JP2008124506A - プロキシミティ露光装置及び基板製造方法 - Google Patents
プロキシミティ露光装置及び基板製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008124506A JP2008124506A JP2008026231A JP2008026231A JP2008124506A JP 2008124506 A JP2008124506 A JP 2008124506A JP 2008026231 A JP2008026231 A JP 2008026231A JP 2008026231 A JP2008026231 A JP 2008026231A JP 2008124506 A JP2008124506 A JP 2008124506A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass substrate
- exposure
- chuck
- stage
- loading
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 183
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 13
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 167
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 28
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 9
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 9
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
【解決手段】フォトマスク20のパターンをガラス基板1a,1bに露光する露光位置と、ガラス基板1a,1bの温度を調節する機構を有する複数のステージと、各ステージ上にガラス基板1a,1bをロードする第1及び第2のロード位置とを備え、複数のステージのうち一つは、第1のロード位置でロードしたガラス基板を温度調節して露光位置へ移動し、他の一つのステージは、第2のロード位置でロードしたガラス基板を温度調節して露光位置へ移動する。
【選択図】図1
Description
(ステップ208)。
10a,10b チャック
11 Xガイド
12 Xステージ
13 Yガイド
14 Yステージ
15 θ,Zステージ
16 ピン
20 マスク
21 マスクホルダ
30a,30b ハンドリングアーム
40 搬送ライン
Claims (6)
- フォトマスクとガラス基板との間に微小なギャップを設けて、フォトマスクのパターンをガラス基板へ転写するプロキシミティ露光装置において、
フォトマスクのパターンをガラス基板に露光する露光位置と、
前記ガラス基板の温度を調節する機構を有する複数のステージと、
前記各ステージ上に前記ガラス基板をロードする第1及び第2のロード位置とを備え、
前記複数のステージのうち一つは、前記第1のロード位置でロードしたガラス基板を温度調節して前記露光位置へ移動し、他の一つのステージは、前記第2のロード位置でロードしたガラス基板を温度調節して前記露光位置へ移動するように構成されたことを特徴とするプロキシミティ露光装置。 - 前記複数のステージは、前記第1及び第2のロード位置から前記露光位置に向けて交互にガラス基板を移動し、当該露光位置に移動されるガラス基板を順次露光するように構成されたことを特徴とする請求項1に記載のプロキシミティ露光装置。
- 前記露光位置における露光は、前記ガラス基板をX軸又はY軸方向へ複数回ステップ移動させ、前記フォトマスクのパターンを単一のガラス基板に対して複数回露光することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のプロキシミティ露光装置。
- 前記各ステージは、当該ステージ上に前記ガラス基板を固定するチャックを搭載し、当該チャックに温度調節機構を内蔵して成る請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置。
- 前記複数のステージは、前記ロード位置と前記露光位置との間で前記ガラス基板を移動するXステージと、当該Xステージ上に設置され、ガラス基板移動方向と交差する方向に当該ガラス基板を移動するYステージとを有し、当該X及びYステージ上であって、前記ガラス基板を固定する位置に前記チャックを配置したことを特徴とする請求項4に記載のプロキシミティ露光装置。
- 請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置を用いて、ガラス基板上にパターンを形成することを特徴とする基板製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008026231A JP4312248B2 (ja) | 2008-02-06 | 2008-02-06 | プロキシミティ露光装置及び基板製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008026231A JP4312248B2 (ja) | 2008-02-06 | 2008-02-06 | プロキシミティ露光装置及び基板製造方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007211211A Division JP2007306034A (ja) | 2007-08-14 | 2007-08-14 | 露光装置及び基板製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008124506A true JP2008124506A (ja) | 2008-05-29 |
JP4312248B2 JP4312248B2 (ja) | 2009-08-12 |
Family
ID=39508853
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008026231A Expired - Fee Related JP4312248B2 (ja) | 2008-02-06 | 2008-02-06 | プロキシミティ露光装置及び基板製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4312248B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009300972A (ja) * | 2008-06-17 | 2009-12-24 | Hitachi High-Technologies Corp | プロキシミティ露光装置及びプロキシミティ露光装置の基板搬送方法 |
JP2011158718A (ja) * | 2010-02-01 | 2011-08-18 | Hitachi High-Technologies Corp | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 |
