JP2009145142A - 測定データ記録装置および測定データの記録方法 - Google Patents

Abstract

【課題】経過時間データ等の生成に要する時間を短縮する。
【解決手段】入力信号Ｓｉの電気的パラメータを指定時間間隔で測定した各データＤｓについて、測定処理の開始時点からそのデータＤｓの生成時点までの経過時間を対応する文字列に変換して経過時間データを生成する際に、各データＤｓの生成順位を示す順位数値を特定する順位数値特定処理と、順位数値および指定時間間隔に基づいて各データＤｓの生成時点までの経過時間を演算して、その数値を指定単位で指定桁数の経過時間数値に変換する経過時間変換処理と、０から（Ｎａ−１）までのＮａ個の各数値をそれぞれ表す各文字列が順に並んだデータ変換用テーブルＴａ，Ｔｂを参照して、経過時間数値を最下位の桁側からＭａ桁毎に分割したＬａ個の数値を対応する文字列に変換する経過時間文字列変換処理とをこの順で実行した後に、変換した各文字列を経過時間数値の分割順で並べる。
【選択図】図１

Description

本発明は、各測定データの電気的パラメータを文字列に変換した測定値データと測定処理の開始時点から各測定データの生成時点までの経過時間を文字列に変換した経過時間データとを相互に関連付けて記録装置に記録させる測定データ記録装置および測定データの記録方法に関するものである。

入力信号の電気的パラメータ（電圧値や電流値等）を測定して測定データを記録する測定データ記録装置において、例えば、測定データに基づく測定結果を表示部に表示させる際には、各測定データをＡＳＣＩＩコード形式などのデータに変換する必要がある。具体的には、この種の測定データ記録装置では、入力信号（アナログ信号）の信号レベルに応じて測定データ（デジタルデータ）を生成するＡ／Ｄ変換部を備えており、このＡ／Ｄ変換部の分解能が例えば４ｂｉｔの場合には、入力信号の信号レベルに応じて、０（Ｈ）〜Ｆ（Ｈ）（（Ｈ）は、１６進数を意味する）のうちのいずれかのデータ値が測定データとして生成される。この場合、Ａ／Ｄ変換部によって生成された測定データのデータ値は、入力信号の信号レベルを直接的に表す値ではないため、この測定データに基づく測定結果を表示する際には、測定データのデータ値を１０進数に変換しつつ、ＡＳＣＩＩコード形式の対応する文字列に変換する必要がある。

この際に、変換すべき数値（測定値：電気的パラメータ）が例えば５桁の数値の場合には、１つの測定データ（データ値）を対応する文字列に変換するために、１０進数に変換しつつＡＳＣＩＩコード形式の文字列に変換する処理を５桁の数値の各桁毎に合計５回に亘って実行する必要がある。したがって、高速なサンプリングの測定処理や、長期間に亘る測定処理を実行したときには、処理すべき測定データのデータ数が多数となることに起因して、この測定データに基づく測定結果を表示し得るデータ（ＡＳＣＩＩコード形式などのデータ）の生成に非常に長い時間を要することとなる。

一方、この種の測定データ記録装置として、出願人は、特開２００６−９０９０７号公報に波形測定装置（以下、「測定装置」ともいう）を開示している。この測定装置では、制御部が、Ａ／Ｄ変換部（測定部）によって生成された測定データに対応する変換用データがメモリに記憶されていないときに、対応する変換用データ（メモリに記憶されていない変換用データ）を生成してメモリに記憶させると共に、この変換用データを文字データとして記録部に出力する。また、Ａ／Ｄ変換部によって生成された測定データに対応する変換用データがメモリに記憶されているときには、変換用データを生成することなく、メモリに記憶されている変換用データを文字データとして記録部に出力する。したがって、出願人が開示している測定装置によれば、測定データに対応する変換用データがメモリに記憶されているときに変換用データを生成する処理が不要となる分だけ、数多くの測定データを文字データに変換するのに要する時間が十分に短縮されている。
特開２００６−９０９０７号公報（第４−９頁、第１−５図）

ところが、出願人が開示している従来の測定装置には、以下の改善すべき課題がある。すなわち、出願人が開示している従来の測定装置では、測定データに対応する変換用データがメモリに記憶されているときには、その変換用データをメモリから読み出して文字データとして記録部に出力することにより、すべての測定データについて変換用データをそれぞれ生成する構成の従来の装置と比較して変換用データを生成する処理の実行回数が少なくて済む分だけ、各測定データを文字データに変換するのに要する時間が短縮されている。この場合、この種の測定装置において測定データに基づく測定結果を表示する際には、測定値だけでなく、その測定値が測定された時間（測定処理の開始時点からの経過時間）を測定値に関連付けて表示するのが一般的となっている。したがって、測定データに基づく測定結果の記録に際しては、測定値を表す文字データだけでなく、その測定値が測定された時点の測定処理開始時点からの経過時間を表す文字データを生成する必要がある。

この場合、測定値については、ある程度の時間に亘って測定処理を実行したときに同一の測定値が複数回に亘って測定されることがある。したがって、出願人が開示している従来の測定装置のように、測定データに対応する変換用データをメモリに記憶させておく構成を採用することにより、その後に同一の測定値の測定データがＡ／Ｄ変換部によって生成されたときに、メモリに記憶されている変換用データを使用して変換用データを生成する処理の実行回数を減らすことができる。しかしながら、測定処理の開始時点からの経過時間については、測定処理を開始してから終了するまでの間において、同一の時間が再び発生することがない。したがって、例えば、経過時間に対応する変換用データを生成してメモリに記憶させておく構成を採用したとしても、メモリに記憶させた変換用データを繰り返して使用することがないため、結果として、測定データの数だけ、経過時間に対応する変換用データを生成する処理を実行する必要が生じる。

このため、出願人が開示している従来の測定装置には、測定処理の開始時点からの経過時間を表す文字データ（経過時間データ）の生成に長い時間を要することがあり、この点を改善するのが好ましい。また、出願人が開示している従来の測定装置では、例えば、入力信号の信号レベルがある程度緩やかに変化しているときに、測定処理中に同一の測定値が測定されないことがあり、このような場合には、生成された測定値に対応する変換用データをメモリに記憶させたとしても、その変換用データを再び使用することなく、結果として、測定データの数だけ、測定値に対応する変換用データを生成する処理を実行する必要が生じるおそれがある。このため、測定値を表示するための文字データ（測定値データ）の生成にある程度長い時間を要することとなるおそれがあり、この点を改善するのが好ましい。

本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、経過時間データや測定値データの生成に要する時間を十分に短縮し得る測定データ記録装置および測定データの記録方法を提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく請求項１記載の測定データ記録装置は、入力信号の電気的パラメータを測定して測定データを生成する測定部を備えると共に、当該測定部を制御して指定された時間間隔で前記測定データを順次生成させる測定処理と、前記各測定データの前記電気的パラメータを指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して測定値データを生成する測定値データ生成処理と、前記測定処理の開始時点から前記測定データの生成時点までの経過時間を指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して経過時間データを生成する経過時間データ生成処理と、前記測定値データおよび前記経過時間データを相互に関連付けて記録装置に記録させるデータ記録処理とを実行する制御部を備えた測定データ記録装置であって、０から（Ｎａ−１）までのＮａ個の各数値（Ｎａは、１０のＭａ乗の自然数：Ｍａは、自然数）をそれぞれ表す各文字列が順に並んだデータ変換用テーブルを記憶する記憶部を備え、前記制御部が、前記経過時間データ生成処理時において、前記各測定データの生成順位を示す順位数値を特定する順位数値特定処理と、前記順位数値および前記指定された時間間隔に基づいて前記各測定データの生成時点までの前記経過時間を演算すると共に当該演算した経過時間を表す数値を前記指定された単位で前記指定された桁数の経過時間数値に変換する経過時間変換処理と、前記経過時間数値を最下位の桁側からＭａ桁毎に分割したＬａ個の数値（Ｌａは、経過時間数値の桁数をＭａで除して小数点以下を切り上げた数）を前記データ変換用テーブルを参照して当該Ｍａ桁の各数値を表す前記文字列に変換する経過時間文字列変換処理とをこの順で実行した後に、前記変換した各文字列を前記経過時間文字列変換処理時に前記経過時間数値を分割した順で並べて前記経過時間データを生成する。

なお、本発明における「経過時間変換処理」における「演算した経過時間を表す数値を指定された単位で指定された桁数の経過時間数値に変換する」との処理は、例えば、「１０ｍｓ」との経過時間を表す数値を指定された単位としての「秒（ｓ）」で、指定された桁数としての「小数点第３位の桁数」の経過時間数値としての「００１０（０．０１０ｓ）」に変換する処理を意味する。また、本発明の「経過時間文字列変換処理」における「経過時間数値の桁数」とは、例えば、経過時間数値が上記の「００１０」の場合には「０」「０」「１」「０」からなる４桁であることを意味する。したがって、本発明における「経過時間文字列変換処理」における「経過時間数値を最下位の桁側からＭａ桁毎に分割したＬａ個の数値」とは、例えば、上記の「００１０」との数値を最下位の桁（この例では１位の桁）側から「Ｍａ＝３桁」毎に分割した「Ｌａ＝２個」の数値である「０」および「０１０」を意味する。

