JP2009135325A - インダクタンス素子及びその製造方法 - Google Patents

インダクタンス素子及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2009135325A
JP2009135325A JP2007311309A JP2007311309A JP2009135325A JP 2009135325 A JP2009135325 A JP 2009135325A JP 2007311309 A JP2007311309 A JP 2007311309A JP 2007311309 A JP2007311309 A JP 2007311309A JP 2009135325 A JP2009135325 A JP 2009135325A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
magnetic body
inductance element
connection conductor
groove
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007311309A
Other languages
English (en)
Inventor
Masato Terada
正人 寺田
Takayuki Watanabe
隆行 渡辺
Yuichi Kanayama
裕一 金山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kasei Electronics Co Ltd
Original Assignee
Asahi Kasei Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kasei Electronics Co Ltd filed Critical Asahi Kasei Electronics Co Ltd
Priority to JP2007311309A priority Critical patent/JP2009135325A/ja
Publication of JP2009135325A publication Critical patent/JP2009135325A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Coils Or Transformers For Communication (AREA)

Abstract

【課題】小型薄型でQ値が高く、量産性に優れているインダクタンス素子及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】基板1に設けられた磁性体2bと、基板1を貫通するスルーホール3aに埋め込まれた接続導体3bを備えており、基板1の上下面の少なくとも一方より掘り込まれた溝部2aに磁性体2bが設けられ、基板1の上下面に設けられたパターン導体5a,5bと基板1を貫通して設けられた接続導体3bとが、磁性体2bをコイル状に取り囲むように接続されている。
【選択図】図1

