JP2008300847A - 半導体パッケージ、その製造方法、これを含むカード及それを含むシステム - Google Patents
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Abstract
【課題】半導体パッケージ、その製造方法、これを含むカード及びそれを含むシステムを提供する。
【解決手段】半導体パッケージ100は、パッケージ基板110と、パッケージ基板110上に積層された少なくとも一つの半導体チップ120と、少なくとも一つの半導体チップ120とパッケージ基板110とを電気的に連結する少なくとも一本のワイヤ140と、少なくとも一本のワイヤ140上に少なくとも一本のワイヤ140の断面部分を覆い包むように配された複数の絶縁性ビード145と、を備える。
【選択図】図1
【解決手段】半導体パッケージ100は、パッケージ基板110と、パッケージ基板110上に積層された少なくとも一つの半導体チップ120と、少なくとも一つの半導体チップ120とパッケージ基板110とを電気的に連結する少なくとも一本のワイヤ140と、少なくとも一本のワイヤ140上に少なくとも一本のワイヤ140の断面部分を覆い包むように配された複数の絶縁性ビード145と、を備える。
【選択図】図1
Description
本発明は、半導体素子及びその製造方法に係り、特に、半導体パッケージ、これを利用したカード及びそれを利用したシステムに関する。
電子製品の小型化要求によって、半導体パッケージのサイズが縮小している。したがって、パッケージ基板と半導体チップとを連結するワイヤ間のピッチが小さくなっている。さらに、複数の半導体チップが一つのパッケージ基板上に積層された場合には、ワイヤも上下に密接に配される。したがって、隣接したワイヤの電気的な短絡によって電子製品の不良が発生しうる。
また、半導体チップ及びワイヤをモルディングする工程で、モルディング樹脂の流れによって、ワイヤが相互押されて接触することもある。このようにワイヤが押されるのは、ワイヤスイーピングと呼ばれることもある。したがって、ワイヤスイーピングによって、ワイヤが変形するか、またはワイヤの間に電気的な断線が発生しうる。
例えば、このような電気的な断線を抑制するために、絶縁物で被覆されたワイヤを利用して半導体パッケージを製造しうる。他の例として、特許文献1は、ワイヤボンディング後のワイヤの変形を抑制するボンディングワイヤの補強装置を開示している。
しかしながら、絶縁物で被覆されたワイヤを利用した場合、ワイヤボンディング用毛細管の端部が絶縁物で汚染される恐れがある。さらに、このような絶縁物によって、ワイヤと半導体チップ、またはワイヤと半導体パッケージとの結合力が減少しうる。
しかしながら、絶縁物で被覆されたワイヤを利用した場合、ワイヤボンディング用毛細管の端部が絶縁物で汚染される恐れがある。さらに、このような絶縁物によって、ワイヤと半導体チップ、またはワイヤと半導体パッケージとの結合力が減少しうる。
また、前述したボンディングワイヤ補強装置を利用した場合には、微細粉末を利用してワイヤをひと回り囲んで均一な樹脂層を形成し難い。したがって、ワイヤ間の断線を効果的に防止し難い。
特開2004−282021号公報
本発明が解決しようとする技術的課題は、ワイヤ間の断線を防止し、信頼性を高めうる半導体パッケージ及びその製造方法を提供することである。
本発明が解決しようとする他の技術的課題は、このような半導体パッケージを利用したカード及びシステムを提供することである。
本発明が解決しようとする他の技術的課題は、このような半導体パッケージを利用したカード及びシステムを提供することである。
前記課題を達成するための本発明の一態様による半導体パッケージが提供される。パッケージ基板が提供され、少なくとも一つの半導体チップは、前記パッケージ基板上に積層される。少なくとも一本のワイヤは、前記少なくとも一つの半導体チップ及び前記パッケージ基板を電気的に連結するように提供される。複数の絶縁性ビードは、前記少なくとも一本のワイヤ上に、前記少なくとも一本のワイヤの断面部分を覆い包むように提供される。
前記本発明による半導体パッケージの一態様において、前記少なくとも一本のワイヤは、相互隣接する第1ワイヤ及び第2ワイヤを含み、前記複数の絶縁性ビードのそれぞれは、前記第1及び第2ワイヤの隣接断面部分を取り囲むように配される。
前記本発明による半導体パッケージの他の態様において、前記第1及び第2ワイヤは、グループのワイヤを含み、前記グループ内で前記ワイヤ間の間隔は、前記グループと直ぐ隣接したグループのワイヤ間の間隔より小さい。
前記本発明による半導体パッケージの他の態様において、前記第1及び第2ワイヤは、グループのワイヤを含み、前記グループ内で前記ワイヤ間の間隔は、前記グループと直ぐ隣接したグループのワイヤ間の間隔より小さい。
前記本発明による半導体パッケージの他の態様において、前記少なくとも一つの半導体チップは、第1半導体チップ及び前記第1半導体チップ上の第2半導体チップを含み、前記少なくとも一本のワイヤは、前記第1半導体チップにカップリングされた第1ワイヤ及び前記第2半導体チップにカップリングされた第2ワイヤを含みうる。前記複数の絶縁性ビードは、前記第1及び第2ワイヤのそれぞれの断面部分を覆い包むように提供される。
前記課題を達成するための本発明の一態様による半導体パッケージの製造方法が提供される。パッケージ基板上に少なくとも一つの半導体チップを積層する。前記少なくとも一つの半導体チップ及び前記パッケージ基板を少なくとも一本のワイヤを利用して電気的に連結する。そして、前記少なくとも一本のワイヤ上に前記少なくとも一本のワイヤの断面部分を覆い包む複数の絶縁性ビードを形成する。
前記半導体パッケージの製造方法の一態様において、前記複数の絶縁性ビードを形成する工程は、表面張力を減らすために、前記少なくとも一本のワイヤの表面を前処理する工程と、前記少なくとも一本のワイヤの表面に絶縁性液体を噴射させる工程と、前記絶縁性液体を硬化させる工程と、を含みうる。
前記半導体パッケージの製造方法の他の態様において、前記前処理は、プラズマ処理または湿式洗浄を含みうる。
