JP2008177706A - 増幅型固体撮像装置および電子情報機器 - Google Patents

増幅型固体撮像装置および電子情報機器 Download PDF

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Abstract

【課題】増幅型固体撮像装置の電荷検出部を複数の光電変換素子で共有した場合に、強い入射光により共有数を周期とする横縞模様が発生する現象を防止する。
【解決手段】光電変換素子PD1〜PD4と、各光電変換素子PD1〜PD4からの信号電荷を電荷検出部FDへ転送する転送トランジスタT1〜T4からなる画素部(1行目〜4行目)が1個の電荷検出部FDに接続され、電荷検出部FDの電位をリセットするリセットトランジスタT3と電荷検出部FDの電位を増幅して読み出す増幅トランジスタT2を有し、シャッタ動作により各画素部の光電荷蓄積期間開始を定め、読み出し動作によりこの画素部の光電荷蓄積期間終了を定める動作において、電荷検出部FDを共有する画素部の1つのシャッタ動作が行われるときに、電荷検出部FDを共有する残余の画素部であって、かつ、シャッタ動作前の画素部のシャッタ動作が行われる。
【選択図】図1

Description

本発明は、被写体光が光電変換素子により光電変換された信号電荷を増幅して読み出す増幅機能を持った増幅型固体撮像装置およびこれを撮像部に用いた電子情報機器に関し、特に、複数の画素部により電荷検出部が共有化されている増幅型固体撮像装置および、これを画像入力デバイスとして撮像部に用いた例えばデジタルビデオカメラおよびデジタルスチルカメラなどのデジタルカメラや、画像入力カメラ、スキャナ、ファクシミリ、カメラ付き携帯電話装置などの電子情報機器に関する。
一般に、従来の増幅型固体撮像装置としては、信号電荷の増幅機能を有する画素部と、この画素部の周辺に配置された走査回路とを有し、この走査回路によって画素部から画素データを読み出すように構成したものが普及している。
このような増幅型固体撮像装置の例として、CMOS(コンプリメンタリ・メタル・オキサイド・セミコンダクタ)により構成されたAPS(Active Pixel Sensor)型イメージセンサが知られている。一般的なCMOS型のAPS型イメージセンサとしては、画素部毎に所定数のトランジスタを含む3トランジスタ型および4トランジスタ型などが知られており、その中でも、近年は、高画質が得られる4トランジスタ型が主流となりつつある。
以下に、従来の4トランジスタ型のAPS型イメージセンサにおける画素構成例について、図7を用いて詳細に説明する。
図7は、1画素部内に4つのMOS型トランジスタを有した4トランジスタ型のAPS型イメージセンサにおける各画素部の構成例を示す回路図である。
図7において、従来のAPS型イメージセンサにおける各画素部にはそれぞれ、光電変換素子PDと、この光電変換素子PDから信号電荷を電荷検出部FDへ転送する転送トランジスタT1と、この電荷検出部FDの電位を増幅して読み出す増幅トランジスタT2と、電荷検出部FDの電位を電源電圧VddでリセットするリセットトランジスタT3と、この増幅トランジスタT2からの出力を選択的に読出信号線SIGに読み出す選択トランジスタT4とが設けられている。
転送トランジスタT1は、光電変換素子PDと電荷検出部FDの間に接続され、そのゲートは転送トランジスタ駆動線TXに接続されている。
増幅トランジスタT2は、ドレイン電圧Vddと選択トランジスタT4との間に接続され、そのゲートは電荷検出部FDに接続されている。
リセットトランジスタT3は、ドレイン電圧VDDと電荷検出部FDとの間に接続され、そのゲートはリセットトランジスタ駆動線RSTに接続されている。
選択トランジスタT4は、増幅トランジスタT2と読出信号線SIGとの間に接続され、そのゲートは選択トランジスタ駆動線SELに接続されている。
読出信号線SIGは、負荷トランジスタT5を介して接地電圧端と接続されている。このような画素部がマトリックス状に複数配列されており、読出信号線SIGは一方向に多数本設けられている。
光電変換素子PDは受光部であって、通常、埋め込みフォトダイオードにより構成されており、外部の被写体からの入射光量に応じて信号電荷が生成される。
上記構成により、まず、この各光電変換素子PDによりそれぞれ光電変換された各信号電荷はそれぞれ、各転送トランジスタT1によって各光電変換素子PDから電荷検出部FDに転送される。
電荷検出部FDでは、光電変換素子PDから電荷検出部FDに信号電荷が転送される前に、リセットトランジスタT3によって電荷検出部FDがドレイン電圧Vddにリセットされる。その後、転送トランジスタT1がオン状態とされ、信号電荷が光電変換素子PDから電荷検出部FDに転送される。
このように、リセット後で信号電荷転送後に、電荷検出部FD部の電位は、増幅トランジスタT2によって増幅され、これが選択トランジスタT4を介して読出信号線SIGに読み出され、読出信号線SIGの末端に接続された負荷トランジスタT5により受けられて、信号Voutが出力される。
図7に示す従来の増幅型固体撮像装置の1画素部構成では、1画素部内に複数個のトランジスタが必要とされるため、画素サイズを縮小することが困難となっている。このため、1画素部内のトランジスタを複数の光電変換素子により共有することによって、1画素部内のトランジスタ数をその平均値として削減する方法が提案されている。
その一例として、特許文献1には、垂直方向に隣接する4つの光電変換素子PDにより電荷検出部FDが共有化された増幅型固体撮像装置が提案されている。
以下に、特許文献1に開示されている従来の4トランジスタ型のAPS型イメージセンサにおける画素部構成例について、図8を用いて詳細に説明する。
図8は、特許文献1に開示されている従来の4トランジスタ型のAPS型イメージセンサにおける画素部の構成例を示す回路図である。
図8においては、従来のAPS型イメージセンサでは、4画素部が一単位とされ、垂直方向に隣接する4つの光電変換素子PD−1〜PD−4と、各光電変換素子PD−1〜PD−4と対で形成される転送トランジスタT1−1〜T1−4と、各転送トランジスタT1−1〜T1−4の両端のうち、光電変換素子と反対側が共通接続された電荷検出部FDと、この電荷検出部FDの電位をドレイン電圧VddにリセットするリセットトランジスタT3と、この電荷検出部FDの信号電位を増幅する増幅トランジスタT2と、その増幅トランジスタの出力を読出信号線SIGに選択的に読み出す選択トランジスタT4とを有している。
上記構成により、まず、リセットトランジスタT3がオン状態とされることにより、電荷検出部FDの電位がドレイン電圧Vddにリセットされる。
その後、一番上の転送トランジスタT1−1がオン状態とされることにより、光電変換素子PD−1からの信号電荷が電荷検出部FDに転送される。この転送動作前後における電荷検出部FDの電位は、増幅トランジスタT2により増幅された後、選択トランジスタT4を介して読出信号線SIGに読み出される。
以下、同様にして、上から二番目の光電変換素子PD−2、三番目の光電変換素子PD−3および四番目の光電変換素子PD−4に対して、信号電荷の電荷検出部FDへの転送動作、その転送動作前後における電荷検出部FDの電位の増幅、およびこの増幅された信号の読出信号線SIGへの読み出しが順次行われる。
次に、読出信号線SIGに読み出された信号電荷は、読出信号線SIGの末端に接続された負荷トランジスタT5により受けられて、信号Voutとして出力される。
特開2006−222427号公報
上述したように、複数の光電変換素子PDを各々の転送トランジスタT1を介して、共通化された一つの電荷検出部FDに接続し、この電荷検出部FD、増幅トランジスタT2、リセットトランジスタT3および選択トランジスタT4などを複数の画素部により共有化することが、画素サイズを縮小するためには有効である。
しかしながら、このように、一つの電荷検出部FDを複数の画素部により共有化する構成には、以下のような問題がある。
即ち、図8に示すように、強い入射光が光電変換素子PDに受光された場合の固体撮像装置の応答について考える。強い入射光が光電変換素子PDに受光された場合に、シャッタ動作によって、光電変換素子PDに光電荷を蓄積させる期間を短くする方法として、図9(a)に示すように、シャッタ期間(強い入射光の場合にシャッタ動作により短縮された光電荷蓄積期間)が1水平走査期間(1H)である場合の撮像画像について考える。
図9(a)は、シャッタ期間(強い入射光の場合にシャッタ動作により短縮された光電荷蓄積期間)が1水平走査期間(1H)である場合における増幅型固体撮像装置の動作について説明するためのタイミング図である。図9(a)では、Sはシャッタ動作、Rは読み出し動作、斜線が施されている部分は電荷のオーバーフローが生じている画素を示している。
入射光が十分に強くなると、光電変換素子PDに蓄積される信号電荷が許容限界を超え、光電変換素子PDから転送トランジスタT1を介して電荷検出部FD側に信号電荷が溢れるオーバーフロー現象が発生する。このため、読み出し画素部のリセットレベル読み出し期間から信号レベル読み出し期間までの間に、非読み出し画素部からのオーバーフロー電荷が電荷検出部FDに流入して、本来の画像情報を乱すことになる。
図8に示す従来の増幅型固体撮像装置の構成では、1つの電荷検出部FDが4つの光電変換素子PD−1〜PD−4により共有化されているため、1行目の画素部からの読み出し動作Rが行われる1H目期間において、光電変換素子PD−1には、シャッタ動作S後の1H期間(0H目期間)に蓄積された信号電荷があり、光電変換素子PD−2はシャッタ動作S直後であるためにオーバーフローされないが、残り2つの光電変換素子PD−3およびPD−4には、ほぼ1H期間(0H目期間)電荷が蓄積されており、オーバーフローされるため、1行目の画素部からの信号読み出し動作に影響を与えることになる。より具体的には、転送前のリセットレベルが読み出されてから、転送後の信号レベルが読み出されるまでの間に、上記オーバーフロー電荷(オーバーフロー程度「大」)が本来の信号に加わるため、表示が白方向にずれることになる。
次に、2行目の画素部からの読み出し動作Rが行われる2H目期間では、光電変換素子PD−1は信号読出動作Rの1H後であり、光電変換素子PD−2にはシャッタ動作S後の1H期間(1H目期間)に蓄積された信号電荷があり、光電変換素子PD−3はシャッタ動作S直後であるためにオーバーフローされないが、残り1つの光電変換素子PD−4には、ほぼ1H期間(1H目期間)電荷が蓄積されており、オーバーフローされる。このため、2行目の画素部からの読み出し動作R時に、転送前のリセットレベルが読み出されてから、転送後の信号レベルが読み出されるまでの間に、上記オーバーフロー電荷(オーバーフロー程度「中」)が本来の信号に加わるため、表示が白方向にずれることになる。但し、2行目の画素部からの読み出し動作時には、上記1行目の画素部の読み出し動作時に比べて、白ずれ量は半分である。
さらに、3行目の画素部を読み出し動作Rが行われる3H目期間では、光電変換素子PD−1は信号読み出し動作Rの2H後であり、光電変換素子PD−2は信号読み出し動作Rの1H後であり、光電変換素子PD−3にはシャッタ動作S後の1H期間(2H目期間)に蓄積された信号電荷があり、光電変換素子PD−4はシャッタ動作S直後であるためにオーバーフローされない。このため、3行目の画素部からの読み出し動作R時に、転送前のリセットレベルが読み出されてから、転送後の信号レベルが読み出されるまでの間で、オーバーフロー程度は「小」となり、表示が本来の信号から白方向にずれることはない。
さらに、4行目の画素部からの読み出し動作Rが行われる4H目期間では、光電変換素子PD−1は信号読み出し動作Rの3H後であり、光電変換素子PD−2は信号読み出し動作Rの2H後であり、光電変換素子PD−3は信号読み出しRの1H後であり、光電変換素子PD−4にはシャッタ動作S後の1H期間(3H目期間)に蓄積された信号電荷がある。このため、入射光量が非常に大きい場合を除いて、4行目の画素部からの読み出し動作時に、転送前のリセットレベルが読み出されてから、転送後の信号レベルが読み出されるまでの間で、(オーバーフロー程度は「小」となり、表示が本来の信号が白方向にずれることはない。但し、入射光量が非常に大きくなると、3H期間で光電変換素子PD−1がオーバーフローされ、オーバーフロー程度が「中」となって、表示が本来の信号から白方向に少しずれるようになる。
以上の動作が4行周期で繰り返されることから、高輝度の被写体が撮像された場合には、図10に示すように、4行単位の横縞模様が発生し、画質が著しく損なわれることになる。
次に、他の一例として、図9(b)のように、シャッタ期間(強い入射光の場合にシャッタ動作により短縮された光電荷蓄積期間)が2水平走査期間(2H)である場合の撮像画像についても説明する。
図9(b)は、シャッタ期間(シャッタ動作により短縮された光電荷蓄積期間)が2水平走査期間(2H)である場合における増幅型固体撮像装置の動作について説明するためのタイミング図である。
図8に示す従来の増幅型固体撮像装置の構成では、一つの電荷検出部FDが4つの光電変換素子PD−1〜PD−4により共有化されているため、1行目の画素部からの読み出し動作Rが行われる2H目期間において、光電変換素子PD−1にはシャッタ動作S後の2H期間(0H目期間と1H目期間)に蓄積された信号電荷があり、光電変換素子PD−3とPD−4には、ほぼ2H期間(0H目期間と1H目期間)電荷が蓄積されており、オーバーフローされる。このため、1行目の画素部からの信号読み出し動作時に、転送前のリセットレベルが読み出されてから、転送後の信号レベルが読み出されるまでの間に、上記オーバーフロー電荷(オーバーフロー程度「中」)が本来の信号に加わるため、その分、表示が白方向にずれる。
