JP2009115526A - 被検査物の真円度測定方法 - Google Patents
被検査物の真円度測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009115526A JP2009115526A JP2007286949A JP2007286949A JP2009115526A JP 2009115526 A JP2009115526 A JP 2009115526A JP 2007286949 A JP2007286949 A JP 2007286949A JP 2007286949 A JP2007286949 A JP 2007286949A JP 2009115526 A JP2009115526 A JP 2009115526A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- roundness
- radius
- average
- inspection object
- center point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】 コンピュータ5は撮像カメラ4で撮像された被検査物Wの画像を取り込み、被検査物Wの円形外周の回帰円の中心点を特定し、この中心点から上記円形外周上の各点までの距離を算出してこのうちの最小値より最小外半径を得、上記中心点から上記円形外周の各点までの距離の平均値を算出して平均外半径を得、平均外半径と上記最小外半径の差に基づいて被検査物の外周の真円度を算出する。
【選択図】 図1
Description
Claims (2)
- 撮像された被検査物の円形外周の回帰計算によって求めた円の中心点を特定するステップと、前記中心点から前記円形外周上の各点までの距離を算出してこのうちの最小値より最小外半径を得るステップと、前記中心点から前記円形外周の各点までの距離の平均値を算出して平均外半径を得るステップと、前記平均外半径と前記最小外半径の差により前記被検査物の外周の真円度を算出するステップとを具備する被検査物の真円度測定方法。
- 撮像された被検査物の円形内周の回帰計算によって求めた円の中心点を特定するステップと、前記中心点から前記円形内周上の各点までの距離を算出してこのうちの最大値より最大内半径を得るステップと、前記中心点から前記円形内周上の各点までの距離の平均値を算出して平均内半径を得るステップと、前記最大内半径と平均内半径の差に基づいて前記被検査物の内周の真円度を算出するステップとを具備する被検査物の真円度測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007286949A JP5262070B2 (ja) | 2007-11-05 | 2007-11-05 | 被検査物の真円度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007286949A JP5262070B2 (ja) | 2007-11-05 | 2007-11-05 | 被検査物の真円度測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009115526A true JP2009115526A (ja) | 2009-05-28 |
JP5262070B2 JP5262070B2 (ja) | 2013-08-14 |
Family
ID=40782832
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007286949A Active JP5262070B2 (ja) | 2007-11-05 | 2007-11-05 | 被検査物の真円度測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5262070B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011074261A1 (ja) | 2009-12-17 | 2011-06-23 | 住友金属工業株式会社 | 管状品の検査装置およびその検査方法 |
US9485473B2 (en) | 2012-09-13 | 2016-11-01 | Alstom Technology Ltd | Method and system for determining quality of tubes |
JP2020134421A (ja) * | 2019-02-25 | 2020-08-31 | 株式会社Screenホールディングス | 検査装置および偏心量検出方法 |
Citations (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6287806A (ja) * | 1985-10-14 | 1987-04-22 | Mitsutoyo Mfg Corp | 丸軸状部材の形状測定方法 |
JPS62147306A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-01 | Mitsutoyo Mfg Corp | 丸軸状部材の形状測定装置 |
JPS62222115A (ja) * | 1986-03-25 | 1987-09-30 | Hitachi Seiki Co Ltd | 真円度図形解析装置 |
JPS63171304A (ja) * | 1987-01-09 | 1988-07-15 | Shimadzu Corp | 測寸装置 |
JPH01288704A (ja) * | 1988-05-16 | 1989-11-21 | Toray Ind Inc | 被検査物の円形度の評価方法 |
JPH01312402A (ja) * | 1988-06-10 | 1989-12-18 | Taihei Kogyo Kk | フエライトコアの肉厚検査方式 |
JPH02183107A (ja) * | 1989-01-09 | 1990-07-17 | Fuji Electric Co Ltd | 円筒状物体の真円度測定方法 |
JPH0434306A (ja) * | 1990-05-30 | 1992-02-05 | Toshiba Corp | 擬似円筒度測定方法 |
