JP2008169103A - 隔壁形成用無鉛ガラス、隔壁形成用ガラスセラミックス組成物およびプラズマディスプレイパネル - Google Patents

隔壁形成用無鉛ガラス、隔壁形成用ガラスセラミックス組成物およびプラズマディスプレイパネル Download PDF

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Abstract

【課題】アルカリ金属酸化物含有量を低減できるB−ZnO系隔壁形成無鉛ガラスの提供。
【解決手段】モル%で、B 28〜44%、ZnO 26〜43%、SiO 0〜7%、Al 0.1〜7%、MgO+CaO 0〜9%、SrO+BaO 10〜20%、LiO+NaO+KO 0.1〜6%、Bi 0.1〜5%、から本質的になる隔壁形成用無鉛ガラス。Bが38〜44%、ZnOが28〜38%、SiOが1〜7%、Alが1〜5%、MgO+CaOが0〜1%、SrOが0〜1%、BaOが10〜15%、LiOが2〜6%、NaO+KOが0〜1%、Biが1〜4%である前記隔壁形成用無鉛ガラス。
【選択図】なし

Description

本発明は、焼成してプラズマディスプレイパネル(以下、PDPという。)等の隔壁形成に用いられるガラスおよびガラスセラミックス組成物ならびにPDPに関する。
近年、大型の薄型平板型カラー表示装置としてPDPが注目されている。PDPは、二枚のガラス基板の間に隔壁(バリアリブ)で仕切られた多数のセル(微小放電空間)を形成し、各セル内表面に蛍光体を配し、このセル中に放電ガスを充填した構造となっている。前記セル内の電極間で放電を起させて放電ガスを励起し、その際に発生する紫外線によって基底状態にある蛍光体を発光させて画素を形成させる。このようなPDPは自己発光型のフラットディスプレイであり、軽量薄型、高視野角等の優れた特性を備えており、また大型化が可能なため最も将来性のある表示装置の一つである。
隔壁を形成する材料に対しては焼成時におけるガラス基板の変形を防止するためにたとえば、軟化点(Ts)が450〜600℃であること、50〜350℃における平均線膨張係数(α)が60×10−7〜85×10−7/℃であること等が求められている。
従来このような材料としては、Tsを低くする成分である酸化鉛(PbO)を多量含有するガラスが使用されているが、近年、鉛を含有しない材料が求められている。そのようなものとしてB−ZnO−SiO−BaO−RO系無鉛ガラス(ROはアルカリ金属酸化物)が提案されている(特許文献1参照)。
特開2002−326839号公報
特許文献1ではB−ZnO系ガラスにROを含有させることによって550〜560℃で焼成可能な隔壁形成用無鉛ガラスが得られたとされている(特許文献1の段落番号0007参照)。
ところで隔壁形成用無鉛ガラスにはPDPのパネル特性低下防止などのためにRO含有量低減が求められる場合がある。
しかし、本発明者が特許文献1の表1のNo.1〜7の質量百分率表示ガラス組成をモル百分率表示に変換したところRO含有量合計は最低でも6.7モル%であり、けっしてRO含有量が小さいとは言えないものであった。
本発明は、RO含有量を低減できるB−ZnO系隔壁形成無鉛ガラスの提供を目的とする。
本発明は、下記酸化物基準のモル百分率表示で、Bを28〜44%、ZnOを26〜43%、SiOを0〜7%、Alを0.1〜7%、MgO+CaOを0〜9%、SrO+BaOを10〜20%、LiO+NaO+KOを0.1〜6%、Biを0.1〜5%含有する隔壁形成用無鉛ガラス(本発明の第1のガラス)を提供する。
また、下記酸化物基準のモル百分率表示で、Bを28〜44%、ZnOを26〜45%、SiOを0〜7%、Alを0.1〜7%、MgO+CaOを0〜9%、SrO+BaOを10〜20%、LiO+NaO+KOを0.1〜6%、Biを0.1〜5%含有し、ZnOが(B+13%)以下である隔壁形成用無鉛ガラス(本発明の第2のガラス)を提供する。
また、前記隔壁形成用無鉛ガラスの粉末と、その粉末100質量部に対して0.1〜40質量部の割合の無機酸化物粉末とを含有する隔壁形成用ガラスセラミックス組成物を提供する。
また、無機酸化物粉末が、TiO、ZnO、SiO、Al、ZrO、P、Fe、MnO、CrおよびCoからなる群から選ばれた1種以上の無機酸化物の粉末である前記隔壁形成用ガラスセラミックス組成物を提供する。
また、前記隔壁形成用無鉛ガラスの粉末または前記隔壁形成用ガラスセラミックス組成物を用いて形成された隔壁を有するPDPを提供する。
本発明によればB−ZnO系隔壁形成無鉛ガラスにおいてRO含有量を6モル%以下にすることができる。
本発明の隔壁形成用無鉛ガラス(以下、単に本発明のガラスという。)は、通常、粉砕、分級されてガラス粉末として使用される。このようにして作製されたガラス粉末は通常、必要に応じてセラミックスフィラー、耐熱顔料等と混合され、さらに樹脂を有機溶剤に溶解させたビヒクルと混練してペーストまたはグリーンシートとされる。サンドブラスト法を用いる場合、このペーストまたはグリーンシートは下地に塗布または貼付後サンドブラスト等によって所定のパターンの未焼成隔壁とされ、その後これを焼成して隔壁とする。なお、サンドブラスト法以外の方法としてはエッチング法などが知られており、また、前記樹脂としてはエチルセルロース、ポリアクリレート、ポリビニルブチラール、ニトロセルロース等が、前記有機溶剤としてはα−テルピネオール、ブチルカルビトールアセテート、酢酸イソペンチル等が例示され、また、セラミックスフィラーは無機酸化物粉末であり、耐熱顔料は通常は無機酸化物粉末である。
本発明のガラスはPDP、VFD(蛍光表示管)等の隔壁の形成に用いられる。
本発明のガラスをPDPの隔壁形成に用いる場合、前記下地はガラス基板であるが、通常はその上にアドレス用のデータ電極が形成され、そのアドレス電極の上には、誤放電防止のための絶縁被覆層である誘電体層が形成される。
前記未焼成隔壁に対して行われる焼成の最高温度は通常500〜600℃である。500℃未満では焼成後の隔壁に前記ビヒクル中の樹脂が残留し、PDP製造時にパネルを封着する際またはパネル放電が起こる際にこれら残留樹脂がガスとなって放出されるおそれがある。600℃超ではガラス基板が変形するおそれがある。
本発明のガラスを用いたPDPの製造は、たとえば交流方式のものであれば次のようにして行われる。
パターニングされた透明電極およびバス線(典型的には銀線)をガラス基板の表面に形成し、その上に透明電極被覆用ガラスの粉末をガラスペースト法またはグリーンシート法によって塗布または貼付後焼成してガラス層を形成し、最後に保護膜として酸化マグネシウムの層を形成して前面基板とする。
一方、パターニングされたアドレス用電極を別のガラス基板の表面に形成し、その上に本発明のガラスの粉末または本発明のガラスの粉末と無機酸化物粉末との混合物(ガラスセラミックス組成物)をガラスペーストとしたものを塗布・焼成してガラス層またはガラス含有層(以下、これをもガラス層ということがある。)を形成し、その上にサンドブラスト法やエッチング法等にて隔壁を形成する。
このような隔壁が形成されたガラス基板に蛍光体層を印刷・焼成して背面基板とする。なお、前記ガラス層を形成するのにガラスペーストを使用せず、グリーンシート法等を用いてもよい。
前面基板と背面基板の周縁にシール材をディスペンサで塗布し、前記透明電極と前記アドレス用電極が対向するように組み立てた後、焼成してPDPとする。そしてPDP内部を排気して、放電空間(セル)にNeやHe−Xeなどの放電ガスを封入する。
なお、上記の例は交流方式のものであるが、本発明のガラスは直流方式のものにも適用できる。
本発明のガラスのTsは600℃以下であることが好ましい。600℃超では、通常使用されているガラス基板(ガラス転移点:550〜620℃)が焼成時に変形するおそれがある。Tsは典型的には500〜590℃である。
結晶化温度(Tc)からTsを減じた値Tc−Tsは30℃以上であることが好ましい。30℃未満では焼結時の緻密性が不十分となるおそれがある。なお、Tcの測定法については後述する。
前記ガラス基板としては通常、αが80×10−7〜90×10−7/℃のものが用いられる。したがってこのようなガラス基板と膨張特性をマッチングさせ、ガラス基板のそりや強度の低下を防止するためには、本発明のガラスまたは本発明のセラミックス組成物の焼成体のαは好ましくは60×10−7〜85×10−7/℃、典型的には70×10−7〜85×10−7/℃である。
次に、本発明のガラスの組成についてモル百分率表示を用いて説明する。
はガラスを安定化させる成分であり、必須である。28%未満ではガラスが不安定になる。好ましくは30%以上である。44%超ではTsが高くなりすぎる。好ましくは42%以下である。
ZnOはTsを低下させる成分であり、必須である。26%未満ではTsが高くなる。好ましくは28%以上である。45%超ではガラスが不安定になる。好ましくは43%以下、典型的には42%以下である。なお、本発明の第1のガラスでは43%以下とされる。
ZnOの含有量は、Bの含有量に13%を加えた値(B+13%)以下であることが好ましく、本発明の第2のガラスではZnOの含有量は(B+13%)以下とされる。このようなものでないとガラスが不安定になるおそれがある。
SiOは必須ではないがガラスを安定化させるために7%まで含有してもよい。7%超ではTsが高くなりすぎる。典型的には5%以下である。SiOを含有する場合その含有量は典型的には0.5%以上である。
Alはガラスを安定化させる成分であり、必須である。0.1%未満ではガラスが不安定になる。好ましくは0.5%以上、典型的には1%以上である。7%超ではかえってガラスが不安定になる。好ましくは6%以下である。
MgOおよびCaOはいずれも必須ではないが、ガラスを安定化させるために合計で9%まで含有してもよい。9%超ではTsが高くなりすぎる。典型的には6%以下である。
SrOおよびBaOはTsを低下させる成分であり、いずれか1種以上を含有しなければならない。これら2成分の含有量の合計が10%未満ではTsが高くなりすぎる。好ましくは12%以上である。20%超ではαが大きくなりすぎる。好ましくは19%以下である。これらのうちBaOを含有する場合、SrOは含有しないか1%まで含有することが典型的である。
LiO、NaOおよびKOはTsを低下させる成分であり、いずれか1種以上を含有しなければならない。これら3成分の含有量の合計が0.1%未満ではTsが高くなりすぎる。典型的には1%以上である。6%超では前記PDPのパネル特性が低下する、またはαが大きくなりすぎる。典型的には4%以下である。
LiOを含有する場合、SiOを1.5%以上含有する場合などにおいてはその含有量は典型的には1%以上であり、B含有量が38%未満である場合などにおいては典型的には1.5%以下である。
NaOまたはKOは含有することが典型的であり、また、その場合NaOを含有することが典型的である。
BiはTsを低下させる成分であり、必須である。0.1%未満ではTsが高くなりすぎる。好ましくは0.5%以上である。5%超ではαが大きくなりすぎる。好ましくは4%以下、典型的には3%以下である。
前記Tc−Tsを大きくしたい場合、Bが38〜44%、ZnOが28〜38%、SiOが1〜7%、Alが1〜5%、MgO+CaOが0〜1%、SrOが0〜1%、BaOが10〜15%、LiOが2〜6%、NaO+KOが0〜1%、Biが1〜4%であること、または、Bが38%未満、ZnOが37〜42%、SiOが0.5〜2%、Alが2〜6%、MgO+CaOが0〜1%、SrOが0〜1%、BaOが15〜20%、LiOが0〜0.5%、NaOが1〜5%、KOが0〜1%、Biが0.5〜2%であることが好ましい。
本発明のガラスは本質的に上記成分からなるが、本発明の目的を損なわない範囲でその他の成分を含有してもよい。そのような成分を含有する場合それらの含有量の合計は、好ましくは10%以下、より好ましくは5%以下である。
このような成分としては次のようなものが例示される。すなわち、ガラスの着色等のために、CoO、CuO、CeO、MnOおよびSnOからなる群から選ばれた1種以上の成分を合計で3%まで含有してもよい場合がある。また、Laなどの希土類酸化物(CeOを除く)、Fe、NiO、GeO、Y、MoO、Rh、AgO、In、TeO、WO、ReO、V、PdO、TiO、ZrO等が例示される。
なお、本発明のガラスはPbOを含有しない。また、Pはガラスを不安定にするおそれがあるので含有しないことが好ましい。
表のBからCuOまでの欄にモル百分率表示で示す組成となるように、原料を調合して混合し、1200〜1350℃の電気炉中で白金ルツボを用いて1時間溶融し、薄板状ガラスに成形した後、ボールミルで粉砕し、ガラス粉末を得た。
例1〜10は実施例、例11〜13は比較例である。例12、13のガラスは失透し不安定なものであった。
例1〜11のガラス粉末について、ガラス転移点Tg(単位:℃)、軟化点Ts(単位:℃)、結晶化温度Tc(単位:℃)、前記平均線膨張係数α(単位:10−7/℃)を次に述べるようにして測定した。結果を表に示す。
Tg、Ts:800℃までの範囲で示差熱分析計を用いて測定した。
Tc:前記示差熱分析計を用いて測定したデータから最初の発熱ピークすなわち第一結晶化ピーク温度を読み取り、これをTcとした。
α:ガラス粉末を加圧成形後、Tsより30℃高い温度で10分間焼成して得た焼成体を直径5mm、長さ2cmの円柱状に加工し、熱膨張計で50〜350℃の平均線膨張係数を測定した。
また、焼結性について次のようにして評価した。すなわち、各ガラス粉末35gとエチルセルロース5%ターピネオール溶液を混合し、3本ロールミルにて混練してペースト化した。次にこのペーストを旭硝子社製ガラス基板PD200上にブレードコートし膜厚400μmの塗布膜を形成した。さらに電気炉にて560℃で10分間焼成してガラス膜を得た。このガラス膜の断面をSEMにて観察し、十分焼結し緻密化しているものを○、焼結はしているが緻密化が不十分なものを△とした。
例11は結晶化しやすく焼成体の緻密化が不十分であった。
Figure 2008169103
Figure 2008169103
PDPの隔壁形成に利用できる。

Claims (9)

  1. 下記酸化物基準のモル百分率表示で、Bを28〜44%、ZnOを26〜43%、SiOを0〜7%、Alを0.1〜7%、MgO+CaOを0〜9%、SrO+BaOを10〜20%、LiO+NaO+KOを0.1〜6%、Biを0.1〜5%含有する隔壁形成用無鉛ガラス。
  2. 下記酸化物基準のモル百分率表示で、Bを28〜44%、ZnOを26〜45%、SiOを0〜7%、Alを0.1〜7%、MgO+CaOを0〜9%、SrO+BaOを10〜20%、LiO+NaO+KOを0.1〜6%、Biを0.1〜5%含有し、ZnOが(B+13%)以下である隔壁形成用無鉛ガラス。
  3. が38〜44%、ZnOが28〜38%、SiOが1〜7%、Alが1〜5%、MgO+CaOが0〜1%、SrOが0〜1%、BaOが10〜15%、LiOが2〜6%、NaO+KOが0〜1%、Biが1〜4%である請求項1または2の隔壁形成用無鉛ガラス。
  4. が38%未満、ZnOが37〜42%、SiOが0.5〜2%、Alが2〜6%、MgO+CaOが0〜1%、SrOが0〜1%、BaOが15〜20%、LiOが0〜1.5%、NaOが1〜5%、KOが0〜1%、Biが0.5〜2%である請求項1または2の隔壁形成用無鉛ガラス。
  5. を含有しない請求項1〜4のいずれかの隔壁形成用無鉛ガラス。
  6. 軟化点が600℃以下であり、50〜350℃における平均線膨張係数が60×10−7〜85×10−7/℃である請求項1〜5のいずれかの隔壁形成用無鉛ガラス。
  7. 請求項1〜6のいずれかの隔壁形成用無鉛ガラスの粉末と、その粉末100質量部に対して0.1〜40質量部の割合の無機酸化物粉末とを含有する隔壁形成用ガラスセラミックス組成物。
  8. 無機酸化物粉末が、TiO、ZnO、SiO、Al、ZrO、P、Fe、MnO、CrおよびCoからなる群から選ばれた1種以上の無機酸化物の粉末を含有する請求項7の隔壁形成用ガラスセラミックス組成物。
  9. 請求項1〜6のいずれかの隔壁形成用無鉛ガラスの粉末または請求項7もしくは8の隔壁形成用ガラスセラミックス組成物を用いて形成された隔壁を有するプラズマディスプレイパネル。
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