Description

本発明は、インダクタンス素子及びその製造方法に関し、より詳細には、基板に形成された磁性体と接続導体とを備えたインダクタンス素子及びその製造方法に関する。
近年、ノートPC、携帯電話、携帯型ゲームなどの携帯型情報機器は多機能化に伴い、異なる電源電圧を有するLSIが内蔵されるようになっており、バッテリーから供給される単一電源電圧を、異なる電源電圧に変換する電源デバイスの需要が増大している。電源電圧を変換するデバイスとしては、DC/DCコンバータがあり、これらにはトランスやインダクタなどのコイル部品が使用されており、効率良く電圧変換するためには、性能指標であるQ値やインダクタンスL値の高いインダクタンス素子が必要である。また、実装基板上での素子の占有面積を小さくするために、インダクタンス素子の小型化も必要である。
一般に、インダクタンス素子は、巻線型、積層型、平面型の3つに大別される。巻線型は、磁性材料で構成された磁芯に導電線を巻き付けることによってインダクタンス素子を形成するものである。この巻線型によれば、磁芯の形状や大きさ、導電線の材料や長さ、断面積、巻数などを適当に選ぶことにより、Q値やL値の高いインダクタンス素子を比較的容易に形成することが可能である。しかしながら、導電線を磁芯に巻き付けることが必要なため、小型化に限界があり、半導体チップ上に集積すること(表面実装部品化)には不向きであるという問題がある。
また、積層型は、磁芯に当たる磁性体層と、巻線に当たる導電体層とを交互に重ね合わせて積層していくことによって、積層面に対して垂直な方向にコイル状のインダクタンス素子を形成するものである。この積層型は、表面実装技術に適用することが可能であり、半導体チップ上にインダクタンス素子を集積することが比較的容易にできる。しかしながら、この積層型のインダクタンス素子は、最も磁束密度の高いコイルの中央部の磁束がそのまま外部に開放された開磁路構造となっている。そのため、インダクタンス素子の外部に磁束が漏洩してしまい、これが外部の回路と干渉してノイズを発生させたり、外部の導体において渦電流損を引き起こしたりして、高いQ値やL値を得ることができなかったという問題がある。
また、平面型は、平面的な基板上に葛折れ型あるいはスパイラル型などの導体パターンを形成することによってコイル状のインダクタンス素子を形成するものである。この平面型のインダクタンス素子も表面実装技術に適用することが可能であり、半導体チップ上に集積することが比較的容易にできる。しかしながら、これも積層型と同様に開磁路構造となっているため、インダクタンス素子の外部に磁束が漏洩してしまう。そのため、漏れ磁束が外部の回路と干渉してノイズを発生させたり、外部の導体において渦電流損を引き起こしたりして、高いQ値やL値を得ることができなかったという問題がある。
これらの問題を解決するために、例えば、特許文献1又は2に示されているようなインダクタンス素子が開発されている。この特許文献1に記載のものは、小型で、Q値が高く、製造歩留まり良く低コストで製造でき、長期的信頼性も高いインダクタンス素子及びその製造方法に関するもので、導体層が形成された絶縁基材と、別途焼結されたリング状磁性体とその内側の絶縁基材が配置された絶縁基材と、導体層が形成された絶縁基材とを、加熱下でプレス加工して一体化させ、リング状磁性体の外側及び内側の領域において、導体層と絶縁基材と導体層とを貫通する2列の貫通孔を形成し、これらの貫通孔に導電材料を配して、接続用導体を形成し、導体層をパターニングして、導体パターンを形成するようにしたものである。
また、特許文献2に記載のものは、GHz帯の非常に高い周波数領域で動作する無線通信端末に対応可能であり、高いQ値やL値といった良好な電気的特性を有し、外部回路に対する磁気的影響も少ないインダクタンス素子に関するもので、上部配線層に形成された第1の導電体と、下部配線層に形成された第2の導電体とを、中間層に形成された第3の導電体(コンタクト部)を挟んでコイル状に接続することにより、それ自身で閉磁路を構成し、漏れ磁束の発生を抑制して大きなインダクタンスL値を実現するとともに、外部回路との磁気的な干渉を低減できるようにしたものである。
特開2006−165212号公報 特開2002−289436号公報
しかしながら、特許文献1に記載のものは、インダクタンス素子を内蔵する配線基板(プリント基板)を提供することを目的としているものの、焼結形成した磁性コアを載せたプリント基板の上下を、導体層が形成されたプリント基板で挟み込み、3枚の基板を貫通させて、上下の導体層を、貫通孔を通して接続しており、小型化を実現することは困難である。
また、特許文献2に記載のものは、半導体基板上に、通常の半導体プロセス(リソ、CVD、蒸着など)により薄膜を積層した構造のコイルを形成し、この積層構造では、生産性を考慮すると磁性体層の厚さに制限があり、L値を高くすることは難しく、また、厚くする場合においても、高周波領域においても渦電流が大きくなりQ値が低下するという問題がある。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、小型薄型で、Q値が高く(インダクタンスLが大きく、渦電流損失が小さい)、量産性に優れているインダクタンス素子及びその製造方法を提供することにある。
