される複数の光偏向手段(11,12)と、を備え、前記光路切替手段はターレットで構成されていることを特徴とする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、共焦点レーザ走査顕微鏡、共焦点蛍光レーザ走査顕微鏡などのレーザ走査顕微鏡に関する。
イメージング用の光学系に光刺激用の光学系を組み合わせたレーザ走査顕微鏡が提案されている(特許文献1等を参照)。この顕微鏡によれば、標本の一部へ特定波長の光で刺激を与え、その周辺で生じる変化を観察すること(光刺激観察)が可能である。
複数の走査光学系と1つの検出光学系とを備え、その検出光学系は、複数の走査光学系の1つの走査光学ユニットを介して標本と光学的に結合されている(特許文献2を参照)。従って、第1光ビームによって励起された蛍光試薬から発生した蛍光は、第1光ビームと同じ光路を逆向きに進み、検出光学系へ導かれる。また、第2光ビームによって励起された蛍光試薬から発生した蛍光も、第1光ビームと同じ光路を逆向きに進み、検出光学系へ導かれる。
特開平10−206742号公報 特開平2005−189290号公報
しかし、特許文献1に記載の顕微鏡では、光刺激用の光学系がイメージング用の光学系と独立しているので、光刺激用の光学系に配置された光源及びガルバノスキャナは、何れも光刺激にしか用いることができない。
例えば、或る標本のイメージング用の波長と光刺激用の波長とが同じであったとしても、イメージング用の光学系と光刺激用の光学系との双方に同じ光源を1台ずつ搭載する必要がある。 また、特許文献2に記載の顕微鏡では、第2光ビームによって励起された蛍光試薬から発生した蛍光は、第2光ビームの走査に用いた第2光学走査ユニット(スキャナ)とは異なる第1走査ユニット(スキャナ)を用いて検出光学系へ導かれるので、両者を同じタイプのものにする必要がある上に、画像を取得するためには、精度良く同期させる必要がある。
そこで本発明は、構成をシンプルに抑えながら観察の自由度を高めることのできるレーザ走査顕微鏡を提供することを目的とする。
本発明のレーザ走査顕微鏡は、光源部と、 前記光源部からの光を被観察面へ導き、該被観察面からの光を検出器へ導く分光手段と、前記分光手段と前記被観察面との間の光路を、経路の異なる複数の光路の間で切り替える光路切替手段と、 前記複数の光路の各々へ個別に配置される複数の光偏向手段と、
を備え、前記光路切替手段はターレットで構成されていることを特徴とする。
本発明によれば、構成をシンプルに抑えながら観察の自由度を高めることのできるレーザ走査顕微鏡が実現する。
[第1実施形態]
以下、第1実施形態を説明する。本実施形態は、蛍光共焦点レーザ走査顕微鏡システムの実施形態である。
先ず、本システムの構成を説明する。
図1は、本システムの構成図である。図1に示すとおり、本システムは、顕微鏡本体100、コントローラ20、コンピュータ21、モニタ22、入力器23などを備える。
顕微鏡本体100には、レーザユニット1、光ファイバ7、コリメートレンズ8、ダイクロイックミラー9、光路切替ユニット10、制御型ガルバノスキャナ11、光路切替ユニット13、共振型ガルバノスキャナ12、リレーレンズ14、対物レンズ15、標本16、集光レンズ17、共焦点検出用のピンホール絞り18、光検出器19などが配置される。このうち、ダイクロイックミラー9、集光レンズ17、ピンホール絞り18、光検出器19が、検出用光学系100Aを構成している。なお、標本16は、不図示のステージ上に支持された蛍光観察用の標本(蛍光色素が添加された標本)である。
制御型ガルバノスキャナ11は、直列の関係で配置された主走査用ガルバノミラーと副走査用ガルバノミラーとを備え、共振型ガルバノスキャナ12は、直列の関係で配置された主走査用共振型ガルバノミラーと、副走査用制御型ガルバノミラーとを備える。このうち、制御型ガルバノスキャナ11は、スキャン速度が遅いものの、スキャン領域を自由に設定することが可能という利点があるので、レーザ光の照射先を標本16の観察領域の所望の部分領域に限定するときに有効であり、共振型ガルバノスキャナ12は、スキャン領域を自由に設定することが困難である反面、スキャン速度が速いという利点があるので、標本16を高速にレーザスキャンするときに有効である。
レーザユニット1には、複数種類のレーザ光源(ここでは2つのレーザ光源2,3)が搭載されている。レーザ光源2,3の出射光路は、コンバイナミラー4によって共通光路へ統合され、その共通光路には音響光学フィルタ(AOTF)5が挿入されている。このAOTF5や個々のレーザ光源2,3を制御することで、レーザユニット1は、使用光源の設定、出射光のオン/オフ、出射光の強度調節などを行う。
レーザユニット1から射出したレーザ光は、ファイバカプラ6を介して光ファイバ7の一端へ入射する。そのレーザ光は、光ファイバ7の内部を伝搬した後、光ファイバ7の他端から射出し、コリメートレンズ8において平行光束化された後、ダイクロイックミラー9へ入射する。そのレーザ光は、ダイクロイックミラー9を通過し、光路切替ユニット10のダイクロイックミラー10Dへ入射する。
ダイクロイックミラー10Dを透過した波長の短いレーザ光は、第1のフィルタ10Eを透過し、光路R1を通り、制御型ガルバノスキャナ11で反射した後、光路切替ユニット13のダイクロイックミラー13Dへ入射する。このダイクロイックミラー13Dの特性は、ダイクロイックミラー10Dの特性と同じに設定されているので、光路R1を通ったレーザ光は、ダイクロイックミラー13Dを透過し、リレーレンズ14及び対物レンズ15を通り標本16上にスポットを形成する。そのスポットで生じた蛍光(レーザ光よりも波長が若干長い)は、スポットを形成したレーザ光と同じ光路R1を逆に辿り、制御型ガルバノスキャナ11で反射し第1のフィルタ10Eに入射する。第1のフィルタ10Eは波長の短いレーザ光を透過してそれより長い波長を透過しない特性であり、蛍光はここで遮光される。この状態で制御型ガルバノスキャナ11が駆動されると、スポットが標本16上を二次元的にスキャンする。