また、請求項２記載の測定データ記録装置は、請求項１記載の測定データ記録装置において、前記制御部が、前記経過時間文字列変換処理として、前記経過時間数値をＮａで除した余りを前記Ｌａ個の数値のうちの最下位の桁側から１個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎａ個の文字列のうちのＪａａ番目の文字列（Ｊａａは、上記の「経過時間数値をＮａで除した余り」に１を加算した数）を当該１個目の数値を表す前記文字列として読み出して変換し、前記経過時間数値を１０のＸａ乗（ＸａはＭａに（Ｋａ−１）を乗じた数値：Ｋａは、２以上Ｌａ以下の各自然数）で除した商をＮａで除した余りを前記Ｌａ個の数値のうちの最下位の桁側からＫａ個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎａ個の文字列のうちのＪａｂ番目の文字列（Ｊａｂは、上記の「経過時間数値を１０のＸａ乗で除した商をＮａで除した余り」に１を加算した数）を当該Ｋａ個目の数値を表す前記文字列として読み出して変換する。

また、請求項３記載の測定データ記録装置は、入力信号の電気的パラメータを測定して測定データを生成する測定部を備えると共に、当該測定部を制御して指定された時間間隔で前記測定データを順次生成させる測定処理と、前記各測定データの前記電気的パラメータを指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して測定値データを生成する測定値データ生成処理と、前記測定処理の開始時点から前記測定データの生成時点までの経過時間を指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して経過時間データを生成する経過時間データ生成処理と、前記測定値データおよび前記経過時間データを相互に関連付けて記録装置に記録させるデータ記録処理とを実行する制御部を備えた測定データ記録装置であって、０から（Ｎｂ−１）までのＮｂ個の各数値（Ｎｂは、１０のＭｂ乗の自然数：Ｍｂは、自然数）をそれぞれ表す各文字列が順に並んだデータ変換用テーブルを記憶する記憶部を備え、前記制御部が、前記測定値データ生成処理時において、前記各測定データの前記電気的パラメータを前記指定された単位で前記指定された桁数のパラメータ数値に変換するパラメータ数値変換処理と、前記パラメータ数値を最下位の桁側からＭｂ桁毎に分割したＬｂ個の数値（Ｌｂは、パラメータ数値の桁数をＭｂで除して小数点以下を切り上げた数）を前記データ変換用テーブルを参照して当該Ｍｂ桁の各数値を表す前記文字列に変換するパラメータ文字列変換処理とをこの順で実行した後に、前記変換した各文字列を前記パラメータ文字列変換処理時に前記パラメータ数値を分割した順で並べて前記測定値データを生成する。

なお、本発明における「パラメータ数値変換処理」における「測定データの電気的パラメータを指定された単位で指定された桁数のパラメータ数値に変換する」との処理は、例えば、「１０ｍＶ」との値を「Ｖ単位で、小数点第３位の桁数までの数値」である「００１０（０．０１０Ｖ）」に変換する処理を意味する。また、本発明における「パラメータ文字列変換処理」における「パラメータ数値の桁数」とは、例えば、パラメータ数値が上記の「００１０」の場合には「０」「０」「１」「０」の４桁であることを意味する。したがって、本発明における「パラメータ文字列変換処理」における「パラメータ数値をＭｂ桁毎に分割したＬｂ個の数値」とは、例えば、上記の「００１０」との数値を「Ｍｂ＝３桁」毎に分割した「Ｌｂ＝２個」の数値である「０」および「０１０」を意味する。

また、請求項４記載の測定データ記録装置は、請求項３記載の測定データ記録装置において、前記制御部が、前記パラメータ文字列変換処理として、前記パラメータ数値をＮｂで除した余りを前記Ｌｂ個の数値のうちの最下位の桁側から１個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎｂ個の文字列のうちのＪｂａ番目の文字列（Ｊｂａは、上記の「パラメータ数値をＮｂで除した余り」に１を加算した数）を当該１個目の数値を表す前記文字列として読み出して変換し、前記パラメータ数値を１０のＸｂ乗（ＸｂはＭｂに（Ｋｂ−１）を乗じた数値：Ｋｂは、２以上Ｌｂ以下の各自然数）で除した商をＮｂで除した余りを前記Ｌｂ個の数値のうちの最下位の桁側からＫｂ個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎｂ個の文字列のうちのＪｂｂ番目の文字列（Ｊｂｂは、上記の「パラメータ数値を１０のＸｂ乗で除した商をＮｂで除した余り」に１を加算した数）を当該Ｋｂ個目の数値を表す前記文字列として読み出して変換する。

また、請求項５記載の測定データの記録方法は、入力信号の電気的パラメータを指定された時間間隔で測定して測定データを順次生成する測定処理と、前記各測定データの前記電気的パラメータを指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して測定値データを生成する測定値データ生成処理と、前記測定処理の開始時点から前記測定データの生成時点までの経過時間を指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して経過時間データを生成する経過時間データ生成処理と、前記測定値データおよび前記経過時間データを相互に関連付けて記録装置に記録させるデータ記録処理とを実行する測定データの記録方法であって、前記経過時間データ生成処理時において、前記各測定データの生成順位を示す順位数値を特定する順位数値特定処理と、前記順位数値および前記指定された時間間隔に基づいて前記各測定データの生成時点までの前記経過時間を演算すると共に当該演算した経過時間を表す数値を前記指定された単位で前記指定された桁数の経過時間数値に変換する経過時間変換処理と、０から（Ｎａ−１）までのＮａ個の各数値（Ｎａは、１０のＭａ乗の自然数：Ｍａは、自然数）をそれぞれ表す各文字列が順に並んだデータ変換用テーブルを参照して、前記経過時間数値を最下位の桁側からＭａ桁毎に分割したＬａ個の数値（Ｌａは、経過時間数値の桁数をＭａで除して小数点以下を切り上げた数）を前記データ変換用テーブルを参照して当該Ｍａ桁の各数値を表す前記文字列に変換する経過時間文字列変換処理とをこの順で実行した後に、前記変換した各文字列を前記経過時間文字列変換処理時に前記経過時間数値を分割した順で並べて前記経過時間データを生成する。

また、請求項６記載の測定データの記録方法は、請求項５記載の測定データの記録方法において、前記経過時間文字列変換処理として、前記経過時間数値をＮａで除した余りを前記Ｌａ個の数値のうちの最下位の桁側から１個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎａ個の文字列のうちのＪａａ番目の文字列（Ｊａａは、上記の「経過時間数値をＮａで除した余り」に１を加算した数）を当該１個目の数値を表す前記文字列として変換し、前記経過時間数値を１０のＸａ乗（ＸａはＭａに（Ｋａ−１）を乗じた数値：Ｋａは、２以上Ｌａ以下の各自然数）で除した商をＮａで除した余りを前記Ｌａ個の数値のうちの最下位の桁側からＫａ個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎａ個の文字列のうちのＪａｂ番目の文字列（Ｊａｂは、上記の「経過時間数値を１０のＸａ乗で除した商をＮａで除した余り」に１を加算した数）を当該Ｋａ個目の数値を表す前記文字列として変換する。

また、請求項７記載の測定データの記録方法は、入力信号の電気的パラメータを指定された時間間隔で測定して測定データを順次生成する測定処理と、前記各測定データの前記電気的パラメータを指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して測定値データを生成する測定値データ生成処理と、前記測定処理の開始時点から前記測定データの生成時点までの経過時間を指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して経過時間データを生成する経過時間データ生成処理と、前記測定値データおよび前記経過時間データを相互に関連付けて記録装置に記録させるデータ記録処理とを実行する測定データの記録方法であって、前記測定値データ生成処理時において、前記各測定データの前記電気的パラメータを前記指定された単位で前記指定された桁数のパラメータ数値に変換するパラメータ数値変換処理と、０から（Ｎｂ−１）までのＮｂ個の各数値（Ｎｂは、１０のＭｂ乗の自然数：Ｍｂは、自然数）をそれぞれ表す各文字列が順に並んだデータ変換用テーブルを参照して、前記パラメータ数値を最下位の桁側からＭｂ桁毎に分割したＬｂ個の数値（Ｌｂは、パラメータ数値の桁数をＭｂで除して小数点以下を切り上げた数）を前記データ変換用テーブルを参照して当該Ｍｂ桁の各数値を表す前記文字列に変換するパラメータ文字列変換処理とをこの順で実行した後に、前記変換した各文字列を前記パラメータ文字列変換処理時に前記パラメータ数値を分割した順で並べて前記測定値データを生成する。

