JP2009105553A - Ad変換装置の異常検出装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】リアルタイム処理が必要とされるAD変換装置においても素早く異常を検出できるようにする。
【解決手段】AD変換器2が、AD変換対象信号Sとテスト信号Stとを加算した信号をAD変換する。ローパスフィルタ3がAD変換後の信号をフィルタ処理することでAD変換信号として出力する。ハイパスフィルタ4がAD変換後の信号をフィルタ処理し、異常検出器5がその処理後の信号Staとテスト信号発生器6のテスト信号Stとを比較して異常を検出する。
【選択図】図1
【解決手段】AD変換器2が、AD変換対象信号Sとテスト信号Stとを加算した信号をAD変換する。ローパスフィルタ3がAD変換後の信号をフィルタ処理することでAD変換信号として出力する。ハイパスフィルタ4がAD変換後の信号をフィルタ処理し、異常検出器5がその処理後の信号Staとテスト信号発生器6のテスト信号Stとを比較して異常を検出する。
【選択図】図1
Description
本発明は、AD変換装置の異常を検出するためのAD変換装置の異常検出装置に関する。
この種の異常検出装置が特許文献1に開示されている。この特許文献1の技術思想では、検査対象であるAD変換器に試験用信号として第1基準電圧または第2基準電圧を選択的に与え、それぞれのAD変換値と予め定めたAD変換器の正常出力値との比較を行い、いずれかが不一致となる場合にAD変換器を異常とみなすようにしている。
特開平8−56160号公報
しかしながら、上記特許文献1の技術思想では、マルチプレクサがテスト信号とAD変換対象信号となるアナログ信号とを順に切り替えてテスト動作させる必要がある。すると、リアルタイム処理が必要とされるAD変換装置の場合には、異常が発生しているにも関わらず処理を継続してしまうという問題を生じる。
本発明は、リアルタイム処理が必要とされるAD変換装置においても素早く異常を検出できるようにしたAD変換装置の異常検出装置を提供することを目的とする。
本発明は、リアルタイム処理が必要とされるAD変換装置においても素早く異常を検出できるようにしたAD変換装置の異常検出装置を提供することを目的とする。
請求項1記載の発明によれば、次のように作用する。第1の所定周波数範囲の周波数帯域成分からなるテスト信号と前記第1の所定周波数範囲以外の第2の所定周波数範囲の周波数帯域成分からなるAD変換対象信号としてのアナログ信号が加算手段により加算されると、第1のデジタルフィルタ手段は、加算手段の加算信号を検査対象となるAD変換器によりAD変換した後のAD変換信号について第1の所定周波数範囲の周波数帯域をカットすることでアナログ信号をAD変換した後のデジタル信号として取得する。第2のデジタルフィルタ手段は、加算手段の加算信号をAD変換器によりAD変換した後のAD変換信号について第1の所定周波数範囲の周波数帯域成分を通過させると共に第2の所定周波数範囲の周波数帯域を含む帯域をカットする。検査手段は、第2のデジタルフィルタ手段により帯域カットされた信号を検査する。この場合、検査手段が第2のデジタルフィルタ手段を通過した第1の所定周波数範囲の周波数帯域成分のテスト信号を検査するため、所望のAD変換出力信号を取得しつつ当該AD変換装置を検査することができ、リアルタイム処理が必要とされるAD変換装置においても素早く異常を検出できるようになる。
請求項2記載の発明によれば、切替制御手段は、テスト信号を一のAD変換器に入力させると共にAD変換対象信号を他のAD変換器に入力させるように切替制御し、一および他のAD変換器に対する信号入力を時分割で切り替えて制御する。検査手段は、テスト信号が入力されたAD変換器の出力信号を検査するため、一および他のAD変換器を順に切替えてテストすることができリアルタイム処理が必要とされるAD変換装置においてもAD変換装置の異常を素早く検出できるようになる。
(第1の実施形態)
以下、本発明の第1の実施形態について図面を参照しながら説明する。図1は、AD変換装置の異常検出装置の電気的構成を機能ブロック図により概略的に示している。この図1に示すように、AD変換装置1は、AD変換器2、デジタルフィルタ手段としてのローパスフィルタ3、デジタルフィルタ手段としてのハイパスフィルタ4、検査手段としての異常検出器5、およびテスト信号発生器6を備えている。なお、このAD変換装置1は、マイクロコンピュータを内蔵して構成されるものであり、上記電気的構成ブロックは当該マイクロコンピュータの機能を用いて実現している。このAD変換装置1の構成を採用することにより、AD変換器2のリアルタイム検査を実現している。