前記半導体パッケージの製造方法の他の態様において、前記前処理は、プラズマ処理または湿式洗浄を含みうる。
前記半導体パッケージの製造方法の他の態様において、前記絶縁性液体を噴射させる工程は、空気噴射または超音波発振を利用しうる。
本発明による半導体パッケージによれば、半導体パッケージで、ワイヤの電気的な断線が効果的に防止される。したがって、半導体パッケージの信頼性が向上し、収率が向上しうる。さらに、半導体パッケージのデザイン自由度が上昇し、競争力のある製品設計が可能になる。
また、本発明による半導体パッケージによれば、ワイヤスイーピングが発生しても、ワイヤの厚さを減らせる。ワイヤの厚さが減少するにつれて、高コストの金の消耗が減少し、製造コストが大きく減少しうる。さらに、ワイヤ長を長くしても、ワイヤ間の絶縁を確保することができるので、本発明による半導体パッケージは、高い集積度を有するマルチチップパッケージに容易に適用される。
また、本発明による半導体パッケージの製造方法によれば、ワイヤの前処理を通じて、ワイヤを覆い包むように絶縁性ビードを形成しうる。
以下、本発明による実施形態を図面に基づいて説明する。しかし、本発明は、以下に開示される実施形態に限定されず、異なる多様な形態で具現され、本実施形態は、ただ本発明の開示を完全にし、当業者に発明の範囲を完全に知らせるために提供される。図面で、構成要素は、説明の便宜のためにそのサイズが誇張されている。
(第一実施形態)
図1は、本発明の第一実施形態による半導体パッケージ100を示す断面図である。
図1を参照すれば、パッケージ基板110が提供される。パッケージ基板110には、回路配線が形成される。例えば、パッケージ基板110は、印刷回路基板を備えうる。パッケージ基板110の背面には、外部端子として利用される複数の導電性バンプ160が付着される。導電性バンプ160は、ソルダーボールまたはソルダーバンプを備えうる。他の例として、パッケージ基板110は、リードフレームを備え、この場合、導電性バンプ160の代りに、導電性リードが外部端子として利用されることもある。
図1は、本発明の第一実施形態による半導体パッケージ100を示す断面図である。
図1を参照すれば、パッケージ基板110が提供される。パッケージ基板110には、回路配線が形成される。例えば、パッケージ基板110は、印刷回路基板を備えうる。パッケージ基板110の背面には、外部端子として利用される複数の導電性バンプ160が付着される。導電性バンプ160は、ソルダーボールまたはソルダーバンプを備えうる。他の例として、パッケージ基板110は、リードフレームを備え、この場合、導電性バンプ160の代りに、導電性リードが外部端子として利用されることもある。
半導体チップ120は、パッケージ基板110上に積層される。例えば、半導体チップ120は、パッケージ基板110上に接着部材115を利用して付着される。例えば、半導体チップ120は、メモリ素子及び/またはロジック素子を含みうる。一つ以上のワイヤ140は、パッケージ基板110及び半導体チップ120を電気的に連結しうる。ワイヤ140は、導電性材料、例えば、金、銀または金−銀合金を含みうる。
複数の絶縁性ビード145は、ワイヤ140の断面部分を取り囲み、ワイヤ140に沿って所定間隔に離隔されて配される。例えば、絶縁性ビード145は、ワイヤ140の表面に接着される。絶縁性ビード145は、図6及び図7に示したように、ワイヤ140のうち隣接したものの間の断線を防止するスペーサのような役割を行える。
モルディング部材150は、半導体チップ120及びワイヤ140を取り囲むように、パッケージ基板110上に配される。モルディング部材150は、モルディング樹脂、例えば、エポキシモルディングコンパウンドを含みうる。
前述したように、半導体パッケージ100で、ワイヤ140の電気的な断線が効果的に防止される。したがって、半導体パッケージ100の信頼性が向上し、収率が向上しうる。また、ワイヤ140の近接配置も可能になって、ワイヤ140の配置に対する自由度が上昇しうる。これにより、半導体パッケージ100のデザイン自由度が上昇し、競争力のある製品設計が可能になる。
前述したように、半導体パッケージ100で、ワイヤ140の電気的な断線が効果的に防止される。したがって、半導体パッケージ100の信頼性が向上し、収率が向上しうる。また、ワイヤ140の近接配置も可能になって、ワイヤ140の配置に対する自由度が上昇しうる。これにより、半導体パッケージ100のデザイン自由度が上昇し、競争力のある製品設計が可能になる。
(第二実施形態)
図2は、本発明の第二実施形態による半導体パッケージ100を示す断面図である。
図2を参照すれば、第1半導体チップ120及び第2半導体チップ130は、パッケージ基板110上に順次に積層される。例えば、第1半導体チップ120は、パッケージ基板110上に接着部材115を利用して付着され、第2半導体チップ130は、接着部材125を利用して第1半導体チップ120上に付着される。上部の第2半導体チップ130のサイズは、下部の第1半導体チップ120のサイズより小さい。これにより、第1半導体チップ120のエッジ部分が第2半導体チップ130から露出される。第1半導体チップ120及び第2半導体チップ130は、同種の製品または異なる製品でありうる。例えば、第1半導体チップ120及び第2半導体チップ130は、メモリ素子及び/またはロジック素子を含みうる。
図2は、本発明の第二実施形態による半導体パッケージ100を示す断面図である。
図2を参照すれば、第1半導体チップ120及び第2半導体チップ130は、パッケージ基板110上に順次に積層される。例えば、第1半導体チップ120は、パッケージ基板110上に接着部材115を利用して付着され、第2半導体チップ130は、接着部材125を利用して第1半導体チップ120上に付着される。上部の第2半導体チップ130のサイズは、下部の第1半導体チップ120のサイズより小さい。これにより、第1半導体チップ120のエッジ部分が第2半導体チップ130から露出される。第1半導体チップ120及び第2半導体チップ130は、同種の製品または異なる製品でありうる。例えば、第1半導体チップ120及び第2半導体チップ130は、メモリ素子及び/またはロジック素子を含みうる。