また、請求項８記載の測定データの記録方法は、請求項７記載の測定データの記録方法において、前記パラメータ文字列変換処理として、前記パラメータ数値をＮｂで除した余りを前記Ｌｂ個の数値のうちの最下位の桁側から１個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎｂ個の文字列のうちのＪｂａ番目の文字列（Ｊｂａは、上記の「パラメータ数値をＮｂで除した余り」に１を加算した数）を当該１個目の数値を表す前記文字列として変換し、前記パラメータ数値を１０のＸｂ乗（ＸｂはＭｂに（Ｋｂ−１）を乗じた数値：Ｋｂは、２以上Ｌｂ以下の各自然数）で除した商をＮｂで除した余りを前記Ｌｂ個の数値のうちの最下位の桁側からＫｂ個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎｂ個の文字列のうちのＪｂｂ番目の文字列（Ｊｂｂは、上記の「パラメータ数値を１０のＸｂ乗で除した商をＮｂで除した余り」に１を加算した数）を当該Ｋｂ個目の数値を表す前記文字列として変換する。

請求項１記載の測定データ記録装置および請求項５記載の測定データの記録方法では、経過時間データ生成処理時において、各測定データの生成順位を示す順位数値を特定する順位数値特定処理と、順位数値および指定された時間間隔に基づいて各測定データの生成時点までの経過時間を演算すると共に演算した経過時間を表す数値を指定された単位で指定された桁数の経過時間数値に変換する経過時間変換処理と、０から（Ｎａ−１）までのＮａ個の各数値をそれぞれ表す各文字列が順に並んだデータ変換用テーブルを参照して、経過時間数値をＭａ桁毎に分割したＬａ個の数値をＭａ桁の各数値を表す文字列に変換する経過時間文字列変換処理とをこの順で実行した後に、変換した各文字列を経過時間文字列変換処理時に経過時間数値を分割した順で並べて経過時間データを生成する。

また、請求項２記載の測定データ記録装置および請求項６記載の測定データの記録方法では、経過時間文字列変換処理として、経過時間数値をＮａで除した余りをＬａ個の数値のうちの最下位の桁側から１個目の数値とすると共に、データ変換用テーブルのＮａ個の文字列のうちのＪａａ番目の文字列を１個目の数値を表す文字列として変換し、経過時間数値を１０のＸａ乗で除した商をＮａで除した余りをＬａ個の数値のうちの最下位の桁側からＫａ個目の数値とすると共に、データ変換用テーブルのＮａ個の文字列のうちのＪａｂ番目の文字列をＫａ個目の数値を表す文字列として変換する。

したがって、本発明に係る測定データ記録装置および本発明に係る測定データの記録方法によれば、同一の値が発生しない経過時間を表す文字列について、Ｍａ桁毎に演算処理して、その演算結果に基づいてデータ変換用テーブルから対応する文字列を読み出して（参照して）使用することができるため、対応する文字を１桁毎に演算処理する従来の一般的な構成（方法）と比較して経過時間データの生成に要する時間を十分に短縮することができる。

また、請求項３記載の測定データ記録装置および請求項７記載の測定データの記録方法では、測定値データ生成処理時において、各測定データの電気的パラメータを指定された単位で指定された桁数のパラメータ数値に変換するパラメータ数値変換処理と、０から（Ｎｂ−１）までのＮｂ個の各数値をそれぞれ表す各文字列が順に並んだデータ変換用テーブルを参照して、パラメータ数値をＭｂ桁毎に分割したＬｂ個の数値をＭｂ桁の各数値を表す文字列に変換するパラメータ文字列変換処理とをこの順で実行した後に、変換した各文字列をパラメータ文字列変換処理時にパラメータ数値を分割した順で並べて測定値データを生成する。

また、請求項４記載の測定データ記録装置および請求項８記載の測定データの記録方法では、パラメータ文字列変換処理として、パラメータ数値をＮｂで除した余りをＬｂ個の数値のうちの最下位の桁側から１個目の数値とすると共に、データ変換用テーブルのＮｂ個の文字列のうちのＪｂａ番目の文字列を１個目の数値を表す文字列として変換し、パラメータ数値を１０のＸｂ乗で除した商をＮｂで除した余りをＬｂ個の数値のうちの最下位の桁側からＫｂ個目の数値とすると共に、データ変換用テーブルのＮｂ個の文字列のうちのＪｂｂ番目の文字列をＫｂ個目の数値を表す文字列として変換する。

したがって、本発明に係る測定データ記録装置および本発明に係る測定データの記録方法によれば、測定値を表す文字列について、Ｍｂ桁毎に演算処理して、その演算結果に基づいてデータ変換用テーブルから対応する文字列を読み出して（参照して）使用することができるため、対応する文字を１桁毎に演算処理する従来の一般的な構成（方法）と比較して経過時間データの生成に要する時間を十分に短縮することができる。

以下、本発明に係る測定データ記録装置および測定データの記録方法の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。

最初に、波形記録装置１の構成について、図面を参照して説明する。

波形記録装置１は、本発明に係る測定データ記録装置の一例であって、図１に示すように、Ａ／Ｄ変換部２、メモリ３、記録部４、表示部５、制御部６およびメモリ７を備え、本発明に係る測定データの記録方法に従って文字列データＤｔを生成して記録部４に記録させる記録処理や、文字列データＤｔに基づく測定結果表示用画面１０（図２参照）の表示処理などを実行可能に構成されている。Ａ／Ｄ変換部２は、本発明における測定部に相当し、制御部６の制御に従って入力信号Ｓｉをアナログ−デジタル変換して（入力信号Ｓｉを所定のサンプリングレートでサンプリングして）サンプリングデータＤｓを生成する。なお、この波形記録装置１では、Ａ／Ｄ変換部２がサンプリングデータＤｓを生成する上記の「サンプリングレート」が本発明における「指定された時間間隔」に相当する。メモリ３は、一例として、ＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）で構成されて、制御部６の制御に従い、記録処理等の処理条件を示す測定条件データＤｃや上記のサンプリングデータＤｓを一時的に記憶する。

この場合、測定条件データＤｃは、記録処理の開始に先立って指定された各種の測定条件に基づいて制御部６が生成するデータであって、図３に示すように、記録処理（測定処理）の開始時刻、測定モード、サンプリングレート、および測定レンジ等の各種条件で構成されている。また、サンプリングデータＤｓは、本発明における測定データの一例であって、図４に示すように、Ａ／Ｄ変換部２によって上記のサンプリングレートでサンプリングされた（測定された）入力信号Ｓｉの電気的パラメータ（電圧値、電流値、周波数および位相などの測定値：この例では、電圧値）がその生成順に並んで記録されている。なお、実際のサンプリングデータＤｓは、Ａ／Ｄ変換部２の分解能に応じて例えば１６進数等で記録されているが、本明細書では、本発明についての理解を容易とするために、測定値を１０進数で表記して説明する。また、本明細書では、Ａ／Ｄ変換部２によって上記のサンプリングレートで順次生成されるデータ（図４に示すサンプリングデータＤｓのうちの各１つの値）と、そのデータを記録部４内に順次追記したデータの集合体（図４に示すサンプリングデータＤｓのような複数の値からなるデータ）の双方を区別することなく、サンプリングデータＤｓという。

記録部４は、本発明における記録装置に相当し、一例として、リムーバブルメモリ（メモリカード等）やＨＤＤ（Hard Disc Drive） で構成されて、制御部６の制御に従い、上記の測定条件データＤｃおよびサンプリングデータＤｓや文字列データＤｔを記録する。この場合、文字列データＤｔは、本発明における測定値データおよび本発明における経過時間データを相互に関連付けて一体化したデータであって、図５に示すように、Ａ／Ｄ変換部２によって順次生成されるサンプリングデータＤｓの電気的パラメータ（測定値：この例では電圧値）を表す文字列と、記録処理（測定処理）の開始時点からその電気的パラメータが測定された（対応するサンプリングデータＤｓがＡ／Ｄ変換部２によって生成された）時点までの経過時間を表す文字列とが相互に関連付けられて記録されている。なお、この文字列データＤｔは、一例として、上記の各文字列がＡＳＣＩＩコード形式で記録されている。表示部５は、例えばＬＣＤ（Liquid Crystal Display）で構成され、制御部６によって生成された表示データＤｐに基づき、測定結果表示用画面１０（図２参照）などを表示する。

制御部６は、本発明における制御部の一例であって、波形記録装置１を総括的に制御する。具体的には、制御部６は、利用者によって予め指定された測定条件に従って測定条件データＤｃを生成して記録部４に記録させると共に、Ａ／Ｄ変換部２を制御して指定されたサンプリングレートでサンプリングデータＤｓを順次生成させる測定処理と、各サンプリングデータＤｓの電気的パラメータを指定された単位で指定された桁数のパラメータ数値に変換した後に変換した数値を表す文字列に変換して測定値データを生成すると共に（本発明における測定値データ生成処理）、測定処理の開始時点からサンプリングデータＤｓの生成時点までの経過時間を指定された単位で指定された桁数の経過時間数値に変換した後に変換した数値を表す文字列に変換して経過時間データを生成し（本発明における経過時間データ生成処理）、生成した測定値データおよび経過時間データを相互に関連付けて上記の文字列データＤｔを生成して記録部４に記録させるデータ記録処理とを実行する。また、制御部６は、記録部４に記録させた測定条件データＤｃ、サンプリングデータＤｓおよび文字列データＤｔに基づいて表示データＤｐを生成して表示部５に出力することにより、図２に示す測定結果表示用画面１０などを表示させる。

