JP2009010232A - 光学装置、露光装置およびデバイス製造方法 - Google Patents

光学装置、露光装置およびデバイス製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】光学素子を固定するための接着剤への光の入射をより効果的に制限する。
【解決手段】光学装置は、光学素子2と、光学素子2に接着剤1で連結され光学素子1を支持する支持部材3と、接着剤1への光の入射を制限するように光学素子1の表面の非照射領域30に設けられた遮光膜4とを備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、光学装置、それを含む露光装置、および、それを使ったデバイス製造方法に関する。
半導体デバイス等のデバイスを製造するためのリソグラフィー工程において、露光装置が使用される。露光装置は、照明光学系によって原版を照明し、該原版のパターンを投影光学系を介して基板に投影して該基板を露光する。照明光学系や投影光学系のような光学系において光学素子を支持部材に固定するために接着剤が使用されている。
図2および図3は、露光装置の照明光学系や投影光学系等の光学系の部分的な構成を模式的に示す図である。光学系を構成する光学素子2(レンズ、ミラー等)は、円環状の支持部材3に固定されて使用される。光学素子2の側部は、接着剤1によって支持部材3に固定される(特許文献1参照)。
特開2001−242364号公報
露光装置の光学装置では、光学素子を照射する際、開口数と画角で決定される光が通過する部分以外の場所にも、回折や散乱現象によって光が入射する。例えば、図3に模式的に示すように、光学素子2に入射した光は、光学素子2を透過して支持部材3で反射し、接着剤1に到達する場合がある。光学素子を支持部材に連結するための接着剤は、光(典型的には、紫外線)の照射を受けると変質が起こり、接着力の低下、弾性力の変化が起りうる。これにより、光学素子の位置、姿勢、形状が変化し、光学系の性能が低下しうる。
本発明は、上記の課題認識を契機としてなされたものであり、例えば、光学素子を固定するための接着剤への光の入射をより効果的に制限することを目的とする。
本発明の第1の側面に係る光学装置は、光学素子と、前記光学素子に接着剤で連結され、前記光学素子を支持する支持部材と、前記接着剤への光の入射を制限するように前記光学素子の表面の非照射領域に設けられた遮光膜とを備える。
本発明の第2の側面に係る光学装置は、光学素子と、前記光学素子に接着剤で連結され、前記光学素子を支持する支持部材と、前記接着剤への光の入射を制限する入射制限部とを備え、前記支持部材は、前記光学素子の側部の前記少なくとも一部に対して前記接着剤を介して連結された第1支持部と、前記光学素子の周辺部を下方から支持する第2支持部とを有し、前記入射制限部は、前記接着剤と前記第1支持部との接触部と前記光学素子と前記第2支持部との接触部との間に配置されている。
本発明によれば、例えば、光学素子を固定するための接着剤への光の入射をより効果的に制限することができる。
以下、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態を説明する。
[第1実施形態]
図1は、本発明の第1実施形態の光学装置の概略構成を示す図である。第1実施形態の光学装置は、光学素子2と、光学素子2の一部23に接着剤1を介して連結されて光学素子2を支持する支持部材3と、接着剤1への光の入射を制限するように光学素子2の表面に設けられた遮光膜4とを備える。
光学素子2は、例えばレンズである。前述の光学素子2の一部23とは、典型的には、光学素子2の側部の少なくとも一部である。遮光膜4は、例えば、光学素子2に塗布されることによって光学素子2の表面に設けられうる。照射光は、図1では、光学素子2に対してその上面側(これを物体側とする)から入射する。照射光は光学素子2の物体側の面21内の照射領域30を照射する。なお、照射領域30は、光学素子2を含む光学系の設計の際に、開口数と画角で決定される光が通過する領域である。物体側の面21のうち照射領域30以外の領域を非照射領域とする。光学素子2は、物体側の面21、および、面21の反対側の面である像側の面22を有し、遮光膜4は、非照射領域であって、物体側の面21の周辺部および像側の面22の周辺部の少なくとも一方に設けられうる。ここで、非照射領域は周辺部を含み、周辺部は光学素子2の側端部付近である。なお、光学素子を下面から照射してもよい。
光学素子2の表面(面21および面22)の一部(非照射領域)に遮光膜4を形成することにより、図3における光線6に相当する光が接着剤1に入射することが防止される。これにより、接着剤1の物性変化、更には光学素子2の位置、姿勢、形状の変動を防止することができる。
遮光膜4としては、例えば、顔料を含有する樹脂やNi、Siを含む材料が使用されうる。遮光膜4は、例えば、透過率及び反射率が0.1%以下の材料であることが好ましい。
光学素子2の表面(面21および面22)のうち遮光膜4を配置すべき領域は、拡散面(即ち、磨りガラス状の凹凸面)にしておくと、遮光膜材料を斑なく塗布し易い。また、遮光膜4と支持部材3との接触によって遮光膜4が損傷を受けて飛散等することを防止するために、光学素子2と支持部材3との接触部2aには、遮光膜4を配置しないことが好ましい。