パッケージ基板110上に第1及び第2半導体チップ120、130が積層されているという点で、半導体パッケージ100は、マルチチップパッケージ(MultiChip Package:MCP)と呼ばれることもある。しかしながら、パッケージ基板110上に積層される半導体チップの数は、本発明の範囲を制限せず、半導体パッケージ100の容量によって適切に選択される。
一つ以上の第1ワイヤ140aは、パッケージ基板110と第1半導体チップ120とを電気的に連結しうる。一つ以上の第2ワイヤ140bは、パッケージ基板110と第2半導体チップ130とを電気的に連結しうる。第2ワイヤ140bは、第1ワイヤ140aより長い。例えば、第1及び第2ワイヤ140a、140bは、第1及び第2半導体チップ120、130に接着されたボール142からパッケージ基板110に伸びうる。このような形態の第1及び第2ワイヤ140a、140bは、バンプ順方向ボンディング方法によって形成される。
複数の第1絶縁性ビード145aは、第1ワイヤ140aの断面部分をひと回り囲み、第1ワイヤ140aに沿って所定間隔に離隔されて配される。複数の第2絶縁性ビード145bは、第2ワイヤ140bの断面部分をひと回り囲み、第2ワイヤ140bに沿って所定間隔に離隔されて配される。例えば、第1及び第2絶縁性ビード145a、145bは、第1及び第2ワイヤ140a、140b上に同一距離及び同一間隔を有するように配される。
第1及び第2絶縁性ビード145a、145bは、第1及び第2ワイヤ140a、140bの表面をひと回り覆い包む多様な形態を有しうる。例えば、第1及び第2絶縁性ビード145a、145bの表面は、球形または卵形を有しうる。この場合、第1及び第2絶縁性ビード145a、145bの断面直径は、その中心からエッジに行くほど小さくなりうる。
第1及び第2絶縁性ビード145a、145bは、第1及び第2ワイヤ140a、140bの電気的な断線を防止しうる。第1及び第2絶縁性ビード145a、145bは、左右に配された第1ワイヤ140aが相互接触されるか、左右に配された第2ワイヤ140bが相互接触されるか、または上下に配された第1及び第2ワイヤ140a、140bが相互接触することを何れも防止しうる。すなわち、第1及び第2絶縁性ビード145a、145bは、第1及び第2ワイヤ140a、140bをひと回り取り囲むため、全方向で第1及び第2ワイヤ140a、140bの電気的な断線を防止しうる。
さらに、第1及び第2絶縁性ビード145a、145bは、第1及び第2ワイヤ140a、140bが第1及び第2半導体チップ120、130の角部と直接接触されることを防止しうる。すなわち、第1及び第2ワイヤ140a、140bが下側に落ちても、第1及び第2半導体チップ120、130の角部と直接接触しない。
モルディング部材150は、第1及び第2半導体チップ120、130、及び第1及び第2ワイヤ140a、140bを取り囲むようにパッケージ基板110上に配される。モルディング部材150は、モルディング樹脂、例えば、エポキシモルディングコンパウンドを含みうる。
前述したように、半導体パッケージ100で、第1及び第2ワイヤ140a、140bの電気的な断線が効果的に防止される。したがって、半導体パッケージ100の信頼性が向上し、収率が向上しうる。また、第1及び第2ワイヤ140a、140bの近接配置も可能になり、第1及び第2ワイヤ140a、140bの配置に対する自由度が上昇しうる。これにより、半導体パッケージ100のデザイン自由度が上昇し、競争力のある製品設計が可能になる。特に、半導体パッケージ100は、高い集積度を有するマルチチップパッケージに信頼性のあるように適用される。
前述したように、半導体パッケージ100で、第1及び第2ワイヤ140a、140bの電気的な断線が効果的に防止される。したがって、半導体パッケージ100の信頼性が向上し、収率が向上しうる。また、第1及び第2ワイヤ140a、140bの近接配置も可能になり、第1及び第2ワイヤ140a、140bの配置に対する自由度が上昇しうる。これにより、半導体パッケージ100のデザイン自由度が上昇し、競争力のある製品設計が可能になる。特に、半導体パッケージ100は、高い集積度を有するマルチチップパッケージに信頼性のあるように適用される。
さらに、半導体パッケージ100で、第1及び第2ワイヤ140a、140bの厚さを減らせる。例えば、第1及び第2ワイヤ140a、140bの厚さは、通常の1.2milより小さい0.9mil以下に減少する。モルディング過程のうち、ワイヤスイーピングが発生するとき、第1及び第2ワイヤ140a、140bの動きを小さくするためには、第1及び第2ワイヤ140a、140bの厚さが大きいことが良い。しかしながら、第1及び第2ワイヤ140a、140bが近接しても、第1及び第2絶縁性ビード145a、145bがあるため、絶縁性を確保しつつも、第1及び第2ワイヤ140a、140bの厚さを減らせる。第1及び第2ワイヤ140a、140bの厚さが減少するにつれて、高コストの金の消耗が減少して、製造コストが大きく減少する。
(第三実施形態)
図3は、本発明の第三実施形態による半導体パッケージ200を示す断面図である。半導体パッケージ200は、図1及び図2の半導体パッケージ100で一部構成を変形したものである。したがって、重複された説明は、省略する。
図3を参照すれば、第1及び第2半導体チップ220、230は、パッケージ基板110上に積層される。第1半導体チップ220は、接着部材215を利用してパッケージ基板110上に付着される。第1及び第2半導体チップ220、230は、接着部材221、225を利用して相互付着され、接着部材221、225の間には、インターポーザ222が介在される。図2とは異なり、第1及び第2半導体チップ220、230のサイズは、同一であるが、その間の接着部材221、225及びインターポーザ222のサイズは、第1及び第2半導体チップ220、230のサイズより小さい。したがって、第1半導体チップ220のエッジ部分が接着部材221、225及びインターポーザ222から露出される。