一方、ダイクロイックミラー10Dを反射した比較的波長の長いレーザ光は、光路R1とは異なる光路R2を通り、第2のフィルタ10Fを透過し、共振型ガルバノスキャナ12で反射した後、光路切替ユニット13のダイクロイックミラー13Dへ入射する。このダイクロイックミラー13Dの特性は、ダイクロイックミラー10Dと同じに設定されているので、光路R2を通ったレーザ光は、ダイクロイックミラー13Dを反射し、リレーレンズ14及び対物レンズ15を通り標本16上にスポットを形成する。そのスポット部分で生じた蛍光(スポットを形成したレーザ光よりも波長が若干長い)は、スポットを形成したレーザ光と同じ光路R2を逆に辿り、共振型ガルバノスキャナ12で反射し、第2のフィルタ10Fを透過し、ダイクロイックミラー10Dを反射し、ダイクロイックミラー9へ向かう。この状態で共振型ガルバノスキャナ12が駆動されると、スポットが標本16上を二次元的にスキャンする。
ダイクロイックミラー9へ入射した蛍光はダイクロイックミラー9で反射して検出用光学系100Aへ取り込まれる。集光レンズ17において集光され、ピンホール絞り18を通過した蛍光は、光検出器19へ入射して電気信号へ変換される。光路切替ユニット10は、ダイクロイックミラー10Dと、全反射ミラー10Mと、不図示の中空ブロックとを装着すると共に、光路へ挿入する。
ここで、光路切替ユニット10,13の構成について説明する。
図9(a)(b)は光路切り替えユニット10,13の構成を説明する図である。
光路切替ユニット10,13の各々は、ターレットで構成される。ターレット50、51は各々、円周方向の90度ごとに4つの中空ブロック10R,13Rが構成され、これらに最大4つの光学素子が配置可能に構成されている。2つの中空ブロック10R,13Rにダイクロイックミラー10D、13D、全反射ミラー10M、13Mがそれぞれ配置され、残り2つの中空ブロック10R,13Rは空の状態で使用される。ただし、そのうち1つは、ダイクロイックミラー10D、13Dと異なる特性のダイクロイックミラーを配置してもよい。
また、ターレット50、51には、それぞれ外周部に同じ歯数の歯車50H、51Hが形成され、ターレット50、51は互いに歯車が噛み合うように、隣接配置されている。また、小歯車52はその歯車がターレット50の歯車50Hと噛み合うように隣接配置され、小歯車52の回転軸は、モータ53により駆動される。
したがって、モータ53により駆動された小歯車52の回転に伴って、ターレット50、51が連動して回転(ターレット50、51にはそれぞれ不図示の回転軸が設けられており、それらの回転軸は軸受け54、55内で回転するとともに保持されている。また、モータ53、軸受け54、55は、台56上にねじで固定されている。)し、ダイクロイックミラー10Dが光路に配置されると、ダイクロイックミラー13Dが光路に配置される。同様に、全反射ミラー10Mが光路に配置されると、全反射ミラー13Mが光路に配置される。
また、第1のフィルタ10E及び第2のフィルタ10Fはターレット50に連結した保持部材61、62に保持され、ダイクロイックミラー10Dの前後にダイクロイックミラー10Dとのなす角が約33度になるように配置されている。そのため、これらはダイクロイックミラー10Dの切り替えと同時に光路に挿入され、各光路に対して入射角が約12度に配置される。
なお、第1のフィルタ10E及び第2のフィルタ10Fを各光路に対して入射角が0度以外に配置することが好ましい。これらを各光路に対して入射角が0度に配置すると、透過されなかった光が反射して光路を戻り、フレアの原因になるからである。
このような構成にすることにより、1つのモータ53のみで2つのターレット50、51を連動して制御することができ、省スペース化と低コスト化が実現されている。
図1に示すとおり、光路切替ユニット10,13による設定素子が、ダイクロイックミラー10D,13Dの組み合わせにセットされた場合、ダイクロイックミラー9とリレーレンズ14との間の光路は、波長毎に光路R1と光路R2とに分離される。
一方、光路切替ユニット10,13による設定素子を、全反射ミラー10M,13Mの組み合わせにセットした場合、ダイクロイックミラー9とリレーレンズ14との間の光路は、波長に依らず光路R2のみとなる。
また、光路切替ユニット10,13による設定素子を、中空ブロック同士の組み合わせにセットした場合、ダイクロイックミラー9とリレーレンズ14との間の光路は、波長に依らず光路R1のみとなる。
さらに、光路切替ユニット10,13と、顕微鏡本体100のその他の駆動部(レーザユニット1、制御型ガルバノスキャナ11、共振型ガルバノスキャナ12、光検出器19など)とは、コントローラ20によって制御される。コントローラ20は、コンピュータ21の支配下にあり、ユーザからの指示は、モニタ22、入力器23を介してコンピュータ21へと与えられ、そのコンピュータ21を介してコントローラ20へと与えられる。
コントローラ20は、コンピュータ21からの指示に従い、顕微鏡本体100の各駆動部へ必要な指示や駆動信号を与え、それによって顕微鏡本体100の設定及び駆動を行う。
例えば、コントローラ20は、光路R2が有効となるよう顕微鏡本体100を設定した上で、レーザユニット1と共振型ガルバノスキャナ12と光検出器19とを同期駆動しつつ光検出器19から電気信号を取り込めば、標本16の観察領域の蛍光画像データを取得すること(イメージング)ができる。この蛍光画像データは、コントローラ20からコンピュータ21へと送出され、必要に応じてモニタ22へ送出されたり、コンピュータ22にて保存されたりする。
