JP2008185406A5 - - Google Patents

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  1. 半導体基板に作り込まれ、半導体基板の表面に平行な磁界を検出する縦型ホール素子と、前記縦型ホール素子を作り込んだ前記半導体基板上に形成され、半導体基板の表面に平行な磁界の強さにより抵抗値が変化する磁気抵抗素子と、を備え、前記縦型ホール素子の出力信号と前記磁気抵抗素子により得られる信号を用いて被検出体の回転を検出するようにしたことを特徴とする回転センサ。
  2. 前記磁気抵抗素子はNiFeの薄膜よりなることを特徴とする請求項1に記載の回転センサ。
  3. 前記磁気抵抗素子はNiCoの薄膜よりなることを特徴とする請求項1に記載の回転センサ。
  4. 前記磁気抵抗素子は、被検出体の回転に伴う抵抗値変化に位相差をもつ第1および第2の磁気抵抗素子からなり、前記縦型ホール素子の出力信号と前記磁気抵抗素子により得られる信号を用いて前記被検出体の回転を検出する手段として、前記第1の磁気抵抗素子により得られる信号と前記第2の磁気抵抗素子により得られる信号をarctanの演算をするarctan演算手段と、前記縦型ホール素子の出力信号をパルス化するパルス化手段と、前記arctan演算手段によるarctanの演算をして得た信号と、前記パルス化手段による前記縦型ホール素子の出力信号をパルス化した信号を合成して0〜360°の角度においてリニアな出力を得る合成手段と、を備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の回転センサ。
  5. 前記半導体基板において前記磁気抵抗素子の下に前記縦型ホール素子を重ねて配置してなることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の回転センサ。
  6. 前記縦型ホール素子は、第1導電型の半導体基板に形成した第2導電型のウェル領域内において当該第2導電型のウェル領域よりも浅い第1導電型のウェル領域が前記第2導電型のウェル領域を分割するように形成され、前記第2導電型のウェル領域の表層部において前記第1導電型のウェル領域を挟んで電流供給対を構成するコンタクト用の第2導電型の不純物拡散領域が形成されるとともに電圧出力対を構成するコンタクト用の第2導電型の不純物拡散領域が形成されてなることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の回転センサ。
  7. 前記縦型ホール素子及び前記磁気抵抗素子は前記半導体基板の表面に平行な磁界を検出することを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の回転センサ。
  8. 前記半導体基板には、前記磁気抵抗素子が2つ形成され、前記縦型ホール素子が1つ形成されていることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の回転センサ。
  9. 前記磁気抵抗素子は第1の磁気抵抗素子と第2の磁気抵抗素子から構成されており、前記第1の磁気抵抗素子に対し前記第2の磁気抵抗素子はその延設方向が45°傾かせて配置されていることを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の回転センサ。
  10. 前記縦型ホール素子は、感磁面が前記磁気抵抗素子の長手方向に合わせて配置されていることを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の回転センサ。
  11. 前記半導体基板には周辺回路が形成されていることを特徴とする請求項1〜10のいずれか1項に記載の回転センサ。
  12. 被検出体としてのマグネットロータは有底円筒状をなすロータボディを有しており、前記ロータボディの内面にはS極永久磁石とN極永久磁石とが対向して配置されているとともに、前記ロータボディの内部における前記S極永久磁石と前記N極永久磁石とが対向する部位には前記回線センサが配置されていることを特徴とする請求項1〜11のいずれか1項に記載の回転センサを備えた回転センサ装置。
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Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010091346A (ja) * 2008-10-06 2010-04-22 Denso Corp 回転検出装置
JP5083196B2 (ja) * 2008-12-19 2012-11-28 株式会社デンソー 回転状態検出装置
DE102009027338A1 (de) * 2009-06-30 2011-01-05 Robert Bosch Gmbh Hall-Sensorelement und Verfahren zur Messung eines Magnetfelds
JP4803286B2 (ja) 2009-07-31 2011-10-26 株式会社デンソー 車両の走行用モータ制御装置
JP4780223B2 (ja) 2009-08-06 2011-09-28 株式会社デンソー 車両の走行用モータ制御装置
JP2011059103A (ja) * 2009-08-11 2011-03-24 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 回転角度検出装置及び位置検出装置並びにその検出方法
US8487563B2 (en) 2009-11-27 2013-07-16 Denso Corporation Drive motor control apparatus for vehicle, motor control system, method for correcting rotation angle of motor, program for performing the same, rotation detecting apparatus
JP5381958B2 (ja) * 2009-11-27 2014-01-08 株式会社デンソー 車両の走行用モータ制御装置、車両用のモータ制御システム、及び回転検出装置
US9484525B2 (en) * 2012-05-15 2016-11-01 Infineon Technologies Ag Hall effect device
US9548443B2 (en) 2013-01-29 2017-01-17 Allegro Microsystems, Llc Vertical Hall Effect element with improved sensitivity
US9099638B2 (en) 2013-03-15 2015-08-04 Allegro Microsystems, Llc Vertical hall effect element with structures to improve sensitivity
US9312473B2 (en) 2013-09-30 2016-04-12 Allegro Microsystems, Llc Vertical hall effect sensor
US10649043B2 (en) 2014-04-28 2020-05-12 Infineon Technologies Ag Magnetic field sensor device configured to sense with high precision and low jitter
DE102014110974A1 (de) * 2014-08-01 2016-02-04 Micronas Gmbh Verfahren zur Unterdrückung von Streufeldeinflüssen von stromdurchflossenen Leitern auf Systeme zur Messung von Winkeln mittels X/Y Hall-Sensoren und Permanentmagneten
US9697940B2 (en) 2014-08-20 2017-07-04 Analog Devices Global Apparatus and methods for generating a uniform magnetic field
WO2016056179A1 (ja) 2014-10-09 2016-04-14 パナソニックIpマネジメント株式会社 磁気センサ
US9599682B2 (en) * 2014-11-26 2017-03-21 Sii Semiconductor Corporation Vertical hall element
JP6695116B2 (ja) * 2014-11-26 2020-05-20 エイブリック株式会社 縦型ホール素子
WO2016185676A1 (ja) 2015-05-15 2016-11-24 パナソニックIpマネジメント株式会社 磁気センサ
DE102015115686B4 (de) * 2015-09-17 2022-11-17 Bourns, Inc. Lenkwinkelsensor mit funktioneller Sicherheit
US9728581B2 (en) * 2015-11-04 2017-08-08 Texas Instruments Incorporated Construction of a hall-effect sensor in a buried isolation region
US10571298B2 (en) 2016-03-22 2020-02-25 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Rotation detecting device
EP3450926B1 (en) * 2016-06-02 2022-02-23 Koganei Corporation Position detecting device and actuator
JP6546882B2 (ja) * 2016-06-02 2019-07-17 株式会社コガネイ 位置検出装置およびアクチュエータ
JP6546881B2 (ja) * 2016-06-02 2019-07-17 株式会社コガネイ 位置検出装置およびアクチュエータ
JP6814035B2 (ja) * 2016-12-05 2021-01-13 エイブリック株式会社 半導体装置
JP6910150B2 (ja) * 2017-01-18 2021-07-28 エイブリック株式会社 半導体装置
JP2018190793A (ja) * 2017-04-28 2018-11-29 エイブリック株式会社 半導体装置
US11162815B2 (en) * 2018-09-14 2021-11-02 Allegro Microsystems, Llc Angular magnetic field sensor and rotating target with stray field immunity
JP7266386B2 (ja) * 2018-11-09 2023-04-28 エイブリック株式会社 半導体装置
US11047930B2 (en) * 2019-03-11 2021-06-29 Globalfoundries Singapore Pte. Ltd. Hall effect sensors with tunable sensitivity and/or resistance