図3は、本発明の第三実施形態による半導体パッケージ200を示す断面図である。半導体パッケージ200は、図1及び図2の半導体パッケージ100で一部構成を変形したものである。したがって、重複された説明は、省略する。
図3を参照すれば、第1及び第2半導体チップ220、230は、パッケージ基板110上に積層される。第1半導体チップ220は、接着部材215を利用してパッケージ基板110上に付着される。第1及び第2半導体チップ220、230は、接着部材221、225を利用して相互付着され、接着部材221、225の間には、インターポーザ222が介在される。図2とは異なり、第1及び第2半導体チップ220、230のサイズは、同一であるが、その間の接着部材221、225及びインターポーザ222のサイズは、第1及び第2半導体チップ220、230のサイズより小さい。したがって、第1半導体チップ220のエッジ部分が接着部材221、225及びインターポーザ222から露出される。
第1及び第2ワイヤ240a、240bは、図2の第1及び第2ワイヤ140a、140bを参照しうる。第1及び第2絶縁性ビード245a、245bは、図2の第1及び第2絶縁性ビード145a、145bを参照しうる。
(第四実施形態)
図4は、本発明の第四実施形態による半導体パッケージ300を示す断面図である。半導体パッケージ300は、図1及び図2の半導体パッケージ100で一部構成を変形したものである。したがって、重複された説明は、省略される。
(第四実施形態)
図4は、本発明の第四実施形態による半導体パッケージ300を示す断面図である。半導体パッケージ300は、図1及び図2の半導体パッケージ100で一部構成を変形したものである。したがって、重複された説明は、省略される。
図4を参照すれば、第1及び第2半導体チップ320、330は、パッケージ基板110上に積層される。第1半導体チップ320は、接着部材315を利用してパッケージ基板110上に付着される。第2半導体チップ330は、接着部材325を利用して第1半導体チップ320上に付着される。
第1ワイヤ340aは、パッケージ基板110に付着されたボール343から第1半導体チップ320に伸びうる。第2ワイヤ340bは、パッケージ基板110に付着されたボール343から第2半導体チップ330に伸びうる。第1及び第2ワイヤ340a、340bは、バンプ逆方向ボンディング方法によって形成される。このように、バンプ逆方向ボンディングを利用すれば、第1及び第2ワイヤ340a、340bのループ高さが高まりうる。第1及び第2絶縁性ビード345a、345bは、図2の第1及び第2絶縁性ビード145a、145bを参照しうる。
第1ワイヤ340aは、パッケージ基板110に付着されたボール343から第1半導体チップ320に伸びうる。第2ワイヤ340bは、パッケージ基板110に付着されたボール343から第2半導体チップ330に伸びうる。第1及び第2ワイヤ340a、340bは、バンプ逆方向ボンディング方法によって形成される。このように、バンプ逆方向ボンディングを利用すれば、第1及び第2ワイヤ340a、340bのループ高さが高まりうる。第1及び第2絶縁性ビード345a、345bは、図2の第1及び第2絶縁性ビード145a、145bを参照しうる。
(第五実施形態)
図5は、本発明の第五実施形態による半導体パッケージ400を示す断面図である。半導体パッケージ400は、図1及び図2の半導体パッケージ100で一部構成を変形したものである。したがって、重複された説明は、省略される。
図5を参照すれば、第1及び第2半導体チップ420、430は、パッケージ基板410上に積層される。図1のパッケージ基板110と異なり、パッケージ基板410は、中央部分に図示しない貫通ホールを有している。第1半導体チップ420は、接着部材415を利用してパッケージ基板410上に付着される。第2半導体チップ430は、接着部材425を利用して第1半導体チップ420上に付着される。第1及び第2半導体チップ420、430のサイズは、同一かまたは異なりうる。
図5は、本発明の第五実施形態による半導体パッケージ400を示す断面図である。半導体パッケージ400は、図1及び図2の半導体パッケージ100で一部構成を変形したものである。したがって、重複された説明は、省略される。
図5を参照すれば、第1及び第2半導体チップ420、430は、パッケージ基板410上に積層される。図1のパッケージ基板110と異なり、パッケージ基板410は、中央部分に図示しない貫通ホールを有している。第1半導体チップ420は、接着部材415を利用してパッケージ基板410上に付着される。第2半導体チップ430は、接着部材425を利用して第1半導体チップ420上に付着される。第1及び第2半導体チップ420、430のサイズは、同一かまたは異なりうる。
第1ワイヤ440aは、第1半導体チップ420下のボール442からパッケージ基板410を貫通してパッケージ基板410の背面に連結される。第2ワイヤ440bは、パッケージ基板410上のボール443から第2半導体チップ430の上面に連結される。第1ワイヤ440aは、バンプ順方向ボンディング方法によって形成され、第2ワイヤ440bは、バンプ逆方向ボンディング方法によって形成される。第1及び第2絶縁性ビード445a、445bは、図2の第1及び第2絶縁性ビード145a、145bを参照しうる。
モルディング部材450は、第1及び第2半導体チップ420、430、及び第2ワイヤ440bを覆うようにパッケージ基板410上に形成され、さらに、第1ワイヤ440aを覆うように貫通ホールを通じてパッケージ基板410下に突出する。
モルディング部材450は、第1及び第2半導体チップ420、430、及び第2ワイヤ440bを覆うようにパッケージ基板410上に形成され、さらに、第1ワイヤ440aを覆うように貫通ホールを通じてパッケージ基板410下に突出する。