以上、本システムの顕微鏡本体100は、光路切替ユニット10,13の使用により、1対のガルバノスキャナ(制御型ガルバノスキャナ11及び共振型ガルバノスキャナ12)を、ダイクロイックミラー9と標本16との間の光路に対し並列の関係で配置しているので、1つの光源ユニット1と1つの検出用光学系100Aとが、1対のガルバノスキャナ(制御型ガルバノスキャナ11及び共振型ガルバノスキャナ12)に共用されることになる。
したがって、本システムの顕微鏡本体100は、レーザユニット1と検出用光学系100Aとを一台ずつしか搭載していないにも拘わらず、レーザユニット1の投光先を1対のガルバノスキャナの間で選択することや、イメージングに用いられるガルバノスキャナを1対のガルバノスキャナの間で選択することが可能である。
また、光路切替ユニット10,13は、光路へ挿入可能な光学素子の1つとしてビームスプリッタ(ここではダイクロイックミラー10D,13D)を備えるので、レーザユニットからのレーザ光を1対のガルバノスキャナ(制御型ガルバノスキャナ11及び共振型ガルバノスキャナ12)へ同時に投光することも可能である。
なお、本システムの顕微鏡本体100では、1対のガルバノスキャナの配置される光路R1,R2の分岐箇所を、ダイクロイックミラー9とリレーレンズ14との間としたが、リレーレンズ4と対物レンズ15との間や、リレーレンズ4の光路中としてもよい。但し、分岐箇所の一方をリレーレンズ4の光路中とする場合、光路R1,R2の各々にリレーレンズの一部を配置する必要があるので、光学素子の点数が若干増える。
また、本システムの顕微鏡本体100では、光路切替ユニット10,13をターレットで構成したが、スライド機構などの他の機構で構成してもよい。
また、本システムの顕微鏡本体100では、光路切替ユニット10,13がモータによって電動化されたが、モータを省略して切り替えを手動にしてもよい。
[第2実施形態]
以下、第2実施形態を説明する。本実施形態は、第1実施形態のシステムを利用して光刺激とイメージングとを同時に行う光刺激観察方法の実施形態である。
ここでは、標本16に適用された蛍光色素の励起波長を488nmとし、標本16に与えるべき光刺激の波長を405nmとする。
この場合、顕微鏡本体100の各部は、例えば以下のとおりに設定される。
・レーザ光源2:紫外レーザ光源(波長405nm)
・レーザ光源3:アルゴンレーザ光源(波長488nm)
・ダイクロイックミラー9:488nmを含む短波長側の光を透過し、かつ4 88nmよりも長波長側の光を反射するもの
・ダイクロイックミラー10D,13D:405nm付近(幅10nm程度) の光を透過し、かつ488nmを含む長波長側の光を反射するもの
・第1のフィルタ10E:405nm付近(幅10nm程度)の光を透過し、 これより長波長側の光を透過しないもの
・第2のフィルタ10F:488nmを含む長波長側の光を透過し、40 5nm付近(幅10nm程度)の光を透過しないもの
光刺激観察の手順は、図2に示すとおりである。
(ステップ1)
コントローラ20は、レーザユニット1の使用光源をレーザ光源3(アルゴンレーザ光源)に設定すると共に、光路切替ユニット10,13の設定素子を、図3に示すとおり、ダイクロイックミラー10D,13Dの組み合わせに設定する。同時に第1のフィルタ10Eと第2のフィルタ10Fも光路R1,R2に挿入される。
このとき、レーザユニット1から射出可能なレーザ光は、波長488nmのアルゴンレーザ光のみとなる。このアルゴンレーザ光は、図3に実線で示すとおり、大部分は光路R2を通り標本16へ到達可能であり、アルゴンレーザ光のスポットは、共振型ガルバノスキャナ12により、標本16の全観察領域(図3下部参照)をスキャンすることが可能である。そのスポットで生じる蛍光は、図3に点線で示すとおり、ダイクロイックミラー9で反射可能なので、検出用光学系100Aの側へと抽出される。
なお、図3に一点鎖線で示すとおり、ダイクロイックミラー10Dを反射せずに漏れて透過するアルゴンレーザ光は、第1のフィルタ10Eで反射するので、標本16には到達しない。よって、アルゴンレーザ光が制御型ガルバノスキャナ11で標本上を不必要にスキャンされることを防ぐことができる。
(ステップ2)
コントローラ20は、レーザユニット1、共振型ガルバノスキャナ12、及び光検出器19を駆動し、アルゴンレーザ光で標本16の全観察領域(図3下部参照)のイメージングを行う。このイメージングで取得された標本16の蛍光画像データは、コンピュータ21へ送出される。
(ステップ3)
コンピュータ21は、標本16の蛍光画像データをモニタ22へ出力し、その画面上で、ユーザに対し光刺激を行うべき一つまたは複数の部分領域を指定させる。ユーザは、入力器23を操作し、所望する部分領域をコンピュータ21へ指定する。ユーザが指定した部分領域の情報は、コントローラ20へと送出される。
(ステップ4)
コントローラ20は、制御型ガルバノスキャナ11のスキャン領域を、ユーザの指定した一つまたは複数の部分領域に設定すると共に、レーザユニット1の使用光源をレーザ光源2,3の双方(紫外レーザ光源及びアルゴンレーザ光源)に設定する。
このとき、レーザユニット1から射出可能なレーザ光は、波長488nmのアルゴンレーザ光と波長405nmの紫外レーザ光との双方となる。
ステップ1と同様に、このうち、アルゴンレーザ光は、図3に実線で示すとおり、大部分は光路R2を通り標本16へ到達可能であり、アルゴンレーザ光のスポットは、共振型ガルバノスキャナ12により、標本16の全観察領域(図3下部参照)をスキャンすることが可能である。そのスポットで生じる蛍光は、図3に点線で示すとおり、ダイクロイックミラー9で反射可能なので、検出用光学系100Aの側へと抽出される。
なお、図3に一点鎖線で示すとおり、ダイクロイックミラー10Dを反射せずに漏れて透過するアルゴンレーザ光は、第1のフィルタ10Eで反射するので、標本16には到達しない。よって、アルゴンレーザ光が制御型ガルバノスキャナ11で標本上を不必要にスキャンされることを防ぐことができる。