本発明は、このような目的を達成するためになされたもので、請求項1に記載の発明は、基板に設けられた磁性体と、前記基板を貫通するスルーホールに埋め込まれた接続導体とを備えたインダクタンス素子において、前記基板の上下面の少なくとも一方より掘り込まれた溝部に前記磁性体が設けられ、前記基板の上面及び下面に形成されたパターン導体と前記接続導体とが、前記磁性体をコイル状に取り囲むように接続されていることを特徴とする。
また、請求項2に記載に発明は、請求項1に記載の発明において、前記基板が、シリコン基板であることを特徴とする。
また、請求項3に記載に発明は、請求項2に記載の発明において、前記磁性体及び前記接続導体が、直接に前記シリコン基板に接触しないように、前記溝部及び前記スルーホールの壁面に絶縁層が設けられていることを特徴とする。
また、請求項4に記載に発明は、請求項1,2又は3に記載の発明において、前記溝部に設けられた前記磁性体が、磁性体層と非導体層とが周期的に繰り返されている構造であることを特徴とする。
また、請求項5に記載に発明は、請求項1,2又は3に記載の発明において、前記磁性体が、平行に配置された複数の小溝からなるくし形に形成され、前記磁性体層が、前記小溝の側面に設けられていることを特徴とする。
また、請求項6に記載に発明は、請求項1,2又は3に記載の発明において、前記溝部に設けられた磁性体が、硬化性樹脂に含有された磁性粉であることを特徴とする。
また、請求項7に記載に発明は、請求項1乃至6のいずれかに記載のインダクタンス素子が、前記基板の上面のコイル導体の端子と、別の同構造のインダクタンス素子が設けられた基板の下面のコイル導体の端子とを接合されることにより、前記コイル導体が直列又は並列に複数個接続されていることを特徴とする。
また、請求項8に記載に発明は、請求項1乃至6のいずれかに記載のインダクタンス素子と半導体集積回路とが、フリップチップ接続された電子部品であることを特徴とする。
また、請求項9に記載に発明は、基板に設けられた磁性体と、前記基板を貫通するスルーホールに埋め込まれた接続導体とを備えたインダクタンス素子の製造方法において、前記基板に前記磁性体を形成する溝部と、前記基板の上面から下面まで貫通するスルーホールとを、前記基板の上面からエッチングによって加工する工程と、前記磁性体を前記溝部に形成する工程と、前記スルーホールに前記接続導体を形成する工程と、前記基板の上下面にパターン導体を形成する工程と、前記パターン導体と前記接続導体とを前記磁性体にコイル状に取り囲むように接続する工程とを有することを特徴とする。
また、請求項10に記載に発明は、基板に設けられた磁性体と、前記基板を貫通するスルーホールに埋め込まれた接続導体とを備えたインダクタンス素子の製造方法において、前記基板に前記磁性体を形成する溝部と、前記基板の上面から下面まで貫通することのないスルーホール用の深穴とを、前記基板の上面からエッチングによって加工する工程と、前記磁性体を前記溝部に形成する工程と、前記深穴に前記接続導体を形成する工程と、少なくとも前記接続導体が露出する厚さまで前記基板の下面を削り出す工程と、前記基板の上下面にパターン導体を形成する工程と、前記パターン導体と前記接続導体とを前記磁性体にコイル状に取り囲むように接続する工程とを有することを特徴とする。
本発明によれば、基板の上下面の少なくとも一方より掘り込まれた溝部に磁性体が設けられ、基板の上面及び下面に形成されたパターン導体と接続導体とが、磁性体をコイル状に取り囲むように接続されているので、磁性体コア(断面積)を大きくすることにより、小型薄型で、Q値が高く(インダクタンスLが大きく、渦電流損失が小さい)、量産性に優れているインダクタンス素子及びその製造方法を提供することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する。
図1(a),(b)は、本発明に係るインダクタンス素子の構成図で、図1(a)は断面図、図1(b)は図1(a)の上面図である。
本発明のインダクタンス素子は、基板1に形成された磁性体2bと、この基板1を貫通するスルーホール3aに埋め込まれた接続導体3bとを備え、基板1の上下面の少なくとも一方より円形状に掘り込まれた溝部2aに磁性体2bが設けられ、基板1の上面及び下面に形成されたパターン導体(電極)5a,5bと、基板1を貫通して設けられた接続導体3bとが、磁性体2bをコイル状に取り囲むように接続されている。
また、基板1は、シリコン基板であることが好ましい。また、磁性体2b及び接続導体3bが、直接にシリコン基板1に接触しないように、溝部2a及びスルーホール3aの壁面に絶縁層4が設けられていることが好ましい。
また、コア内に設けられる磁性体2bの構造は、図6(a)に示すように、非導体層22の壁面に沿って磁性体層21を配置したもの、また、図6(b)に示すように、磁性体2bが、平行に配置された複数の小溝からなるくし形に形成され、磁性体層21が、小溝の側面に設けられているもの、また、図6(c)に示すように、磁性体層21と非導体層22とが周期的に繰り返されている積層構造を示していることが好ましい。
また、溝部2aに設けられた磁性体2bが、硬化性樹脂に含有された磁性粉であることが好ましい。
また、インダクタンス素子は、基板1の上面のコイル導体の端子と、別の同構造のインダクタンス素子が設けられた基板の下面のコイル導体の端子が接合されることにより、コイル導体が直列又は並列に複数個接続することも可能である。
また、本発明のインダクタンス素子と半導体集積回路とをフリップチップ接続して電子部品を実現することも可能である。