JP2000178039A (ja) * | 1998-10-08 | 2000-06-27 | Shinetsu Quartz Prod Co Ltd | 光ファイバ用石英ガラス母材の製造方法 |
JP2001116534A (ja) * | 1999-10-15 | 2001-04-27 | Kubota Corp | 真円度判定方法、真円度演算装置及び記録媒体 |
JP2003057020A (ja) * | 2001-06-05 | 2003-02-26 | D S Giken:Kk | 形状測定装置 |
JP2003065729A (ja) * | 2001-08-29 | 2003-03-05 | Seiko Instruments Inc | フェルール孔等の内径測定方法および装置 |
JP2003307413A (ja) * | 2002-04-16 | 2003-10-31 | Moritex Corp | 画像による円形穴の測定における画像処理方法 |
JP2003340519A (ja) * | 2002-05-24 | 2003-12-02 | Nippon Steel Corp | 圧潰強度に優れたuoe鋼管 |
JP2005097659A (ja) * | 2003-09-24 | 2005-04-14 | Nippon Steel Corp | 面内異方性の小さな高炭素鋼板 |
JP2005146415A (ja) * | 2003-10-22 | 2005-06-09 | Showa Denko Kk | 鍛造品の製造方法、焼入れ歪抑制治具および鍛造品の生産システム |
WO2006054682A1 (ja) * | 2004-11-18 | 2006-05-26 | Nikon Corporation | 位置計測方法、位置制御方法、計測方法、ロード方法、露光方法及び露光装置、並びにデバイス製造方法 |
JP2006267000A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-10-05 | Teijin Cordley Ltd | 孔内異物の検出方法及びその検出プログラム |
JP2007240457A (ja) * | 2006-03-10 | 2007-09-20 | Oshikiri:Kk | 形状判定装置及び練り生地成形システム |
JP2007305005A (ja) * | 2006-05-13 | 2007-11-22 | Sharp Manufacturing System Corp | 真円度を計測する手法に特長をもつ画像処理方法および画像処理装置 |
-
2007
- 2007-11-05 JP JP2007286949A patent/JP5262070B2/ja active Active
Patent Citations (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6287806A (ja) * | 1985-10-14 | 1987-04-22 | Mitsutoyo Mfg Corp | 丸軸状部材の形状測定方法 |
JPS62147306A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-01 | Mitsutoyo Mfg Corp | 丸軸状部材の形状測定装置 |
JPS62222115A (ja) * | 1986-03-25 | 1987-09-30 | Hitachi Seiki Co Ltd | 真円度図形解析装置 |
JPS63171304A (ja) * | 1987-01-09 | 1988-07-15 | Shimadzu Corp | 測寸装置 |
JPH01288704A (ja) * | 1988-05-16 | 1989-11-21 | Toray Ind Inc | 被検査物の円形度の評価方法 |
JPH01312402A (ja) * | 1988-06-10 | 1989-12-18 | Taihei Kogyo Kk | フエライトコアの肉厚検査方式 |
JPH02183107A (ja) * | 1989-01-09 | 1990-07-17 | Fuji Electric Co Ltd | 円筒状物体の真円度測定方法 |
JPH0434306A (ja) * | 1990-05-30 | 1992-02-05 | Toshiba Corp | 擬似円筒度測定方法 |
JP2000178039A (ja) * | 1998-10-08 | 2000-06-27 | Shinetsu Quartz Prod Co Ltd | 光ファイバ用石英ガラス母材の製造方法 |
JP2001116534A (ja) * | 1999-10-15 | 2001-04-27 | Kubota Corp | 真円度判定方法、真円度演算装置及び記録媒体 |
JP2003057020A (ja) * | 2001-06-05 | 2003-02-26 | D S Giken:Kk | 形状測定装置 |
JP2003065729A (ja) * | 2001-08-29 | 2003-03-05 | Seiko Instruments Inc | フェルール孔等の内径測定方法および装置 |
JP2003307413A (ja) * | 2002-04-16 | 2003-10-31 | Moritex Corp | 画像による円形穴の測定における画像処理方法 |
JP2003340519A (ja) * | 2002-05-24 | 2003-12-02 | Nippon Steel Corp | 圧潰強度に優れたuoe鋼管 |
JP2005097659A (ja) * | 2003-09-24 | 2005-04-14 | Nippon Steel Corp | 面内異方性の小さな高炭素鋼板 |
JP2005146415A (ja) * | 2003-10-22 | 2005-06-09 | Showa Denko Kk | 鍛造品の製造方法、焼入れ歪抑制治具および鍛造品の生産システム |