メモリ７は、データ変換用テーブルＴａ，Ｔｂを記憶する。この場合、データ変換用テーブルＴａは、本発明におけるデータ変換用テーブルの一例であって、図６に示すように、レコードＲ１ａ〜Ｒ１０００ａまでの各レコードに「０」、「１」・・「９」、「１０」・・「９９」、「１００」・・「９９９」の１０００種類の文字列がこの順でそれぞれ記録されている（本発明における「Ｎａ」および「Ｎｂ」がそれぞれ「１０００」で、本発明における「Ｍａ」および「Ｍｂ」がそれぞれ「３」である例）。また、データ変換用テーブルＴｂは、本発明におけるデータ変換用テーブルの他の一例であって、図７に示すように、レコードＲ１ｂ〜Ｒ１０００ｂまでの各レコードに「０００」、「００１」・・「００９」、「０１０」・・「０９９」、「１００」・・「９９９」の１０００種類の文字列がこの順でそれぞれ記録されている（本発明における「Ｎａ」および「Ｎｂ」がそれぞれ「１０００」で、本発明における「Ｍａ」および「Ｍｂ」がそれぞれ「３」である例）。

この場合、経過時間や電気的パラメータを表すときに、ＳＩ単位系では、３桁毎に基本単位が存在し、かつ、３桁毎に「，（カンマ）」で区切ることが多い。したがって、経過時間や電気的パラメータを表す文字列に変換する際には、４桁以上の文字列を必要とすることが殆どなく、３桁までの文字列をデータ変換用テーブルＴａ，Ｔｂとして予め用意しておくことで、後述するようにして、所望の値を示す文字列に変換することができる。さらに、４桁以上の文字列を含むデータ変換用テーブルでは、そのデータサイズが大きくなることに起因して、そのデータ変換用テーブルを記憶するためのメモリ７として大容量の記憶素子を搭載する必要があるのに対して、３桁までの文字列で構成されたデータ変換用テーブルＴａ，Ｔｂでは、そのデータサイズが十分に小さいため、ある程度少容量の記憶素子でメモリ７を構成することが可能となっている。したがって、本発明におけるＭａ桁およびＭｂ桁は、３桁とするのが好ましい。

なお、データ変換用テーブルＴａ，Ｔｂは、レコードＲ１ａ〜Ｒ１００ａに記録された文字列（「０」〜「９９」）と、レコードＲ１ｂ〜Ｒ１００ｂに記録された文字列（「０００」〜「０９９」）とが互いに相違し、レコードＲ１０１ａ〜Ｒ１０００ａに記録された文字列およびレコードＲ１０１ｂ〜Ｒ１０００ｂに記録された文字列（「１００」〜「９９９」）が同一となっている。したがって、後述するようにデータ変換用テーブルＴａ，Ｔｂを使用する一連の処理時において、データ変換用テーブルＴａのレコードＲ１０１ａ〜Ｒ１０００ａと、データ変換用テーブルＴｂのレコードＲ１０１ｂ〜Ｒ１０００ｂとのいずれか一方を使用せずに、他方だけを参照するように波形記録装置１を構成することもできる。

次に、波形記録装置１によるサンプリングデータＤｓや文字列データＤｔ等の記録処理（測定処理）について、図面を参照して説明する。

この波形記録装置１を用いた記録処理に際しては、まず、入力信号Ｓｉについての測定条件を指定する。具体的には、一例として、「測定モード」として「直流電圧（ＤＣＶ）」を指定し、「サンプリングレート」として「２μｓ」を指定し、「測定レンジ」として「５０ｍＶ」を指定する。なお、実際には、記録処理の開始条件（トリガ条件など）や、測定処理を継続すべき時間長（記録すべきデータ数）等についても指定するが、本発明についての理解を容易とするために、これらについての説明を省略する。この場合、この波形記録装置１では、上記のように、測定モードとして「直流電圧（ＤＣＶ）」が指定され、かつ、測定レンジとして「５０ｍＶ」が指定されたときに、０．００１ｍＶ（１μＶ）を最小単位として、入力信号Ｓｉの電圧値が０．００１ｍＶ〜５０．０００ｍＶのうちのいずれかに測定される。

続いて、後述するように、記録部４に文字列データＤｔを記録させる際に、本発明における経過時間データおよび測定値データをどのような単位でどのような桁数の値で生成させるか（図２に示す測定結果表示用画面１０などの表示に際して、経過時間や測定値をどのような単位でどのような桁数の値で表示させるか）を指定する。この際には、一例として、経過時間については、秒（ｓ）単位の小数点第６位の桁までの値とし、測定値（この例では、電圧値）については、ｍＶ単位の小数点第３位の桁までの値とする旨を指定する。一方、制御部６は、指定された上記の各測定条件に基づき、測定条件データＤｃを生成してメモリ３に記憶させる。なお、この時点においては、測定条件データＤｃにおける「開始時刻」の部位は空欄となっている。

次いで、Ａ／Ｄ変換部２に対象機器を接続する。この際に、制御部６は、Ａ／Ｄ変換部２を制御して、指定されたサンプリングレート（この例では、２μｓ）で入力信号Ｓｉをアナログ−デジタル変換させる。これに応じて、Ａ／Ｄ変換部２は、入力信号Ｓｉの例えば電圧値を示すサンプリングデータＤｓを２μｓ間隔で生成して制御部６に順次出力する。また、制御部６は、Ａ／Ｄ変換部２から出力されたサンプリングデータＤｓを例えば先入れ先出し法でメモリ３に順次記憶させる。この場合、制御部６は、波形記録装置１の電源が遮断されるまで、Ａ／Ｄ変換部２から出力されたサンプリングデータＤｓをメモリ３に記憶させる上記の処理を繰り返して実行する。したがって、以下の説明においては、サンプリングデータＤｓをメモリ３に記憶させる処理についての説明を省略する。

続いて、図示しない操作部のスタートスイッチを操作する。この際に、制御部６は、記録処理（測定処理）の開始条件（レベルトリガ条件）を満たすサンプリングデータＤｓ（電圧値が設定値以上のサンプリングデータＤｓ）がＡ／Ｄ変換部２から出力されたか否かを監視する。また、制御部６は、条件を満たすサンプリングデータＤｓがＡ／Ｄ変換部２から出力されたときに、そのサンプリングデータＤｓが生成された時点の時刻情報を図示しないタイマから取得して、メモリ３に記憶させた上記の文字列データＤｔにおける「開始時刻」の欄に、対応する文字列（この例では、ｙｙ／ｍｍ／ｄｄ ｈｈ：ｍｍ：ｓｓの形式で開始時刻を表す「○○／○○／○○ ○○：○○：○○」との文字列）を追記した後に、記録部４に記録させる。なお、以下の説明においては、上記の条件を満たした最初のサンプリングデータＤｓを生成順位が０番のサンプリングデータＤｓともいう。また、制御部６は、そのサンプリングデータＤｓをメモリ３から読み出して記録部４に記録させる。この後、制御部６は、記録処理を終了すべき条件（指定された時間長、または、指定された記録データ数）が満たされるまで、Ａ／Ｄ変換部２によって新たなサンプリングデータＤｓが生成される都度、そのサンプリングデータＤｓを記録部４に順次記録させる。

一方、制御部６は、上記のサンプリングデータＤｓの記録処理と並行して、前述した文字列データＤｔを生成して記録部４に記録させる処理を実行する。具体的には、制御部６は、Ａ／Ｄ変換部２によって新たなサンプリングデータＤｓが生成される都度、そのサンプリングデータＤｓを対象として、本発明における測定値データ生成処理と、本発明における経過時間データ生成処理とを実行して文字列データＤｔを生成し、生成した文字列データＤｔを記録部４に順次記録させる。なお、実際には、生成順位が０番のサンプリングデータＤｓがＡ／Ｄ変換部２から出力された時点から、そのサンプリングデータＤｓ（図４に示すサンプリングデータＤｓにおける生成順位が０番のデータ）に対して以下に説明する一連の処理が実行されるが、本発明についての理解を容易とするために、一例として、生成順位が５６１７２８番のサンプリングデータＤｓが出力された時点を例に挙げて説明する。この場合、図４に示すように、生成順位が５６１７２８番のサンプリングデータＤｓは、その電圧値が１３．５７９ｍＶであることを示す「１３５７９」とのデータ値で構成されている。

このサンプリングデータＤｓを対象とする文字列データＤｔの記録処理時には、制御部６は、一例として、本発明における経過時間データ生成処理を開始する。この処理では、制御部６は、まず、本発明における順位数値特定処理を実行して、対象とするサンプリングデータＤｓの生成順位を示す数値を特定する。この際には、「５６１７２８」との数値が本発明における順位数値として特定される。次いで、制御部６は、本発明における経過時間変換処理を実行して、上記の順位数値特定処理で特定した数値と、サンプリングデータＤｓの生成時間間隔（この例では、指定されたサンプリングレートとしての「２μｓ」）とに基づいて記録処理（測定処理）の開始時点（０番目のサンプリングデータＤｓが生成されて記録部４に記録された時点）から、対象とするサンプリングデータＤｓの生成時点までの経過時間を演算する。この際には、２μｓ間隔で生成されたサンプリングデータＤｓのうちの５６１７２８番目のサンプリングデータＤｓであることから、「５６１７２８」との数値に「２」を乗じた「１１２３４５６（１１２３４５６μｓ）」との数値が制御部６によって演算される。

