JP2008122565A - ホログラフィによる画像記録装置および画像記録方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】画像記録装置1は、コヒーレント光21を発生するコヒーレント光発生手段2と、コヒーレント光21を参照光22と照明光23とに分けて出射するビームスプリッタ3と、照明光23を物体10に照射する照射手段4と、画素を構成する光センサ部を2次元配列した受光面5aを有すると共に受光面5aに入射する光の情報を記録する画像記録手段5と、参照光22を画像記録手段5の受光面に入射させる参照光入射手段6とを備え、参照光入射手段6は、受光面5aの各画素に入射する参照光LRの主たる位相値が隣り合う画素において互いに所定の異なる値となるように、参照光LRの伝播方向を傾けて、受光面5aに参照光LRを入射させる。
【選択図】図1
Description
図1は第1の実施形態に係る画像記録装置1を示す。画像記録装置1は、コヒーレント光を発生するコヒーレント光発生手段2と、コヒーレント光発生手段2からのコヒーレント光21を参照光22と照明光23とに分けて出射するビームスプリッタ3と、ビームスプリッタ3によって出射された照明光23を物体10に照射する照射手段4と、画素を構成する光センサ部を2次元配列して成る受光面5aを有すると共に受光面5aに入射する光の情報を記録する画像記録手段5と、ビームスプリッタ3によって出射された参照光22を画像記録手段5の受光面に入射させる参照光入射手段6とを備えている。
図2は第2の実施形態に係る画像記録方法のフローチャートを示す。本実施形態の画像記録方法は、例えば、上述の第1の実施形態の画像記録装置1を用いて、位相シフトホログラフィによる画像を記録する方法である。そこで、図1を再度参照して説明する。従って、ここでの説明は、上述した内容と一部重複した内容となっている。すなわち、この画像記録方法は、互いにコヒーレントな参照光LRと照明光Liとを生成する光束生成工程S1と、画素を構成する光センサ部を2次元配列して成る受光面5aに、受光面5aの各画素に入射する光波の主たる位相値が隣り合う画素において互いに異なる値となるように伝播方向を受光面5aの法線方向から傾けて、参照光LRを入射させる参照光入射工程S2とを備えている。
図3(a)(b)、図4(a)(b)を参照して、参照光LRの斜め入射による位相シフトを説明する。本発明の画像記録装置1及び画像記録方法においては、CCD画像センサのような受光デバイスの受光面5aに、平行参照光LRを斜め照射し、受光面5aにおける参照光LRの位相を周期的に分布させて物体光Loと参照光LRが形成する干渉パターンを記録する。
図3(a)(b)は、画像記録装置1および画像記録方法における波長λを有する参照光LRの受光面5aへの斜め入射の様子を示す。ここで、受光面5aをx−y平面とし、受光面5aに垂直に入射する方向をz軸とするxyz直交座標系を定義する。受光面5aには画素が升目格子状に配列されているとし、x軸、y軸は、画素の配列方向とする。
図5は、位相状態の異なる4枚のホログラムデータを1回の記録で取得できる、より好ましい位相と画素の配置を示す。このような配置は、再度述べると、参照光LRの波長λ、画素配列のピッチに応じて、図3(a)(b)に示した入射角θx,θyを適切に選択することにより構成される。すなわち、参照光LRの入射条件設定により、各画素に対して位相シフトの属性が決定される。そのような参照光LRの入射条件設定の結果、正方格子状に画素を配置して成る受光面5aを、位相が−3π/4,−π/4,π/2,3π/4の画素を2×4に組み合わせた8つの組で覆い尽くすようにでき、位相状態の異なる4枚のホログラムデータを1回の記録で取得できる。
上述の図5に示した位相値分布となるように入射条件を設定した参照光LRと、照明光Liによって照明された物体10から放射される散乱光(物体光Lo)とが、受光面5aに入射すると、参照光LRと物体光Loとが作る干渉パターンを、ホログラムとして記録する。この記録の内容を、数式を用いて説明する。受光面5aにおける角周波数ωの物体光LoをO(x,y,t)とし、参照光LRをR(x,y,t)として、一般的な波動の式で表すと、次式(2)(3)となる。また、受光面5aにおいて時間平均されて測定される光強度I(x,y)は次式(4)となる。式(4)は、ホログラムの数学的表現になっている。
受光面5a上における、参照光LRの位相周期が、画素ピッチdの整数倍になるように参照光LRの入射角を特定の値に設定すると、異なる参照光位相に対する複数の干渉パターンを同時に記録できる。このとき、同じ参照光位相に対する干渉パターンは、飛び飛びの画素で記録され、記録画素の間隔は画素ピッチの整数倍になる。視野角θOが、θO<<λ/dを満たす被写体に対しては、物体光Loの振幅OOと位相φOが、受光面5aの各画素間で緩やかに変化する。従って、上述したように、同じ参照光位相に対する記録データにおいて、記録されていない画素値は、補間によって十分な精度で求めることができる。
式(12)(13)によって得られる複素振幅ホログラムは、斜め照射平行参照光に対するオフアクシス方式による空間搬送波型のホログラムである。この斜め照射参照光に対するオフアクシスホログラムから垂直照射参照光(入射角θx=θy=0)に対するインラインホログラムに変換すると、干渉パターンの空間周波数を低くできるので同じ記録画像に対してホログラムデータ量を減らすことができる。しかし、このようなホログラム変換を行うには変換のための計算処理が必要である。
次に、図8を参照して、第3の実施形態に係るカラー対応の画像記録装置を説明し、図9乃至図12を参照して、画像例を含む記録データの例を説明する。本実施形態の画像記録装置1は、図1に示した第1の実施形態の画像記録装置1が1つのコヒーレント光発生手段2(レーザ光源)を備えているのと異なり、カラー対応のため、赤色R、緑色G、青色Bの3色のコヒーレント光を発生するように、3つのコヒーレント光発生手段2を備えている。
赤色、緑色、青色3色の干渉パターンから3色の位相シフトデジタルホログラムを取得するには、各参照光LRの入射角θx,θyをそれぞれ所定値に設定する必要がある。この入射角の設定は、第1の実施形態と同様に、図6に示した濃淡図に基づいて行うことができる。
各色の光学系は、レーザ光源から受光面5aまでの参照光LRと物体光Loの経路長差が、レーザ光のコヒーレンス長内に収まるように設定されている。また、上述のように、参照光LRと物体光Loとが作る赤色、緑色、青色それぞれの受光面5a上の干渉パターンが画像センサ51と画像記録部52により記録される。
被写体の物体10として1辺の長さが2cmのサイコロを画像センサ51から75cmの位置に静止状態で置き、3次元カラー画像記録装置1を用いて位相シフトホログラムを記録した。図9は緑色レーザ光で記録した干渉パターンを示し、図10(a)(b)は、それぞれホログラムデータから求めた複素振幅インラインホログラムの余弦成分および正弦成分の拡大画像を示す。ホログラムデータは、パルスレーザではなく連続発振レーザを用いて上述の第2の実施形態の画像記録方法により、1回の撮影で記録した。複素振幅インラインホログラムの余弦成分および正弦成分は、振幅の実効値を用いて正規化した後に、256階調化して表示している。
2 コヒーレント光発生手段
3 ビームスプリッタ
4 照射手段
5 画像記録手段
6 参照光入射手段
51 画像センサ
5a 受光面
Li 照明光
Lo 物体光
LR 参照光
Claims (7)
- 位相シフトデジタルホログラフィ法により物体の画像を電子的に記録する画像記録装置において、
コヒーレント光を発生するコヒーレント光発生手段と、
前記コヒーレント光発生手段により発生されたコヒーレント光を参照光と照明光とに分けて出射するビームスプリッタと、
前記ビームスプリッタによって出射された照明光を物体に照射する照射手段と、
画素を構成する光センサ部を2次元配列して成る受光面を有すると共に該受光面に入射する光の情報を記録する画像記録手段と、
前記ビームスプリッタによって出射された参照光を前記画像記録手段の受光面に入射させる参照光入射手段と、を備え、
前記参照光入射手段は、前記受光面の各画素に入射する参照光の主たる位相値が隣り合う画素において互いに異なる値となるように、当該参照光の伝播方向を前記受光面の法線方向から傾け、
前記画像記録手段は、前記参照光入射手段により入射される参照光と前記照射手段による照明光の照射により発生する物体からの物体光とが前記受光面に形成する干渉パターンを物体の画像情報として電子的に記録することを特徴とする画像記録装置。 - 前記参照光入射手段は、前記各画素に入射する参照光の主たる位相値が互いに隣り合う画素間においてπ/2またはπの位相差となるように、当該参照光を入射させることを特徴とする請求項1に記載の画像記録装置。
- 前記画像記録手段は、CCD画像センサを用いて構成されていることを特徴とする請求項1に記載の画像記録装置。
- 前記画像記録手段は、CMOS画像センサを用いて構成されていることを特徴とする請求項1に記載の画像記録装置。
- 前記コヒーレント光発生手段は、赤色、緑色、青色の3色のコヒーレント光を発生するように3つ備えられ、前記ビームスプリッタと、前記照射手段と、前記参照光入射手段とが、それぞれ前記各コヒーレント光発生手段に対応して備えられていることを特徴とする請求項1に記載の画像記録装置。
- 互いにコヒーレントな参照光と照明光とを生成する光束生成工程と、
画素を構成する光センサ部を2次元配列して成る受光面に、前記受光面の各画素に入射する光波の主たる位相値が隣り合う画素において互いに異なる値となるように伝播方向を前記受光面の法線方向から傾けて、前記参照光を入射させる参照光入射工程と、
前記参照光入射工程に並行して前記照明光を物体に照射する照射工程と、
前記参照光入射工程により受光面に入射した参照光と前記照射工程による照明光の照射によって発生する物体からの物体光とが前記受光面に形成する干渉パターンを物体の画像情報として電子的に記録する画像記録工程と、を備えることを特徴とする画像記録方法。 - 前記画像記録工程によって記録した画像情報に基づいて物体光の複素振幅を求める振幅演算工程を備えることを特徴とする請求項6に記載の画像記録方法。
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