一方、紫外レーザ光は、図4に実線で示すとおり、光路R1を通り標本16へ到達可能であり、紫外レーザ光のスポットは、制御型ガルバノスキャナ11により、標本16の部分領域(図4下部参照)をスキャンすることが可能である。
なお、図4に一点鎖線で示すとおり、ダイクロイックミラー10Dを透過せずに漏れて反射する紫外レーザ光は、第2のフィルタ10Fで反射するので、標本16には到達しない。よって、紫外レーザ光が共振型ガルバノスキャナ12で標本上を不必要にスキャンされることを防ぐことができる。
紫外レーザ光のスポットで生じる蛍光(多少は生じているものと考えられる。)は、図4に点線と二点鎖線で示すとおり、ダイクロイックミラー13Dでその一部分が反射し、残りは透過する。ダイクロイックミラー13Dで反射する蛍光は共振型ガルバノスキャナ12に入射するため、同じスキャナを通らないのでデスキャンせず、検出用光学系100Aのピンホールを通過しない。また、ダイクロイックミラー13Dを透過する蛍光は、制御型ガルバノスキャナ11をデスキャンして第1のフィルタ10Eで反射するので、検出用光学系100Aのピンホールを通過しない。よって、紫外レーザ光のスポットから発生する蛍光がアルゴンレーザ光のスポットから発生する蛍光に混じって光検出器19で検出されることを防ぐことができる。
(ステップ5)
コントローラ20は、レーザユニット1、制御型ガルバノスキャナ11、共振型ガルバノスキャナ12、及び光検出器19を駆動し、紫外レーザ光で標本16の部分領域(図4下部参照)へ光刺激を与えると共に、アルゴンレーザ光で標本16の全観察領域(図3下部参照)のイメージングを行う。このイメージングで取得された標本16の蛍光画像データは、コンピュータ21へ送出される。
(ステップ6)
コンピュータ21は、標本16の蛍光画像データをモニタ22へ出力する。その画面上で、ユーザは、光刺激がなされたときの標本16の様子を観察することができる。コンピュータ21は、その蛍光画像データを、必要に応じて保存する。(以上、ステップ6)。
上述した各ステップは必要に応じて繰り返しや前段ステップへの戻りが行われる。
以上、本実施形態では、第1実施形態のシステム、特に、光路切替ユニット10,13のダイクロイックミラー10D,13Dを有効に利用するので、光刺激とイメージングとを同時に行うことができる。
なお、上述したステップ5では、光刺激(レーザ光源2及び制御型ガルバノスキャナ11の駆動)とイメージング(レーザ光源3、共振型ガルバノスキャナ12、光検出器19の駆動)とを1回ずつしか行わなかったが、これらはその限りではない。例えば、光刺激を連続して繰り返し行ってもよい。そうすれば、より強く刺激することができる。また、イメージングを連続して繰り返し行ってもよい。そうすれば、連続する複数フレーム分の蛍光画像データが得られるので、光刺激直後における標本16の時間変化を観察することが可能になる。また、光刺激の回数は上述したステップ5とステップ6での光刺激とイメージングおよびモニタ出力をしながらユーザが判断して指定してもよい。
また、上述したステップ1では、光路切替ユニット10,13の設定素子をダイクロイックミラー10D,13Dの組み合わせとしたが、全反射ミラー10M,13Mの組み合わせとしてもよい。但し、その場合、ステップ4において光路切替ユニット10,13の設定素子をダイクロイックミラー10D,13Dの組み合わせに変更する必要がある。
[第3実施形態]
以下、第3実施形態を説明する。本実施形態は、第1実施形態のシステムを利用して光刺激とイメージングとに共通の光源を使用する光刺激観察方法の実施形態である。
ここでは、標本16に適用された蛍光色素の励起波長を488nmとし、標本16に与えるべき光刺激の波長を488nmとする。
この場合、顕微鏡本体100は、例えば以下のとおりに設定される。
・レーザ光源3:アルゴンレーザ光源(波長488nm)
・ダイクロイックミラー9:488nmを含む短波長側の光を透過し、かつ488nmよりも長波長側の光を反射するもの
なお、本実施形態では、レーザ光源3,ダイクロイックミラー10D,13Dを使用しないので、これらの設定は任意である。したがって、顕微鏡本体100の設定は、第2実施形態のそれと同じでもよい。
光刺激観察の手順は、図5に示すとおりである。
(ステップ1)
コントローラ20は、レーザユニット1の使用光源をレーザ光源3(アルゴンレーザ光源)に設定すると共に、光路切替ユニット10,13の設定素子を、図6に示すとおり、全反射ミラー10M,13Mの組み合わせに設定する。なお、この時点では、レーザユニット1の出射光の強度は、イメージング用の強度(低強度)に設定されているものとする。
このとき、レーザユニット1から射出可能なレーザ光は、低強度のアルゴンレーザ光のみとなる。低強度のアルゴンレーザ光は、図6に実線で示すとおり、光路R2を通り標本16へ到達可能であり、そのアルゴンレーザ光のスポットは、共振型ガルバノスキャナ12により、標本16の全観察領域(図6下部参照)をスキャンすることが可能である。そのスポットで生じる蛍光は、図6に点線で示すとおり、ダイクロイックミラー9で反射可能なので、検出用光学系100Aの側へと抽出される。
(ステップ2)
コントローラ20は、レーザユニット1、共振型ガルバノスキャナ12、及び光検出器19を駆動し、低強度のアルゴンレーザ光で標本16の全観察領域(図6下部参照)のイメージングを行う。このイメージングで取得された標本16の蛍光画像データは、コンピュータ21へ送出される。
(ステップ3)
コンピュータ21は、標本16の蛍光画像データをモニタ22へ出力し、その画面上で、ユーザに対し光刺激を行うべき一つまたは複数の部分領域を指定させる。ユーザは、入力器23を操作し、所望する部分領域をコンピュータ21へ指定する。ユーザが指定した部分領域の情報は、コントローラ20へ送出される。 (ステップ4)