図8を参照すれば、本発明の一部の実施形態で、絶縁性ビード845は、ワイヤ840の断面部分を覆い包むようにワイヤ840上に形成される。特に、絶縁性ビード845の外部形状は、実質的に球形でありうる。さらに、ライン846で切り取られた絶縁性ビード845の断面は、図10Aに示したように、実質的に環状を有しうる。特に、図10Aに示された絶縁性ビード845の外部形状847及び内部形状848は、等軸円形でありうる。さらに、内部形状848によって取り囲まれた内部領域は、ワイヤ840によって充填される。しかも、絶縁性ビード845のエッジ付近に位置した断面849は、中心付近での断面より小さい直径を有しうる。
図9を参照すれば、本発明の一部の実施形態で、絶縁性ビード945は、ワイヤ940上に形成され、実質的に、卵形状を有しうる。特に、ワイヤ940上に形成された絶縁性ビード945の卵形状は、ワイヤ940の各断面部分を図10Bに示されたように、卵環状を提供するように取り囲む。さらに、中心部分946で切り取られた卵環状の絶縁性ビード945の断面は、エッジ部分947で切取された卵環状の絶縁性ビード945の断面直径より大きい。
図11を参照すれば、本発明の一部の実施形態で、複数の近接ワイヤ1141は、隣接する複数のワイヤから遠く離隔され、その上に形成された複数の絶縁性ビード1145を有する。近接ワイヤ1141は、絶縁性ビード1145が共に形成されるように相互十分に隣接して配置される。さらに、近接ワイヤ1141のグループは、隣接するグループの近接ワイヤ1141から遠く離隔されたワイヤのグループを限定する。これにより、隣接する近接ワイヤ1141のセット上に形成された絶縁性ビード1145は、他の絶縁性ビード1145から分離される。これにより、図11に示された絶縁性ビード1145は、近接ワイヤ1141のグループのうち一つの内に含まれた全てのワイヤの各断面を取り囲む。
図12は、同じ間隔1249を有するワイヤのグループ1241を表す。絶縁性ビード1245は、グループ1241内のワイヤ1240の各断面を取り囲む。これにより、ワイヤ1240とグループ1241との間隔1249は、絶縁性ビード1245がグループ1241内のワイヤの断面部分のそれぞれを取り囲むように選択される。
図13は、ワイヤ1341の各断面部分を取り囲むように形成された絶縁性ビード1343を有するワイヤ1341を表す。しかも、ワイヤ1341に隣接するものの上に形成された絶縁性ビード1343は、ライン1343、1344によって示されたように、ワイヤを横切ってジグザグパターンを限定するように相互オフセット配置される。
図14は、本発明の一部の実施形態で、メモリ素子を含むメモリカード700を概略的に表す。制御機710は、メモリ720の動作を含んでメモリカード700の全体的な動作を制御しうる。メモリ720は、制御機710からの命令に対応してデータを保存し、取り出すように構成される。しかも、メモリ720は、本発明の実施形態による半導体パッケージを含みうる。
このようなカード700は、マルチメディアカード(Multi Media Card:MMC)、保安デジタル(Secure Digital:SD)カード、またはメモリスチックのようなメモリ装置に利用される。
図15は、本発明の実施形態による電子システム800を概略的に表す。プロセッサ810は、メモリ820、入出力装置830、及び不揮発性メモリ835(NVM:Non−Volatile Memory)に結合されたバス840を通じて電子システム800の全体的な動作を制御する。メモリ820及びNVM835は、前述した実施形態による半導体パッケージを含みうる。
図15は、本発明の実施形態による電子システム800を概略的に表す。プロセッサ810は、メモリ820、入出力装置830、及び不揮発性メモリ835(NVM:Non−Volatile Memory)に結合されたバス840を通じて電子システム800の全体的な動作を制御する。メモリ820及びNVM835は、前述した実施形態による半導体パッケージを含みうる。
例えば、このような電子システム800は、モバイルホーン、MP3プレイヤ、ナビゲーション、固状ディスク(Solid State Disk:SSD)または家電製品に利用される。
図16から図18は、本発明の一実施形態による半導体パッケージの製造方法を示す断面図である。
図16を参照すれば、パッケージ基板110上に第1半導体チップ120及び第2半導体チップ130を積層しうる。例えば、第1半導体チップ120は接着部材115を利用してパッケージ基板110上に付着され、第2半導体チップ130は接着部材125を利用して第1半導体チップ120上に付着されうる。第1半導体チップ120及び第2半導体チップ130の付着は、ダイアタッチ装置を利用しうる。
図16を参照すれば、パッケージ基板110上に第1半導体チップ120及び第2半導体チップ130を積層しうる。例えば、第1半導体チップ120は接着部材115を利用してパッケージ基板110上に付着され、第2半導体チップ130は接着部材125を利用して第1半導体チップ120上に付着されうる。第1半導体チップ120及び第2半導体チップ130の付着は、ダイアタッチ装置を利用しうる。
第1ワイヤ140aは、第1半導体チップ120及びパッケージ基板110を電気的に連結するように、その両端が第1半導体チップ120及びパッケージ基板110にボンディングされる。第2ワイヤ140bは、第2半導体チップ130及びパッケージ基板110を電気的に連結するように、その両端が第2半導体チップ130及びパッケージ基板110にボンディングされる。この実施形態で、第1及び第2ワイヤ140a、140bは、バンプ順方向ボンディング方法を利用して形成される。しかしながら、第1及び第2ワイヤ140a、140bは、図4に示したように、バンプ逆方向ボンディング方法を利用して形成されるか、または図5に示したように、バンプ順方向ボンディングとバンプ逆方向ボンディングとを混用して形成されることもある。
図17を参照すれば、第1及び第2ワイヤ140a、140bをひと回り取り囲み、第1及び第2ワイヤ140a、140bに沿ってそれぞれ離隔配置された第1及び第2絶縁性ビード145a、145bを形成しうる。例えば、第1及び第2絶縁性ビード145a、145bは、次のような方法で形成しうる。