続いて、制御部６は、上記の「１１２３４５６」との数値を、経過時間についての指定された単位で指定された桁数の経過時間数値（この例では、「秒（ｓ）単位の小数点第６位の桁までの値」）に変換する。この際には、秒（ｓ）単位の小数点第６位の桁が「１μｓ」であるため、制御部６は、上記の「１１２３４５６」との上記の数値をそのまま本発明における経過時間数値として取得する。次いで、制御部６は、本発明における経過時間文字列変換処理を実行して、上記の「１１２３４５６」との数値を３桁毎（本発明におけるＭａが３の例）に分割した３個（本発明におけるＬａが、本発明における経過時間数値である「１１２３４５６」の桁数である「７」を「Ｍａ＝３」で除して小数点以下を切り上げた数である「３」の例）の各数値（この例では、「１」、「１２３」および「４５６」の３つの数値）をこれらの各数値を表す文字列に変換する。

具体的には、制御部６は、まず、上記の「１１２３４５６」との数値を「１０００」との数値（本発明におけるＮａ）で除した余りの３桁の数値を求める。この際には、「４５６」との数値が上記の経過時間変換処理時に「１１２３４５６」との数値を分割した１番目の数値として演算される。次いで、制御部６は、上記の「１１２３４５６」との数値を「１０００」との数値（「１０」のＸａ乗（Ｘａは「Ｍａ＝３」に「Ｋａ−１＝２−１＝１」を乗じた数値））で除した商（この例では、「１１２３」）を「１０００」との数値（本発明におけるＮａ）で除した余りの３桁の数値を求める。この際には、「１２３」との数値が上記の経過時間変換処理時に「１１２３４５６」との数値を分割した２番目（Ｋａ＝２）の数値として演算される。

続いて、制御部６は、上記の「１１２３４５６」との数値を「１００００００」との数値（「１０」のＸａ乗（Ｘａは「Ｍａ＝３」に「Ｋａ−１＝３−１＝２」を乗じた数値））で除した商（この例では、「１」）を「１０００」との数値（本発明におけるＮａ）で除した余りの３桁の数値を求める。この際には、「００１」との数値が上記の経過時間変換処理時に「１１２３４５６」との数値を分割した３番目（Ｋａ＝３）の数値として演算される。なお、「１１２３４５６」との数値を「１００００００」との数値（１０のＸａ乗）で除すとの演算は、「１１２３４５６」との数値を「１０００」との数値（１０のＭａ＝３乗）で除した商（この例では、「１１２３」との数値）を「１０００」との数値（１０のＭａ＝３乗）で除すのと等価であるため、上記の「１００００００」との数値で除す処理に代えて、「１０００」との数値で除す処理をＫａ−１回（２回）実行してもよい。また、上記の「１００００００」との数値で除す処理に代えて、上記の「Ｋａ−１＝１」のときに「１１２３４５６」との数値を「１０００」との数値で除した商を「１０００」との数値で除した際（「１２３」との余りを求めた演算処理時）に求められる商を記憶しておき、この商を「１０００」との数値（本発明におけるＮａ）で除した余りを求めることによって上記の３桁の数値を求める処理を実行することもできる。

次いで、制御部６は、データ変換用テーブルＴｂにおける４５７番目（本発明におけるＪａａが「４５７」の例）の文字列（この例では、「４５６」との文字列）を最下位の桁側から１個目の数値を表す文字列とし、データ変換用テーブルＴｂにおける１２４番目（本発明におけるＪａｂが「１２４」の例）の文字列（この例では、「１２３」との文字列）を最下位の桁側から２個目（Ｋａ＝２）の数値を表す文字列とし、データ変換用テーブルＴａにおける００２番目（本発明におけるＪａｂが「００２」の例）の文字列（この例では、「１」との文字列）を最下位の桁側から３個目（Ｋａ＝３）の数値を表す文字列としてメモリ７から読み出す。続いて、制御部６は、最下位の桁側から３番目（整数部分を表す文字列）の数値を表す文字列と、最下位の桁側から２番目（小数点第１位〜第３位を表す文字列）の数値を表す文字列との間に「．（ピリオド＝小数点）」を挿入すると共に、指定された単位を示す「ｓ（秒）」との文字を最下位の桁側から１番目の数値を表す文字列の右側（最上位の桁から最下位の桁に向かう向きの最後）に追加する。これにより、図５に示すように、５６１７２８番目に生成されたサンプリングデータＤｓの測定時間までの経過時間を表す文字列として、「１．１２３４５６ｓ」との文字列が生成される。

この場合、サンプリングデータＤｓの生成順位を表す「５６１７２８」との数値と、サンプリングデータＤｓが生成される時間間隔（この例では、「２μｓ」）とに基づいて、そのサンプリングデータＤｓの生成時点までの経過時間を表す「１．１２３４５６ｓ」との文字列を生成する場合、従来の一般的な方法では、生成順位および生成時間間隔から経過時間を表す数値を演算する演算処理、その演算結果を指定された単位で指定された桁数の数値に変換する演算処理、小数点第６位の数値を対応する文字に変換する演算処理、小数点第５位の数値を対応する文字に変換する演算処理、小数点第４位の数値を対応する文字に変換する演算処理、小数点第３位の数値を対応する文字に変換する演算処理、小数点第２位の数値を対応する文字に変換する演算処理、小数点第１位の数値を対応する文字に変換する演算処理、および整数部分の数値を対応する文字に変換する演算処理の少なくとも９回の演算処理を実行する必要がある。

これに対して、この波形記録装置１による上記の方法では、生成順位および生成時間間隔から経過時間を表す数値を演算する演算処理、その演算結果を指定された単位で指定された桁数の数値に変換する演算処理、小数点第４位から６位までの３桁の数値がデータ変換用テーブルＴｂにおいて何番目の文字列に対応するかを演算する処理、小数点第１位から３位までの３桁の数値がデータ変換用テーブルＴｂにおいて何番目の文字列に対応するかを演算する処理、および整数部分の数値がデータ変換用テーブルＴａにおいて何番目の文字列に対応するかを演算する処理の５回の演算処理を実行するだけで、その演算結果に基づいてデータ変換用テーブルＴａ，Ｔｂから対応する文字列を読み出して経過時間を表す「１．１２３４５６ｓ」との文字列を生成することが可能となっている。

なお、上記の例とは別に、例えば、「１１２３４５６μｓ」との経過時間を「ｍｓ単位の小数点第３位までの値」に変換する際には、本発明における経過時間変換処理時に「１１２３４５６」との数値が経過時間数値として取得されると共に、本発明における経過時間文字列変換処理時に「１（最下位の桁側から３個目の数値を表す文字列）」、「１２３（最下位の桁側から２個目の数値を表す文字列）」および「４５６（最下位の桁側から１個目の数値を表す文字列）」の３つの文字列が取得される。また、制御部６は、最下位の桁側から３番目（整数部分における４桁を表す文字列）の数値を表す文字列と、最下位の桁側から２番目（整数部分における１桁から３桁を表す文字列）の数値を表す文字列との間に「，（カンマ）」を挿入すると共に、最下位の桁側から２番目の数値を表す文字列と、最下位の桁側から１番目（小数点第１位〜第３位を表す文字列）の数値を表す文字列との間に「．（ピリオド＝小数点）」を挿入し、さらに、指定された単位を示す「ｍｓ」との文字を最下位の桁側から１番目の数値を表す文字列の右側（最上位の桁から最下位の桁に向かう向きの最後）に追加する。これにより、「１，１２３．４５６ｍｓ」との文字列が生成される。

次いで、制御部６は、本発明における測定値データ生成処理を開始する。この処理では、制御部６は、まず、本発明におけるパラメータ数値変換処理を実行して、対象とするサンプリングデータＤｓの電気的パラメータを表す数値を指定された単位で指定された桁数のパラメータ数値（この例では、「ｍＶ単位の小数点第３位の桁までの値」）に変換する。この際には、サンプリングデータＤｓにおける電圧値がｍＶ単位の小数点第３位までの数値であるため、制御部６は、上記の「１３５７９」との上記の数値をそのまま本発明におけるパラメータ数値として取得する。次いで、制御部６は、本発明におけるパラメータ文字列変換処理を実行して、上記の「１３５７９」との数値を３桁毎（本発明におけるＭｂが３の例）に分割した３個（本発明におけるＬｂが、本発明におけるパラメータ数値である「１３５７９」の桁数である「５」を「Ｍｂ＝３」で除して小数点以下を切り上げた数である「２」の例）の各数値（この例では、「１３」および「５７９」の２つの数値）をこれらの各数値を表す文字列に変換する。