次に、2行目の画素部からの読み出し動作Rが行われる3H目期間においては、光電変換素子PD−1は信号読み出し動作Rの1H後であり、光電変換素子PD−2にはシャッタ動作S後の2H期間(1H目期間と2H目期間)に蓄積された信号電荷があり、光電変換素子PD−4はシャッタ動作S直後であるためにオーバーフローされない(オーバーフロー程度「小」)。このため、2行目の画素部からの読み出し動作R時に、転送前のリセットレベルが読み出されてから、転送後の信号レベルが読み出されるまでの間で、オーバーフロー程度は「小」となり、表示が本来の信号レベルから白方向にずれることはない。
さらに、3行目の画素を読み出し動作Rが行われる4H目期間においては、光電変換素子PD−1は信号読み出し動作Rの2H後であり、光電変換素子PD−2は信号読み出し動作Rの1H後であり、光電変換素子PD−3にはシャッタ動作S後の2H期間(2H目期間と3H目期間)に蓄積された信号電荷がある。このため、3行目の画素部からの読み出し動作時に、転送前のリセットレベルが読み出されてから、転送後の信号レベルが読み出されるまでの間で、オーバーフロー程度は「小」となり、表示が本来の信号から白方向にずれることはない。
さらに、4行目の画素部からの読み出し動作Rが行われる5H目期間においては、光電変換素子PD−1は信号読み出し動作Rの3H後であり、光電変換素子PD−2は信号読み出し動作Rの2H後であり、光電変換素子PD−3は信号読み出しRの1H後であり、光電変換素子PD−4にはシャッタ動作S後の2H期間(3H目期間と4H目期間)に蓄積された信号電荷がある。このため、入射光量が非常に大きい場合を除いて、4行目の画素部からの読み出し動作時に、リセットレベルが読み出されてから信号レベルが読み出されるまでの間で、オーバーフロー程度は「小」となり、表示が本来の信号が白方向にずれることはない。但し、入射光量が非常に大きくなると、3H期間で光電変換素子PD−1がオーバーフローされ(オーバーフロー程度「中」)、表示が本来の信号から白方向に少しずれる。
このように、図9(b)に示すシャッタ期間(強い入射光の場合にシャッタ動作により短縮された光電荷蓄積期間)が2水平走査期間(2H)である場合にも、図9(a)に示すシャッタ期間が1水平走査期間(1H)である場合に比べて、程度はやや軽減されるものの、同様の現象が生じる。
上記オーバーフロー電荷による画像情報の乱れ量は、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうち、最初に読み出される画素部では残りの全ての画素部から信号電荷がオーバーフローされるためにオーバーフロー量が最大となり、読み出し動作Rにより画素部の電荷がリセットされることから読み出しが進むにつれてオーバーフロー量は順次低減される。このため、画像には共有画素部を単位として周期的な横縞模様が生じ、画質が大幅に劣化する。さらに、入射光量が大きいと、読み出し動作Rが終了した画素部の電荷検出部FDについても、時間の経過と共に電荷検出部FDに再び信号電荷が溜まって転送トランジスタT1を介してオーバーフローされ始めるため、上記横縞模様は光量に依存し、単純なものではない。
本発明は、上記従来の問題を解決するもので、複数の光電変換素子からの信号電荷を共通の電荷検出部で受ける増幅型固体撮像装置において、高輝度の被写体を撮像した場合に読出画素部以外の画素部からのブルーミングにより横縞模様が発生することを抑制できる増幅型固体撮像装置およびこれを撮像部に用いた電子情報機器を提供することを目的とする。
本発明の増幅型固体撮像装置は、被写体光を受光して光電変換する光電変換素子と、該光電変換素子からの信号電荷を電荷検出部へ転送可能とする転送手段とを有する複数の画素部が該電荷検出部毎に接続され、該電荷検出部の電位を各画素部毎の信号データとして増幅して読み出す増幅型固体撮像装置において、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ該本来のシャッタ動作前である画素部に対して追加のシャッタ動作を行うシャッタ制御手段を有するものであり、そのことにより上記目的が達成される。
また、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置におけるシャッタ制御手段は、前記電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部に対して前記追加のシャッタ動作を行う。
さ本発明の増幅型固体撮像装置は、被写体光を受光して光電変換する光電変換素子と、該光電変換素子からの信号電荷を電荷検出部へ転送可能とする転送手段とを有する複数の画素部が該電荷検出部毎に接続され、該電荷検出部の電位を各画素部毎の信号データとして増幅して読み出す増幅型固体撮像装置において、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部に対して、該光電変換素子の光電荷蓄積開始を指示する本来のシャッタ動作とは別の追加のシャッタ動作を行うシャッタ制御手段を有するものであり、そのことにより上記目的が達成される。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置において、前記本来のシャッタ動作により各画素部の光電荷蓄積期間開始が定められ、前記読み出し動作により該各画素部の光電荷蓄積期間終了が定められている。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置における電荷検出部を共有する複数の画素部の数をN(Nは2以上の整数)として、前記光電荷蓄積期間が、水平走査期間の(N−1)倍以下である。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置における信号データの読み出し動作時に、前記電荷検出部の電位をリセットするリセット手段と、該電荷検出部の電位を増幅する増幅手段とが該電荷検出部毎に設けられている。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置におけるリセット手段がデプレッション型トランジスタである。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置における転送手段および前記増幅手段がエンハンスメント型トランジスタである。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置における光電変換素子が埋め込み型フォトダイオードである。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置における増幅手段からの出力を前記信号データとして選択的に読出信号線に読み出すための選択手段が前記増幅手段と該読出信号線との間に設けられている。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置において、垂直方向に隣接する2つ〜4つのうちの幾つかの画素部に対して前記電荷検出部が共有接続されている。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置におけるシャッタ制御手段は、前記電荷検出部を共有する複数の画素部の数をM(Mは2以上の整数)として、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの前記本来のシャッタ動作が速い時期の2つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第1論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の3つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第2論理和回路Aと、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちのシャッタ動作が速い時期の(M−1)の画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第(M−2)論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のそれぞれのシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第(M−1)論理和回路Aという(M−1)個の論理和回路を有し、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつシャッタ動作前である画素部に対して追加のシャッタ動作を行うために、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ期間が最も速い時期の画素部には当該画素部のシャッタ期間を制御するシャッタ制御信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ期間が2番目に速い時期の画素部には該第1論理和回路Aからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が3番目に速い時期の画素部には該第2論理和回路Aからの出力信号が供給され、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が(M−1)番目に速い時期の画素部には該第(M−2)論理和回路Aからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちのシャッタ動作が最も遅い画素部には該第(M−1)論理和回路Aからの出力信号が供給されるようになっている。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置におけるシャッタ制御手段は、前記電荷検出部を共有する複数の画素部の数をM(Mは2以上の整数)として、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちのシャッタ動作が速い時期の2つの画素部の本来のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第1論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の3つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第2論理和回路Aと、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の(M−1)の画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第(M−2)論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のそれぞれの本来のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第(M−1)論理和回路Aという(M−1)個の論理和回路Aと、 該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の(M−1)の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第1論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の(M−2)の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第2論理和回路Bと、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の3つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第(M−3)論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の2つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第(M−2)論理和回路Bという(M−2)個の論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が最も速い時期の画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号と該第1論理和回路Bからの出力信号が入力される第1論理和回路Cと、該第1論理和回路Aからの出力信号と該第2論理和回路Bからの出力信号が入力される第2論理和回路Cと、・・・、該第(M−3)論理和回路Aからの出力信号と該第(M−2)論理和回路Bからの出力信号が入力される第(M−2)論理和回路Cと、該第(M−2)論理和回路Aからの出力信号と該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い時期の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第(M−1)論理和回路Cという(M−1)個の論理和回路Cとを有し、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつシャッタ動作前である画素部の追加のシャッタ動作を行うと共に、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部の追加のシャッタ動作を行うために、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も速い時期の画素部には第1論理和回路Cからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が2番目に速い時期の画素部には第2論理和回路Cからの出力信号が供給され、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が(M−2)番目に速い時期の画素部には第(M−2)論理和回路Cからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が(M−1)番目に速い時期の画素部には第(M−1)論理和回路Cからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い画素部には第(M−1)論理和回路Aからの出力信号が供給されるようになっている。