JP2008241420A - 表面性状測定装置、表面性状測定方法及び表面性状測定プログラム - Google Patents

表面性状測定装置、表面性状測定方法及び表面性状測定プログラム Download PDF

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Abstract

【課題】測定の高速化を図った表面性状測定装置、表面性状測定方法及び表面性状測定プログラムを提供することが可能である。
【解決手段】ワーク表面31aにプローブ17を追従させて、プローブ17先端の接触子17aと被測定物表面31aとの接触を検出しワーク表面31aの性状を測定する表面性状測定装置であって、接触子17aを移動させる経路の始点と終点との間を複数の区間に分割する経路情報分割部51bと、複数の区間毎に経路情報に基づき終点から始点へと区間毎に接触子17aの移動速度を算出する移動速度算出部41aaと、移動速度算出部41aaにて移動速度を算出済みの区間において接触子17aを移動させる接触子移動制御部41abとを備える。
【選択図】図2

Description

本発明は、接触子を用いて変位測定を行う三次元測定機などの表面性状測定装置、表面性状測定方法及び表面性状測定プログラムに関する。
従来より、測定対象物表面にて接触子を走査して、測定対象物表面への接触子による接触に基づき、測定対象物の表面性状を測定する表面性状測定装置が知られている(例えば、特許文献1)。この表面性状測定装置は、例えば、三次元測定機、二次元測定機等である。
一般に、表面性状測定装置においては、予め走査する経路を定めて測定する、所謂「倣い測定」が行われる。例えば、倣い測定に用いられる経路は、単独の直線、単独の円、単独の円弧、又は連続する直線、円弧を含む形状等である。なお、上述した円や円弧は、完全な円形状でなくとも、接触子の変位可能な範囲内にて円形状に近似処理可能な測定物であれば、倣い測定が可能である。
特開平8−178646号公報
しかしながら、上述した直線と円を用いる倣い測定において、接触子の走査速度の決定は、倣わせる経路の終端の位置で停止することを条件として、終端から経路を辿る方式を採用している。つまり、全経路に関する情報を一度に処理する必要があり、その処理時間中は測定を開始できず、測定に時間を要する。
本発明は、このような問題を鑑みてなされたものであって、測定の高速化を図った表面性状測定装置、表面性状測定方法及び表面性状測定プログラムを提供することを目的とする。
本発明に係る表面性状測定装置は、被測定物表面にプローブを追従させて、前記プローブ先端の接触子と前記被測定物表面との接触を検出し前記被測定物表面の性状を測定する表面性状測定装置であって、前記接触子を移動させる経路の始点と終点との間を複数の区間に分割する経路分割部と、前記複数の区間毎の前記経路の情報に基づき、前記始点から前記終点へと前記区間毎に順番に前記接触子の移動速度を算出する移動速度算出部と、当該移動速度算出部にて移動速度を算出済みの区間において前記接触子を移動させる接触子移動制御部とを備えることを特徴とする。
また、前記経路の一部または全部が自由曲線で構成されていてもよい。
前記移動速度算出部は、前記区間のうち前記接触子を移動中の第1区間にて前記接触子が移動を終えるまでに、前記第1区間より先の第2区間の移動速度の計算が間に合うか否かを判断し、間に合うと判断した場合、前記第1区間の終点における移動速度と同一となるように前記第2区間の始点における移動速度を算出し、間に合わないと判断した場合、前記第1区間の終点の移動速度を0に変更すると共に前記第2区間の始点の移動速度を0として算出する構成としても良い。
前記移動速度算出部は、複数の前記区間を一単位とした区間群の情報をまとめて取り込んで移動速度を算出する構成としてもよい。
前記移動速度算出部は、前記区間群のうち前記接触子を移動中の第1区間群に含まれる最後の区間に前記接触子が移動するまでに、前記第1区間群より先の第2区間群の移動速度の計算が間に合うか否かを判断し、間に合うと判断した場合、前記第1区間群の最後の区間の終点における移動速度と同一となるように前記第2区間群の最初の区間の始点における移動速度を算出し、間に合わないと判断した場合、前記第1区間群の終点の移動速度が0となるように前記第1区間群の最後の区間の移動速度を変更すると共に前記第2区間群の始点の移動速度を0として算出する構成としてもよい。
前記移動速度算出部は、前記経路情報の曲率に基づき移動速度を算出する構成としてもよい。
また、本発明に係る表面性状測定方法は、コンピュータにより、被測定物表面にプローブを追従させて、前記プローブ先端の接触子と前記被測定物表面との接触を検出し前記被測定物表面の性状を測定する表面性状測定方法であって、前記接触子を移動させる経路の始点と終点との間を複数の区間に分割する経路分割ステップと、前記複数の区間毎の前記経路の情報に基づき、前記始点から前記終点へと前記区間毎に順番に前記接触子の移動速度を算出する移動速度算出ステップと、当該移動速度算出ステップにて移動速度を算出済みの区間において前記接触子を移動させる接触子移動制御ステップとを備えることを特徴とする。
また、本発明に係る表面性状測定プログラムは、被測定物表面にプローブを追従させて、前記プローブ先端の接触子と前記被測定物表面との接触を検出し前記被測定物表面の性状を測定させる表面性状測定プログラムであって、コンピュータに、前記接触子を移動させる経路の始点と終点との間を複数の区間に分割する経路分割ステップと、前記複数の区間毎の前記経路の情報に基づき、前記始点から前記終点へと前記区間毎に順番に前記接触子の移動速度を算出する移動速度算出ステップと、当該移動速度算出ステップにて移動速度を算出済みの区間において前記接触子を移動させる接触子移動制御ステップとを実行させるためのものである。
本発明によれば、測定の高速化を図った表面性状測定装置、表面性状測定方法及び表面性状測定プログラムを提供することが可能である。
次に、添付図面に基づいて、本発明の一実施形態について説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係る表面性状測定装置の概略構成を示す斜視図である。この表面性状測定装置は、三次元測定機1と、コンピュータ2とから構成されている。コンピュータ2は、三次元測定機1を駆動制御して必要な測定値を取り込むと共に形状処理に必要な演算処理を実行するものである。
三次元測定機1は、例えば図1に示すように構成されており、除震台10の上には、定盤11がその上面をベース面として水平面と一致するように載置され、この定盤11の両端側から立設されたビーム支持体12a,12bの上端でX軸方向に延びるビーム13を支持している。ビーム支持体12aは、その下端がY軸駆動機構14によってY軸方向に駆動される。また、ビーム支持体12bは、その下端がエアーベアリングによって定盤11にY軸方向に移動可能に支持されている。ビーム13は、垂直方向(Z軸方向)に延びるコラム15を支持する。コラム15は、ビーム13に沿ってX軸方向に駆動される。コラム15には、スピンドル16がコラム15に沿ってZ軸方向に駆動されるように設けられている。スピンドル16の下端には、接触式のプローブ17が装着されている。また、プローブ17の先端には、任意形状、例えば円球形状の接触子(チップ)17aが形成されている。この接触子17aが、定盤11上に載置されたワーク31のワーク表面31aに接触したときに、接触信号が出力され、そのときの接触子17aの基準位置のXYZ座標値をコンピュータ2が取り込むようになっている。
コンピュータ2は、コンピュータ本体21、キーボード22、マウス23、CRT24及びプリンタ25を備えて構成されている。
図2は、三次元測定機1及びコンピュータ2の構成を示した装置全体のブロック図である。
図2に示すように、三次元測定機1は、コントローラ41と、プローブ17を駆動するXYZ軸駆動部42と、プローブ17と、プローブ17先端の接触子17aの接触に基づく信号を検出するXYZ軸エンコーダ43と、A/D変換器44とを備える。接触子17aのワーク31との接触による接触信号は、A/D変換器44を介して、コンピュータ本体21に供給され、メモリ52に一時的に格納される。
コントローラ41は、XYZ軸駆動部42を制御するCPU(Central Processing Unit)41aと、プログラム記憶部41bとから構成されている。プログラム記憶部41bは、例えば、HDD(Hard Disk Drive)等であり、三次元測定に用いられるプログラムを記憶する機能を有している。CPU41aは、プログラム記憶部41bからプログラムを読み出し、XYZ軸エンコーダ42を制御する。CPU41aは、読み出したプログラムを実行し、移動速度算出部41aa、接触子移動制御部41abとして機能する。
移動速度算出部41aaは、コンピュータ2から受け取った経路情報(後述する分割PCC曲線群等)に基づき、複数の区間毎に始点側から順に接触子17aの移動速度を算出する機能を有している。接触子移動制御部41abは、移動速度算出部41aaにて移動速度を算出済みの区間において接触子17aを算出された移動速度で移動させる機能を有している。
コンピュータ本体21は、制御の中心をなすCPU51と、このCPU51に接続されるメモリ52と、プログラム記憶部53と、ワークメモリ54と、測定データ及びパートプログラムの実行画面等をCRT24に表示するための表示制御部55と、インタフェース(I/F)56〜58とにより構成されている。
CPU51は、キーボード22及びマウス23から入力されるオペレータの指示情報(入力情報)を、インタフェース56を介して受け付ける。また、CPU51は、XYZエンコーダ43で検出され、A/D変換器44でデジタル変換されたXYZ座標(入力情報)をメモリ52を介して受け付ける。CPU51は、これらの入力情報、オペレータの指示及びプログラム記憶部53に格納されたプログラムに基づいて、XYZ軸駆動部42によるステージ移動、ワーク31の測定値の解析処理などを実行する。
また、CPU51は、読み出したプログラムにより、経路情報変換部51a、経路情報分割部51b、経路情報出力部51cとして機能する。
経路情報変換部51aは、外部のCADシステム(図示せず)よりインタフェース58を介して受け付けたワーク31の設計値(NURBS(Non-Uniform Rational B-Spline:非一様有理Bスプライン)データ)をPCC(Parametric Cubic Curves)曲線群等の経路情報に変換する機能を有する。経路情報分割部51bは、PCC曲線群を複数の区間に分割した分割PCC曲線群を生成する機能を有する。経路情報出力部51cは、分割PCC曲線群をコントローラ41へ出力する機能を有する。
プログラム記憶部53に記憶されたプログラムとは、ワーク31の測定経路となる経路情報がプログラムされたパートプログラム、その他、経路情報変換部51a、経路情報分割部51b、経路情報出力部51cを実現させるプログラム等である。
上述したCPU51、及びプログラム記憶部53が、設計値データに基づく経路情報を複数区間に分割して生成した分割経路情報をコントローラ41へ出力するデータ制御部59として機能する。
ワークメモリ54は、CPU51の各種処理のための作業領域を提供する。プリンタ25は、三次元測定機1の測定結果等をインタフェース57を介して印刷するためのものである。
次に、図3のフローチャートを参照して、データ制御部59におけるデータ制御処理について説明する。
先ず、経路情報変換部53aは、外部のCADシステム(図示せず)より経路情報が記載されたNURBSデータ等を受け付ける(ステップS101)。続いて、経路情報変換部53aは、受け付けたNURBSデータをPCC曲線群に変換する(ステップS102)。
ここで、図4及び図5を参照して、PCC曲線群への変換の概要について説明する。図4に示すように制御点の座標値とパラメータを有するNURBSデータにより、ワーク31の形状をNURBS曲線、NURBS曲面で表現可能である。さらに、直線や平面であってもNURBSデータで表現可能であるので、ワーク31の全体形状をNURBSデータで一括表現可能である。従って、曲線、円弧、直線を含んだ接触子17aの移動の経路情報をNURBSデータで一括表現して、このNURBSデータに基づいてPCC曲線を生成可能である。経路情報となるPCC曲線群は、NURBS曲線を、その法線方向にオフセットさせたものとなる。ここで、オフセット量は、接触子17aの半径とする。このPCC曲線群上を接触子17aの球の中心が通過するようにCPU41により制御が行われる。
PCC曲線群とは、図5に示すように、曲線Lを複数の点Pによりセグメント毎に分けて表現したものである。各セグメントが、1つのPCC曲線を形成し、このセグメント(PCC曲線)の集合がPCC曲線群を形成する。また、PCC曲線群を、複数のPCC曲線の集合に分割したものを分割PCC曲線群と呼ぶ。PCC曲線群は、複数のPCC曲線からなる。PCC曲線群において、前のセグメント(PCC曲線)の終了点が、次のセグメント(PCC曲線)の開始点となる。ここで、任意のPCC曲線の開始点の座標を(KX0、KY0、KZ0)とし、そのPCC曲線における始点と終点との間の直線の長さをDとする。このように定義すると、PCC曲線上の任意の位置における座標{X(S)、Y(S)、Z(S)}は、以下に示す式(1)で表される。
Figure 2008241420
ステップS102において、各PCC曲線は、代表される曲率がほぼ一様になるように生成される。すなわち、基本条件として、直線に近い部分は、極力一つのPCC曲線に、また曲率が小さい円弧状の部分も、極力一つのPCC曲線を割り当てるようにする。このような条件のもと生成したPCC曲線群は、図6に示すようなものとなる。図6は、PCC曲線群及び後述する速度曲線の対応関係を示す図である。図6には、始点と終点が規定されたPCC曲線群が示されている。符号[1]〜符号[13]は、PCC曲線群中の一つのPCC曲線を示している。符号<1>〜<13>は、それぞれPCC曲線[1]〜[13]毎に算出された速度曲線を示している。
再び図3を参照して、データ制御部59におけるデータ制御処理について説明する。経路情報変換部51aにより、NURBSデータを各PCC曲線の集合であるPCC曲線群に変換(ステップS102)した後、経路情報分割部51bは、PCC曲線群を分割して分割PCC曲線群(1)〜(M)を生成する(ステップS103)。各分割PCC曲線群(i)(i=1〜M)は、後述するバッファ容量Rを考慮してPCC曲線群を複数(M個)に分割したものであり、複数のPCC曲線の集合からなる。
次に、経路情報出力部51cは、一番目の分割PCC曲線群(1)を選択可能となるように設定を初期化する(ステップS104)。続いて、経路情報出力部51cは、測定を開始する測定開始信号と整数M(分割PCC曲線群の総数)とをコントローラ41へ出力する(ステップS105)。
次に、経路情報出力部51cは、設定した分割PCC曲線群(i)をコントローラ41へ出力する(ステップS106)。続いて、経路情報出力部51cは、i=Mであるか否かを判断する(ステップS107)。ここで、経路情報出力部51cは、i=Mでない場合(ステップS107、N)、iに1を加算(i=i+1)して(ステップS108)、ステップS106の処理を再度実行する。一方、経路情報出力部51cは、i=Mである場合(ステップS107、Y)、上記処理を終了する。
次に、上述したPCC曲線群を分割して分割PCC曲線群(1)〜(M)を生成する処理(ステップS103)について詳細に説明する。PCC曲線群を分割する処理(ステップS103)において、経路情報分割部51bは、PCC曲線全体(PCC曲線群)のデータ容量をE、コントローラ41のコマンド受信バッファ容量をRとして、E/R(小数は切り上げて整数とする)を算出する。例えば、図6に示す例おいては、PCC曲線群は13個のPCC曲線[1]〜[13]で構成されており、E=13となる。ここで、仮にR=5とすると、M=3となる。そして、経路情報分割部51bは、PCC曲線を極力均等に含むようにPCC曲線群を分割し、M個の分割PCC曲線群(i)(i=1〜M)を生成する。図6に示す例においては、以下のようにPCC曲線群を3つの分割PCC曲線群(1)〜(3)に分割する。
・分割PCC曲線群(1)=PCC曲線[1]+PCC曲線[2]+PCC曲線[3]+PCC曲線[4]+PCC曲線[5]
・分割PCC曲線群(2)=PCC曲線[6]+PCC曲線[7]+PCC曲線[8]+PCC曲線[9]
・分割PCC曲線群(3)=PCC曲線[10]+PCC曲線[11]+PCC曲線[12]+PCC曲線[13]
なお、経路情報分割部51bは、一番目の分割PCC曲線群(1)に含まれるPCC曲線の総数を他の分割PCC曲線群(2)、(3)よりも多く設定する。
次に、図7を参照して、コントローラ41における接触子17aの移動速度を決定する処理について説明する。
まず、移動速度算出部41aaは、初期設定として「i=1」を設定する(ステップS201)。続いて、移動速度算出部41aaは、データ制御部59(経路情報出力部51c)より分割PCC曲線群(i)を受け付ける(ステップS202)。つづいて、移動速度算出部41aaは、分割PCC曲線群(i)の速度曲線を算出する(ステップS203)。
次に、接触子移動制御部41abは、分割PCC曲線群(i)上において、算出した速度曲線で接触子17aを移動させる(ステップS204)。
次に、移動速度算出部41aaは、i=Mであるか否かを判断する(ステップS205)。ここで、移動速度算出部41aaは、i=Mであると判断すると(ステップS205、Y)、移動速度を決定する処理を終了する。
一方、移動速度算出部41aaは、i=Mでないと判断すると(ステップS205、N)、iに1を加算し(i=i+1)、次の分割PCC曲線群(i)を受け付け可能な状態として(ステップS206)、分割PCC曲線群(i)を受け付ける(ステップS207)。例えば、分割PCC曲線群(1)に沿って接触子17aを移動させている場合、分割PCC曲線群(2)を受け付ける。
次に、移動速度算出部41aaは、分割PCC曲線群(i−1)に沿って接触子17aを移動中に分割PCC曲線群(i)を受信した時刻tに、分割PCC曲線群(i)の速度曲線の算出に要する時間Tを加えた時刻が、所定の閾値時刻Tthを超えるか否か(t+T<Tth)を判断する(ステップS208)。つまり、移動速度算出部41aaは、ステップS208において、接触子17aを移動中の分割PCC曲線群(i−1)にて、接触子17aが移動を終えるまでに、分割PCC曲線群(i−1)より先の分割PCC曲線群(i)の移動速度の計算が、間に合うか否かを判断する。
ここで、移動速度算出部41aaは、分割PCC曲線群(i)の移動速度の計算が、分割PCC曲線群(i−1)にて接触子17aが移動を終えるまでに、間に合うと判断すると(ステップS208、Y)、分割PCC曲線群(i)の速度曲線を算出する(ステップS209)。なお、ステップS209において、分割PCC曲線群(i−1)の終点速度が、分割PCC曲線群(i)の始点速度と等しくなるように速度曲線を算出する。つまり、速度を保ち、次の測定に移る。
一方、移動速度算出部41aaは、分割PCC曲線群(i)の移動速度の計算が、分割PCC曲線群(i−1)にて接触子17aが移動を終えるまでに、間に合わないと判断すると(ステップS208、N)、測定中である分割PCC曲線群(i−1)の速度曲線を、分割PCC曲線群(i−1)の終点速度が「0」となるように変更する(ステップS210)。そして、移動速度算出部41aaは、分割PCC曲線群(i)の始点速度を「0」となるように速度曲線を算出する(ステップS211)。
そして、ステップS209、或いはステップS211の処理が終了すると、接触子移動制御部41abは、再びステップS204の処理を実行する。
次に、図6及び図8を参照して、上述した速度曲線の算出処理(ステップS203、S209、S211)について具体的に説明する。
図6において、PCC曲線[1]〜[13]の下方に、それらPCC曲線[1]〜[13]に基づき算出された速度曲線<1>〜<13>(縦軸:速度、横軸:時間)を示している。各速度曲線<1>〜<13>は、プログラム記憶部41bに格納されている。各速度曲線<1>〜<13>は、図8に示すような速度パターンに基づいて算出される。各図8(a)〜図8(i)において、縦軸は、速度(V)を示し、横軸は、時間(t)を示している。図8(a)〜図8(i)に示すように、加速させる速度パターン、一定速度とする速度パターン、減速させる速度パターン、及びこれらを併せた速度パターンがプログラム記憶部41bに格納されている。
例えば、移動速度算出部41aaは、速度曲線を決定する際、予めキーボード22等からユーザによる入力を受け付け、その入力に基づき最大速度を決定する。そして、移動速度算出部41aaは、極力予め設定された最大速度近傍となるように、PCC曲線の曲率等に基づき、速度曲線を決定する。なお、移動速度算出部41aaは、隣接するPCC曲線間で速度が連続するように速度曲線を算出する。
また、移動速度算出部41aaは、曲線の曲率が所定の値未満の場合であれば、直線とみなす。
また、移動速度算出部41aaは、曲率が所定の値より大きい場合は、機械の耐加速度と軌道誤差を考慮して、最大速度を与える。
次に、図6を参照して、分割PCC曲線群(i)を受け付けた時間に基づく速度曲線の決定処理(ステップS208〜S211)を具体的に説明する。図6に示すように、分割PCC曲線群(1)において、ステップS207の判定に用いられる閾値時刻Tthは、分割PCC曲線群(1)に含まれる最後のPCC曲線[5]の測定を開始する時刻とする。また、分割PCC曲線群(2)の速度曲線の計算に要する時間Tが、PCC曲線[4]の測定時間と略同一であるとする。
このような場合において、PCC曲線[3]の測定中の時刻t1で分割PCC曲線群(2)を受け付けると、分割PCC曲線群(2)の速度曲線の計算完了時刻は、時刻t1+T(t1+T<Tth)となる。つまり、分割PCC曲線群(2)の速度曲線の計算が、閾値時刻Tthまでに間に合うこととなる。よって、次の分割PCC曲線群(2)上において、速度の連続性を満たすように、事前に決定された速度曲線に基づき、図6に示される実線(符号A)上の速度曲線で測定が行われる。
一方、PCC曲線[4]の測定中の時刻t2で分割PCC曲線群(2)を受け付けると、分割PCC曲線群(2)の速度曲線の計算完了時刻は、時刻t2+T(t2+T≧Tth)となる。つまり、分割PCC曲線群(2)の速度曲線の計算が、閾値時刻Tthまでに間に合わないこととなる。よって、分割PCC曲線群(1)の終点の速度が「0」となるように、分割PCC曲線群(1)に含まれる最後のPCC曲線[5]において予め決定された速度曲線(符号A)を変更した測定が行われる。なお、変更した速度曲線は、図6に示おいて、2点鎖線(符号B)で示している。またこの時、分割PCC曲線群(2)に含まれる最初のPCC曲線[6]の始点の移動速度は「0」となる。
上記のように本発明の一実施形態では、PCC曲線群を分割して分割PCC曲線群を生成する。そして、速度曲線を算出した分割PCC曲線群毎に、測定を行う。つまり、測定と速度曲線の算出とを並列して処理することが可能であり、測定時間を短縮化することが可能である。
以上、発明の実施の形態を説明したが、本発明はこれらに限定されるものではない。例えば、上記実施形態において、移動速度算出部41aaは、図6において、直線的加速、直線的減速を行っているが、これら加速、又は減速は、直線的加速、又は直線的減速でなく、加速または減速の滑らかさを考慮して、時間に対して速度を「S字曲線状」に加速又は減速させてもよい。
本発明の一実施形態に係る表面性状測定装置の構成を示す外観斜視図である。 同測定装置における三次元測定機及1及びコンピュータ2の機能ブロック図である。 データ制御部59におけるデータ制御処理について説明するフロ−チャートである。 データ制御部59におけるデータ制御処理のフロ−チャートである。 PCC曲線群を説明する概念図である。 PCC曲線群及び速度曲線を示す図である。 コントローラ41における接触子の移動速度を決定する処理のフローチャートである。 速度パターンの例を示す図である。
符号の説明
1…三次元測定機、2…コンピュータ、10…除震台、11…定盤,12a,12b…ビーム支持体、13…ビーム、14…Y軸駆動機構、15…コラム、16…スピンドル、17…プローブ、17a…接触子、18…ピエゾ素子、31…ワーク、2…コンピュータ、21…コンピュータ本体、22…キーボード、23…マウス、24…CRT、25…プリンタ、41…コントローラ、41a…CPU、41aa…移動速度算出部、41ab…接触子移動制御部、41b…プログラム記憶部、42…XYZ軸駆動モータ、43…XYZ軸エンコーダ、43…A/D変換器、44…加振回路、51…CPU、51a…経路情報変換部、51b…経路情報分割部、51c…経路情報出力部、52…メモリ、53…プログラム記憶部、54…ワークメモリ、55…表示制御部、56〜58…インタフェース、59…データ制御部。

Claims (12)

  1. 被測定物表面にプローブを追従させて、前記プローブ先端の接触子と前記被測定物表面との接触を検出し前記被測定物表面の性状を測定する表面性状測定装置であって、
    前記接触子を移動させる経路の始点と終点との間を複数の区間に分割する経路分割部と、
    前記複数の区間毎の前記経路の情報に基づき、前記始点から前記終点へと前記区間毎に順番に前記接触子の移動速度を算出する移動速度算出部と、
    当該移動速度算出部にて移動速度を算出済みの区間において前記接触子を移動させる接触子移動制御部と
    を備えることを特徴とする表面性状測定装置。
  2. 前記経路の一部または全部が自由曲線で構成されている
    ことを特徴とする請求項1記載の表面性状測定装置。
  3. 前記移動速度算出部は、前記区間のうち前記接触子を移動中の第1区間にて前記接触子が移動を終えるまでに、前記第1区間より先の第2区間の移動速度の計算が間に合うか否かを判断し、間に合うと判断した場合、前記第1区間の終点における移動速度と同一となるように前記第2区間の始点における移動速度を算出し、間に合わないと判断した場合、前記第1区間の終点の移動速度を0に変更すると共に前記第2区間の始点の移動速度を0として算出する
    ことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の表面性状測定装置。
  4. 前記移動速度算出部は、複数の前記区間を一単位とした区間群の情報をまとめて取り込んで移動速度を算出する
    ことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の表面性状測定装置。
  5. 前記移動速度算出部は、前記区間群のうち前記接触子を移動中の第1区間群に含まれる最後の区間に前記接触子が移動するまでに、前記第1区間群より先の第2区間群の移動速度の計算が間に合うか否かを判断し、間に合うと判断した場合、前記第1区間群の最後の区間の終点における移動速度と同一となるように前記第2区間群の最初の区間の始点における移動速度を算出し、間に合わないと判断した場合、前記第1区間群の終点の移動速度が0となるように前記第1区間群の最後の区間の移動速度を変更すると共に前記第2区間群の始点の移動速度を0として算出する
    ことを特徴とする請求項4記載の表面性状測定装置。
  6. 前記移動速度算出部は、前記経路情報の曲率に基づき移動速度を算出する
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか1項記載の表面性状測定装置。
  7. コンピュータにより、被測定物表面にプローブを追従させて、前記プローブ先端の接触子と前記被測定物表面との接触を検出し前記被測定物表面の性状を測定する表面性状測定方法であって、
    前記接触子を移動させる経路の始点と終点との間を複数の区間に分割する経路分割ステップと、
    前記複数の区間毎の前記経路の情報に基づき、前記始点から前記終点へと前記区間毎に順番に前記接触子の移動速度を算出する移動速度算出ステップと、
    当該移動速度算出ステップにて移動速度を算出済みの区間において前記接触子を移動させる接触子移動制御ステップと
    を備えることを特徴とする表面性状測定方法。
  8. 前記移動速度算出ステップにて、前記区間のうち前記接触子を移動中の第1区間にて前記接触子が移動を終えるまでに、前記第1区間より先の第2区間の移動速度の計算が間に合うか否かを判断し、間に合うと判断した場合、前記第1区間の終点における移動速度と同一となるように前記第2区間の始点における移動速度を算出し、間に合わないと判断した場合、前記第1区間の終点の移動速度を0に変更すると共に前記第2区間の始点の移動速度を0として算出する
    ことを特徴とする請求項7記載の表面性状測定方法。
  9. 前記移動速度算出ステップにて、前記経路情報の曲率に基づき移動速度を算出する
    ことを特徴とする請求項7又は請求項8記載の表面性状測定方法。
  10. 被測定物表面にプローブを追従させて、前記プローブ先端の接触子と前記被測定物表面との接触を検出し前記被測定物表面の性状を測定させる表面性状測定プログラムであって、
    コンピュータに、
    前記接触子を移動させる経路の始点と終点との間を複数の区間に分割する経路分割ステップと、
    前記複数の区間毎の前記経路の情報に基づき、前記始点から前記終点へと前記区間毎に順番に前記接触子の移動速度を算出する移動速度算出ステップと、
    当該移動速度算出ステップにて移動速度を算出済みの区間において前記接触子を移動させる接触子移動制御ステップと
    を実行させるための表面性状測定プログラム。
  11. 前記移動速度算出ステップにて、前記区間のうち前記接触子を移動中の第1区間にて前記接触子が移動を終えるまでに、前記第1区間より先の第2区間の移動速度の計算が間に合うか否かを判断し、間に合うと判断した場合、前記第1区間の終点における移動速度と同一となるように前記第2区間の始点における移動速度を算出し、間に合わないと判断した場合、前記第1区間の終点の移動速度を0に変更すると共に前記第2区間の始点の移動速度を0として算出させる
    ことを特徴とする請求項10記載の表面性状測定プログラム。
  12. 前記移動速度算出ステップにて、前記経路情報の曲率に基づき移動速度を算出させる
    ことを特徴とする請求項10又は請求項11記載の表面性状測定プログラム。
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Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013238573A (ja) * 2012-05-17 2013-11-28 Mitsutoyo Corp 形状測定装置
EP2687816A2 (en) 2012-07-20 2014-01-22 Mitutoyo Corporation Shape measuring apparatus and control method of shape measuring apparatus
JP2014048095A (ja) * 2012-08-30 2014-03-17 Mitsutoyo Corp 産業機械、産業機械の制御方法、形状測定装置及び形状測定装置の制御方法
JP2014522978A (ja) * 2011-07-13 2014-09-08 カール マール ホールティング ゲーエムベーハー 共接線接続する外形形状を有する被加工物用の外形測定器とその方法
DE102014017538A1 (de) 2013-11-27 2015-05-28 Mitutoyo Corporation Formmessapparat, formmessverfahren und computerprogrammprodukt
JP2016050819A (ja) * 2014-08-29 2016-04-11 株式会社ミツトヨ 形状測定装置、及び形状測定方法
EP3101380A1 (en) 2015-06-02 2016-12-07 Mitutoyo Corporation Method for controlling shape measuring apparatus
EP3106944A2 (en) 2015-05-22 2016-12-21 Mitutoyo Corporation Method for controlling shape measuring apparatus
EP3147625A1 (en) 2015-09-25 2017-03-29 Mitutoyo Corporation Method for controlling shape measuring apparatus
DE102016220706A1 (de) 2015-10-22 2017-04-27 Mitutoyo Corporation Steuerverfahren von Profilmessvorrichtung
DE102017212147A1 (de) 2016-07-14 2018-01-18 Mitutoyo Corp. Regelverfahren eines Konturmessgeräts
DE102017221294A1 (de) 2016-11-29 2018-05-30 Mitutoyo Corporation Steuerverfahren für Formmessgerät
DE102018215294A1 (de) 2017-09-08 2019-03-14 Mitutoyo Corporation Verfahren zum Steuern eines Formmessgeräts
DE102018215283A1 (de) 2017-09-08 2019-03-14 Mitutoyo Corporation Verfahren zum Steuern eines Formmessgeräts
DE102018215286A1 (de) 2017-09-08 2019-03-14 Mitutoyo Corporation Verfahren zum Steuern eines Formmessgeräts

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100996227B1 (ko) * 2008-08-01 2010-11-23 한국표준과학연구원 에스피엠 나노탐침 및 그 제조방법
DE102010015780A1 (de) 2010-04-20 2011-10-20 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Betrieb einer Koordinatenmessmaschine oder einer Werkzeugmaschine
US9995574B2 (en) * 2011-08-11 2018-06-12 Mitutoyo Corporation CMM moving path adjustment assisting method and apparatus
DE102011113611B3 (de) * 2011-09-16 2012-10-04 PTW-Freiburg Physikalisch-Technische Werkstätten Dr. Pychlau GmbH Wasserphantom und Messsystem
EP2735843A1 (en) * 2012-11-21 2014-05-28 Hexagon Technology Center GmbH Measuring machine and method for automated measurement of an object
WO2016203546A1 (ja) * 2015-06-16 2016-12-22 三菱電機株式会社 指令値生成装置
DE102017103938A1 (de) * 2017-02-24 2018-08-30 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Vorrichtung zum Messen der Rauheit einer Werkstückoberfläche
JP6923361B2 (ja) * 2017-05-29 2021-08-18 株式会社ミツトヨ 位置計測装置の操作方法
DE102020126816A1 (de) 2019-10-14 2021-04-15 Mitutoyo Corporation Verfahren zum steuern einer formmessvorrichtung
JP7448437B2 (ja) 2020-08-06 2024-03-12 株式会社ミツトヨ 形状測定装置の制御方法
JP2022186534A (ja) 2021-06-04 2022-12-15 株式会社ミツトヨ プローブユニットの補正方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0735534A (ja) * 1993-07-19 1995-02-07 Tokyo Seimitsu Co Ltd 座標測定機のプローブ位置決め方法並びにその装置
JPH08503258A (ja) * 1992-08-21 1996-04-09 マシーネンファブリック ニエホッフ ゲーエムベーハー ウント コ カーゲー 金属線材用連続ラインの焼鈍装置における焼鈍出力を制御する方法および装置
JP2001030339A (ja) * 1999-07-19 2001-02-06 Teijin Ltd フィルムの巻取方法
JP2005345123A (ja) * 2004-05-31 2005-12-15 Mitsutoyo Corp 表面倣い測定装置、表面倣い測定方法、表面倣い測定プログラムおよび記録媒体
JP2006263850A (ja) * 2005-03-23 2006-10-05 Kawasaki Heavy Ind Ltd ロボット制御装置およびロボット制御方法
JP2008539431A (ja) * 2005-04-25 2008-11-13 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 工作物の表面を走査する方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5724264A (en) * 1993-07-16 1998-03-03 Immersion Human Interface Corp. Method and apparatus for tracking the position and orientation of a stylus and for digitizing a 3-D object
JP3062412B2 (ja) 1994-12-20 2000-07-10 株式会社ミツトヨ 倣い測定制御方法
US5948972A (en) * 1994-12-22 1999-09-07 Kla-Tencor Corporation Dual stage instrument for scanning a specimen
JP3037881B2 (ja) 1995-07-10 2000-05-08 ファナック株式会社 数値制御装置
KR100641365B1 (ko) 2005-09-12 2006-11-01 삼성전자주식회사 최적화된 채널 면 방위를 갖는 모스 트랜지스터들, 이를구비하는 반도체 소자들 및 그 제조방법들

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08503258A (ja) * 1992-08-21 1996-04-09 マシーネンファブリック ニエホッフ ゲーエムベーハー ウント コ カーゲー 金属線材用連続ラインの焼鈍装置における焼鈍出力を制御する方法および装置
JPH0735534A (ja) * 1993-07-19 1995-02-07 Tokyo Seimitsu Co Ltd 座標測定機のプローブ位置決め方法並びにその装置
JP2001030339A (ja) * 1999-07-19 2001-02-06 Teijin Ltd フィルムの巻取方法
JP2005345123A (ja) * 2004-05-31 2005-12-15 Mitsutoyo Corp 表面倣い測定装置、表面倣い測定方法、表面倣い測定プログラムおよび記録媒体
JP2006263850A (ja) * 2005-03-23 2006-10-05 Kawasaki Heavy Ind Ltd ロボット制御装置およびロボット制御方法
JP2008539431A (ja) * 2005-04-25 2008-11-13 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 工作物の表面を走査する方法

Cited By (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014522978A (ja) * 2011-07-13 2014-09-08 カール マール ホールティング ゲーエムベーハー 共接線接続する外形形状を有する被加工物用の外形測定器とその方法
US10274301B2 (en) 2011-07-13 2019-04-30 Carl Mahr Holding Gmbh Contour meter and method for measuring the contour of a workpiece having tangentially adjoining contour geometries
JP2013238573A (ja) * 2012-05-17 2013-11-28 Mitsutoyo Corp 形状測定装置
US9298178B2 (en) 2012-05-17 2016-03-29 Mitutoyo Corporation Shape measuring apparatus
US9448052B2 (en) 2012-07-20 2016-09-20 Mitutoyo Corporation Shape measuring apparatus and control method of shape measuring apparatus
EP2687816A2 (en) 2012-07-20 2014-01-22 Mitutoyo Corporation Shape measuring apparatus and control method of shape measuring apparatus
JP2014021004A (ja) * 2012-07-20 2014-02-03 Mitsutoyo Corp 形状測定装置及び形状測定装置の制御方法
JP2014048095A (ja) * 2012-08-30 2014-03-17 Mitsutoyo Corp 産業機械、産業機械の制御方法、形状測定装置及び形状測定装置の制御方法
JP2015102502A (ja) * 2013-11-27 2015-06-04 株式会社ミツトヨ 形状測定装置及び形状測定方法
US9366522B2 (en) 2013-11-27 2016-06-14 Mitutoyo Corporation Form measuring apparatus and form measurement method
DE102014017538B4 (de) * 2013-11-27 2020-09-24 Mitutoyo Corporation Formmessapparat, formmessverfahren und computerprogrammprodukt
DE102014017538A1 (de) 2013-11-27 2015-05-28 Mitutoyo Corporation Formmessapparat, formmessverfahren und computerprogrammprodukt
JP2016050819A (ja) * 2014-08-29 2016-04-11 株式会社ミツトヨ 形状測定装置、及び形状測定方法
EP3106944A2 (en) 2015-05-22 2016-12-21 Mitutoyo Corporation Method for controlling shape measuring apparatus
US9915516B2 (en) 2015-05-22 2018-03-13 Mitutoyo Corporation Method for controlling shape measuring apparatus
US10274297B2 (en) 2015-06-02 2019-04-30 Mitutoyo Corporation Method for controlling shape measuring apparatus
EP3101380A1 (en) 2015-06-02 2016-12-07 Mitutoyo Corporation Method for controlling shape measuring apparatus
EP3147625A1 (en) 2015-09-25 2017-03-29 Mitutoyo Corporation Method for controlling shape measuring apparatus
US10379520B2 (en) 2015-09-25 2019-08-13 Mitutoyo Corporation Method for controlling shape measuring apparatus
JP2017062194A (ja) * 2015-09-25 2017-03-30 株式会社ミツトヨ 形状測定装置の制御方法
DE102016220706A1 (de) 2015-10-22 2017-04-27 Mitutoyo Corporation Steuerverfahren von Profilmessvorrichtung
US9964392B2 (en) 2015-10-22 2018-05-08 Mitutoyo Corporation Control method of profile measuring apparatus
DE102016220706B4 (de) 2015-10-22 2022-04-21 Mitutoyo Corporation Steuerverfahren für eine Formmessvorrichtung
DE102017212147A1 (de) 2016-07-14 2018-01-18 Mitutoyo Corp. Regelverfahren eines Konturmessgeräts
US10365630B2 (en) 2016-07-14 2019-07-30 Mitutoyo Corporation Control method of profile measuring apparatus
DE102017221294A1 (de) 2016-11-29 2018-05-30 Mitutoyo Corporation Steuerverfahren für Formmessgerät
JP2018087743A (ja) * 2016-11-29 2018-06-07 株式会社ミツトヨ 形状測定装置の制御方法
US10724840B2 (en) 2016-11-29 2020-07-28 Mitutoyo Corporation Control method of shape measuring apparatus
DE102018215294A1 (de) 2017-09-08 2019-03-14 Mitutoyo Corporation Verfahren zum Steuern eines Formmessgeräts
JP2019049463A (ja) * 2017-09-08 2019-03-28 株式会社ミツトヨ 形状測定装置の制御方法
JP2019049464A (ja) * 2017-09-08 2019-03-28 株式会社ミツトヨ 形状測定装置の制御方法
CN109470194A (zh) * 2017-09-08 2019-03-15 株式会社三丰 形状测定装置的控制方法
US10746523B2 (en) 2017-09-08 2020-08-18 Mitutoyo Corporation Method for controlling shape measuring apparatus
DE102018215286A1 (de) 2017-09-08 2019-03-14 Mitutoyo Corporation Verfahren zum Steuern eines Formmessgeräts
US10859365B2 (en) 2017-09-08 2020-12-08 Mitutoyo Corporation Method for controlling shape measuring apparatus
JP7002892B2 (ja) 2017-09-08 2022-01-20 株式会社ミツトヨ 形状測定装置の制御方法
DE102018215283A1 (de) 2017-09-08 2019-03-14 Mitutoyo Corporation Verfahren zum Steuern eines Formmessgeräts

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