具体的には、制御部６は、まず、上記の「１３５７９」との数値を「１０００」との数値（本発明におけるＮｂ）で除した余りの３桁の数値を求める。この際には、「５７９」との数値が上記のパラメータ数値変換処理時に「１３５７９」との数値を分割した１番目の数値として演算される。次いで、制御部６は、上記の「１３５７９」との数値を「１０００」との数値（「１０」のＸｂ乗（Ｘｂは「Ｍｂ＝３」に「Ｋｂ−１＝２−１＝１」を乗じた数値））で除した商（この例では、「１３」）を「１０００」との数値（本発明におけるＮｂ）で除した余りの３桁の数値を求める。この際には、「０１３」との数値が上記のパラメータ数値変換処理時に「１３５７９」との数値を分割した２番目（Ｋ＝２）の数値として演算される。

続いて、制御部６は、データ変換用テーブルＴｂにおける５８０番目（本発明におけるＪｂａが「５８０」の例）の文字列（この例では、「５７９」との文字列）を最下位の桁側から１個目の数値を表す文字列とし、データ変換用テーブルＴａにおける０１４番目（本発明におけるＪｂｂが「０１４」の例）の文字列（この例では、「１３」との文字列）を最下位の桁側から２個目（Ｋｂ＝２）の数値を表す文字列としてメモリ７から読み出す。続いて、制御部６は、最下位の桁側から２番目（整数部分を表す文字列）の数値を表す文字列と、最下位の桁側から１番目（小数点第１位〜第３位を表す文字列）の数値を表す文字列との間に「．（ピリオド＝小数点）」を挿入し、さらに、指定された単位を示す「ｍＶ」との文字列を最下位の桁側から１番目の数値を表す文字列の右側（最上位の桁から最下位の桁に向かう向きの最後）に追加する。これにより、図５に示すように、５６１７２８番目に生成されたサンプリングデータＤｓの電圧値を表す文字列として、「１３．５７９ｍＶ」との文字列が生成される。

この場合、サンプリングデータＤｓの電圧値を表す「１３５７９」との数値に基づいて、「１３．５７９ｍＶ」との文字列を生成する場合、従来の一般的な方法では、サンプリングデータＤｓの電圧値を指定された単位で指定された桁数の数値に変換する演算処理、小数点第３位の数値を対応する文字に変換する演算処理、小数点第２位の数値を対応する文字に変換する演算処理、小数点第１位の数値を対応する文字に変換する演算処理、整数部分における１の位の数値を対応する文字に変換する演算処理および整数部分における１０の位の数値を対応する文字に変換する演算処理の少なくとも６回の演算処理を実行する必要がある。これに対して、この波形記録装置１による上記の方法では、サンプリングデータＤｓの電圧値を指定された単位で指定された桁数の数値に変換する演算処理、小数点第１位から３位までの３桁の数値がデータ変換用テーブルＴｂにおいて何番目の文字列に対応するかを演算する処理、および整数部分の数値がデータ変換用テーブルＴａにおいて何番目の文字列に対応するかを演算する処理の３回の演算処理を実行するだけで、その演算結果に基づいてデータ変換用テーブルＴａ，Ｔｂから対応する、文字列を読み出して測定値（電圧値）を表す「１３．５７９ｍＶ」との文字列を生成することが可能となっている。

なお、上記の例とは別に、例えば、「１３．５７９ｍＶ」との値を「μＶ単位の小数点第３位までの値」に変換する際には、本発明におけるパラメータ数値変換処理時に「１３５７９０００」との数値がパラメータ数値として取得されると共に、本発明におけるパラメータ文字列変換処理時に「１３（最下位の桁側から３個目の数値を表す文字列）」、「５７９（最下位の桁側から２個目の数値を表す文字列）」および「０００（最下位の桁側から１個目の数値を表す文字列）」の３つの文字列が取得される。また、制御部６は、最下位の桁側から３番目（整数部分における４桁から５桁を表す文字列）の数値を表す文字列と、最下位の桁側から２番目（整数部分における１桁から３桁を表す文字列）の数値を表す文字列との間に「，（カンマ）」を挿入すると共に、最下位の桁側から２番目の数値を表す文字列と、最下位の桁側から１番目（小数点第１位〜第３位を表す文字列）の数値を表す文字列との間に「．（ピリオド＝小数点）」を挿入し、さらに、指定された単位を示す「μＶ」との文字を最下位の桁側から１番目の数値を表す文字列の右側（最上位の桁から最下位の桁に向かう向きの最後）に追加する。これにより、「１３，５７９．０００μＶ」との文字列が生成される。

次いで、制御部６は、上記の経過時間データ生成処理によって生成した文字列（この例では、「１．１２３４５６ｓ」との文字列：本発明における経過時間データの一例）と、上記の測定値データ生成処理によって生成した文字列（この例では、「１３．５７９ｍＶ」との文字列：本発明における測定値データの一例）とを相互に関連付けて、文字列データＤｔを生成し、図５に示すように、その文字列データＤｔを記録部４内の文字列データＤｔに追記する。なお、同図に示す、「１．１２３４５６ｓ」との文字列および「１３．５７９ｍＶ」との文字列よりも下側の各文字列は、この時点においては生成されておらず、５６１７２９番目以降のサンプリングデータＤｓが生成された際に制御部６によって上記の一例の処理と同様にして経過時間データ生成処理および測定値データ生成処理が実行されて記録部４内の文字列データＤｔに順次追記される。

また、１００００００番目のサンプリングデータＤｓがＡ／Ｄ変換部２によって生成された際には、制御部６は、上記の５６１７２８番目のサンプリングデータＤｓが生成された際の一例の処理と同様にして、「２．００００００ｓ」との文字列を本発明における経過時間データとして生成すると共に、「１３．８８０ｍＶ」との文字列を本発明における測定値データとして生成し、これらの文字列を相互に関連付けて記録部４内の文字列データＤｔに追記する。また、制御部６は、１００００００番目のサンプリングデータＤｓについての文字列データＤｔの追記が完了した時点において、記録処理（測定処理）の終了条件が満たされたとして、サンプリングデータＤｓおよび文字列データＤｔの記録部４への記録処理を終了する。これにより、記録部４には、指定された測定条件（記録条件）を示す測定条件データＤｃと、Ａ／Ｄ変換部２によって生成された１００００００個のサンプリングデータＤｓを１ファイル化したサンプリングデータＤｓと、制御部６によって生成された１００００００個の文字列データＤｔを１ファイル化した文字列データＤｔとが記録された状態となる。

一方、この波形記録装置１では、記録部４に記録させた文字列データＤｔ等に基づく測定結果を表示部５に表示させることが可能となっている。具体的には、制御部６は、図示しない操作部の操作によって測定結果の表示を指示されたときに、記録部４から測定条件データＤｃ、サンプリングデータＤｓおよび文字列データＤｔを読み出して表示データＤｐを生成して表示部５に出力する。これにより、図２に示すように、測定結果表示用画面１０が表示部５に表示される。この測定結果表示用画面１０では、測定条件データＤｃに基づく各種情報を表示する測定条件表示部１０ａと、サンプリングデータＤｓに基づく信号波形Ｗを表示する信号波形表示部１０ｂと、信号波形表示部１０ｂにおいてカーソル表示Ｃによって選択されている（カーソル表示Ｃが重ねられている信号波形Ｗ）部位の測定値、およびその測定値が測定された時点までの経過時間を示す測定値表示部１０ｃとで構成されている。

この際に、この波形記録装置１では、サンプリングデータＤｓの記録処理と並行して実行された上記の一連の処理によって記録部４内に記録されているすべてのサンプリングデータＤｓに対応する文字列データＤｔのすべてが生成されて記録されている。したがって、信号波形表示部１０ｂ内においてカーソル表示Ｃが左右いずれかの方向に移動させられたときには、移動させられたカーソル表示Ｃによって選択されている部位の測定値や経過時間を表す文字列が文字列データＤｔから読み出されて測定値表示部１０ｃに直ちに表示される。

このように、この波形記録装置１、および波形記録装置１による測定データの記録方法では、本発明における経過時間データ生成処理時において、各サンプリングデータＤｓの生成順位を示す順位数値を特定する順位数値特定処理と、順位数値および指定された時間間隔（サンプリングレート）に基づいて各サンプリングデータＤｓの生成時点までの経過時間を演算すると共に演算した経過時間を表す数値を指定された単位で指定された桁数の経過時間数値に変換する経過時間変換処理と、０から（Ｎａ−１）までのＮａ個の各数値をそれぞれ表す各文字列が順に並んだデータ変換用テーブルＴａ，Ｔｂを参照して、経過時間数値をＭａ桁毎に分割したＬａ個の数値をＭａ桁の各数値を表す文字列に変換する経過時間文字列変換処理とをこの順で実行した後に、変換した各文字列を経過時間文字列変換処理時に経過時間数値を分割した順で並べて経過時間データを生成する。