以下、本発明の第1の実施形態について図面を参照しながら説明する。図1は、AD変換装置の異常検出装置の電気的構成を機能ブロック図により概略的に示している。この図1に示すように、AD変換装置1は、AD変換器2、デジタルフィルタ手段としてのローパスフィルタ3、デジタルフィルタ手段としてのハイパスフィルタ4、検査手段としての異常検出器5、およびテスト信号発生器6を備えている。なお、このAD変換装置1は、マイクロコンピュータを内蔵して構成されるものであり、上記電気的構成ブロックは当該マイクロコンピュータの機能を用いて実現している。このAD変換装置1の構成を採用することにより、AD変換器2のリアルタイム検査を実現している。
AD変換器2は、検査対象となるAD変換器であり入力信号を所定の方式によってAD変換しローバスフィルタ3およびハイパスフィルタ4に出力するように構成されている。
ローパスフィルタ3は、AD変換装置1内に内蔵されるマイクロコンピュータ内の機能によるデジタルフィルタによって構成されている。ハイパスフィルタ4もまた、AD変換装置1内に内蔵されるマイクロコンピュータ内の機能によるデジタルフィルタによって構成されている。テスト信号発生器6は、所定周波数範囲(例えば40kHz)の交流矩形信号を生成しAD変換装置1の外部に送出するように構成されている。
ローパスフィルタ3は、AD変換装置1内に内蔵されるマイクロコンピュータ内の機能によるデジタルフィルタによって構成されている。ハイパスフィルタ4もまた、AD変換装置1内に内蔵されるマイクロコンピュータ内の機能によるデジタルフィルタによって構成されている。テスト信号発生器6は、所定周波数範囲(例えば40kHz)の交流矩形信号を生成しAD変換装置1の外部に送出するように構成されている。
AD変換装置1の外部には外部回路7が構成されている。この外部回路7は、抵抗R1〜R3が図示形態で組み合わせて構成された加算手段としての加算回路Pと、抵抗R4およびコンデンサC1を組み合わせて構成されたローパスフィルタLFとを備えている。なお、AD変換装置1の異常検出装置Aは、当該AD変換装置1の電気的構成に加えて加算回路PおよびローパスフィルタLFを備えている。ローパスフィルタLFは、テスト信号発生器6の矩形信号(テスト信号St)の高調波成分をカットするように構成されており、当該テスト信号Stを正弦波形に近い信号に成形する。
加算回路(変調回路)Pは、AD変換対象信号Sを入力端子INから入力するとテスト信号発生器6からローパスフィルタLFを通過したテスト信号Stを加算し、AD変換装置1のAD変換器2に出力する。尚、AD変換対象信号Sは、例えば所定周波数範囲(0〜10kHz)のセンサ信号によりなっている。
ここでAD変換器2は、AD変換対象信号Sとテスト信号発生器6のテスト信号Stとを加算した信号を入力し、両信号をAD変換しデジタル信号として取得する。異常検出器5は、テスト信号発生器6のテスト信号Stとハイパスフィルタ4を通じて取得した信号とを比較してAD変換器2の検査を行い、異常を検出するようになっている。
上記構成の作用について説明する。
図2は、各信号の周波数帯域およびフィルタの周波数特性を概略的に示している。ここで、テスト信号Stは、高周波側の所定周波数範囲の信号であり、AD変換対象信号Sは、DC信号を含む低周波側の所定周波数範囲の信号を示している。ローパスフィルタ3の周波数特性は、AD変換対象信号Sの周波数帯域を減衰させることなく通過し且つテスト信号Stを含む周波数帯域を十分にカットする周波数特性に設定されており、ハイパスフィルタ4の周波数特性は、テスト信号Stの周波数帯域を減衰させることなく通過し且つAD変換対象信号Sの周波数帯域を十分にカットする周波数特性に設定されている。
図2は、各信号の周波数帯域およびフィルタの周波数特性を概略的に示している。ここで、テスト信号Stは、高周波側の所定周波数範囲の信号であり、AD変換対象信号Sは、DC信号を含む低周波側の所定周波数範囲の信号を示している。ローパスフィルタ3の周波数特性は、AD変換対象信号Sの周波数帯域を減衰させることなく通過し且つテスト信号Stを含む周波数帯域を十分にカットする周波数特性に設定されており、ハイパスフィルタ4の周波数特性は、テスト信号Stの周波数帯域を減衰させることなく通過し且つAD変換対象信号Sの周波数帯域を十分にカットする周波数特性に設定されている。
AD変換装置1は、常時、AD変換対象信号Sとテスト信号発生器6のテスト信号Stとを加算した信号を入力しAD変換する。ローパスフィルタ3は、AD変換処理後のデジタル信号を取得しフィルタ処理するが、この周波数特性がAD変換対象信号Sを通過し、テスト信号Stをカットする特性に設定されているため、ローパスフィルタ3を通過したデジタル信号はAD変換対象信号SをAD変換した後の信号として取得できる。
