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Claims (40)
- フィールド面における物体を光源からの放射で照明するようにされた照明光学系であって、
少なくとも第1のフィールドラスタ素子及び第2のフィールドラスタ素子を備え、前記第1及び第2のフィールドラスタ素子が、前記照明光学系の作動中に前記光源から光を受けて当該光を第1の光束及び第2の光束に分離するようにされている、第1の面における第1のファセット光学素子と、
第2の面に少なくとも第2のファセット光学素子を備え、前記第2のファセット光学素子が第1の瞳ラスタ素子及び第2の瞳ラスタ素子を備えている、光学部品と、
第2の面上、又は第2の面に共役な面上、又はその何れかの近傍に配置され、かつ、第1の光束の経路内の第1のフィールドラスタ素子と第1の瞳ラスタ素子との間に配置された減衰器と、を備え
前記照明光学系の作動中に、前記光源は波長が193nm以下の放射を放射し、前記第1の光束は第1の瞳ラスタ素子に入射し、前記第2の光束は前記第2の瞳ラスタ素子に入射し、前記光学部品はフィールド面に前記第1及び第2のフィールドラスタ素子を結像し、前記物体はフィールド面上で走査方向に走査され、そして、前記減衰器が、フィールド面における走査積分された楕円率の変動が前記走査方向に垂直な方向において±10%未満となるように配置されている、照明光学系。 - 前記第1のファセット光学素子が、20を上回るフィールドラスタ素子を含む、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記第2のファセット光学素子が、20を上回る瞳ラスタ素子を含む、請求項1に記載の照明光学系。
- さらに、前記光源と前記第1のファセット光学素子の間の光路に配置された集光器を備え、前記集光器は、前記照明光学系の作動中に前記光源からの放射を集光し、前記第1のファセット光学素子の領域を照射するようにされている、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記減衰器は、前記第1のファセット光学素子から前記第2のファセット光学素子への光路に沿って、前記第2の面又は前記第2の面に共役な面に対して物理的距離DAの所に配置され、ここでDAは、前記第1の面と前記第2の面との物理的距離(D)の10%より小さくされている、請求項1に記載の照明光学系。
- 照明光学系の作動中に、前記第1の光束が第1の断面を有し、前記減衰器が少なくとも前記第1の光束の前記断面の少なくとも第1の領域をぼかす(vignett)、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記減衰器は絞りである、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記絞りはリング形の絞り又は矩形の絞り又は台形の絞りである、請求項7に記載の照明光学系。
- 前記絞りは、絞り輪の部分である、請求項7に記載の照明光学系。
- 前記絞りは、少なくとも一つのワイヤを含む、請求項7に記載の照明光学系。
- 前記減衰器は、少なくとも前記第1の光束の断面を可変的にぼかすようにする装置を備えている、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記装置は、回転軸を中心に回転するようにされた素子を有するワイヤを備え、前記素子は、その位置に応じて前記第1の光束の断面の様々な領域をぼかすものである、請求項11記載の照明光学系。
- 前記減衰器は、フィルタ素子である、請求項1に記載の照明光学系。
- 少なくとも前記第1及び第2のフィールドラスタ素子は反射型である、請求項1に記載の照明光学系。
- さらに、前記光源から前記第1のファセット光学素子への光路において、前記第1の面又は前記第1の面に共役な面、又はその何れかの近傍に配置された第2の減衰器を備える、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記第2の減衰器は、前記光源から前記第1のファセット光学素子への光路の沿った物理的距離のところに配置され、その物理的距離は、前記第1の面から前記第2の面への物理的距離の10%より小さいものである、請求項15に記載の照明光学系。
- 前記第1及び第2の瞳ラスタ素子は反射型である、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記第1及び第2瞳のラスタ素子は異なった形状である、請求項1に記載の照明光学系。
- 作動中にフィールド面におけるフィールドを照明し、前記フィールドは形状を有しているものである、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記第1及び第2のフィールドラスタ素子は、前記フィールドの前記形状を有している、請求項19に記載の照明光学系。
- さらに、少なくとも一つのフィールド形成鏡を備え、該フィールド形成鏡は前記光路において第2のファセット光学素子と前記フィールド面との前に配置されている、請求項1に記載の照明光学系。
- 請求項1に記載の照明光学系と、
前記フィールド面の物体を像面の像に投影するようにされた投影対物光学系と、
を備えた、マイクロリソグラフィーの用の投影露光光学系。 - 前記物体は構造形成マスクである、請求項に22記載の投影露光光学系。
- 感光性物体は前記像面に配置されている、請求項23に記載の投影露光光学系。
- 請求項22に記載の投影露光光学系を用いて微細構造部品を製造する方法であって、
フィールド面に配置された構造形成マスクを照明するステップと、
前記構造形成マスクを投影対物光学系を用いて感光性層に投影するステップと、
前記感光性層を現像するステップと、
現像された前記感光性層を用いて、微細構造部品又は微細構造部品の一部を生成するステップと、
を含んだ方法。 - 前記第1のファセット光学素子は、40を上回るフィールドラスタ素子を含んでいる、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記第1のファセット光学素子は、100を上回るフィールドラスタ素子を含んでいる、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記第1のファセット光学素子は、300を上回るフィールドラスタ素子を含んでいる、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記第2のファセット光学素子は、40を上回るフィールドラスタ素子を含んでいる、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記第2のファセット光学素子は、100を上回るフィールドラスタ素子を含んでいる、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記第2のファセット光学素子は、300を上回るフィールドラスタ素子を含んでいる、請求項1に記載の照明光学系。
