JP4728609B2 - 光学式変位計 - Google Patents
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Description
15 イメージセンサー
44 マイクロプロセッサ(制御部)
46 増幅器
Claims (5)
- 対象物に光を照射するための発光素子と、複数の画素構成部のそれぞれが前記対象物からの光を受光して受光量に応じた電気信号を出力するイメージセンサーと、前記イメージセンサーからの電気信号を増幅する増幅器を含む信号処理回路と、前記信号処理回路から得られた画像信号の波形における山部を検出する検出処理及び前記対象物までの距離又は前記対象物の変位を求める計測処理を実行する制御部とを備えた光学式変位計であって、
前記制御部は、前記画像信号の波形において検出した山部の受光量ピーク値が目標値に近づくように前記発光素子の発光量及び前記増幅器の増幅率を含む操作量の少なくとも一つを制御するフィードバック制御を実行可能であって、
前記画像信号の波形に複数の山部が存在するときに、前記検出処理により複数の山部を検出し、検出された複数の山部から一つの山部を一又は複数の制御サイクルごとに順番に特定する特定処理を行いながら、当該特定処理により特定される山部のそれぞれについて前記フィードバック制御を時分割で実行するとともに、当該特定処理により特定される山部のそれぞれについて前記計測処理を実行することを特徴とする光学式変位計。 - 前記制御部は、前記フィードバック制御における目標値と操作量との誤差が所定値以下になるまで同一の山部について前記フィードバック制御を繰り返した後に、前記フィードバック制御を実行する対象の山部を変更することを特徴とする請求項1記載の光学式変位計。
- 対象物に光を照射するための発光素子と、複数の画素構成部のそれぞれが前記対象物からの光を受光して受光量に応じた電気信号を出力するイメージセンサーと、前記イメージセンサーからの電気信号を増幅する増幅器を含む信号処理回路と、前記信号処理回路から得られた画像信号の波形における山部を検出して前記対象物までの距離又は前記対象物の変位を求める計測処理を実行する制御部とを備えた光学式変位計であって、
前記制御部は、前記画像信号の波形において検出した山部の受光量ピーク値が目標値に近づくように前記発光素子の発光量及び前記増幅器の増幅率を含む操作量の少なくとも一つを制御するフィードバック制御を実行可能であって、
前記画像信号の波形に複数の山部が存在するときに、前記検出処理により複数の山部を検出し、検出された複数の山部から一つの山部を一又は複数の制御サイクルごとに順番に特定する特定処理を行いながら、当該特定処理により特定される第1の山部と第2の山部について前記フィードバック制御を交互に時分割で実行するとともに、当該特定処理により特定される第1の山部と第2の山部について前記計測処理を実行することを特徴とする光学式変位計。 - 前記制御部は、前記第1の山部から求めた前記対象物までの第1の距離と前記第2の山部から求めた前記対象物までの第2の距離とを個別に出力すると共に、前記第1の距離と前記第2の距離との差を出力することを特徴とする請求項3記載の光学式変位計。
- 前記制御部は、前記フィードバック制御における目標値と操作量との誤差が所定値以下になるまで同一の山部について前記フィードバック制御を繰り返した後に、前記フィードバック制御を実行する対象の山部を変更することを特徴とする請求項3又は4記載の光学式変位計。
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