まず、第1及び第2ワイヤ140a、140bの表面を前処理しうる。前処理工程で、第1及び第2ワイヤ140a、140bの表面が洗浄され、その結果、第1及び第2ワイヤ140a、140bの湿潤特性が改善される。例えば、前処理は、プラズマ処理を含みうる。プラズマ処理は、例えば、アルゴン(Ar)、または窒素(N2)ガスのプラズマを利用しうる。例えば、プラズマ処理は、数十ないし数百ワットのパワーで、数十ないし数百秒間進められる。他の例として、前処理は、湿式洗浄を含み、それ以外にも、多様な洗浄方法を含みうる。
まず、第1及び第2ワイヤ140a、140bの表面を前処理しうる。前処理工程で、第1及び第2ワイヤ140a、140bの表面が洗浄され、その結果、第1及び第2ワイヤ140a、140bの湿潤特性が改善される。例えば、前処理は、プラズマ処理を含みうる。プラズマ処理は、例えば、アルゴン(Ar)、または窒素(N2)ガスのプラズマを利用しうる。例えば、プラズマ処理は、数十ないし数百ワットのパワーで、数十ないし数百秒間進められる。他の例として、前処理は、湿式洗浄を含み、それ以外にも、多様な洗浄方法を含みうる。
次いで、第1及び第2ワイヤ140a、140bの表面に絶縁性液体を噴射させうる。噴射された絶縁性液体は、第1及び第2ワイヤ140a、140bの表面に球形または卵形にぶら下がる。特に、前述した前処理工程を経た場合、第1及び第2ワイヤ140a、140bの表面と絶縁性液体との間の表面張力が減少し、絶縁性液体の載置率が高まり、したがって、絶縁性液体が第1及び第2ワイヤ140a、140bの断面部分を覆い包むように配される。
例えば、絶縁性液体の噴射は、空気噴射または超音波発振を利用しうる。絶縁性液体は、適切な粘度を有する高分子樹脂から第1及び第2ワイヤ140a、140bの表面に噴射される。噴射される空気または超音波発振の強度は、絶縁性液体の載置率を高めるために適切に制御される。絶縁性液体の一部は、パッケージ基板110、第1半導体チップ120及び第2半導体チップ130の表面にも噴射される。
例えば、絶縁性液体は、ベース樹脂、硬化促進剤、接着力増進剤及び溶媒を含むポリマーを含みうる。例えば、ベース樹脂は、ポリイミド樹脂、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂またはシリコン系樹脂を含みうる。接着力増進剤は、第1及び第2絶縁性ビード145a、145bがパッケージ基板110、第1ワイヤ140a及び第2ワイヤ140bによく付着されるように手助けしうる。
溶媒は、絶縁性液体の粘度を調節するために高分子樹脂に含まれる。絶縁性液体の粘度が低くなれば、第1及び第2絶縁性ビード145a、145bの均一性が良くなるが、その粘度が過度に低くなれば、絶縁性液体が第1及び第2ワイヤ140a、140bの表面に付着され難くなる。絶縁性液体の粘度が高いほど第1及び第2絶縁性ビード145a、145bのサイズが大きくなりうるが、その粘度が過度に高くなれば、第1及び第2絶縁性ビード145a、145bの均一性が悪くなる。絶縁性液体は、数十から数百cpsの範囲の粘度を有することができ、例えば、10から500cps、望ましくは、30から100cpsの範囲を有しうる。この場合、有機溶媒の含量は、全体含量の50%以内に制御される。
次いで、絶縁性液体を1次硬化させうる。絶縁性液体の1次硬化は、熱または紫外線を単独に利用するか、またはこれらを混用して利用しうる。1次硬化工程で、溶媒が除去される。したがって、溶媒の揮発温度は、液体粒子の硬化温度より低い。例えば、エポキシ系樹脂は、約70℃内外で硬化され、ポリイミド樹脂は、約200℃内外で硬化される。1次硬化工程で、絶縁性液体は、完全に硬化されるが、部分的に硬化されることもある。
図18を参照すれば、第1及び第2半導体チップ120、130、及び第1及び第2ワイヤ140a、140bを覆うように、モルディング部材150をパッケージ基板110上に形成しうる。例えば、モルディング部材150は、成形金型内にパッケージ基板110を配置し、成形金型内に成形樹脂、例えば、エポキシモルディングコンパウンドを注入し、硬化させて形成しうる。
この場合、成形樹脂の流れにもかかわらず、第1及び第2絶縁性ビード145a、145bは、前述した1次硬化工程によって第1及び第2ワイヤ140a、140bに固定される。
次いで、モルディング部材150を硬化しうる。モルディング部材150の硬化の間に、第1及び第2絶縁性ビード145a、145bは、2次硬化される。モルディング部材150の硬化は、熱または紫外線を利用しうる。
次いで、パッケージ基板110の背面に導電性バンプ160を形成しうる。例えば、導電性バンプ160はソルダリング方法を利用して形成されうる。
次いで、モルディング部材150を硬化しうる。モルディング部材150の硬化の間に、第1及び第2絶縁性ビード145a、145bは、2次硬化される。モルディング部材150の硬化は、熱または紫外線を利用しうる。
次いで、パッケージ基板110の背面に導電性バンプ160を形成しうる。例えば、導電性バンプ160はソルダリング方法を利用して形成されうる。
図16から図18では、図2の半導体パッケージ100の製造方法を例示的に説明したが、このような製造方法は、図3から図5の半導体パッケージ200、300、400にも容易に適用されることは自明である。
図19は、前述した絶縁性ビード形成するために使われる絶縁性物質と関連したパラメータを例示的に提供するテーブルである。特に、図19は、モデルME−7700と称されたダウコーニング社から利用可能な物質と関連したパラメータを示す。絶縁性ビードの形成のための例示的なプロセスで、300ワットで約30秒間のアルゴンプラズマ処理が提供され、ダウコーニングモデルME−7700を基板上に約4+/−1mmの高さで約1から20Mpaの圧力で約3+/−0.5mg噴射した。
図19は、前述した絶縁性ビード形成するために使われる絶縁性物質と関連したパラメータを例示的に提供するテーブルである。特に、図19は、モデルME−7700と称されたダウコーニング社から利用可能な物質と関連したパラメータを示す。絶縁性ビードの形成のための例示的なプロセスで、300ワットで約30秒間のアルゴンプラズマ処理が提供され、ダウコーニングモデルME−7700を基板上に約4+/−1mmの高さで約1から20Mpaの圧力で約3+/−0.5mg噴射した。