支持部材3には、遮光部材5が固定されうる。遮光部材5は、光学素子2に不要な光(すなわち、照射領域外に散乱する光)が入射しないように光学素子2への入射光を制限し、これにより接着剤1に入射する光を制限する。例えば、遮光部材5は、照射光が光学素子を透過せずに、直接、接着剤1に入射するような光を遮光する。したがって、遮光部材5は、図1に示すように、接着剤1の位置よりも内側まで延伸している部材とする。
[第2実施形態]
図4は、本発明の第2実施形態の光学装置の概略構成を示す図である。第2実施形態の光学装置は、光学素子2と、光学素子2の側部の少なくとも一部23'に接着剤1を介して連結されて光学素子2を支持する支持部材3と、接着剤1への光の入射を制限する入射制限部41とを備える。光学素子2は、例えば、レンズである。
支持部材3は、光学素子2の側部の少なくとも一部23'に対して接着剤1を介して連結された第1支持部3aと、光学素子2の周辺部を下方から支持する第2支持部3bとを有する。入射制限部41は、接着剤1と第1支持部3aとの接触部と光学素子2と第2支持部3bとの接触部2aとの間に配置される。
図3において、光線6は、光学素子2を透過し、支持部材3で反射し、接着剤1に到達する。一方、第2実施形態では、光線6に相当する光は、入射制限部41によって接着剤1への入射が防止される。これによって、光学素子2の位置、姿勢、形状の変動を防止することができる。ここで、入射制限部41は、光を吸収する部材であり、例えば、透過率及び反射率が0.1%以下の材料で構成されることが好ましい。入射制限部の部材については、以下の実施形態でも同様である。
[第3実施形態]
図5は、本発明の第3実施形態の光学装置の概略構成を示す図である。第3実施形態とは、接着剤1を基準として第2支持部3bとは反対側にも入射制限部41が設けられている点で第2実施形態と異なる。なお、前述の実施形態と共通する箇所の説明は省略する。図5に示すように、散乱光が発生することによって、光学素子2に入射した光61は、光学素子2の像側の面22で反射し、遮光部材5で更に反射して接着剤1に入射しうる。そこで、図5のように、遮光部材5の接着剤1側の面と、接着剤1から遮光部材5に至る支持部材3の表面とに入射制限部41を設ける。そうすることによって、接着剤1に対してその上面から光が入射するのを防止することができる。そして、光学素子2の位置、姿勢、形状の変動を防止することができる。なお、遮光部材5を入射制限部41そのものとしてもよい。その場合、遮光部材5の裏面(接着剤1のある側の面)に入射制限部41を重ねて設ける必要はない。
また、図1に示したように、光学素子2の非照射領域に設けられた遮光膜4を本実施形態の光学素子にも適用でき、遮光膜4と入射制限部41の両方を設けることによって、より効果的に接着剤1への光の入射が防止される。
[第4実施例]
図6は、本発明の第4実施形態の光学装置の概略構成を示す図である。本実施形態では、光学素子がレンズではなく、ミラーである。なお、前述の実施形態と共通する箇所の説明は省略する。ミラー7は、入射してくる光(照射光)を反射して、後段のミラーまたはレンズに光を導く。図6に示すように、散乱光が発生することによって、ミラー7の非照射領域に入射した光62がミラー表面で反射し、さらに遮光部材5で反射して、接着剤1に入射しうる。そこで、ミラー7の非照射領域であって、ミラー7の表面の周辺部に入射制限部41を設ける。それによって、光62が点線63で示すように反射することが防止され、接着剤1に光が入射することが防止される。そして、光学素子2の位置、姿勢、形状の変動を防止することができる。
また、図5と同様に、遮光部材5の接着剤1側の面と、接着剤1の上面から遮光部材5に至る支持部材5の表面とに入射制限部41を設ければ、より効果的に接着剤1への光の入射を制限することができる。なお、遮光部材5を入射制限部41そのものとしてもよい。その場合、遮光部材5の裏面(接着剤1のある側の面)に入射制限部41を重ねて設ける必要はない。
[第5実施形態]
図7は、本発明の第5実施形態の露光装置の概略構成を示す図である。第5実施形態の露光装置は、原版(レチクル)10を照明光学系8で照明し、該原版10のパターンを投影光学系11を介して基板(ウエハ)12に投影して該基板12を露光する。原版10は、原版ステージ機構9によって位置決めされる。基板12は、基板ステージ機構13によって位置決めされる。
照明光学系8および投影光学系11の少なくとも一方は、第1又は第2実施形態で説明した光学装置を含んで構成されうる。これにより、光学素子を支持部材に連結するための接着剤への光の入射を制限することができるため、接着剤1の物性変化、更には光学素子2の位置、姿勢、形状の変動を防止することができる。
[第6実施形態]
