JP2008288271A - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】半導体基板10上には、入射光に応じた画像信号を生成する画素エリア11が形成されている。画素エリア11の外周の半導体基板10上には、画素エリア11の近傍に遮光層スリット16を有し、入射光を遮光する遮光層14a,14bが形成されている。画素エリア11内、遮光層14a,14b上及び遮光層スリット16内には、パッシベーション膜15が形成されている。遮光層スリット16内及び画素エリア11内のパッシベーション膜15上には、コーティング層17が形成されている。さらに、画素エリア11内のコーティング層17上には、マイクロレンズ18が形成されている。
【選択図】 図1
Description
Claims (5)
- 半導体基板上に形成され、入射光に応じた画像信号を生成する画素エリアと、
前記画素エリアの外周の前記半導体基板上に形成され、前記画素エリアの近傍にスリットを有し、前記入射光を遮光する遮光層と、
前記画素エリア内、前記遮光層上及び前記スリット内に形成されたパッシベーション膜と、
前記遮光層が有する前記スリット内及び前記画素エリア内の前記パッシベーション膜上に形成されたコーティング層と、
前記画素エリア内の前記コーティング層上に形成されたマイクロレンズと、
を具備することを特徴とする半導体装置。 - 半導体基板上に形成され、入射光に応じた画像信号を生成する画素エリアと、
前記画素エリアが形成された前記半導体基板上に形成された配線層と、
前記配線層を覆うように、前記半導体基板上に形成された層間絶縁膜と、
前記画素エリアの外周の前記層間絶縁膜上に形成され、前記画素エリアの近傍にスリットを有し、前記入射光を遮光する遮光層と、
前記画素エリア内、前記遮光層上及び前記スリット内に形成されたパッシベーション膜と、
前記遮光層が有する前記スリット内及び前記画素エリア内の前記パッシベーション膜上に形成されたコーティング層と、
前記画素エリア内の前記コーティング層上に形成されたマイクロレンズと、
を具備することを特徴とする半導体装置。 - 前記遮光層が有する前記スリットは、前記画素エリアを囲むように形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の半導体装置。
- 半導体基板上に形成され、入射光に応じた画像信号を生成する画素エリアと、
前記画素エリアが形成された前記半導体基板上に形成された配線層と、
前記配線層を覆うように、前記半導体基板上に形成された層間絶縁膜と、
前記画素エリアを囲むように形成された第1の遮光層と、
前記第1の遮光層に離間して設けられ、前記第1の遮光層を囲むように形成された第2の遮光層と、
前記画素エリア内、前記第1の遮光層上、前記第2の遮光層上、及び前記第1の遮光層と前記第2の遮光層間に形成されたパッシベーション膜と、
前記第1の遮光層と前記第2の遮光層間の前記パッシベーション膜上、及び前記画素エリア内の前記パッシベーション膜上に形成されたコーティング層と、
前記画素エリア内の前記コーティング層上に形成されたマイクロレンズと、
を具備することを特徴とする半導体装置。 - 前記遮光層は、多層に形成されたメタル配線層のうち、最上層のメタル配線層で形成されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の半導体装置。
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