このようなパラメータは、ワイヤの厚さより大きい約3ミクロンから、絶縁性ビードがその上に形成されたワイヤの厚さより大きい40ミクロンの間でその厚さが変わるワイヤ上に絶縁性ビードを形成するために利用される。さらに、前述したプロセスは、同じワイヤ上に形成された絶縁性ビードに隣接するものの間の距離が約200ミクロンである絶縁性ビードの形成に利用される。
図20は、本発明の一実験例による半導体パッケージを示す写真である。図21は、図20の半導体パッケージの一部分を拡大して示す写真である。図22は、図20の半導体パッケージの一部ワイヤの断面を示す写真である。図23は、図20の半導体パッケージのワイヤを示す写真である。図20から図23の半導体パッケージで、前処理は、アルゴンプラズマを利用した。
図20を参照すれば、パッケージ基板510上に第1半導体チップ520及び第2半導体チップ530が積層されている。複数のワイヤ540の両端は、第2半導体チップ530及びパッケージ基板510にボンディングされている。これにより、第2半導体チップ530及びパッケージ基板510がワイヤ540によって電気的に連結される。複数の絶縁性ビード545は、ワイヤ540の断面部分を取り囲み、ワイヤ540に沿って離隔配置された。
図21を参照すれば、ワイヤ540の長さが長く、ワイヤ540が第1半導体チップ520上に伸びている。しかしながら、この場合にも、ワイヤ540を覆い包んでいる絶縁性ビード545がワイヤ540及び第1半導体チップ520の直接的な接触を防止している。したがって、ワイヤ540の長さが長くなっても、第1半導体チップ520及びワイヤ540の直接的な接触による電気的な断線を防止しうる。第1半導体チップ520は、その表面に外部端子を有し、このような外部端子とワイヤ540とが直接接触すれば、誤動作が誘発される。
図22及び図23を参照すれば、ワイヤ540が近接して配置された場合にも、絶縁性ビード545がワイヤ540を相互絶縁させるということが分かる。また、ワイヤ540の表面に絶縁性ビード545が連続して形成されなくても、ワイヤ540の絶縁効率が高いということが分かる。したがって、絶縁性ビード545は、ワイヤ540を覆い包みながら任意の個数でワイヤ540に沿って配される。
また、絶縁性ビード545の相当数がワイヤ540をひと回り覆い包んでいるため、ワイヤ540の水平ピッチまたは垂直ピッチが何れも減少する。したがって、ワイヤ540を水平にまたは垂直に近接配置しうる。このような構造は、マルチチップパッケージ(MCP:Multi Chip Package)に非常に有利である。
図24は、本発明の他の実験例による半導体パッケージでのワイヤを示す写真である。
図24を参照すれば、絶縁性ビード545aがワイヤ540aの断面部分を覆い包んでおり、球形または卵形を有する。絶縁性ビード545aは、図23の絶縁性ビード545に比べて丸い形を有しうる。これは、絶縁性ビード545aを形成するためのポリマーの粘性が、図23の絶縁性ビード545を形成するためのポリマーの粘性より大きいためである。したがって、ポリマーの粘性を調節すれば、絶縁性ビード545aの形を多様に制御しうるということが分かる。
図24を参照すれば、絶縁性ビード545aがワイヤ540aの断面部分を覆い包んでおり、球形または卵形を有する。絶縁性ビード545aは、図23の絶縁性ビード545に比べて丸い形を有しうる。これは、絶縁性ビード545aを形成するためのポリマーの粘性が、図23の絶縁性ビード545を形成するためのポリマーの粘性より大きいためである。したがって、ポリマーの粘性を調節すれば、絶縁性ビード545aの形を多様に制御しうるということが分かる。
前述した図20から図24の場合に、バンプ順方向ボンディングまたはバンプ逆方向ボンディングに関係なく、不良は全く発生しなかった(0%)。したがって、絶縁性ビード545、545aがワイヤスイーピング程度に関係なく、効果的にワイヤ540、540a間の電気的な断線を防止するということが分かる。
発明の特定の実施形態についての以上の説明は、例示及び説明を目的として提供された。したがって、本発明は、前記実施形態に限定されず、本発明の技術的思想内で当業者によって前記実施形態を組み合わせて実施するなど色々な多くの修正及び変更が可能である。
本発明は、電子製品関連の技術分野に適用可能である。
100:半導体パッケージ、110:パッケージ基板、115:接着部材、120:半導体チップ、140:ワイヤ、145:絶縁性ビード、150:モルディング部材、160:導電性バンプ。
Claims (28)
- パッケージ基板と、
前記パッケージ基板上に積層された少なくとも一つの半導体チップと、
前記少なくとも一つの半導体チップと前記パッケージ基板とを電気的に連結する少なくとも一本のワイヤと、
前記少なくとも一本のワイヤ上に前記少なくとも一本のワイヤの断面部分を覆い包むように配される複数の絶縁性ビードと、を備えることを特徴とする半導体パッケージ。 - 前記複数の絶縁性ビードは、前記少なくとも一本のワイヤ上に相互離隔されて配されることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
- 前記複数の絶縁性ビードの断面部分は、環状を有することを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
- 前記複数の絶縁性ビードの断面直径は、中心からエッジに行くほど短くなることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
- 前記複数の絶縁性ビードの外形は、実質的に球形であることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
- 前記複数の絶縁性ビードの外形は、実質的に卵形であることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