コントローラ20は、制御型ガルバノスキャナ11のスキャン領域を、ユーザの指定した一つまたは複数の部分領域に設定する。また、コントローラ20は、レーザユニット1の出射光の強度を、光刺激用の強度(高強度)に変更すると共に、光路切替ユニット10,13の設定素子を、図7に示すとおり、中空ブロック10B,13Bの組み合わせに変更する。
このとき、レーザユニット1から射出可能なレーザ光は、高強度のアルゴンレーザ光のみとなる。高強度のアルゴンレーザ光は、図7に実線で示すとおり、光路R1を通り標本16へ到達可能であり、そのアルゴンレーザ光のスポットは、制御型ガルバノスキャナ11により、標本16の部分領域(図7下部参照)をスキャンすることが可能である。そのスポットで生じる蛍光は、図7に点線で示すとおり、ダイクロイックミラー9で反射可能なので、検出用光学系100Aの側へと抽出される。
(ステップ5)
コントローラ20は、レーザユニット1及び制御型ガルバノスキャナ11を駆動して、高強度のアルゴンレーザ光で標本16の部分領域(図7下部参照)へ光刺激を与える。なお、このときにはイメージングの必要は無く、光検出器19を駆動する必要は無い。
(ステップ6)
コントローラ20は、レーザユニット1の出射光の強度を、イメージング用の強度(低強度)に変更すると共に、光路切替ユニット10,13の設定素子を、図6に示すとおり、全反射ミラー10M,13Mの組み合わせに変更する。
このとき、レーザユニット1から射出可能なレーザ光は、低強度のアルゴンレーザ光のみとなる。低強度のアルゴンレーザ光は、図6に実線で示すとおり、光路R2を通り標本16へ到達可能であり、そのアルゴンレーザ光のスポットは、共振型ガルバノスキャナ12により、標本16の全観察領域(図6下部参照)をスキャンすることが可能である。そのスポットで生じる蛍光は、図6に点線で示すとおり、ダイクロイックミラー9で反射可能なので、検出用光学系100Aの側へと抽出される。
(ステップ7)
コントローラ20は、レーザユニット1、共振型ガルバノスキャナ12、及び光検出器19を駆動して、低強度のアルゴンレーザ光で標本16の全観察領域(図6下部参照)のイメージングを行う。このイメージングで取得された標本16の蛍光画像データは、コンピュータ21へ送出される。
(ステップ8)
コンピュータ21は、標本16の蛍光画像データをモニタ22へ出力する。その画面上で、ユーザは、光刺激直後の標本16の様子を観察することができる。コンピュータ21は、その蛍光画像データを、必要に応じて保存する(以上、ステップ8)。
上述した各ステップは必要に応じて繰り返しや前段ステップへの戻りが行われる。
以上、本実施形態では、第1実施形態のシステム、特に、光路切替ユニット10,13の中空ブロック10B,13B,全反射ミラー10M,13Mを有効に利用するので、光刺激とイメージングとに共通の光源を使用することができる。
なお、上述したステップ5では、光刺激を1回しか行わなかったが、連続して繰り返して行ってもよい。そうすれば、より強く刺激することができる。
なお、上述したステップ7では、イメージングを1回しか行わなかったが、連続して繰り返し行ってもよい。そうすれば、連続する複数フレーム分の蛍光画像データが得られるので、光刺激直後における標本16の時間変化を観察することが可能になる。
[その他]
なお、上述した顕微鏡本体100では、光源ユニット1に搭載される光源を2種類としたが、3種類以上としてもよい。刺激用レーザ光源3に可視光のレーザ(波長430nmなど)を用いてもよい。紫外レーザ光源、アルゴンレーザ光源の他に、2光子刺激に用いられるIRレーザ光源(例えば波長710nm)や波長可変のIRレーザ光源(例えば波長760nmから960nm)などを搭載してもよい。また、複数のIRレーザ光源や複数波長を同時出力するIRレーザ光源を使用して、2光子で刺激とイメージングを行ってもよい。
また、ダイクロイックミラー10D,13Dは、一般に透過帯域よりも反射帯域のほうが、その全帯域において波長特性(反射率)をフラットにしやすい。よって、上述した顕微鏡本体100のように光刺激用レーザ光(短波長)を透過し、イメージング用レーザ光とそれにより発生する蛍光(長波長)が反射する構成にすることで、イメージング用の波長帯域のダイクロイックミラー10D,13Dの特性をフラットにすることが容易となる。
これにより、ダイクロイックミラー10D,13Dの波長特性を、488nmから560nmで反射率95%以上にすることで、アルゴンレーザ光源(波長488nm)で励起する蛍光色素のイメージングを高画質で行うことができる。
より望ましくは、488nmから620nmで反射率95%以上にすることで、アルゴンレーザ光源(波長488nm)だけでなく、より波長の長いヘリウムネオンレーザ光源(波長543.5nm)で励起する蛍光色素のイメージングも高画質で行うことができる。
より望ましくは、488nmから750nmで反射率95%以上にすることで、さらに波長の長いLD光源(波長640nm)で励起する蛍光色素のイメージングも高画質で行うことができる。
さらに望ましくは、これらの反射波長帯域の90%以上の領域で反射率98%以上であれば、波長特性が十分均一であると見なすことができ、ダイクロイックミラー10D,13Dの入射角に依存する波長特性(反射率)の変化も小さくな。これにより、標本16の観察領域の蛍光画像データを、全視野で良好なSN比で取得することができる。
また、ダイクロイックミラー9,10D,13D,及び第1のフィルタ10E,第2のフィルタ10Fの特性は、搭載する光源の組み合わせに応じて設定されることが望ましい。因みに、光源の組み合わせ数が多いときには、様々な特性のダイクロイックミラーと複数種のフィルタを用意し、それらを使い分ければよい。光路切替ユニット10,13の各々に複数種のダイクロイックミラーと複数種のフィルタを予め装着してもよい。