本発明は、Siなどの基板を用いてMEMS(メムス;Micro Electro Mechanical Systems)プロセスを活用したものである。例えば、深堀エッチングにより形成したシリコン基板の貫通孔に、埋め込みめっきにより銅を充填することにより、貫通電極を形成することができる。
コイル形状としては、トロイダル状(円環状、ドーナツ状)、ヘリカル状(らせん状)など特に限定しないが、トロイダル状が効率よく好ましい。また、基板材質は、基板としては、無機材料、特に加工が容易な半導体基板、セラミック基板が好ましい。ガラスやセラミックなど特に限定しないが、半導体プロセスを活用し、高精度加工(小型化)が可能なシリコンが好ましい。また、ガラス繊維や炭素繊維などを含まないプラスチック樹脂もナノインプリント技術により成型することにより低コスト化に有利である。また、磁性体材料は、軟磁性材料であれば特に限定しない。例えば、Ni,Fe,Co,Mnなど含んだ合金や酸化物が好ましい。磁性体の形成方法としては特に限定されるものではないが、例えば、真空蒸着、スパッタリング、めっきなどの方法が、磁性体の組成と膜厚を制御良く基板上に形成する方法として適している。
図2(a)乃至(e)及び図3(a)乃至(e)は、本発明に係るインダクタンス素子の製造方法の実施例1を説明するための工程図である。
まず、基板1に磁性体2bを形成する溝部2aを基板1の上面からエッチングする(図2(a))。次に、基板1の上面から下面まで貫通するスルーホール3aを基板1の上面からエッチングによって加工する(図2(b))。次に、基板1上と溝部2a上とスルーホール3aの壁面とにめっき形成用のシード(金属)層10を形成する(図2(c))。
次に、基板1上及び溝部2a上に埋め込み導体形成用のマスク(フォトレジスト)11を形成する(図2(d))。次に、マスク(フォトレジスト)11を介してスルーホール3aに埋め込まれる接続導体3bを形成する(図2(e))。
次に、溝部2aを除く基板1上に磁性体形成用のマスク12を形成する(図3(a))。次に、磁性体形成用のマスク12を介して溝部2aに磁性体2bを埋め込み形成する(図3(b))。
次に、基板1上のシード層10を除去する(図3(c))。次に、接続導体3b上を除いて基板1上に絶縁層13を形成する(図3(d))。
最後に、基板1の上下面に、接続導体3bと接続するようにパターン導体(電極)5a,5bを形成する(図3(e))。このときに、基板1の上面及び下面に形成されたパターン導体5a,5bと基板1を貫通して設けられた接続導体3bとを、磁性体2bをコイル状に取り囲むように接続する。このようにして、図1に示したようなインダクタンス素子が完成する。
図4(a)乃至(e)及び図5(a)乃至(h)は、本発明に係るインダクタンス素子の製造方法の実施例2を説明するための工程図である。
まず、基板1に磁性体2bを形成する溝部2aを基板1の上面からエッチングする(図4(a))。次に、基板1の上面から下面まで貫通しないようなスルーホール用の深穴3cを基板1の上面からエッチングによって加工する(図4(b))。次に、基板1上と溝部2a上と深穴3cの壁面とにめっき形成用のシード(金属)層10を形成する(図4(c))。
次に、基板1上及び溝部2a上に埋め込み導体形成用のマスク(フォトレジスト)11を形成する(図4(d))。次に、マスク(フォトレジスト)11を介して深穴3cに埋め込まれる接続導体3dを形成する(図4(e))。
次に、溝部2aを除く基板1上に磁性体形成用のマスク12を形成する(図5(a))。次に、磁性体形成用のマスク12を介して溝部2aに磁性体2bを埋め込み形成する(図5(b))。
次に、基板1上のシード層10を除去する(図5(c))。次に、接続導体3d上を除いて基板1上に絶縁層13aを形成する(図5(d))。
次に、基板1の上面に、接続導体3dと接続するようにパターン導体(電極)5aを形成する(図5(e))。次に、基板1の下面からスルーホール用の深穴3cに向けて接続導体3dが露出するまで研削する(図5(f))。
次に、基板1の下面に接続導体3d上を除いて絶縁層13bを形成する(図5(g))。
最後に、基板1の下面に接続導体3dと接続されるようにパターン導体5bを形成する(図5(h))。このときに、基板1の上面及び下面に形成されたパターン導体5a,5bと基板1を貫通して設けられた接続導体3dとを、磁性体2bをコイル状に取り囲むように接続する。このようにして、図1に示したようなインダクタンス素子が完成する。
本発明に係るインダクタンス素子の構成図で、(a)は断面図、(b)は図1(a)の上面図である。 (a)乃至(e)は、本発明に係るインダクタンス素子の製造方法の実施例1を説明するための工程図(その1)である。 (a)乃至(e)は、本発明に係るインダクタンス素子の製造方法の実施例1を説明するための工程図(その2)である。 (a)乃至(e)は、本発明に係るインダクタンス素子の製造方法の実施例2を説明するための工程図(その1)である。 (a)乃至(h)は、本発明に係るインダクタンス素子の製造方法の実施例2を説明するための工程図(その2)である。 (a)乃至(c)は、コア内に設けられる磁性体の構造を示す図である。
符号の説明
1 基板
2a 溝部
2b 磁性体
3a スルーホール
3c 深穴
3b,3d 接続導体
4 絶縁層
5a,5b パターン導体(電極)
10 シード(金属)層
11 マスク(フォトレジスト)
12 マスク
13,13a,13b 絶縁層
21 磁性体層
22 非導体層