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01251763A (ja) * 1988-03-31 1989-10-06 Res Dev Corp Of Japan 縦型ホール素子と集積化磁気センサ
US5497082A (en) * 1995-01-25 1996-03-05 Honeywell Inc. Quadrature detector with a hall effect element and a magnetoresistive element
JP3362858B2 (ja) * 1997-02-28 2003-01-07 旭化成電子株式会社 磁気センサ
JP4093381B2 (ja) 1997-04-01 2008-06-04 株式会社デンソー 回転センサの検出信号処理装置
DE19722016A1 (de) * 1997-05-27 1998-12-03 Bosch Gmbh Robert Anordnung zur berührungslosen Drehwinkelerfassung
US6064197A (en) * 1997-07-26 2000-05-16 U.S. Philips Corporation Angle sensor having lateral magnetic field sensor element and axial magnetic field direction measuring element for determining angular position
JP3506078B2 (ja) 1999-11-25 2004-03-15 株式会社デンソー 回転検出装置
JP4543350B2 (ja) * 1999-12-03 2010-09-15 日立金属株式会社 回転角度センサー及び回転角度センサーユニット
EP1751501A2 (en) * 2004-05-14 2007-02-14 Philips Intellectual Property & Standards GmbH Sensor element and associated angle measurement system
JP2006128400A (ja) * 2004-10-28 2006-05-18 Denso Corp 縦型ホール素子
JP4613661B2 (ja) * 2005-03-29 2011-01-19 ヤマハ株式会社 3軸磁気センサの製法

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