この処理と同時または並列して、ハイパスフィルタ4は、AD変換処理後のデジタル信号を取得しフィルタ処理するが、この周波数特性がテスト信号Stを通過し、AD変換対象信号Sを十分カットする特性に設定されているため、ハイパスフィルタ4を通過した信号Staはテスト信号StをAD変換器2によってAD変換した後の信号となる。異常検出器5は、この信号Staとテスト信号発生器6のテスト信号Stとに基づいて異常を検出する。
図3(a)および図3(b)は、異常検出器による異常の検出方法を概略的に示している。図3(a)は、テスト信号発生器が発生する矩形信号を示しており、図3(b)は、異常検出器に入力される検出信号を示している。
図3(a)に示すように、テスト信号発生器6は矩形信号を出力するが、異常検出器5は、テスト信号Stがゼロクロスする時間間隔t1、t2を検出すると共に、信号Staがゼロクロスする時間間隔ta1、ta2を検出する。異常検出器5は、当該ゼロクロス点の検出処理に基づいて周波数を検出し、この周波数差が所定範囲内に収まっているか否かを判定し、当該所定範囲以下に収まっていることを条件として異常ではないと判定し、処理を継続する。異常検出器5は、当該周波数差が所定範囲内に収まっていない場合には、異常として検出し所定を停止する。すなわち、リアルタイムでAD変換していた処理を停止し、必要に応じて外部に異常信号を報知する。このようにして異常検出処理が行われる。
本実施形態によれば、AD変換器5が、AD変換対象信号Sとテスト信号Stとを加算(変調)した信号をAD変換し、ローパスフィルタ3がAD変換後の信号をフィルタ処理することでAD変換信号として出力し、ハイパスフィルタ4がAD変換後の信号をフィルタ処理し、その処理後の信号を異常検出器5に出力し、異常検出器5がテスト信号発生器6のテスト信号Stとハイパスフィルタ4を通過した信号Staとを比較して異常を検出するようにしているため、たとえリアルタイム処理が必要とされるAD変換装置1においても素早く異常を検出することができる。
異常検出器5は、ローパスフィルタ3を通過した信号をAD変換した後のデジタル信号として取得している最中に異常を検出可能に構成されているため、素早く異常を検出できる。しかもAD変換器を2つ以上設けることなく異常を検出できる。
また、検査用に別途AD変換器を設けることなくAD変換器2の異常を検出することができる。なお、ローパスフィルタLFは必要に応じて設ければよい。
また、検査用に別途AD変換器を設けることなくAD変換器2の異常を検出することができる。なお、ローパスフィルタLFは必要に応じて設ければよい。
(第2の実施形態)
図4は、本発明の第2の実施形態を示すもので、前述実施形態と異なるところは、テスト信号StとAD変換対象信号Sの周波数範囲を変更したところにある。この図4に示すように、テスト信号Stの周波数範囲が、AD変換対象信号Sの周波数範囲よりも下回るように設定されている。この場合、AD変換対象信号Sの周波数範囲を通過し且つテスト信号Stの周波数範囲をカットする周波数特性を備えたバンドパスフィルタBPF(ハイパスフィルタHPF)を前述実施形態のローパスフィルタ3に代えて構成し、逆の周波数特性を備えたローパスフィルタLPFを前述実施形態のハイパスフィルタ4に代えて構成しても良い。このような電気的回路構成でも前述実施形態とほぼ同様の作用効果を奏する。
図4は、本発明の第2の実施形態を示すもので、前述実施形態と異なるところは、テスト信号StとAD変換対象信号Sの周波数範囲を変更したところにある。この図4に示すように、テスト信号Stの周波数範囲が、AD変換対象信号Sの周波数範囲よりも下回るように設定されている。この場合、AD変換対象信号Sの周波数範囲を通過し且つテスト信号Stの周波数範囲をカットする周波数特性を備えたバンドパスフィルタBPF(ハイパスフィルタHPF)を前述実施形態のローパスフィルタ3に代えて構成し、逆の周波数特性を備えたローパスフィルタLPFを前述実施形態のハイパスフィルタ4に代えて構成しても良い。このような電気的回路構成でも前述実施形態とほぼ同様の作用効果を奏する。
(第3の実施形態)
図5および図6は、本発明の第3の実施形態を示すもので、前述実施形態と異なるところは、AD変換器を複数設け、検査対象となるAD変換器にテスト信号を入力させてテストすると同時にAD変換対象信号を他のAD変換器に入力して実際にAD変換出力するように構成し、時分割でAD変換器の異常を検出するところにある。前述実施形態と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分について説明する。
図5および図6は、本発明の第3の実施形態を示すもので、前述実施形態と異なるところは、AD変換器を複数設け、検査対象となるAD変換器にテスト信号を入力させてテストすると同時にAD変換対象信号を他のAD変換器に入力して実際にAD変換出力するように構成し、時分割でAD変換器の異常を検出するところにある。前述実施形態と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分について説明する。