Claims (10)

  1. 基板に設けられた磁性体と、前記基板を貫通するスルーホールに埋め込まれた接続導体とを備えたインダクタンス素子において、
    前記基板の上下面の少なくとも一方より掘り込まれた溝部に前記磁性体が設けられ、前記基板の上面及び下面に形成されたパターン導体と前記接続導体とが、前記磁性体をコイル状に取り囲むように接続されていることを特徴とするインダクタンス素子。
  2. 前記基板が、シリコン基板であることを特徴とする請求項1に記載のインダクタンス素子。
  3. 前記磁性体及び前記接続導体が、直接に前記シリコン基板に接触しないように、前記溝部及び前記スルーホールの壁面に絶縁層が設けられていることを特徴とする請求項2に記載のインダクタンス素子。
  4. 前記溝部に設けられた前記磁性体が、磁性体層と非導体層とが周期的に繰り返されている構造であることを特徴とする請求項1,2又は3に記載のインダクタンス素子。
  5. 前記磁性体が、平行に配置された複数の小溝からなるくし形に形成され、前記磁性体層が、前記小溝の側面に設けられていることを特徴とする請求項1、2,又は3に記載のインダクタンス素子。
  6. 前記溝部に設けられた磁性体が、硬化性樹脂に含有された磁性粉であることを特徴とする請求項1,2又は3に記載のインダクタンス素子。
  7. 請求項1乃至6のいずれかに記載のインダクタンス素子が、前記基板の上面のコイル導体の端子と、別の同構造のインダクタンス素子が設けられた基板の下面のコイル導体の端子とを接合されることにより、前記コイル導体が直列又は並列に複数個接続されていることを特徴とするインダクタンス素子。
  8. 請求項1乃至6のいずれかに記載のインダクタンス素子と半導体集積回路とが、フリップチップ接続されたことを特徴とする電子部品。
  9. 基板に設けられた磁性体と、前記基板を貫通するスルーホールに埋め込まれた接続導体とを備えたインダクタンス素子の製造方法において、
    前記基板に前記磁性体を形成する溝部と、前記基板の上面から下面まで貫通するスルーホールとを、前記基板の上面からエッチングによって加工する工程と、
    前記磁性体を前記溝部に形成する工程と、
    前記スルーホールに前記接続導体を形成する工程と、
    前記基板の上下面にパターン導体を形成する工程と、
    前記パターン導体と前記接続導体とを前記磁性体にコイル状に取り囲むように接続する工程と
    を有することを特徴とするインダクタンス素子の製造方法。
  10. 基板に設けられた磁性体と、前記基板を貫通するスルーホールに埋め込まれた接続導体とを備えたインダクタンス素子の製造方法において、
    前記基板に前記磁性体を形成する溝部と、前記基板の上面から下面まで貫通することのないスルーホール用の深穴とを、前記基板の上面からエッチングによって加工する工程と、
    前記磁性体を前記溝部に形成する工程と、
    前記深穴に前記接続導体を形成する工程と、
    少なくとも前記接続導体が露出する厚さまで前記基板の下面を削り出す工程と、
    前記基板の上下面にパターン導体を形成する工程と、
    前記パターン導体と前記接続導体とを前記磁性体にコイル状に取り囲むように接続する工程と
    を有することを特徴とするインダクタンス素子の製造方法。
JP2007311309A 2007-11-30 2007-11-30 インダクタンス素子及びその製造方法 Pending JP2009135325A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007311309A JP2009135325A (ja) 2007-11-30 2007-11-30 インダクタンス素子及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007311309A JP2009135325A (ja) 2007-11-30 2007-11-30 インダクタンス素子及びその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009135325A true JP2009135325A (ja) 2009-06-18

