JP2008096117A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2008096117A5
JP2008096117A5 JP2006274524A JP2006274524A JP2008096117A5 JP 2008096117 A5 JP2008096117 A5 JP 2008096117A5 JP 2006274524 A JP2006274524 A JP 2006274524A JP 2006274524 A JP2006274524 A JP 2006274524A JP 2008096117 A5 JP2008096117 A5 JP 2008096117A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical displacement
peak
measurement object
operation amount
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006274524A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP5086596B2 (ja
JP2008096117A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2006274524A priority Critical patent/JP5086596B2/ja
Priority claimed from JP2006274524A external-priority patent/JP5086596B2/ja
Publication of JP2008096117A publication Critical patent/JP2008096117A/ja
Publication of JP2008096117A5 publication Critical patent/JP2008096117A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5086596B2 publication Critical patent/JP5086596B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2006274524A 2006-10-05 2006-10-05 光学式変位計、光学式変位測定方法、光学式変位測定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 Active JP5086596B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006274524A JP5086596B2 (ja) 2006-10-05 2006-10-05 光学式変位計、光学式変位測定方法、光学式変位測定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006274524A JP5086596B2 (ja) 2006-10-05 2006-10-05 光学式変位計、光学式変位測定方法、光学式変位測定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2008096117A JP2008096117A (ja) 2008-04-24
JP2008096117A5 true JP2008096117A5 (https=) 2009-11-12
JP5086596B2 JP5086596B2 (ja) 2012-11-28

Family

ID=39379132

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006274524A Active JP5086596B2 (ja) 2006-10-05 2006-10-05 光学式変位計、光学式変位測定方法、光学式変位測定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5086596B2 (https=)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010122127A (ja) * 2008-11-21 2010-06-03 Sunx Ltd 光学式変位センサシステム、コンソール、コントローラ、およびプログラム
JP5662046B2 (ja) * 2010-03-31 2015-01-28 パナソニック デバイスSunx株式会社 変位センサ
JP5597430B2 (ja) * 2010-03-31 2014-10-01 パナソニック デバイスSunx株式会社 変位センサ
JP2011215038A (ja) * 2010-03-31 2011-10-27 Panasonic Electric Works Sunx Co Ltd 変位センサ
JP5825254B2 (ja) * 2010-05-19 2015-12-02 株式会社ニコン 形状測定装置及び形状測定方法
JP5637836B2 (ja) 2010-12-17 2014-12-10 株式会社キーエンス 光学式変位計
JP5754401B2 (ja) * 2012-03-16 2015-07-29 株式会社デンソー 微小変位量計測方法及び微小変位量計測装置
JP2022136815A (ja) * 2021-03-08 2022-09-21 オムロン株式会社 センサ装置及び状態監視方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6288906A (ja) * 1985-10-15 1987-04-23 Fujitsu Ltd 立体形状の測定方法
JPS6457471A (en) * 1987-08-27 1989-03-03 Sharp Kk Disk reproducing device
JP3040607B2 (ja) * 1992-08-04 2000-05-15 三菱重工業株式会社 光切断方法における異常光除去方法
JPH09229624A (ja) * 1996-02-27 1997-09-05 Toto Ltd 測定装置
JP3855254B2 (ja) * 2000-11-17 2006-12-06 オムロン株式会社 変位センサ
JP4430466B2 (ja) * 2004-06-22 2010-03-10 株式会社キーエンス 光学式変位計

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008111821A5 (https=)
CN104903044B (zh) 激光脉冲能量控制系统及方法
US11561290B2 (en) Distance image generating device and distance image generating method
EP2943055B1 (en) Calibration of a distance sensor on an agricultural vehicle
ES2627674T3 (es) Sistema y método para determinar una fuerza hacia abajo apropiada para una unidad de hilera de sembradora
CN101668625A (zh) 用于制造三维物体的方法
JP2008096117A5 (https=)
US9927516B2 (en) Distance measuring apparatus and distance measuring method
JP4872948B2 (ja) 3次元形状測定装置および3次元形状測定方法
US20130010278A1 (en) Distance measuring apparatus
JPWO2014119241A1 (ja) 測距方法および測距システム
JP6719203B2 (ja) 生物粒子計数器の校正方法および生物粒子計数器の校正装置
JP2010243280A5 (https=)
JP2012503199A5 (https=)
EP2746900A3 (en) Hardware calibration of eyetracker
EP3135102A1 (en) Plant cultivation supporting apparatus, plant cultivation supporting method, program, and recording medium
JP5662046B2 (ja) 変位センサ
JP5922458B2 (ja) 変位測定装置
TWI500950B (zh) 光學式位移感測器
JP4728609B2 (ja) 光学式変位計
KR20080065595A (ko) 레이저의 에너지를 제어 및 모니터링하는 장치, 시스템 및방법
JP2006180175A (ja) 光電センサ
JP5597430B2 (ja) 変位センサ
JP7713797B2 (ja) 光センサ、電子機器、距離算出方法、および、プログラムの記録媒体
WO2008053127A3 (fr) Procede et dispositif de mesure du taux d'absorption de rayonnement electromagnetique produit dans un milieu absorbant