また、上述した顕微鏡本体100では、光路切替ユニット10,13に装着される光学素子(設定素子)が、ダイクロイックミラー、全反射ミラー、中空ブロックの3種類であったが、全反射ミラーと中空ブロックとの2種類としてもよい。また、ダイクロイックミラーのみとしてもよい。また、ダイクロイックミラーの代わりに(又はダイクロイックミラーに加えて)、ハーフミラー、マルチバンドダイクロイックミラー(透過波長帯域や反射波長帯域が複数あるダイクロイックミラー)など、他のタイプのビームスプリッタを備えてもよい。マルチバンドダイクロイックミラーやハーフミラーを使用すると、一つのダイクロイックミラーやハーフミラーで複数の組み合わせの光刺激用レーザ光源とイメージング用レーザ光源を使用することができる。
また、光路R1,R2の分岐箇所に配置する光学素子がハーフミラーであり、かつ他の光学素子へ切り替える必要の無い場合には、光路切替ユニット10,13を使用せずにハーフミラーをそのまま配置してもよい。
また、上述した顕微鏡本体100には、1対のガルバノスキャナとして互いに異なる種類のガルバノスキャナ(制御型ガルバノスキャナ11,共振型ガルバノスキャナ12)が搭載されたが、同じ種類のガルバノスキャナが搭載されてもよい。但し、異なる種類のガルバノスキャナを搭載した方が、使い分けを行う自由が得られるので、より好ましい(また、ガルバノスキャナに限られず、光の向きが変えられる部材、例えば音響光学素子を用いてもよい。)。
また、上述した顕微鏡本体100では、光路の分離数(切り替え数)とガルバノスキャナの個数とがそれぞれ2であるが、3以上に拡張し、観察の自由度をさらに高めてもよい。
また、上述した顕微鏡本体100は、蛍光検出の機能と共焦点検出の機能との双方を搭載したレーザ走査顕微鏡であったが、蛍光検出の機能と共焦点検出の機能の一方又は双方を搭載しないレーザ走査顕微鏡にも本発明は適用可能である。
[第4実施形態]
最後に、第4実施形態として、ハーフミラーを使用した光刺激観察方法の1例を簡単に説明する。ここでは、顕微鏡本体100の設定内容が第3実施形態のそれと同じであるとの前提で説明する。
光刺激観察の手順は、図8に示すとおりである。
(ステップ1)
コントローラ20は、レーザユニット1の使用光源をレーザ光源3(アルゴンレーザ光源)に設定すると共に、光路切替ユニット10,13の設定素子をハーフミラーに設定する。なお、この時点では、レーザユニット1の出射光の強度は、イメージング用の強度(低強度)に設定されているものとする。
また、コントローラ20は、制御型ガルバノスキャナ11の少なくとも一方のガルバノミラーを光路から外す。
(ステップ2)
コントローラ20は、レーザユニット1、共振型ガルバノスキャナ12、及び光検出器19を駆動し、低強度のアルゴンレーザ光で標本16の全観察領域のイメージングを行う。イメージングで取得された標本16の蛍光画像データは、コンピュータ21へ送出される。
(ステップ3)
コンピュータ21は、標本16の蛍光画像データをモニタ22へ出力し、その画面上で、ユーザに対し光刺激を行うべき一つまたは複数の部分領域を指定させる。ユーザは、入力器23を操作し、所望する部分領域をコンピュータ21へ指定する。ユーザが指定した部分領域の情報は、コントローラ20へ送出される。
(ステップ4)
コントローラ20は、制御型ガルバノスキャナ11のスキャン領域を、ユーザの指定した一つまたは複数の部分領域に設定する。また、コントローラ20は、レーザユニット1の出射光の強度を、光刺激用の強度(高強度)に変更する。
また、コントローラ20は、共振型ガルバノスキャナ12の少なくとも一方のガルバノミラーを光路から外す。
(ステップ5)
コントローラ20は、レーザユニット1及び制御型ガルバノスキャナ11を駆動し、高強度のアルゴンレーザ光で標本16の部分領域へ光刺激を与える。なお、このときには光検出器19を駆動する必要は無い。
(ステップ6)
コントローラ20は、レーザユニット1のレーザ光源3(アルゴンレーザ光源)の強度を低強度(イメージング用)に変更する。
また、コントローラ20は、制御型ガルバノスキャナ11の少なくとも一方のガルバノミラーを光路から外す。
(ステップ7)
コントローラ20は、レーザユニット1、共振型ガルバノスキャナ12、及び光検出器19を駆動し、低強度のアルゴンレーザ光で標本16の全観察領域のイメージングを行う。取得された標本16の蛍光画像データは、コンピュータ21へ送出される。
(ステップ8)
コンピュータ21は、標本16の蛍光画像データをモニタ22へ出力する。その画面上で、ユーザは、光刺激直後の標本16の様子を観察することができる。コンピュータ21は、その蛍光画像データを、必要に応じて保存する(以上、ステップ8)。
上述した各ステップは必要に応じて繰り返しや前段ステップへの戻りが行われる。
なお、上述したステップ5では、光刺激を1回しか行わなかったが、連続して繰り返して行ってもよい。そうすれば、より強く刺激することができる。
なお、上述したステップ7では、イメージングを1回しか行わなかったが、連続して繰り返し行ってもよい。そうすれば、連続する複数フレーム分の蛍光画像データが得られるので、光刺激直後における標本16の時間変化を観察することが可能になる。
第1実施形態のシステムの構成図である。 第2実施形態の手順を示す図である。 第2実施形態におけるアルゴンレーザ光の光路を説明する概念図である。 第2実施形態における紫外レーザ光の光路を説明する概念図である。 第3実施形態の手順を示す図である。 第3実施形態における低強度のアルゴンレーザ光の光路を説明する概念図である。 第3実施形態における高強度のアルゴンレーザ光の光路を説明する概念図である。 第4実施形態の手順を示す図である。 (a)光路切替ユニットの構成を説明する図であり、(b)は(a)の矢視Aを示す光路切替ユニットの構成を説明する図である。
符号の説明
1…レーザユニット,7…光ファイバ,8…コリメートレンズ,9…ダイクロイックミラー,10,13…光路切替ユニット,11…制御型ガルバノスキャナ,50,51…ターレット,52…小歯車,53…モータ 61,62…フィルタ保持部材