Family

ID=40866927

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007311309A Pending JP2009135325A (ja) 2007-11-30 2007-11-30 インダクタンス素子及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009135325A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010245371A (ja) * 2009-04-08 2010-10-28 Elpida Memory Inc 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP2011114033A (ja) * 2009-11-24 2011-06-09 Panasonic Electric Works Co Ltd トランス
CN102479685A (zh) * 2010-11-19 2012-05-30 英飞凌科技奥地利有限公司 集成电感器及制造集成电感器的方法
JP2022506295A (ja) * 2018-10-30 2022-01-17 北京航空航天大学 Memsソレノイドインダクタ及びその製造方法
CN114242421A (zh) * 2021-12-28 2022-03-25 横店集团东磁股份有限公司 一种薄膜电感及制作方法
JP2022519968A (ja) * 2018-10-30 2022-03-28 北京航空航天大学 Memsソレノイドトランス及びその製造方法

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60907U (ja) * 1983-06-15 1985-01-07 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 チツプインダクタ
JPS62186460U (ja) * 1986-05-20 1987-11-27
JPH05190344A (ja) * 1992-01-14 1993-07-30 Mitsubishi Rayon Co Ltd 磁 心
JPH0786507A (ja) * 1993-09-20 1995-03-31 Fujitsu Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2001077315A (ja) * 1999-06-30 2001-03-23 Toshiba Corp 集積回路装置及びその製造方法、並びに回路基板及びその製造方法
JP2001159668A (ja) * 1999-12-02 2001-06-12 Tdk Corp 薄膜電子部品
JP2002100733A (ja) * 2000-09-21 2002-04-05 Nec Corp 高周波集積回路装置
JP2004503929A (ja) * 2000-06-09 2004-02-05 ゼロックス・コーポレーション フォトグラフィックパターン形成による立体コイル構造及びその製造方法
JP2005085968A (ja) * 2003-09-09 2005-03-31 Nec Tokin Corp 巻線型インダクタ及びその製造方法
JP2005259969A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Nec Electronics Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2005539383A (ja) * 2002-09-16 2005-12-22 エム−フレクス マルティ−ファインライン エレクトロニクス インコーポレイテッド トランス、インダクタ及びその製造方法
WO2006063081A2 (en) * 2004-12-07 2006-06-15 M-Flex Multi-Fineline Electronix, Inc. Miniature circuitry and inductive components and methods for manufacturing same
JP2006173525A (ja) * 2004-12-20 2006-06-29 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置
JP2006516829A (ja) * 2003-02-04 2006-07-06 レイセオン・カンパニー 電気変圧器
WO2007029384A1 (ja) * 2005-09-06 2007-03-15 Nec Corporation 半導体装置
JP2007273736A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Sanyo Electric Co Ltd 集積回路装置