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置におけるシャッタ制御手段は、前記電荷検出部を共有する複数の画素部の数をM(Mは2以上の整数)として、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の(M−1)の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第1論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の(M−2)の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第2論理和回路Bと、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の3つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第(M−3)論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の2つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第(M−2)論理和回路Bという(M−2)個の論理和回路Bとを有し、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部の追加のシャッタ動作を行うために、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も速い時期の画素部には第1論理和回路Bからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が2番目に速い時期の画素部には第2論理和回路Bからの出力信号が供給され、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が(M−3)番目に速い時期の画素部には第(M−3)論理和回路Bからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が(M−2)番目に速い時期の画素部には第(M−2)論理和回路Bからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い画素部には読み出し動作が最も遅い時期の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が供給されるようになっている。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置におけるシャッタ制御手段は、前記電荷検出部を共有する複数の画素部の数を4として、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの前記本来のシャッタ動作が速い時期の2つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第1論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の3つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第2論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する4つの画素部のそれぞれのシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第3論理和回路Aという3個の論理和回路を有し、該電荷検出部を共有する4つの画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつシャッタ動作前である画素部に対して追加のシャッタ動作を行うために、該電荷検出部を共有する4つの画素部のうちの本来のシャッタ期間が最も速い時期の画素部には当該画素部のシャッタ期間を制御するシャッタ制御信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ期間が2番目に速い時期の画素部には該第1論理和回路Aからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が3番目に速い時期の画素部には該第2論理和回路Aからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちのシャッタ動作が最も遅い画素部には該第3論理和回路Aからの出力信号が供給されるようになっている。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置におけるシャッタ制御手段は、前記電荷検出部を共有する複数の画素部の数を4として、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの前記本来のシャッタ動作が速い時期の2つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第1論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の3つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第2論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する4つの画素部のそれぞれのシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第3論理和回路Aという3個の論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する4つの画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の3つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第1論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の2つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第2論理和回路Bという2個の論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が最も速い時期の画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号と該第1論理和回路Bからの出力信号が入力される第1論理和回路Cと、該第1論理和回路Aからの出力信号と該第2論理和回路Bからの出力信号が入力される第2論理和回路Cと、該第2論理和回路Aからの出力信号と該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い時期の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号とが入力される第3論理和回路Cという3個の論理和回路Cとを有し、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつシャッタ動作前である画素部の追加のシャッタ動作を行うと共に、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部の追加のシャッタ動作を行うために、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も速い時期の画素部には該第1論理和回路Cからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が2番目に速い時期の画素部には該第2論理和回路Cからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が3番目に速い時期の画素部には該第3論理和回路Cからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い画素部には第3論理和回路Aからの出力信号が供給されるようになっている。
さらに、好ましくは、本発明の増幅型固体撮像装置におけるシャッタ制御手段は、前記電荷検出部を共有する複数の画素部の数を4として、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の3つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第1論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の2つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第2論理和回路Bという2個の論理和回路Bとを有し、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部の追加のシャッタ動作を行うために、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も速い時期の画素部には第1論理和回路Bからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が2番目に速い時期の画素部には第2論理和回路Bからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い画素部には読み出し動作が最も遅い時期の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が供給されるようになっている。
本発明の電子情報機器は、本発明の上記増幅型固体撮像装置を撮像部に用いたものであり、そのことにより上記目的が達成される。
上記構成により、以下に、本発明の作用について説明する。
本発明にあっては、一つの電荷検出部が複数の画素部により共有される増幅型固体撮像装置において、強い入射光が受光されたときに共有画素部を単位として横縞が発生する現象を、シャッタ動作前および読み出し動作後にもシャッタ動作を加えることにより抑制する。
まず、電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部がシャッタ動作を行うときに、そのシャッタ動作を行う画素部以外の残余の画素部であって、かつ、シャッタ動作前である画素部に対してシャッタ動作が行われる。これにより、高輝度の被写体が撮像された場合に、シャッタ動作が行われる画素部のみではなく、シャッタ動作前である画素部についても、光電変換素子に飽和レベルまで蓄積された信号電荷がシャッタ動作により電荷排出され、光電変換素子から電荷検出部へ信号電荷がオーバーフローすることは抑制される。これによって、読み出し画素部から本来の信号を正しく読み出すことが可能となる。また、この追加シャッタ動作は、本来のシャッタ動作よりも前であるため、シャッタ動作と読み出し動作により設定される光電荷蓄積期間に影響を与えることはない。
また、上記に加えてまたは上記とは別に、電荷検出部を共有する画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、その読み出し動作を行う画素部以外の残余の画素部であって、かつ、読み出し動作後である画素部に対してシャッタ動作が行われるようにしてもよい。これにより、高輝度の被写体が撮像された場合に、読み出し動作後の画素部において再び光電変換素子に飽和レベルまで信号電荷が蓄積された場合でも、シャッタ動作により電荷が排出され、電荷検出部へ電荷がオーバーフローすることが抑制される。よって、読み出し画素部から本来の信号を正しく読み出すことが可能となる。さらに、追加シャッタ動作は、本来の読み出し動作よりも後であるため、本来のシャッタ動作と読み出し動作により設定される光電荷蓄積期間に影響を与えることはない。
さらに、電荷検出部を共有する複数の画素部の数をN(Nは2以上の整数)として、光電荷蓄積期間が水平走査期間の(N−1)倍以下である場合に、電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部がシャッタ動作を行うときに、電荷検出部を共有する残余の画素部であって、かつ、シャッタ動作前である画素部のシャッタ動作が行われるようにしてもよい。この場合、電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの読み出し動作時には、残余の画素部はシャッタ動作後となる。このため、これらの画素部から電荷検出部へ電荷がオーバーフローすることが抑制される。