CN102819195A (zh) * | 2011-06-10 | 2012-12-12 | 恩斯克科技有限公司 | 曝光装置和曝光方法、以及曝光单元及使用该单元的曝光方法 |
KR20140139543A (ko) | 2012-04-06 | 2014-12-05 | 엔에스케이 테쿠노로지 가부시키가이샤 | 노광 장치 및 노광 방법 |
Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63261850A (ja) * | 1987-04-20 | 1988-10-28 | Fujitsu Ltd | 縦型x−yステ−ジ |
JPH04318851A (ja) * | 1991-04-18 | 1992-11-10 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 基板露光装置 |
JPH056850A (ja) * | 1991-02-07 | 1993-01-14 | Nikon Corp | 露光装置 |
JPH0822948A (ja) * | 1994-07-08 | 1996-01-23 | Nikon Corp | 走査型露光装置 |
JPH09127702A (ja) * | 1995-10-30 | 1997-05-16 | Dainippon Printing Co Ltd | 大サイズ基板用露光装置および露光方法 |
JPH10163097A (ja) * | 1996-11-28 | 1998-06-19 | Nikon Corp | 投影露光装置及び投影露光方法 |
JPH11219896A (ja) * | 1998-02-02 | 1999-08-10 | Canon Inc | 露光装置およびデバイス製造方法 |
JP2000241995A (ja) * | 1999-02-22 | 2000-09-08 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | プロキシミティ露光方法及び装置 |
JP2000250227A (ja) * | 1999-03-02 | 2000-09-14 | Adtec Engineeng Co Ltd | 露光装置 |
JP2001093808A (ja) * | 1999-09-21 | 2001-04-06 | Nikon Corp | 露光方法及び露光装置 |
JP2001255659A (ja) * | 2000-03-08 | 2001-09-21 | Toppan Printing Co Ltd | 大型基板の露光装置 |
JP2002057095A (ja) * | 2000-08-14 | 2002-02-22 | Nikon Corp | 露光装置 |
JP2002251018A (ja) * | 2001-02-26 | 2002-09-06 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | プロキシミティギャップ制御方法、プロキシミティギャップ制御装置及びプロキシミティ露光装置 |
JP2003068600A (ja) * | 2001-08-22 | 2003-03-07 | Canon Inc | 露光装置、および基板チャックの冷却方法 |
JP2003186201A (ja) * | 2001-12-18 | 2003-07-03 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 異物検査機能を備えた露光装置及びその装置における異物検査方法 |
JP2003241396A (ja) * | 2002-02-19 | 2003-08-27 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 露光装置及び露光方法 |
-
2008
- 2008-02-06 JP JP2008026231A patent/JP4312248B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63261850A (ja) * | 1987-04-20 | 1988-10-28 | Fujitsu Ltd | 縦型x−yステ−ジ |
JPH056850A (ja) * | 1991-02-07 | 1993-01-14 | Nikon Corp | 露光装置 |
JPH04318851A (ja) * | 1991-04-18 | 1992-11-10 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 基板露光装置 |
JPH0822948A (ja) * | 1994-07-08 | 1996-01-23 | Nikon Corp | 走査型露光装置 |
JPH09127702A (ja) * | 1995-10-30 | 1997-05-16 | Dainippon Printing Co Ltd | 大サイズ基板用露光装置および露光方法 |
JPH10163097A (ja) * | 1996-11-28 | 1998-06-19 | Nikon Corp | 投影露光装置及び投影露光方法 |
JPH11219896A (ja) * | 1998-02-02 | 1999-08-10 | Canon Inc | 露光装置およびデバイス製造方法 |
JP2000241995A (ja) * | 1999-02-22 | 2000-09-08 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | プロキシミティ露光方法及び装置 |
JP2000250227A (ja) * | 1999-03-02 | 2000-09-14 | Adtec Engineeng Co Ltd | 露光装置 |
JP2001093808A (ja) * | 1999-09-21 | 2001-04-06 | Nikon Corp | 露光方法及び露光装置 |
JP2001255659A (ja) * | 2000-03-08 | 2001-09-21 | Toppan Printing Co Ltd | 大型基板の露光装置 |
JP2002057095A (ja) * | 2000-08-14 | 2002-02-22 | Nikon Corp | 露光装置 |
JP2002251018A (ja) * | 2001-02-26 | 2002-09-06 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | プロキシミティギャップ制御方法、プロキシミティギャップ制御装置及びプロキシミティ露光装置 |
JP2003068600A (ja) * | 2001-08-22 | 2003-03-07 | Canon Inc | 露光装置、および基板チャックの冷却方法 |
JP2003186201A (ja) * | 2001-12-18 | 2003-07-03 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 異物検査機能を備えた露光装置及びその装置における異物検査方法 |
JP2003241396A (ja) * | 2002-02-19 | 2003-08-27 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 露光装置及び露光方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009300972A (ja) * | 2008-06-17 | 2009-12-24 | Hitachi High-Technologies Corp | プロキシミティ露光装置及びプロキシミティ露光装置の基板搬送方法 |
JP2011158718A (ja) * | 2010-02-01 | 2011-08-18 | Hitachi High-Technologies Corp | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 |
CN102819195A (zh) * | 2011-06-10 | 2012-12-12 | 恩斯克科技有限公司 | 曝光装置和曝光方法、以及曝光单元及使用该单元的曝光方法 |
KR20140139543A (ko) | 2012-04-06 | 2014-12-05 | 엔에스케이 테쿠노로지 가부시키가이샤 | 노광 장치 및 노광 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4312248B2 (ja) | 2009-08-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3870182B2 (ja) | 露光装置及びデバイス製造方法 | |
US20060104635A1 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
US7658560B2 (en) | Substrate processing apparatus | |
JP2007293376A (ja) | 露光装置及び基板製造方法 | |
JP2006031025A (ja) | 平板表示装置の製造システム及び製造方法 | |
JP4020261B2 (ja) | 露光方法、露光装置、及び基板製造方法 | |
JP4312247B2 (ja) | プロキシミティ露光装置及び基板製造方法 | |
JP4312248B2 (ja) | プロキシミティ露光装置及び基板製造方法 | |
US7901149B2 (en) | Substrate processing method, program, computer-readable recording medium, and substrate processing system | |
US20110015774A1 (en) | Control device and control method | |
JP2011035377A (ja) | 露光装置及びデバイスの製造方法 | |
JP2007306034A (ja) | 露光装置及び基板製造方法 | |
JP2008146098A (ja) | プロキシミティ露光装置及び基板製造方法 | |
JP2008122996A (ja) | プロキシミティ露光装置及び基板製造方法 | |
JP4674467B2 (ja) | 基板搬送方法、基板搬送装置、露光方法、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法 | |
JP2007035706A (ja) | 搬送装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法 | |
JP4920317B2 (ja) | 基板の処理方法、プログラム、コンピュータ読み取り可能な記録媒体及び基板の処理システム | |
JP5306020B2 (ja) | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板移動方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | |
JP2009014805A (ja) | 露光装置および露光方法 | |
TWI833460B (zh) | 基板處理裝置及基板處理方法 | |
JP2011123102A (ja) | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板温度調節方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | |
JP2010192559A (ja) | 基板処理システム | |
JP5537063B2 (ja) | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のギャップ制御方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | |
JP5441770B2 (ja) | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のギャップ制御方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | |
JP2009076579A (ja) | 物体処理システム、物体処理方法、露光装置、露光方法、塗布現像装置、塗布現像方法及びデバイス製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080222 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20080704 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20080724 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080901 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081031 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090108 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090309 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090512 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090512 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120522 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4312248 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120522 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150522 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |