JP2008194719A5 - - Google Patents

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  1. 基材とエッチング保護膜とを接着する接着工程と、
    前記基材の前記エッチング保護膜に覆われていない領域をエッチングするエッチング工程と、
    前記エッチング保護膜にレーザ光を集光することによって、前記エッチング保護膜のレーザ光が集光された領域を除去する保護膜除去工程と、
    前記保護膜除去工程にて前記エッチング保護膜から露出した前記基材の領域にレーザ光を集光することによって、前記基材に改質領域を形成する改質領域形成工程と、
    前記基材を前記改質領域に沿って分割する分割工程と、を有することを特徴とする基材の分割方法。
  2. 前記基材と前記エッチング保護膜とを接着する接着領域は、前記基材の外周部であることを特徴とする請求項1に記載の基材の分割方法。
  3. 前記エッチング工程と保護膜除去工程との間に、前記基材の前記エッチング保護膜に覆われていない領域に液滴吐出ヘッドを構成する要素が形成された基板を接合する基板接合工程を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の基材の分割方法。
  4. 前記エッチング保護膜は樹脂材料を含み、前記保護膜除去工程において、炭酸ガスレーザ、又はNd:YAG−SHGレーザを用いることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の基材の分割方法。
  5. 前記エッチング保護膜は樹脂材料を含み、前記保護膜除去工程において、Nd:YAG−THGレーザ、又はNd:YAG−FHGレーザを用いることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の基材の分割方法。
  6. 前記保護膜除去工程において、レーザマーカを用いてレーザ光の光軸の方向を変動させることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の基材の分割方法。
  7. 前記改質領域形成工程において、前記改質領域の列を形成することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の基材の分割方法。
  8. 前記基材は単結晶シリコンからなり、前記改質領域形成工程において、Nd:YAG基本波レーザを用いることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の基材の分割方法。
  9. 基材の一方の面にエッチング保護膜を接着する接着工程と、
    前記基材の他方の面をエッチングすることによって、前記基材に封止実装基板を形成するエッチング工程と、
    前記エッチング保護膜の前記封止実装基板に接する部分を除去する第一保護膜除去工程と、
    前記一方の面に弾性シートを接合し、前記他方の面に流路形成基板及びノズルプレートを接合する基板接合工程と、
    前記基材に残留する前記エッチング保護膜にレーザ光を集光することによって、前記エッチング保護膜のレーザ光が集光された領域を除去する第二保護膜除去工程と、
    第二保護膜除去工程にて前記エッチング保護膜から露出した前記基材の領域にレーザ光を集光することによって、前記基材に改質領域を形成する改質領域形成工程と、
    前記基材を前記改質領域に沿って分割する分割工程と、を有することを特徴とする液滴吐出ヘッドの製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101187990B1 (ko) 2010-06-17 2012-10-04 삼성전기주식회사 잉크젯 프린트 헤드
WO2018216712A1 (ja) * 2017-05-24 2018-11-29 株式会社Nsc 透明性薄膜付ガラスパネル製造方法、透明性薄膜付液晶パネル製造方法、ガラスパネル製造方法、および液晶パネル製造方法
JP6501093B1 (ja) * 2017-12-08 2019-04-17 株式会社Nsc 透明性薄膜付ガラスパネル製造方法および透明性薄膜付液晶パネル製造方法
JP6519045B2 (ja) * 2017-05-24 2019-05-29 株式会社Nsc ガラスパネル製造方法および液晶パネル製造方法
WO2024018769A1 (ja) * 2022-07-21 2024-01-25 キヤノン株式会社 ダイシング方法および記録素子製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05201141A (ja) * 1992-01-29 1993-08-10 Zexel Corp 物品の図形パターン作成方法
JP2005034862A (ja) * 2003-07-18 2005-02-10 Seiko Epson Corp レーザ加工方法、レーザ加工装置、液滴吐出ヘッドの製造方法および液滴吐出ヘッド
JP4683989B2 (ja) * 2004-04-20 2011-05-18 昭和電工株式会社 化合物半導体発光素子ウェハーの製造方法
JP4769429B2 (ja) * 2004-05-26 2011-09-07 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置の製造方法
JP2006082166A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Seiko Epson Corp 微細構造体の製造方法
JP2006173520A (ja) * 2004-12-20 2006-06-29 Canon Inc レーザ割断方法および該方法により割断可能な被割断部材
JP4529692B2 (ja) * 2005-01-07 2010-08-25 セイコーエプソン株式会社 結晶性基材の分割方法、及び、液体噴射ヘッドの製造方法

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