Claims (15)

  1. 光源部と、
    前記光源部からの光を被観察面へ導き、該被観察面からの光を検出器へ導く分光手段と、
    前記分光手段と前記被観察面との間の光路を、経路の異なる複数の光路の間で切り替える光路切替手段と、
    前記複数の光路の各々へ個別に配置される複数の光偏向手段と、
    を備え、
    前記光路切替手段はターレットで構成されていることを特徴とするレーザ走査顕微鏡。
  2. 請求項1に記載のレーザ走査顕微鏡において、
    前記光路切替手段は、
    前記複数の光路の分岐箇所の各々へ挿脱可能なミラーを含む
    ことを特徴とするレーザ走査顕微鏡。
  3. 前記光路切替手段は、前記複数の光路の分岐箇所に各々配置され、前記各光路切替手段は同じ歯数の歯車が形成されたターレットからなり、前記歯車が互いに噛み合うように隣接配置されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のレーザ走査顕微鏡。
  4. 光源部と、
    前記光源部からの光を被観察面へ導き、該観察面からの光を検出器へ導く分光手段と、
    前記分光手段と前記被観察面との間の光路を、経路の異なる複数の光路に分離する光路設定手段と、
    前記複数の光路の各々へ個別に配置される複数の光偏向手段と
    前記光路設定手段と前記複数の光偏向手段との間にそれぞれ配置するフィルタと
    を備えたことを特徴とするレーザ走査顕微鏡。
  5. 請求項4に記載のレーザ走査顕微鏡において、
    前記光路設定手段は、
    前記複数の光路の分岐箇所の各々へ配置されたビームスプリッタを含む
    ことを特徴とするレーザ走査顕微鏡。
  6. 前記ビームスプリッタが複数の透過帯域を有するダイクロイックミラーであることを特徴とする請求項5記載のレーザ走査顕微鏡。
  7. 請求項5に記載のレーザ走査顕微鏡において、前記ビームスプリッタは、反射帯域と、反射帯域より短波長側の透過帯域を有するダイクロイックミラーであり、反射帯域は、波長幅70nm以上で反射率95%以上であることを特徴とするレーザ走査顕微鏡。
  8. 請求項5に記載のレーザ走査顕微鏡において、前記ビームスプリッタは、反射帯域と、反射帯域より短波長側の透過帯域を有するダイクロイックミラーであり、反射帯域は、波長幅130nm以上で反射率95%以上であることを特徴とするレーザ走査顕微鏡。
  9. 請求項5に記載のレーザ走査顕微鏡において、前記ビームスプリッタは、反射帯域と、反射帯域より短波長側の透過帯域を有するダイクロイックミラーであり、反射帯域は、波長幅260nm以上で反射率95%以上であることを特徴とするレーザ走査顕微鏡。
  10. 請求項7〜9の何れか一項に記載のレーザ走査顕微鏡において、前記ダイクロイックミラーは、反射波長帯域の90%以上の領域で反射率98%以上であることを特徴とするレーザ走査顕微鏡。
  11. 前記光路設定手段はターレットで構成されていることを特徴とする請求項4〜10に記載のレーザ走査顕微鏡。
  12. 前記光路設定手段は、前記複数の光路の分岐箇所に各々配置され、前記各光路設定手段は同じ歯数の歯車が形成されたターレットからなり、前記歯車が互いに噛み合うように隣接配置されていることを特徴とする請求項4〜11に記載のレーザ走査顕微鏡。
  13. 前記各フィルタは、前記光路設定手段に設けられた保持部材により保持されていることを特徴とする請求項4〜12の何れか一項に記載のレーザ走査顕微鏡。
  14. 請求項1〜請求項13の何れか一項に記載のレーザ走査顕微鏡において、
    前記光源部は、
    波長の異なる複数種類の光源、複数の赤外光光源、又は複数の異なる波長の赤外光を出射する1つの光源を備える
    ことを特徴とするレーザ走査顕微鏡。
  15. 請求項1〜請求項14の何れか一項に記載のレーザ走査顕微鏡において、
    前記複数の光偏向手段の何れか一つが共振型ガルバノスキャナを含む
    ことを特徴とするレーザ走査顕微鏡。
JP2007321901A 2007-12-13 2007-12-13 レーザ走査顕微鏡 Active JP5176521B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007321901A JP5176521B2 (ja) 2007-12-13 2007-12-13 レーザ走査顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007321901A JP5176521B2 (ja) 2007-12-13 2007-12-13 レーザ走査顕微鏡