- 前記光学部品は、前記フィールド面におけるテレセン度(elecentricity)の誤差が前記走査方向に垂直な方向において前記フィールドの±0.5mradを超えないように、フィールド面におけるフィールドに前記第1及び第2のフィールドラスタ素子を結像するものである、請求項1に記載の照明光学系。
- フィールド面における物体を光源からの放射で照明するようにされた照明光学系であって、
少なくとも第1のフィールドラスタ素子及び第2のフィールドラスタ素子を備え、前記第1及び第2のフィールドラスタ素子が、前記照明光学系の作動中に前記光源から光を受けて受光した当該光を第1の光束及び第2の光束に分離するようにされている、第1の面における第1のファセット光学素子と、
第2の面に少なくとも第2のファセット光学素子を備え、前記第2のファセット光学素子が第1の瞳ラスタ素子及び第2の瞳ラスタ素子を備えている、光学部品と、
第2の面上、又は第2の面に共役な面上、又はその何れかの近傍に配置され、かつ、第1の光束の経路内の第1のフィールドラスタ素子と第1の瞳ラスタ素子との間に配置された減衰器と、を備え
前記照明光学系の作動中に、前記光源は波長が193nm以下の放射を放射し、前記第1の光束は第1の瞳ラスタ素子に入射し、前記第2の光束は前記第2の瞳ラスタ素子に入射し、前記光学部品はフィールド面に前記第1及び第2のフィールドラスタ素子を結像し、そして前記第1の光束は第1の断面を有し、前記減衰器は前記第1の光束の前第1の断面の少なくとも第1の領域をぼかすものである、照明光学系。 - 前記減衰器は絞りである、請求項33に記載の照明光学系。
- 前記絞りはリング形の絞り又は矩形の絞り又は台形の絞りである、請求項34に記載の照明光学系。
- 前記絞りは、絞り輪の部分である、請求項34に記載の照明光学系。
- 前記絞りは、少なくとも一つのワイヤを含む、請求項34に記載の照明光学系。
- 前記減衰器は、少なくとも前記第1の光束の断面を可変的にぼかすようにする装置を備えている、請求項33に記載の照明光学系。
- 前記装置は、回転軸を中心に回転するようにされた素子を有するワイヤを備え、前記素子は、その位置に応じて前記第1の光束の断面の様々な領域をぼかすものである、請求項38記載の照明光学系。
- フィールド面における物体を光源からの放射で照明するようにされた照明光学系であって、
少なくとも第1のフィールドラスタ素子及び第2のフィールドラスタ素子を備え、前記第1及び第2のフィールドラスタ素子が、前記照明光学系の作動中に前記光源から光を受けて受光した当該光を第1の光束及び第2の光束に分離するようにされている、第1の面における第1のファセット光学素子と、
第2の面に少なくとも第2のファセット光学素子を備え、前記第2のファセット光学素子が第1の瞳ラスタ素子及び第2の瞳ラスタ素子を備えている、光学部品と、
第2の面上、又は第2の面に共役な面上、又はその何れかの近傍に配置され、かつ、第1の光束の経路内の第1のフィールドラスタ素子と第1の瞳ラスタ素子との間に配置された減衰器と、を備え
前記照明光学系の作動中に、前記光源は波長が193nm以下の放射を放射し、前記第1の光束は第1の瞳ラスタ素子に入射し、前記第2の光束は前記第2の瞳ラスタ素子に入射し、前記物体は前記フィールド面において走査方向に走査され、前記光学部品は、前記フィールド面におけるテレセン度(elecentricity)の誤差が前記走査方向に垂直な方向において前記フィールドの±0.5mradを超えないように、フィールド面におけるフィールドに前記第1及び第2のフィールドラスタ素子を結像するものである照明光学系。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US69270005P | 2005-06-21 | 2005-06-21 | |
PCT/EP2006/005857 WO2006136353A1 (en) | 2005-06-21 | 2006-06-19 | A double-facetted illumination system with attenuator elements on the pupil facet mirror |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008544531A JP2008544531A (ja) | 2008-12-04 |
JP2008544531A5 true JP2008544531A5 (ja) | 2009-08-06 |
Family
ID=36764368
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008517389A Pending JP2008544531A (ja) | 2005-06-21 | 2006-06-19 | 瞳ファセットミラー上に減衰素子を備えた二重ファセット照明光学系 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20080165925A1 (ja) |
EP (1) | EP1894063A1 (ja) |
JP (1) | JP2008544531A (ja) |
WO (1) | WO2006136353A1 (ja) |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP5809637B2 (ja) * | 2009-11-18 | 2015-11-11 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
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---|---|---|---|---|
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-
2006
- 2006-06-19 EP EP06762082A patent/EP1894063A1/en not_active Withdrawn
- 2006-06-19 WO PCT/EP2006/005857 patent/WO2006136353A1/en not_active Application Discontinuation
- 2006-06-19 JP JP2008517389A patent/JP2008544531A/ja active Pending
-
2007
- 2007-12-20 US US11/961,431 patent/US20080165925A1/en not_active Abandoned
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