また、光電荷蓄積期間が水平走査期間の(N−1)倍以下である場合に、電荷検出部を共有する画素部の1つの読み出し動作が行われるときに、電荷検出部を共有する残余の画素部であって、かつ、読み出し動作後である画素部のシャッタ動作が行われるようにしてもよい。この場合、電荷検出部を共有する画素部のうちの1つの読み出し動作時に、残余の画素部であって読み出し動作後の画素部において、その後に光電変換素子に蓄積された電荷が、シャッタ動作により排出される。このため、これらの画素部から電荷検出部へ電荷がオーバーフローされることを抑制することができる。
上記リセットトランジスタは、デプレッション型トランジスタであることが好ましい。高輝度の被写体が撮像された場合に、電荷検出部を共有する複数の画素部のうちのいずれもの読み出し動作が行われず、シャッタ動作も行なわれない期間に、光電変換素子に飽和レベルまで蓄積された電荷が電荷検出部へオーバーフローしても、デプレッション型のリセットトランジスタのオフリーク電流によって電源側へ排出される。これにより、オーバーフローされた電荷が光電変換素子へ逆流して、基板へ注入されて周辺まで滲み出す現象は防止される。
以上により、本発明によれば、一つの電荷検出部が複数の画素部により共有される増幅型固体撮像装置において、強い入射光が受光されたときに、シャッタ動作前および読み出し動作後の少なくともいずれかに追加シャッタ動作を加えることにより、従来のように共有画素部を単位として横縞が発生する現象を抑制して、読み出し画素部から本来の信号を正しく読み出すことができる。
例えば、電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部がシャッタ動作を行うときに、このシャッタ動作を行う画素部以外の残余の画素部であって、かつ、シャッタ動作前である画素部に対してシャッタ動作を行うことによって、高輝度の被写体が撮像された場合に、本来のシャッタ動作が行われる画素部のみでなく、本来のシャッタ動作前である画素部についても、光電変換素子に飽和レベルまで蓄積された電荷が追加のシャッタ動作により排出され、光電変換素子から電荷検出部へ電荷がオーバーフローすることを抑制することができる。この場合に追加されるシャッタ動作は、本来のシャッタ動作よりも前であるため、シャッタ動作と読み出し動作により設定される光電荷蓄積期間に影響を与えることはない。
また、電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つ読み出し動作が行われるときに、電荷検出部を共有する残余の画素部であって、かつ、読み出し動作後である画素部のシャッタ動作が行われることによって、高輝度の被写体が撮像された場合に、読み出し動作後の画素部において再び光電変換素子に飽和レベルまで電荷が蓄積された場合でも、シャッタ動作により排出され、電荷検出部へ電荷がオーバーフローされることを抑制することができる。この場合に追加されるシャッタ動作は、本来の読み出し動作よりも後であるため、シャッタ動作と読み出し動作により設定される光電荷蓄積期間に影響を与えることはない。
以下に、本発明の増幅型固体撮像装置を4トランジスタ型のAPS型イメージセンサに適用した実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る4トランジスタ型のAPS型イメージセンサにおける4画素部の要部構成例を示す回路図である。
図1においては、本実施形態の4トランジスタ型のAPS型イメージセンサにおける4画素部10は、4つの画素部が1単位とされ、それぞれに対応する垂直方向に隣接する4つの光電変換素子PD−1〜PD−4と、各光電変換素子PD−1〜PD−4からの信号電荷をそれぞれ電荷検出部FDへ順次転送可能とする転送手段としての転送トランジスタT1−1〜T1−4とからなる4つの画素部(複数の画素部、ここでは4つ)が設けられており、各転送トランジスタT1−1〜T1−4の両端のうち、光電変換素子PD側とは反対側が一つの電荷検出部FDに共通接続されている。また、この4画素部10は、さらに、電荷検出部FDの電位をドレイン電圧Vddにリセットするリセット手段としてのリセットトランジスタT30と、電荷検出部FDからの信号を増幅する増幅手段としての増幅トランジスタT2と、その増幅トランジスタの出力を読出信号線SIGに選択的に読み出す選択手段としての選択トランジスタT4とが設けられている。本実施形態の4トランジスタ型のAPS型イメージセンサでは、この4画素部10がマトリクス状に複数配置されて撮像領域を形成している。
転送トランジスタT1−1〜T1−4のゲートは、転送トランジスタ駆動線TX1〜TX4にそれぞれ接続されている。
増幅トランジスタT2は、ドレイン電圧VDDと選択トランジスタT4との間に接続され、そのゲートは電荷検出部FDに接続されている。
リセットトランジスタT30は、ドレイン電圧VDDと電荷検出部FDとの間に接続され、そのゲートはリセットトランジスタ駆動線RSTに接続されている。
選択トランジスタT4は、増幅トランジスタT2と読出信号線SIGとの間に接続され、そのゲートは選択トランジスタ駆動線SELに接続されている。
読出信号線SIGは、負荷トランジスタT5を介して接地電圧端と接続されている。このような4画素部10が複数マトリックス状に配列されており、読出信号線SIGは一方向(水平方向)に複数本設けられている。
上記構成において、まず、リセットトランジスタT30がオン状態とされることにより、電荷検出部FDの電位がドレインVddにリセットされる。
その後、一番上の転送トランジスタT1−1がオン状態とされることにより、光電変換素子PD−1からの信号電荷が電荷検出部FDに転送される。
この電荷転送動作の前後における電荷検出部FDの電位は、増幅トランジスタT2により増幅された後、選択トランジスタT4を介して読出信号線SIGに読み出される。
以下、同様にして、上から二番目の光電変換素子PD−2、上から三番目の光電変換素子PD−3および上から四番目の光電変換素子PD−4に対して、信号電荷の電荷検出部FDへの転送、その電荷転送動作の前後における電荷検出部FDの電位の増幅、および増幅された信号の読出信号線SIGへの読み出しが順次行われる。
この読み出された信号電荷は、読出信号線SIGの末端に接続された負荷トランジスタT5により受けられて、信号Voutとして出力される。
ここで、本実施形態の4トランジスタ型のAPS型イメージセンサにおいて、シャッタ動作Sにより各画素部の光電荷蓄積期間開始が定められ、読み出し動作Rによりこの画素部の光電荷蓄積期間終了が定められる動作において、電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部がシャッタ動作を行うときに、シャッタ動作Sを行う画素部以外の、電荷検出部を共有する残余の画素部であって、かつ、シャッタ動作S前である画素部(このサイクル中に本来のシャッタ動作Sを行っていない画素部)に対して追加のシャッタ動作S’を行うシャッタ制御手段を有している。このシャッタ制御手段は、さらに、電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作Rを行うときに、読み出し動作Rを行う画素部以外の、電荷検出部FDを共有する残余の画素部(画素部)であって、かつ、読み出し動作後である画素部(このサイクル中に既に読み出し動作Rを行っている画素部)に対して追加のシャッタ動作S’を行うものである。これらの追加のシャッタ動作S’を、読出画素部以外の画素部からのブルーミングにより横縞模様が発生することを抑制するための本実施形態の特徴構成としている。
以下に、この追加のシャッタ動作S’について、詳細に説明する。
図2(a)は、シャッタ期間(シャッタ動作により短縮された光電荷蓄積期間)が1水平走査期間(1H)である場合における本実施形態の4トランジスタ型のAPS型イメージセンサの動作について説明するためのタイミング図である。この図2では、行順次に読み出しが行われる場合について示している。図2において、Sはシャッタ動作、Rは読み出し動作、S’は本実施形態の特徴構成である追加シャッタ動作を示している。
図2(a)では、図9(a)に示した従来技術に比べて、本来の各々のシャッタ動作Sの前(時間的に前)に追加のシャッタ動作S’が加えられていること、および、読み出し動作Rの後(時間的に後)にも追加のシャッタ動作S’が加えられている。
これにより、電荷検出部FDを共有する1行目から4行目までの各行の電荷検出部FDからの読み出し動作R時に、残りの行の光電変換素子PDにシャッタ動作S前に蓄積された信号電荷および、読み出し動作R後に蓄積された信号電荷はシャッタ動作SまたはS’により排出され、電荷検出部FDにオーバーフローされることが防止される。したがって、1行目から4行目までのいずれの行から信号電荷を読み出す際にも、光電変換素子に蓄積された信号電荷を正しく読み出すことが可能となり、従来のような4行周期の横縞模様は発生しない。その画像表示状態を図3に示している。
図2(b)は、シャッタ期間(シャッタ動作により短縮された光電荷蓄積期間)が2水平走査期間2Hである場合における本実施形態の4トランジスタ型のAPS型イメージセンサの動作について説明するためのタイミング図である。また、図2(c)は、シャッタ期間(シャッタ動作により短縮された光電荷蓄積期間)が3水平走査期間3Hである場合における本実施形態の4トランジスタ型のAPS型イメージセンサの動作について説明するためのタイミング図である。
図2(b)および図2(c)の場合も共に、図2(a)の場合と同様の動作により、電荷検出部(FD)を共有する1行目から4行目までの各行からの読出し動作R時に、残りの行の光電変換素子PDにシャッタ動作S前に蓄積された電荷および、読み出し動作R後に蓄積された電荷は、シャッタ動作SまたはS’により排出され、電荷検出部FDにオーバーフローされることが防止される。したがって、1行目から4行目までのいずれの行から信号電荷を読み出す際にも、光電変換素子に蓄積された信号電荷を正しく読み出すことが可能となり、従来のような4行周期の横縞模様は発生しない。
以上のように、本実施形態の4トランジスタ型のAPS型イメージセンサでは、シャッタ動作Sにより各画素部の光電荷蓄積期間開始が定められ、読み出し動作Rによりこの画素部の光電荷蓄積期間終了が定められる動作において、電荷検出部を共有する複数の画素部(各画素部)のうちの1つの画素部に対してシャッタ動作Sが行われるときに、電荷検出部FDを共有する残余の画素部であって、かつ、シャッタ動作S前である画素部に対して追加のシャッタ動作S’が行われ、また、電荷検出部FDを共有する画素部の1つの読み出し動作Rが行われるときに、電荷検出部FDを共有する残余の画素部であって、かつ、読み出し動作R後である画素部に対して追加のシャッタ動作S’が行われる。
以下に、このようなシャッタ動作SおよびS’を制御するためのシャッタ制御手段としてのシャッタ制御回路について詳細に説明する。
図4は、本実施形態のAPS型イメージセンサにおけるシャッタ制御回路の要部構成例(一例)について説明するための回路図である。この図4では、行順次に読み出しが行われる場合について示している。
図4において、シャッタ制御回路11は、あくまで一例であるが、一つの電荷検出部FDを共有する複数の画素部の数をM=4(Mは2以上の自然数;ここでは例えば4とする)として、電荷検出部FDを共有する4つの画素部のうちのシャッタ動作を速い時期に行う二つの画素部(1行目と2行目)の本来のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号sh_i1とshi_2が入力される論理和回路1A(第1論理和回路A)、電荷検出部FDを共有する4つの画素部のうちのシャッタ動作が速い時期に行う三つの画素部(1行目〜3行目)のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号sh_i1〜shi_3が入力される論理和回路2A(第2論理和回路A)および、電荷検出部FDを共有する4つの画素部(1行目〜4行目)のそれぞれのシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号sh_i1〜shi_4が入力される論理和回路3A(第3論理和回路A)という3個の論理和回路1A〜3Aと、電荷検出部FDを共有する4つの画素部のうちの読み出し動作が遅い時期に行う三つの画素部(2行目〜4行目)の読み出し動作を制御する読み出し制御信号rdi_2〜rdi_4が入力される論理和回路1B(第1論理和回路B)および、電荷検出部FDを共有する4つの画素部のうちの読み出し動作が遅い時期に行う二つの画素部(3行目と4行目)の読み出し動作を制御する読み出し制御信号rdi_3とrdi_4が入力される論理和回路2B(第2論理和回路B)という合わせて2個の論理和回路2A,2Bと、電荷検出部FDを共有する4つの画素部のうちのシャッタ動作が最も速い時期に行う画素部(1行目)のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号sh_i1と論理和回路1Bからの出力信号が入力される論理和回路1C(第1論理和回路C)、論理和回路1Aからの出力信号と論理和回路2Bからの出力信号とが入力される論理和回路2C(第2論理和回路C)および、論理和回路2Aからの出力信号と電荷検出部FDを共有する4つの画素部のうちの読み出し動作が最も遅い画素部(4行目)の読み出し動作を制御する読み出し制御信号rdi_4が入力される論理和回路3C(第3論理和回路C)という3個のC論理和回路1C〜3Cとを有している。
このシャッタ制御回路11では、電荷検出部FDを共有する4つの画素部のうちの読み出し動作が最も速い時期の画素部(1行目)には論理和回路1Cからの出力信号sh_i1Cが供給され、電荷検出部FDを共有する4つの画素部のうちの読み出し動作が二番目に速い時期の画素部(2行目)には論理和回路2Cからの出力信号sh_i2Cが供給され、電荷検出部FDを共有する4つの画素部のうちの読み出し動作が3番目に速い時期の画素部(3行目)には論理和回路3Cからの出力信号sh_i3Cが供給され、電荷検出部FDを共有する4つの画素部のうちの読み出し動作が最も遅い画素部(4行目)には論理和回路3Aからの出力信号sh_i4Cが供給される。
これによって、電荷検出部FDを共有する4つの画素部のうちの1つの画素部がシャッタ動作を行うときに、これ以外の、電荷検出部FDを共有する残余の画素部であって、かつ、シャッタ動作前である画素部のシャッタ動作が行われると共に、電荷検出部FDを共有する4つの画素部の1つの画素部に対して読み出し動作が行われるときに、これ以外の、電荷検出部FDを共有する残余の画素部であって、かつ、読み出し動作後である画素部のシャッタ動作が行われる。
以上により、本実施形態の増幅型固体撮像装置は、光電変換素子PD1〜PD4と、各光電変換素子PD1〜PD4からの各信号電荷を電荷検出部FDへそれぞれ転送する転送トランジスタT1〜T4からなる画素部(1行目〜4行目)が1個の電荷検出部FDに接続され、電荷検出部FDの電位をリセットするリセットトランジスタT3と、電荷検出部FDの電位を増幅して読み出す増幅トランジスタT2を有し、シャッタ動作により各画素部の光電荷蓄積期間開始を定め、読み出し動作によりこの画素部の光電荷蓄積期間終了を定める動作において、電荷検出部FDを共有する複数の画素部の1つのシャッタ動作が行われるときに、電荷検出部FDを共有する残余の画素部であって、かつ、シャッタ動作前の画素部のシャッタ動作が行われる。これによって、増幅型固体撮像装置の電荷検出部を複数の光電変換素子で共有した場合に、強い入射光により共有数を周期とする横縞模様が発生する現象を防止することができる。
なお、上記実施形態では、電荷検出部(FD)を共有する画素部(PD+T1)の数をN=4としたが、電荷検出部を共有する画素部の数Nは、2以上の整数であれば、いずれも、本発明の増幅型固体撮像装置を適用可能である。上記実施形態では、本発明の増幅型固体撮像装置を、4トランジスタ型のAPS型イメージセンサに適用した事例について説明したが、本発明の増幅型固体撮像装置を、2トランジスタ型または3トランジスタ型のAPS型イメージセンサや5トランジスタ型のAPS型イメージセンサなどに適用可能である。
また、電荷検出部FDを共有する画素部の数をN(Nは2以上の整数)として、光電荷蓄積期間(シャッタ動作Sと読み出し動作Rで定められる期間)が、水平走査期間の(N−1)倍以下である場合に、上記追加のシャッタ動作を行うことが好ましい。光電荷蓄積期間がN水平走査期間(N×H)以上では、どの画素部を読み出す場合にも、残りの画素部の状態は等価となるため、4行周期の横縞模様は発生しないからである。
なお、上記実施形態では、シャッタ制御回路11は、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、その電荷検出部FDを共有する残余の画素部であってかつ本来のシャッタ動作前である画素部に対して追加のシャッタ動作を行い、かつ、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、その電荷検出部FDを共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部に対して追加のシャッタ動作を行う場合について説明したが、これに限らず、シャッタ制御回路は、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、その電荷検出部FDを共有する残余の画素部であってかつ本来のシャッタ動作前である画素部に対して追加のシャッタ動作を行ってもよいし、または、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、その電荷検出部FDを共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部に対して追加のシャッタ動作を行ってもよい。
この場合、上記実施形態において、電荷検出部FDを共有する画素部の1つのシャッタ動作が行われるときに、電荷検出部FDを共有する残余の画素部であって、かつ、シャッタ動作前である画素部のシャッタ動作を行わせるためには、論理和回路1A〜3Aが設けられていればよい。また、上記実施形態において、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、その電荷検出部FDを共有する残余の画素部であって、かつ読み出し動作後である画素部に対して追加のシャッタ動作を行ってもよい。
即ち、上記実施形態のシャッタ制御回路は、電荷検出部FDを共有する複数の画素部の数を4として、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の2つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される論理和回路1Aと、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の3つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される論理和回路2Aと、電荷検出部FDを共有する4つの画素部のそれぞれのシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される論理和回路3Aと、電荷検出部FDを共有する4つの画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の3つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される論理和回路1Bと、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の2つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される論理和回路2Bと、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が最も速い時期の画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号と論理和回路1Bからの出力信号が入力される論理和回路1Cと、論理和回路1Aからの出力信号と論理和回路2Bからの出力信号が入力される論理和回路2Cと、論理和回路2Aからの出力信号と電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い時期の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号とが入力される論理和回路2Cとを有しており、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、電荷検出部FDを共有する残余の画素部であってかつシャッタ動作前である画素部の追加のシャッタ動作を行うと共に、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、電荷検出部FDを共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部の追加のシャッタ動作を行うために、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も速い時期の画素部には論理和回路1Cからの出力信号が供給され、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が2番目に速い時期の画素部には論理和回路2Cからの出力信号が供給され、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が3番目に速い時期の画素部には論理和回路3Cからの出力信号が供給され、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い画素部には論理和回路3Aからの出力信号が供給されるようになっている。
ここで、電荷検出部FDを共有する複数の画素部の数を一般的にM(Mは2以上の整数)とした場合について説明する。この場合、シャッタ制御回路は、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちのシャッタ動作が速い時期の2つの画素部の本来のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される論理和回路1Aと、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の3つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される論理和回路2Aと、・・・、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の(M−1)の画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される論理和回路(M−2)Aと、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のそれぞれの本来のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される論理和回路(M−1)Aと、電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の(M−1)の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される論理和回路1Bと、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の(M−2)の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される論理和回路2Bと、・・・、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の3つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される論理和回路(M−3)Bと、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の2つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される論理和回路(M−2)Bと、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が最も速い時期の画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号と論理和回路1Bからの出力信号が入力される論理和回路1Cと、論理和回路1Aからの出力信号と論理和回路2Bからの出力信号が入力される論理和回路2Cと、・・・、論理和回路(M−3)Aからの出力信号と論理和回路(M−2)Bからの出力信号が入力される論理和回路(M−2)Cと、論理和回路(M−2)Aからの出力信号と電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い時期の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される論理和回路(M−1)Cとを有しており、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、電荷検出部FDを共有する残余の画素部であってかつシャッタ動作前である画素部の追加のシャッタ動作を行うと共に、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、電荷検出部FDを共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部の追加のシャッタ動作を行うために、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も速い時期の画素部には論理和回路1Cからの出力信号が供給され、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が2番目に速い時期の画素部には論理和回路2Cからの出力信号が供給され、・・・、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が(M−2)番目に速い時期の画素部には論理和回路(M−2)Cからの出力信号が供給され、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が(M−1)番目に速い時期の画素部には論理和回路(M−1)Cからの出力信号が供給され、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い画素部には論理和回路(M−1)Aからの出力信号が供給されるようになっている。
または、シャッタ制御回路は、電荷検出部FDを共有する複数の画素部の数をM(Mは2以上の整数)として、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の2つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される論理和回路1Aと、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の3つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される論理和回路2Aと、・・・、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちのシャッタ動作が速い時期の(M−1)の画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される論理和回路(M−2)Aと、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のそれぞれのシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される論理和回路(M−1)Aと、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、電荷検出部FDを共有する残余の画素部であってかつシャッタ動作前である画素部に対して追加のシャッタ動作を行うために、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ期間が最も速い時期の画素部には当該画素部のシャッタ期間を制御するシャッタ制御信号が供給され、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ期間が2番目に速い時期の画素部には論理和回路1Aからの出力信号が供給され、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が3番目に速い時期の画素部には論理和回路2Aからの出力信号が供給され、・・・、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が(M−1)番目に速い時期の画素部には論理和回路(M−2)Aからの出力信号が供給され、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちのシャッタ動作が最も遅い画素部には論理和回路(M−1)Aからの出力信号が供給されるようになっていてもよい。
または、シャッタ制御回路は、電荷検出部FDを共有する複数の画素部の数をM(Mは2以上の整数)として、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の(M−1)の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される論理和回路1Bと、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の(M−2)の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される論理和回路2Bと、・・・、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の3つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される論理和回路(M−3)Bと、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の2つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される論理和回路(M−2)Bを有しており、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、電荷検出部FDを共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部の追加のシャッタ動作を行うために、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も速い時期の画素部には論理和回路1Bからの出力信号が供給され、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が2番目に速い時期の画素部には論理和回路2Bからの出力信号が供給され、・・・、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が(M−3)番目に速い時期の画素部には論理和回路(M−3)Bからの出力信号が供給され、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が(M−2)番目に速い時期の画素部には論理和回路(M−2)Bからの出力信号が供給され、電荷検出部FDを共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い画素部には読み出し動作が最も遅い時期の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が供給されるようになっていてもよい。
なお、図1において、リセットトランジスタT30はデプレッション型トランジスタであることが好ましい。これは、高輝度の被写体が撮像された場合に、電荷検出部FDを共有する画素部のいずれにおいても読み出し動作が行われず、シャッタ動作も行なわれないときに、光電変換素子PDに飽和レベルまで蓄積された信号電荷が電荷検出部FDへオーバーフローされても、デプレッション型のリセットトランジスタT30のオフリーク電流により電源側へ排出されるからである。これによって、オーバーフローされた電荷が光電変換素子PDへ逆流され、基板へ注入されて周辺まで滲み出す現象を防止することができる。なお、転送トランジスタT1、増幅トランジスタT2および選択トランジスタT4としては、エンハンスメント型トランジスタを用いることができる。また、光電変換素子PDとしては埋め込み型フォトダイオードを用いることができる。
図2には、電荷検出部FDを共有する画素部から信号電荷を一方向に順次読み出す場合について示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、不規則に読み出す場合についても適用可能である。
不規則に読み出す場合、例えば、図5(a)は、1行目→3行目→2行目→4行目と読み出す場合について、図5(b)は、1行目→3行目→(X行目)→2行目→4行目と読み出す場合について、それぞれ本発明を適用した事例を示すタイミング図である。ここでは、X行目とは、1行目から4行目までに対して電荷検出部FDを共有しない行である。いずれの場合も、図2の場合と同様に、電荷検出部FDを共有する1行目から4行目までの各行からの読み出し動作R時に、シャッタ動作S前に蓄積された電荷、および読み出し動作R後に蓄積された電荷は、シャッタ動作(SおよびS’)により排出され、電荷検出部FDからオーバーフローされることが防止される。
このように信号電荷を不規則に読み出す場合のシャッタ制御回路11については、論理回路を用いた構成が複雑になるため、ここではその説明を省略する。
なお、上記実施形態では、図1に示すように増幅トランジスタT2からの出力を信号データとして選択的に読出信号線SIGに読み出すための選択トランジスタT4が増幅トランジスタT2と読出信号線SIGとの間に設けられている場合について説明したが、これに限らず、図6に示すように増幅トランジスタT2からの出力を信号データとして選択的に読出信号線SIGに読み出すための選択トランジスタT4が増幅トランジスタT2と電源Vddの電圧出力端との間に設けられていてもよい。図1の場合と図6の場合とで選択トランジスタT4の位置が増幅トランジスタT2の電源Vdd側と読出信号線SIG側とで異なるが、いずれも同様に選択して、増幅トランジスタT2からの信号出力を選択的に読出信号線SIGに読み出することができる。
以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
本発明は、被写体光が光電変換素子により光電変換された信号電荷を増幅して読み出す増幅機能を持った増幅型固体撮像装置およびこれを撮像部に用いた電子情報機器に関し、特に、複数の画素部により電荷検出部が共有化されている増幅型固体撮像装置および、これを画像入力デバイスとして撮像部に用いた例えばデジタルビデオカメラおよびデジタルスチルカメラなどのデジタルカメラや、画像入力カメラ、スキャナ、ファクシミリ、カメラ付き携帯電話装置などの電子情報機器の分野において、強い入射光が受光されたときに、シャッタ動作前および読み出し動作後の少なくともいずれかに追加シャッタ動作を加えることにより、従来のように共有画素部を単位として横縞が発生する現象を抑制して、読み出し画素部から本来の信号を正しく読み出すことができる。
例えば、電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部がシャッタ動作を行うときに、このシャッタ動作を行う画素部以外の残余の画素部であって、かつ、シャッタ動作前である画素部に対してシャッタ動作を行うことによって、高輝度の被写体が撮像された場合に、本来のシャッタ動作が行われる画素部のみでなく、本来のシャッタ動作前である画素部についても、光電変換素子に飽和レベルまで蓄積された電荷が追加のシャッタ動作により排出され、光電変換素子から電荷検出部へ電荷がオーバーフローすることを抑制することができる。この場合に追加されるシャッタ動作は、本来のシャッタ動作よりも前であるため、シャッタ動作と読み出し動作により設定される光電荷蓄積期間に影響を与えることはない。
また、電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つ読み出し動作が行われるときに、電荷検出部を共有する残余の画素部であって、かつ、読み出し動作後である画素部のシャッタ動作が行われることによって、高輝度の被写体が撮像された場合に、読み出し動作後の画素部において再び光電変換素子に飽和レベルまで電荷が蓄積された場合でも、シャッタ動作により排出され、電荷検出部へ電荷がオーバーフローされることを抑制することができる。この場合に追加されるシャッタ動作は、本来の読み出し動作よりも後であるため、シャッタ動作と読み出し動作により設定される光電荷蓄積期間に影響を与えることはない。
本発明の実施形態に係る4トランジスタ型のAPS型イメージセンサにおける4画素部の要部構成例を示す回路図である。 (a)〜(c)は、図1に示すAPS型イメージセンサの動作例を説明するためのタイミング図である。 図1に示すAPS型イメージセンサにより得られる撮像表示画像を示す模式図である。 本実施形態のAPS型イメージセンサにおけるシャッタ制御回路の要部構成例について説明するための回路図である。 (a)および(b)は、図1に示すAPS型イメージセンサの他の動作例を説明するためのタイミング図である。 本発明の他の実施形態に係る4トランジスタ型のAPS型イメージセンサにおける4画素部の要部構成例を示す回路図である。 従来の一般的な増幅型固体撮像装置の画素構成例を示す回路図である。 特許文献1に開示されている従来の増幅型固体撮像装置の画素構成例を示す回路図である。 (a)および(b)は、図8に示す増幅型固体撮像装置の動作例を説明するためのタイミング図である。 図8に示す従来の増幅型固体撮像装置により得られる撮像画像を示す模式図である。
符号の説明
10 4画素部
11 シャッタ制御回路
PD−1〜PD−4 光電変換素子
T1−1〜T1−4 転送トランジスタ(転送手段)
FD 電荷検出部
T2 増幅トランジスタ(増幅手段)
T30 リセットトランジスタ(リセット手段)
T4 選択トランジスタ(選択手段)
T5 負荷トランジスタ(負荷手段)
TX1〜TX4 転送トランジスタ駆動線
RST リセットトランジスタ駆動線
SEL 選択トランジスタ駆動線
1A〜3A、1B、2B、1C〜3C 論理和回路

Claims (18)

  1. 被写体光を受光して光電変換する光電変換素子と、該光電変換素子からの信号電荷を電荷検出部へ転送可能とする転送手段とを有する複数の画素部が該電荷検出部毎に接続され、該電荷検出部の電位を各画素部毎の信号データとして増幅して読み出す増幅型固体撮像装置において、
    該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ該本来のシャッタ動作前である画素部に対して追加のシャッタ動作を行うシャッタ制御手段を有する増幅型固体撮像装置。
  2. 前記シャッタ制御手段は、前記電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部に対して前記追加のシャッタ動作を行う請求項1に記載の増幅型固体撮像装置。
  3. 被写体光を受光して光電変換する光電変換素子と、該光電変換素子からの信号電荷を電荷検出部へ転送可能とする転送手段とを有する複数の画素部が該電荷検出部毎に接続され、該電荷検出部の電位を各画素部毎の信号データとして増幅して読み出す増幅型固体撮像装置において、
    該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部に対して、該光電変換素子の光電荷蓄積開始を指示する本来のシャッタ動作とは別の追加のシャッタ動作を行うシャッタ制御手段を有する増幅型固体撮像装置。
  4. 前記本来のシャッタ動作により各画素部の光電荷蓄積期間開始が定められ、前記読み出し動作により該各画素部の光電荷蓄積期間終了が定められている請求項1または3に記載の増幅型固体撮像装置。
  5. 前記電荷検出部を共有する複数の画素部の数をN(Nは2以上の整数)として、前記光電荷蓄積期間が、水平走査期間の(N−1)倍以下である請求項4に記載の増幅型固体撮像装置。
  6. 前記信号データの読み出し動作時に、前記電荷検出部の電位をリセットするリセット手段と、該電荷検出部の電位を増幅する増幅手段とが該電荷検出部毎に設けられている請求項1または3に記載の増幅型固体撮像装置。
  7. 前記リセット手段がデプレッション型トランジスタである請求項6に記載の増幅型固体撮像装置。
  8. 前記転送手段および前記増幅手段がエンハンスメント型トランジスタである請求項6に記載の増幅型固体撮像装置。
  9. 前記光電変換素子が埋め込み型フォトダイオードである請求項1または3に記載の増幅型固体撮像装置。
  10. 前記増幅手段からの出力を前記信号データとして選択的に読出信号線に読み出すための選択手段が前記増幅手段と該読出信号線との間、または前記増幅手段と電源との間に設けられている請求項6に記載の増幅型固体撮像装置。
  11. 垂直方向に隣接する2つ〜4つのうちの幾つかの画素部に対して前記電荷検出部が共有接続されている請求項1または3に記載の増幅型固体撮像装置。
  12. 前記シャッタ制御手段は、
    前記電荷検出部を共有する複数の画素部の数をM(Mは2以上の整数)として、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの前記本来のシャッタ動作が速い時期の2つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第1論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の3つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第2論理和回路Aと、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちのシャッタ動作が速い時期の(M−1)の画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第(M−2)論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のそれぞれのシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第(M−1)論理和回路Aという(M−1)個の論理和回路を有し、
    該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつシャッタ動作前である画素部に対して追加のシャッタ動作を行うために、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ期間が最も速い時期の画素部には当該画素部のシャッタ期間を制御するシャッタ制御信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ期間が2番目に速い時期の画素部には該第1論理和回路Aからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が3番目に速い時期の画素部には該第2論理和回路Aからの出力信号が供給され、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が(M−1)番目に速い時期の画素部には該第(M−2)論理和回路Aからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちのシャッタ動作が最も遅い画素部には該第(M−1)論理和回路Aからの出力信号が供給されるようになっている請求項1に記載の増幅型固体撮像装置。
  13. 前記シャッタ制御手段は、
    前記電荷検出部を共有する複数の画素部の数をM(Mは2以上の整数)として、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちのシャッタ動作が速い時期の2つの画素部の本来のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第1論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の3つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第2論理和回路Aと、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の(M−1)の画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第(M−2)論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のそれぞれの本来のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第(M−1)論理和回路Aという(M−1)個の論理和回路Aと、
    該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の(M−1)の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第1論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の(M−2)の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第2論理和回路Bと、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の3つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第(M−3)論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の2つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第(M−2)論理和回路Bという(M−2)個の論理和回路Bと、
    該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が最も速い時期の画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号と該第1論理和回路Bからの出力信号が入力される第1論理和回路Cと、該第1論理和回路Aからの出力信号と該第2論理和回路Bからの出力信号が入力される第2論理和回路Cと、・・・、該第(M−3)論理和回路Aからの出力信号と該第(M−2)論理和回路Bからの出力信号が入力される第(M−2)論理和回路Cと、該第(M−2)論理和回路Aからの出力信号と該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い時期の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第(M−1)論理和回路Cという(M−1)個の論理和回路Cとを有し、
    該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつシャッタ動作前である画素部の追加のシャッタ動作を行うと共に、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部の追加のシャッタ動作を行うために、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も速い時期の画素部には第1論理和回路Cからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が2番目に速い時期の画素部には第2論理和回路Cからの出力信号が供給され、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が(M−2)番目に速い時期の画素部には第(M−2)論理和回路Cからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が(M−1)番目に速い時期の画素部には第(M−1)論理和回路Cからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い画素部には第(M−1)論理和回路Aからの出力信号が供給されるようになっている請求項2に記載の増幅型固体撮像装置。
  14. 前記シャッタ制御手段は、
    前記電荷検出部を共有する複数の画素部の数をM(Mは2以上の整数)として、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の(M−1)の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第1論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の(M−2)の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第2論理和回路Bと、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の3つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第(M−3)論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の2つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第(M−2)論理和回路Bという(M−2)個の論理和回路Bとを有し、
    該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部の追加のシャッタ動作を行うために、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も速い時期の画素部には第1論理和回路Bからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が2番目に速い時期の画素部には第2論理和回路Bからの出力信号が供給され、・・・、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が(M−3)番目に速い時期の画素部には第(M−3)論理和回路Bからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が(M−2)番目に速い時期の画素部には第(M−2)論理和回路Bからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い画素部には読み出し動作が最も遅い時期の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が供給されるようになっている請求項3に記載の増幅型固体撮像装置。
  15. 前記シャッタ制御手段は、
    前記電荷検出部を共有する複数の画素部の数を4として、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの前記本来のシャッタ動作が速い時期の2つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第1論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の3つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第2論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する4つの画素部のそれぞれのシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第3論理和回路Aという3個の論理和回路を有し、
    該電荷検出部を共有する4つの画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつシャッタ動作前である画素部に対して追加のシャッタ動作を行うために、該電荷検出部を共有する4つの画素部のうちの本来のシャッタ期間が最も速い時期の画素部には当該画素部のシャッタ期間を制御するシャッタ制御信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ期間が2番目に速い時期の画素部には該第1論理和回路Aからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が3番目に速い時期の画素部には該第2論理和回路Aからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちのシャッタ動作が最も遅い画素部には該第3論理和回路Aからの出力信号が供給されるようになっている請求項12に記載の増幅型固体撮像装置。
  16. 前記シャッタ制御手段は、
    前記電荷検出部を共有する複数の画素部の数を4として、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの前記本来のシャッタ動作が速い時期の2つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第1論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が速い時期の3つの画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第2論理和回路Aと、該電荷検出部を共有する4つの画素部のそれぞれのシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号が入力される第3論理和回路Aという3個の論理和回路Aと、
    該電荷検出部を共有する4つの画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の3つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第1論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の2つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第2論理和回路Bという2個の論理和回路Bと、
    該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの本来のシャッタ動作が最も速い時期の画素部のシャッタ動作を制御するシャッタ制御信号と該第1論理和回路Bからの出力信号が入力される第1論理和回路Cと、該第1論理和回路Aからの出力信号と該第2論理和回路Bからの出力信号が入力される第2論理和回路Cと、該第2論理和回路Aからの出力信号と該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い時期の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号とが入力される第3論理和回路Cという3個の論理和回路Cとを有し、
    該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が本来のシャッタ動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつシャッタ動作前である画素部の追加のシャッタ動作を行うと共に、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部の追加のシャッタ動作を行うために、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も速い時期の画素部には該第1論理和回路Cからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が2番目に速い時期の画素部には該第2論理和回路Cからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が3番目に速い時期の画素部には該第3論理和回路Cからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い画素部には第3論理和回路Aからの出力信号が供給されるようになっている請求項13に記載の増幅型固体撮像装置。
  17. 前記シャッタ制御手段は、
    前記電荷検出部を共有する複数の画素部の数を4として、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の3つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第1論理和回路Bと、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が遅い時期の2つの画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が入力される第2論理和回路Bという2個の論理和回路Bとを有し、
    該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの1つの画素部が読み出し動作を行うときに、該電荷検出部を共有する残余の画素部であってかつ読み出し動作後である画素部の追加のシャッタ動作を行うために、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も速い時期の画素部には第1論理和回路Bからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が2番目に速い時期の画素部には第2論理和回路Bからの出力信号が供給され、該電荷検出部を共有する複数の画素部のうちの読み出し動作が最も遅い画素部には読み出し動作が最も遅い時期の画素部の読み出し動作を制御する読み出し制御信号が供給されるようになっている請求項14に記載の増幅型固体撮像装置。
  18. 請求項1〜3のいずれかに記載の増幅型固体撮像装置を撮像部に用いた電子情報機器。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010213140A (ja) * 2009-03-12 2010-09-24 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器
JP2010278795A (ja) * 2009-05-29 2010-12-09 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器
JP2011188530A (ja) * 2011-06-13 2011-09-22 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器
US8570412B2 (en) 2008-10-22 2013-10-29 Sony Corporation Solid state image sensor, method for driving a solid state image sensor, imaging apparatus, and electronic device
US8928053B2 (en) 2010-08-27 2015-01-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Input/output device
KR101536323B1 (ko) * 2013-09-30 2015-07-14 클레어픽셀 주식회사 플리커 노이즈 방지를 위한 씨모스 이미지 센서

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5537172B2 (ja) 2010-01-28 2014-07-02 ソニー株式会社 固体撮像装置及び電子機器
US8742309B2 (en) 2011-01-28 2014-06-03 Aptina Imaging Corporation Imagers with depth sensing capabilities
US10015471B2 (en) 2011-08-12 2018-07-03 Semiconductor Components Industries, Llc Asymmetric angular response pixels for single sensor stereo
US9554115B2 (en) * 2012-02-27 2017-01-24 Semiconductor Components Industries, Llc Imaging pixels with depth sensing capabilities
US9019415B2 (en) * 2012-07-26 2015-04-28 Qualcomm Incorporated Method and apparatus for dual camera shutter
KR102356706B1 (ko) 2015-07-07 2022-01-27 삼성전자주식회사 넓은 다이나믹 레인지를 갖는 이미지 센서, 이미지 센서의 픽셀 회로 및 이미지 센서의 동작방법
KR102407036B1 (ko) 2015-11-03 2022-06-10 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 이미지 센서의 동작 방법
JPWO2021200890A1 (ja) * 2020-03-31 2021-10-07
US20230239595A1 (en) * 2022-01-21 2023-07-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Image sensor and electronic device comprising the same

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11122540A (ja) 1997-10-17 1999-04-30 Hamamatsu Photonics Kk Ccdカメラ及びccdカメラ制御装置並びにccdカメラの感度調整方法
JPH11261902A (ja) 1998-03-10 1999-09-24 Samsung Japan Corp Ccdのシャッタ制御方式
US6084229A (en) * 1998-03-16 2000-07-04 Photon Vision Systems, Llc Complimentary metal oxide semiconductor imaging device
US6888571B1 (en) * 1999-09-27 2005-05-03 Casio Computer Co., Ltd. Photosensor system and drive control method thereof
WO2001063910A1 (en) * 2000-02-22 2001-08-30 Photobit Corporation Frame shuttering scheme for increased frame rate
JP3658278B2 (ja) * 2000-05-16 2005-06-08 キヤノン株式会社 固体撮像装置およびそれを用いた固体撮像システム
KR20030036202A (ko) * 2000-06-01 2003-05-09 아트멜 코포레이숀 듀얼 모드 cmos 집적 이미저
JP4019409B2 (ja) 2001-11-02 2007-12-12 ソニー株式会社 固体撮像素子
JP4120453B2 (ja) * 2003-04-18 2008-07-16 ソニー株式会社 固体撮像装置とその駆動制御方法
US7443437B2 (en) * 2003-11-26 2008-10-28 Micron Technology, Inc. Image sensor with a gated storage node linked to transfer gate
JP4412599B2 (ja) 2004-07-30 2010-02-10 シャープ株式会社 固体撮像装置および電子情報機器
JP2006073885A (ja) * 2004-09-03 2006-03-16 Canon Inc 固体撮像装置、その製造方法、およびデジタルカメラ
KR100598015B1 (ko) * 2005-02-07 2006-07-06 삼성전자주식회사 공유 구조 상보성 금속 산화막 반도체 액티브 픽셀 센서어레이의 레이 아웃

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8570412B2 (en) 2008-10-22 2013-10-29 Sony Corporation Solid state image sensor, method for driving a solid state image sensor, imaging apparatus, and electronic device
JP2010213140A (ja) * 2009-03-12 2010-09-24 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器
US8816266B2 (en) 2009-03-12 2014-08-26 Sony Corporation Solid-state imaging device, method for driving solid-state imaging device, and electronic apparatus
JP2010278795A (ja) * 2009-05-29 2010-12-09 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器
US8928053B2 (en) 2010-08-27 2015-01-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Input/output device
JP2011188530A (ja) * 2011-06-13 2011-09-22 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器
KR101536323B1 (ko) * 2013-09-30 2015-07-14 클레어픽셀 주식회사 플리커 노이즈 방지를 위한 씨모스 이미지 센서

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