- 前記複数の絶縁性ビードは、前記少なくとも一本のワイヤに沿って実質的に同一距離及び同一間隔を有するように配されることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
- 前記複数の絶縁性ビードの断面中心の厚さは、実質的に同じであることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
- 前記少なくとも一本のワイヤは、相互隣接する第1ワイヤ及び第2ワイヤを備え、前記複数の絶縁性ビードのそれぞれは、前記第1及び第2ワイヤの隣接断面部分を取り囲むことを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
- 前記第1及び第2ワイヤは、ワイヤのグループを含み、前記グループ内で前記ワイヤ間の間隔は、前記グループと直ぐ隣接したグループのワイヤ間の間隔より小さいことを特徴とする請求項9に記載の半導体パッケージ。
- 前記複数の絶縁性ビードは、ポリイミド樹脂、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂またはシリコン系樹脂が硬化したものであることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
- 前記少なくとも一つの半導体チップは、
第1半導体チップと、
前記第1半導体チップ上の第2半導体チップと、を備え、
前記少なくとも一本のワイヤは、
前記第1半導体チップにカップリングされた第1ワイヤと、
前記第2半導体チップにカップリングされた第2ワイヤと、を含み、
前記複数の絶縁性ビードは、前記第1及び第2ワイヤのそれぞれの断面部分を覆い包むことを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。 - 前記第1及び第2ワイヤは、順方向−バンプまたは逆方向−バンプを利用して、前記第1及び第2半導体チップのそれぞれと前記パッケージ基板との間にカップリングされることを特徴とする請求項12に記載の半導体パッケージ。
- 電子システムの動作を制御するように構成されたプロセッサと、
前記プロセッサに電気的に結合され、前記プロセッサと外部システムとの通信を提供するように構成されたインターフェースと、
前記プロセッサに電気的に結合され、少なくとも一つのメモリ素子を含むメモリとを含み、
前記少なくとも一つのメモリ素子は、
パッケージ基板上に積層された少なくとも一つの半導体チップと、
前記少なくとも一つの半導体チップと前記パッケージ基板とを電気的に連結する少なくとも一本のワイヤと、
前記少なくとも一本のワイヤ上に前記少なくとも一本のワイヤの断面部分を覆い包むように配された複数の絶縁性ビードと、を備えることを特徴とする電子システム。 - メモリカードの動作を制御するための制御機と、
前記制御機に電気的に結合され、少なくとも一つのメモリ素子を含むメモリを含み、前記少なくとも一つのメモリ素子は、
パッケージ基板上に積層された少なくとも一つの半導体チップと、
前記少なくとも一つの半導体チップと前記パッケージ基板とを電気的に連結する少なくとも一本のワイヤと、
前記少なくとも一本のワイヤ上に前記少なくとも一本のワイヤの断面部分を覆い包むように配された複数の絶縁性ビードと、を備えることを特徴とするメモリカード。 - パッケージ基板上に少なくとも一つの半導体チップを積層する工程と、
前記少なくとも一つの半導体チップ及び前記パッケージ基板を少なくとも一本のワイヤを利用して電気的に連結する工程と、
前記少なくとも一本のワイヤ上に前記少なくとも一本のワイヤの断面部分を覆い包む複数の絶縁性ビードを形成する工程と、を含むことを特徴とする半導体パッケージの製造方法。 - 前記複数の絶縁性ビードを形成する工程は、
表面張力を減らすために前記少なくとも一本のワイヤの表面を前処理する工程と、
前記少なくとも一本のワイヤの表面に絶縁性液体を噴射させる工程と、
前記絶縁性液体を硬化させる工程と、を含むことを特徴とする請求項16に記載の半導体パッケージの製造方法。 - 前記前処理は、アルゴン(Ar)または窒素(N2)を利用したプラズマ処理を含むことを特徴とする請求項17に記載の半導体パッケージの製造方法。
- 前記前処理は、湿式洗浄を含むことを特徴とする請求項17に記載の半導体パッケージの製造方法。
- 前記絶縁性液体は、ベース樹脂、吸着強化剤、硬化性触媒及び溶媒を含むポリマーを含むことを特徴とする請求項17に記載の半導体パッケージの製造方法。
- 前記ベース樹脂は、ポリイミド樹脂、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂またはシリコン系樹脂を含むことを特徴とする請求項20に記載の半導体パッケージの製造方法。
- 前記溶媒は、前記ポリマーの質量を基準に50%未満の有機溶媒を含むことを特徴とする請求項20に記載の半導体パッケージの製造方法。
- 前記絶縁性液体を噴射させる工程は、空気噴射を利用することを特徴とする請求項17に記載の半導体パッケージの製造方法。
- 前記絶縁性液体を噴射させる工程は、超音波発振を利用することを特徴とする請求項17に記載の半導体パッケージの製造方法。
- 前記絶縁性液体を硬化させる工程は、熱または紫外線を利用することを特徴とする請求項17に記載の半導体パッケージの製造方法。
- 前記少なくとも一つの半導体チップ及び前記少なくとも一本のワイヤを覆うモルディング部材を形成する工程と、
前記モルディング部材を硬化させる工程と、をさらに含むことを特徴とする請求項17に記載の半導体パッケージの製造方法。 - 前記モルディング部材が硬化する間に、前記絶縁性液体は、2次硬化することを特徴とする請求項26に記載の半導体パッケージの製造方法。
- 前記絶縁性液体は、前記少なくとも一本のワイヤに付着するように10から500cps範囲の粘度を有することを特徴とする請求項17に記載の半導体パッケージの製造方法。
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