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60907U (ja) * 1983-06-15 1985-01-07 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 チツプインダクタ
JPS62186460U (ja) * 1986-05-20 1987-11-27
JPH05190344A (ja) * 1992-01-14 1993-07-30 Mitsubishi Rayon Co Ltd 磁 心
JPH0786507A (ja) * 1993-09-20 1995-03-31 Fujitsu Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2001077315A (ja) * 1999-06-30 2001-03-23 Toshiba Corp 集積回路装置及びその製造方法、並びに回路基板及びその製造方法
JP2001159668A (ja) * 1999-12-02 2001-06-12 Tdk Corp 薄膜電子部品
JP2004503929A (ja) * 2000-06-09 2004-02-05 ゼロックス・コーポレーション フォトグラフィックパターン形成による立体コイル構造及びその製造方法
JP2002100733A (ja) * 2000-09-21 2002-04-05 Nec Corp 高周波集積回路装置
JP2005539383A (ja) * 2002-09-16 2005-12-22 エム−フレクス マルティ−ファインライン エレクトロニクス インコーポレイテッド トランス、インダクタ及びその製造方法
JP2006516829A (ja) * 2003-02-04 2006-07-06 レイセオン・カンパニー 電気変圧器
JP2005085968A (ja) * 2003-09-09 2005-03-31 Nec Tokin Corp 巻線型インダクタ及びその製造方法
JP2005259969A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Nec Electronics Corp 半導体装置およびその製造方法
WO2006063081A2 (en) * 2004-12-07 2006-06-15 M-Flex Multi-Fineline Electronix, Inc. Miniature circuitry and inductive components and methods for manufacturing same
JP2006173525A (ja) * 2004-12-20 2006-06-29 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置
WO2007029384A1 (ja) * 2005-09-06 2007-03-15 Nec Corporation 半導体装置
JP2007273736A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Sanyo Electric Co Ltd 集積回路装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010245371A (ja) * 2009-04-08 2010-10-28 Elpida Memory Inc 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP2011114033A (ja) * 2009-11-24 2011-06-09 Panasonic Electric Works Co Ltd トランス
CN102479685A (zh) * 2010-11-19 2012-05-30 英飞凌科技奥地利有限公司 集成电感器及制造集成电感器的方法
DE102011055354B4 (de) * 2010-11-19 2015-07-30 Infineon Technologies Austria Ag Integrierte Induktionsspule und Verfahren zum Herstellen einer integrierten Induktionsspule
DE102011122982B3 (de) 2010-11-19 2018-08-23 Infineon Technologies Austria Ag Verfahren zum Herstellen einer integrierten Induktionsspule
JP2022506295A (ja) * 2018-10-30 2022-01-17 北京航空航天大学 Memsソレノイドインダクタ及びその製造方法
JP2022519968A (ja) * 2018-10-30 2022-03-28 北京航空航天大学 Memsソレノイドトランス及びその製造方法
JP7267641B2 (ja) 2018-10-30 2023-05-02 北京航空航天大学 Memsソレノイドインダクタ及びその製造方法
JP7378166B2 (ja) 2018-10-30 2023-11-13 北京航空航天大学 Memsソレノイドトランス及びその製造方法
CN114242421A (zh) * 2021-12-28 2022-03-25 横店集团东磁股份有限公司 一种薄膜电感及制作方法
CN114242421B (zh) * 2021-12-28 2023-07-21 横店集团东磁股份有限公司 一种薄膜电感及制作方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7417523B2 (en) Ultra-thin flexible inductor
EP3905285B1 (en) High current, low equivalent series resistance printed circuit board coil for power transfer application
KR101719908B1 (ko) 코일 전자부품 및 그 제조방법
KR101072784B1 (ko) 자성시트를 이용한 적층형 인덕터 및 그 제조방법
JP4434268B2 (ja) 電子部品モジュール
US9183979B2 (en) Chip inductor and method for manufacturing the same
JP2007504673A (ja) フェライト高分子コアを有する端数巻き変圧器
US20130300527A1 (en) Method of manufacturing coil element and coil element
KR101532171B1 (ko) 인덕터 및 그 제조 방법
TW200933666A (en) A method of manufacturing a coil inductor
JP2009135325A (ja) インダクタンス素子及びその製造方法
JP4682606B2 (ja) インダクタンス素子及びその製造方法、並びに配線基板
KR20130017598A (ko) 코일 부품 및 그 제조 방법
CN107437457B (zh) 一多层电感器及其制造方法
KR20160136127A (ko) 코일 전자부품 및 그 제조방법
JP2008171965A (ja) 超小型電力変換装置
CN109427468B (zh) 线圈组件
JP2013135232A (ja) インダクタの製造方法
KR20070032259A (ko) 인덕터 및 인덕터 제조 방법
KR20160117989A (ko) 코일 전자부품 및 그 제조방법
JP2009135326A (ja) インダクタンス素子及びその製造方法
JP2007201022A (ja) 電子部品
JPWO2018110054A1 (ja) Lcデバイス、lcデバイスの製造方法
JP2012138535A (ja) 積層型電子部品
JP5229189B2 (ja) 電子部品モジュール

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101105

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111124

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111129

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120907

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20121228