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009145550A true JP2009145550A (ja) 2009-07-02
JP2009145550A5 JP2009145550A5 (ja) 2011-04-07
JP5176521B2 JP5176521B2 (ja) 2013-04-03

Family

ID=40916226

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007321901A Active JP5176521B2 (ja) 2007-12-13 2007-12-13 レーザ走査顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5176521B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011257599A (ja) * 2010-06-09 2011-12-22 Olympus Corp 観察装置および観察方法
JP5673679B2 (ja) * 2010-07-01 2015-02-18 株式会社ニコン 顕微鏡
JP2016197266A (ja) * 2016-08-15 2016-11-24 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
JP6720430B1 (ja) * 2019-03-28 2020-07-08 浜松ホトニクス株式会社 検査装置及び検査方法
WO2020195138A1 (ja) * 2019-03-28 2020-10-01 浜松ホトニクス株式会社 検査装置及び検査方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001142141A (ja) * 1999-11-15 2001-05-25 Ricoh Co Ltd プロジェクタ
JP2004177494A (ja) * 2002-11-25 2004-06-24 Olympus Corp 共焦点顕微鏡
JP2004177495A (ja) * 2002-11-25 2004-06-24 Olympus Corp 顕微鏡
JP2004252035A (ja) * 2003-02-19 2004-09-09 Nikon Corp 蛍光顕微鏡および蛍光顕微鏡の照明装置
JP2005250363A (ja) * 2004-03-08 2005-09-15 Nitto Kogaku Kk 双眼拡大鏡
WO2007077710A1 (ja) * 2005-12-28 2007-07-12 Nikon Corporation 光走査装置、光走査型顕微鏡、観察方法、制御装置、及び制御プログラム

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001142141A (ja) * 1999-11-15 2001-05-25 Ricoh Co Ltd プロジェクタ
JP2004177494A (ja) * 2002-11-25 2004-06-24 Olympus Corp 共焦点顕微鏡
JP2004177495A (ja) * 2002-11-25 2004-06-24 Olympus Corp 顕微鏡
JP2004252035A (ja) * 2003-02-19 2004-09-09 Nikon Corp 蛍光顕微鏡および蛍光顕微鏡の照明装置
JP2005250363A (ja) * 2004-03-08 2005-09-15 Nitto Kogaku Kk 双眼拡大鏡
WO2007077710A1 (ja) * 2005-12-28 2007-07-12 Nikon Corporation 光走査装置、光走査型顕微鏡、観察方法、制御装置、及び制御プログラム

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011257599A (ja) * 2010-06-09 2011-12-22 Olympus Corp 観察装置および観察方法
US10001440B2 (en) 2010-06-09 2018-06-19 Olympus Corporation Observation apparatus and observation method
JP5673679B2 (ja) * 2010-07-01 2015-02-18 株式会社ニコン 顕微鏡
JP2016197266A (ja) * 2016-08-15 2016-11-24 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
JP2021076577A (ja) * 2019-03-28 2021-05-20 浜松ホトニクス株式会社 検査装置及び検査方法
WO2020195138A1 (ja) * 2019-03-28 2020-10-01 浜松ホトニクス株式会社 検査装置及び検査方法
JP6720430B1 (ja) * 2019-03-28 2020-07-08 浜松ホトニクス株式会社 検査装置及び検査方法
CN113646877A (zh) * 2019-03-28 2021-11-12 浜松光子学株式会社 检查装置及检查方法
KR20210144693A (ko) * 2019-03-28 2021-11-30 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 검사 장치 및 검사 방법
US11694324B2 (en) 2019-03-28 2023-07-04 Hamamatsu Photonics K.K. Inspection apparatus and inspection method
CN113646877B (zh) * 2019-03-28 2023-08-18 浜松光子学株式会社 检查装置及检查方法
TWI819202B (zh) * 2019-03-28 2023-10-21 日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 檢查裝置及檢查方法
KR102606269B1 (ko) 2019-03-28 2023-11-29 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 검사 장치 및 검사 방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP5176521B2 (ja) 2013-04-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4992898B2 (ja) レーザ走査顕微鏡及び観察方法
US8054542B2 (en) Scanning laser microscope
US7474462B2 (en) Microscope with evanescent wave illumination
US7477380B2 (en) Scanning microscope comprising a confocal slit scanner for imaging an object
US7782529B2 (en) Scanning microscope and method for examining a sample by using scanning microscopy
US20040174593A1 (en) Arrangement for illumination and/or detection in a microscope
JP6282658B2 (ja) 自由に調整可能な試料走査を有する共焦点顕微鏡
JP5176521B2 (ja) レーザ走査顕微鏡
JP2010085826A (ja) レーザ顕微鏡装置
US6924490B2 (en) Microscope system
JP2003270538A (ja) 顕微鏡システム
JP5673679B2 (ja) 顕微鏡
JP2007127740A (ja) 走査型レーザ顕微鏡装置及び顕微鏡用照明装置
JP2002098899A (ja) 蛍光顕微鏡
JP2002267934A (ja) レーザ顕微鏡
JP4869749B2 (ja) 走査型顕微鏡
JP2010128473A (ja) 分散素子及び分散素子を備える光学機器
JP2004212434A (ja) 共焦点スキャナ顕微鏡
JP5583515B2 (ja) レーザ顕微鏡用照明装置およびレーザ顕微鏡
JP6980370B2 (ja) 顕微鏡システム
JP2006284701A (ja) 顕微鏡用照明装置および蛍光顕微鏡装置
JP6192397B2 (ja) レーザ顕微鏡
JP2006171027A (ja) 顕微鏡用照明装置および蛍光顕微鏡装置
JP2004212800A (ja) 顕微鏡照明装置及びそれを用いた共焦点顕微鏡
JP2003322801A (ja) 紫外線顕微鏡

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101207

RD05 Notification of revocation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425

Effective date: 20110106

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110124

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110215

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120614

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120619

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120807

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121211

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121224

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5176521

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250