この場合、この波形記録装置１、および波形記録装置１による測定データの記録方法では、本発明における経過時間文字列変換処理として、経過時間数値をＮａで除した余りをＬａ個の数値のうちの最下位の桁側から１個目の数値とすると共に、データ変換用テーブルＴｂのＮａ個の文字列のうちのＪａａ番目の文字列を１個目の数値を表す文字列として変換し、経過時間数値を１０のＸａ乗で除した商をＮａで除した余りをＬａ個の数値のうちの最下位の桁側からＫａ個目の数値とすると共に、データ変換用テーブルＴａ，ＴｂのＮａ個の文字列のうちのＪａｂ番目の文字列をＫａ個目の数値を表す文字列として変換する。

したがって、この波形記録装置１、および波形記録装置１による測定データの記録方法によれば、同一の値が発生しない経過時間を表す文字列について、Ｍａ桁毎に演算処理して、その演算結果に基づいてデータ変換用テーブルＴａ，Ｔｂから対応する文字列を読み出して（参照して）使用することができるため、対応する文字を１桁毎に演算処理する従来の一般的な構成（方法）と比較して本発明における経過時間データの生成に要する時間を十分に短縮することができる。

また、この波形記録装置１、および波形記録装置１による測定データの記録方法では、本発明における測定値データ生成処理時において、各サンプリングデータＤｓの電気的パラメータ（この例では、電圧値）を指定された単位で指定された桁数のパラメータ数値に変換するパラメータ数値変換処理と、０から（Ｎｂ−１）までのＮｂ個の各数値をそれぞれ表す各文字列が順に並んだデータ変換用テーブルＴａ，Ｔｂを参照して、パラメータ数値をＭｂ桁毎に分割したＬｂ個の数値をＭｂ桁の各数値を表す文字列に変換するパラメータ文字列変換処理とをこの順で実行した後に、変換した各文字列をパラメータ文字列変換処理時にパラメータ数値を分割した順で並べて測定値データを生成する。

この場合、この波形記録装置１、および波形記録装置１による測定データの記録方法では、本発明におけるパラメータ文字列変換処理として、パラメータ数値をＮｂで除した余りをＬｂ個の数値のうちの最下位の桁側から１個目の数値とすると共に、データ変換用テーブルＴｂのＮｂ個の文字列のうちのＪｂａ番目の文字列を１個目の数値を表す文字列として変換し、パラメータ数値を１０のＸｂ乗で除した商をＮｂで除した余りをＬｂ個の数値のうちの最下位の桁側からＫｂ個目の数値とすると共に、データ変換用テーブルＴａ，ＴｂのＮｂ個の文字列のうちのＪｂｂ番目の文字列をＫｂ個目の数値を表す文字列として変換する。

したがって、この波形記録装置１、および波形記録装置１による測定データの記録方法によれば、測定値（この例では、電圧値）を表す文字列について、Ｍｂ桁毎に演算処理して、その演算結果に基づいてデータ変換用テーブルＴａ，Ｔｂから対応する文字列を読み出して（参照して）使用することができるため、対応する文字を１桁毎に演算処理する従来の一般的な構成（方法）と比較して本発明における経過時間データの生成に要する時間を十分に短縮することができる。

なお、本発明は、上記した構成および方法に限定されない。例えば、本発明における記録装置に相当する記録部４を備えた波形記録装置１を例に挙げて説明したが、記録部４に代えて、文字列データＤｔ等を波形記録装置１の外部に出力させるインタフェース部を設けて、外部装置としての記録装置に文字列データＤｔ等を記録させる構成を採用することもできる。また、表示部５を備えた波形記録装置１を例に挙げて説明したが、外部装置としての表示装置に表示データＤｐを出力して測定結果表示用画面１０等を表示させる構成を採用することもできる。さらに、Ａ／Ｄ変換部２から出力されたサンプリングデータＤｓをメモリ３に一旦記憶させた後にメモリ３からサンプリングデータＤｓを読み込んで文字列データＤｔにデータ変換する構成について説明したが、Ａ／Ｄ変換部２から出力されるサンプリングデータＤｓをメモリ３に記憶させることなく、直ちに文字列データＤｔにデータ変換する構成を採用することもできる。

また、本発明に係る記録データの記録方法に従って本発明における経過時間データ（「１．１２３４５６ｓ」等の文字列）を生成すると共に、本発明に係る記録データの記録方法に従って本発明における測定値データ（「１３．５７９ｍＶ」等の文字列）を生成した文字列データＤｔを記録部４に記録させる構成（方法）について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、本発明における経過時間データについては上記の波形記録装置１と同様にして本発明に係る記録データの記録方法に従って生成すると共に本発明における測定値データについては本発明に係る記録データの記録方法とは相違する方法（例えば、所望の単位で所望の桁数の数値を１桁ずつ文字列に変換する演算処理を実行する方法）によって生成する構成（方法）や、本発明における測定値データについては上記の波形記録装置１と同様にして本発明に係る記録データの記録方法に従って生成すると共に本発明における経過時間データについては本発明に係る記録データの記録方法とは相違する方法（例えば、所望の単位で所望の桁数の数値を１桁ずつ文字列に変換する演算処理を実行する方法）によって生成する構成（方法）を採用することができる。このような構成（方法）においても、本発明に係る測定データの記録方法に従って生成したデータの生成時間が十分に短くなるため、本発明における経過時間データおよび測定値データの記録処理に要する時間を十分に短縮することができる。

さらに、上記の波形記録装置１、およびその測定データの記録方法では、本発明における経過時間データと本発明における測定値データとを相互に関連付けて一体化した文字列データＤｔを記録部４に記録させる構成（方法）を採用しているが、本発明における経過時間データと本発明における測定値データとを相互に関連付けしつつ、別個独立したデータとして記録部４等の記録装置に記録させる構成（方法）を採用することもできる。また、上記の波形記録装置１では、３桁毎に「，（カンマ）」で区切った文字列で文字列データＤｔを構成した例について説明したが、本発明における経過時間データや測定値データにおける各文字列中に「，」を入れるか否かは、任意に選択することができる。さらに、Ａ／Ｄ変換部２によってサンプリングデータＤｓが生成される都度、そのサンプリングデータＤｓに対応する文字列データＤｔを生成して記録部４に記録させる（追記する）構成の波形記録装置１を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されず、例えば、所望時間分（所望データ数分）のサンプリングデータＤｓを記録部４などに記録した後に、複数のサンプリングデータＤｓを対象として、対応する文字列データＤｔを一括して生成して記録部４に記録させる構成（方法）を採用することもできる。

加えて、本発明における測定値データについては、本発明に係る記録データの記録方法に従って上記の波形記録装置１のようにして文字列データＤｔを生成すると共に、出願人が開示している従来の測定装置のように、生成した文字列データＤｔのうちの測定値を表す文字列の情報をメモリ３等に記憶しておき、同一の測定値のサンプリングデータＤｓがＡ／Ｄ変換部２によって生成されたときに、メモリ３等に記憶させていおいた情報を読み出して、そのサンプリングデータＤｓに対応する文字列データＤｔとして記録部４に記録させる構成（方法）を採用することもできる。このような構成（方法）を採用することで、各サンプリングデータＤｓに対応する文字列データＤｔの記録に要する時間を一層短縮することができる。

波形記録装置１の構成を示すブロック図である。 測定結果表示用画面１０の一例を示す表示画面図である。 測定条件データＤｃのデータ内容の一例を示すデータ構成図である。 サンプリングデータＤｓのデータ内容の一例を示すデータ構成図である。 文字列データＤｔのデータ内容の一例を示すデータ構成図である。 データ変換用テーブルＴａのデータ内容の一例を示すデータ構成図である。 データ変換用テーブルＴｂのデータ内容の一例を示すデータ構成図である。

符号の説明

１ 波形記録装置
２ Ａ／Ｄ変換部
３，７ メモリ
４ 記録部
５ 表示部
６ 制御部
１０ 測定結果表示用画面
Ｄｃ 測定条件データ
Ｄｓ サンプリングデータ
Ｄｔ 文字列データ
Ｓｉ 入力信号
Ｔａ，Ｔｂ データ変換用テーブル

Claims (8)

1. 入力信号の電気的パラメータを測定して測定データを生成する測定部を備えると共に、当該測定部を制御して指定された時間間隔で前記測定データを順次生成させる測定処理と、前記各測定データの前記電気的パラメータを指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して測定値データを生成する測定値データ生成処理と、前記測定処理の開始時点から前記測定データの生成時点までの経過時間を指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して経過時間データを生成する経過時間データ生成処理と、前記測定値データおよび前記経過時間データを相互に関連付けて記録装置に記録させるデータ記録処理とを実行する制御部を備えた測定データ記録装置であって、
   ０から（Ｎａ−１）までのＮａ個の各数値（Ｎａは、１０のＭａ乗の自然数：Ｍａは、自然数）をそれぞれ表す各文字列が順に並んだデータ変換用テーブルを記憶する記憶部を備え、
   前記制御部は、前記経過時間データ生成処理時において、前記各測定データの生成順位を示す順位数値を特定する順位数値特定処理と、前記順位数値および前記指定された時間間隔に基づいて前記各測定データの生成時点までの前記経過時間を演算すると共に当該演算した経過時間を表す数値を前記指定された単位で前記指定された桁数の経過時間数値に変換する経過時間変換処理と、前記経過時間数値を最下位の桁側からＭａ桁毎に分割したＬａ個の数値（Ｌａは、経過時間数値の桁数をＭａで除して小数点以下を切り上げた数）を前記データ変換用テーブルを参照して当該Ｍａ桁の各数値を表す前記文字列に変換する経過時間文字列変換処理とをこの順で実行した後に、前記変換した各文字列を前記経過時間文字列変換処理時に前記経過時間数値を分割した順で並べて前記経過時間データを生成する測定データ記録装置。
2. 前記制御部は、前記経過時間文字列変換処理として、前記経過時間数値をＮａで除した余りを前記Ｌａ個の数値のうちの最下位の桁側から１個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎａ個の文字列のうちのＪａａ番目の文字列（Ｊａａは、上記の「経過時間数値をＮａで除した余り」に１を加算した数）を当該１個目の数値を表す前記文字列として読み出して変換し、前記経過時間数値を１０のＸａ乗（ＸａはＭａに（Ｋａ−１）を乗じた数値：Ｋａは、２以上Ｌａ以下の各自然数）で除した商をＮａで除した余りを前記Ｌａ個の数値のうちの最下位の桁側からＫａ個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎａ個の文字列のうちのＪａｂ番目の文字列（Ｊａｂは、上記の「経過時間数値を１０のＸａ乗で除した商をＮａで除した余り」に１を加算した数）を当該Ｋａ個目の数値を表す前記文字列として読み出して変換する請求項１記載の測定データ記録装置。
3. 入力信号の電気的パラメータを測定して測定データを生成する測定部を備えると共に、当該測定部を制御して指定された時間間隔で前記測定データを順次生成させる測定処理と、前記各測定データの前記電気的パラメータを指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して測定値データを生成する測定値データ生成処理と、前記測定処理の開始時点から前記測定データの生成時点までの経過時間を指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して経過時間データを生成する経過時間データ生成処理と、前記測定値データおよび前記経過時間データを相互に関連付けて記録装置に記録させるデータ記録処理とを実行する制御部を備えた測定データ記録装置であって、
   ０から（Ｎｂ−１）までのＮｂ個の各数値（Ｎｂは、１０のＭｂ乗の自然数：Ｍｂは、自然数）をそれぞれ表す各文字列が順に並んだデータ変換用テーブルを記憶する記憶部を備え、
   前記制御部は、前記測定値データ生成処理時において、前記各測定データの前記電気的パラメータを前記指定された単位で前記指定された桁数のパラメータ数値に変換するパラメータ数値変換処理と、前記パラメータ数値を最下位の桁側からＭｂ桁毎に分割したＬｂ個の数値（Ｌｂは、パラメータ数値の桁数をＭｂで除して小数点以下を切り上げた数）を前記データ変換用テーブルを参照して当該Ｍｂ桁の各数値を表す前記文字列に変換するパラメータ文字列変換処理とをこの順で実行した後に、前記変換した各文字列を前記パラメータ文字列変換処理時に前記パラメータ数値を分割した順で並べて前記測定値データを生成する測定データ記録装置。
4. 前記制御部は、前記パラメータ文字列変換処理として、前記パラメータ数値をＮｂで除した余りを前記Ｌｂ個の数値のうちの最下位の桁側から１個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎｂ個の文字列のうちのＪｂａ番目の文字列（Ｊｂａは、上記の「パラメータ数値をＮｂで除した余り」に１を加算した数）を当該１個目の数値を表す前記文字列として読み出して変換し、前記パラメータ数値を１０のＸｂ乗（ＸｂはＭｂに（Ｋｂ−１）を乗じた数値：Ｋｂは、２以上Ｌｂ以下の各自然数）で除した商をＮｂで除した余りを前記Ｌｂ個の数値のうちの最下位の桁側からＫｂ個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎｂ個の文字列のうちのＪｂｂ番目の文字列（Ｊｂｂは、上記の「パラメータ数値を１０のＸｂ乗で除した商をＮｂで除した余り」に１を加算した数）を当該Ｋｂ個目の数値を表す前記文字列として読み出して変換する請求項３記載の測定データ記録装置。
5. 入力信号の電気的パラメータを指定された時間間隔で測定して測定データを順次生成する測定処理と、前記各測定データの前記電気的パラメータを指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して測定値データを生成する測定値データ生成処理と、前記測定処理の開始時点から前記測定データの生成時点までの経過時間を指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して経過時間データを生成する経過時間データ生成処理と、前記測定値データおよび前記経過時間データを相互に関連付けて記録装置に記録させるデータ記録処理とを実行する測定データの記録方法であって、
   前記経過時間データ生成処理時において、前記各測定データの生成順位を示す順位数値を特定する順位数値特定処理と、前記順位数値および前記指定された時間間隔に基づいて前記各測定データの生成時点までの前記経過時間を演算すると共に当該演算した経過時間を表す数値を前記指定された単位で前記指定された桁数の経過時間数値に変換する経過時間変換処理と、０から（Ｎａ−１）までのＮａ個の各数値（Ｎａは、１０のＭａ乗の自然数：Ｍａは、自然数）をそれぞれ表す各文字列が順に並んだデータ変換用テーブルを参照して、前記経過時間数値を最下位の桁側からＭａ桁毎に分割したＬａ個の数値（Ｌａは、経過時間数値の桁数をＭａで除して小数点以下を切り上げた数）を前記データ変換用テーブルを参照して当該Ｍａ桁の各数値を表す前記文字列に変換する経過時間文字列変換処理とをこの順で実行した後に、前記変換した各文字列を前記経過時間文字列変換処理時に前記経過時間数値を分割した順で並べて前記経過時間データを生成する測定データの記録方法。
6. 前記経過時間文字列変換処理として、前記経過時間数値をＮａで除した余りを前記Ｌａ個の数値のうちの最下位の桁側から１個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎａ個の文字列のうちのＪａａ番目の文字列（Ｊａａは、上記の「経過時間数値をＮａで除した余り」に１を加算した数）を当該１個目の数値を表す前記文字列として変換し、前記経過時間数値を１０のＸａ乗（ＸａはＭａに（Ｋａ−１）を乗じた数値：Ｋａは、２以上Ｌａ以下の各自然数）で除した商をＮａで除した余りを前記Ｌａ個の数値のうちの最下位の桁側からＫａ個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎａ個の文字列のうちのＪａｂ番目の文字列（Ｊａｂは、上記の「経過時間数値を１０のＸａ乗で除した商をＮａで除した余り」に１を加算した数）を当該Ｋａ個目の数値を表す前記文字列として変換する請求項５記載の測定データの記録方法。
7. 入力信号の電気的パラメータを指定された時間間隔で測定して測定データを順次生成する測定処理と、前記各測定データの前記電気的パラメータを指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して測定値データを生成する測定値データ生成処理と、前記測定処理の開始時点から前記測定データの生成時点までの経過時間を指定された単位で指定された桁数の数値に変換した後に当該変換した数値を表す文字列に変換して経過時間データを生成する経過時間データ生成処理と、前記測定値データおよび前記経過時間データを相互に関連付けて記録装置に記録させるデータ記録処理とを実行する測定データの記録方法であって、
   前記測定値データ生成処理時において、前記各測定データの前記電気的パラメータを前記指定された単位で前記指定された桁数のパラメータ数値に変換するパラメータ数値変換処理と、０から（Ｎｂ−１）までのＮｂ個の各数値（Ｎｂは、１０のＭｂ乗の自然数：Ｍｂは、自然数）をそれぞれ表す各文字列が順に並んだデータ変換用テーブルを参照して、前記パラメータ数値を最下位の桁側からＭｂ桁毎に分割したＬｂ個の数値（Ｌｂは、パラメータ数値の桁数をＭｂで除して小数点以下を切り上げた数）を前記データ変換用テーブルを参照して当該Ｍｂ桁の各数値を表す前記文字列に変換するパラメータ文字列変換処理とをこの順で実行した後に、前記変換した各文字列を前記パラメータ文字列変換処理時に前記パラメータ数値を分割した順で並べて前記測定値データを生成する測定データの記録方法。
8. 前記パラメータ文字列変換処理として、前記パラメータ数値をＮｂで除した余りを前記Ｌｂ個の数値のうちの最下位の桁側から１個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎｂ個の文字列のうちのＪｂａ番目の文字列（Ｊｂａは、上記の「パラメータ数値をＮｂで除した余り」に１を加算した数）を当該１個目の数値を表す前記文字列として変換し、前記パラメータ数値を１０のＸｂ乗（ＸｂはＭｂに（Ｋｂ−１）を乗じた数値：Ｋｂは、２以上Ｌｂ以下の各自然数）で除した商をＮｂで除した余りを前記Ｌｂ個の数値のうちの最下位の桁側からＫｂ個目の数値とすると共に、前記データ変換用テーブルの前記Ｎｂ個の文字列のうちのＪｂｂ番目の文字列（Ｊｂｂは、上記の「パラメータ数値を１０のＸｂ乗で除した商をＮｂで除した余り」に１を加算した数）を当該Ｋｂ個目の数値を表す前記文字列として変換する請求項７記載の測定データの記録方法。

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