次に上記の露光装置を利用したデバイス製造方法を説明する。図8は、半導体デバイスの全体的な製造プロセスのフローを示す図である。ステップ1(回路設計)では半導体デバイスの回路設計を行う。ステップ2(レチクル作製)では設計した回路パターンに基づいてレチクル(原版またはマスクともいう)を作製する。一方、ステップ3(ウエハ製造)ではシリコン等の材料を用いてウエハ(基板ともいう)を製造する。ステップ4(ウエハプロセス)は前工程と呼ばれ、上記のレチクルとウエハを用いて、リソグラフィー技術によってウエハ上に実際の回路を形成する。次のステップ5(組み立て)は後工程と呼ばれ、ステップ4によって作製されたウエハを用いて半導体チップ化する工程であり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)、パッケージング工程(チップ封入)等の組み立て工程を含む。ステップ6(検査)ではステップ5で作製された半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行う。こうした工程を経て半導体デバイスが完成し、これを出荷(ステップ7)する。
図9は、上記ウエハプロセスの詳細なフローを示す図である。ステップ11(酸化)ではウエハの表面を酸化させる。ステップ12(CVD)ではウエハ表面に絶縁膜を成膜する。ステップ13(電極形成)ではウエハ上に電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオン打込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ15(CMP)ではCMP工程によって絶縁膜を平坦化する。ステップ16(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ステップ17(露光)では上記の露光装置を用いて、回路パターンが形成されたマスクを介し感光剤が塗布されたウエハを露光してレジストに潜像パターンを形成する。ステップ18(現像)ではウエハ上のレジストに形成された潜像パターンを現像してレジストパターンを形成する。ステップ19(エッチング)ではレジストパターンが開口した部分を通してレジストパターンの下にある層又は基板をエッチングする。ステップ20(レジスト剥離)ではエッチングが済んで不要となったレジストを取り除く。これらのステップを繰り返し行うことによって、ウエハ上に多重に回路パターンを形成する。
本発明の第1実施形態の光学装置の概略構成を示す図である。 露光装置の照明光学系や投影光学系等の光学系の部分的な構成を模式的に示す図である。 露光装置の照明光学系や投影光学系等の光学系の部分的な構成を模式的に示す図である。 本発明の第2実施形態の光学装置の概略構成を示す図である。 本発明の第3実施形態の光学装置の概略構成を示す図である。 本発明の第4実施形態の光学装置の概略構成を示す図である。 本発明の第5実施形態の露光装置の概略構成を示す図である。 半導体デバイスの全体的な製造プロセスのフローを示す図である。 ウエハプロセスの詳細なフローを示す図である。
符号の説明
1 接着剤
2 光学素子(レンズ)
7 光学素子(ミラー)
21 第1面
22 第2面
23、23' 光学素子の一部
3 支持部材
3a 第1支持部
3b 第2支持部
4 遮光膜
41 入射制限部
5 遮光板
8 照明光学系
9 原版ステージ機構
10 原版
11 投影光学系
12 基板ウエハ
13 基板ステージ機構

Claims (9)

  1. 光学素子と、前記光学素子に接着剤で連結され前記光学素子を支持する支持部材と、前記接着剤への光の入射を制限するように前記光学素子の表面の非照射領域に設けられた遮光膜と、
    を備えることを特徴とする光学装置。
  2. 前記光学素子は、物体側の面および像側の面を有し、前記遮光膜は、前記物体側の面における周辺部および前記像側の面における周辺部の少なくとも一方に設けられている、ことを特徴とする請求項1に記載の光学装置。
  3. 光学素子と、
    前記光学素子に接着剤で連結され、前記光学素子を支持する支持部材と、
    前記接着剤への光の入射を制限する入射制限部とを備え、
    前記支持部材は、前記光学素子の側部の前記少なくとも一部に対して前記接着剤を介して連結された第1支持部と、前記光学素子の周辺部を下方から支持する第2支持部とを有し、
    前記入射制限部は、前記接着剤と前記第1支持部との接触部と前記光学素子と前記第2支持部との接触部との間に配置されている、
    ことを特徴とする光学装置。
  4. 前記入射制限部は、光を吸収する部材である、ことを特徴とする請求項3に記載の光学装置。
  5. 前記接着剤への光の入射を制限するように、前記光学素子の表面の非照射領域に設けられた遮光膜を備えることを特徴とする請求項3または4に記載の光学装置。
  6. 前記接着剤を基準として前記第2支持部とは反対側に、前記接着剤への光の入射を制限する入射制限部が設けられていることを特徴とする請求項3乃至5のいずれか1項に記載の光学装置。
  7. 投影光学系を介して原版のパターンを基板に投影して該基板を露光する露光装置であって、
    前記投影光学系が請求項1乃至6のいずれか1項に記載の光学装置を含むことを特徴とする露光装置。
  8. 原版を照明光学系で照明し、該原版のパターンを投影光学系を介して基板に投影して該基板を露光する露光装置であって、
    前記照明光学系が請求項1乃至6のいずれか1項に記載の光学装置を含むことを特徴とする露光装置。
  9. デバイス製造方法であって、
    請求項7又は8に記載された露光装置を用いて基板を露光する工程と、
    露光された該基板を現像する工程と、
    を含むことを特徴とするデバイス製造方法。
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