AD変換装置1に代わるAD変換装置11は、複数のAD変換器12、13、制御回路14、テスト信号発生器15、異常検出器16を備えている。制御回路14は、マイクロコンピュータを備えて構成されている。スイッチSW1、SW2は、AD変換装置11の外部に設けられている。スイッチSW1は、AD変換対象信号5の入力端子INとAD変換器12との間、および、テスト信号発生器15とAD変換器12との間に介在して設けられている。スイッチSW2は、入力端子INとAD変換器13との間、および、テスト信号発生器15とAD変換器12との間に介在して設けられている。
テスト信号発生器15は、正弦波(数十kHz:例えば10kHz)のテスト信号Stbを発生するように構成されており、スイッチSW1、SW2に入力されている。テスト信号Stbは、前述実施形態とほぼ同様の周波数帯域に設定されているためその説明を省略する。制御回路14は、例えばマイクロコンピュータを備えてなるもので、スイッチSW1およびSW2に切換制御信号を与えるように構成されている。AD変換装置11の異常検出装置Bは、AD変換装置11の電気的構成に加えてスイッチSW1、SW2を備えている。
図6は、切換動作を概略的に示すタイミングチャートである。制御回路14は、制御信号をスイッチSW1、SW2に与えるが、制御回路14は、AD変換器12にAD変換対象信号Sを入力させるときにはAD変換器13にはテスト信号Stbを入力させるようにスイッチSW1、SW2を切替制御する。逆に、制御回路14は、AD変換器13にAD変換対象信号Sを入力させるときにはAD変換器12にテスト信号Stbを入力させるようにスイッチSW1、SW2を切替制御する。
すると、図6に示すように、異常検出器5は、一のAD変換器13がAD変換対象信号SをAD変換(測定)している最中に、他のAD変換器12をテストすることができる。異常検出器16は、テスト信号発生器15のテスト信号StbとAD変換器12、13の何れかから入力された信号とを比較することにより異常であるか否かを検査する。この異常検査処理については、前述実施形態の異常検出器5の処理と同様であるためそのテストの詳細説明を省略する。
本実施形態によれば、制御回路14がAD変換対象信号SをAD変換器13に入力させると共にテスト信号StbをAD変換器12に入力させるようにスイッチSW1、SW2を時分割で切替制御しているため、AD変換器13がAD変換処理している最中にAD変換器12をテストすることができ、素早く異常を検出することができる。このような実施形態においても、リアルタイムで異常を検出でき、素早く異常を検出できる。
図面中、1、11はAD変換装置、2、12、13はAD変換器、3はローパスフィルタ(デジタルフィルタ手段)、4はハイパスフィルタ(デジタルフィルタ手段)、5は異常検出器(検査手段)、6、15はテスト信号発生器、A、BはAD変換装置の異常検出装置、Pは加算回路(加算手段)を示す。
Claims (2)
- 第1の所定周波数範囲の周波数帯域成分からなるテスト信号に、前記第1の所定周波数範囲以外の第2の所定周波数範囲の周波数帯域成分からなるAD変換対象信号としてのアナログ信号を加算する加算手段と、
前記加算手段の加算信号を検査対象となるAD変換器によりAD変換した後のAD変換信号について前記第1の所定周波数範囲の周波数帯域をカットすることで前記アナログ信号をAD変換した後のデジタル信号として取得する第1のデジタルフィルタ手段と、
前記加算手段の加算信号を前記AD変換器によりAD変換した後のAD変換信号について前記第1の所定周波数範囲の周波数帯域成分を通過させると共に前記第2の所定周波数範囲の周波数帯域を含む帯域をカットする第2のデジタルフィルタ手段と、
前記第2のデジタルフィルタ手段により帯域カットされた信号を検査する検査手段とを備えたことを特徴とするAD変換装置の異常検出装置。 - テスト信号を一のAD変換器に入力させると共にAD変換対象信号を他のAD変換器に入力させるように切替制御する切替制御手段であって、一および他のAD変換器に対する信号入力を時分割で切り替えて制御する切替制御手段と、
前記テスト信号が入力されたAD変換器の出力信号を検査する検査手段とを備えたことを特徴とするAD変換装置の異常検出装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2007
- 2007-10-22 JP JP2007273987A patent/JP2009105553A/ja active Pending
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