WO2006054682A1 (ja) * | 2004-11-18 | 2006-05-26 | Nikon Corporation | 位置計測方法、位置制御方法、計測方法、ロード方法、露光方法及び露光装置、並びにデバイス製造方法 |
JP2006267000A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-10-05 | Teijin Cordley Ltd | 孔内異物の検出方法及びその検出プログラム |
JP2007240457A (ja) * | 2006-03-10 | 2007-09-20 | Oshikiri:Kk | 形状判定装置及び練り生地成形システム |
JP2007305005A (ja) * | 2006-05-13 | 2007-11-22 | Sharp Manufacturing System Corp | 真円度を計測する手法に特長をもつ画像処理方法および画像処理装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011074261A1 (ja) | 2009-12-17 | 2011-06-23 | 住友金属工業株式会社 | 管状品の検査装置およびその検査方法 |
US9116134B2 (en) | 2009-12-17 | 2015-08-25 | Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation | Inspection apparatus for tubular product and inspection method therefor |
US9485473B2 (en) | 2012-09-13 | 2016-11-01 | Alstom Technology Ltd | Method and system for determining quality of tubes |
US9491412B2 (en) | 2012-09-13 | 2016-11-08 | General Electric Technology Gmbh | Method and system for determining quality of tubes |
JP2020134421A (ja) * | 2019-02-25 | 2020-08-31 | 株式会社Screenホールディングス | 検査装置および偏心量検出方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5262070B2 (ja) | 2013-08-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6618478B2 (ja) | 射影画像を用いた自動インライン検査及び計測 | |
JP6465682B2 (ja) | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム | |
JP2005292136A (ja) | 多重解像度検査システム及びその動作方法 | |
JP2006343310A (ja) | 許容誤差領域を用いる3次元測定データの検出方法 | |
JP2017503164A (ja) | ウェハー形状分析方法および装置 | |
JP2017151094A (ja) | 視認物体の深度測定において関心点を自動的に識別する方法および装置 | |
JP2010096690A (ja) | マスク欠陥レビュー方法及びマスク欠陥レビュー装置 | |
CN102023161A (zh) | 获取缺陷图像的方法 | |
TW201212152A (en) | Method and system for wafer registration | |
JP2009194272A (ja) | レビュー方法、およびレビュー装置 | |
TW201616214A (zh) | 測試圖紙、採用該測試圖紙的攝像模組檢測方法及系統 | |
JP5262070B2 (ja) | 被検査物の真円度測定方法 | |
JP2011163853A (ja) | 画像データ処理方法および画像作成方法 | |
WO2021079727A1 (ja) | 外観検査装置、外観検査方法および外観検査プログラム | |
JP2013088414A (ja) | 形状検査方法およびその装置 | |
JP2018522240A (ja) | アーチファクトを測定するための方法 | |
JP4919156B2 (ja) | 画像処理方法および画像処理装置 | |
KR100926019B1 (ko) | 결함 입자 측정 장치 및 결함 입자 측정 방법 | |
TW201518890A (zh) | 定位裝置精度補償系統及方法 | |
TW201317587A (zh) | 尺寸檢測裝置及方法 | |
JP6371742B2 (ja) | 計測装置および取得方法 | |
JP6982667B2 (ja) | 処理システム、処理方法、プログラム、及び記憶媒体 | |
JP2007315946A (ja) | 3次元形状計測方法及びこれを用いた3次元形状計測装置 | |
JP2010071867A (ja) | 偏心測定装置および方法 | |
JP2011002280A (ja) | 欠陥検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100930 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120223 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120228 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120423 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130402 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130415 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5262070 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |